TWI404935B - 檢查裝置 - Google Patents

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TWI404935B
TWI404935B TW098102066A TW98102066A TWI404935B TW I404935 B TWI404935 B TW I404935B TW 098102066 A TW098102066 A TW 098102066A TW 98102066 A TW98102066 A TW 98102066A TW I404935 B TWI404935 B TW I404935B
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Description

檢查裝置
本發明係關於使用在液晶面板等之檢查對象板之點燈檢查的檢查裝置。
例如於液晶面板(LCD面板)，於其製造工程中，在進行模組工程之前進行LCD面板單體之點燈檢查。於此點燈檢查，有通常點燈檢查與簡易點燈檢查。
通常點燈檢查，係使探針全接觸於LCD面板之各電極而進行的點燈檢查。簡易點燈檢查並不是使探針接觸於LCD面板之所有的電極，而是藉由部分接觸之簡易接觸而進行的檢查。作為此簡易點燈檢查之例可以參考專利文獻1。
【專利文獻1]日本專利特開平09-138422號公報
然而，在前述檢查裝置，點燈檢查而產生點燈不良時，要判斷其係起因於面板不良還是接觸不良必須要更換探針單元。
但是，在更換探針單元的場合，其作業繁雜很耗時間，所以作業性很差，且有不容易判斷不良原因的問題。
本發明係為了解決前述問題點而完成之發明，目的在提供點燈檢查在發生點燈不良時，可以容易判斷其係因為面板不良還是接觸不良所引起的檢查裝置。
供解決前述課題之檢查裝置，係將檢查對象板進行點燈檢查之檢查裝置，其特徵為具備：具有直接接觸於前述檢查對象板的電極的探針之複數探針組裝體，及支撐各探針組裝體之探針基座；前述複數之探針組裝體，係由簡易接觸於前述檢查對象板進行簡易點燈檢查之簡易接觸用探針組裝體，及全接觸於前述檢查對象板進行通常點燈檢查之全接觸用探針組裝體所構成。
於前述簡易接觸用探針組裝體，最好具備使前述探針對前述檢查對象板接近離開之移動機構。此外，最好是具備於通常點燈檢查時發生缺陷時，為了判斷該缺陷是起因於面版或起因於接觸，而控制前述移動機構使前述簡易接觸用探針組裝體接近於前述檢查對象板切換為簡易點燈檢查之控制部。
點燈檢查在發生點燈不良時，可以容易判斷其係因為面板不良還是接觸不良所引起的。
以下，參照附圖同時說明相關於本發明的實施型態之檢查裝置。
在本實施型態之檢查裝置，係藉由XYZθ台座(未圖示)在XYZ軸方向及θ旋轉方向可以調整的工作台(未圖示)上載置檢查對象板，以具備複數探針的探針單元進行點燈檢查的裝置。
探針單元1，如圖1及圖2所示，係沿著作為被載置於工作台上的檢查對象板之液晶面板2的2個邊設置的。此探針單元1具體而言係由沿著液晶面板2的長邊的長邊探針單元3，及沿著液晶面板2的短邊之短邊探針單元4所構成。
長邊探針單元3主要被構成為具備長邊探針基座5、與探針組裝體6、及對準攝影機7。
長邊探針基座5，係在被支撐於檢查裝置的裝置本體側之探針台座(未圖示)的狀態將前述探針組裝體6等沿著液晶面板2的長邊支撐之用之構件。於此長邊探針基座5被安裝著探針組裝體6與對準攝影機7。
探針組裝體6，係由全接觸用探針組裝體6A與簡易接觸用探針組裝體6B所構成。於長邊探針單元3僅設有全接觸用探針組裝體6A。又，簡易接觸用探針組裝體6B將於稍後敘述。
全接觸用探針組裝體6A，係全接觸於液晶面板2進行通常點燈檢查之用的探針組裝體。全接觸用探針組裝體6A，個別直接地接觸(全接觸)於液晶面板2之各電極，對液晶面板2上之電路送出檢查訊號。全接觸用探針組裝體6A，主要被構成為具備懸吊基座9、滑塊10、及探針塊11。
懸吊基座9，係直接支撐滑塊10，而間接支撐後述的探針塊11的探針13之構件。懸吊基座9，被固定於長邊探針基座5。於懸吊基座9的先端下側，滑塊10係可在上下方向滑動地被支撐。
滑塊10，係供支撐探針塊11之用的構件。滑塊10，在可往上下滑動地支撐於懸吊基座9的狀態，以彈簧(未圖示)往下方彈壓探針塊11。藉由此彈簧之彈壓力，在使探針13接觸於液晶面板2的各電極之狀態進行彈壓。
探針塊11，係為了對液晶面板2之電路(未圖示)進行檢查訊號的送訊等而導電接觸於液晶面板2的電極之用之構件。探針塊11，被構成為支撐複數之探針13。探針13，係配合於液晶面板2的電極而被配設，以探針塊11一體地被支撐。探針13，透過訊號線等被連接於控制部。
全接觸用探針組裝體6A，係配合於液晶面板2的電極，而在長邊探針基座5被安裝5台。此5台之全接觸用探針組裝體6A之各探針13分別接觸於液晶面板2之所有的電極成為全接觸狀態，送出檢查訊號。
對準攝影機7，係供使液晶面板2對各探針組裝體6(全接觸用探針組裝體6A以及簡易接觸用探針組裝體6B)對準位置之用的攝影機。對準攝影機7，照出設於液晶面板2的標記(未圖示)，對準此標記與基準位置，使各探針組裝體6之探針13的先端接觸子與液晶面板2之各電極整合。在此，對準攝影機7在長邊探針基座5被設有1台。
短邊探針單元4主要被構成為具備短邊探針基座15、全接觸用探針組裝體6A、簡易接觸用探針組裝體6B、及對準攝影機7。
短邊探針基座15，係供沿著液晶面板2的短邊支撐探針組裝體6等之用的構件。於此短邊探針基座15被安裝著全接觸用探針組裝體6A、簡易接觸用探針組裝體6B、及對準攝影機7。此處，全接觸用探針組裝體6A與對準攝影機7，係與前述之長邊探針單元3的全接觸用探針組裝體6A及對準攝影機7同樣的裝置。在此，全接觸用探針組裝體6A設有3台，簡易接觸用探針組裝體6B設有1台，對準攝影機7設有2台。
簡易接觸用探針組裝體6B，係簡易接觸於液晶面板2進行簡易點燈檢查之用的探針組裝體。於液晶面板2，如前述專利文獻1之面板那樣，設有簡易接觸用之配線及電極(快接端子)。簡易接觸用探針組裝體6B，係供接觸於此簡易接觸用的電極之用的探針組裝體。在此簡易接觸用探針組裝體6B，只有個數很少的探針13接觸(簡易接觸)於簡易接觸用之電極進行簡易點燈檢查。
簡易接觸用探針組裝體6B，如圖3所示，被構成為具備：支柱17、移動機構(未圖示)、滑塊18、滑塊支撐塊19、及探針塊20。
支柱17，係透過滑塊18等而支撐後述的探針塊20的探針13之構件。支柱17，被固定於短邊探針基座15。於支柱17之前側面(液晶面板2側面)，軌道21沿著縱方向被設置。於此軌道21，後述之滑塊18之導塊22可滑動地被安裝，而滑塊18可於上下方向滑動地被支撐。
移動機構21A，係使滑塊18移動於上下方向之用的直動機構。移動機構21A，藉由使滑塊18移動於上下方向，而使探針13對液晶面板2接近遠離。具體而言，於簡易點燈檢查時，使簡易接觸用探針組裝體6B之探針13對液晶面板2接近，於通常點燈檢查時，使探針13對液晶面板2遠離。此移動機構21A係以線性馬達等直動機構所構成。又，作為移動機構21A，可以使用種種直動機構。例如，可以使用球螺桿機構等習知之所有的直動機構。這樣的移動機構，可以被組入支柱17內，或者被設置於支柱17的附近。
移動機構21A，具有使探針塊20之探針13，往比全接觸用探針組裝體6A的探針13更為上側的退避位置移動的功能，與往比全接觸用探針組裝體6A的探針13更為下側的接觸位置移動而接觸於簡易接觸用電極的功能。藉此，於簡易接觸時，液晶面板2不移動，僅探針塊20之探針13往下方移動而導電接觸。
滑塊18，係供間接地支撐探針13而移動於前述退避位置與接觸位置之間的構件。滑塊18，使全體構成為L字形，於其縱構件，被固定著可滑動地安裝於前述軌道21的導塊21。於滑塊18之橫構件，被安裝3個螺絲棒23，支撐探針塊支撐塊19。螺絲棒23，被設有彈簧(未圖示)，以此彈簧使探針塊支撐塊19往下方彈壓。藉由此彈簧之彈壓力，在使探針13接觸於液晶面板2的簡易接觸用之電極時彈壓探針13。
探針塊支撐塊19，係透過探針塊20彈性地支撐探針13之用的構件。探針塊支撐塊19，被連結於滑塊18之螺絲棒23，以彈簧對滑塊18彈性地支撐。於探針塊支撐塊19被設有安裝螺絲24。以此安裝螺絲使探針塊20被固定於探針塊支撐塊19。
探針塊20，係為了對液晶面板2之電路(未圖示)進行檢查訊號的送訊等而導電接觸於液晶面板2的電極之用之構件。探針塊20，被構成為支撐複數之探針13。探針13，係僅有與液晶面板2的簡易接觸用之電極相同數目被排列配設，以探針塊20一體地被支撐。探針13，透過訊號線等被連接於控制部。
簡易接觸用探針組裝體6B，係配合於液晶面板2的簡易接觸用之電極，全體被形成為很細，而在短邊探針單元4被安裝1台。
短邊探針單元4之全接觸用探針組裝體6A及簡易接觸用探針組裝體6B，如圖4所示，被連接至訊號產生器26、及控制部27。具體而言，全接觸用探針組裝體6A與訊號產生器26係以全接觸用點燈訊號線28連接著。簡易接觸用探針組裝體6B與訊號產生器26係以簡易接觸用點燈訊號線29連接著。進而，訊號產生器26與控制部27也以訊號線30連接。
控制部27，控制訊號產生器26進行通常點燈檢查與簡易點燈檢查。亦即，控制部27選擇通常點燈檢查與簡易點燈檢查，將點燈訊號，由全接觸用點燈訊號線28或簡易接觸用點燈訊號線29送往全接觸用探針組裝體6A或簡易接觸用探針組裝體6B。
控制部27，具有在通常點燈檢查發生線缺陷等缺陷時，控制前述移動機構21A使簡易接觸用探針組裝體6B接近液晶面板2而使探針13與電極相互接觸切換為簡易點燈檢查，判斷起因於面板或起因於接觸之功能。亦即，在XYZ軸方向及θ旋轉方向可以調整的工作台不移動，而以移動機構21A使探針13移動導電接觸於液晶面板2的電極。在控制部27之處理，藉由影像處理而自動進行液晶面板2的缺陷檢查的場合，被自動切換，判斷該缺陷是起因於面板還是起因於接觸不良。液晶面板2的缺陷檢查係由檢查者目視確認時，檢查者切換切換開關，而使液晶面板通常點燈與簡易點燈而進行判斷。
如以上所構成的檢查裝置，如後述般作用。
進行通常點燈檢查的場合，如圖5所示，以控制部27控制訊號產生器26，簡易接觸用探針組裝體6B之探針13被移動至比全接觸用探針組裝體6A的探針13更為上側之退避位置。
接著，使支撐液晶面板2的工作台調整XYZ軸方向及θ旋轉方向，整合全接觸用探針組裝體6A之探針13、與液晶面板2之電極，使液晶面板2由對準位置移動至全接觸位置，在全接觸狀態使相互導電接觸。接著，以訊號產生器26產生檢查訊號而送訊。
藉此，液晶面板2點燈，檢查者目視確認此液晶面板2之點燈狀態進行通常點燈檢查。此外亦有藉由攝影機攝影此液晶面板2之點燈狀態而進行影像處理，以確認缺陷之有無。
藉由此確認，在產生線缺陷等缺陷時，手動或者自動地切換為簡易點燈檢查。在此簡易點燈檢查，如圖6所示，工作台不動作而使液晶面板2保持在對準位置的狀態下，僅使移動機構21動作。具體而言，工作台，固定在離開全接觸用探針組裝體6A的探針13之下方位置。接著，使簡易接觸用探針組裝體6B動作而使其探針13往下方移動，使此探針13導電接觸於前述簡易接觸用電極(快接端子)而簡易接觸。藉此，液晶面板2簡易點燈。
檢查者目視確認此簡易點燈之液晶面板2，或者以影像處理自動確認。
結果正常點燈的話，前述線缺陷等之缺陷，可以判斷是起因於全接觸時之接觸不良。如果未正常點燈，前述缺陷可以判斷是起因於面板不良。
藉由以上，在發生前述點燈不良時，可以容易判斷其係因為面板不良還是接觸不良所引起的。
結果，不再需要更換探針單元，確認作業變得容易，可以短時間容易地特定出不良原因，可以大幅提高檢查作業之效率化。
1．．．探針單元
2．．．液晶面板
3．．．長邊探針單元
4．．．短邊探針單元
5．．．長邊探針基座
6．．．探針組裝體
7‧‧‧對準攝影機
9‧‧‧懸吊基座
10‧‧‧滑塊
11‧‧‧探針塊
13‧‧‧探針
15‧‧‧短邊探針基座
17‧‧‧支柱
18‧‧‧滑塊
19‧‧‧探針塊支撐塊
20‧‧‧探針塊
21‧‧‧軌道
21A‧‧‧移動機構
22‧‧‧導塊
23‧‧‧螺絲棒
24‧‧‧安裝螺絲
26‧‧‧訊號產生器
27‧‧‧控制部
28‧‧‧全接觸用點燈訊號線
29‧‧‧簡易接觸用點燈訊號線
30‧‧‧訊號線
圖1係顯示相關於本發明之實施型態之探針單元之立體圖。
圖2係顯示相關於本發明之實施型態之探針單元之平面圖。
圖3係顯示相關於本發明之實施型態之簡易接觸用探針組裝體之立體圖。
圖4係顯示相關於本發明之實施型態之檢查裝置的控制系之概略構成圖。
圖5係顯示相關於本發明之實施型態之簡易接觸用探針組裝體的退避狀態之正面圖。
圖6係顯示相關於本發明之實施型態之簡易接觸用探針組裝體的簡易接觸狀態之正面圖。
1．．．探針單元
2．．．液晶面板
3．．．長邊探針單元
4．．．短邊探針單元
5．．．長邊探針基座
6．．．探針組裝體
6A．．．探針組裝體
6B．．．探針組裝體
7．．．對準攝影機
9．．．懸吊基座
10．．．滑塊
11．．．探針塊
13．．．探針
15．．．短邊探針基座

Claims (2)

  1. 一種檢查裝置，係將檢查對象板進行點燈檢查之檢查裝置，其特徵為具備：具有直接接觸於前述檢查對象板的電極的探針之複數探針組裝體，及支撐各探針組裝體之探針基座；前述複數之探針組裝體，係由簡易接觸於前述檢查對象板進行簡易點燈檢查之簡易接觸用探針組裝體，及全接觸於前述檢查對象板進行通常點燈檢查之全接觸用探針組裝體所構成；前述簡易接觸用探針組裝體，具備使前述探針對前述檢查對象板接近離開之移動機構，於簡易點燈檢查時使前述簡易接觸用探針組裝體對前述檢查對象板接近使前述探針接觸於前述電極，於通常點燈檢查時使前述簡易接觸用探針組裝體對前述檢查對象板離開。
  2. 如申請專利範圍第1項之檢查裝置，其中具備於通常點燈檢查時發生缺陷時，為了判斷該缺陷是起因於面板或起因於接觸，而控制前述移動機構使前述簡易接觸用探針組裝體接近於前述檢查對象板，切換為使前述探針接觸於前述電極的簡易點燈檢查之控制部。
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