TWI297074B - - Google Patents

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TWI297074B
TWI297074B TW94116236A TW94116236A TWI297074B TW I297074 B TWI297074 B TW I297074B TW 94116236 A TW94116236 A TW 94116236A TW 94116236 A TW94116236 A TW 94116236A TW I297074 B TWI297074 B TW I297074B
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Hirotsugu Komiya
Tetsuya Ichisugi
Takahiro Shinozuka
Kazuaki Endo
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Seimi Chem Kk
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Description

1297074 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於玻璃研磨用研磨材,詳言之,係關 各種玻璃材料之完成研磨,特別可維持以含有氧化 土類氧化物為主要成份之玻璃研磨用研磨材的高研 度,且可減少研磨玻璃時產生之損傷(特別是潛傷) 未有之程度之玻璃研磨用研磨材及其品質之評估方 【先前技術】 近年來玻璃材料使用於各種用途,不僅是光學透 學用途用玻璃材料,亦使用於液晶用玻璃基板;磁 碟等記憶媒體用玻璃基板;及LS I光罩用玻璃基板 製造用之領域中,其基本上均要求高精度地進行表d 先前至今,於該等玻璃基板之表面研磨所使用之 係使用以稀土類氧化物(特別為氧化鈽)為主要成份 材。此係因為相較於氧化鍅或氧化矽,作為研磨粒 鈽具有所謂數倍優良之玻璃研磨效率的優點。然而 近年來所謂數位家電製品等之生產急速成長,在其 置之例如液晶顯示器等FPD方面,顯示晝面逐漸大 或可攜式終端般之小型面板亦有必要鮮明地顯示彩 圖等,而要求更精細之製品。 又,在磁碟等HDD組裝入諸如DVD紀錄器之情形 為了對電視節目等進行長時間錄影,而對應有1 0 0 程度之高密度紀錄器成為標準,碟用玻璃基板之表 係逐漸要求進行高精度之表面研磨以做成高平滑性 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 於適於 鈽之稀 磨速 至從所 法。 鏡等光 碟、光 等電路 &研磨。 研磨材 之研磨 之氧化 ,受到 基幹裝 型化, 色影像 時,亦 〜2 0 0 G 面精度 者。由 5 1297074 此點言之,要求研磨材之研磨能力更高品質者。 另外,玻璃研磨用之以氧化鈽為主要成分之研磨材係如 後所述,一般以提高研磨性能為由而含有氟。 在以該等氧化鈽為主要成分之研磨材中,已知道例如研 磨材粒子之粒徑係影響研磨速度、平均粗度(表面平滑度) 及擦傷或損傷(顯傷及潛傷)等之發生等之研磨性能。
例如,日本專利特開2 0 0 0 _ 2 7 3 4 4 3號中記載有將特定粗 大粒子(6 // m以上)設定在3 0 0 ppm以下,藉此減少潛傷之 數目。又,曰本專利特開2 0 0 1 - 7 2 9 6 2號中揭露有在關於由 約略純鈽所形成之研磨粒之膠體粒子之情況下,將其一次 粒子凝集體之平均二次粒徑(中間徑)設定為偏小(0 . 1〜0 · 5 从m左右),藉此保持研磨速度且可使表面粗度變小。 又,曰本專利特開2 0 0 3 - 2 6 1 8 6 1號中提出有乾燥狀態之 研磨材粒子凝集度低者係著眼於分散性良好,並評估其凝 集狀態之指標。亦即,在研磨材粒子中,利用BET法所測 得之研磨材粒子之粒徑(D N )(相當於一次粒子之粒徑)與利 用空氣穿透法所測得之研磨材粒子之粒徑(D Λ)(近似於凝 集粒子之粒徑)之比率滿足1 < = D a / D ν < = 1 0之關係之研磨 材粒子,係凝集少且在水性媒介中之分散性良好,故可得 穩定之研磨特性。 然而,上述評估研磨材粒子之粒徑或凝集特性之方法 中,日本專利特開2 0 0 0 _ 2 7 3 4 4 3號完全不區分作為對象之 粗大粒子為一次粒子之粒徑或凝集體粒子之粒徑;而日本 專利特開2 0 0 1 - 7 2 9 6 2號則規定有凝集體粒子之粒徑(二次 6 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 粒徑),但與上述凝集體同樣地,並未檢討關於該凝集體粒 子在水性媒介中可再分散為何種程度之一次粒子。由現實 觀點言之,研磨材粒子即使在乾燥狀態下含有某種程度之 凝集體粒子,若該凝集體粒子為可容易於水性媒介中分散 (或分解粉碎)者的話,並無再特地花費工夫將其去除至必 要以上之意義。依經濟合理性而言,以進行所必要之最小 限度處理,並得到最大效果為佳。
另外,關於日本專利特開2 0 0 3 - 2 6 1 8 6 1號所記載之顯示 凝集之指標,係僅為顯示乾燥狀態之研磨材粒子之凝集程 度大小(凝集大小)。因此,並非為直接顯示將該粒子分散 於水性媒介中時之分散容易度或分散困難度(分散性)。 基本上,玻璃研磨用之研磨材係將研磨材粒子(研磨粒) 於使用時分散於水性媒介中以作成研磨材組成物(亦稱研 磨材漿液)。此時,不僅要求提升所謂高研磨速度及其研磨 速度之維持/持續性之研磨步驟的生產性,亦要求所謂保持 研磨面之高品質水準之生產性及品質二者的較高水準。然 而,提升研磨速度及保持高品質係屬相互矛盾的要求,難 以兩立。例如可容易理解的是,增加研磨材粒之粗粒量的 話,則研磨速度變快,但其研磨面之刮傷等損傷將容易增 加〇 關於研磨面之品質方面,特別在關於為重要評估對象之 研磨面之細微損傷方面,先前係以顯傷(在照射可見光線之 下,利用顯微鏡觀察已乾燥之研磨面而所認定之損傷)之多 寡便足以充分評估研磨面損傷之多募。但是,如上所述, 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-09/94116236
1297074 對應例如液晶監視器等持續高精細且大晝面化之電子產 的進步發展現況,相較於先前技術,其關於液晶用玻璃 板或硬碟用玻璃基板等品質之要求水準已達超過預期之 準,並持續提升中。 隨著更進一步要求其研磨面之高品質,除了當然沒有 傷之外,更要求研磨面之細微損傷之評估法嚴謹評估潛 之數目。此處所謂「潛傷」係指利用稀薄氟酸水溶液蝕 研磨面,使乾燥後之研磨面損傷明確化,以顯微鏡(例如 奥林巴斯公司製,系統金屬顯微鏡,BHT型等)觀察研磨 而始將在上述顯傷評估法中難以發現之細微損傷認定為 傷而言。經此而現在要求以潛傷之數目多寡進行評估之 為嚴謹的研磨面之品質評估方法。 關於先前之以氧化鈽為主要成分之乾燥粉末的研磨材 (研磨材粒子),即便使粗粒徑或凝集體粒子量在上述公 專利公報所揭示之較佳範圍内時,從玻璃研磨中繼續/持 高研磨速度並達成考慮潛傷數目之研磨面的高品質方面 言,亦非屬於一定滿足者。 本發明之目的在於提供一種玻璃研磨用研磨材,其係 別在以含有氧化鈽之稀土類氧化物為主要成份之玻璃研 用研磨材中,可維持高研磨速度,且將發生在研磨玻璃 之損傷(特別是潛傷)減少至前所未達之程度,以及提供 對研磨材粒子(特別是針對關於潛傷之品質)進行評估關 粉末之品質評估方法。 【發明内容】 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 業 基 水 顯 傷 刻 , 面 損 更 開 續 而 特 磨 時 針 於 8 1297074 根據本發明的話,提供以下發明。 [1 ] 一種品質評估方法,係評估玻璃研磨用研磨材粒子在水 性媒介中之分散性之方法,其特徵為,準備由將被測量對 象之研磨材粒子添加入水性媒介所構成之研磨材粒子水性
媒介分散液,對該分散液照射超音波,並測量由式(1 )所示 之相對於該超音波照射前之特定粒徑α 0 ( /z m)以上之粒子 存在量,超音波照射後之上述α。m )以上之粒子藉由超 音波照射作用所消失之比例(定義為分散率(f )), ξ =[(V〇-Vt)/V〇]xlOO(%) (1) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑a g ( // m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( // m)以 上之粒子存在量(累積容積))。 [2 ] —種玻璃研磨方法,係利用研磨材粒子研磨玻璃之方 法,其特徵為,準備由將被測量對象之研磨材粒子添加入 水性媒介所構成之研磨材粒子水性媒介分散液,對該分散 液照射超音波,並測量由式(1 )所示之相對於該超音波照射 前之特定粒徑α。( μ m)以上之粒子存在量,超音波照射後 之上述α 〇 (// m )以上之粒子藉由超音波照射作用所消失之 比例(定義為分散率(f )), ξ =[ ( V〇-Vt)/V〇]xl 00(%) (1 ) (式中,V g為超音波照射前之特定粒徑α。(从m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( in )以 上之粒子存在量(累積容積)); 對藉由式(1 )之方法所測得之分散率f為特定值f。( % ) 9 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 以上之研磨材粒子進行調整、選擇或判別, 並利用該特定研磨材粒子進行玻璃研磨。 [3]如[2]之玻璃研磨方法,其中,為30(%)。
[4 ] 一種玻璃研磨用研磨材組成物,係含有研磨材粒子之玻 璃研磨用研磨材組成物,其特徵為,該研磨材粒子係 對由將該研磨材粒子添加入水性媒介所構成之研磨材 粒子水性媒介分散液照射超音波,並測量由式(1 )所示之相 對於該超音波照射前之特定粒徑α。( μ m)以上之粒子存在 量,超音波照射後之上述a G (// m )以上之粒子藉由超音波 照射作用所消失之比例(定義為分散率(f )), ξ = [ ( V 〇 - V t ) / V 〇 ] χ 1 0 0 ( % ) ( 1 ) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑α。( m )以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α 〇 ( # m)以 上之粒子存在量(累積容積)), 將藉由式(1 )之方法所測得之分散率f為特定值f 〇 (%)以 上之研磨材粒子分散於水性媒介中者。 [5 ]如[4 ]之玻璃研磨用研磨材組成物,其中,f。為3 0 ( % )。 [6 ] —種高分散性玻璃研磨用之研磨材粒子,係以含有氧化 鈽之稀土類氧化物為主要成份之研磨材粒子,其特徵為, 該研磨材中之S〇4換算之金屬硫酸鹽量為0.070(莫耳/ Kg) 以下,且該研磨材粒子係 對由將該研磨材粒子添加入水性媒介所構成之研磨材 粒子水性媒介分散液照射超音波,並測量由式(1 )所示之相 對於該超音波照射前之特定粒徑α。m)以上之粒子存在 10 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 量,超音波照射後之上述α ο ( // m)以上之粒子藉由超音波 照射作用所消失之比例(定義為分散率(f )), ξ = [(V〇-Vt)/V〇]xlOO(°/〇) (1) (式中,V G為超音波照射前之特定粒徑α。( # m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( // m)以 上之粒子存在量(累積容積)), 藉由式(1 )之方法所測得之分散率f為特定值f。( %)以 上之研磨材粒子。
[7 ]如[6 ]之高分散性玻璃研磨用之研磨材粒子,其中,f 〇 為 30(〇/〇)。 [8]如[6]或[7]之研磨材粒子,其中,含有氟*化合物。 [9 ] 一種玻璃研磨用研磨材組成物,其特徵為,至少含有水 性媒介與[6 ]至[8 ]中任一項之研磨材粒子。 [1 0 ] —種玻璃研磨方法,其特徵為,使用如[9 ]之玻璃研磨 用研磨材組成物。 【實施方式】 以下詳細說明用以實施本發明之最佳形態。 (水性媒介中之粗粒子量及凝集強弱之評估) 在本發明中,將關於玻璃研磨用研磨材粒子在水性媒介 中之分散性的品質評估依如下所述進行,藉由超音波照射 以評估研磨材粒子之凝集強弱、進而評估由凝集體所構成 之粗粒子量。 亦即,準備將被測量對象之研磨粒子添加入水性媒介之 研磨材水性媒介分散液,對該水性媒介分散液照射超音 11 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 波,並測量由式(1 )所示之相對於該超音波照射前之特定粒 徑α ο ( // m)以上之粒子存在量,超音波照射後之上述α 〇 ( // m)以 上之粒子藉由超音波照射作用所消失之比例(定義為分散 率 U ))。 ξ =[(V〇-Vt)/V〇]xlOO(°/〇) (1) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑α。( // m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( a m )以 上之粒子存在量(累積容積))。
上述(1 )式之技術性意義如下所述。亦即,以含有氧化 鈽之稀土類氧化物為主要成份之研磨材粒子係一般已知構 成為其一次粒子(此處所謂一次粒子係指不為單結晶,而實 際上為多結晶體粒子所構成者。以下均同。)凝集之凝集體 粒子。又,該研磨材粒子係即使在水性媒介中之組成物中, 亦具有粒徑分佈者,本案發明者等經詳細檢討之結果,發 現在對研磨面之損傷(顯傷及潛傷)有著不小影響之因子 中,水性媒介中之研磨材粒子中的粒徑在一定值(ύ: G )以上 之粗大粒子(例如,粒徑α。= 1 G // m以上之粒子)之極微(數 ppm〜數百ppm)存在量係屬重要因子。 通常關於玻璃研磨用之研磨材粒子,平均粒徑一般為 0. 3〜3 /z m左右,此類粒徑1 0 // m以上、特別是粒徑1 0〜5 0 // m左右的粗大粒子(粗粒子)之存在量係極微量。 另外,a G值一般係以所使用之研磨材粒子種類、平均 粒徑及作為目的之研磨品質等,予以實驗性地決定之值, 而本發明所使用之研磨材粒子係如後述實施例所示,若設 12 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 定為α 〇二1 0 // m,則可得到充分的結果。
然而,於此應注意所謂粗大粒子係在一次粒子本身為粗 大之情況之外,亦有一次粒子凝集之凝集體粒子為粗大之 情況。然後,經本發明者等進一步詳細檢討,發現在粉體 狀態形成粗大凝集體粒子者中,於水性媒介中容易分解至 為構成粒子之一次粒子者;與因強力凝集而即使於水性媒 介中,實際上仍可保持在該粗大凝集體粒子之狀態,且不 易分散於一次粒子者。亦即,重點並非在於上述粗大粒子 之凝集體粒子之粒徑或存在量,而是在於其凝集強弱程度 (對水性媒介中之凝集體之一次粒子的解體容易程度或解 體困難程度)強烈影響研磨面品質(顯傷及潛傷),並發現有 評估該項之必要。 藉此根據本發明者等之見解,係如上述各專利公開公報 所記載般,僅單純限定一次粒子為粗粒之情況,或乾燥狀 態下凝集體粒子之粒徑或量,將使研磨材粒子之品質無法 充分用以評估潛傷程度。 (研磨材粒子中之粗粒子的分離/濃縮方法) 在本發明中,為了評估水性媒介中研磨材粒子之粗粒子 凝集之強弱,首先,將研磨材粒子中所微量存在之粗粒子 分離/濃縮,對所得之粗粒子進行凝集強弱之評估。 研磨材粒子中之微量粗粒子之分離/濃縮方法,可利用 在水中每個研磨材粒子之粒徑的沉降速度差加以進行。以 下敘述其具體之方法例。 亦即,添加2 0 0 g研磨材粒子於含有1 2 0 ( m g / L )之焦磷酸 13 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 鈉(分散劑)的1 〇 L水中,並攪拌使之分散。靜置3 0分鐘後, 平穩地取出上澄液。接著重新添加含有1 2 0 ( m g / L )之焦磷 酸鈉的水至恢復原有液體容量為止,重覆同樣的操作5 次。最後將堆積於容器底部之粗粒子回收,並製成乾燥粉 末。此粗粒子之粒徑為約1 Ο μ m ( = α。)以上。 若將此粗粒子之質量除以最初之研磨材粒子質量,將算 出研磨材粒子中的粗粒子(於此為約1 0 // m以上)之存在比 例。
(經分離/濃縮之粗粒子之凝集強弱的評估方法及f之計 算) 本發明之凝集體粒子(此處為粒徑1 Ο μ m者)係如下述般 進行超音波照射,根據照射前後之該粒徑之粒子存在比例 的變化,如下述般計算出分散率f 。 亦即,將上述經分離/濃縮之粗粒子5 0 mg添加至裝有 50mL水之燒杯中。接著將1.8L水加入至具有2.6L容量之 超音波照射浴,並將上述裝有水5 0 m L及粗粒子5 0 m g之燒 杯浸潰其中。以頻率3 8 Κ Η z、输出1 9 0 W之超音波(亞姿灣 公司製,商品名:超音波清洗機U S - 2 )照射1 0分鐘。針對 超音波照射前後之粒子,以雷射散亂測量器(例如,曰機裝 公司製,商品名:麥可羅拓克9 3 2 0 - X 1 0 0型),利用雷射散 射法測量粒徑分布(體積基準),藉由式(1 )計算出粒徑1 〇 // m以上粒子之超音波照射所造成之分散率f 。 ξ =[(V〇-Vt)/V〇]xlOO(%) ( 1 ) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑α。( μ m)以上之粒子 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 14 1297074 存在量(累積容積)5 V t為超音波照射後之上述(2。( // m)以 上之粒子存在量(累積容積)。) 本發明之分散率f係如後述實施例所示,至少3 0 (%)以 上,以5 0 ( % )以上為佳,7 0 ( % )以上更佳,8 0 ( % )以上最佳。 因此,藉由將利用式(1 )之方法所測得之分散率f特定 值f。( % )之例如3 0 ( % )以上之研磨材粒子進行調整、選擇 或判別,並使用於玻璃研磨,則可以潛傷較少之條件來實 施玻璃之研磨。
(研磨材粒子) 當以氧化物換算質量%來表示本發明之研磨材粒子之主 要成分組成時,則以例如C e 0 2 5 0〜6 5 %、L a 2 0 3 2 5〜3 5 %、P r 5 Ο η 5〜6 . 5 %、N d 2 0 3 0 . 3〜1 5 %程度者為佳。亦即,所謂由混合氧 化稀土類粒子所構成者。 本發明之研磨材粒子中之氟素(F )含量係以3〜9質量%為 佳,以5〜8質量%更佳。一般若氟素(F )含量過少,則因無 法將強鹼性之氧化鑭變化/固定化為充分氟化之鑭,故研磨 速度變慢。反之若氟素(F )過多,則過剩之氟化稀土類在燒 成中將發生燒結而不佳。 本發明之研磨材粒子之平均粒徑(d 5 ο)係以0 . 3〜3 // m為 佳,而以0 . 5〜2 // m較佳,0 . 5〜1 · 5 // m更佳。此平均粒徑 可藉由雷射散射法(例如,使用曰機裝社製,雷射散射法, 商品名··麥可羅拓克9 3 2 0 _ X 1 0 0型)而加以測量。 進而關於研磨材粒子之粒徑分布,在累積粒度分布中, 由小粒徑將1 0 %、9 0 %之粒徑(// m )分別設定為d】。、d 9。時 15 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 之d 9。/ d 1G,以1 5以下者為佳,以1 0以下更佳,5以下最 佳。 關於研磨材粒子之結晶學物性,係在使用C u Κ α射線之 粉末X射線繞射分析所得波峰中,在2 0為2 8 . 3 d e g附近 出現立方晶複合氧化稀土類之最大波峰(A )與在2 0為 26. 6deg附近出現氧氟化稀土類之波峰(B),二者波峰之 B / A的波峰高度比率,以0 · 2〜0 · 8為佳,以0 · 3〜0 . 6更佳。
另外,此處所謂「波峰高度」係表示由波峰曲線之基線 至波峰頂點為止之高度(以下均同)。 而關於以鈽為主要成份之氧化稀土類之其他物性,係如 下所述。 結晶徑(依照S c h e r r e r法)以1 5 0〜3 Ο Ο A為佳,以 1 7 0〜2 5 Ο A更佳。 關於研磨材粒子之細孔構造,係依B E T法之比表面積(例 如,使用島津製作所製,裝置名:Micro Meritics Flow
Sorb I I 2 3 0 0等加以測量)卜10 (m2/g)為佳,而以 1. 5〜6(m2/g)更佳。 (金屬硫酸鹽含量) 本發明之研磨材粒子中S 0 4換算之金屬硫酸鹽含量以 0.0 7 0 (莫耳/Kg)以下為佳,0.0 5 0 (莫耳/Kg)以下更佳, 0· 0 3 5 (莫耳/Kg)以下最佳。 另外,本發明之S 0 4分析方法係以含有硝酸及過氧化氫 之水溶液來溶解研磨材粒子,利用誘導結合型電漿發光分 析裝置(ICP)分析S之方法。 16 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 金屬硫酸鹽之金屬元素係以妈、鎮、鋇等驗土類金屬或 輕稀土元素中之鑭等為主之物質,該等元素之硫酸鹽係即 使在後述之研磨材粒子製造步驟之燒成步驟中,亦完全不 會熱分解而以硫酸鹽之形式殘留。 根據本發明者等之發現,S〇4換算之金屬硫酸鹽之量係 與研磨材凝集體粒子之分解容易度極為相關。
此係被認為是因為在上述燒成步驟中,當該等元素之硫 酸鹽存在有上述特定量以上時,經過燒成處理之凝集體粒 子引起較弱之燒結,故凝集粒子之凝集強度增加。又,若 該硫酸鹽為特定量以上,則凝集體粒子之機械性強度增 加,故於將研磨材凝集粒子分散在水性媒介中而使用之情 況下,在利用研磨時所施加於凝集粒子之剪切力等機械力 之下將變得不易粉碎或分散,故該凝集體被認為出現變得 難以分解之現象。另外,S〇4換算之金屬硫酸鹽之量係依 上述觀點而以少量為佳,但無需完全去除,由達成本發明 之目的之觀點言之,調整為上述數值以下即足夠充分。 然後,如後述實施例所示般,例如,藉由將金屬硫酸鹽 之量設為0. 0 7 0 (莫耳/ Kg)以下,則可確保分散率f =30(%) 以上,進一步藉由將金屬硫酸鹽之量設為0.050(莫耳/Kg) 以下,則可確保分散率f = 5 0 ( % )以上。 (研磨材粒子之製造) 本發明之研磨材、特別是分散率(f )為本發明所規定範 圍之研磨材粒子係依如下所述方法製造。 本發明之以氧化鈽為主要成份之研磨材原料係主要由 17 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 氟碳酸鈽鐦礦(bastnaesite)、獨居石(monazite)、碌酸記 礦(X e η 〇 t i m e )、中國複雜礦等含稀土類礦石所製造,當然 並未限定於該等物質。
首先,對該等含稀土類礦石進行選礦後,得到氟碳酸鈽 鑭礦精礦、獨居石精鑛、中國複雜礦等稀土類精礦,對所 得之稀土類精礦進行用以去除放射性元素等不要的礦物之 化學處理及視必要進行溶劑抽出後,進行沉澱、過濾,再 藉由組合燒成等之習知所用的步驟,而得到屬於以氧化鈽 為主要成分之研磨材原料(碳酸稀土類、氧化稀土類、羥化 稀土類、氟化稀土類等)。 另外,為氟化稀土類時,一般為將氟酸添加入氯化稀土 類水溶液中,使氟化稀土類之沉澱生成而製造之方法。 本發明之較佳研磨材粒子之製造方法例,為加熱分解碳 酸稀土類,將所得之氧化稀土類與氟化稀土類作為起始原 料之方法惟,並非限定於此方法。 亦即,在含有氧氣環境下,首先將從上述原礦石得到之 碳酸稀土類在4 0 0〜8 4 0 °C下進行3 0分鐘〜4 8小時、最好為 1〜2 4小時左右之燒成(暫時燒成),並進行加熱分解作成氧 化稀土類。如此,並非使碳酸稀土類直接進行燒成(正式燒 成),利用較後述正式燒成溫度低之溫度進行暫時燒成而作 成氧化稀土類者,係之較佳步驟之一。又,於此氧化稀土 類殘存部分碳酸稀土類亦可。 此處,進行燒成(暫時燒成)碳酸稀土類,作為所得到之 氧化稀土類與碳酸稀土類之混合物,氧化物換算全稀土類 18 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 〜93 〜93
1297074 (T R E 0 )以5 0〜9 7質量%為佳,以7 0〜9 5質量%較佳,8 0 質量%更佳。 另一方面,關於氟化稀土類,一般最好使用如上述 將氟酸添加入氯化稀土類水溶液中、使氟化稀土類之 生成之製法,但當然並不限定於此。 關於經暫時燒成之氧化稀土類係如下所述,通常進 化稀土類添加、原料混合漿液化、濕式粉碎、乾燥、燒 分解粉碎、分級等步驟。 首先,添加氟化稀土類至經上述暫時燒成所得之氧 土類中。氟化稀土類之添加量係最終所得研磨材粒子 含量如已敘述般,為(F )換算量以形成為3〜9質量%為 以5〜8質量%更佳(氟化稀土添加步驟)。 如此添加氟化稀土類於氧化稀土類中之後,加水混 製成固形分濃度3 0〜6 0質量%之漿液,將該漿液進行: 小時左右之濕式粉碎,作成粒徑0. 2〜1 0 // m左右之粒 構成之漿液(原料混合漿液化步驟、濕式粉碎步驟)。 接著在乾燥該經濕式粉碎之漿液後,在含有氧氣環 進行燒成。此燒成係相對於上述暫時燒成,而稱為正 成,作為燒成條件係以將加熱溫度5 0 0 °C以上之升溫; 設為0 · 3〜5 (°C / m i η ),保持高溫如8 5 0〜1 1 0 0 °C ,及使 高溫範圍内之保持時間為0 . 5〜6小時為佳。 進而,作為燒成條件係最好將加熱溫度5 0 0 °C以上 溫速度設為0 · 5〜3 · 5 (°C / m i η ),保持之高溫設為9 0 0〜 °C ,及使在該高溫範圍内之保持時間設為2〜5小時。 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 般之 沉澱 行氟 成、 化稀 中之 佳, 合以 卜10 子所 境下 式燒 盈度 在該 之升 19 1000
1297074 用以實施暫時燒成或正式燒成之燒成裝置若為收 述粉碎/乾燥原料、以此規定之溫度升溫且保持該高 成者的話,則任何形式之爐均可,例如,可適用批 連續式之箱型爐、旋轉爐、隧道式爐等,又,加熱 適用電加熱式、直接火加熱式(燃料為瓦斯或燃料g 一種(乾燥步驟、燒成步驟)。 如此燒成後,進行分解粉碎,依照期望進行分級 得具有指定粒徑範圍之研磨材粒子(分解粉碎步驟、 驟)。 另外,亦可採用下述方法,係使用碳酸稀土類作 用以取代如上述之分別調製的氧化稀土類與氟化稀 予以混合者,利用氟酸水溶液使該一部分進行部分 在此製法之情況下,添加水於碳酸稀土類並進行漿 於此添加氟化氫進行部分氟化,並將此同上述般進 粉碎、乾燥、燒成、分解粉碎、分級等步驟即可。 (金屬硫酸鹽含量之調整) 本發明係如上所述,作為研磨材粒子中所存在之 算之金屬硫酸鹽含量為0.070(莫耳/ Kg)以下,以0· 耳/Kg)以下為佳,以0. 0 3 5 (莫耳/Kg)以下更佳。 使研磨材粒子中所存在之S〇4換算之金屬硫酸鹽 上述範圍時,並無特別限定,而可採用諸如下述方 即,其一係以調製使用作為原料之輕稀土類原料之 在上述規定範圍中之方式,使所得研磨材中之SO 4 ; 量在上述範圍内。亦或,採用利用使用作為原料之 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 容上 溫而燒 次式或 方法可 7等)任 , 即可 分級步 為原料 土類並 氟化。 液化, 行濕式 SO “奐 0 5 0 (莫 含量在 法。亦 純度為 丨奐算含 輕稀土 20
1297074 類原料而得到s〇4換算含量小之原料後,在製造2 子途中之步驟中,將經調整添加量之鹼土類金屬 酸鹽(例如,硫酸鈣、硫酸鎂等)予以預先調配/共 用已敘及之製造步驟,將研磨材粒子中所存在之 含量調整在上述較佳範圍内之手段亦可。 (研磨材組成、漿液之p Η等) 在本發明中,以水漿液型式使用研磨材粒子, 聚液之ρ Η’係固形分濃度1 0質量%水聚液在室溫 以6 . 0〜9 · 0為佳,6 . 2〜8 . 0更佳,6 · 5〜7 · 5最佳。 另外,在本發明之研磨材漿液中,為使於水性 子之分散性更好,亦可添加例如高分子聚羧酸銨 子聚磺酸銨等有機高分子系分散劑並使用之。又 分析方法係如已說明般,為利用含有硝酸及過氧 溶液來溶解研磨材粒子,並使用誘導結合型電漿 分析裝置(ICP)分析S(發光光線波長:1 8 0. 7 3 1 nm (發明之效果) 根據本發明的話,係在玻璃研磨用研磨材,特 有氧化鈽之稀土類氧化物為主要成份之玻璃研磨 中,可提供維持高研磨速度,且可減少研磨玻璃 損傷(特別是潛傷)至從所未有之程度之玻璃研磨 材。又,根據本發明的話,可提供針對研磨材粒4 關於潛傷之品質)進行確實評估關於粉末之品質詞 另外,在實際之研磨設備中,本發明之研磨材 使用作為研磨材水性媒介分散液(所謂研磨材漿淨 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 幵磨材粒 等金屬硫 存,且應 S〇4換算 關於該水 下之pH, 媒介中粒 鹽或高分 ,S 0 4 之 化氫之水 發光分光 )之方法。 別為以含 用研磨材 時產生之 用研磨 =(特別是 卜估方法。 組成物係 I ),在使 21 1297074 用該研磨材漿液時,確認到伴隨有預期外之效果,係大幅 減少在先前成為問題之漿液流路中因沉降所造成之堆積。 〈實施例〉 以下藉由實施例說明本發明。但其僅為實施態樣例,並 非用以限定本發明之所可解釋之技術範圍。另外,在未特 別說明之下,%係指質量%。 [實施例1 ](研磨材粒子中之S〇4含量為0 · 0 1 5 (莫耳 / K g ) ( = 0 · 1 4 4 質量 % ))
(研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,CeCh/TREO 6 0 質量 %,S〇4 含量(K 0 6 3 質 量%] 45kg作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石 (m u 1 1 i t e )製)中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2 小時之燒成(暫時燒成),得到氧化物換算全稀土類 (TREO)90. 5質量%、S〇4含量0· 0 6 3質量%之氧化稀土類燒
(ii)接著,秤取上述燒成品16kg與中國產之氟化稀土 類[氧化物換算全稀土類(TRE0)83質量%,Ce〇2/TREO 61質 量%,F含量2 5質量%,S 0 4含量0 · 1 2 5質量%,平均粒徑 10//m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。將該漿液循環供給至使用粉碎媒體球 之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑粉碎成 0 · 2 〜6 // m 〇 (i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 22 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下進行燒成。亦 即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 . 3 (°C / m i η )保持 為高溫至9 5 Ο °C ,並以上述溫度保持3 . Ο小時進行燒成。 燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用風力 分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 4. 0 k g。 (粒子組成及諸物性值)
(i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO(=Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + PreOii)95.3 質量 %,相對 於TREO之上述各氧化物之質量比率係Ce〇2 62.1 %,La2〇3 30· 4%,Pr6〇H 6· 5%,Nd2〇3 1 · 0%及氟成分(F)含量為 5· 7%。 又,S〇4含量為0.015(莫耳/1(运)(=0.144質量%)。 (ii)平均粒徑(d5。)為0· 95/z m(藉由雷射散射測量裝置 (曰機裝公司製,商品名:麥卡羅吐拉古,9 3 2 0 - X 1 0 0型), 並以雷射散射法測量)。另外,粒徑分布之測量係與下述實 施例及比較例以相同方法進行。 又,關於粒徑分布係於累積粒徑分布中,由小粒徑開始 分別將1 0 %、9 0 %之粒徑(// in)設為di。、d"時’ d9〇/di。為 (i i i )該粒子之使用粉末X射線繞射裝置(粒凱咕公司 製,C u Κ α射線,R i n t - 2 0 0 0型,下述實施例及比較例均同) 的X射線繞射光譜之分析結果係如下所述。 立方晶複合氧化稀土類之最大波峯(A)在20為28. 3deg 附近出現,氧氟化稀土類之波峯(B)在20為26. 6deg附近 23 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 出現(另外,在下述實施例及比較例中,二者之波峯出現2 0約略相同)。相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高 度之比率(B/A)為0.49。 另外,在X射線繞射分析測量中,完全沒有確認到氟化 錦之結晶波峯。 (i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a)結晶徑(Scherrer 法)為 197A。
b )由粒子之B E T法所得之比表面積(島津製作所製,依裝置 名 Micro Meritics Flow Sorbll 2300 所測量,下述實施 例及比較例均同)為2 · 8 ( m2 / g )。 c) 該粒子之水漿液(固形濃度1 0質量%,下述實施例及比較 例均同)之p Η為7 · 0。 d) 關於特別會影響玻璃研磨面之損傷之粒徑1 0 // in ( = α 〇) 以上之粒子,在進行評估其凝集性之強弱時,藉由下述方 法進行研磨材粒子中粗粒子之分離/濃縮,使該粗粒子分散 於水中並照射超音波,藉由超音波照射而分解粉碎/分散之 分散率f ,係可由超音波照射前後之粒徑分布(體積基準) 之變化藉由(1 )式求得。 此處之研磨材粒子中粗粒子之分離/濃縮係依照已說明 之方法如下般進行(下述實施例及比較例均同)。亦即,將 研磨材粒子2 0 0 g添加於含有1 2 0 ( m g / L )焦罐酸鈉(分散劑) 之水1 0 L中,攪拌並分散,靜置3 0分鐘後,緩慢取出上澄 液。接著重新添加含有1 2 0 ( m g / L )焦磷酸鈉之水至回到原 有液體容量為止,並以同樣之操作反覆進行5次。最終回 24 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 終回收堆積於容器底部之粗粒子,並將之作成乾燥粉末。 將此經分離/濃縮之粗粒子5 0 m g添加入裝有水5 0 m L之 燒杯中。接下來,在有2 . 6 L容量之超音波照射浴中加入水 1 . 8 L,並將該燒杯浸潰於其中。使用超音波洗淨機(亞知汪 公司製,商品名··超音波洗淨機U S - 2 ),照射頻率3 8 Κ Η z、 輸出功率1 9 0 W之超音波1 0分鐘。
關於超音波照射前後之粒子,藉由雷射散射測量機(例 如,日機裝公司製,商品名··麥卡羅吐拉古,9 3 2 0 - X 1 0 0 型),並以雷射散射法測量粒徑分布(體積基準),以粒徑 1 0 μ m以上之粒子的超音波照射所得之分散率f,可依(1 ) 式求得。 ξ = [ ( V 〇 - V t) / V 〇 ] X 1 0 0 ( °/〇) ( 1 ) (式中,V。為超音波照射前之粒徑a g ( = 1 0 // m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( = 1 0 // m ) 以上之粒子存在量(累積容積)。) 以上述方法所求得之以粒徑1 0 // m以上之粒子的超音波 照射所得之分散率f為7 8 %。 (研磨試驗) 研磨試驗係以下述方法/條件進行(下述實施例及比較 例均同)。 研磨試驗機係使用華爾朵拉普公司製、兩面研磨機 W S - 6 P B型。使用於研磨之被研磨玻璃板係使用旭硝子公司 製之無鹼玻璃(商品名:AN-100,玻璃組成中之Si〇2含量 為約60質量%,試驗板尺寸(正方形):70mm/70mm/0.7mm 25 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 者)。 研磨墊片係使用發泡聚胺基曱酸乙酯製,研磨壓力為 92(g/cm2),將下定盤旋轉數固定為70rpm,並以上定盤與 下定盤之旋轉數比率為1 : 3之條件下,進行研磨試驗。研 磨材漿液中之研磨材濃度為2 0質量%。 (研磨面之損傷(潛傷)之評估方法) 經研磨後之玻璃表面的細微損傷之評估方法係以下述 方法進行(下述實施例及比較例均同)。
將研磨後之玻璃浸潰在置入於樹脂製墊片中之濃度0 . 1 質量%HF水溶液中3 0秒。以鑷子夾起玻璃板並以純水充分 洗淨後,將玻璃板乾燥。 接著,利用暗視野顯微鏡(奥霖巴斯公司製,系統金屬 顯微鏡,Β Η T型,1 0 0倍)觀察並評估玻璃經研磨過之表面。 對研磨後之玻璃面進行下述3階段評估,關於潛傷皆無 大損傷或細微傷則為合適。 [潛傷之評估:以下述3階段進行評估,(下述實施例及比 較例均同)] ◎ ··全未見有大損傷或細微傷,係前所未達之程度者, 判斷為極適於作為研磨材。 〇:未見有大損傷,但有極少數細微傷之狀態,係具有 相當水準者,判斷為適於作為研磨材。 X ··雖幾乎沒有大損傷,但有多數細微傷,判斷為不適 於作為研磨材。 (試驗結果) 26 312ΧΡ/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 研磨材中之s〇4換算含量、超音波照射之分散率$ 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 [實施例2 ](研磨材粒子中之S〇4含量為0 · 0 2 1 (莫耳 / K g ) ( = 0 . 2 0 2 質量 0/〇 )) (研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,Ce〇2/TREO 60 質量 %,S〇4 含量(K089 質 量% ] 4 5 kg作為原料置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製)
中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 (TC進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 8質量%、SCh 含量0. 1 9 2質量%之氧化稀土類燒成品。 (i i )接著,秤取上述燒成品1 6kg與中國產之氟化稀土 類[氧化物換算全稀土類(TREO)83質量%,Ce〇2/TREO 61質 量%,F含量2 5質量°/〇,S 0 4含量0 . 1 7 5質量%,平均粒徑 10#m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6// m。 (i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 (TC下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下,進行燒成。 亦即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 · 3 ( °C / m i η ) 保持為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 . 0小時進行燒 成。燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用 27 312XP/發明說明書(補件)/94-09/946236 1297074 風力分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 3 . 8 k g。 (粒子組成及諸物性值) (i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO( = Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇ii)95.7 質量 %,相對 於T R E 0之上述各氧化物之質量比率係C e 0 2 6 2 . 1 %,L a 2 0 3 3 0 . 4 %,P r 6 0! ^ 6 · 5 %,N d 2 0 3 1 . 0 % 及氟成分(F )含量為 5 · 9 %。 又,S〇4含量為0.021(莫耳/ Kg)( = 0.202質量%)。 (i i )平均粒徑(d 5 ◦)為0 · 9 3 // m。又,關於粒徑分布,
(i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高度比 率(B / A )為0 . 5 0。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到氣化飾之結晶波峯。 (i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a )結晶徑(S c h e r r e r 法)為 2 0 0 A。 b )由粒子之B E T法所得之比表面積為3 . 0 ( m2 / g )。
c )該粒子之水漿液之ρ Η為7 . 1。 以與實施例1相同之方法評估1 〇 # m以上粒子之超音波 照射之分散率f 。 玻璃研磨試驗及研磨後玻璃表面之評估係以與實施例1 相同之方法評估。研磨材中之S(h換算含量、超音波照射 之分散率f 、研磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表 [實施例3](研磨材粒子中之S〇4含量為0. 0 4 5 (莫耳 /Kg)(=0.432 質量 %)) 28 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 (研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,Ce〇2/TREO 60 質量 V,SCh 含量 0.190 質 量% ] 4 5 kg作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製) 中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 8質量%、S〇4 含量0.192質量%之氧化稀土類燒成品。
(ii)接著,秤取上述燒成品16kg與中國產之氟化稀土 類[氧化物換算全稀土類(TREO)83質量%,Ce〇2/TRE061質 量%,F含量2 5質量%,S〇4含量0 . 3 7 5質量%,平均粒徑 10#m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6// in。 (i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下,進行燒成。 亦即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫溫度以2 · 3 (°C / m i η ) 保持為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 . 0小時進行燒 成。燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用 風力分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 4. 1 k g。 (粒子組成及諸物性值) (i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO( = Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇ii)95.5 質量 %,相對 29 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 於TRE0之上述各氧化物之質量比率係Ce〇2 6 1 · 2%,La2Ch 3 1 . 9 %,P r 6 0 ! 1 6 · 0 %,N d 2 0 3 0 · 9 % 及氟成分(F )含量為 5 · 7 °/〇。 又,S〇4含量為0.045(莫耳/ Kg)( = 0.432質量?〇。 (i i )平均粒徑(d 5。)為0 . 9 5 // m。又,關於粒徑分布, d9〇/d!〇 為 4.2 〇 (i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B)的波峯高度比 率(B / A )為0 . 4 5。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到氟化鈽之結晶波峯。
(i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a)結晶徑(Scherrer 法)為 205A。 b)由粒子之BET法所得之比表面積為2.8(m2/g)。 c)該粒子之水聚液之pH為7.0。 研磨材中之S 0 4換算含量、超音波照射之分散率f 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 [實施例4 ](研磨材粒子中之S 0 4含量為0 · 0 1 0 (莫耳 /Kg) ( = 0· 0 9 6 質量 %)) (研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,Ce〇2/TREO 60 質量 %,S〇4 含量 0.042 質 量% ] 4 5 k g作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製) 中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 8質量%、S〇4 含量0 . 1 9 2質量%之氧化稀土類燒成品。 (i i )接著,秤取上述燒成品1 6kg與中國產之氟化稀土 30 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 類[氧化物換算全稀土類(TRE0)83質量%,Ce(h/TRE0 61質 量%,F含量25質量%,S〇4含量0· 0 8 3質量%,平均粒徑 10// m] 5. 0kg ^並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6/zm。
(i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下進行燒成。亦 即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 · 3 (°C / m i η )保持 為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 · 0小時進行燒成。 燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用風力 分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 3. 9 k g。 (粒子組成及諸物性值) (i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO( = Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇H)95· 5 質量 °/◦,相對 於TREO之上述各氧化物之質量比率係Ce〇261.2%,La2〇3 3 1.9%,P r 6 Ο !! 6 . 0 %,N d 2 Ο a 0 · 9 % 及氟成分(F )含量為 5 · 7 %。 又,S〇4含量為0.010(莫耳/ Kg)( = 0.096質量%)。 (i i )平均粒徑(d 5。)為0 · 9 3 // m。又,關於粒徑分布, d 9 〇 / d 1 〇 % 5.0 〇 (i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高度比 率(B / A )為0 . 4 4。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到亂化飾之結晶波秦。 31 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 (i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a )結晶徑(S c h e r r e r 法)為 2 0 3 A。 b)由粒子之BET法所得之比表面積為2.7(m2/g)。 c )該粒子之水漿液之p Η為7 . 1。 研磨材中之S〇4換算含量、超音波照射之分散率f 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 [實施例5 ](研磨材粒子中之S〇4含量為0 . 0 0 3 (莫耳 / K g ) ( = 0 . 0 2 9 質量 % ))
(研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,Ce〇2/TREO 60 質量 %,S〇4 含量 0.013 質 量% ] 4 5 k g作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製) 中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 8質量%、S〇4 含量0 . 1 9 2質量%之氧化稀土類燒成品。 (ii)接著,秤取上述燒成品16kg與中國產之氟化稀土 類[氧化物換算全稀土類(TREO)83質量%,Ce〇2/TREO 61質 量%,F含量2 5質量%,S 0 4含量0. 0 2 5質量%,平均粒徑 10#m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6// m。 (i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 32 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下,進行燒成。 亦即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 . 3 (°C / m i η ) 保持為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 . 0小時進行燒 成。燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用 風力分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 4. 0 k g。 (粒子組成及諸物性值)
(i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO(=Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇H)95.4 質量 %,相對 於TRE0之上述各氧化物之質量比率係Ce(h61.1%,La2〇3 3 1 · 9 %,P r 6 0 丨! 6 · 0 %,N d 2 0 3 1 · 0 % 及氟成分(F )含量為 5 · 6 %。 又,S(h 含量為 0.003(莫耳 / Kg)( = 0.029 質量。/。)。 (i i )平均粒徑(d 5 ◦)為0 . 9 3 μ m。又,關於粒徑分布, d9〇/di〇 為 3.5〇 (i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高度比 率(B / A )為0 . 4 4。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到氟化鈽之結晶波峯。 (i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a) 結晶徑(Scherrer 法)為 195A。 b) 由粒子之BET法所得之比表面積為2.9(m2/g)。 c )該粒子之水漿液之p Η為7. 1。 研磨材中之S 0 4換算含量、超音波照射之分散率f 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 [實施例6 ](研磨材粒子中之S〇4含量為0. 0 7 0 (莫耳 /Kg)(=0. 672 質量 %)) 33 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 (研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 °/〇,Ce〇2/TREO 60 質量 %,S〇4 含量 0· 2 9 6 質 量% ] 4 5 k g作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製) 中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 8質量%、S〇4 含量0. 6 4 0質量%之氧化稀土類燒成品。
(i i )接著,秤取上述燒成品1 6kg與中國產之氟化稀土 類[氧化物換算全稀土類(TREO)83質量%,Ce〇2/TRE061質 量%,F含量2 5質量%,S 0 4含量0 . 5 8 4質量%,平均粒徑 10//m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6// m。 (i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下進行燒成。亦 即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 · 3 (°C / m i η )保持 為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 . 0小時進行燒成。 燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用風力 分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 4. 1 k g。 (粒子組成及諸物性值) (i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO( = Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇i〗)95.7 質量 %,相對 34 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 於T R E 0之上述各氧化物之質量比率係C e 0 2 6 3 · 0 %,L a 2 0 3 2 9 . 9 %,P r 6 Ο η 6 · Ο %,N d 2 Ο 3 1 · 1 % 及氟成分(F )含量為 5 . 6 %。 又,S〇4含量為0.070(莫耳/ Kg)( = 0.672質量%)。 (i i )平均粒徑(d 5 〇 )為0 · 9 3 // m。又,關於粒徑分布, d9〇/di〇 為 3.8〇 (i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高度比 率(B / A)為0 . 4 7。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到氟化鈽之結晶波峯。
(i v)又,該粒子之其他物性係如下所述。 a)結晶徑(Scherrer 法)為 208A。 b )由粒子之B E T法所得之比表面積為2 . 7 ( m2 / g )。 c)該粒子之水漿液之pH為7. 1。 研磨材中之S〇4換算含量、超音波照射之分散率f 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 [比較例1 ](研磨材粒子中之S〇4含量為0 . 0 8 5 (莫耳 / K g ) ( = 0 . 8 1 6 質量 % )) (研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,Ce〇2/TREO 60 質量 %,S〇4 含量 0.359 質 量%] 45kg作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製) 中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 5質量%、S〇4 含量0 . 7 7 4質量%之氧化稀土類燒成品。 (ii)接著,秤取上述燒成品16kg與中國產之氟化稀土 35 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 類[氧化物換算全稀土類(TREO)83質量% ’ Ce(h/TRE0 61質 量°/〇,F含量2 5質量%,S 0 4含量0 · 7 0 9質量%,平均粒徑 10#m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6// m。
(i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下進行燒成。亦 即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 · 3 ( °C / m i η )保持 為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 . 0小時進行燒成。 燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用風力 分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 3. 9 k g。 (粒子組成及諸物性值) (i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO(=Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇H)95· 6 質量 °/〇,相對 於TRE0之上述各氧化物之質量比率係Ce〇 2 6 3. 0 %,La2〇3 2 9.8%,P r 6 Ο !! 6 · 1 %,N d 2 Ο 3 1 · 1 % 及氟成分(F )含量為 5 · 6 %。 又,S〇4含量為0.085(莫耳/ Kg)( = 0.816質量%)。 (i i )平均粒徑(d 5。)為0 . 9 3 // m。又,關於粒徑分布, d9〇/di〇 為 4. 0。 (i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高度比 率(B / A )為0 . 4 7。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到氟化鈽之結晶波峯。 36 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 (i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a )結晶徑(S c h e r r e r 法)為 2 0 8 A。 b)由粒子之BET法所得之比表面積為2.9(m2/g)。 c )該粒子之水漿液之p Η為7 . 0。 研磨材中之S〇4換算含量、超音波照射之分散率f 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 [比較例2 ](研磨材粒子中之S〇4含量為0 · 1 6 0 (莫耳 / K g ) ( = 1 . 5 3 6 質量 % ))
(研磨材粒子之調製) (i )使用中國產碳酸稀土類[氧化物換算全稀土類 (TRE0)42 質量 %,Ce(h/TRE0 6 0 質量 %,S〇4 含量 0. 6 7 6 質 量% ] 4 5 k g作為原料,置入小型蒸發容器(富鋁紅柱石製) 中,在空氣環境下,以加熱溫度7 5 0 °C進行2小時之燒成(暫 時燒成),得到氧化物換算全稀土類(TREO)90. 8質量%、S〇4 含量1 . 4 6 1質量%之氧化稀土類燒成品。 (i i )接著,秤取上述燒成品1 6kg與中國產之氟化稀土 類[氧化物換算全稀土類(TREO)83質量%,Ce〇2/TREO 61質 量%,F含量25質量%,SCh含量1 . 3 3 5質量%,平均粒徑 10//m]5.0kg,並將二者置入裝有水27.2kg之攪拌槽中, 進行攪拌製成漿液。接著,將該漿液循環供給至使用粉碎 媒體球之濕式粉碎機,進行約5小時之濕式粉碎,使粒徑 粉碎成0.2〜6// m。 (i i i )經濕式粉碎後之漿液放在托盤上,使用箱型乾燥 機在1 2 0 °C下進行2 0小時之乾燥。乾燥後之粉體置入小型 37 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 蒸發容器(富鋁紅柱石製)中,在空氣環境下進行燒成。亦 即,使加熱溫度5 0 0 °C以上之加溫速度以2 · 3 (°C / m i η )保持 為高溫至9 5 0 °C ,並以上述溫度保持3 . 0小時進行燒成。 燒成後之粉體係以分解粉碎機進行分解粉碎後,使用風力 分級機進行分級,而得到研磨材粒子1 4. 0 k g。 (粒子組成及諸物性值)
(i )當以氧化物換算質量%表示此研磨材粒子之組成 時,為 TREO(=Ce〇2 + La2〇3 + Nd2〇3 + Pr6〇ii)95.3 質量 %,相對 於TRE0之上述各氧化物之質量比率係Ce〇2 62.0 %,La2〇3 3 0 . 5 %,P r 6 01! 6 · 5 %,N d 2 0 3 1 · 0 % 及氟成分(F )含量為 5 · 6 %。 又,S〇4含量為0.160(莫耳/ Kg)( = 1.536質量%)。 (i i )平均粒徑(d 5。)為0 · 9 3 // m。又,關於粒徑分布, d9〇/di〇 為 3.8〇 (i i i )相對於波峯高度(A )之波峯高度(B )的波峯高度比 率(B / A )為0 . 5 0。另外,在X射線繞射分析測量中,完全 沒有確認到氟化鈽之結晶波峯。 (i v )又,該粒子之其他物性係如下所述。 a )結晶徑(S c h e r r e r 法)為 2 1 0 A。 b )由粒子之B E T法所得之比表面積為2 . 8 ( m2 / g )。 c )該粒子之水漿液之p Η為7 . 0。 研磨材中之S〇4換算含量、超音波照射之分散率f 、研 磨試驗後之玻璃表面的評估結果係示於表1。 38 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 表1 研磨材粒子中 之S〇4換算含 量(莫耳/Kg) 超音波照射之 1 0 // m以上粒子 之分散率f ( % ) 研磨後之研磨 表面的品質評 估(3階段) 實施例1 0.015 78 ◎ 實施例2 0.021 6 9 ◎ 實施例3 0. 045 5 1 ◎ 實施例4 0.010 81 ◎ 實施例5 0.003 86 ◎ 實施例6 0.070 36 〇 比較例1 0.085 22 X 比較例2 0.160 13 X 另外,表】 .中比較例1之 研磨材之研磨速 度等級係設定
為以赛米化學公司製之高速度速率對應品(商品名:陸咪諾 克斯Τ E - 3 0 3 )為準之等級,表中之實施例1〜6、比較例2 Θ之研磨速度係業已將比較例1作為基準並維持在與此約略 相同之高等級。 (產業上之可利用性) 根據本發明的話,可提供一種玻璃研磨用研磨材,係特 別在以含有氧化鈽之稀土類氧化物為主要成份之玻璃研磨 用研磨材中,充分維持該研磨速度在可與先前所得之高研 磨速度同等級,且將發生在研磨玻璃時之潛傷減少至前所 未達之程度。 39 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 又,根據本發明的話,可提供針對研磨材粒子(特別是 關於潛傷之品質)進行確實評估關於粉末之品質評估方法。 另外,根據本發明的話,在實際之研磨設備中,使用本 發明之研磨材粒子作為研磨材水性媒介分散液時,伴隨著 預期之外之絕大效果,其係可大幅減少在先前成為問題之 漿液流路中因沉降所造成之堆積,故在產業上之可利用性 極大。
、 312XP/發明說明_ 補件)/94-09/94116236 40

Claims (1)

1297074 十、申請專利範圍: 1 . 一種關於玻璃研磨用研磨材粒子在水性媒介中之分 散性之品質評估方法,係評估玻璃研磨用研磨材粒子在水 性媒介中之分散性者,其特徵為,準備由將被測量對象之 研磨材粒子添加入水性媒介所形成之研磨材粒子水性媒介 分散液,對該分散液照射超音波,並測量由式(1 )所示之相 對於該超音波照射前之特定粒徑α。( // in)以上之粒子存在 量,超音波照射後之上述α。( // m)以上之粒子藉由超音波 Φ照射作用所消失之比例(定義為分散率(f )): ξ =[ (V〇-Vt)/V〇]xl00(°/〇) (1) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑α。(从m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α 〇 ( // m )以 上之粒子存在量(累積容積))。 2. —種玻璃研磨方法,係利用研磨材粒子研磨玻璃者, 其特徵為,準備由將被測量對象之研磨材粒子添加入水性 媒介所形成之研磨材粒子水性媒介分散液,對該分散液照 射超音波,並測量由式(1 )所示之相對於該超音波照射前之 特定粒徑α 〇 (// m)以上之粒子存在量,超音波照射後之上 述α。m )以上之粒子藉由超音波照射作用所消失之比例 (定義為分散率(f )): ξ = [(V〇-Vt)/V〇]xlOO(°/〇) (1) (式中,V G為超音波照射前之特定粒徑α。( μ m )以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( // m )以 上之粒子存在量(累積容積)); 41 312XP/發明說明書(補件)/94-09/9411623 6 1297074 對藉由式(1 )之方法所測得之分散率f為特定值f 0 ( °/〇 ) 以上之研磨材粒子進行調整、選擇或判別; 並利用該特定研磨材粒子進行玻璃研磨。 3 .如申請專利範圍第2項之玻璃研磨方法,其中,f 〇 為3 0⑻。 4 . 一種玻璃研磨用研磨材組成物,係含有研磨材粒子 者,其特徵為,該研磨材粒子係 對由將該研磨材粒子添加入水性媒介所形成之研磨材 I粒子水性媒介分散液照射超音波,並測量由式(1 )所示之相 對於該超音波照射前之特定粒徑α。( /z m)以上之粒子存在 量,超音波照射後之上述α。(// m)以上之粒子藉由超音波 照射作用所消失之比例(定義為分散率(f )): ξ =[(V〇-Vt)/V〇]xl00(%) (1) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑α。( # m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α。( // m )以 上之粒子存在量(累積容積));並
將藉由式(1 )之方法所測得之分散率f為特定值f。) 以上之研磨材粒子分散於水性媒介中者。 5 .如申請專利範圍第4項之玻璃研磨用研磨材組成物, 其中,f。為3 0 ( % )。 6 . —種高分散性玻璃研磨用之研磨材粒子,係以含有氧 化鈽之稀土類氧化物為主要成份者,其特徵為,該研磨材 中之S〇4換算之金屬硫酸鹽量為0.070(莫耳/ Kg)以下,且 該研磨材粒子係 42 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 對由將該研磨材粒子添加入水性媒介所形成之研磨材 粒子水性媒介分散液照射超音波,並測量由式(1 )所示之相 對於該超音波照射前之特定粒徑α K /z m)以上之粒子存在 量,超音波照射後之上述α。(/z m)以上之粒子藉由超音波 照射作用所消失之比例(定義為分散率(f )): ξ =[(V〇-Vt)/V〇]xlOO(%) (1) (式中,V。為超音波照射前之特定粒徑α。( # m)以上之粒子 存在量(累積容積),V t為超音波照射後之上述α 〇 ( // m )以 β上之粒子存在量(累積容積));並 藉由式(1 )之方法所測得之分散率f為特定值f。( %)以 上之研磨材粒子。 7.如申請專利範圍第6項之高分散性玻璃研磨用之研磨 材粒子,其中,f。為3 0 (%)。 8 .如申請專利範圍第6或7項之研磨材粒子,其中,含 有氟化合物。 ' 9 . 一種玻璃研磨用研磨材組成物,其特徵為,至少含有
水性媒介與申請專利範圍第6至8項中任一項之研磨材粒 子。 1 0. —種玻璃研磨方法,其特徵為,使用申請專利範圍 第9項之玻璃研磨用研磨材組成物。 43 312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 1297074 十一、圖式:
312XP/發明說明書(補件)/94-09/94116236 44
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