TW548698B - Wafer drying apparatus - Google Patents

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Chang-Ro Yoon
Pyeng-Jae Park
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Description

548698 9 6 2 2 pif . doc/008 Λ7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(丨) 本發明是有關於一種製造半導體元件中晶圓淸洗製 程的裝置,且特別是有關於一種淸洗製程中的一種晶圓乾 燥裝置。 當半導體元件的尺寸持續的微小化,相對地,晶圓 的淸洗技術也變得多樣化,且步驟顯著增加。特別是對於 具有細微結構(fine structure)的半導體元件製程,微粒附著 於乾淨的晶圓上,靜電,水紋及線型微粒會明顯影響後續 製程。因此,迫切需要的就是一種晶圓乾燥方法。 習知曾經有人提議使用一旋轉乾燥機及一 IPA氣體 乾燥機。在進行晶圓乾燥時,旋轉乾燥機係利用離心力; 而IPA氣體乾燥機則是利用一低蒸汽壓的異丙醇(isopropyl alcohol,IPA)進行乾燥。然而,這些乾燥機並無法完全去 除在晶圓表面或晶圓圖案間的水紋。Marangoni乾燥機一 直被廣泛的使用,以解決此問題。Marangoni乾燥機係利 用IPA與水之間的表面張力差異進行乾燥。 利用Marangoni效應的乾燥製程將簡述如下: 當晶圓以去離子水(de-ionized water,DIW)沖洗後, 異丙醇氣體注入沖洗槽上方的內部空間,而去離子水慢慢 被抽離。因此,水分將由晶圓表面排除。當去離子水完全 排乾,高溫的氮氣被注入以汽化殘留於晶圓表面的去離子 水。很不幸地,汽化的去離子水,及包含有微粒的去離子 水殘留無法完全排出。由於上述方法會造成沖洗槽中不規 則的流體流動(紊流turbulence)並伴隨著氮氣,以致晶圓 表面無法均勻的乾燥,且水分殘留在與晶圓導引器接觸的 4 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 548698 9622pif.doc/008 五、發明說明(1) 部分。另外,由於Marangoni乾燥機無法根本地防止氧在 晶圓上產生反應,所以其不能抑制氧化層的生成。 本發明的目的之一在提出一種晶圓乾燥裝置,在晶 0車乙燥的製f壬中’可以根本地防止氧與晶圓表面反應,以 抑制氧化層的生成。 本發明的另一目的係提供一種晶圓乾燥裝置,以改 善晶圓乾燥效率。 本發明的再一目的係提供一種晶圓乾燥裝置,可抑 制處理槽中的紊流。 爲達上述目的,本發明提出一種半導體基底的乾燥 裝置,其中用來乾燥的氣體自處理槽的上部很平順地流向 下部,且平順的排放,以改善晶圓乾燥的效能。此晶圓乾 燥裝置包括一噴嘴埠,用以噴入一乾燥氣體至處理槽中, 以去除晶圓上殘留的水;減壓裝置,用以將處理槽的內部 減壓;以及一排出管,噴入的乾燥氣體,及包含被乾燥的 氣體乾燥之氣體殘留物係藉此排出。排出管與一抽離管相 通,抽離管用以將充滿於處理槽的處理溶液抽離。抽離管 包括第一抽離管,用以抽離處理溶液及第二抽離管,用來 以慢於第一抽離管的速度抽離處理溶液。另一排出管連接 至上述排出管,並配置於蓋子上。 晶圓乾燥裝置還包括一密封構件,用以密封處理槽 與蓋子。密封構件可以是一 〇型環或一襯墊。 根據本發明的另一觀點,一種半導體基底乾燥裝置 包括一真空室具有一處理槽,一液體充滿其中及一蓋子配 5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公餐) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 548698 9622pif.doc/008 五、發明說明(1 ) 置於處理槽上;一氣體分配器,自處理槽的上部噴灑氣體, 以乾燥基底;一液體流系統,用以輸送一液體流進入處理 槽,以淸洗基底,並自處理槽抽離液體;減壓裝置,用以 排出真空室中的空氣,及用以排放供應至真空室的氣體之 裝置。 氣體分配器包括第一噴嘴及第二噴嘴,皆配置於蓋 子上。減壓裝置包括一排氣埠形成於蓋子上,一第一排 氣管連接排氣埠,及一開關閥用以關閉/開啓第一排氣管。 液態流體系統控制液體流動及抽離,並搭配氣體分配器以 達到Marangoni效應。本裝置還包括將輸送至真空室之氣 體強力抽離的裝置。此強力抽離裝置包括一第二排氣管連 接至抽離管,及一開關閥用以關閉/開啓第二排氣管。 爲讓本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易 懂,下文特舉一較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下: 圖式之簡單說明: 第1圖所繪示爲依照本發明一較佳實施例的一種晶 圓乾燥裝置剖面圖。 第2圖至第6圖所繪示爲依照本發明之晶圓乾燥步 驟的剖面圖。 圖式之標示說明: 1〇〇 :晶圓乾燥裝置 110 :真空室 112 :處理槽 6 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ——------% (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 548698 9622pif.doc/008 Λ7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(γ ) 112a :底部 112b :側壁 113 :排出管 114 :蓋子 116 : Ο型環 120 :晶圓導引器 122a :中央支撐棒 122b :側邊支撐棒 130 :氣體分配器 132 :異丙醇噴嘴 134 :氮氣噴嘴 136a、136b :輸送管 142 :分配管 144 :噴射孔 152a :第一抽離管 152b :第二抽離管 154 :控制閥 162 :排氣埠 164 :第一排氣管 166 :開關閥 172 :第二排氣管 174 :開關閥 W :晶圓 a :空間 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 548698
五 經濟部智慧財產局員工消費合作社印 發明說明(ζ) 圭實施侈!L 一 本發明之較佳實施例及其優點配合所附圖示說明如 下,宜ψ"各圖示中相同編號代表相同的構件。 請參照第1圖,依照本發明所製成的晶圓乾燥裝置100 包括空室110,一氣體分配器130,一液態流體系統 及減壓裝置。 真空室110具有一處理槽112及一蓋子114。處理槽 112包括一底部ina,一側壁112b及一排出埠U3。處理 丰凿112提件一空間由底部112a及側壁112b包圍。排出埠 自處理槽112底部112a向外延伸。處理槽Π2的上部 具有一開口,其藉由蓋子114開啓或關閉。一 〇型環116 裝設於其間以密封舒114麵理槽112。 晶圓W於製程中係由一晶圓導引器i20(wafer guide) 支撐。圓導引器120包括至少三個支撑棒122&及122b ’ 其以垂直於晶圓w方式配置。舉例來說,晶圓導引器120 包括一中央支撐棒122a及二側邊支撐棒122b。晶圓導引 器120還可以連接^昇降器(未繪耶)’使晶圓^得以上升 或下降。 氣體分配器130裝設於蓋子114上’包括一異丙醇噴 嘴132及一氮氣噴嘴134。輸送管136a及136b分別連接 異丙醇噴嘴132及氮氣噴嘴134。無庸置疑地,輸送管136a 及l36b分別連接至異丙醇供應源(未繪示)及氮氣供應源 (未繪示)。用來乾燥晶圓的異丙醇及氮氣,透過異丙醇噴 嘴I32及氮氣噴嘴134均勻地供應至處理槽U2的空間。 8 ---*----I----· I--- - - 訂·-------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) A7 548698 9622pif.doc/008 37 五、發明說明(G ) 氣體分配器130從處理槽112上部,輸送異丙醇及一 鈍性氣體,比如高溫或經加熱之氮氣,至處理槽112。 液態流體系統具有輸送裝置,持續輸送一液體至處 理槽112及抽離裝置以自處理槽112抽離液體。液體的水 位及抽離係由輸送裝置及抽離裝置所控制。輸送裝置包括 一分配管I42,其沿著晶圓導引器120配置,並具有多個 噴射孔I44。分配管M2透過一液體輸送管,自一外部液 體供應源接收一液體。抽離裝置包括一第一抽離管l52a 及一第一抽離管152b及一控制閥154。第一及第二抽離管 152a,152b連接處理槽112的排出埠113。控制閥154分 別裝設於抽離管152a,152b。舉例來說,第二抽離管152b 的口徑較佳是小於第一抽離管152b的口徑,以便以較慢 於第一抽離管152a的速度緩慢抽離一溶液。淸洗製程中 液體的水位係由控制閥154來進行控制。淸除步驟是用來 淸洗及沖洗晶圓W。當進行淸除步驟中的淸洗晶圓w時, 液體可以是一化學溶液,以適於淸除比如殘留於晶圓w 的微粒或自然生成氧化層。當進行淸除步驟中沖洗晶圓w 時,液體可以爲去離子水,適於淸除晶圓W上殘留的化 學溶液。 減壓裝置包括一排氣ί阜162,一*第一排氣管164連接 排氣埠162及一開關閥166用以關閉/開啓第一排氣管 164。在輸送異丙醇前,減壓裝置對真空室11〇進行減壓, 以便排放其中的空氣(尤其是氧氣)。在沖洗晶圓w後,滯 留於處理槽112與蓋子114間之空間a的空氣,將透過排 9 }紙張尺度適用中_家標準$NS)A4規格⑽X 2^57 ------------!丨丨丨丨訂---------線i^w. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 548698 9622pif ^ doc/〇〇8 ___________ B7 五、發明說明(9 ) 氣璋162排出,以避免晶圓w與空氣中的氧氣反應。因 此’其可以抑制因晶圓表面氧化作用造成的水紋之生成。 晶圓乾燥裝置100更包括將供應至真空室110中的異 丙醇及氮氣強力抽離的裝置。強力抽離裝置具有一第二排 氣管172,連接至第一抽離管152a,以及一開關閥174, 用以開啓/關閉第二排氣管172。當處理槽U2中的溶液抽 離時’開關閥174關閉;而在溶液完全抽光或當氮氣輸送 時’開關閥174開啓。更明確而言,就是在溶液被完全抽 離,而氮氣經由設置於蓋子114的氮氣噴嘴134噴入時。 當真空排氣經由排出埠113進行時,在處理槽112中產生 一由上至下的流動。此由上至下的流動使得蒸汽,具有微 粒的殘留物及氮氣快速地排放,並經由排出埠113排至第 二排氣管172。 根據本發明的一種晶圓乾燥方法,請參照第2圖至 第6圖,並詳述如下。 晶圓W裝載於處理槽Π2中。去離子水經由分配管 142輸送至處理槽112內。去離子水透過供應裝置持續輸 送,並透過抽離裝置持續抽離,以進行晶圓W之沖洗(參 照第2圖)。在沖洗晶圓W後,真空室110進行減壓,以 排出其中的空氣(參照第3圖)。也就是,利用減壓裝置, 將包含去離子水的處理槽112及蓋子114間的空間a所滯 留的空氣排出。氮氣輸送至以排除空氣之空間a中(參照第 4圖)。在此情況中,氮氣的增壓及減壓係同時完成。在氮 氣充滿空間a後’異丙醇及氮氣輸送至處理槽112中去離 10 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公釐) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 548698 9622pif.d〇c/〇〇8 五、發明說明(§ ) 子水的上部。同時地,去離子水慢慢地經由第二抽離管152b 抽離(參照第5圖)。因此,去除殘留於晶圓W表面之去離 子水的乾燥製程已完成。更具體地來說,部分的異丙醇滲 透去離子水的表面,以降低其表面張力。更淸楚地說,在 乾燥製程中,當晶圓W上升或去離子水水位降低時,在 晶匱1 W與去離子水接觸的部分會形成一新月形的液體表 ® °在此情況下,當異丙醇滲透去離子水表面,接觸部分 的表面張力小於其他部分的表面張力。殘留於晶圓W表 面的液體’也就是去離子水會流向表面張力較高的部分。 因此’根據Marangoni效應,去離子水將從晶圓W表面幾 近最大可能地去除。無庸置疑地,甲醇或乙醇亦可以用以 取代異丙醇。當去離子水的水位低於晶圓W,第二抽離管 152b將關閉,而第一抽離管152a開啓,以迅速抽離殘留 於處理槽II2中的去離子水。第一抽離管〗52a抽離溶液 係利用重力的方法。當去離子水自處理槽112完全抽離時, 隨後進行之步驟爲最後晶圓乾燥步驟。請參照第5圖,最 後晶圓乾燥步驟係利用加熱之氮氣以去除晶圓表面殘留的 微粒狀去離子水。更具體來說,加熱之氮氣透過氮氣噴嘴 134輸送至處理槽112。用以乾燥晶圓的氮氣、骞丙醇及 3有微松煙霧之殘留物’透過處理槽112之排出ί阜113, 強力抽離至第二排氣管I72。在處理槽U2中產生一由上 至下的氣流5以至於殘留物,氮氣及異丙醇可以確實而快 速地透過排出埠113抽離至第二排氣管172。因此,此方 法可以防止處理槽11 2中產生紊流。也就是說,處理槽1 J 2 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ----------------- - - -訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 548698 9622pif.doc/008 五、發明說明(0 ) 中可以穩定維持一氣流。若處理槽112中產生比如渦流之 不穩定氣流,則藉由在晶圓表面噴射高溫氮氣,欲達成的 晶圓微粒乾燥效應,則很難達成。因此,在晶圓乾燥步驟 中,處理槽112中維持一穩定而快速抽離的氣流是十分重 要的。所以,在晶圓乾燥步驟中,氮氣及殘留物快速地抽 離至第一排出管172。另外,新的氮氣輸送至晶圓表面, 可以減少因殘留物造成的晶圓污染,並可以提高晶圓表面 水微粒去除效應。 雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上,然其並非 用以限定本發明,任何熟習此技藝者,在不脫離本發明之 精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本發明之 保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者爲準。 --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 548698 9622pif.doc/008 A8 R8 C8 D8 、 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 1. 一種晶圓乾燥裝置,具有一處理槽,一晶圓導引器 放置其中,及一蓋子,用以覆蓋該處理槽,該晶圓乾燥裝 置包括: 一噴嘴埠,用以噴射一乾燥氣體進入該處理槽以去 除殘留於一晶圓上之水分; 一減壓裝置,用以對該處理槽進行減壓;以及 一排氣管,該噴入之該乾燥氣體及包含被乾燥氣體 乾燥後之殘留氣體均藉此排出。 2. 如申請專利範圍第1項所述之晶圓乾燥裝置,其中 該排氣管與一抽離管通連,該抽離管用以抽離充滿於該處 理槽的一處理溶液。 3. 如申請專利範圍第2項所述之晶圓乾燥裝置,其中 該抽離管包括一第一抽離管,用以抽離該處理溶液,及一 第二抽離管,用以抽離該處理溶液,但較慢於該低一抽離 管,且其中該排氣管連接至該第一抽離管。 4. 如申請專利範圍第1項所述之晶圓乾燥裝置,其中 該排氣管配置於該蓋子上。 5. 如申請專利範圍第1項所述之晶圓乾燥裝置,更包 括一密封構件,用以密封該處理槽與該蓋子。 6. 如申請專利範圍第1項所述之晶圓乾燥裝置,其中 該密封構件係爲一 〇型環及一襯墊二者擇一。 7. —種半導體基底乾燥裝置,包括: 一真空室,具有一處理槽,一液體充滿其中,及一 蓋子配置於該處理槽上; 13 _____________—m (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) _____ί I 泉 ^· n n ϋ n βϋ Βϋ ϋ I n I I n i_i ϋ 1 n i_i 1_1 ϋ— l ϋ n n ϋ «ϋ i-ϋ .^1 · 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2】〇χ 297公S ) 548698 9622pif.doc/008 A8 R8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 一氣體分配器,用以自該處理槽的上部噴灑一氣體, 以乾燥該基底; 一液態流體系統,用以輸送一液態流體至該處理槽 以淸洗該基底,並用以自該處理槽抽離一液體;以及 複數個減壓裝置,用以排放該真空室中的空氣。 8. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,更包括複數個裝置,用以將輸送至該真空室的氣體抽 離。 9. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該氣體分配器包括一第一噴嘴及一第二噴嘴,配 置於該蓋子上。 10. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該些減壓裝置包括: 一排氣埠,形成於該蓋子上; 一第一排氣管,連接該排氣埠;以及 一開關閥,用以關閉/開啓該第一排氣管。 11. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該液態流體控制系統控制該液體流動及抽離,並 搭配該氣體分配器以達到Marangoni效應。 12. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該液態流體系統具有用來自該處理槽持續抽離該 液體的裝置,及用來持續輸送該液體至處理槽的裝置,以 控制該處理槽中該液體的水位及抽離。 13. 如申請專利範圍第12項所述之半導體基底乾燥裝 14 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) — — — — — — — — — — — I — I I I I I I I ,1^ — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 548698 9622pif.doc/008 A8 R8 C8 D8 六、申請專利範圍 置,其中用來持續抽離該液體的裝置包括一抽離管連接該 處理槽的該排出埠及一控制閥,配置於該抽離管,且該液 體的水位由該控制閥控制。 14. 如申請專利範圍第13項所述之半導體基底乾燥裝 置,更包括用來強力抽離輸送至該真空室之該氣體的裝 置,其中該強力抽離裝置包括; 一第二排氣管連接該抽離管;以及一開關閥,設置 於該第二排氣管,且當該液體抽離過程中,該開關閥關閉, 而在該液體完全被抽離後,該開關閥開啓。 15. 如申請專利範圍第14項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該抽離管包括一第一抽離管及一第二抽離管,而 該第二抽離管的口徑小於該第一抽離管的口徑,以致其抽 離該溶液的速度慢於該第一抽離管。 16. 如申請專利範圍第15項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該第二抽離管連接至該第一抽離管。 17. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,更包括一導引器,在該處理槽中,用以支撐該基底, 其中用來持續輸送該液體的裝置包括一分配管,其沿著該 導引器配置,並具有複數個噴射孔。 18. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,更包括一密封構件,密封於該處理槽與該蓋子之間, 其中該密封構件係爲一 〇型環及一襯墊二者擇一。 19. 如申請專利範圍第7項所述之半導體基底乾燥裝 置,其中該液體爲去離子水,且該氣體爲異丙醇及氮氣二 15 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 β---------_____________^___________ 548698 A8 R8 C8 9622pif.doc/008 ⑽ 六、申請專利範圍 者擇一。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 6 ί 礞 I I I I I I I I .1^ 1 — — —— — 1· I — — — — — — — — — I _________ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2】0 X 297公釐〉
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111312626A (zh) * 2020-02-27 2020-06-19 至微半导体(上海)有限公司 一种图案化晶圆干燥方法
CN114485074A (zh) * 2022-01-27 2022-05-13 上海至纯洁净系统科技股份有限公司 一种晶圆干燥装置及其干燥方法

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6392334B1 (en) * 1998-10-13 2002-05-21 Micron Technology, Inc. Flat panel display including capacitor for alignment of baseplate and faceplate
US20070079932A1 (en) * 2001-12-07 2007-04-12 Applied Materials, Inc. Directed purge for contact free drying of wafers
KR20030074949A (ko) * 2002-03-14 2003-09-22 홍상희 이소프로필 알콜 증기 건조 장치 및 건조 방법
US20040031167A1 (en) 2002-06-13 2004-02-19 Stein Nathan D. Single wafer method and apparatus for drying semiconductor substrates using an inert gas air-knife
KR100645042B1 (ko) * 2004-09-07 2006-11-10 삼성전자주식회사 반도체 기판 세정 장치
JP2006080420A (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Ses Co Ltd 基板処理法及び基板処理装置
US20060157095A1 (en) * 2005-01-19 2006-07-20 Pham Xuyen N Systems and methods for spinning semiconductor wafers
EP1909313A4 (en) 2005-06-22 2011-11-09 Tokyo Electron Ltd SUBSTRATE PROCESSING DEVICE AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD
KR100631928B1 (ko) * 2005-12-02 2006-10-04 삼성전자주식회사 웨이퍼 세정장치에서의 웨이퍼 가이드
US20070157951A1 (en) * 2006-01-06 2007-07-12 Micron Technology, Inc. Systems and methods for processing microfeature workpieces
JP5222499B2 (ja) * 2007-07-12 2013-06-26 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
US20110191122A1 (en) * 2008-09-15 2011-08-04 ZocDoc, Inc. Method and apparatus for managing physician referrals
JP4846057B1 (ja) * 2011-03-17 2011-12-28 ジャパン・フィールド株式会社 被洗浄物の洗浄装置
CN102901086B (zh) * 2012-10-17 2014-04-23 亿恒节能科技江苏有限公司 一种内干燥蒸汽三效换热系统
CN102889579B (zh) * 2012-10-17 2014-04-23 亿恒节能科技江苏有限公司 一种内干燥蒸汽闪蒸两效换热系统
CN102889576B (zh) * 2012-10-17 2014-04-23 亿恒节能科技江苏有限公司 一种低湿度蒸汽两效换热系统
CN102889577B (zh) * 2012-10-17 2014-05-14 亿恒节能科技江苏有限公司 一种外干燥蒸汽闪蒸两效换热系统
JP6430784B2 (ja) 2014-10-31 2018-11-28 東京エレクトロン株式会社 基板液処理装置
JP7203545B2 (ja) * 2018-09-21 2023-01-13 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
CN112588692A (zh) * 2020-12-23 2021-04-02 绍兴同芯成集成电路有限公司 一种高疏水性超薄晶圆清洗装置
JP2023020269A (ja) * 2021-07-30 2023-02-09 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3347814B2 (ja) * 1993-05-17 2002-11-20 大日本スクリーン製造株式会社 基板の洗浄・乾燥処理方法並びにその処理装置
KR100189779B1 (ko) * 1995-12-04 1999-06-01 윤종용 웨이퍼의 건조장치
KR980012044A (ko) * 1996-03-01 1998-04-30 히가시 데츠로 기판건조장치 및 기판건조방법
KR200160545Y1 (ko) * 1997-01-23 1999-11-15 김재형 알콜 증기건조기
US6164297A (en) * 1997-06-13 2000-12-26 Tokyo Electron Limited Cleaning and drying apparatus for objects to be processed
US5913981A (en) * 1998-03-05 1999-06-22 Micron Technology, Inc. Method of rinsing and drying semiconductor wafers in a chamber with a moveable side wall
JPH11257851A (ja) * 1998-03-10 1999-09-24 Tokyo Electron Ltd 乾燥装置及び乾燥方法
KR19990085621A (ko) * 1998-05-20 1999-12-15 윤종용 반도체 디바이스 제조 방법
KR100309580B1 (ko) * 1998-06-17 2001-12-17 한봉섭 웨이퍼건조장치
KR20000032502A (ko) * 1998-11-14 2000-06-15 남성호 탈기수를 이용한 웨이퍼 건조장치
US6128830A (en) * 1999-05-15 2000-10-10 Dean Bettcher Apparatus and method for drying solid articles
JP3181895B2 (ja) * 1999-06-23 2001-07-03 株式会社半導体先端テクノロジーズ 半導体用キャリアの洗浄装置および洗浄方法
JP3448613B2 (ja) * 1999-06-29 2003-09-22 オメガセミコン電子株式会社 乾燥装置
JP2003174007A (ja) * 2001-12-04 2003-06-20 Supurauto:Kk 基板の真空乾燥方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111312626A (zh) * 2020-02-27 2020-06-19 至微半导体(上海)有限公司 一种图案化晶圆干燥方法
CN111312626B (zh) * 2020-02-27 2022-03-18 至微半导体(上海)有限公司 一种图案化晶圆干燥方法
CN114485074A (zh) * 2022-01-27 2022-05-13 上海至纯洁净系统科技股份有限公司 一种晶圆干燥装置及其干燥方法
CN114485074B (zh) * 2022-01-27 2023-09-29 上海至纯洁净系统科技股份有限公司 一种晶圆干燥装置及其干燥方法

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