JPWO2005114177A1 - 研磨材粒子の品質評価方法、ガラス研磨方法及びガラス研磨用研磨材組成物 - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 344
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 98
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims description 80
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 35
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 title claims description 7
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims abstract description 55
- 239000012736 aqueous medium Substances 0.000 claims abstract description 44
- 230000009471 action Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 claims abstract description 3
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 24
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 15
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 14
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 14
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 4
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 claims description 3
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 84
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 49
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 48
- -1 rare earth fluoride Chemical class 0.000 description 36
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 33
- 239000011362 coarse particle Substances 0.000 description 28
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 23
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 23
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 19
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 19
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 18
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 18
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 18
- 229910021193 La 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 17
- 229910017493 Nd 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 17
- 239000000047 product Substances 0.000 description 17
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 16
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 14
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 13
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 12
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 description 12
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 11
- 238000004438 BET method Methods 0.000 description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 10
- 238000005169 Debye-Scherrer Methods 0.000 description 9
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 9
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 9
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 8
- QCCDYNYSHILRDG-UHFFFAOYSA-K cerium(3+);trifluoride Chemical compound [F-].[F-].[F-].[Ce+3] QCCDYNYSHILRDG-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 8
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 8
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 6
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 6
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 5
- 238000000790 scattering method Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 4
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- FQENQNTWSFEDLI-UHFFFAOYSA-J sodium diphosphate Chemical compound [Na+].[Na+].[Na+].[Na+].[O-]P([O-])(=O)OP([O-])([O-])=O FQENQNTWSFEDLI-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 4
- 229940048086 sodium pyrophosphate Drugs 0.000 description 4
- 235000019818 tetrasodium diphosphate Nutrition 0.000 description 4
- 239000001577 tetrasodium phosphonato phosphate Substances 0.000 description 4
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 3
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L calcium sulfate Chemical compound [Ca+2].[O-]S([O-])(=O)=O OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 2
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IKNAJTLCCWPIQD-UHFFFAOYSA-K cerium(3+);lanthanum(3+);neodymium(3+);oxygen(2-);phosphate Chemical compound [O-2].[La+3].[Ce+3].[Nd+3].[O-]P([O-])([O-])=O IKNAJTLCCWPIQD-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 229910052590 monazite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000011163 secondary particle Substances 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005830 Polyurethane Foam Polymers 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 1
- DHNCFAWJNPJGHS-UHFFFAOYSA-J [C+4].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O Chemical compound [C+4].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O DHNCFAWJNPJGHS-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000005189 flocculation Methods 0.000 description 1
- 230000016615 flocculation Effects 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 239000000295 fuel oil Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 208000014674 injury Diseases 0.000 description 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 229910052943 magnesium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019341 magnesium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 1
- 235000010755 mineral Nutrition 0.000 description 1
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UXBZSSBXGPYSIL-UHFFFAOYSA-N phosphoric acid;yttrium(3+) Chemical compound [Y+3].OP(O)(O)=O UXBZSSBXGPYSIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011496 polyurethane foam Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- BYMUNNMMXKDFEZ-UHFFFAOYSA-K trifluorolanthanum Chemical compound F[La](F)F BYMUNNMMXKDFEZ-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000001238 wet grinding Methods 0.000 description 1
- 229910000164 yttrium(III) phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
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- B08B7/00—Cleaning by methods not provided for in a single other subclass or a single group in this subclass
- B08B7/02—Cleaning by methods not provided for in a single other subclass or a single group in this subclass by distortion, beating, or vibration of the surface to be cleaned
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- C09K3/1409—Abrasive particles per se
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K3/00—Materials not provided for elsewhere
- C09K3/14—Anti-slip materials; Abrasives
- C09K3/1454—Abrasive powders, suspensions and pastes for polishing
- C09K3/1463—Aqueous liquid suspensions
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- Pathology (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
Description
従来より、これらのガラス基板の表面研磨に用いられている研磨材としては、希土類酸化物、特に酸化セリウムを主成分とする研磨材が用いられている。これは、研磨砥粒として酸化セリウムは、酸化ジルコニウムや二酸化ケイ素に比べてガラスの研磨効率が数倍優れているという利点からである。しかして、近年、いわゆるデジタル家電製品等の生産が急速に伸びていることを受けて、その基幹デバイスである例えば液晶ディスプレーなどのFPDでは、表示画面がますます大型化し、または、携帯端末のような小型のパネルも、カラーの画像イメージ等を鮮明に表示する必要があって、更に高細精のものが要求されている。
また、磁気ディスク等HDDも、例えばDVDレコーダーに組み込まれる場合は、テレビ番組等を長時間録画するため、100〜200ギガ程度の高密度記録対応のものが標準となっており、ディスク用ガラス基板の表面精度は、ますます高精度に表面研磨して高平滑なものとすることが要求されている。この点からも研磨材の研磨能力としては、より一層高品質のものが求められている。
なお、後述するように、ガラス研磨用の酸化セリウムを主成分とする研磨材は、研磨性能が向上するという理由から、フッ素分を含有していることが、一般的である。
これら酸化セリウムを主成分とする研磨材においては、例えば研磨材粒子の粒径が、研磨速度、平均粗さ(表面平滑度)、及びスクラッチや傷(顕傷及び潜傷)などの発生等の研磨性能に影響を及ぼすことが知られている。
例えば、特開2000−273443号においては、特定の粗大粒子(6μm以上)を300ppm以下とすることにより潜傷の数を減少させうることが記載されている。また、特開2001−72962号には、ほぼ純セリウムからなる研磨砥粒のゾル粒子に関する場合、その1次粒子の凝集体である平均2次粒子径(メディアン径)を小さく(0.1〜0.5μm程度)とすることにより、研磨速度を保持しつつ表面粗さを小さくしうることが開示されている。
さらにまた、特開2003−261861号には、乾燥状態の研磨材粒子の凝集度の低いものは、分散性がよいものであることに着目して、その凝集状態を評価する指標が提案されている。すなわち、研磨材粒子について、BET法により測定される研磨材粒子の粒子径(DN)(1次粒子の粒径に相当する。)と空気透過法により測定される研磨材粒子の粒子径(DA)(凝集粒子の粒径に近似される。)の比率が1<=DA/DN<=10なる関係が成立する研磨材粒子は、凝集が少なく、水性媒体中での分散性が良好で、安定した研磨特性が得られるとされている。
しかしながら、上記研磨材粒子の粒径や凝集特性を評価する方法のうち、特開2000−273443号においては、対象とする粗大粒子が1次粒子の粒径なのか凝集体粒子の粒径なのか全く区別されておらず、また特開2001−72962号においては、凝集体粒子の粒径(2次粒子径)を規定しているが、前記凝集体と同様に、当該凝集体粒子が水性媒体中でどの程度1次粒子に再分散しうるものであるかについては検討されていない。現実的観点からすれば、研磨材粒子が乾燥状態においてある程度凝集体粒子を含有していたとしても、当該凝集体が容易に水性媒体中で分散(または解砕)しうるものであれば、これをわざわざ苦労して必要以上に除こうとすることは無意味である。経済的合理性からは、必要最小限の処理により、最大の効果を得ることが好ましい。
さらに特開2003−261861号において記載されている凝集を示す指標は、乾燥状態における研磨材粒子の凝集の程度の大小(凝集の大きさ)を示すものに過ぎない。したがって、当該粒子を水性媒体に分散させた場合の分散のし易さ又は分散し難さ(分散性)を、直接示すものではない。
基本的に、ガラス研磨用の研磨材は、研磨材粒子(研磨砥粒)を、使用時に水性媒体に分散せしめた研磨材組成物(「研磨材スラリー」とも称される。)とする。その場合、高い研磨速度及びその研磨速度の維持・持続性という研磨工程の生産性の向上だけでなく、研磨面の高い品質レベルの保持という、生産性及び品質の両者についてより高いレベルを求められている。しかしながら、研磨速度の向上と高品質の保持は、むしろ矛盾する要請であって、両立しがたいものである。例えば、研磨材砥粒の粗粒の量を多くすれば、研磨速度は高くなるが、研磨面のスクラッチ等の傷が増加しやすくなることは容易に理解されるところであろう。
研磨面の品質において、特に重要な評価の対象なる研磨面の微細な傷については、従来は、顕傷(乾燥された研磨面を可視光線を照射下で、顕微鏡で観察して認められる傷)の数の多少で、研磨面の傷の多少を評価することで充分であった。しかしながら、上記したように、例えば液晶モニターなど高細精かつ大画面化しつつある電子産業の進歩発展の現状に対応して、液晶用ガラス基板やハードディスク用ガラス基板等についての品質要求のレベルは従来に比較して予想もしえないレベルまで、格段に高くなりつつある。
かかる研磨面の更なる高品質要求に伴い、研磨面の微細な傷の評価法も、顕傷が無いことは当然であって、さらに潜傷の数についても、厳しく評価することが要請されることになった。ここで、「潜傷」とは、上記の顕傷の評価法では見つけにくい微細な傷を、研磨面を希薄なフッ酸水溶液でエッチングし、乾燥後に研磨面の傷を明確化させて、研磨面を顕微鏡(例えばオリンパス社製、システム金属顕微鏡、BHT型など)で観察してはじめて認められる傷である。このようにして、現在、潜傷の数の多少で評価する、より厳しい研磨面の品質評価方法が要請されるようになっているのである。
従来の酸化セリウムを主成分とする乾燥粉末である研磨材(研磨材粒子)については、粗粒径や凝集体粒子量を上記公開特許公報で提案されているような望ましい範囲のものとした場合においても、なお、ガラスの研磨において高い研磨速度を継続・維持しつつ、潜傷の数まで考慮した研磨面の高品質達成という面からいえば、必ずしも、満足のいくものではなかった。
本発明の目的は、ガラス研磨用研磨材、特に酸化セリウムを含む希土類酸化物を主成分とするガラス研磨用研磨材において、高研磨速度を維持するとともに研磨するガラスに発生する傷、特に潜傷を、従来にない程度まで減少させたガラス研磨用研磨材を提供すること、及び、研磨材粒子において、特に潜傷に関する品質を、粉末について評価する品質評価方法を提供することである。
〔1〕 ガラス研磨用研磨材粒子の水性媒体中における分散性を評価する方法であって、水性媒体に被測定対象の研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液を準備し、当該分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定することを特徴とするガラス研磨用研磨材粒子の水性媒体中での分散性に関する品質評価方法。
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
〔2〕 ガラスを研磨材粒子で研磨する方法であって、
水性媒体に被測定対象の研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液を準備し、当該分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定し、
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)以上の研磨材粒子を、調整、選択又は判別し、
当該特定した研磨材粒子によりガラス研磨を行うことを特徴とするガラス研磨方法。
〔3〕 ξ0が30(%)である〔2〕に記載のガラス研磨方法。
〔4〕 研磨材粒子を含むガラス研磨用研磨材組成物において、
当該研磨材粒子は、
水性媒体に当該研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定し、
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)以上の研磨材粒子を水性媒体中に分散させたものであることを特徴とするガラス研磨用研磨材組成物。
〔5〕 ξ0が30(%)である〔4〕に記載のガラス研磨用研磨材組成物。
〔6〕 酸化セリウムを含む希土類酸化物を主成分とする研磨材粒子において、当該研磨材中のSO4換算の金属硫酸塩の量が、0.070(モル/Kg)以下であり、かつ、当該研磨材粒子は、
水性媒体に当該研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定し、
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)以上の研磨材粒子であることを特徴とする高分散性ガラス研磨用の研磨材粒子。
〔7〕 ξ0が30(5%)である〔6〕に記載の高分散性ガラス研磨用の研磨材粒子。
〔8〕 フッ素化合物を含有する〔6〕又は〔7〕に記載の研磨材粒子。
〔9〕 少なくとも水性媒体と、〔6〕〜〔8〕のいずれかに記載の研磨材粒子からなるガラス研磨用研磨材組成物。
〔10〕 〔9〕に記載のガラス研磨用研磨材組成物を使用するガラスの研磨方法。
(水性媒体中における粗粒子量及び凝集の強弱の評価)
本発明においては、ガラス研磨用研磨材粒子の水性媒体中での分散性に関する品質評価を、以下のようにして、超音波照射によって研磨材粒子の凝集の強弱、さらには凝集体からなる粗粒子量を評価することにより、行うものである。
すなわち、被測定対象の研磨粒子を、水性媒体に添加した研磨材水性媒体分散液を準備し、当該水性媒体分散液に、超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定するものである。
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
上記(1)式の技術的意義は次のとおりである。すなわち、酸化セリウムを含む希土類酸化物を主成分とする研磨材粒子は、その1次粒子(ここに云う1次粒子とは単結晶ではなく実質的に多結晶体粒子からなるものをいう。以下同じ。)が凝集した凝集体粒子を構成していることが、一般的に知られている。また、当該研磨材粒子は、水性媒体中の組成物においても粒子径分布を有しているものであるが、本発明者らは詳細な検討の結果、研磨面への傷(顕傷及び潜傷)に大きく影響する因子としては、水性媒体中の研磨材粒子の中の粒子径がある一定値(α0)以上の粗大な粒子(例えば、粒子径α0=10μm以上の粒子)の極く微量(数ppm〜数百ppm)の存在量が、重要な因子であることを見出した。
通常、ガラス研磨用の研磨材粒子について、一般的に平均粒子径は、0.3〜3μm程度であり、このような粒子径10μm以上、特に粒子径10〜50μm程度の粗大粒子(粗粒子)の存在量は、極く微量である。
なお、α0の値は、一般的には、使用する研磨材粒子の種類、平均粒径、及び目的とする研磨品質等によって実験的に定められる値であるが、本発明で使用する研磨材粒子においては、後記実施例に示されているように、α0=10μmと設定すれば充分な結果が得られる。
しかしながら、ここで注意すべきは、粗大粒子とは、1次粒子自体が粗大である場合以外に、1次粒子が凝集した凝集体粒子が粗大である場合もありうることである。そして、本発明者らがさらに詳細に検討したところ、粉体状態において粗大な凝集体粒子を形成しているもののうち、水性媒体中では、容易に構成粒子である1次粒子まで分解するものと、凝集が強固で、水性媒体中においても、実質的に当該粗大な凝集体粒子の状態を保持し、容易には、1次粒子に分散しないものがありうることを見出した。すなわち、重要な点は、上記の粗大粒子の凝集体粒子の粒径または存在量ではなく、その凝集の強弱の程度(水性媒体中での凝集体の1次粒子へのほぐれやすさの程度、または、ほぐれ難さの程度)が、研磨面の品質(顕傷及び潜傷)に強く影響することになるのであり、これを評価する必要があることを見出したのである。
このようにして、本発明者らの知見によれば、上記した各特許公開公報に記載のように、単に1次粒子が粗粒の場合や、乾燥状態における凝集体粒子の粒径や量を規定するだけでは、研磨材粒子の品質を、潜傷のレベルについてまで評価するためには、全く不十分なのである。
(研磨材粒子中の粗粒子の分離・濃縮方法)
本発明においては、水性媒体中の研磨材粒子中の粗粒子の凝集の強弱を評価するにあたり、まず、研磨材粒子中に微量に存在する粗粒子を分離・濃縮して、得られた粗粒子について、凝集の強弱の評価を行う。
研磨材粒子中の微量の粗粒子の分離・濃縮方法としては、水中での研磨材粒子の粒子径ごとの沈降速度の差を利用して行う。具体的方法の例を以下に述べる。すなわち、
120(mg/L)のピロリン酸ナトリウム(分散剤)を含有する水10Lに研磨材粒子200gを添加し、撹拌して分散させる。30分間静置後、上澄み液を静かに抜き出す。次に元の液体容量になるまで120(mg/L)のピロリン酸ナトリウムを含有する水を、新たに添加して同様な操作を、5回繰り返す。最終的に容器の底部に堆積した粗粒子を、回収して乾燥粉末とする。この粗粒子の粒子径は、おおよそ10μm(=α0)以上である。
この粗粒子の質量を、最初の研磨材粒子の質量で割れば、研磨材粒子中の粗粒子(ここではおよそ10μm以上)の存在比率が算出されるのである。
(分離・濃縮された粗粒子の凝集の強弱の評価方法及びξの算出)
本発明における凝集体粒子(ここでは、粒子径10μmのもの。)は、以下のようにして超音波照射を行い、照射前後の当該粒子径の粒子の存在割合の変化より分散率ξを以下のようにして算出する。すなわち、
50mLの水を入れたビーカーに、上記の分離・濃縮された粗粒子50mgを、添加する。次いで、2.6Lの容量を有する超音波照射浴に、1.8Lの水を入れ、そこに、上記の水50mL及び粗粒子50mgを格納したビーカーを浸漬する。周波数38KHz、出力190Wの超音波(アズワン社製、商品名:超音波洗浄機US−2使用)を、10分間照射する。超音波照射前後の粒子について、粒子径分布(体積基準)をレーザー散乱測定器(例えば日機装社製、商品名:マイクロトラック、9320−X100型)により、レーザー散乱法で測定して、粒子径10μm以上の粒子の超音波照射による分散率ξが、式(1)により算出されるのである。
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
本発明において分散率ξは、後記実施例に示すように、少なくとも30(%)以上、好ましくは50(%)以上、より好ましくは70(%)以上、最も好ましくは80(%)以上である。
したがって、式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)、例えば30(%)以上の研磨材粒子を、調整、選択又は判別してガラス研磨に使用することにより、潜傷の少ない条件でガラスの研磨を実施することができる。
(研磨材粒子)
本発明における研磨材粒子の主要な成分の組成を酸化物換算質量%で示すと、例えば、CeO250〜65%、La2O325〜35%、Pr6O115〜6.5%、Nd2O30.3〜15%程度のものが好ましい。すなわち、いわゆる混合酸化希土の粒子からなるものである。
本発明における研磨材粒子中のフッ素分(F)の含有量は、3〜9質量%が好ましく、より好ましくは5〜8質量%である。一般的にフッ素分(F)の含有量が少な過ぎると、塩基性の強い、酸化ランタンを充分フッ化ランタンに変化・固定化することができないため、研磨速度が遅くなる。一方、フッ素分(F)が多すぎると、過剰のフッ化希土が焼成中に焼結を起こしてしまうため望ましくない。
本発明における研磨材粒子の平均粒子径(d50)は、0.3〜3μmが好ましく、0.5〜2μmがより好ましく、0.5〜1.5μmがさらに好ましい。この、当該平均粒子径は、レーザー散乱法(例えば、日機装社製、レーザー散乱法、商品名:マイクロトラック、型式:9320−X100型使用)により測定する。
さらに、研磨材粒子の粒子径分布については、累積粒度分布において、小粒子径から10%、90%の粒子径(μm)を、それぞれd10、d90とした場合のd90/d10が、15以下であるものが好ましく、10以下がさらに好ましく、5以下であるものが最も好ましい。
研磨材粒子の結晶学的物性については、CuKα線を用いた粉末X線回折分析による結晶ピークにおいて、2θが、28.3deg付近に、立方晶複合酸化希土の最大ピーク(A)と、2θが、26.6deg付近に、酸フッ化希土のピーク(B)が現れるが、それら二つのピークのB/Aのピーク高さの比率が、0.2〜0.8が好ましく、0.3〜0.6がより好ましい。
なお、ここで「ピーク高さ」とは、ピーク曲線のベースラインからピーク頂点までの高さを示すものである(以下、同じ。)。
さらにセリウムを主成分とする酸化希土についてその他の物性は、以下のとおりである。
結晶子径(Scherrer法による)については、150〜300Åが好ましく、170〜250Åがより好ましい。
研磨材粒子の細孔構造については、BET法による比表面積(例えば、島津製作所社製、装置名:Micro Meritics Flow SorbII 2300などで測定)として、1〜10(m2/g)が好ましく、1.5〜6(m2/g)がより好ましい。
(金属硫酸塩含有量)
本発明における研磨材粒子中のSO4換算の金属硫酸塩の含有量としては、0.070(モル/Kg)以下が好ましく、0.050(モル/Kg)以下がより好ましく、0.035(モル/Kg)以下が最も好ましい。
なお、本発明においてSO4の分析方法は、研磨材粒子を硝酸及び過酸化水素を含有する水溶液で溶解し、誘導結合型プラズマ発光分光分析装置(ICP)で、Sを分析する方法によるものである。
金属硫酸塩の金属元素としては、カルシウム、マグネシウム、バリウムなどのアルカリ土類金属や、軽希土元素中のランタンなどが主なものであるが、これらの元素の硫酸塩は、後記する研磨材粒子の製造工程中の焼成工程においても、完全には熱分解しないで、硫酸塩の形で残る。
本発明者らの見いだしたところによれば、SO4換算の金属硫酸塩の量は、研磨材凝集体粒子のほぐれ易さに極めて相関を有するものである。
これは、上記焼成工程で、これらの元素の硫酸塩が、上記した特定の量以上存在すると、焼成処理された凝集体粒子が、弱い焼結を起こすため、凝集粒子の凝集の強さが増加するものと考えられる。また、当該硫酸塩が特定の量以上であると、凝集体粒子の機械的強度が、増加するため、研磨材の凝集粒子を水性媒体中に分散して使用した場合に、研磨に際して凝集粒子に加わる通常の剪断力などの機械的な力では、解砕や分散されにくくなるため、当該凝集体は、現象としてほぐれにくくなると考えられる。なお、SO4換算の金属硫酸塩の量は、上記観点からは少ない方がよいが、これを完全に除去する必要はなく、上記数値以下の含量に調整すれば、本発明の目的を達成する点からは充分である。
そして、後記実施例示すように、例えば金属硫酸塩の量を0.070(モル/Kg)以下とすることにより、分散率ξ=30(%)以上を確保することができ、さらに、金属硫酸塩の量を0.050(モル/Kg)以下とすることにより、分散率ξ=50(%)以上を確保することができる。
(研磨材粒子の製造)
本発明における研磨材、特に分散率(ξ)が本発明で規定する範囲にある研磨材粒子は、以下のごとき方法で製造される。
本発明における酸化セリウムを主成分とする研磨材の原料は、主に、バストネサイト、モナザイト、ゼノタイム、中国複雑鉱等の希土類含有鉱石から製造されるが、もちろん、これらに限定されるものではない。
まず、これらの希土類含有鉱石を選鉱した後、バストネサイト精鉱、モナザイト精鉱、中国複雑精鉱などの希土類精鉱を得、得られた希土類精鉱に、放射性元素等の不要な鉱物を取り除くための化学処理、及び必要により溶媒抽出をした後、沈殿ろ過、さらには焼成等の従来から用いられている工程を組み合わせることにより、酸化セリウムを主成分とする研磨材の原料である、炭酸希土、酸化希土、水酸化希土、フッ化希土等の研磨材の原料を得るのである。
なお、フッ化希土の場合は、塩化希土の水溶液へフッ酸を添加して、フッ化希土の沈殿を生成させて製造する方法が一般的である。
本発明における望ましい研磨材粒子の製造方法の一例は、これに限定されるものではないが、炭酸希土を加熱分解して得られる酸化希土とフッ化希土とを出発原料とする方法である。すなわち、
上記の原鉱石から得られる炭酸希土を、酸素含有雰囲気下で、まず、400〜840℃において、30分〜48時間、好ましくは1〜24時間程度焼成(仮焼)して、加熱分解せしめて酸化希土とする。このように、炭酸希土を、いきなり焼成(本焼成)するのでなく、後記する本焼成温度よりも低い温度で仮焼して酸化希土とすることが好ましい工程の一つである。なお、この酸化希土には、炭酸希土が一部残存していてもよい。
ここで、炭酸希土を焼成(仮焼)して、得られる酸化希土と炭酸希土との混合物としては、酸化物換算全希土(TREO)が、50〜97質量%のものが好ましく、70〜95質量%のものがより好ましく、80〜93質量%のものがさらに好ましい。
一方、フッ化希土については、上記したごとく塩化希土の水溶液へフッ酸を添加して、フッ化希土の沈殿を生成させて製造する一般的な製法で得られるものを使用することが好ましいが、もちろんこれに限定されるものではない。
仮焼した酸化希土については、通常、以下のとおり、フッ化希土添加、原料混合スラリー化、湿式粉砕、乾燥、焼成、解砕、分級などの工程が行われる。
まず、上記の仮焼して得られた酸化希土にフッ化希土を添加する。フッ化希土の添加量は、最終的に得られる研磨材粒子中の含有量が、すでに述べたように、(F)換算量として、3〜9質量%となるようにすることが好ましく、5〜8質量%がより好ましい(フッ化希土添加工程)。
かくして酸化希土にフッ化希土を添加した後、水を加えて混合し、固形分濃度30〜60質量%のスラリーとし、当該スラリーを、1〜10時間程度湿式粉砕して、粒子径0.2〜10μm程度の粒子からなるスラリーとする(原料混合スラリー化、湿式粉砕工程)。
次に、当該湿式粉砕したスラリーを乾燥した後、酸素含有雰囲気下で焼成する。この焼成は、前記した仮焼に対し、本焼成とも称すべきものであって、焼成条件としては、加熱温度500℃以上の昇温速度を、0.3〜5(℃/min)、保持する高温度としては、850〜1100℃、及び当該高温度範囲での保持時間を、0.5〜6時間とすることが好ましい。
さらに、焼成条件としては、加熱温度500℃以上の昇温速度を、0.5〜3.5(℃/min)、保持する高温度としては、900〜1000℃、及び当該高温度範囲での保持時間を、2〜5時間とすることがより好ましい。
仮焼又は本焼成を実施するための焼成装置としては、上記粉砕・乾燥原料を収容し、ここで規定する温度で昇温し、かつ、当該高温を保持して焼成しうるものであれば、如何なる形式の炉であってもよく、例えば、回分式あるいは連続式の、箱型炉、回転炉、トンネル炉等を適用することができ、また、加熱の方法としては、電気加熱式、直火式(燃料はガスまたは燃料油など)のいずれも適用できる(乾燥、焼成工程)。
かくして、焼成後は、解砕し、所望により分級して、所定粒子径の範囲を有する研磨材粒子が得られる(解砕、分級工程)。
なお、上記のごとく酸化希土とフッ化希土を別々に調製して混合する代わりに、炭酸希土を原料として用い、この一部をフッ酸水溶液で部分フッ素化させる方法を採用することも可能である。この製法の場合には、炭酸希土に水を添加してスラリー化し、これにフッ化水素を添加して部分的にフッ素化し、これを上記と同様にして、湿式粉砕、乾燥、焼成、解砕、分級などの工程を行えばよい。
(金属硫酸塩含有量の調整)
本発明においては、すでに述べたように、研磨材粒子中に存在するSO4換算の金属硫酸塩の含有量としては、0.070(モル/Kg)以下、好ましくは0.050(モル/Kg)以下、更に好ましくは0.035(モル/Kg)以下が望ましい。
研磨材粒子中に存在するSO4換算の金属硫酸塩の含有量を上記の範囲とするには、特に限定するものではないが、例えば以下の方法が採用できる。すなわち、一つは、上記規定の範囲になるように、原料として用いる軽希土原料の純度を調節して、得られる研磨材中のSO4換算含有量を、上記の好ましい範囲に入れることである。あるいは、原料として用いる軽希土原料でSO4換算含有量の小さな原料を得た後に、添加量を調整したアルカリ土類金属などの金属硫酸塩(例えば、硫酸カルシウム、硫酸マグネシウムなど)を、研磨材粒子を製造する途中の工程で、予め配合・共存させておき、すでに述べた製造工程を適用して、研磨材粒子中に存在するSO4換算含有量を、上記の好ましい範囲になるように調整する手段を採用してもよい。
(研磨材組成、スラリーのpH等)
本発明においては、研磨材粒子を水スラリーとして使用するが、当該水スラリーのpHについては、固形分濃度10質量%の水スラリーの室温におけるpHは、6.0〜9.0が好ましく、6.2〜8.0がより好ましく、6.5〜7.5が最も好ましい。
なお、本発明における研磨材スラリーにおける、水性媒体中には、粒子の分散性をよくするために、例えば高分子ポリカルボン酸アンモニウム塩や高分子ポリスルホン酸アンモニウムなど有機高分子系の分散剤を添加して使用してもよい。なお、SO4の分析方法は、すでに説明したように、研磨材粒子を硝酸及び過酸化水素を含有する水溶液で溶解し、誘導結合型プラズマ発光分光分析装置(ICP)で、S(発光線波長:180.731nm)を分析する方法によった。
(発明の効果)
本発明によれば、ガラス研磨用研磨材、特に酸化セリウムを含む希土類酸化物を主成分とするガラス研磨用研磨材において、高研磨速度を維持するとともに、研磨するガラスに発生する傷、特に潜傷を、従来にない程度まで減少させたガラス研磨用研磨材が提供される。また、本発明によれば、研磨材粒子において、特に潜傷に関する品質を、粉末について的確に評価することができる品質評価方法が提供される。
なお、実際の研磨プラントにおいて、本発明の研磨材組成物は、研磨材水性媒体分散液(いわゆる研磨材スラリー)として使用されるが、当該研磨材スラリーを使用した場合、従来問題となっていたスラリー流路における沈降による堆積が大幅に低減するという予想されざる効果を伴うことが確認された。
〔実施例1〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.015(モル/Kg)(=0.144質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.063質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.5質量%、SO4含有量0.063質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.125質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子14.0kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.3質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 62.1%、La2O3 30.4%、Pr6O11 6.5%、Nd2O3 1.0%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.7%であった。また、SO4含有量は、0.015(モル/Kg)(=0.14.4質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.95μmであった(レーザー散乱測定装置(日機装社製、商品名:マイクロトラック、9320−X100型)により、レーザー散乱法で測定)。なお、粒子径分布の測定は、以下の実施例及び比較例で同様にして行った。
また、粒子径分布については、累積粒度分布において、小粒子径から10%、90%の粒子径(μm)を、それぞれd10、d90とした場合のd90/d10は、3.2であった。
(iii)当該粒子の、粉末X線回装置(リガク社製、CuKα線、Rint−2000型、以下の実施例及び比較例で同じ)を用いてのX線回折スペクトル分析結果は、以下のとおりである。
2θが28.3deg付近に、立方晶複合酸化希土の最大ピーク(A)が、2θが26.6deg付近に、酸フッ化希土のピーク(B)が現れる(なお、以下の実施例、比較例において、二つのピーク出現2θは、ほぼ同じであった。)。ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.49であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、197Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積(島津製作所製、装置名Micro Meritics Flow SorbII 2300による測定、以下の実施例及び比較例で同じ)は、2.8(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリー(固形濃度10質量%、以下の実施例及び比較例で同じ)のpHは、7.0であった。
d)ガラスの研磨面の傷に特に影響を及ぼす粒子径10μm(=α0)以上の粒子についての凝集性の強弱を評価するにあたり、以下の方法により、研磨材粒子中の粗粒子を分離・濃縮し、当該粗粒子を水中に分散させて超音波を照射して、超音波照射により解砕・分散される分散率ξを、超音波照射前後の粒子径分布(体積基準)の変化から(1)式により求めた。
ここで、研磨材粒子中の粗粒子の分離濃縮は、すでに説明した方法に従って、以下のようにして行った(以下の実施例、比較例において同じ)。すなわち、120(mg/L)のピロリン酸ナトリウム(分散剤)を含有する水10Lに研磨材粒子200gを添加し、撹拌して分散させ、30分間静置後、上澄み液を静かに抜き出す。次に元の液体容量になるまで120(mg/L)のピロリン酸ナトリウムを含有する水を、新たに添加して同様な操作を、5回繰り返す。最終的に容器の底部に堆積した粗粒子を、回収して乾燥粉末とした。
この分離・濃縮された粗粒子50mgを、50mLの水を入れたビーカーに、添加する。次いで、2.6Lの容量を有する超音波照射浴に、1.8Lの水を入れ、そこに、上記のビーカーを浸漬する。超音波洗浄機(アズワン社製、商品名:超音波洗浄機US−2)により、周波数38KHz、出力190Wの超音波を、10分間照射する。
超音波照射前後の粒子について、粒子径分布(体積基準)をレーザー散乱測定機(例えば、日機装社製、商品名:マイクロトラック、9320−X100型)により、レーザー散乱法で測定して、粒子径10μm以上の粒子の超音波照射による分散率ξを、式(1)により求めた。
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の粒径α0(=10μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(=10μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
上記方法で求めた10μm以上の粒子の超音波照射による分散率ξは、78%であった。
(研磨試験)
研磨試験は、以下の方法・条件で行った(以下の実施例及び比較例で同じ)。研磨試験機は、ワールドラップ社製、両面研磨機WS−6PB型を用いた。試験に用いた被研磨ガラス板は、旭硝子社製の無アルカリ硝子(商品名:AN−100、ガラス組成中のSiO2含有量約60質量%、試験板寸法(正方形):70mm/70mm/0.7mmという寸法のもの)を用いた。
研磨パッドは、発泡ポリウレタン製を用い、研磨圧力は、92(g/cm2)で、下定盤回転数70rpmを、固定し上定盤と下定盤の回転数比率を、1:3で、研磨試験を実施した。研磨材スラリー中の研磨材の濃度は、20質量%とした。
(研磨面の傷(潜傷)の評価方法)
研磨された後のガラス表面の微細な傷の評価方法は、以下の方法で行った(以下の実施例及び比較例で同じ)。
樹脂製バット中に入れた濃度0.1質量%のHF水溶液に、研磨後のガラスを、30秒間浸漬する。ガラス板をピンセットで引き上げて直ちに、純水で十分に洗浄した後、ガラス板を乾燥する。
次に、ガラスの研磨された表面を、暗視野顕微鏡(オリンパス社製、システム金属顕微鏡、BHT型、100倍)で、観察評価した。
研磨後のガラス面には、以下の3段階評価による評価において、潜傷に関し、大きな傷、微細な傷ともなく、好適であった。
潜傷の評価:以下の3段階で評価(実施例及び比較例で同じ)
:大きな傷、微細な傷とも全く認められず、従来にないレベルのものであり、研磨材としてきわめて好適と判断される。
:大きな傷は、認められず、微細な傷が極くわずかにある状態で、かなりのレベルのものであり、研磨材として好適と判断される。
×:大きな傷は、殆どないが、多数の微細な傷があり、研磨材としては不適なものと判断される。
(試験結果)
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔実施例2〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.021(モル/Kg)(=0.202質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.089質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.8質量%、SO4含有量0.192質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.175質量%、平均粒子径10μm〕5.0Kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子13.8kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.7質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 62.1%、La2O3 30.4%、Pr6O11 6.5%、Nd2O3 1.0%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.9%であった。また、SO4含有量は、0.021(モル/Kg)(=0.202質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.93μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、3.8であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.50であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、200Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積は、3.0(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.1であった。
10μm以上の粒子の超音波照射による分散率ξは、実施例1と同じ方法で評価した。
ガラスの研磨試験及び研磨後のガラス表面の評価は、実施例1と同じ方法で評価した。研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔実施例3〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.045(モル/Kg)(=0.432質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.190質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.8質量%、SO4含有量0.192質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.375質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子14.1kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.5質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 61.2%、La2O3 31.9%、Pr6O11 6.0%、Nd2O3 0.9%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.7%であった。また、SO4含有量は、0.045(モル/Kg)(=0.432質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.95μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、4.2であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.45であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、205Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積は、2.8(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.0であった。
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔実施例4〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.010(モル/Kg)(=0.096質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.042質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.8質量%、SO4含有量0.192質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.083質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子13.9kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.5質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 61.2%、La2O3 31.9%、Pr6O11 6.0%、Nd2O3 0.9%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.7%であった。また、SO4含有量は、0.010(モル/Kg)(=0.096質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.93μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、5.0であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.44であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、203Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積は、2.7(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.1であった。
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔実施例5〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.003(モル/Kg)(=0.029質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.013質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.8質量%、SO4含有量0.192質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.025質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子14.0kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.4質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 61.1%、La2O3 31.9%、Pr6O11 6.0%、Nd2O3 1.0%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.6%であった。また、SO4含有量は、0.003(モル/Kg)(=0.029質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.93μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、3.5であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.44であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、195Åであった。
b)また粒子のBET法による比表面積は、2.9(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.1であった。
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔実施例6〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.070(モル/Kg)(=0.672質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.296質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.8質量%、SO4含有量0.640質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.584質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子14.1kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.7質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 63.0%、La2O3 29.9%、Pr6O11 6.0%、Nd2O3 1.1%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.6%であった。また、SO4含有量は、0.070(モル/Kg)(=0.672質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.93μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、3.8であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.47であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、208Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積は、2.7(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.1であった。
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔比較例1〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.085(モル/Kg)(=0.816質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.359質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.5質量%、SO4含有量0.774質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量0.709質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子13.9kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.6質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 63.0%、La2O3 29.8%、Pr6O11 6.1%、Nd2O3 1.1%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.6%であった。また、SO4含有量は、0.085(モル/Kg)(=0.816質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.93μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、4.0であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.47であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、208Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積は、2.9(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.0であった。
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
〔比較例2〕(研磨材粒子中のSO4含有量0.160(モル/Kg)(=1.536質量%))
(研磨材粒子の調製)
(i)原料として中国産の炭酸希土〔酸化物換算全希土(TREO)42質量%、CeO2/TREO 60質量%、SO4含有量0.676質量%〕45kgを、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、加熱温度750℃、2時間焼成(仮焼)し、酸化物換算全希土(TREO)90.8質量%、SO4含有量1.461質量%の酸化希土焼成品を得た。
(ii)次いで、上記焼成品16kgと中国産のフッ化希土〔酸化物換算全希土(TREO)83質量%、CeO2/TREO 61質量%、F含有量 25質量%、SO4含有量1.335質量%、平均粒子径10μm〕5.0kgを秤り取り、両方を、水27.2kgを入れた撹拌槽に投入し、撹拌してスラリーとした。次に、当該スラリーを、粉砕媒体ボールを用いた湿式粉砕機に循環供給して、約5時間湿式粉砕し、粒子径を0.2〜6μmに粉砕した。
(iii)湿式粉砕後のスラリーは、バットに入れ、箱型乾燥機で、120℃で、20時間乾燥した。乾燥後の粉体は、サヤ容器(ムライト製)に入れ、空気雰囲気下で、焼成を行った。すなわち、加熱温度500℃以上の昇温速度を、2.3(℃/min)、保持する高温度としては、950℃で、上記温度での保持時間は、3.0時間という条件で焼成した。焼成後の粉体は、解砕機で解砕した後、風力分級機を用いて分級し、研磨材粒子14.0kgを得た。
(粒子の組成及び諸物性値)
(i)この研磨材粒子の組成を酸化物換算質量%で示すと、
TREO(=CeO2+La2O3+Nd2O3+Pr6O11)95.3質量%、TREOに対する上記各酸化物の質量比率は、CeO2 62.0%、La2O3 30.5%、Pr6O11 6.5%、Nd2O3 1.0%、及びフッ素分(F)の含有量は、5.6%であった。また、SO4含有量は、0.160(モル/Kg)(=1.536質量%)であった。
(ii)平均粒子径(d50)は、0.93μmであった。
また、粒子径分布については、d90/d10は、3.8であった。
(iii)ピーク高さ(A)に対するピーク高さ(B)のピーク高さの比率(B/A)は、0.50であった。
なお、X線回折分析測定では、フッ化セリウムの結晶ピークは全く認められなかった。
(iv)また、当該粒子のその他の物性は以下のとおりである。
a)結晶子径(Scherrer法)は、210Åであった。
b)粒子のBET法による比表面積は、2.8(m2/g)であった。
c)当該粒子の水スラリーのpHは、7.0であった。
研磨材中のSO4換算含有量、超音波照射による分散率ξ、研磨試験後のガラス表面の評価結果を表1に示した。
また、本発明によれば、研磨材粒子において、特に潜傷に関する品質を、粉末について的確に評価することができる品質評価方法が提供される。
さらに本発明によれば、実際の研磨プラントにおいて、本発明の研磨材粒子をその水性媒体分散液として使用した場合、従来問題となっていたスラリー流路における沈降による堆積が大幅に低減するという予想しえない大きな効果を伴うものであり、その産業上の利用可能性はきわめて大きい。
Claims (10)
- ガラス研磨用研磨材粒子の水性媒体中における分散性を評価する方法であって、水性媒体に被測定対象の研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液を準備し、当該分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定することを特徴とするガラス研磨用研磨材粒子の水性媒体中での分散性に関する品質評価方法。
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。) - ガラスを研磨材粒子で研磨する方法であって、
水性媒体に被測定対象の研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液を準備し、当該分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定し、
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)以上の研磨材粒子を、調整、選択又は判別し、
当該特定した研磨材粒子によりガラス研磨を行うことを特徴とするガラス研磨方法。 - ξ0が30(%)である請求項2に記載のガラス研磨方法。
- 研磨材粒子を含むガラス研磨用研磨材組成物において、
当該研磨材粒子は、
水性媒体に当該研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定し、
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)以上の研磨材粒子を水性媒体中に分散させたものであることを特徴とするガラス研磨用研磨材組成物。 - ξ0が30(%)である請求項4に記載のガラス研磨用研磨材組成物。
- 酸化セリウムを含む希土類酸化物を主成分とする研磨材粒子において、当該研磨材中のSO4換算の金属硫酸塩の量が、0.070(モル/Kg)以下であり、かつ、当該研磨材粒子は、
水性媒体に当該研磨材粒子を添加してなる研磨材粒子の水性媒体分散液に超音波を照射し、式(1)で表される、当該超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量に対する、超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の超音波照射作用により消失する割合(分散率(ξ)と定義する。)を測定し、
ξ=〔(V0−Vt)/V0〕×100(%) (1)
(式において、V0は超音波照射前の特定粒径α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)、Vtは超音波照射後の上記α0(μm)以上の粒子の存在量(累積容積)を示す。)
式(1)の方法により測定した分散率ξが、特定の値ξ0(%)以上の研磨材粒子であることを特徴とする高分散性ガラス研磨用の研磨材粒子。 - ξ0が30(%)である請求項6に記載の高分散性ガラス研磨用の研磨材粒子。
- フッ素化合物を含有する請求項6又は7に記載の研磨材粒子。
- 少なくとも水性媒体と、請求項6〜8のいずれかに記載の研磨材粒子からなるガラス研磨用研磨材組成物。
- 請求項9に記載のガラス研磨用研磨材組成物を使用するガラスの研磨方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004150884 | 2004-05-20 | ||
JP2004150884 | 2004-05-20 | ||
PCT/JP2005/008652 WO2005114177A1 (ja) | 2004-05-20 | 2005-05-02 | 研磨材粒子の品質評価方法、ガラス研磨方法及びガラス研磨用研磨材組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2005114177A1 true JPWO2005114177A1 (ja) | 2008-03-27 |
JP4131870B2 JP4131870B2 (ja) | 2008-08-13 |
Family
ID=35428486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006513685A Active JP4131870B2 (ja) | 2004-05-20 | 2005-05-02 | 研磨材粒子の品質評価方法、ガラス研磨方法及びガラス研磨用研磨材組成物 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4131870B2 (ja) |
CN (2) | CN1957253B (ja) |
TW (1) | TW200608012A (ja) |
WO (1) | WO2005114177A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0531140U (ja) * | 1991-09-27 | 1993-04-23 | ミツミ電機株式会社 | 収納式acプラグ構造 |
TWI321503B (en) | 2007-06-15 | 2010-03-11 | Univ Nat Taiwan Science Tech | The analytical method of the effective polishing frequency and number of times towards the polishing pads having different grooves and profiles |
WO2013118648A1 (ja) * | 2012-02-06 | 2013-08-15 | 旭硝子株式会社 | ガラス製品の製造方法および磁気ディスクの製造方法 |
CN104897529B (zh) * | 2015-06-16 | 2018-01-12 | 神华集团有限责任公司 | 一种评价费托合成反应催化剂抗磨损性的方法 |
CN107553203A (zh) * | 2017-10-10 | 2018-01-09 | 无锡华美钼业有限公司 | 设置刀具清洗箱的钼合金板材切割机 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000273443A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-10-03 | Asahi Glass Co Ltd | ディスプレイ用ガラス基板の研磨用砥材、研磨方法および砥材の品質評価方法 |
TW528796B (en) * | 2000-12-13 | 2003-04-21 | Mitsui Mining & Amp Smelting C | Cerium-based abrasive and method of evaluating the same |
JP3622696B2 (ja) * | 2001-07-17 | 2005-02-23 | 株式会社島津製作所 | 浮遊粒子状物質の測定方法および測定装置 |
CN1419955A (zh) * | 2001-11-15 | 2003-05-28 | 浣石 | 一种纳米金刚石的分散工艺 |
JP2003261861A (ja) * | 2002-03-07 | 2003-09-19 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | セリウム系研摩材及びセリウム系研摩材の分散性評価方法 |
CN1203915C (zh) * | 2002-11-18 | 2005-06-01 | 长沙矿冶研究院 | 纳米金刚石的解团聚及分级方法 |
-
2005
- 2005-05-02 WO PCT/JP2005/008652 patent/WO2005114177A1/ja active Application Filing
- 2005-05-02 JP JP2006513685A patent/JP4131870B2/ja active Active
- 2005-05-02 CN CN200580016214.7A patent/CN1957253B/zh active Active
- 2005-05-02 CN CN 201010126119 patent/CN101813692B/zh active Active
- 2005-05-19 TW TW094116236A patent/TW200608012A/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1957253A (zh) | 2007-05-02 |
CN1957253B (zh) | 2011-06-01 |
TW200608012A (en) | 2006-03-01 |
CN101813692A (zh) | 2010-08-25 |
JP4131870B2 (ja) | 2008-08-13 |
TWI297074B (ja) | 2008-05-21 |
WO2005114177A1 (ja) | 2005-12-01 |
CN101813692B (zh) | 2012-08-29 |
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A621 | Written request for application examination |
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