TW574435B - Plating analysis method - Google Patents

Plating analysis method Download PDF

Info

Publication number
TW574435B
TW574435B TW89124346A TW89124346A TW574435B TW 574435 B TW574435 B TW 574435B TW 89124346 A TW89124346 A TW 89124346A TW 89124346 A TW89124346 A TW 89124346A TW 574435 B TW574435 B TW 574435B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
equation
cathode
plating
anode
electroplating
Prior art date
Application number
TW89124346A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Amaya
Shigeru Aoki
Matsuho Miyasaka
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW574435B publication Critical patent/TW574435B/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D21/00Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
    • C25D21/12Process control or regulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Prevention Of Electric Corrosion (AREA)

Description

574435 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(1 ) [發明背景] [發明領域] 本發明係有關一種電腦輔助分析方法,用以預測電鍍 中的電鍍膜成長速率分布而得到均勻的電鍍厚度分布。更 特別者,本發明係有關一種方法其較適用於分析意欲用在 半導體晶圓上佈線的金屬之電鍍速率分布。 [相關技藝之說明] 於由陽極和陰極透過電解液構成電池的系統中,電位 分布和電流密度分布對於諸如電鍍或腐蝕問題等問題具有 重要性。要預測系統中的彼等分布時,已嘗試過採用邊界 元素法、有限元素法、或有限差法進行的電腦辅助數值分 析。這種分析係以下述事實為基礎而進行的:電解質中的 電位係由拉卜拉士方程式所主宰;在陽極表面和陰極表面 上的電位和電流密度係在將陽極和陰極放置於電解液中時 引起的反應所決定的電化學特性,稱為極化曲線者(為了顯 不出電位與電流密度之間的關係而實驗測得之非線性函數 所管治;1電流密度係表為電位梯度和電解質的電導係數 之乘積。 於電鑛中,《尤積在陰極上的金屬f鍍速率可以用法拉 第定律從分析出的陰極電流密度計算出。因此,上文提及 的數值分析可以促成在事先根據諸條件,例如電錢槽的结 構、電鍍溶液的類別、及陽極和陰極所用材料類 出電鑛速率分布。如此可以合理地設計電錢槽。 力取近數年内’已有嘗試制電錢鋼於半導體積體電 t ® @ mm (CNS)A4^(21〇 x 297 ) ^—裝--------訂--- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) j/4435 A7 五、發明說明(2 路中的佈線者。於_ 由在半導體晶圓你情況中,如第1A圖中所示者,經 的表面内#刻心㈣間Sl(>2或類似者之絕緣體膜1 鋼一種佈線用的#細微紋道2。經由電鍍在紋道2中埋佈 擴散,要事以為了防止銅肖吨膜之間的相互 ⑽或類似者之障壁二的表面上經由諸如㈣等方法形成 高電阻材料,田 a3。由於SiO2和TaN皆為絕緣體或 ,,此以諸如濺鍍等方法在TaN上形成作為導 ”重鍵所用電極的薄鋼膜4(稱為種層(Seed layer))。 先形成的鋼種層4在厚度上係 :=這種薄鋼種層之同時,因為其電阻之二 =二 位梯度。若電鑛係用第1A圖中所示的設 進仃時,由於電流更容易接近外圍區流動,因此 會發生如圖中實綠— 綠5所不的不均勻電鍍厚度,亦即,在外
I 周緣上為厚者而在内周緣上為薄者。再者,如第m圖中 所不,經由電鑛在細微洞孔或細微紋道中埋置金屬例如銅 之時,會因為種層的電阻而在銅種層中出現電位梯度。其 結果’使得靠近洞孔或紋道的入口處之電鑛速率增加,而 且在洞孔或紋道内發生缺陷,例如有不含鋼的部份。所以 乃有使用廢抑反應所用的添加劑來使紋道附近處的優先錢 層成長速率降下來,藉此防止内部缺陷的發生 許多種電鍍分析方法都是根據下述概念:電位梯度只 發生於電解質中,及陽極和陰極的電阻都是低到可以忽略 者。不過,於分析在半導體晶圓上的電鍍之電流密度分布 和電壓分布之中,電極方面的電阻係不可忽略且須加以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公爱) 574435 A7 -------B7 - — —__ 五、發明說明(3 ) 考慮。 考慮到電極側電阻的電鍍分析方法之一例子,業經用 有限兀素法予以嘗試。根據此方法,係將電鍍溶液區的内 部分成元素。將電鍍溶液的電阻狀況施加到這些元素中, 並將有電阻的電極分成沈積元素(dep〇siti〇n elements)形 式之元素。將電極的電阻狀況施加到這些元素中,再者, 於電極(主要為陰極)之表面上接觸電鍍溶液的位置新創造 出一種元素稱為過壓元素(overv〇ltage eiement)。於此元素 中’放置電極的極化電阻狀況。整個元素係經視為單一區, 並以有限元素法予以分析。該沈積元素即對應於電鍍膜。 電鍍起始時的電鍍膜厚度為零。然後,將經由在諸經過的 時間點所計算的電流密度所定出的膜厚度累積起來,並將 所得值以厚度形式處置。 電鍍槽的適當構造和電極的適當排列係由數值計算予 以設計或根據經驗來擬出。為了使電鍍速率一致,已提出 且嘗試在電鍍溶液中放置屏蔽板(shield plate)以避免電流 在外周圍部份的集中。不過,都未能獲得充分的效果。且 至今為止也尚未確立有關屏蔽板的設計之任何合理方法。 通常皆指出不需要内部元素分割的邊界元素法對於 在材料表面上的電位分布和電流密度分布具有重要性的問 題(例如電鍍、腐蝕和防腐蝕等問題)之分析係有利者。邊 界元素法業經應用於不需要考慮電極電阻的電鍍問題分 析’且其效用性也已獲得肯定。不過,尚不知道邊界元素 法可不可以應用於需要考慮電極電阻的電鍍問題。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 「-裝 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 3 312024 574435 五、發明說明(4 ) 如上文所述者,有限元素法業經用 阻的電鍍問題。:,士 1履、極電 …題不過,有限元素法需要將内 素,因而涉及廣大數目的元幸。 战諸疋 間進行元素分割和分析。次要化長時 [發明概述] 本發明係在這些情勢下完成的。本發明的目的 -種電鑛分析方法其可對於需要考慮電極電阻的電鑛問題 有㈣獲得電流密度分布和電位分布。本發明的另一目的 為提出#電鑛分析方法以使設計用來使傾向於集中在靠 近陰極外圍部份的電流均勻化之電鍍槽結構最適化,藉此 使電鍍速率均勻。 9 訂 # 本發明的第一部份為一種用於系統中的電鍍之電鍍分 析方法。該方法包括:對於在陽極與陰極之間含有電鍍溶 液的區域提出作為主方程式的三維拉卜拉士方程式;以邊 界疋素法分立該拉卜拉士方程式;對於在陽極及/或陰择内 部的區域提出處理平面或曲面的二維或三維帕松方程式, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 作為主方程式;以邊界元素法或有限元素法分立該帕森方 程式;及將各分立方程式列出聯立方程式以計算系統中的 電流密度分布和電位分布。 根據此部份,係在考慮陽極及/或陰極的電阻之下對於 在陽極及/或陰極内部的區域提出帕森方程式。如此可確使 電鍍溶液内要由三維拉卜拉士方程式所管制的區域具有一 致性。如此,在考慮到陽極及/或陰極的電阻所致影響時, 就不需要對電鍍溶液内的區域進行元素分割,使得元素分 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 4 312024 574435 A7 B7
五、發明說明(5 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 割和分析所需時間得以顯著地縮短。所以,此一部份可以 在考慮陽極及/或陰極的電阻影響之下,正確且有效率地模 擬在電鍍槽内的電流密度分布和電位分布。 、 電鍍分析法可更包括對陽極及/或陰極内部的區域提 出陽極及/或陰極所具導電係數或電阻相對於時間之函 數。如此,即使陰極-作為要電鍍對象的半導體晶圓-所具 電阻值分布因為陰極上電鍍膜隨時間的過去所致沈積而發 生變化,也可以模擬分布中的變化狀態。 電鍍为析法可更包括:將陽極分成兩或更多分割陽 極;及計算出使陰極表面上的電流密度分布均勻化而要流 經各分割陽極的彼等最適電流值,由是使電鍍速率均勻 化。如此可以模擬電鍍槽的結構、分割陽極的形狀、及電 流供給方法以在半導體晶圓的整個表面上施加具有均勻厚 度的電鍍膜。 電鍍分析方法可更包括:計算和定出在諸時間間隔要 流經各分割陽極的最適電流值,由是使電鍍速率均勻化。 如此,可以實施模擬使得即使隨時間而施加上一厚電鍍膜 之下,也可以在晶圓的整個表面得到均勻的電流密度分布 而得到均一的電鍍膜厚度。 本發明的第二部份為使用上文所述任何一種電鍍分析 方法所製得之電鍍裝置。 於電鍍裝置中’陽極的位置、形狀和尺寸及/或遮板的 位置、形狀和尺寸都經過調整使得陰極表面上的電流密度 分布可以經由使用上述任一種電鍍分析方法予以均勻化。 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 I1. 重裝 頁 I w I I I I I I 訂 勢 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 5 312024 574435
(請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 本發明第三部份為一種電鍍方法其包括··使用上文所 述任一種電鍍分析方法實施金屬電鍍,該金屬電鍍係打算 用來在製造半導體裝置所用的晶圓上形成線路。 本發明的第四部份為一種製造半導體裝置所用晶圓之 方法,包括·經由上述電鍍方法對該晶圓施以電鍍;及經 由化學和機械拋光(CMP)將該晶圓表面拋光製得具有合意 線路結構的晶圓。 本發明的第五部份為一種對於系統中的腐蝕分析和腐 蝕預防之方法。該方法包括:對含有電解液的區域定出作 為主方程式的三維拉卜拉士方程式’·經由邊界元素法分立 該拉卜拉士方程式,對陽極及/或陰極内的一區列出作為主 方程式的處理平面或曲面之二維或三維帕森方程式;經由 邊界元素法或有限元素法分立該帕森方程式;及列出該等 分立方程式的聯立方程式以計算出系統中的電流密度分布 與電位分布。 此部份使得本發明可用來分析腐蝕及腐蝕預防。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 總結本發明的效用,有限元素法係對於其中的陽極及/ 或陰極所具電阻不能忽視的系統在進行電鍍中的電鍍速率 分布唯一可行的數值分析法。不過,在將電鍍槽的諸區分 割成元素時,即使是内部區也需要分割,因而對於元素分 割與分析需要投入大量的時間。 採用邊界元素法的本發明方法不需要分割電鍍溶液的 内部,因而可以顯著地縮短元素分割與分析所用時間。再 者’當電鍍槽的形狀為軸對稱且可以模型化時,溶液所在 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公釐) 6 312024 574435 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(7 ) 區域可以分劃成諸轴對稱元素。如此,可以實施更有效率 的分析。 與其甲陰極電阻不可忽略的系統中進行之電錢相關聯 者,即需要對於可校正因陰極電阻的存在所致電鍍速率不 均-性之方法。為了滿足這種需求,本發明乃提出多種方 法:包括將陽極適當地分區,及計算出要流經諸分割陽極 的取適電机值。這些方法可以用短幅分析時間就可將傾向 於集中在陰極周圍部份的電流均勻化。 本發明之上述及其它目的,特徵與優點可以從下面的 說明配合附圖而變得明白,該等附圖係以範例方式闡明本 發明較佳實施例。 [圖式之簡略說明] 本發明可從下文所給詳細說明及附圖而變得更完全了 解’該等附圖只為示範說明而提出,因而不是用來限制本 發明,且其中: 第1A圖為顯示出要分析的電鍍模型之圖形; 第1B圖為第ία圖中b部份的放大圖; 第2圖為要尋求電位分布和電流密度分布所用的邊界 條件之解說圖; 第3圖為顯示出分割成邊界元素的範例之圖形·, 第4圖為顯不出在邊界元素溶液與分析溶液之間的比 較之圖形; 第5圖為顯示出電鍍槽·要模擬的對象-之圖形; 第6圖為顯示出陰極分析模型之圖形; --------^— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 聲. 本紙張尺度適时關家標準(CNS)A4規彳^^ x 297公羞) 7 312024 574435 A7 五、發明說明(8 ) 第7圖為顯示出第5圖電鍵槽所含邊界元素分割範例 的圖形; 第8圖為顯示出極化曲線之圖; 第9圖為顯不出在陰極(晶圓)上的電流密度分布之圖 形; 第1〇圖為顯示出在陰極(晶圓)内的電位分布之圖形; 第11圖為顯示出陽極分割範例之圖形;以及 第12圖為顯示出最適化之前與之後在陽極和陰極上 的電流密度分布之圖形。 [較it實施例之詳細說明] 要參“、、所附圖式詳細說明本發明具體實例。其中 要提及安裝鋼線路於晶®上所用的銅 電錢範例。其中將事 先於晶圓表面上的層間絕緣膜之上面形成的⑽或類似者 之障壁層及Cu種層以有電阻的陰極之形式處置。通常, 係使用鋼板作為電鍍源極之陽極,其具有足夠的厚度,因 八 為可心略。陰極具有微小的不規則性, 表面則為巨觀上丢A包 圓 看來無不規則性之表面,以預期可在晶圓 表面上找到巨觀電鍍速率。陰極内的電流密度和導電係數 係以個別7G素的平均值給出,且視該晶圓表面為平坦表 面。在起始電鑛時,陰極的厚度會隨時間的過去而變異。 消 電鍍速率的不均勾性係受起始(於零時處)電流密度的不均 勻挫所:制。因而,要經由此分析找出起始電流密度分布。 通常,陰極的起始(零時)電阻常為均一者。於此種情 ,況中,乃^^邊界元素法對陰極主方程式-帕森方程式_實 k、、·氏張尺度過用中國國豕標準(CNS)A4規格C挪公爱)— — 312024 574435 A7 五、發明說明(9 ) 施分立。若陰極的起始(零時)電阻為不均一者時,則由有 限元素法實施帕森方程式的分立,且將各不同電阻值定為 個別疋素的邊界條件。即使陰極的電阻為均一者之時,若 該陰極為一彎曲表面,也是用有限元素法以類似方式實施 該帕森方程式的分立。於下面的說明中,係將陽極以厚鋼 板形式處置,其電阻值為可忽略者。若其電阻不能忽硌時, 可用對陰極的相同方式處置該陽極來進行分析。 如第2圖中所示者,令溶液在電鍍槽中所佔據的區為 Ω,且令Ω中的電位為0。對於一般電化學問題,係使用 相對於某一參比電極的電位E。而於本實施例中,另一方 面,係將溶液中任一所予點相對於陰極内某一參比點的電 位採用為0。陽極和陰極内部任意點相對於該參比點的電 位分別表為0 a和0C。除了非常靠近金屬(陽極和陰極)表 面的部位之外,0在〇内滿足下面的拉卜拉士方程式: ▽ 2 0 =0 (1) 將非常靠近金屬表面的部位所發生的複雜行為以在金 屬表面上於金屬與溶液之間的電位間隙之形式摻加到極化 曲線内,並以邊界條件處理。即使在金屬表面上存在有供 電極佈線所用的許多窄小溝紋,該溝紋的幾何形狀也不在 考慮之内,而是測量巨觀(綜合地包括溝紋的影響)極化曲 線,並使用彼為邊界條件。 因此,上文所述方程式的諸邊界條件係由下列方程式 所定: ▼--裝 (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) ----訂---------· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 9 312024 574435
必於1% (2>上 U = k d φ/ d n)=ic 於 1\上(3> 一(Φ〜φ〇 = f a ⑴ 於 ra上(4) 一(φ — φε) = f c ⑴ 於 rcJL(5) 關於上述諸方程式,〇係由1^+1^+1^+1^(三1^)所 包圍,r d和r n分別表有指定電位φ和電位密度i(必。與、 為指定值)的邊界,而ra*re分別表陽極表面與陰極表 面。/c表溶液的電傳導係數。表向外的垂直方向, 係以流通經過物體表面進入溶液的電流值定為正值。&⑴ 和Λ⑴分別表概括地呈現出陽極和陰極的巨觀極化曲線之 非線性函數,且彼等係實驗獲得者。 由於陽極為厚的銅板,因此其電阻可以忽略,使得陽 極内部的電位0a可以假設為固定值。不過,若供給到陽極 的電流值,i。,係經指定時,則必須以下面的方程式補充, 方程式(4)因0 &值為未知數之故: fidr“〇 (6) re 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 若使用眾多陽極時,係假設每一陽極内的電位皆為固 定值’並以相應於上面方程式的方程式用於每一陽極。 於實際程序中,係於矽晶圓表面上的Si〇2絕緣膜之上 以諸如濺鍍等方法形成一薄的氮化钽(TaN)障壁層及薄Cu 種層。然後在這些層上施加鋼鍍層。於此種程序中,陰極, 亦即,該障壁層和種層,其内部的電阻係不可忽略者,因 此,陰極的電位0C係決定於陰極内的電流密度。
574435 A7 五、發明說明(11 ic=(icx,ic, 此處iex和iey分別表電流密度i。的x_向分量和y_向分 墨,其中係採用在石夕晶圓上有χ_軸和軸的正交坐標系 石夕晶圓的表面係經巨觀地視為平坦表面,即使有許多 窄溝紋存在亦然。陰極内的電流密度和電傳導係數(或膜厚 度)係以巨觀值給出(當該表面係視為平坦表面時,為同等 值j。因此,陰極内的電流密度UA/m2](安培/平方米)係經 定義如下: 1c=-(tsks+tp κ P)V 2( φ c) (7) 此處%和/c s分別表TaN障壁層的厚度[米]和電傳導係數 [ΩΊ ;而%和/c p分別表Cu種層的厚度[米]和電傳導 係數[Ω ^ΠΓ1]。▽的下附字2表二維(於χ-y平面中)算符。 由於Si〇2絕緣膜具有高電阻值,所以其内部的電流密度經 假設為可忽略者。 假3又有一電流(-i)從溶液流到陰極表面之内,則經由陰 極内部細微區中的電荷守恒原理,可以得到下面的方程 式·· div2(ic) + i = 0 (8) 從方程式(7)和(8),下面的方程式即變成陰極内部的主方程 式: (ts 扣 s+tp/c P)V 22( φ c)=i (9) 電鍍速率係正比於陰極表面上的電流(i)。因此,用方 程式(1)至(5)及(6)和(9)聯立地解出i,即可得知電鍍速率 本國國家標準(CNS)A4規格(210 x 29刚) π-^— - -----------—裝 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂--------- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 574435 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 A7 B7 五、發明說明(I2 ) 的分佈形狀。 方程式(1)的邊界條件積分方程式為 ^)φ(γ) -jf(x9y)i{x)dr ψ{χ^)φ{χ)άΓ (1〇) 此處χ和y分別表觀察點與來源點的位置向量,且基 本解答f和i係由下面兩式所給者 Φ*(Χ/Υ) = l/47cr (11〉 i*(x,y) = κ (9 Φ*(χ/Υ)/5η (ΐ2) 此處 且n表在觀察點x處的邊界向外單位垂直向量。 將邊界條件(2)和(3)代人方程式(1G)進行分立而得下 面的方程式: [H]{0 } = [G]{i} (Π) 此處[Η]和[G]為與元素和Γ所具形狀相關的已知矩 陣,而{ 0 }與{1}為在作為分量的個別節點具有必值和i屈 之向量。此方程式若不予以改變時係不能解開者,因為名 邊界條件⑷中㈣a和在方程式⑺中㈣。都是未知者之 故。因此,要考慮在陽極表面上的邊界條件。將方程式(4 和(6)分立得到下面兩方程κ - ί 必 }a={ 0 a}a+{-fa(i)}a (14) {A}Ta{i}a=:I〇 (15) 此處{}a表在陽極表面上作為分量的節點(r j上具有 一值之向量,A表元素面積,且{}τ表移項"為了簡化起 ^紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4規格咖χ挪公爱) 12 312024 ·1 I _ aiB μ·· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------#. 574435 A7 五、發明說明(B ) 見,只顯示出對固定元素的方程式,但可對一般元素輕易 地實施分立)。必須注意到下述事實,亦即{03}£1的諸分量 係採用相同的常數值0a,且〇丨8為方程式(13)中{埒的一部 份。 其次,要討論陰極表面所用的邊界條件。方程式(a) 的邊界積分方程式為: (尽伙⑻九⑺}^十介冰作·⑺沉(16) r γ 其中r表圍繞陰極表面r c之曲線,而非黑體符號ι 表從Γ流出的電流费度(三(t s K: S + t P zc P) a Φ c/ a n 2)), Θ / Θ n2表二維問題的向外垂直導致。 該二維問題的基解0 %和分別由下面得之 ΦΙ (x^ y)s — in(—) 2ττ γ (17) = )^ΜΞιΖ) <18) οη2 將方程式(15)分立而得 [H2]{0c} = [G2]{ic} + [B2]{i}c (19) 此處[Η」、[G」和[B」皆為與r和元素形狀相關的已知 矩陣’而{0c}r和{i}c為在r上作為分量的節點處具有必。 和i。值之向量。{}表在陰極表面(Γ)上作為分量的節點上 具有值之向量。ic係在邊界r的一部份中給出,而必係 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ' ----— 13 312024 ;裝 (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) ----« — — — — — — I— · 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 574435
在另外的部份中給出。因此,當給出在陰極表面上的i時, 即可解出方程式(19)。對於内部諸點使用一方程式可得到 在陰極表面上的電位分布,如下所述: (0 〇}〇=l/(ta/c a+tp/c p)[C]{i}c (20) 式中[C]為與該等内部點的位置相關聯之矩陣。 此方程式與邊界條件方程式(5)一起得到 {Φ }c={-fc(i)}c+l/(ta/c a+tp/c p)[C]{i}c (21) 注,{i}c為方程式(13)中{i}的一部份。使用方程式(14)與(2ι) 分別作為陽極表面上與陰極表面上的邊界條件,並以 Newton-Raphson 法進行疊代計算(iterative calculati〇ns), 由是可解出包含方程式(13)和(15)的聯立方程式。亦即,依 下述程序進行計算: 1. 適當地假設{i}a、0 a、及方程式(13)的未知值(i在Γ d上及0在Γη上的向量分量)。 2. 將假設的〇}3和0 a代入方程式(14)中以求得{0 }a,並將 {i}c代入方程式(21)中以計算出{0 。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 3·將上面兩步驟所得值代入方程式(I])和(I”之中,並找出 這些值在兩邊之間的差值。 4·根據Newton-Raphson法或類似者修正步驟1中所假設的 諸值例如{i} a使得上述差值減小,重回步驟2,並重複計 异直到該等差值變成低於可允許的誤差為止。 為了證明方程式(20),假設一圓形陰極(矽晶圓),其半 徑為R且在該陰極的外周緣上具有0。=〇。若來自溶液的電 流费度經假設係均勻者,則對於在該陰極内部,距 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) 14 312024 574435 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(l5 ) 圓心有一 P距離的位置處之電位的分析解答係依下式 找出: φ c=i0(R2-p 2)/4(tsks+tp/c p) (22) 另外’從方程式(20)實施二維邊界元素分析而得到必 c。對一區實施分析,該區為使用對稱性從陰極分割成含 16節段者。如圖3中所示者,該區係經分割成三角形與四 邊形的固定元素,並使用圖中所示的邊界條件。使用下列 值於分析中: R -100[笔米]、i〇 = 0.05[毫安/平方毫米]、ts = 〇〇3[微 米]、/(:8=4加103[〇-1111111-1]4? = 0.1[微米]、/^=50><1〇4[〇 ^mm1] 〇 第4圖顯不出陰極内的電位0。之分布。用方程式(2〇) 所得邊界元素解答(圖中空心圓所示者)與用方程式(22)所 得分析解答(圖中實線所示者)有高度地吻合。 使用前述方法,於第5圖中所示電鍍槽中完成對矽晶 圓施以鋼電鍍的模擬。此電鍍槽係由鋼板所構成的陽極 11,由要電鍍的晶圓所構成的陰極12,存在於該兩者之間 的電解質電鍍溶液13,及用來將電流通到該陽極與該陰極 之間所用的電源14所構成者。於這種情況中,陽極和陰極 的直徑分別都是190毫米,陽極與陰極之間的距離為 毫米’陰極所含銅濺鍍層12a的厚度為0·03微米,且鍍層 12b的厚度為〇·ι微米。對於電解質電鍍溶液13的電傳導 係數/c為0.056/Ω · mm,對於電鍍層12b為5·0Χ ι〇"Ω · mm ’而對於濺鍍層12a為4 〇χ ι〇13/Ω · 。通過的電流 ^紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4規格(21G x 297公爱) ▼—裝--------訂---------. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 574435 A7 B7 五、發明說明(l6 ) 為1.5安培。 於陰極(矽晶圓)上,於相等距離的8個位置連接電流 終端㈠’如第6圖中所示者,基於對稱性的考慮,將電鑛 槽的分析區設定為整個面積的1/16,且將該區分割成三角 形或四邊形固定元素,如第7圖中所示者,供模擬所用陽 極和陰極之極化曲線為第8圖中所示者。該電鍍槽的側表 =括絕緣體。其他計算條件皆為在㈣於第5圖中所解 第9圖顯示出陰極上的電流密度分布((〇係正比於電 鍍速率者)。第10圖顯示出在該陰極内的電位分布。若將 陰極内的電阻忽略掉時,陰極内各處的電位皆為零。因此, 在考慮陰極内的電阻時’電位分布變成不是零,成為不均 勻者,如計算結果所充分揭露者。於第9和1〇圖中,係將 諸元素中央點的值連接在一起並闡示出。 ' 於上文所述諸具體實例中,係對陰極(矽晶圓)周緣上 的電流終端㈠數目相當少(8)的情況實施分析。當此數目增 加時,軸對稱性近似即變得可能,且計算量可因而降低: 因此’在下文中要討論軸對稱近似法。 於軸對稱場中,陰極内的電流密度、只具有徑向分 畺此刀畺經寫成1。[安/平方米]。在該陰極内部半徑r位 置的小%狀區内,於電荷守恒原理之下,下列關係式成立: idS + d(Lic)=〇 (23) 此處 Si p 2且 L=2;r p。 當陰極經徑向地分割成η節段以找出差值時,於自内 312024
聲 本紙張尺度適用中 標準(CNg)A4規格咖χ撕公髮) 574435 A7 五、發明說明(Π ) 算起第j¥(後文稱為元素j)中存在著下面方程式 此處 (24) VWpVrP2]) (25) Lj^2 π p j (26) 將方程式(25)和(26)代入方程式(24)中,接著在 慮i%之下予以重組,得到下面的方程式: p广0及考 •c 1 卜1 k 2ρ; (7 * 2,...,Λ + 1) (27) 將此關係式以矩陣表為 ^C}〇==[E]{i}c (28) 此處Uc為方程式(15)中所定義者。 於轴對稱性場中,電流只沿著徑向流動。如此,相 於方程式(7)的方程式為如下所示者: -(te /c s+tp /c p)d 0 e/dr (29) 將此方程式分立得到 1 -裝--------訂---------· (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^(tsK5 XC +D = (30) 式中在rn+产R(R=陰極的半徑)處的電位為基電位。亦即 必 c,11.1=0。 當在分析電鍍槽内的電位和電流密度中使用固定元 時,在陰極上元素中心的電位須先找出。若將元素』中 的陰極電位定義為 φ〇^(Φ ^+φ c^ + 1)/2 Μ氏張尺度適財_家標準(CNS)A4規格(21() χ挪公爱)--— 574435
則從方程式(30)可得到下面的方程式·· °〇}c = [D]{ic}c (31) 矩陣[D]的個別元素可從方程式(3〇)容易地找出,從方程式 (28)和(3 1)得到 (0 〇c}〇=[D][E]{i}c (32) 此方程式係對應於方程式(21)。依此,將該陰極經由使用 轴向對稱元素分割成諸元素,並根據上文所提計算程序予 以處理’由是可以解出軸向對稱問題。 為了證明方程式(32),設立如上所述的相當情況,並 用差值法找出方程式(32)的{0。。}。將所得諸解與分析解 (方程式(22))相比較。其結果示於第4圖中(圖中以實心圓 示出者)。兩類型的解都可經確立為高度一致者。根據差值 法,將陰極徑向地分割成20個節段並進行計算。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 為了在陰極上加上均勻的鍍膜,要討論將陽極分割及 對所得分割陽極給予不同的最適電流之作法。要將此種情 況以軸對稱問題之方式處置時,係將陽極分割成各呈同心 圓形式(油煎圈餅)之N節段。為了簡化起見,對每一分割 陽極給予一固定的電流密度。(若每一分割陽極的尺寸不是 如此大時,這種近似法經推斷係不會引起大誤差者)。 作為本最適化問題的設計變數者,係將要給到分割陽 極的電流密度定為i。j(j = l5……,N)。此處的目標函數為相 對於流入陰極上個別邊界元素内的電流密度平均值i,(正 比於電鍍速率)的差值之平方值的和,如下面方程式所示 者: 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 18 312024 574435
五、發明說明(D) 外。,1,&,2,…,^) * g - ’ )2 (34} ϋ— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 其中m為陰極表面上所含元素的數目。依此,本最適化問 題經顯示為找出使該目標函數方程式(34)最小化之 i。,〆^1,··…,N)。總電流量1係經設定為常數(1〇),使得在 個別設計變數之間存在著下列關係。如此,獨立設計變數 的數目即成為N_1。 i〇,1 Ai + i。,2A2+…i0,nAn=I〇 (35) 其中A/c為分割陽極/c的面積。 假設一類似的軸對稱問題,將電流終端㈠設置在陽極 的整個周緣上,並實施電流密度分布的最適化,其中係將 該陽極分割成5個節段,如第11圖中所示者。第12圖顯 示出於最適化之前與之後在陽極和陰極表面上的電流密度 分布。於最適化之後,在陰極表面上的電流密度分布經察 相對於最適化前者較均勻。使用簡式方法(simplex method) 使目標函數最少化。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 有關要電鍍的元件之表面,及陽極皆呈平坦表面形式 的方法,及經由邊界元素法分立二維帕松方程式的方法都 已在上文中說明過。若要電鍍的元件之表面,及/或陽極為 彎曲表面,就必須經由有限元素法來分立主方程式-帕松方 程式。下面要說明一種分析方法。 滿足圖式上所示電阻器Ω (2D)内的電位之方程式為: div2( ft grad2 φ ) + is=0 (36) 其中 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 χ 297公釐) 19 312024 574435 Α7
五、發明說明(2〇 ) 《:電阻器的電傳導係數[Ω-1] is :流入電鑛溶液Ω内的電流密度[安培/平方米] dih、grad2 :在電鍍溶液Ω内定義的微分運算 方程式(36)的Kalarkin方程式為: fQ(div2(Kgradτφ)十is^pdQ = Q (37 ) 其中Ψ為試驗函數(test function)。 將方程式(37)逐部份地積分而得
f Q(div2(Kgrad 2φ) + ι,)ψάΩ * i(jcgrad 2ψ · rt)tpdQ -^aKgard ^j> · grad ζψάΩ ^ί^ΙψάΩ = 0 /3 將Ω分割成諸元件,並用内插函數Ne1求近似元素 内的0,如下所示: Φ = (39) 電鑛溶液内部係由下面的知卜拉士方程式所主宰· V320 =〇(i=ksV φ ) ① 其中▽的下標字3表三維。 陰極(矽晶圓)的内部係由下面的帕松方程式所 V 2(K(T) V φ ω ) + ίω =0 ② 介面係經定義如下: -(0-0 0))=^«) ③ ίω+ί=0 ④ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 312〇24 e ----------«!裝--------訂--------- (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 主宰 20 574435 A7 五、發明說明(21 ) 侧面係經定義為: i = 0 ⑤ 以邊界元素法分立方程式①,以有限元素法分立方程 式②,並將邊界條件與連結條件③、④和⑤列成:立方程 式。以NeWton法解此方程式得到電流密度分布i和 分布0。為其解。 w 根據此方法’可以提出一種分析方法其可以有效地用 於要電鏡的元件及/或陽極之表面為_曲表面,或要將孔洞 或溝紋的内表面予以電鍍之情況中。 接著,要說明本發明經修改的具體實例。該經修改的 本發明係-種電錢分析方法其包括料電極及/或要電鍛 的70件内部之-區域給出作為主方程式的帕松方程式,使 用該電極及/或要電鍍元件所具電傳導係數或電阻相對於 時間的函數’或為相對於該電極及/或要電鍍元件的厚产之 函數;以有限元素法分立該方程式;及列出諸分立^式 的聯立方程式以找出電鍍厚度隨時間的變化。 舉例而言,考慮銅電錢以在晶圓上構成銅佈線,如前 文所敘述者。在起始電鍍時,陰極的厚度會隨時間的過去 而變異。其結果’在該陰極區内的電阻或電傳導係數之二 維分布會變得不均勻。因此,在該陰極區每一部份内的; 阻或電傳導係數以時間函數處置,並以某一時間間隔重複 計异,由1可定出電鑛厚度隨時間的變化。對於具有複雜 形狀的電鍍槽内所裝電鍍溶液區,可以因而將分割成元素 和計算所需的時間縮短而實施有效率的分析,係因為其中 Μ氏張尺度適用中關家標準(CNSM4規格(210x297公釐"· ’ 21 312024 (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) ^!裝--------訂---------^^1 · 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 574435 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 312024 A7 五、發明說明(22 採用邊界元素法來分立主方程式之故。 下面要概略地說明作為本發明經修改具體實例的分析 方法。 在電鍍溶液内的電位分布係用三維拉卜拉士方程式① 予以主宰。電極及/或要電鍍元件的主方程式為二維帕松方 程式②。在電極及/或要電鍍元件與電鍍溶液之間的介面之 邊界條件為該電極及/或要電鍍元件的極化曲線,且通常係 以方程式③表之。假設電流(“)係從電鍍溶液流到陰極表面 之内,則根據在陰極内細微區内電荷守恒原理得到方程式 ④。於絕緣表面上,方程式⑤成立。 以邊界元素法分立方程式①,以有限元素法分立方程 式②,並將邊界條件和連結條件③、④與⑤列成一聯立方 程式。經由Newton-Raphson法解此方程式即得電流密度分 布與電位分布。 電傳導係數/c為電錢厚度Τ的函數,電鍵厚度τ為時 間t的函數,且上面的方程式為普通微分方程式。因此, 可以用諸如Eufer法和Rungec00ta法將其解出。 /亦即,對零時的晶圓上電流密度分布解出該方程式。 然後,計算於通過某一時間段後的電錢膜厚度分布。從該 鍍膜厚度,再找出晶圓上的電流密度分冑,且計算於一段 後續固定時間之後的膜厚度分布。經由重複此種計算,= 以求得在一預定時間之後的鍍膜厚度分布。 於以晶圓為具有平坦表面的電極之情況中,電極内部 的主方程式為二維帕松方程式。若要電鍍元件的表面為三 本紙張尺度¥用中關家標準咖心顯咖χ挪公爱〉 「-裝--------訂----- ! !聲 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 574435 A7 --------_BZ__ 五、發明說明(23 ) ' 維者,則其主方程式為三維帕松方程式。以這種方式來 行分析。 本發明另一經修改具體實例為用於在其中的電極及/ 或要電鍍元件所具電阻不能忽略掉的系統中進行電鍍之電 鍍分析方法,此方法包括:將陽極分割成二或更多的分割 陽極;對於包含電鍍溶液的區域給予三維拉卜拉士方程式 作為主方程式;對電極及/或要電鍍元件内部的一區列出^ 理平坦表面或彎曲表面的二維帕松方程式作為主方程式; 以邊界元素法分立該等方程式;根據諸結果列出聯立方程 式以計算出流經諸分割陽極的最適電流值以使陰極表面上 的電流密度分布均勻化,及給予該等最適電流值以使電鍍 速率均勻化。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 於如第1圖中所示的電鍍槽中,因為陰極(要電鍍的晶 圓)所具電阻之故,在該晶圓内周緣上的電流密度會被壓抑 而促成不均勻的電鍍厚度,亦即,在外周緣侧為厚者而在 内周緣側之上為薄者。因此,乃將陽極分割成同心圓形式, 且對於在内周緣侧上的諸分割陽極給予高電流密度,由是 使得陰極表面上的電流密度得以變得均勻。為了找出給予 諸分割陽極以使電鍍厚度均勻化所用的最適電流值,需要 採用數值分析。該數值分析係基於上文所述諸具體實例的 方法’且係經由取適化來實施。 本發明又有另一修改具體實例為對於在其中電極及/ 或要電鍍元件所具電阻不能忽略的系統中進行電鍍所用的 電鍍分析方法,此方法包括:將陽極分割成二或更多分 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 23 312024 574435 A7 B7 五、發明說明(24 ) 陽極;對於包含電鍍溶液的區域列出三維拉卜拉士方程式 作為主方程式,·以邊界元素法分立該方程式;對於在電極 及/或要電鍍元件内部的一區列出處理平坦表面或彎曲表 面的二維帕松方程式作為主方程式;使用該電極及/或要電 鍍件所具電傳導係數或電阻為相對於時間的函數或為相 對於該電極及/或要電鍍元件所具厚度的函數;以邊界元素 法或有限7G素法分立該方程式;基於諸結果列出聯立方程 式,及汁算並給予,於諸時間間隔的流經諸分割陽極之彼 等最適電流值以使陰極表面上的電流密度分布均勻化,由 是使電鍍速率均勻化。 消 注 意 訂 I 等 於前述本發明每一部份中,係基於陰極電阻於起始時 (零時處)為均勻者之前提來進行分析。於經過一段時間之 後,無論如何,電鍍厚度都會整體地增加,且陰極電阻會 整體地減小。因此,在零時處的分割陽極所具最佳電流分 布與在某一時間後該等分割陽極所具最佳電流分布之間必 定會有一差值。所以,根據時間-變異性電鍍厚度的增加 陰極電阻也需要隨時間為之變異,並在諸時間間隔賦予諸 分割陽極最適電流分布。當諸個別陽極所具最適電流分布 經變異及給予以使陰極所具電流密度分布持續地均句化 時’陰極表面上的電阻也為之均勾,使得可以施以邊界元 素法來分立陰極的主方程式。另一方面,當個別陽極的電 流分布以某-時間間隔變異時,在某一時間段之後會發生 陰極電鍍厚度的不均勻情形。在考慮此種陰極電鐘厚度的 不均勻性之下重新計算諸分割陽極的最適電流分布令,需 rmm(cns)a4 ^l2iox297 ^ ) 24 ^nou 574435 A7 五、發明說明(25 ) ' 要採用有限元素法來分立陰極的主方程式。 根據上述諸具體實例,係得到陽極和陰極(要電鍍的晶 圓)之構形,由是可以在陽極及/或陰極的電阻成分·若有時 -的考慮之下定出電流密度和電位之分布。使用這種分析方 法來電鑛晶圓可以導致高度均勻的鑛層。再者,於電錢槽 的設計中,可以不需要重複的實驗和錯誤即可得到最佳^ 數。 上文的解說主要係以在半導體晶圓上的鋼電鍍為例提 出。無論如何,本發明當然也可以廣泛地用於在具有電阻 成分的厚基板上進行具有令人滿意的平面均勻性之精密電 鍍。再者,本發明原理不僅可應用於電鍍分析方法,而且 可以應用於金屬的腐蝕分析和腐蝕預防所用方法中。亦 即,若一元件要成為在埋置於水或地下的埋管(buried卩化“ 或各種儀器内作為具有電阻成分的陽極或陰極時,就可能 於該電阻成分的考慮之下有效率地分析電流密度分布和電 位分布。 雖然本發明已在前述方式中予以說明過,不過要了解 者,本發明不受此所限制,而是可有許多其它方式的變異 者。彼等變異不視為違離本發明的旨意與範圍,且所有彼 等修改為諸於此技者所顯然可知者而全部意欲包括在後附 申請專利範圍所具範圍之内。 [元件符號說明] 1 絕緣體膜 2 紋道 3 障壁層 4 薄銅膜(種層) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 訂---------聲. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 25 312024 574435 A7 _B7 五、發明說明(26 ) 5 曲線 11 陽極 12 陰極 12a、12b 銅濺鍍層 13 電解質電鍍溶液 14 電源 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) !裝---- 訂--------# 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 26 312024

Claims (1)

  1. 574435 公告本 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 1· 一種用於在系統内進行電鍍的電鑛分析方法,此方法包 括: 對在陽極與陰極之間包含電鍍溶液的區域給予三 維拉卜拉士方程式作為主方程武; 以邊界元素法分立該拉卜拉士方程式; 對於該陽極及V或陰極内的一區域給予處理平坦表 面或彎曲表面的二維或三維帕松方程式,作為主方程 式; 以邊界元素法或有限元素法分立該柏松方程式;以 及 列出該等分立方程式的聯立方程式以計算出該系 統中的電流密度分布與電位分布。 2·如申請專利範圍第Ϊ項之電鍍分析方法,尚包括: 對於在該陽極及/或陰極内的該區域列出該陽極及 /或陰極所具電傳導係數或電阻相對於時間的函數。 3·如申請專利範圍第1項之電鍍分析方法,尚包括: 將該陽極分割為二或更多的分割陽極;以及 計算出流經諸分割陽極的最適電流值以使在該陰 極表面上的電流密度分布均勻化,由是使電鏡速率均勻 化。 4·如申請專利範圍第3項之電鍍分析方法,尚包括: 於諸時間間隔計算和袷予流經諸分割陽極的最適 電流俊’由是使電鍍速率均勻化。 5·種電鍍裝置,係使用如申請專利範園第1項所述電鍍 -----------I ^--------^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺餘⑽χ 27 312024 574435 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^、、申清專利範圍 分析方法製成者。 6·如申請專利範圍第5項之電鍍裝置,其中該陽極的位 置’形狀和尺寸及/或屏蔽板的位置,形狀和尺寸皆經 調整使得在陰極表面上的電流密度分布可經由使用如 申請專利範圍第1項所述電鍍分析方法予以均勻化。 7· —種電鍍方法,包括: 使用如申請專利範圍第1項所述電鍍分析方法實 以金屬電鍍,該金屬電鍍係打算用來在製造半導體裝置 所用的晶圓上形成線路者。 8· —種製造半導體裝置所用晶圓之方法,包括: 使用如申請專利範圍第7項所述電鍍方法對該晶 圓施以電鍍;以及 經由化學和機械研磨(CMP),磨光該晶圓的表面而 製成具有合意線路結構的晶圓。 9· 一種用以分析系統中的腐蝕和防腐蝕之方法,包括: 對包含電解液的區域列出三維拉卜拉士方程式作 為主方程式; 以邊界元素法分立該拉卜拉士方程式; 對於該陽極及/或陰極内的一區列出處理平坦表面 或彎曲表面的二維或三維帕松方程式,作為主方程式·, 以邊界元素法或有限元素法分立該帕松方程式;以 及 列出該等分立方程式的聯立方程式,以計算出該系 統内的電流密度分布與電位分布。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) « 丨裝--------訂i — # 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 28 312024
TW89124346A 1999-11-19 2000-11-17 Plating analysis method TW574435B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33015999A JP4282186B2 (ja) 1999-11-19 1999-11-19 めっき解析方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW574435B true TW574435B (en) 2004-02-01

Family

ID=18229485

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW89124346A TW574435B (en) 1999-11-19 2000-11-17 Plating analysis method

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6542784B1 (zh)
EP (1) EP1113094A3 (zh)
JP (1) JP4282186B2 (zh)
KR (1) KR20010051787A (zh)
TW (1) TW574435B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103849922A (zh) * 2013-12-24 2014-06-11 三星高新电机(天津)有限公司 基于cae分析的旋转电镀阴极电流密度分布的评价方法
CN117144436A (zh) * 2023-10-31 2023-12-01 南通赛可特电子有限公司 提升镀铜均匀性的镀铜工艺优化方法及装置

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4384825B2 (ja) * 2001-04-26 2009-12-16 上村工業株式会社 電着塗膜の膜厚算出方法
JP3829281B2 (ja) * 2002-04-11 2006-10-04 株式会社日立製作所 膜厚分布解析方法、電子回路基板及び製造プロセスの設計装置
US7128823B2 (en) 2002-07-24 2006-10-31 Applied Materials, Inc. Anolyte for copper plating
US7247222B2 (en) * 2002-07-24 2007-07-24 Applied Materials, Inc. Electrochemical processing cell
JP4421370B2 (ja) 2004-04-28 2010-02-24 富士通株式会社 めっき解析装置、めっき解析方法とめっき解析方法を実行させるためのプログラム
US7935240B2 (en) * 2005-05-25 2011-05-03 Applied Materials, Inc. Electroplating apparatus and method based on an array of anodes
KR100651919B1 (ko) * 2005-09-29 2006-12-01 엘지전자 주식회사 녹화 속도 조절 기능을 갖는 이동통신단말기 및 이를이용한 방법
DE102006033721A1 (de) * 2006-03-21 2007-09-27 Daimlerchrysler Ag Verfahren und Vorrichtung zur Vorhersage der Lackschichtdicke
JP2008014699A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Tokyo Institute Of Technology 電解処理における膜厚測定方法及び膜厚測定装置
NL1033973C2 (nl) * 2007-06-12 2008-12-15 Elsyca N V Werkwijze en inrichting voor het deponeren of verwijderen van een laag op een werkstuk, analysemethode en inrichting voor het analyseren van een te verwachten laagdikte, een werkwijze voor het vervaardigen van een database voor een dergelijke analysemethode of inrichting, alsmede een dergelijke database.
JP5463539B2 (ja) * 2008-10-31 2014-04-09 国立大学法人東京工業大学 導電性の液体中における電極の電流測定方法及び電流測定装置
JP5378935B2 (ja) * 2009-09-30 2013-12-25 株式会社日立製作所 解析装置、フランジ形状の評価方法
JP6861610B2 (ja) 2017-11-07 2021-04-21 株式会社荏原製作所 めっき解析方法、めっき解析システム、及びめっき解析のためのコンピュータプログラム
EP3944121A4 (en) * 2019-03-19 2022-06-01 GS Yuasa International Ltd. METHOD, DEVICE AND SIMULATION PROGRAM
JP7358251B2 (ja) 2020-01-17 2023-10-10 株式会社荏原製作所 めっき支援システム、めっき支援装置、めっき支援プログラムおよびめっき実施条件決定方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2605669C3 (de) * 1976-02-13 1982-11-18 E.D. Rode KG, 2000 Hamburg Verfahren und Anlage zur Regelung der kathodischen Stromdichte in galvanischen Bädern
US6074544A (en) * 1998-07-22 2000-06-13 Novellus Systems, Inc. Method of electroplating semiconductor wafer using variable currents and mass transfer to obtain uniform plated layer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103849922A (zh) * 2013-12-24 2014-06-11 三星高新电机(天津)有限公司 基于cae分析的旋转电镀阴极电流密度分布的评价方法
CN117144436A (zh) * 2023-10-31 2023-12-01 南通赛可特电子有限公司 提升镀铜均匀性的镀铜工艺优化方法及装置
CN117144436B (zh) * 2023-10-31 2024-01-26 南通赛可特电子有限公司 提升镀铜均匀性的镀铜工艺优化方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6542784B1 (en) 2003-04-01
EP1113094A2 (en) 2001-07-04
JP4282186B2 (ja) 2009-06-17
JP2001152397A (ja) 2001-06-05
KR20010051787A (ko) 2001-06-25
EP1113094A3 (en) 2004-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW574435B (en) Plating analysis method
Gamburg et al. Theory and practice of metal electrodeposition
CN102459717B (zh) 用于电镀的方法及设备
TWI753215B (zh) 鍍覆解析方法、鍍覆解析系統及鍍覆解析用的電腦程式
CN107490612A (zh) 具有减少的测量伪差的参比电极实施方案
Cao et al. Effects of pulse reverse electroforming parameters on the thickness uniformity of electroformed copper foil
Yang et al. Multi-scale modeling of direct copper plating on resistive non-copper substrates
US6802950B2 (en) Apparatus and method for controlling plating uniformity
Torabinejad et al. The hydrophobicity of Ni–Fe alloy electrodeposits obtained at different current densities
Palli et al. Theoretical and experimental study of copper electrodeposition in a modified hull cell
TWI670491B (zh) 電化學製程裝置以及電化學製程裝置的操作方法
TWI691620B (zh) 鍍覆裝置以及鍍覆系統
Paul Nanomaterials synthesis by electrodeposition techniques for high-energetic electrodes in fuel cell
Graf et al. Surface influences on the electrodiffusive behavior in mesoporous templates
CN107955958A (zh) 晶圆的金属电镀装置
Solovjev et al. Reduction of nonuniformity in the thickness of a galvanic coating using disableable anode sections under current reversal conditions
CN110088362B (zh) 镀覆装置
Kruglikov et al. Role of macro-and microdistribution in the formation of metal and alloy layers in the production of printed circuits and other components of electronic devices
Menon et al. Simulation techniques for predicting current and voltage distribution across electrode surface and electrolyte
JPH034158A (ja) プリント回路基板の製造における電気化学的反応プロセスの試験装置及びプリント回路基板の電着方法
Tan Studying non-uniform electrodeposition using the wire beam electrode method
Hernandez et al. Boundary element method applied to electroforming process
Dinan Metrology errors in the use of insulating dots for plated thickness measurements
Im et al. Surface Morphology Evolution of Cu Thin Films Electrodeposited Directly on Ti Diffusion Barrier in Citric Acid
Chivilikhin et al. Current distribution on a resistive wafer under copper deposition kinetics

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees