TW594330B - Pixel darkening method - Google Patents
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Description
594330 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度綱 1 A7 五、發明說明(1 ) 【發明所屬技術領域】 本毛明係有關错由設置於每個畫素上的薄膜電晶 體將控制朝所對應的畫素電極施加電|之顯示裝置中之 不良畫素予以暗點化的畫素暗點化方法。 【習知技術】 習知有液晶顯示器(LCD)用作平面顯示器,且由於具 有低耗電、薄型等優點,故廣泛運用在各種電子機器的顯 示裝置。 以此LCD而言,係與配置呈矩陣狀的各畫素相對應而 设置薄膜電晶體(TFT) ’且利用此薄膜電晶體的導通切斷以 控制對應畫素顯示的主動矩陣型態者已日益增加。 惟在此類主動矩陣型LCD中,於製造程序中若在薄 膜電晶體上產生不良情況,例如產生线漏電流時,其畫素 即無法顯示。3 ’因輔助容量電極與輔助容量線的短路’,、 該畫素亦無法顯示。於是產生在—畫素單位上的不缺 陷)情形。 ”、 當此類一畫素單位不良時,如該點為暗點(黑),則不 請反之,右該點為亮點(白),且周圍畫素屬於黑顯示
等情況時,即產生非常突顯的問題。因此,針對不良奎辛 即有暗點化之要求。 I 【發明欲解決之課題】 於扭曲向列(TN)LCD成為主流之通常的全白模式 ㈣,針對動作不良的畫素’必須對液晶經常施加i通電 壓’而使顯不變成黑。因此,將雷與畫素電極之間的連 313148 --------訂---------^ (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 且 即 594330 A7 ___B7 五、發明說明(2 ;) 接予以切斷,並使保持所施加電壓之輔助容量的二電極形 成短路’且對晝素電極經常施加電壓。 但是’隨顯示器的大型化,講求顯示視野廣角化 已逐步開發對於顯示視野依存性較低的垂直偏向型 LCD。此垂直偏向型LCD係屬於全黑模式顯示。於是 使在此類全黑模式的LCD亦需要適當的修復點缺陷。 本發明之目的在於提供一種在全黑的Lcd中,針對動 作不良之畫素進行有效的暗點化之方法。 【解決課題之手段】 本發明的特徵在於藉由每個畫素設置薄膜電晶體,而 在控制對於施加於所對應的畫素電極的電壓之顯示裝置 中,將不良晝素予以暗點化的畫素暗點化,其特徵為:方 法,在連接該薄膜電晶體的電極與晝素電極的接觸窗附 近,利用雷射切斷畫素電極的其中一部份,俾將接觸窗與 畫素電極予以切離’並將對應畫素予以暗點化。 如此,在本發明中,將接觸窗與晝素電極的連接部 分,利用雷射切斷。因此,即可確實的將畫素電極呈導通 狀態,俾防止電壓施加於畫素電極,而可將該畫素予以暗 點化。 再者,在將該接觸窗附近的該薄膜電晶體之電極,利 用雷射予以切斷,俾將接觸窗與薄膜電晶體亦予以切離係 極為適當。如此,接觸窗的薄膜電晶體端亦切斷,並將接 觸窗完全電性隔離,藉此可更確實防止電壓施加於透過接 觸窗之晝素電極。S,即使在肖辅助容量線產生短路的情 1本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格⑵G X 297公爱) 313148 訂--------- 線#IL (_請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 2 594330 A7 五、發明說明(3 ) 況下,亦可確實防止辅助容量線的電壓透過薄膜電晶體, 施加於數據線。 再者,前述顯示裝置以全黑型液晶顯示裝置最佳。 再者,本發明特徵在於··含有利用上述方法進行暗點化 之畫素的液晶顯示裝置。藉此即可在畫素電極設成為導通 狀態下予以暗點化。 【發明實施態樣】 以下,針對本發明實施態樣,根據圖式進行說明。 訂 第1圖係說明有關本發明施行暗點化的畫素構造之平 面示意圖。垂直方向的數據線10,與水平方向的閘極線 12,分別以預定間隔進行複數配置,而由此所包圍的區域 成為一個畫素。於數據線10,在畫素上半部的數據線ι〇 與閘極線12之交叉點附近,連接與閘極線12平行而延伸 出的多晶矽層20之一端。在多晶矽層2〇下方,則配置有 從閘極線12突出形成的閘極電極22。在此例中,閘極 形成二個,在對應於多晶矽層20之該等閘極22的位置處, 設有未經摻雜雜質的通道區,而形成雙閘極型薄膜電晶體 (TFT)24。換言之,在此例中,TFT 24係屬於n通道,多 晶矽層20的數據線1〇端則形成TFT 24的汲極,另一端 則形成源極。另’ TFT 24亦可採用p通道型。此外,在圖 中將屬於TFT 24的1域,利肖—點虛線之四方形來表示。 丁?丁24的源極係透過接觸窗26,連接於由1丁〇(111(^111 Tin Oxide)所構成的畫素電極28上。畫素電極28在第i 圖的例中’除形成TFT 24的區域之外,幾乎形成橫跨由 ' 1 11 IIIH 111 1 _______ _________ — 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)Α4規格(210 Xϋ髮γ 313148 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 594330 A7 ------ 五、發明說明(4 ) 數據線1 0與閘極線12所圍繞成的整體畫素區域。然後, 對此畫素電極28施加電壓,藉此而施加電壓於與畫素電極 28相對向之共通電極(圖中畫面前側)之間的液晶,控制每 個畫素的顯示。 另’多晶矽層20之源極前端延伸至畫素區域的一部 份(圖中為畫素上半部區域),並成為與多晶矽層2〇形成一 體的辅助容量電極32。在與輔助容量電極32相對向之位 置(與晝素電極28相反侧的下層),配置輔助容量線(sc 線)34。此二者重疊部分構成有輔助容量36。因此,TFT 24 的源極即連接於辅助容量36。 第2圖所示係有關第1圖構造的等效電路圖。如此在 數據線10中,即透過TFT 24,連接輔助容量36與液晶畫 素30。再者’在TFT 24的閘極處連接閘極線12。另,輔 助容量36的另一端則連接於經施加預定電壓的電源線。 當閘極線12被施加High(高)位準的掃描訊號時,則 TFT 24導通,且此時送至數據線1〇的數據訊號即由輔助 容量36充電,且對應的電壓透過畫素電極28而施加於液 晶30。此處,本實施態樣的LCD係屬垂直偏向型lcD, 在液晶在未施加電壓的狀態下,不透光,而在被施加電壓 的狀恶下’則透光的全黑(NB)式液晶。於是,液晶晝素藉 由施加電壓,該點即成為亮點(白色顯示)。 第3圖所示係第1圖之A_A’線剖面示意圖。在玻璃基 板40上的特定區域中,形成有閘極22與輔助容量線(sc 線)34。該等係由閘極絕緣膜42所覆蓋,且於其上面設 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公t ) 313148 -------------------訂---------線#· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594330 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(5 多晶矽層20。在此多晶矽層20上則形成層間絕緣層44。 更於其上面形成有用以將上面予以平坦化的平坦化絕緣層 46。此係為與此平坦化絕緣層46貫穿層間絕緣層44而形 成接觸窗,且在包含此接觸窗在内的層間絕緣層44整面上 形成ITO膜,而利用圖案化處理為第i圖所示平面形狀, 並可獲得如第3圖所示之透過接觸窗26連接於所對應TFT 24的晝素電極28。另,雖未圖示但在包含畫素電極28的 整面基板上更進一步形成垂直配向膜。然後,將已形成共 通電極與垂直配向膜的對向基板,與形成此TFT之基板, 以一疋間隔貼合,並在此間隙中封入液晶後便可獲得Lcd 晶胞完成體。 在本實施態樣中,於產生缺陷的晝素中,利用雷射將 接觸® 26周圍的多晶矽層20,與畫素電極28予以切斷, 而形成如第1圖所示的切斷區間5〇。換言之,接觸窗26 係设置在與靠近晝素電極28上端之多晶矽層20相連接的 部分(靠近閘極線12的部分),接觸窗26除圖中上端之外 的左右及下方等三方向即切斷成3字型,俾使接觸窗26 部分與其他部分形成電性隔離。藉此,TFT 24、畫素電極 28以及與輔助容量電極32即形成電性切斷。在此切斷處 理中’採用YAG雷射,針對LCD完成體的不良畫素施行 此種處理。 亦即’針對LCD完成體,施行有關各畫素的顯示試 驗。在此試驗中,當出現不良畫素的情況時,便針對各畫 素施行利用雷射修復的暗點化處理。 1本紙張尺^用?ii^^NS)A4規格⑵㈧挪公髮)- --- 313148 ---------4 訂 ^φί! (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 594330
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(6 ) 在此例中’多晶石夕層20係TFT 24的部分在對應從閘 極線12的閘極22突出長度呈比較狹小的帶狀,而在形成 輔助容量電極32的部分則面積大為擴增。因此,輔助容量 電極32若切除存在TFT 24的左上方長方形部分則呈L字 型狀。而帶狀TFT 24的部分位於此切除部分之上層部, 使多晶矽層20整體形成3字型。畫素電極28延伸至輔助 容量電極32與TFT 24的邊界部分處,而正好在此TFT 24 的右端邊界部分配置有接觸窗26。因此,將接觸窗26在 圖中的右方及下方一處的畫素電極28與輔助容量電極 32,利用雷射予以切斷,即切離接觸窗26與畫素電極28、 及接觸窗26與輔助容量電極32。另,將接觸窗%在圖中 左侧(TFT 24端)的多晶矽層2〇,利用雷射予以切斷,即切 離將接觸窗26與TFT 24。 如此’將接觸窗26完全電性切離,藉此可確實使晝 素電極2 8呈導通狀態,並可確實防止將施加電壓給液晶 30的畫素電極28施加高電壓,且缺陷晝素經常呈白色顯 示〇 在此,即使將接觸窗26之TFT 24端、或畫素電極28 端的其中任一者予以切斷,亦可防止對畫素電極28施加電 壓。惟當僅切斷TFT 24端之情況時,對由於Sc線34與 夕晶矽層20間之短路等而造成之亮點化情況即無效果。因 此,切斷畫素電極28端較為重要。另,利用切斷二者,即 便其中者產生切斷不良情況,亦可將對應晝素暗點化, 並可將因切斷不良而造成之亮點化機率降至最低。 ϋ ϋ m ϋ ϋ ϋ ϋ ϋ ·ϋ ϋ n · n n n I in I an 一I I - n I I ϋ ϋ I —Ml Γ— ϋ n (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
6 313148 A7 B7
五、發明說明(7 ) 再者’本實施態樣^> 了 594330 “汞之LCD# TFT係利用背面曝光的 自調整而形成。換言之,在多晶石夕層2()上堆積光阻的狀態 下’利用來自玻璃基板4G端的背面曝光,將閘極電極22 未存在部分的光阻予以暖 曝先並去⑨,然後將經去除光阻的 部分摻雜雜質。 因此利用背面曝光而形成SC線34陰影的部分,將如 同閉極電極22的陰影部分(通道部分),亦殘餘光阻。因此, 在與SC線34相對向部分的輔助容量電極32中,未施行 雜質的摻雜。故,辅助容量電極32的電阻抗即增大。 因此,為維持輔助容量36中的保持電荷量在非常充 足的狀態,因此叱線34設定成通常電源電壓。於是,當 叱線34與多晶碎層2〇形成短路時,若τρτ24 / 則電源電壓即施加1 Π ^ » 攄始一/ 由此而可能對連接於數 〇 —素不w成不良影響。但是,利用切斷接 觸商26的TFT 24端,即可確實防止此類現象的發生。 層二例子中’ TFT 24係、在延伸成直線狀多晶石夕 弓,’执成為二個閘極電極22突出的雙閘極型、底 :極i但TFT 24並不僅限於此構造,亦可為單閘極型 ㈣可將多晶梦層2〇形成跨立閉極線12的 ^ 再者’如第4圖所示,畫素電…可設置於含構二 方之畫素區域的整面。在此類構造中,在接 下端與左右二端中’畫素電極28連接於接觸窗%。因此 二須在接觸窗26下端與左右二端,利用雷射 28予以切斷,並形成切斷區域5〇。 ;:電極 ______ 乃在此切斷區域50, m 張尺 _21Q X 297 公爱) 313148 ^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 7 594330 A7 -------- B7 五、發明說明(8 ) 多晶石夕層20亦切斷。 再者’在TFT型態的LCD中,雖有反射型等各種型 態’但不論何者均畫素電極28與TFT 24均透過接觸窗26 而連接。因此,在任一型態的LCD,只要屬全黑型的話, 利用本貝施%樣中隔離接觸窗2 6之方法,即可有效的施行 暗點化處理。 --------訂·-------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 再者,即使非LCD,而是有機EL(電激發光)等el顯 示器中,亦可採用本實施態樣的構造。此情況下,EL元件 的陽極(或陰極)即透過接觸窗,而連接於顯示控制用 TFT^ >因此,藉 由 將 連接 此 陽極(或陰極)與| TFT的接觸 窗 予 以 電性隔離 即 可 林 止 對二 極體構造的 EL之陽極陰極 間 施 加電壓, 而 達成 該 畫 素的 暗點化之目 的。 [ 發 明功效】 綜上所述 y 在本發 明 中, 係利用雷射 將連接接觸 窗 與 畫 素 電極的部 分 予 以 切 斷 。因 此,即可確 實的將畫素 電 極 呈 導 通狀態, 並 可 防 止 對 晝素 電極施加電 壓,而將該 晝 素 予 以 暗點化。 經 [ 圖 式簡單說 明 ] 濟 部 智 第1圖係 實 施 態 樣構造的 平面示意圖 〇 財 產 第2圖係 等 效 電 路 圖 〇 /3- 局 員 工 第3圖係第1 圖 之 A-A’線剖面示意圖 〇 消 費 第4圖係 另 -— 實 施 態 樣構造的平面示 意圖。 作 [ 圖 示符號說 明 ] 冲工 印 製 10 數據線 12 閘極線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規 8 313148 594330 A7 五、發明說明(9 ) _B7 20 多晶矽層 22 閘極電極 24 TFT 26 接觸窗 28 畫素電極 30 液晶 32 輔助容量電極 34 輔助容量線(SC線) 36 輔助容量 40 玻璃基板 52 閘極絕緣膜 44 層間絕緣層 46 平坦化絕緣層 50 切斷區域 -----------— -------訂---------線# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) 9 313148
Claims (1)
- 弟90129269號專利申請案 申請專利範圍修正本 (92年2月16曰) !· 一種晝素暗點化方法’係藉由設置於每個晝素之薄膜電 曰曰體將控制對於所對應的晝素電極施加電壓之顯示裝 置上之不良晝素予以暗點化,其特徵在於:在連接該薄 膜電晶體的電極與晝素電極的接觸窗附近,利用雷射切 斷晝素電極的-部份,俾將接觸窗與晝素電極予以切 咸’並將對應晝素予以暗點化。 2·如申請專利範圍第i項之晝素暗點化方法,其中,係將 該接觸窗附近的該薄膜電晶體之電極,利用雷射予以切 斷,俾將接觸窗與薄膜電晶體亦予以切離。 3·如申請專利範圍第!項或第2項之晝素暗點化方法,其 中,该顯不裝置係全黑型液晶顯示裝置。 4 · 一種液晶顯示裝置,伤4 ^ ’、3有藉由έ又置於母個畫素之薄膜 ^晶體將控制對於所對應的畫素電極施加電壓之顯示 裴置上之不良晝素予以暗點化之晝素暗點化方法施行 曰』化後之旦素’其特徵在於··在連接該薄膜電晶體的 電極與畫素電極的接觸窗附近,利用雷射切斷晝素電極 的一部分’俾將關窗與晝素電極予以㈣,並將對應 晝素予以暗點化。 5.如申請專利範圍第4項之液晶顯示裝置,其中,係將該 接觸窗附近的該薄膜電晶體之電極,利用雷射予以切 斷,俾將接觸窗與薄膜電晶體亦予以切離。 313148(修正版) 594330 6.如申請專利範圍第4項或第5項之液晶顯示裝置,其 中,該顯示裝置係全黑型液晶顯示裝置。313148(修正版)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000361001A JP4282219B2 (ja) | 2000-11-28 | 2000-11-28 | 画素暗点化方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW594330B true TW594330B (en) | 2004-06-21 |
Family
ID=18832504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW090129269A TW594330B (en) | 2000-11-28 | 2001-11-27 | Pixel darkening method |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6778233B2 (zh) |
JP (1) | JP4282219B2 (zh) |
KR (1) | KR100611697B1 (zh) |
CN (1) | CN1236345C (zh) |
TW (1) | TW594330B (zh) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6509616B2 (en) * | 2000-09-29 | 2003-01-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and its manufacturing method |
KR100796749B1 (ko) * | 2001-05-16 | 2008-01-22 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 어레이 기판 |
TWI223569B (en) * | 2002-03-20 | 2004-11-01 | Sanyo Electric Co | Method for reducing light quantity of organic EL panel and organic EL panel |
JP4270891B2 (ja) * | 2003-01-21 | 2009-06-03 | 三洋電機株式会社 | El表示装置のレーザーリペア方法 |
JP4355476B2 (ja) * | 2002-08-21 | 2009-11-04 | 奇美電子股▲ふん▼有限公司 | Ips液晶ディスプレイおよび輝点画素の滅点画素化方法 |
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JP4011002B2 (ja) * | 2003-09-11 | 2007-11-21 | シャープ株式会社 | アクティブ基板、表示装置およびその製造方法 |
KR101205191B1 (ko) | 2003-12-19 | 2012-11-27 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 집적 회로 |
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-
2000
- 2000-11-28 JP JP2000361001A patent/JP4282219B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-11-23 KR KR1020010073246A patent/KR100611697B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-11-27 TW TW090129269A patent/TW594330B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-11-27 US US09/995,135 patent/US6778233B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-11-28 CN CNB011424273A patent/CN1236345C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1356680A (zh) | 2002-07-03 |
JP2002162914A (ja) | 2002-06-07 |
US20020063844A1 (en) | 2002-05-30 |
KR100611697B1 (ko) | 2006-08-11 |
US6778233B2 (en) | 2004-08-17 |
KR20020041749A (ko) | 2002-06-03 |
CN1236345C (zh) | 2006-01-11 |
JP4282219B2 (ja) | 2009-06-17 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |