KR100440711B1 - 액정표시장치의하이픽셀을수리하는방법 - Google Patents

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Abstract

이 발명은 박막 트랜지스터 액정 표시 장치(TFT LCD)의 픽셀(high pixel) 불량을 수리하는 방법에 관한 것으로서, 특히 하이 픽셀 결함(high pixel defect)을 오프 픽셀 결함(off pixel defect)로 전환하는 방법에 관한 것이다.
이 발명의 구성은, 박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 소스부를 절단하여 하이 픽셀 결함을 수리하는 방법으로 이루어진다.
이 발명에 따른 박막 트랜지스터 액정 표시 장치의 하이 픽셀 결함 수리 방법은 종래의 방법에 비해 작은 직류 바이어스를 픽셀 전극에 인가함에 따라 액정의 열화에 따라 발생하는 오프 픽셀 결함이 하이 픽셀 결함로 바뀌는 문제점을 줄이는 효과가 있다.

Description

액정 표시 장치의 하이 픽셀 결함을 수리하는 방법
이 발명은 박막 트랜지스터 액정 표시 장치(TFT LCD)의 픽셀(pixel) 불량을 수리하는 방법에 관한 것으로서, 특히 하얀색으로 표시하는 하이 픽셀 결함(high pixel defect)을 검은색으로 표시되는 오프 픽셀 결함(off pixel defect)으로 전환하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로 박막 트랜지스터 액정 표시 장치의 하이 픽셀 결함이 발생하는 유형은 소스(source)와 드레인(drain)의 채널(channel)부에 단락성 이물 잔류로 인하여 픽셀 쪽에 충전된 전압이 방전됨에 따라 나타나는 경우와, 채널까지의 통로(path)중에 크랙(crack) 등에 의해 저항이 크게 작용함으로 인하여 픽셀 쪽에 인가되어야 할 전압이 미충전됨으로써 나타나는 경우가 있다.
하이 픽셀 결함을 수리하는 방법은 주로 하이 픽셀 결함을 오프 픽셀(off pixel) 결함으로 변환하는 방법이 사용된다. 이러한 변환 방법은 게이트 라인과 픽셀 투명 전극을 단락(short)시켜 게이트(gate) 신호를 픽셀 전극에 계속 인가시킴으로써 실현할 수 있다. 도1에 상기의 수리 방법에 따른 TFT-LCD의 픽셀 구조를 나타내었는데 픽셀 전극(11), 게이트 라인(12, 13), 데이터 라인(14), 드레인부(15), 접촉 구멍(contact hole)(16) 및 단락 부분(17)으로 구성된다. 도1에서와 같이 레이저를 이용하여 게이트 라인(12)과 픽셀 전극(11)을 단락시킴으로써 하이 픽셀 결함을 오프 픽셀 결함으로 변환한다.
이 경우 게이트가 오프되면 픽셀 전극에 인가되는 전압은 도2에서와 같이 게이트 오프 전압(Voff)과 공통 전극 전압(Vcom)의 차이인 12 볼트(volt) 정도가 인가됨에 따라 직류 바이어스(bias)에 의한 액정 열화가 발생된다. 따라서 인가 시간이 길어질 경우 오프 픽셀 결함이 다시 하이 픽셀 결함으로 전환될 수 있는 문제점을 가진다.
이 발명은 상기한 기술적 배경 하에 도출된 것으로서, 종래의 박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 하이 픽셀 결함의 수리 방법에서는 오프 픽셀 결함이 다시 하이 픽셀 결함으로 변환되는 문제점이 발생하는데, 이러한 문제점을 해결할 수 있는하이 픽셀 결함의 수리 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
도1은 종래의 하이 픽셀 결함의 수리 방법을 적용한 박막 트랜지스트 액정 표시 장치의 픽셀 구조도이고,
도2는 게이트 오프 전압과 공통 전극 전압의 상관 관계를 나타낸 전압 파형도이고,
도3은 본 발명에 따른 하이 픽셀 결함의 수리 방법을 적용한 박막 트랜지스트 액정 표시 장치의 픽셀 구조도이고,
도4는 도3의 픽셀 구조에 대한 전기적 등가 회로도이다.
상기의 목적을 달성하기 위한 수단으로서 이 발명의 구성은, 박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 소스부를 절단하여 하이 픽셀 결함을 수리하는 방법으로 이루어진다.
박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 픽셀 불량을 수리할 때 하이 픽셀 결함은 픽셀에 충분한 전압이 인가되지 않기 때문에 발생되는데, 소스부를 완전하게 절단하게 되면 데이터 신호는 전혀 인가되지 않은 상태에서 전단 게이트 라인에 걸린 오프 전압과 공통 전극 전압간에 걸리는 전압차에 의해 일정량의 전압이 픽셀에 걸리게 됨으로써 하이 픽셀 결함이 오프 픽셀 결함으로 전환된다. 상기한 전압차에 의해 픽셀 전극에 인가되는 전압은 게이트 라인과 픽셀 전극을 단락시키는 종래의 수리 방법에 의한 경우보다 작아지므로 직류 바이어스에 의한 액정 열화로 인한 하이 픽셀 결함의 전환 문제가 줄어든다.
상기의 구성에 의한 이 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조로 설명하면 다음과 같다.
도3에 본 발명에 따른 수리 방법을 이용한 박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 픽셀 구조를 나타내었는데, 도1과 같은 구성 부분은 동일한 기호로 나타내었다. 도3에서와 같이 데이터 라인(14)을 레이저(laser)를 이용하여 절단하여(27) 데이터 신호가 인가되지 않도록 한다.
도4에 도3의 전기적 등가 회로를 나타내었는데 박막 트랜지스터(TFT), 픽셀전극(Clc), 유지 용량(Cst), 기생 용량(Cds), 게이트 라인(Gn, Gn+1) 및 데이터 라인(Dn, Dn+1) 등으로 구성된다. 도3에서와 같이 데이터 라인의 X 표시(31)한 곳을 절단하면 데이터 신호의 인가가 없으므로 픽셀 전극에 인가되는 전압은 전단 게이트에 걸려있는 오프(Voff) 전압과 공통 전극 전압(Vcom) 사이에 걸리는 전압에 의해서 결정된다. 상기한 전압차는 도2에서와 같이 12 볼트 정도가 걸리는데 픽셀 전극에 걸리는 전압은 아래의 식1과 같이 유지 용량과 픽셀 전극 용량에 따라 나누어지므로 12볼트 보다 작아진다. 실제값은 약 7볼트 정도로 측정되었다. 따라서 상기의 하이 픽셀 결함의 수리 방법에서는 직류 바이어스에 의한 액정 열화가 줄어든다.
[식1]
픽셀 전극에 걸리는 전압
Figure pat00001
상기의 구성에 의한 이 발명의 효과는 다음과 같다.
본 발명에 따른 박막 트랜지스터 액정 표시 장치의 하이 픽셀 결함의 수리 방법은 종래의 방법에 비해 작은 직류 바이어스를 픽셀 전극에 인가함에 따라 액정의 열화에 따라 오프 픽셀 결함이 하이 픽셀 결함으로 바뀌는 문제점을 줄일 수 있다.

Claims (2)

  1. 박막 트랜지스터의 소스부를 절단하여 하이 픽셀 결함을 수리하는 박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 픽셀 불량 수리 방법.
  2. 제1항에 있어서 상기한 절단은 레이저를 사용하는 박막 트랜지스터 액정 표시 소자의 픽셀 불량 수리 방법.
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