KR101593505B1 - 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치 - Google Patents

가변 엘시디/오엘이디 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 엘시디 및 오엘이디와 같은 액정 패널의 시그널 라인에 프로브 테스트를 시행하는 액정 패널의 검사 장치에 있어서, 검사 장치 본체에 설치 고정되며, 상기 액정 패널의 사이즈 규격에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 상기 액정 패널을 사이즈 규격에 맞춰 패널 실장부에 정렬 고정시키기 위한 패널 고정부; 및 상기 패널 고정부의 패널 실장부에 정렬 고정된 상기 액정 패널의 시그널 라인의 위치에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 상기 액정 패널의 시그널 라인과 전기적으로 연결 접속되어 상기 액정 패널의 성능 테스트를 수행하는 패널 컨택부를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
본 발명에서 제안하고 있는 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 따르면, 액정 패널의 사이즈 규격이나 시그널 라인의 위치 변경에 대응하여 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛을 구성함으로써, 다양한 사이즈 규격이나 시그널 라인을 형성하는 액정 패널에 대응하여 검사 장치를 교체할 필요 없이 액정 패널에 대한 성능 테스트를 수행할 수 있도록 할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛을 구성하여 다양한 사이즈 규격 및 시그널 라인 위치를 갖는 액정 패널의 성능 테스트 수행이 가능해짐에 따라 검사장비 최소화의 운영이 가능하고, 종래와 대비하여 절감되는 구매비용을 통한 제조원가 절감을 통한 경쟁력이 향상되며, 장비의 잦은 교체가 필요 없어 작업의 편의성 및 생산성이 향상되고, 여러 종류의 액정 패널에 대한 빠른 성능 시험이 가능하도록 할 수 있다.

Description

가변 엘시디/오엘이디 검사 장치{A VARIABLE LCD/OLED TESTING DEVICE}
본 발명은 가변 엘시디(Liquid Crystal Display)/오엘이디(Organic Light Emitting Diode) 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 액정 패널의 사이즈 규격이 다른 경우에도 검사 장치를 교체할 필요 없이 액정 패널의 사이즈 규격에 대응하여 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 구성되는 하나의 프로브 유닛을 통해 다양한 크기의 액정 패널에 대한 성능 테스트를 수행할 수 있도록 하는 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로 패널 제조 공정을 통해 제조가 완료된 엘시디(Liquid Crystal Display)/오엘이디(Organic Light Emitting Diode)와 같은 액정 패널들은 종래의 LCD 검사 장비를 통해 불량품인지 양품인지를 검사하게 된다. 이러한 종래의 LCD 검사 장비는 본체의 일 측에 액정 패널의 검사를 수행하는 검사부가 배치되고, 검사부의 일 측에는 액정 패널을 공급 및 회수하는 로딩/언로딩부가 배치되는 구조로 구성된다. 또한, 종래의 LCD 검사 장비에는 액정 패널을 로딩/언로딩부에서 검사부로, 검사부에서 로딩/언로딩부로 반송하여 주는 캐리어가 좌우로 이동이 가능하게 설치되어 있다. 검사부는 프로브 유닛과, 액정 패널을 프로브 유닛에 접속시킴과 더불어 광원을 제공하는 워크테이블로 구성되며, 워크테이블은 편광판 및 백라이트로 이루어지고, 워크테이블의 후방에는 워크테이블을 프로브 유닛에 대해 정렬함과 더불어 프로브 유닛에 접속시키는 이동 스테이지가 설치된다.
상기와 같은 종래의 LCD 검사 장비는 성능 테스트를 수행하기 위한 액정 패널의 사이즈 규격에 맞는 워크테이블과 프로브 유닛을 본체에 장착한 상태에서 액정 패널의 시그널 라인을 통해 프로브 테스트를 수행하게 된다. 이러한 종래의 LCD 검사 장비는 액정 패널의 사이즈 규격이나 액정 패널에 형성되는 시그널 라인의 위치에 대응하는 규격의 워크테이블과 프로브 유닛이 고정 형으로 사용됨에 따라 액정 패널의 사이즈 규격의 변경 또는 액정 패널에 형성되는 시그널 라인의 위치가 다른 경우, 기존의 워크테이블과 프로브 유닛을 본체로부터 분리하고, 액정 패널의 새로운 사이즈 규격이나 시그널 라인의 위치에 맞는 워크테이블과 프로브 유닛을 교체하여 사용하고 있다. 이에 따라 종래의 LCD 검사 장비는 액정 패널의 인치별 사이즈 크기에 대응하는 복수의 프로브 유닛과, 복수의 워크테이블을 구비해야 함으로 구매 비용이 증가되고, 검사 장비의 최소화 운영이 어려우며, 많은 검사 장비로 인한 작업 공간과 보관 관리에 어려움이 있으며, 액정 패널의 사이즈 규격 변경 및 시그널 라인의 위치 변경에 따른 잦은 교체로 인해 생산성이 저하되는 문제가 있었다. 대한민국 등록특허공보 제10-1232157호는 LCD 검사 장비에 대한 선행기술 문헌을 개시하고 있다.
본 발명은 기존에 제안된 방법들의 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 액정 패널의 사이즈 규격이나 시그널 라인의 위치 변경에 대응하여 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛을 구성함으로써, 다양한 사이즈 규격이나 시그널 라인을 형성하는 액정 패널에 대응하여 검사 장치를 교체할 필요 없이 액정 패널에 대한 성능 테스트를 수행할 수 있도록 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
또한, 본 발명은, 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛을 구성하여 다양한 사이즈 규격 및 시그널 라인 위치를 갖는 액정 패널의 성능 테스트 수행이 가능해짐에 따라 검사장비 최소화의 운영이 가능하고, 종래와 대비하여 절감되는 구매비용을 통한 제조원가 절감을 통한 경쟁력이 향상되며, 장비의 잦은 교체가 필요 없어 작업의 편의성 및 생산성이 향상되고, 여러 종류의 액정 패널에 대한 빠른 성능 시험이 가능하도록 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치를 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치는,
엘시디 및 오엘이디와 같은 액정 패널의 시그널 라인에 프로브 테스트를 시행하는 액정 패널의 검사 장치에 있어서,
검사 장치 본체에 설치 고정되며, 상기 액정 패널의 사이즈 규격에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 상기 액정 패널을 사이즈 규격에 맞춰 패널 실장부에 정렬 고정시키기 위한 패널 고정부; 및
상기 패널 고정부의 패널 실장부에 정렬 고정된 상기 액정 패널의 시그널 라인의 위치에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 상기 액정 패널의 시그널 라인과 전기적으로 연결 접속되어 상기 액정 패널의 성능 테스트를 수행하는 패널 컨택부를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 패널 고정부는,
사이즈 규격이 다른 액정 패널이 탑재될 수 있는 사각형상의 패널 실장부를 형성하는 워크테이블 베이스;
상기 패널 실장부에 탑재되는 상기 액정 패널의 사이즈 규격에 대응한 가변으로 상기 액정 패널을 정렬하기 위한 마주하는 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록과, 마주하는 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록으로 구성되는 정렬 가이드 블록 모듈부;
상기 정렬 가이드 블록 모듈부의 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록과 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록의 가변 조정으로 정렬된 상기 액정 패널을 상기 패널 실장부에 진공 흡착시키기 위한 복수의 진공 스위치; 및
상기 패널 실장부에 탑재되는 액정 패널의 유무를 감지하기 위한 센서를 포함하여 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록은,
상기 워크테이블 베이스에 형성된 수평의 가이드를 따라 양단에서 X축 방향으로 각각 위치 가변되어 이동되는 제1 X축 정렬 가이드 블록과, 제2 X축 정렬 가이드 블록을 포함하되, 제1 X축 정렬 가이드 블록에는 상기 액정 패널의 X축 미세 정렬 조정을 위한 X축 푸셔를 더 포함하여 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록은,
상기 워크테이블 베이스에 형성된 이동 모듈을 따라 Y축 방향으로 위치 가변되어 이동되는 1개의 제1 Y축 정렬 가이드 블록과, X축 방향 및 Y축 방향으로 위치 가변되어 이동되는 2개의 제2 Y축 정렬 가이드 블록을 포함하되, 상기 제1 Y축 정렬 가이드 블록에는 상기 액정 패널의 Y축 미세 정렬 조정을 위한 Y축 푸셔를 더 포함하고, 상기 2개의 제2 Y축 정렬 가이드 블록 각각에는 상기 워크 테이블 베이스에 분리된 단위 모듈로 형성된 수평 단위 가이드를 따라 X축 방향으로 이동하는 이동 모듈에 제2 Y축 정렬 가이드 블록이 체결 구성될 수 있다.
바람직하게는, 상기 패널 컨택부는,
상기 액정 패널의 수직 일 측면에 배치되는 수직의 프로브 베이스에 각각 설치되는 한 쌍으로 이루어지며, 상기 수직의 프로브 베이스 상에서 X축 방향으로 위치 가변되는 제1 프로브 이동 블록과, 상기 제1 프로브 이동 블록 각각에 형성된 Y축 이동로를 따라 Y축 방향으로 위치 가변되는 제1 매니퓰레이터와, 상기 제1 매니퓰레이터의 말단에 형성되어 상기 액정 패널의 수직 일면에 형성되는 시그널 라인과 전기적인 연결 접속이 이루어지는 제1 프로브를 구비하는 제1 패널 컨택부; 및
상기 액정 패널의 수평 일 측면에 배치되는 수평의 프로브 베이스에 각각 설치되는 한 쌍으로 이루어지며, 상기 수평의 프로브 베이스 상에서 Y축 방향으로 위치 가변되는 제2 프로브 이동 블록과, 상기 제2 프로브 이동 블록 각각에 형성된 X축 이동로를 따라 X축 방향으로 위치 가변되는 제2 매니퓰레이터와, 상기 제2 매니퓰레이터의 말단에 형성되어 상기 액정 패널의 수평 일면에 형성되는 시그널 라인과 전기적인 연결 접속이 이루어지는 제2 프로브를 구비하는 제2 패널 컨택부를 포함하여 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 제1 패널 컨택부는,
상기 수직의 프로브 베이스에 설치된 한 쌍의 제1 프로브 이동 블록의 양 측면으로 수직의 프로브 베이스 미세 조정을 위한 제1 프로브 베이스 미세조정 블록과, 한 쌍의 제1 프로브 이동 블록에 각각 설치된 제1 매니퓰레이터의 미세 가변 조정을 위한 제1 매니퓰레이터 미세조정 블록을 더 포함하여 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 제2 패널 컨택부는,
상기 수평의 프로브 베이스에 설치된 한 쌍의 제2 프로브 이동 블록의 양 측면으로 수평의 프로브 베이스 미세 조정을 위한 제2 프로브 베이스 미세조정 블록과, 한 쌍의 제2 프로브 이동 블록에 각각 설치된 제2 매니퓰레이터의 미세 가변 조정을 위한 제2 매니퓰레이터 미세조정 블록을 더 포함하여 구성할 수 있다.
더욱 바람직하게는, 상기 패널 고정부는,
상기 액정 패널이 탑재되는 워크테이블 베이스에 형성된 패널 실장부의 하부로 평광판 유리(Polarizer glass)와 확산 플레이트(Diffusion plate)가 설치 구성될 수 있다.
본 발명에서 제안하고 있는 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 따르면, 액정 패널의 사이즈 규격이나 시그널 라인의 위치 변경에 대응하여 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛을 구성함으로써, 다양한 사이즈 규격이나 시그널 라인을 형성하는 액정 패널에 대응하여 검사 장치를 교체할 필요 없이 액정 패널에 대한 성능 테스트를 수행할 수 있도록 할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛을 구성하여 다양한 사이즈 규격 및 시그널 라인 위치를 갖는 액정 패널의 성능 테스트 수행이 가능해짐에 따라 검사장비 최소화의 운영이 가능하고, 종래와 대비하여 절감되는 구매비용을 통한 제조원가 절감을 통한 경쟁력이 향상되며, 장비의 잦은 교체가 필요 없어 작업의 편의성 및 생산성이 향상되고, 여러 종류의 액정 패널에 대한 빠른 성능 시험이 가능하도록 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치의 기능블록의 구성을 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치의 개략적인 사시도 구성을 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 사시도 구성을 도시한 도면.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 평면도 구성을 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 요부 사시도 및 단면도 구성을 개략적으로 도시한 도면.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 요부 사시도 구성을 개략적으로 도시한 도면.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 ‘연결’ 되어 있다고 할 때, 이는 ‘직접적으로 연결’ 되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 ‘간접적으로 연결’ 되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 구성요소를 ‘포함’ 한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치의 기능블록의 구성을 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치의 개략적인 사시도 구성을 도시한 도면이며, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 사시도 구성을 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 평면도 구성을 도시한 도면이다. 도 1 내지 도 4에 각각 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치는, 패널 고정부(100), 및 패널 컨택부(200)를 포함하여 구성될 수 있다. 여기서, 패널 고정부(100) 및 패널 컨택부(200)는 액정 패널(20)의 검사 장치에 설치되어 프로브 유닛으로 사용된다.
패널 고정부(100)는, 검사 장치 본체(10)에 설치 고정되며, 액정 패널(20)의 사이즈 규격에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 액정 패널(20)을 사이즈 규격에 맞춰 패널 실장부(111)에 정렬 고정시키기 위한 구성이다. 이러한 패널 고정부(100)는 워크테이블 베이스(110)와, 정렬 가이드 블록 모듈부(120)와, 진공 스위치(130), 및 센서(140)를 포함하여 구성될 수 있다. 여기서, 워크테이블 베이스(110)는 사이즈 규격이 다른 액정 패널(20)이 탑재될 수 있는 사각형상의 패널 실장부(111)를 형성한다. 정렬 가이드 블록 모듈부(120)는 워크테이블 베이스(110)의 패널 실장부(111)에 탑재되는 액정 패널(20)의 사이즈 규격에 대응한 가변으로 액정 패널(20)을 정렬하기 위한 마주하는 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록(121)과, 마주하는 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록(125)으로 구성된다. 복수의 진공 스위치(130)는 정렬 가이드 블록 모듈부(120)의 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록(121)과 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록(125)의 가변 조정으로 정렬된 액정 패널(20)을 패널 실장부(111)에 진공 흡착시키기 위한 구성이다. 이러한 복수의 진공 스위치(130)는 후술하게 될 센서(140)를 통해 액정 패널(20)이 패널 실장부(111)에 탑재된 상태가 감지된 상태에서 온(on) 구동하여 외부에서 공급되는 진공을 통해 패널 실장부(111)에 탑재된 액정 패널(20)을 진공패드(미도시)로 흡착하여 고정시키게 된다. 센서(140)는 패널 실장부(111)에 탑재되는 액정 패널(20)의 유무를 감지하기 위한 구성이다. 이러한 센서(140)는 하우징 모듈은 워크테이블 베이스(110)의 일 측에 설치되고, 실제 감지는 액정 패널(20)이 탑재되는 패널 실장부(111)에 설치된다.
정렬 가이드 블록 모듈부(120)의 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록(121)은 워크테이블 베이스(110)에 형성된 수평의 가이드(112)를 따라 양단에서 X축 방향으로 각각 위치 가변되어 이동되는 제1 X축 정렬 가이드 블록(122)과, 제2 X축 정렬 가이드 블록(123)을 포함하되, 제1 X축 정렬 가이드 블록(122)에는 액정 패널(20)의 X축 미세 정렬 조정을 위한 X축 푸셔(122a)를 더 포함하여 구성할 수 있다.
정렬 가이드 블록 모듈부(120)의 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록(125)은 워크테이블 베이스(110)에 형성된 이동 모듈(113)을 따라 Y축 방향으로 위치 가변되어 이동되는 1개의 제1 Y축 정렬 가이드 블록(126)과, X축 방향 및 Y축 방향으로 위치 가변되어 이동되는 2개의 제2 Y축 정렬 가이드 블록(127)을 포함하되, 제1 Y축 정렬 가이드 블록(126)에는 액정 패널(20)의 Y축 미세 정렬 조정을 위한 Y축 푸셔(126a)를 더 포함하고, 2개의 제2 Y축 정렬 가이드 블록(127) 각각에는 워크테이블 베이스(110)에 분리된 단위 모듈로 형성된 수평 단위 가이드(114)를 따라 X축 방향으로 이동하는 이동 모듈(115)에 제2 Y축 정렬 가이드 블록(127)이 체결 구성된다.
패널 컨택부(200)는, 패널 고정부(100)의 패널 실장부(111)에 정렬 고정된 액정 패널(20)의 시그널 라인의 위치에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 액정 패널(20)의 시그널 라인과 전기적으로 연결 접속되어 액정 패널(20)의 성능 테스트, 일례로서 액정 패널(20)의 점등 테스트를 수행하는 구성이다. 이러한 패널 컨택부(200)는 제1 패널 컨택부(210)와 제2 패널 컨택부(220)로 크게 구성될 수 있다.
패널 컨택부(200)의 제1 패널 컨택부(210)는 액정 패널(20)의 수직 일 측면에 배치되는 수직의 프로브 베이스(201)에 각각 설치되는 한 쌍으로 이루어지며, 수직의 프로브 베이스(201) 상에서 X축 방향으로 위치 가변되는 제1 프로브 이동 블록(211)과, 제1 프로브 이동 블록(211) 각각에 형성된 Y축 이동로(211a)를 따라 Y축 방향으로 위치 가변되는 제1 매니퓰레이터(212)와, 제1 매니퓰레이터(212)의 말단에 형성되어 액정 패널(20)의 수직 일면에 형성되는 시그널 라인과 전기적인 연결 접속이 이루어지는 제1 프로브(213)를 구비할 수 있다. 여기서, 제1 패널 컨택부(210)는 수직의 프로브 베이스(201)에 설치된 한 쌍의 제1 프로브 이동 블록(211)의 양 측면으로 수직의 프로브 베이스(201) 미세 조정을 위한 제1 프로브 베이스 미세조정 블록(214)과, 한 쌍의 제1 프로브 이동 블록(211)에 각각 설치된 제1 매니퓰레이터(212)의 미세 가변 조정을 위한 제1 매니퓰레이터 미세조정 블록(215)을 더 포함하여 구성할 수 있다.
패널 컨택부(200)의 제2 패널 컨택부(220)는 액정 패널(20)의 수평 일 측면에 배치되는 수평의 프로브 베이스(202)에 각각 설치되는 한 쌍으로 이루어지며, 수평의 프로브 베이스(202) 상에서 Y축 방향으로 위치 가변되는 제2 프로브 이동 블록(221)과, 제2 프로브 이동 블록(221) 각각에 형성된 X축 이동로(221a)를 따라 X축 방향으로 위치 가변되는 제2 매니퓰레이터(222)와, 제2 매니퓰레이터(222)의 말단에 형성되어 액정 패널(20)의 수평 일면에 형성되는 시그널 라인과 전기적인 연결 접속이 이루어지는 제2 프로브(223)를 구비할 수 있다. 여기서, 제2 패널 컨택부(220)는 수평의 프로브 베이스(202)에 설치된 한 쌍의 제2 프로브 이동 블록(221)의 양 측면으로 수평의 프로브 베이스(202) 미세 조정을 위한 제2 프로브 베이스 미세조정 블록(224)과, 한 쌍의 제2 프로브 이동 블록(221)에 각각 설치된 제2 매니퓰레이터(222)의 미세 가변 조정을 위한 제2 매니퓰레이터 미세조정 블록(225)을 더 포함하여 구성할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 요부 사시도 및 단면도 구성을 개략적으로 도시한 도면이고, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 요부 사시도 구성을 개략적으로 도시한 도면이다. 도 5는 패널 고정부(100)의 절단된 요부 사시도와 단면도 구성을 나타내고 있으며, 이러한 패널 고정부(100)는 액정 패널(20)이 탑재되는 워크테이블 베이스(110)에 형성된 패널 실장부(111)의 하부로 평광판 유리(116)(Polarizer glass)와 확산 플레이트(117)(Diffusion plate)가 설치 구성된다. 도 6은 패널 컨택부(200)의 요부를 확대한 사시도 구성을 나타내고 있으며, 제1 및 제2 매니퓰레이터(212, 222)의 말단에 형성된 제1 및 제2 프로브(213, 223)에는 커넥터에 연결된 와이어가 전기적으로 연결 접속되도록 연결 구성되고 있다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면이고, 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 고정부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면이다. 도 7은 12인치의 크기를 갖는 액정 패널(20)이 패널 고정부(100)에 정렬 고정되는 작동 구성을 나타내고 있으며, 도 8은 7인치의 크기를 갖는 액정 패널(20)이 패널 고정부(100)에 정렬 고정되는 작동 구성을 나타낸다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면이고, 도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치에 적용되는 패널 컨택부의 작동 구성을 평면도로 도시한 도면이다. 도 9는 12인치의 크기를 갖는 액정 패널(20)이 패널 고정부(100)에 설치된 상태에서 패널 컨택부(200)의 제1 패널 컨택부(210) 및 제2 패널 컨택부(220)의 가변을 통해 액정 패널(20)의 시그널 라인에 전기적으로 연결 접속되는 작동 구성을 나타낸다. 도 10은 7인치의 크기를 갖는 액정 패널(20)이 패널 고정부(100)에 설치된 상태에서 패널 컨택부(200)의 제1 패널 컨택부(210) 및 제2 패널 컨택부(220)의 가변을 통해 액정 패널(20)의 시그널 라인에 전기적으로 연결 접속되는 작동 구성을 나타낸다.
상술한 바와 같은 본 발명의 일실시예에 따른 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치는 다양한 사이즈 규격이나 시그널 라인을 형성하는 액정 패널에 대응하여 가변되는 패널 고정부와 패널 컨택부로 조합 구성되는 하나의 프로브 유닛의 구성을 통해 다양한 액정 패널에 대한 성능 테스트의 수행 시에 검사 장치를 교체할 필요 없이 사용할 수 있도록 할 수 있다. 특히, 본 발명은 7인치, 8인치, 10인치, 11인치, 12인치, 13인치, 14인치, 15인치, 17인치, 및 18인치의 다양한 사이즈 크기를 갖는 액정 패널에 대응하여 가변이 가능하게 됨으로써, 기존의 검사 장비에서 인치 별로 10의 프로브 유닛이 필요한 구성을 1대의 프로브 유닛으로 구성할 수 있게 된다.
이상 설명한 본 발명은 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 다양한 변형이나 응용이 가능하며, 본 발명에 따른 기술적 사상의 범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.
100: 패널 고정부 110: 워크테이블 베이스
111: 패널 실장부 112: 수평의 가이드
113: 이동 모듈 114: 수평 단위 가이드
115: 이동 모듈 116: 평광판 유리
117: 확산 플레이트 120: 정렬 가이드 블록 모듈부
121: X축 정렬 가이드 블록 122: 제1 X축 정렬 가이드 블록
122a: X축 푸셔 123: 제2 X축 정렬 가이드 블록
125: Y축 정렬 가이드 블록 126: 제1 Y축 정렬 가이드 블록
126a: Y축 푸셔 127: 제2 Y축 정렬 가이드 블록
130: 진공 스위치 140: 센서
200: 패널 컨택부 201: 수직의 프로브 베이스
202: 수평의 프로브 베이스 210: 제1 패널 컨택부
211: 제1 프로브 이동 블록 211a: Y축 이동로
212: 제1 매니퓰레이터 213: 제1 프로브
214: 제1 프로브 베이스 미세 조정 블록
215: 제1 매니퓰레이터 미세 조정 블록
220: 제2 패널 컨택부 221: 제2 프로브 이동 블록
221a: X축 이동로 222: 제2 매니퓰레이터
223: 제2 프로브
224: 제2 프로브 베이스 미세 조정 블록
225: 제2 매니퓰레이터 미세 조정 블록

Claims (8)

  1. 엘시디 및 오엘이디와 같은 액정 패널(20)의 시그널 라인에 프로브 테스트를 시행하는 액정 패널의 검사 장치에 있어서,
    검사 장치 본체(10)에 설치 고정되며, 상기 액정 패널(20)의 사이즈 규격에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 상기 액정 패널(20)을 사이즈 규격에 맞춰 패널 실장부(111)에 정렬 고정시키기 위한 패널 고정부(100); 및
    상기 패널 고정부(100)의 패널 실장부(111)에 정렬 고정된 상기 액정 패널(20)의 시그널 라인의 위치에 대응한 위치 정렬 가변의 조정이 이루어지고, 상기 액정 패널(20)의 시그널 라인과 전기적으로 연결 접속되어 상기 액정 패널(20)의 성능 테스트를 수행하는 패널 컨택부(200)를 포함하되,
    상기 패널 고정부(100)는,
    사이즈 규격이 다른 액정 패널(20)이 탑재될 수 있는 사각형상의 패널 실장부(111)를 형성하는 워크테이블 베이스(110);
    상기 패널 실장부(111)에 탑재되는 상기 액정 패널(20)의 사이즈 규격에 대응한 가변으로 상기 액정 패널(20)을 정렬하기 위한 마주하는 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록(121)과, 마주하는 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록(125)으로 구성되는 정렬 가이드 블록 모듈부(120);
    상기 정렬 가이드 블록 모듈부(120)의 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록(121)과 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록(125)의 가변 조정으로 정렬된 상기 액정 패널(20)을 상기 패널 실장부(111)에 진공 흡착시키기 위한 복수의 진공 스위치(130); 및
    상기 패널 실장부(111)에 탑재되는 액정 패널(20)의 유무를 감지하기 위한 센서(140)를 포함하여 구성하며,
    상기 한 쌍의 X축 정렬 가이드 블록(121)은,
    상기 워크테이블 베이스(110)에 형성된 수평의 가이드(112)를 따라 양단에서 X축 방향으로 각각 위치 가변되어 이동되는 제1 X축 정렬 가이드 블록(122)과, 제2 X축 정렬 가이드 블록(123)을 포함하되, 제1 X축 정렬 가이드 블록(122)에는 상기 액정 패널(20)의 X축 미세 정렬 조정을 위한 X축 푸셔(122a)를 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서, 상기 한 쌍의 Y축 정렬 가이드 블록(125)은,
    상기 워크테이블 베이스(110)에 형성된 이동 모듈(113)을 따라 Y축 방향으로 위치 가변되어 이동되는 1개의 제1 Y축 정렬 가이드 블록(126)과, X축 방향 및 Y축 방향으로 위치 가변되어 이동되는 2개의 제2 Y축 정렬 가이드 블록(127)을 포함하되, 상기 제1 Y축 정렬 가이드 블록(126)에는 상기 액정 패널(20)의 Y축 미세 정렬 조정을 위한 Y축 푸셔(126a)를 더 포함하고, 상기 2개의 제2 Y축 정렬 가이드 블록(127) 각각에는 상기 워크테이블 베이스(110)에 분리된 단위 모듈로 형성된 수평 단위 가이드(114)를 따라 X축 방향으로 이동하는 이동 모듈(115)에 제2 Y축 정렬 가이드 블록(127)이 체결 구성되는 것을 특징으로 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치.
  5. 제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 패널 컨택부(200)는,
    상기 액정 패널(20)의 수직 일 측면에 배치되는 수직의 프로브 베이스(201)에 각각 설치되는 한 쌍으로 이루어지며, 상기 수직의 프로브 베이스(201) 상에서 X축 방향으로 위치 가변되는 제1 프로브 이동 블록(211)과, 상기 제1 프로브 이동 블록(211) 각각에 형성된 Y축 이동로(211a)를 따라 Y축 방향으로 위치 가변되는 제1 매니퓰레이터(212)와, 상기 제1 매니퓰레이터(212)의 말단에 형성되어 상기 액정 패널(20)의 수직 일면에 형성되는 시그널 라인과 전기적인 연결 접속이 이루어지는 제1 프로브(213)를 구비하는 제1 패널 컨택부(210); 및
    상기 액정 패널(20)의 수평 일 측면에 배치되는 수평의 프로브 베이스(202)에 각각 설치되는 한 쌍으로 이루어지며, 상기 수평의 프로브 베이스(202) 상에서 Y축 방향으로 위치 가변되는 제2 프로브 이동 블록(221)과, 상기 제2 프로브 이동 블록(221) 각각에 형성된 X축 이동로(221a)를 따라 X축 방향으로 위치 가변되는 제2 매니퓰레이터(222)와, 상기 제2 매니퓰레이터(222)의 말단에 형성되어 상기 액정 패널(20)의 수평 일면에 형성되는 시그널 라인과 전기적인 연결 접속이 이루어지는 제2 프로브(223)를 구비하는 제2 패널 컨택부(220)를 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1 패널 컨택부(210)는,
    상기 수직의 프로브 베이스(201)에 설치된 한 쌍의 제1 프로브 이동 블록(211)의 양 측면으로 수직의 프로브 베이스(201) 미세 조정을 위한 제1 프로브 베이스 미세조정 블록(214)과, 한 쌍의 제1 프로브 이동 블록(211)에 각각 설치된 제1 매니퓰레이터(212)의 미세 가변 조정을 위한 제1 매니퓰레이터 미세조정 블록(215)을 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 제2 패널 컨택부(220)는,
    상기 수평의 프로브 베이스(202)에 설치된 한 쌍의 제2 프로브 이동 블록(221)의 양 측면으로 수평의 프로브 베이스(202) 미세 조정을 위한 제2 프로브 베이스 미세조정 블록(224)과, 한 쌍의 제2 프로브 이동 블록(221)에 각각 설치된 제2 매니퓰레이터(222)의 미세 가변 조정을 위한 제2 매니퓰레이터 미세조정 블록(225)을 더 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 패널 고정부(100)는,
    상기 액정 패널(20)이 탑재되는 워크테이블 베이스(110)에 형성된 패널 실장부(111)의 하부로 평광판 유리(116)(Polarizer glass)와 확산 플레이트(117)(Diffusion plate)가 설치 구성되는 것을 특징으로 하는, 가변 엘시디/오엘이디 검사 장치.
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