TW527253B - Soldering flux, soldering paste and soldering process - Google Patents

Soldering flux, soldering paste and soldering process Download PDF

Info

Publication number
TW527253B
TW527253B TW089120637A TW89120637A TW527253B TW 527253 B TW527253 B TW 527253B TW 089120637 A TW089120637 A TW 089120637A TW 89120637 A TW89120637 A TW 89120637A TW 527253 B TW527253 B TW 527253B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
solvent
soldering
electronic circuit
substrate
circuit module
Prior art date
Application number
TW089120637A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Takaya
Hisayuki Abe
Original Assignee
Tdk Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2000083001A external-priority patent/JP2001170798A/ja
Priority claimed from JP2000218046A external-priority patent/JP3849842B2/ja
Application filed by Tdk Corp filed Critical Tdk Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW527253B publication Critical patent/TW527253B/zh

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/36Selection of non-metallic compositions, e.g. coatings, fluxes; Selection of soldering or welding materials, conjoint with selection of non-metallic compositions, both selections being of interest
    • B23K35/3612Selection of non-metallic compositions, e.g. coatings, fluxes; Selection of soldering or welding materials, conjoint with selection of non-metallic compositions, both selections being of interest with organic compounds as principal constituents
    • B23K35/3618Carboxylic acids or salts
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/36Selection of non-metallic compositions, e.g. coatings, fluxes; Selection of soldering or welding materials, conjoint with selection of non-metallic compositions, both selections being of interest
    • B23K35/3612Selection of non-metallic compositions, e.g. coatings, fluxes; Selection of soldering or welding materials, conjoint with selection of non-metallic compositions, both selections being of interest with organic compounds as principal constituents
    • B23K35/3613Polymers, e.g. resins
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
    • H05K3/305Affixing by adhesive
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3489Composition of fluxes; Methods of application thereof; Other methods of activating the contact surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/02Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape
    • B23K35/0222Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape for use in soldering, brazing
    • B23K35/0244Powders, particles or spheres; Preforms made therefrom
    • B23K35/025Pastes, creams, slurries
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10954Other details of electrical connections
    • H05K2201/10977Encapsulated connections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

527253 A7 — —___Β7______ 五、發明說明(^ ) [技術領域] 本發明有關於焊接用助溶劑,焊接糊,電子零件裝置 ,電子電路模組,電子電路裝置,和焊接方法。 [背景技術] 例如,將零件焊接到零件裝載基板時,習知之方式是 使用助溶劑。助溶劑之主要功能是用來除去被設在零件 裝載基板之金屬導體和零件之焊接用金屬之表面之氧化 皮膜,藉以提高焊劑之濕潤性。最習知之助溶劑是以松 香作主要成分者。松香包含有松香音酸,左旋海松酸等之羧 酸(c a r b ο X y 1 i c a c i d )利用殘基動作用來除去被焊接之 金屬表面之氧化膜。 爲著達成提高印刷效率和固定強度之目的,所以通常 除了上述之松香外,調配有溶劑,可塑劑或觸變劑等之 各種添加物。例如在日本專利案特開平1 1 - 1 2 1 9 1 5號公 報揭示有利用乙醇之添加用來調整黏性之型式之助溶 劑。 另外,習知之另一種助溶劑是米耳規格所規定之RMA (無鹵素)系助溶劑。在該種助溶劑之情況,於逆流後, 省略助溶劑等之洗淨工程。 上述之助溶劑在焊接後,當被焊接之零件之接著無關 的,利用焊接金屬之熔融接合用來達成焊接接合。因此 ,被焊接之金屬間之接合強度與焊接接合面積相關。 但是,在各種電子機器中,隨著高密度組裝之進步, 零件被小型化,零件之配置間隔被狹間距化,因此,焊 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) C請先閱讀背面之注音?事項填寫本頁} .裝 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(之) ί妾接合面積急速狹小化的進展,即使在現階段要確保充 分之焊接強度亦變爲困難。另外,組裝之高密度化,零 件之小型化和零件之配置間隔之狹間距化有更進一步進 展之傾向,在只利用焊接接合面積用以確保焊接接合強 度之習知裝置中,要因應其技術動向會有越來越困難之 傾向。 一般,用以確保焊接接合強度所採用之手段是形成焊 接之圓角部,用來擴大零件之端子和零件裝載基板上之 導體(陸塊(1 and )或焊接突塊(b ump )之焊接接合面積。 但是,在高密度組裝時因爲會造成圓角部之接合面積變 小,以不容易採用以圓角部增大接合強度之手段。 另外,例如在各種電子電路模組中,使用兩面組裝型 之零件裝載基板,使用高溫將零件焊接(通過逆流爐)在 零件裝載基板之一面上之後,在另外一面裝載零件,再 度的通過逆流爐。因此,當零件裝載基板之另外一面之 零件之焊接時,需要使用具有融點比該一面之高溫焊劑 低之溫焊接劑進行焊接。習知技術中一般可以利用Pb 之含量用來調整焊劑之融點。 但是,從地球環境保護之立場來看,要求使用未含有 Pb之焊劑(無Pb焊劑),因此此種焊劑成分盛行的開發。 但是,在無Pb焊劑中,能夠與習知之高溫焊劑匹配之 高溫融點之焊劑成分現在尙未實用化。其理由是無Pb 焊劑本身之融點爲22(TC左右,當與共晶焊劑比較時, 因爲上升大約40°C,尙未找到Pb以外之代替成分。因 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ------------裝--- (請先閱讀背面之注意事填寫本頁) 訂: _必· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 功253 A7 B7 i、發明說明(々) 此,在兩面組裝型之零件裝載基板,兩面所使用之焊劑 之融點差不足,當將零件組裝在零件裝載基板上時,會 產生零件浮動或脫落等之問題。 另外,在使用有半導體晶片之電子電路模組中,附力口 作業是在將半導體晶片焊接在晶片裝載基板之後,使密 封劑流入接合界面,利用密封劑用來接著和固定半導體 晶片和晶片裝載基板。 但是,當在密封劑之注入產生有助溶劑之殘渣殘留時 ,會由於助溶劑使密封劑不能充分的到達半導體晶片和 基板之間之界面,不能獲得充分之接著力。因此,在密 封劑之注入前,附加洗淨助溶劑之工程。助溶劑之洗淨 通常是使用揮發性有機溶劑,進行數次。但是,從環境 保護等之目的來看,需要限制揮發性有機溶劑之使用, 助溶劑之洗淨工程成本和環境保護之兩方面來看,變成 爲負擔很大之工程。 另外,將依上述方式獲得之電子電路模組裝載在母基 板藉以構成電子電路裝置,在此種情況時,晶片裝載基 板使用陶瓷,母基板使用有機樹脂基板,在此種組合, 當在裝載後進行熱衝擊試驗等之時,因爲陶瓷基板和有 機樹脂基板之熱膨脹率不同,所以收縮應力集中在焊接 接合部,容易發生破裂,接合壽命變短。因此,爲著提 高接合強度進行密封劑之注入,但是對母基板全體要附 加助溶劑洗淨工程和密封劑注入工程,會造成相當大之 成本上升,實際上爲不可行。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注咅?事項^$寫本頁) 訂: # 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(4 ) [發明之揭示] 本發明之目的是提供焊接用助溶劑’焊接"糊及焊丨安方 法,對於組裝之高密度化,零件化之小型化和零件配置 間隔之狹間距化等,可以獲得具有充分之接合強度者。 本發明之另一目的是提供焊接用助溶劑,焊接糊及焊 接方法,在兩面組裝型之零件裝載基板中,不會有兩面 所使用之焊劑之融點差不足,可以確實的防止零件之浮 動或脫落等之問題。 本發明之更另一'目的是提供不需要助i谷劑洗淨工程之 製造成本低廉之電子零件裝置,電子電路模組和電子電 路裝置。 本發明之更另一目的是供可以使焊接接壽命比習知者 顯著延長之高可靠度之電子零件裝置,電子電路模組和 電子電路裝置。 用以解決上述問題之本發明之焊接用助溶劑包含有接 著性樹脂和硬化劑。 本發明之助溶劑因爲包含有接著性樹脂和硬化劑,所 以在焊接後,可以使接著性樹脂具有作爲接著劑之功能 用來固定零件裝載基板和零件。因此,對於衝擊或熱應 力,可以防止零件之剝離,脫落,可以提高焊接接合之 可靠度。此點與焊接係未具有接著功能之習知之松香系 助溶劑顯著的不同。 另外,經由使用本發明之助溶劑,即使沒有圓角部亦 可以確保充分之固定強度。因此,在形成於零件裝載基 -6 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項 冷填寫本頁) :裝 . 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製 527253
五、發明說明(X—) 板上之零件連接用導體(陸塊:1 and ),因爲不需要設置 用以產生圓角部之區域,所以可以提高組裝密度。 在本發明之助溶劑中,接著性樹脂可以從多種之樹脂 材料中,依照溫度選擇具有高接著力之樹脂,以其作爲 接著性樹脂。因此,在兩面組裝型之零件裝載基板之第 1面使用本發明之助溶劑。在將零件焊接後,在零件裝 載基板之第2面使用通常之共晶焊劑,即使通過逆流爐 之情況時,裝載在第1面之零件不會發生移位,翹起現 象(零件上立現象)或脫落等之問題。因此,在第1面和 第2面雙方之焊接處理時,可以使用本發明助溶劑。 本發明之助溶劑可以採用液狀或糊狀之形態。此種助 溶劑利用印刷,調合器塗布,噴霧,剝塗等方法可以很 容易塗布在零件裝載基板等。 在本發明之助溶劑中,接著性樹脂最好使用熱硬化性 樹脂。熱硬化性樹脂之具體例可以從環氧樹脂,酚醛樹 脂,聚醯亞胺樹脂,矽樹脂和丙烯酸樹脂中選擇至少1 種。樹脂材料之種類和調配量可以依照接著溫度帶和作 (請先閱讀背面之注意事項 _填寫本頁) .線·· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 羧作作 劑化 含化劑 變硬 包硬溶 觸和 好有助 和度 最具之 劑溫 。脂膜 塑化 可樹化 可硬 即性氧 ,之 化化之 劑脂 硬硬面 溶樹 。脂熱表 有性 擇樹對屬 含著 選性只金 包接 行著不接 以整 進接劑焊 可調 等使化去 亦來 度夠硬除 劑用 硬能之有 溶加 膜要酸具 助添 皮只羧兼 之之 之劑含且 明劑 標化包而 發溶 目硬。 ,。本 。 爲 酸用用 等 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(f ) 速度,和依照塗布形態調整黏度。可塑劑和觸變劑之添 加亦依照塗布形態調整黏度。配合使用目的選擇溶劑, 可塑劑和觸變劑之調配量。 本發明之助溶劑亦可以成爲封入有接著性樹脂,具還 原作用之有機酸,羧酸,溶劑或硬化劑之微顆粒之形 態。 另外,本發明之助溶劑亦可以與焊接粉末混合,構成 焊接糊的使用。焊接粉末可以選自Sn,Cu,Ag,Sb,Pb ,I n,Zn和B i。要獲得無Pb之焊接糊之情況時,焊接 粉末可以以Pb以外之焊接粉末構成。 本發明更揭示使用有上述之助溶劑之電子零件裝置, 電子電路模組,和電子電路裝置。首先,本發明之電子 零件裝置包含有至少爲1個之電子零件,零件裝載基板, 和焊接用助溶劑。該電子零件被焊接在零件裝載基板之 上。該焊接用助溶劑包含有接著性樹脂和硬化劑,介於 該電子零件和該零件裝載基板之間,用來使該兩者接 著。 介於該電子零件和該零件裝載基板之間之焊接用助溶 劑含有接著性樹脂和硬化劑,具有作爲接著之功能。該 焊接用助溶劑不需要洗淨,可以直接作爲接著焊接用助 溶劑使用。因此,不需要助溶劑洗淨工程,可以獲得製 造成本低廉之電子零件裝置。另外,焊接用助溶劑含有 接著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲接著劑之功能,所 以可以獲得焊接接合壽命比習知者顯著延長之高可靠度 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項#填寫本頁) •I:、» 527253 A7 —____B7__ 五、發明說明(7 ) 之電子零件裝置。 其次,本發明之電子電路模組包含半導體晶片,晶片 裝載基板,和焊接用助溶劑。該半導體晶片包含至少爲 1個半導體元件,被焊接在晶片裝載基板之上。該焊接 用助溶劑含有接著性樹脂和硬化劑,介於該半導體晶片 和該晶片裝載基板之間,用來使該兩者接著。 介於該半導體晶片和該晶片裝載基板之間之焊接用助 溶劑含有接著性樹脂和硬化劑,具有作爲接著劑之功能 。該焊接用助溶劑不需要洗淨,可以直接作爲接著焊接 用助溶劑使用。因此,需要助溶劑洗淨工程,可以獲得 製造低廉之電子電路模組。另外,焊接用助溶劑含有接 著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲接著劑之功能,所以 可以獲得焊接接合壽命比習知者顯著延長之高可靠度之 電子電路模組。 另外,本發明之電子電路裝置包含有電子電路模組, 母基板,和焊接用助溶劑。該電子電路裝置被焊接在該 母基板上。焊接用助溶劑含有接著性樹脂和硬化劑,介 於該半導體晶片和該母基板之間,用來使該兩者接著。 該焊接用助溶劑不需要洗淨,可以直接作爲接著焊接用 助溶劑使用。因此,不需要助溶劑洗淨工程,可以獲得 製造低廉之電子電路裝置。另外,焊接用助溶劑含有接 著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲接著劑之功能,所以 可以獲得焊接接合壽命比習知者顯著延長之筒可靠度之 電子電路裝置。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事
寫裝 本衣 頁 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(y 本發明更揭示使用有上述之助溶劑和焊接糊之焊接方 法。 [圖面之簡單說明] 第1圖是部份剖面圖 劑之晶片零件之焊接方 第2圖是部份剖面圖 板之晶片零件之橫壓強 第3圖表示第2圖所 第4圖是部份剖面圖 溶劑之焊接糊時之零件 焊接到零件裝載基板之 第5圖是部份剖面圖 系助溶劑時之零件裝載 到零件裝載基板之工程 第6圖表示使用第4 第5圖所示之習知之焊 果。 第7圖是部份剖面圖 溶劑之焊接糊之焊接方 第8圖表示利用第7 片零件焊接在零件裝載 示沿著第7圖之8 - 8線 第9圖是部份剖面圖 系助溶劑之焊接糊之焊 ,用來表示使用有本發明之助溶 法。 ,用來表示被焊接在零件裝載基 度試驗方法。 示之零件橫壓強度試驗之結果。 ,用來表示使用含有本發明之助 裝載基板之細部,和將晶片零件 工程。 ,用來表示使用含有習知之松香 基板之細部,和將晶片零件焊接 〇 圖所示之本發明之焊接方法,和 接方法之零件橫壓強度試驗之結 ,用來表示使用含有本發明之助 法。 圖所示本發明之焊接方法,將晶 / 基板上之情況時之外觀,亦即表 之部份剖面圖。 ,用來表示使用含有習知之松香 接方法。 -10 - 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事
貪 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
i、發明說明(?) 第1 0圖#示利用第9圖所示之習知之焊接方法,將晶 片零件焊零件裝載基板上之情況時之外觀,亦即表 示沿著第《層之1 〇 -1 〇線之部份剖面圖。 第1 1圖參示使用本發明之焊接糊焊接晶片零件之情 況時,和用含有習知之松香系助溶劑之焊接糊焊接晶 片零件之情況時之逆流溫度和零件橫壓強度之關係。 第1 2圖是本發明之電子電路模組之正面部份剖面圖。 第1 3圖用來說明第1 2圖所示之電子電路模組之焊接 方法。 第14圖是正面部份剖面圖,用來表示本發明之電子 電路模組之另一實例。 第1 5圖用來說明第1 4圖所示之電子電路模組之焊接 方法。 第1 6圖之圖形用來表示RDC測定結果。 第17圖是本發明之電子電路裝置之正面部份剖面圖。 第1 8圖用來說明第1 7圖所示之電子電路裝置之焊接 方法。 第19圖是正面部份剖面圖,用來表示本發明之電子 電路裝置之另一實例。 第20圖用來說明第1 9圖所示之電子電路裝置之焊接 方法。 第2 1圖之圖形用來表示RDC測定結果。 第2 2圖是正面部份剖面圖,用來表示將電子電路模 組焊接到母基板之工程。 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項,填寫本頁) :裝 . · 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(κ) 第23圖是正面部份剖面圖,用來表示第22圖所示之 工程之下一個工程。 (請先閱讀背面之注意事項『填寫本頁) 第24圖是正面部份剖面圖,用來表示第23圖所示之 工程之下一個工程。 第25圖是正面部份剖面圖,用來表示第24圖所示之 工程之下一個工程。 第2 6圖是正面部份剖面圖,用來表示從母基板將電 子電路模組拆下之工程。 第27圖是正面部份剖面圖,用來表示第26圖所示之 工程之下一個工程。 第28圖表示使用樣本21,22之焊接糊用以焊接電容 器時之逆流溫度和零件橫壓強度之關係。 第29圖表示使用樣本50〜54之焊接糊用以焊接電容 器時之逆流溫度和零件橫壓強度之關係。 [實施本發明之最佳實施例] 1 .助溶劑,焊接糊,及該等對電子零件裝置之應用 實施例1 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 使用雙酚Α作爲熱硬化性樹脂,硬化劑使用羧酸之無 水物。熱硬化性樹脂和硬化劑之調配比爲重量比1 : 1。 另外,爲著確保黏性,所以調配少量之溶劑和觸劑。 將以上述成分調製成之助溶劑3塗布在預先施加有焊 接突塊2卜2 2之零件裝載基板1 (參照第1 ( a )圖)之上(參 照第1 ( b )圖。其次,如i (c)圖所示,裝載長度1 m m,幅 度0 . 5mm之晶片狀之電子零件4。電子零件4在與基體 -12 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 五、 發明說明( 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 40之兩端具有端部電極41、42,被配置在零件裝載基板 1上,使端部電極4 1、4 2成爲位於突塊2 1、2 2上。裝 載有電子零件4之零件裝載基板1通過逆流爐用來將設 在電子零件4之基體40之兩端之端部電極4 1、42焊接 在焊接突塊。利用此種方式用來獲得電子零件裝置。助 溶劑3充塡在電子零件4和零件裝載基板1之間所產生 之間隔,具有作爲接著性樹脂用助溶劑之功能。所獲得 之電子零件裝置如第2圖所示,以橫方向F1按壓電子零 件4用來測定零件之橫壓強度。 比較例1 使用習知之松香系助溶劑作爲比較之用,依照第1圖 之方式裝載零件,進行焊接處理,其次依照第2圖所示 之試驗方法,測定零件橫壓強度。 第3圖表示橫壓強度試驗結果。如第3圖所示,習知 之使用松香助溶劑之比較例1之橫壓強度平均値爲800 g 程度,但是在使用本發明助溶劑之實施例1中,可以獲 得平均値1 600g程度之橫壓強度。 充塡在電子零件4和零件裝載基板1之間所產生之間 隔之助溶劑,含有接著性樹脂和硬化劑,具有作爲接著 性接著劑之功能。該助溶劑(焊接用助溶劑)3不需要洗 淨,可以直接使用作爲接著焊接用助溶劑。因此,不需 要助溶劑洗淨工程,可以獲得製造成本低廉之電子零件 裝置。而且,以助溶劑3構成之焊接用助溶劑包含有接 著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲焊接用助溶劑之功能 -13 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項¾填寫本頁) rl裝 ·
527253 A7 B7 i、發明說明() 所以可以獲得焊接接合壽命比習知者顯著延長之高可靠 度之電子零件裝置。 實施例2 使實施例1所調製之助溶劑和焊接粉末混合,用來調 製成焊接糊。助溶劑對焊接粉末之調配量爲1 Ow t %。使 用該焊接糊用來將晶片零件焊接在零件裝載基板上。第 4 ( a )〜(c )圖是部份剖面圖,用來表示零件裝載基板之 細部,和將晶片零件焊接到零件裝載基板之工程。零件 裝載基板1具有由Cu膜51(52),Ni膜61(62),和Au 膜7 1 ( 7 2 )順序積層而形成之2個陸塊。 在上述之零件裝載基板1之陸塊之上,塗布在發明上 焊接糊81(82 )(參照第4(a)圖)。在焊接糊81 (82)之塗 布時,使用厚度1 00 // m之金屬遮罩印刷。金屬遮罩之開 口尺寸爲0.5mmx 0.3mm,與裝載電子零件4之陸塊尺寸 相同。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 然後,在焊接糊81(82)之上裝載長度lmm,幅度 0 . 5 mm之電子零件4 (參照第4 ( b )圖),經由逆流爐將電 子零件4焊接在零件裝載基板1上(參照第4 ( c )圖)。利 用此種方式獲得本發明之電子零件裝置。 然後,依照第2圖所示之方法測定橫壓強度。在第4 ( c ) 圖中,參考符號3表示焊接糊81 (82)所含之本發明之助 溶劑,端部電極4 1、42之外側形成圓角狀。 比較例2 使用包含有習知之松香系助溶劑之焊接糊作爲比較之 -14 - ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 B7___ 五、發明說明(θ ) 用,將晶片零件焊接在零件裝載基板。松香系助溶劑對 焊接粉末之調配量爲1 〇 w t %。 第5(a)〜(c)圖是部份剖面圖,用來表示零件裝載基 板之細部,和將晶片零件焊接到零件裝載基板之工程。 如圖所示,零件裝載基板1具有由Cll膜51(52),Νι膜 61 (62)和Au膜71 (72)順序積層而成之2個陸塊。在該 零件裝載基板1之陸塊之上,塗布含有松香系助溶劑之 焊接糊91(92)(參照第5(a)圖)。 然後,在含有松香系助溶劑之焊接糊9 1 ( 9 2 )之上, 裝載長度1mm,幅度〇.5mm之電子零件4(參照第5(b) 圖),經由逆流爐將電子零件4焊接在零件裝載基板1 上(參照第5 ( c )圖)。然後,依照第2圖所示之方法,測 定零件橫壓強度。 第6圖表示實施例2和比較例2之零件橫壓強度試驗 之結果。如圖所示’,比較例2之橫壓強度之平均値爲 6〇〇g程度,在實施例2中可以獲得平均値1 500g程度之 強度。 實施例3 使實施例1所調製之助溶劑和焊接粉末混合,用來調 製之焊接糊。助溶劑對焊接粉之調配量增加至20〜45 w t % 〇 使用g亥焊接糊,依照第7圖,將電子零件4裝載在該 零件裝載基板1,將其焊接。參照第7圖的具體說明時, 零件裝載基板1具有2個陸塊,經由順序的積層c u膜 -15 - 巧?長1 度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) " (請先閱讀背面之注意事項 本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明) 51(52),Νι 膜 61(62)和 Au 膜 71(72)而形成(參照第 7(a) 圖)。 在上述之零件裝載基板1之陸塊之上,塗布本發明之 焊接糊81(82)(參照第7(a)圖)。當焊接糊81(82)之塗 布時,使用厚度100//m之金屬遮罩進行印刷。金屬遮罩 之開口尺寸爲〇 . 5mmx 0 . 3mm,與裝載電子零件4之陸塊 尺寸相同。 然後,在焊接糊81 (82)之上裝載長度lmm,幅度 〇.5mm之電子零件4(參照第7(b)圖),經由逆流爐將電 子零件4焊接在零件裝載基板1上(參照第7 ( c )圖)。利 用此種方式獲得本發明之電子零件裝置。 焊接後之外觀如第8圖所示。第8圖是沿著第7 ( a )圖 之8 - 8線之剖面圖。在實施例3中是使用有意使助溶劑 含有量增加之焊接糊者,但是實質上焊劑量可以減少, 電子零件4如第8圖所示,不會傾斜,可以以正常之狀 態焊接。在第1 ( c )圖和第1 0圖中,參考符號3表示焊 接糊8 1 ( 82 )所含之本發明之助溶劑,端部電極4 1、42 外側形成圓角狀。 另外,經由使用含有本發明之助溶劑之焊接糊,以助 溶劑覆蓋焊接後之電子零件4之周邊,確認可以提高零 件橫壓強度。依照此種方式,經由有意的提高焊接糊中 之助溶劑含有率,可以利用焊接糊用來控制焊接厚度。 特別是在助溶劑之含有量爲35wt%以上之區域,可以避 免傾斜焊接,而且可以獲得與習知品同等以上之接合強 -16 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂--------- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(π ) 度。 比較例3 使用包含有習知之松香系助溶劑之焊接糊作爲比較之 用,依照第9圖,將電子零件4裝載在零件裝載基板1, 將其焊接。參照第9圖的具體說明時,零件裝載基板1 具有2個陸塊,經由順序的積層Cu膜51(52),Ni膜 61 (62)和Au膜71 (72)而形成(參照第9(a)圖)。 在上述之零件裝載基板1之陸塊之上,塗布含有松香 系助溶劑之焊接糊9 1 ( 9 2 )(參照第9 ( a )圖)。當焊接糊 91 ( 92)之塗布時,使用厚度100// m之金屬遮罩進行印 刷。金屬遮罩之開口尺寸爲0. 5 mmx 0 . 3mm,與裝載電子 零件4之陸塊尺寸相同。 然後,在焊接糊91 ( 92 )之上裝載長度1mm,幅度 0.5mm之電子零件4(參照第9(b)圖),經由逆流爐將電 子零件4焊接在零件裝載基板1上(參照第9 ( c )圖)。 逆流焊接後之外觀如第1 0圖所示,第1 0圖是沿著第 9 ( c )圖之1 0 - 1 0線之部份剖面圖。如第1 〇圖所示,利用 含有習知之松香系助溶劑之焊接糊進行焊接者,焊接量 太多時,電子零件4變成傾斜焊接。在第9 ( c )圖和第1 〇 圖中,參考符號9 3表示焊接糊9 1 ( 9 2 )所含之松香系助 溶.劑。 實施例4 對助溶劑之調配成分進行檢討。使用液狀環氧 樹脂作爲接著性樹脂,使用松香苷酸(羧酸)作爲 硬化劑。將松香苷酸對液狀環氧樹脂調配成爲 -17 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注咅?事填寫本頁) -裝 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 527253 A7 ____B7_ 五、發明說明(4 ) 如表1所示之重量比。將該助溶劑塗布在基板上,通過 2 3 0 °C之逆流爐,檢查樹脂硬化膜。 表1 調配比(%) 調配物 液狀環氧樹脂 1 1 1 1 1 松雜酸 0.25 0.50 0.75 1.00 1.50 溶劑 10 10 10 10 10 硬化膜物性 不硬化 膠狀 硬化膜 硬化膜 膠狀 硬化膜硬度 / 彈性 硬 / 如表1所示,對於液狀環氧樹脂1 w t %,當松香苷酸 lwt%之調配比時,變成硬的硬化膜,可以獲得最好之效 果。在其他之調配比,因爲不硬化,或變成膠狀,或變 成爲彈性硬化膜,所以不適當。對於逆流溫度,假如變 化環氧樹脂之調配比或環氧樹脂之分子量,官能基數, 檢討硬化劑(羧酸)之種類時,可以以任意之溫度獲得所 希望之硬化膜(接著性)。 實施例5 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 使實施例4所調製之助溶劑和焊接粉末混合,用來調 製焊接糊。焊接粉末使用S η ( 9 6.5 ) A g ( 3 . 5 )。助溶劑之含 有量爲25wt%。以此作爲實施例5。 第1 1圖表示使用實施例5之焊接糊焊接晶片零件之情 況,和使用習知之松香系焊接糊焊接晶片零件之情況, 逆流溫度和零件橫壓強度之關係。在該圖中,曲線L 1 是使用實施例5之焊接糊之情況之特性,曲線L2是使用 -18 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 B7 五、發明說明(《7 ) 習知之松香系焊接糊之情況之特性。 如第1 1圖所示,含有助溶劑之焊接糊在2 2 0〜2 6 0 °C 之逆流溫度範圍具有比習知之松香系焊接糊高之接合強 度。特別是逆流溫度在2 30°C以上時,可以確保高接合 強度。 實施例6 使用實施例5所示之焊接糊,將晶片零件焊接在零件 裝載基板,藉以獲得本發明之電子零件裝置。然後,觀 察零件裝載基板和晶片零件之端子之接合性,含有助溶 劑之焊接糊具有與松香系焊接糊同樣之接合性。因此, 與上述之助溶劑同樣的評估習知之導電性接著劑和各向 異性導電糊時,不能獲得零件裝載基板和零件之端子之 接合。 在上述之貫施例中所tjk之實例是將電子零件4裝載在 零件裝載基板1之一面,但是亦可以在零件裝載基板1 之兩面裝載電子零件4,在此種情況,可以在零件裝載 基板1之一面上,實行利用本發明之焊接糊之焊接處理, 然後在零件裝載基板1之另外一面上,使用與本發明之 焊接糊不同之焊接糊(例如習知之松香系焊接糊),將電 子零件4焊接。與此不同的,亦可以在零件裝載基板1 之兩面,使用本發明之焊接糊焊接電子零件4。在任何 一種情況均不會發生電子零件4之移位,翹起現象(零 件上立現象),或脫落等之不良。 2 ·對電子電路模組之應用 -19 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝--------訂-------- #_ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 功253 A7 B7 i、發明說明(,〇 本發明之電子電路模組,當與上述之電子零件裝置比 較時,將電子零件替換成爲半導體晶片,將零件裝載基 板替換成爲晶片裝載基板,除此之外本質上沒有不同。換 言之,本發明之電子電路模組之基本構造實質上被揭示 在電子零件裝置。所使用之半導體晶片並沒有特別之限 制。半導體晶片一般包含有半導體晶片(圖中未顯示)或 無源電路元件。亦可以使用被稱爲晶片大小組件(CSP) 之電子電路模組。 第1 2圖是本發明之電子電路模組之正面部份剖面圖。 圖中所示之電子電路模組包含有母基板100,晶片裝載 基板200,和焊接用助溶劑400。圖中所示之半導體晶片 100在下面等之適當位置形成有適當數目之端子電極 1 1 0、1 2 0,利用焊劑2 1 0、2 2 0使該端子電極1 1 0、1 2 0 接合在晶片裝載基板200上之陸塊2 3 0、240。 晶片裝載基板200可以由陶瓷基板,有機樹脂基板或 該等之組合構成。在晶片裝載基板200之內部,一般形 成有單層或多層之導體圖型和依照厚度方向設置之通孔 等。導體圖型除了作爲電路的環繞外,亦用來構成電容 器或電感器等。 焊接用助溶劑400包含有接著性樹脂和硬化劑,存在 於半導體晶片100和晶片裝載基板200之間,用來使該 兩者進行接著。焊接用助溶劑400具有作爲接著劑之功 肯b 。 在如圖示之實施例中,焊接用助溶劑400大致埋入和 -20 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項期填寫本頁)
· mm— ·ϋ ·ϋ I n n ϋ ·ϋ I I ϋ ϋ ϋ I I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(1 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 充塡用半導體晶片100和200之間之間隙。 如上所述,焊接用助溶劑4 0 0不需要洗淨,可以直接 作爲接著劑使用。因此,不需要助溶劑之洗淨工程,可 以獲得製造成本低廉之電子電路。另外,焊接用助溶劑 包含有接著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲接著劑之功 能,所以可以獲得焊接接合毒命比習知者顯著延長之局 可靠度之電子電路模組。 第13圖用來說明12所示之CSP(晶片大小組件)等之 電子電路模組之焊接方法。焊接方法相當於將第1圖所 示之焊接方法應用在電子電路模組之焊接。如上所述, 將包含有接著性樹脂和硬化劑之助溶劑400,塗布在預 先形成焊接突塊210、220之晶片裝載基板200之上。焊 接突塊2 1 0、2 2 0形成在被設於晶片裝載基板2 0 0之表面 之陸塊23 0、240之上。助溶劑400之細節如前所述。 然後,在該晶片裝載基板200之上裝載半導體晶片 1〇〇。半導體晶片1〇〇被配置在晶片裝載基板200上,使 端子電極1 1 0、1 2 0位於焊接突塊2 1 0、2 2 0上。然後,使 裝載有半導體晶片1〇〇之晶片裝載基板200通過逆流爐, 用來將被設在半導體晶片100之基體40之兩端之端子電 極1 1 0、1 2 0焊接接合在突塊2 1 0、2 2 0。利用此種方式 獲得第1 2圖所示之電子電路模組。 第14圖是正面部份剖面圖,用來表示本發明之電子 電路模組之另一實例。在該圖中,於與第1 2圖所示之構 造部份相同之構造部份,附加相同之參考號碼。在圖示 -21 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 讀 背 & 之 注 意 事 η t 訂 527253 A7 B7 五、發明說明(w) 之實施例中,焊接用助溶劑4 0 0存在於半導體晶片1 〇 〇 和晶片裝載基板2 0 0之間,以焊接突塊2 1 0、2 2 0之周圍 使兩者接著。 在此種情況,不需要洗淨焊接用助溶劑400,可以直 接作爲接著劑使用。因此,不需要助溶劑洗淨工程,可 以獲得製造成本低廉之電子電路模組。另外,焊接用助 溶劑包含有接著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲接著劑 之功能,所以可以獲得焊接接合壽命比習知者顯著延長 之高可靠度之電子電路模組。 第1 5圖用來說明第1 4圖所示之電子電路模組之焊接 方法。該焊接方法相當於使第4〜8圖所不之方法應用在 電子電路模組之焊接。將含有上述成分之焊接粉末之助 溶劑410、420,塗布在預先被設於晶片裝載基板200之 表面之陸塊230、240之上。 然後,將半導體晶片100裝載在該晶片裝載基板200 之上。半導體晶片100被配置在晶片裝載基板200上,使 端子電極1 1 0、1 2 0位於含有有焊接粉末之助溶劑4 1 0、 420上。使裝載有半導體晶片100之晶片裝載基板200 通過逆流爐,利用含有焊接粉末之助溶劑410、420所含 之焊接成分,用來焊接被設在半導體晶片1 〇 〇之兩端之 端子電極110、120。 在接合狀態,含有焊接粉末之助溶劑41 0、420所含之 接著性樹脂和硬化劑,存在於半導體晶片1 00和晶片裝 載基板200之間,以焊接突塊210、220之周圍使兩者接 -22 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事*^5填寫本頁) •裝 訂: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(Η ) 著。利用此種方式獲得第1 4圖所示之電子電路模組。在 第1 5圖中,經由增加含有焊接粉末之助溶劑之量,如 第1 2圖所示,可以實現使焊接用助溶劑400大致埋入和 充塡在半導體晶片100和晶片裝載基板200之間之間隙 之構造。下面將說明其具體之實施例和比較例。 實施例7 首先,調製具有下列成分之熱硬化性助溶劑之焊接 糊。 助溶劑:雙酚Α樹脂/無水對酞酸以質量比1對1進 行混合,添加1 0質量%之溶劑。 焊接粉末:S η - 3 . 5 A g 對該焊接粉末添加1 〇質量%之比例之該助溶劑。焊接 粉末之成分可以依照逆流溫度選擇,亦可以是其他之成 分系。另外,助溶劑之調配量亦可以任意的選擇。 利用網版印刷法將具有上述之熱硬化性助溶劑之焊接 糊塗布在有機系晶片裝載基板上。在網版印刷時使用金 屬遮罩厚100//m之網版。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次,將預先形成有焊接突塊之半導體晶片裝載在有 機系晶片裝載基板上,使其通過逆流爐。逆流溫度爲最 高溫度240°C,220°C以上之通過時間爲30秒。 比較例7 準備使用有密封劑之習知品和未使用有密封劑之習知 品,用來進行比較。 <試驗> -23 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 功253 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(>>) 對實施例7之電子電路模組和2種習知之電子電路模 組進行熱衝擊試驗。該熱衝擊試驗是以(-5 5 °C )保持0 . 5 小時,其次以( + 125 °C )保持0.5小時,以此作爲1個循 環,進行2000個循環。然後,測定焊接部份之接流電阻 (RDC)。 第16圖之圖形表示RDC測定結果。在第1 6圖中,橫 軸表示熱衝擊循環(循環),縱軸表示RDC ( Ω )。特性L 1 1 是未使用密封劑之習知品之特性,特性L 1 2是使用有密 封劑之習知品之特性,特性L 1 3是本發明之實施例7之 特性。 在第1 6圖中,未使用密封劑之習知品如特性L 1 1所示, 當超過1 5 00個循環時,RDC急激的增大,RDC產生劣化。 與此相對的,本發明之實施例7如特性L 1 3所示,即使 經過2000個循環亦未見RDC之劣化。其特性與使用有密 封劑之習知品之特性L 1 2相同。 3.對電子電路裝置之應用 本發明之電子電路裝置,當與上述之電子零件裝置比 較時,將電子零件替換成等電子電路模組,和將零件裝 載基板替換成爲母基板,除此之外本質上沒有不同。換 言之,本發明之電子電路模組之基本構造實質上被揭示 在電子零件裝置。 第17圖是本發明之電子電路裝置之正面部份剖面圖。 圖中所不之電子電路裝置包含有電子電路模組300,母 基板5 0 0,和焊接用助溶劑6 0 0。 -24 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱1 一 ' (請先閱讀背面之注意事項却填寫本頁) 1 裝 d 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7 五、發明說明(4) 電子電路模組3 00可以使用習知型式之電子電路模組 。最好使用第1 2,1 4圖所示之構造者。電子電路模組 300在下面等之適當位置形成適當數目之端子電極25〇、 260,利用焊接突塊510、520使該端子電極250、260 接合在母基板500之上之陸塊530、540。 母基板2 0 0可以利用陶瓷基板,有機樹脂基板或該等 之組合構成。在母基板500之內部形成有單層或多層之 導體圖型和依照厚度方向設置之通孔等。導體圖型除了 作爲電路的環續外,亦用來構成電容器或電感器等。 焊接用助溶劑600包含有接著性樹脂和硬化劑,存在 於電子電路模組3 00和母基板500之間,用來使該兩者 進行接著。焊接用助溶劑600具有作爲接著劑之功能。 在如圖所示之實施例中,焊接用助溶劑600大致埋入 和充塡在電子電路模組300和母基板500之間之間隙。 焊接用助溶劑600不需要洗淨,可以直接作爲接著劑 使用。因此,不需要助溶劑洗淨工程,可以獲得製造成 本低廉之電子電路裝置。另外,焊接用助溶劑包含有接 著性樹脂和硬化劑,因爲具有作爲接著劑之功能,所以 可以獲得焊接接合壽命比習知者顯著延長之高可靠度之 電子電路裝置。 第1 8圖用來說明第1 7圖所示之電子電路裝置之焊接 方法。該焊接方法相當於將第1圖所示之焊接方法應用 在電子電路裝置之焊接。如上所述,將包含有接著性樹 脂和硬化劑之助溶劑600,塗布在預先形成有焊接突塊 -25 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 527253 A7 B7 五、發明說明(4 ) 5 1 0、5 2 0之母基板5 0 0之上。助溶劑6 0 0未含有焊接粉 末。 焊接突塊510、5 20形成在被設於母基板5 00之表面之 陸塊5 3 0、540之上。然後,在母基板500之上裝載電子 電路模組3 0 0。電子電路模組3 0 0被配置在母基板5 0 0 上,使端子電極25 0、260位於焊接突塊510、520上。 使裝載有電子電路模組300之母基板500通過逆流爐, 用來將電子電路模組300之端子電極2S〇、26 0焊接接合 在焊接突塊510、5 20。利用此種方式獲得電子電路裝置。 弟19圖是正面部份剖面圖,用來表不本發明之電子 電路裝置之另一實例。在該圖中,於與第1 7圖所示之構 造部份相同之構造部份,附加相同之參考號碼。在圖示 之實施例中,焊接用助溶劑600存在於電子電路模組 3 0 0和母基板5 0 0之間,以焊接突塊5 1 0、5 2 0之周圍使 兩者接著。 在此種情況,焊接用助溶劑600不需要洗淨,可以直 接作爲接著劑使用。因此,不需要助溶劑洗淨工程,可 以獲得製造成本低廉之電子電路裝置。另外,焊接用助 溶劑6 0 0除了包含有焊接粉末外,更包含有接著性樹脂 和硬化劑,因爲具有作爲接著劑之功能,所以可以 獲得焊接接合壽命比習知者顯者延長之尚可靠度之電子 電路裝置。 第20圖用說明第1 9圖所示之電子電路裝置之焊接方 法。該焊接方法相對於使第4〜8圖所示之方法應用在電 -26 · 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項#填寫本頁) · 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ____B7_五、發明說明(< ) 子電路裝置之焊接。將含有以上述成分調製成之焊接粉 末之助溶劑610、630,塗布在預先被設於母基板500之 表面之陸塊5 30、540之上。然後將電子電路模組300 裝載在該母基板500之上。電子電路模組3 00被配置在 母基板5 0 0上,使端子電極2 5 0、2 6 0位於含有焊接粉末 助溶劑610、620上。 然後,使裝載有電子電路模組300之母基板500通過 逆流爐,利用含有焊接粉末之助溶劑6 1 0、6 2 0所含之焊 接成分,用來焊接被設在電子電路模組3 00之端子電極 2 5 0、2 6 0。含有焊接粉末之助溶劑6 1 0、6 2 0。所含之接 著性樹脂和硬化劑,存在於電子電路模組300和母基板 5 00之間,以焊接突塊510、5 20之周圍使兩者接著。利 用此種方式獲得第19圖所示之電子電路裝置。在第20 圖中,經由增加含有焊接粉末之助溶劑6 1 0、6 2 0之量, 如第1 7圖所示,可以實現使焊接用助溶劑600大致埋入 和充塡在電子電路模組300和母基板500之間之間隙之 構造。下面將說明其具體之實施例。 實施例8 首先,調製具有列成分之熱硬化性助溶劑之焊接糊。 助溶劑:雙酚A樹脂/無水對酞酸質量比1對1進行 混合,添加10質量%之溶劑, 焊接粉末:S η - 3 . 5 A g 對該焊接粉末添加1 0質量%之比例之該助溶劑。焊接 粉末之成分可以依照逆流溫度選擇,亦可以是其他之成 -27 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事*?^填寫本頁) I· —裝 功253 A7 B7 五、發明說明(4) 分系。另外,助溶劑之調配量亦可以任意的選擇。 ---------裝--- (請先閱讀背面之注意事項寫本頁) 母基板使用有機系母基板。電子電路模組使用有機系 之晶片裝載基板,在其上裝載半導體晶片者。在有機系 晶片裝載基板之下面所具備之端子電極之表面,施加鍍 Au處理,成爲可與有機系母基板焊接之方式。 利用網版印刷法將具有上述之熱硬化性助溶劑之焊接 糊塗布在有機系晶片裝載基板上。在網版印刷時使用金 屬遮罩厚l〇〇//m之網版。 其次,將電子電路模組裝載在有機系母基板上,使其 通過逆流爐。道流溫度爲最高溫度240 °C、220 °C以上之 通過時間爲3 0秒。 實施例9 電子電路模組之晶片裝載基板使用陶瓷基板,除此之 外,與實施例8同樣的製造電子電路裝置。 比較例8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 利用有機系材料構成電子電路模組之晶片裝載基板, 使用習知之助溶劑將該電子電路模組焊接在有機系母基 板。在有機系晶片裝載基板之下面所具備之端子電極之 表面,施加鍍Au處理,成爲可以與有機系母基板焊接 之方式。 比較例9 利用陶瓷材料構成電子電路模組之晶片裝載基板,使 用習知之助焊劑將該電子電路模組焊接在有機系母基板 。在陶瓷系晶片裝載基板之下面所具備之端子電極之表 -28 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 B7 五、發明說明( 面,施加鍍Au處理,成爲可以與有機系母基板焊接之 方式。 <試驗> 對實施例8、9之電子電路模組和比較例8、9之習知 之電子電路模組進行熱衝擊試驗。該熱衝擊試驗是以 (.-5 5 °C )保持0 · 5小時,其次以(+ 1 2 5 °C )保持0 · 5小時, 以此作爲1個循環,進行2000個循環。然後,測定焊接 部份之直流電阻(RDC)。 第2 1圖之圖形表示RDC測定結果。在第2 1圖中,橫 軸表示熱衝擊循環(循環),縱軸表示RDC( Ω )。特性L21 是實施例9之特性,特性L22是實施例8、9和比較例8 之特性。 在第2 1圖中,電子電路模組之晶片裝載基板由陶瓷 材料構成,母基板爲有機材料之比較例9,如特性L2 1 所示,當超過1 000個循環時,RDC急激的增大,RDC產 生劣化。與此相對的,本發明之實施例8、9,如特性L22 所示,即使經過2000個循環亦未見RDC之劣化。特別是 由實施例9之特性L2 3和比較例9之特性L2 1之對照可 以明白,在電子電路模組之晶片裝載基板使用陶瓷基板, 母基板使用機樹脂基板之情況時,習知技術會造成顯著 之RDC之劣化(參照特性L2 1 ),但是依照本發明時,即 使在此種方式之基板之組合亦可以阻止RDC之劣化(參 照特性L22 ),可以獲得優良之效果。 如上所述,在本發明中利用助溶劑所含之接著性樹脂 -29 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項I | k 本· 頁 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 527253 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 用來使電子零 件與零件裝載 狀態。在焊接 拆下,然後再 假如不能從零 電子零件和零 率之降低。因 在焊接後從零 另外,最近 Pb之焊劑(無 分因爲隨著其 使用之焊劑成 需要有可以依 硬化之技術。 在此處所說 板之情況,但 在晶片裝載基 板之情況。 下面將揭示 構造。首先, 羧酸,該等羧 有作爲逆流溫 在高於逆流溫 低。 五、發明說明( 件接著在零件裝載基板。然後,在電子零 基板接著之狀態,以檢查工程檢查焊接之 不良之情況,從零件裝載基板將電子零件 度的將該電子零件焊接在零件裝載基板。 件裝載基板將電子零件拆下時,變成要將 件裝載基板廢棄,會造成成本之增加和良 此,本發明之助溶劑和焊接糊最好是可以 件裝載基板將電子零件拆下。 從地球環境保護之立場來看,引進不含 Pb焊劑),使用各種成分之焊劑。焊劑成 成分之不同使融點不同,所以必需依照所 分之不同,設定各種値之逆流溫度。因此, 照所設定之任意之逆流溫度使接著性樹脂 明之實例是將電子零件焊接在零件裝載基 是亦同樣的可以適用在將半導體晶片焊接 板之情況,和將電子電路模組焊接在母基 用以解決上述之問題之助溶劑和焊接糊之 在助溶劑中,該硬化劑包含有至少2種之 酸具有互不相同之融點。低融點之羧酸具 度之硬化劑之功能。另外,高融點之羧酸 度之修復溫度用來使接著性樹脂之黏度降 -30 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項d 填 · ί裝 頁 I 一 I I I I I I 訂 527253 A7 B7 五、發明說明(”) 請 先 閱 讀 背 & 之 注 意 事 項 再 填 本 頁 當助溶劑之溫度上升到修復溫度左右時,高融點之羧 酸亦熔融,因爲接著性樹脂之黏度降低,所以可從零件 裝載基板將電子零件拆下。因此,可以保持接著功能, 同時與習知之松香助溶劑同樣的,可以修復電子零件。 此種成分之接著性助溶劑特別有利於焊接電子電路模組 之高價値之大型組件品之情況。 另外,經由使融點不同之羧酸互相混合,可以變化接 著樹脂之熱硬化溫度。因此,可以配合所使用之焊劑成 分之融點變更逆流溫度,成爲可以以任意之逆流溫度使 接著性樹脂硬化之方式。 另外,經由變更進行混合之羧酸之組合或混合比亦可 以變化接著性樹脂之熱硬化溫度,可以獲得同樣之作用 和效果。 其次,焊接糊包含有上述構造之助溶劑和焊接粉末。 因此,使用橫壓強度焊接'糊亦可以獲得與上述構造之助 溶劑同樣之作用和效果。下面將參照實驗資料用來具體 的說明上述之作用和效果。 實驗1 :利用多種羧酸之組合之修復性 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 首先,爲著獲得修復性優良之助溶劑和焊接糊,所 以進行實驗1。在實驗1中,熱硬化性樹脂使用雙酚A。 硬化劑使用2種之羧酸,實質上是使用己二酸和庚二酸 。己二酸和庚二酸被包含在羧酸之範圍。己二酸和庚二 酸之融點互異。實質上,己二酸之融點爲1 5 3 t,庚二 酸之融點爲2 7 9 °C。雙酚A,己二酸和庚二酸以下列之表 -31 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 B7 五、發明說明(w) 2所示之調配比(質量%)調配,用來調製樣本1〜4之助 溶劑。樣本1〜4之助溶劑,當己二酸之含有率爲a (質 量%),庚二酸之含有率爲b(質量% )時,在 a:b=( 50:5 0 )〜(95:5) (其中 a + b=100) 之範圍變化。另外,雙酚A和己二酸以下列之表2所示 之調配比(質量% )調配,用來調製樣本5助溶劑。 表2 樣本1 樣本2 樣本3 樣本4 樣本5 調配比 (質量%) 雙酚A 1 1 1 1 1 己二酸 0.5 0.75 0.85 0.95 1 庚二酸 0.5 0.25 0.15 0.05 0 其次,在所調製之各個樣本1〜5之助溶劑混合焊接 粉末,用來調製焊接糊。焊接粉末使用Sn-3.5Ag。焊接 粉末之成分可以依照逆流溫度選擇,可以使用其他之成 分系。另外,助溶劑對焊接粉末之調配量爲25質量%。 助溶劑之調配量亦可以任意的選擇。 使用以上述成分製作成焊接糊,將電子電路焊接在母 基板上。第22圖〜第25圖是正面部份剖面圖,用來表 示將電子電路模組焊接在母基板之工程。在該圖中,在 與第1 9圖所示之構造部份相同之構造部份附加相同之 參考符號。 如第22圖所示,在母基板5 00之表面設置陸塊53〇、 5 40。母基板5 00可以以陶瓷基板,有機樹脂基板或該等 之組合構成。圖中所示之母基板500爲有機樹脂基板。 -32 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 __ B7 _ 五、發明說明(〜) 如第23圖所示,在母基板500之陸塊530、540之上, 塗布實施例10之焊接糊610、620。當焊接糊610、620 之塗布時,使用金屬遮罩進行印刷。 然後,如第24圖所示,在母基板500之上裝載電子電 路模組300。圖中所示之電子電路模組3 00具有與第12 圖所示之電子電路模組同樣之構造。電子電路模組300 是被稱爲LGA構造品之CSP(晶片大小組件)之電子電路 模組。電子電路模組300之晶片裝載基板200由陶瓷基 板構成。如第24圖所示,電子電路模組3 00被配置在母 基板500上,使端子電極2 50、260位於焊接糊610、620 上。 其次,使裝載有電子電路模組300之母基板500通道 逆流爐,利用焊接糊610、620所含之焊劑成分用來焊接 被設在電子電路模組3 00端子電極2 5 0、260。焊接糊610、 620所含之接著性樹脂和硬化劑,介於電子電路模組 3 00和母基板5 00之間,以焊接突塊510、5 20之周圍使 兩者接著。利用此種方式獲得如第2 5圖所示之本發明之 電子電路裝置。在第25圖中,參考符號600表示焊接糊 6 1 0 ( 6 2 0 )所含之實施例1 〇之助溶劑,端子電極2 5 0、2 6 0 之外側成爲圓角狀。 如上所述,助溶劑600包含有接著性樹脂和硬化劑。 硬化劑包含有己二酸和庚二酸,該己二酸和庚二酸具有 互不相同之融點。低融點之己二酸於逆流溫度具有作爲 硬化劑之功能。高融點之庚二酸在比逆流溫度高之修復 -33 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裴 訂--------- 527253 A7 B7 五、發明說明) 溫度用來降低接著性樹脂之黏度。 下面將具體的說明樣本1〜5之助溶劑。在使用有樣本 5之助溶劑之情況時,通過逆流爐使助溶劑所含之庚二 酸融點用來焊劑熔融。其結果是使用基板之陸塊和電子 電路模組之端子電極產生接合。 在使用有樣本1、2之助溶劑之情況時,亦通過逆流爐 ,用來進行助溶劑所含之庚二酸之硬化,焊劑不熔融。 因此,母基板之陸塊和電子電路模組之端子電極不會產 生接合。 在使用樣本3、4之助溶劑之情況時,經由通過逆流爐 使助溶劑600所含之己二酸熔融,用來使焊劑熔融。其 結果是使母基板5 0 0之陸塊5 3 0、5 4 0和電子電路模組 300之端子電極250、260產生接合。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第26圖,第27圖是正面部份剖面圖,用來表示從母 基板將電子電路模組拆下之工程。如第2 6圖所示,將熱 風吹助溶劑600 ,當使助溶劑600之溫度上升到修復溫 度左右時,高融點之庚二酸進行熔融,使接著性樹脂之 黏度降低。因此,如第27圖所示,可以從母基板500 將電子電路模組3 00拆下。 因此,保持具有接著功能,同時與習知之松香助溶劑 同樣的,可以修復電子電路模組3 00。此種成分之接著 性助溶劑,在焊接大型組件等之高價格之電子電路模組 300之情況時特別有效。另外,該接著性助溶劑之修復 方法可以與習知焊接之修復方法同樣之作業水準實行。 -34 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 B7 五、發明說明(w ) 下面將進行具體之說明。在樣本1〜5之助溶劑中,對 可逆流組裝之樣本3〜5之助溶劑進行修復實驗。在修復 實驗時,對電子電路模組3 0 0之晶片裝載基板2 0 0和母 基板500之接合部,吹入300C左右之熱風。 樣本5之助溶劑用來使電子電路模組之晶片裝載基板 和母基板接著,一旦軟化經由熱風再度硬化。因此,不 能從母基板將電子電路模組拆下。 在使用樣本3、4之助溶劑600之情況時,將熱風吹到 電子電路模組300之晶片裝載基板200和母基板500之 接合部,使助溶劑600所含之庚二酸再度熔融,可以從 母基板500將電子電路模組300拆下。 因此,要修復被焊接之電子電路模組300時,除了接 著性樹脂硬化用之己二酸,亦可以混合具有融點在修復 溫度附近之庚二酸。在修復溫度當使庚二酸熔融時,接 著性樹脂之黏度降低。因此,可以從母基板500將被焊 接在該母基板5 00上之電子電路模組3 00拆下,藉以進 行修復。 依照上述之實驗1結果,最好是在接著性樹脂硬化用 之己二酸,添加1 5質量%〜5質量%之修復用庚二酸。換 言之,當己二酸之含有率爲a(質量%),庚二酸之含有 率爲b (質量% )時,可以滿足 a:b=(85:15)〜(95:5)(其中 a + b二100) 之關係。 實驗1所調製之助溶劑與焊接粉末混合,使用混合所 -35 - _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣
五、發明說明(¥ ) 得之焊接糊進行焊接。與此不同的,亦可以在具有焊接 突塊之基板上塗布實驗1之助溶劑藉以進行焊接,可以 獲得同樣之作用和效果。 本發明之電子零件裝置,當與上述之電子電路裝置比 較時,除了將電子電路模組替換成爲電子零件,和將母 基板替換成爲零件裝載基板外,本質上並沒有不同。換 言之,本發明之電子零件裝置之基本構造實質上被揭示 在電子電路裝置。 同樣的,本發明之電子電路模組,當與上述之電子電 路裝置比較時,除了將電子電路模組替換成爲半導體晶 片,和將母基板替換成爲晶片裝載基板外,本質上並沒 有不同。換言之,本發明之電子電路模組之基本構造實 質上被揭示在電子電路裝置。其次,變更逆流溫度進行 下列之實驗2〜5。 實驗2 :只調配1種之羧酸之助溶劑之熱硬化性物 首先在實驗2,調製只調配1種之羧酸作爲硬化劑之 助溶劑,檢查助溶劑之熱硬化性物。使用雙酚A作爲熱 硬化性樹脂。如下列之表3所示,硬化劑使用己二酸, 馬來酸,琥珀酸或庚二酸之一。熱硬化性樹脂和上述之 硬化劑以1 : 1之比例調配,用來調製助溶劑。然後,將 2g所調製之助溶劑,塗布在Cu板上,使其通過240 °C之 逆流爐,比較其皮膜之動作。 -36 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項,再填寫本頁) 裝 % 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
五、發明說明(^r) 表3 樣本11 樣本12 樣本13 樣本14 熱硬化性樹脂 雙酚A 雙酚A 雙酚A 雙酚A 硬化劑 己二酸 馬來酸 琥珀酸 庚二酸 硬化劑之融點. 153〇C 133。。 188〇C 279〇C 皮膜動作 膠化 常溫硬化 硬化 硬化 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 如表3所示,在樣本1卜1 2之助溶劑,皮膜進行膠化, 和在常溫進行硬化,所以不適當。與此相對的,在樣本 1 3、1 4之助溶劑,皮膜經由通過逆流爐進行硬化,可以 獲得良好之結果。 在樣本1 1〜1 4之助溶劑,比較其硬化之進度。硬化劑 之融點較高時熱硬化較快。在混合己二酸和琥珀酸作爲 硬化劑之情況時,隨著琥珀酸之調配比之增加,可以獲 得更硬之硬化皮膜。 實驗3:經由混合多種羧種之逆流溫度之變更 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 根據上述之實驗2,試著混合己二酸和琥珀酸用來進 行逆流溫度之變更。熱硬化性樹脂使用雙酚A。硬化劑 使用之2種之羧酸,實質上爲己二酸和琥珀酸。該己二 酸和琥珀酸被包圍在羧酸之範圍。己二酸和琥珀酸之融 點互不相同。實質上,己二酸之融點爲1 5 3 °C,琥珀酸 之融點爲1 88 °C。雙酚A,己二酸,和琥珀酸以質量比 1 : 0 . 5 : 0 . 5之比例調配,用來調製助溶劑。 其次,使所調製之助溶劑和焊接粉末進行混合,用來 調製焊接糊。焊接粉末使用Sn - 3 . 5 Ag,助溶劑對焊接粉 -37 - ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 A7 B7 五、發明說明(从) 末之調配量爲1 5質量%。以下將該焊接糊稱爲樣本22 之焊接糊。焊接粉末之成分可以依照逆流溫度選擇,亦 可以使用其他之成分系。助溶劑之調配量亦可以任意的 選擇。 另外,雙酚A和己二酸以質量比1 : 1之比例調配,用 來調製助溶劑。然後,使所調製之助溶劑和焊接粉末混 合,用來調製焊接糊。與樣本22之焊接糊同樣的,焊接 粉末使用Sn-3.5 Ag,助溶劑對焊接粉末之調配量爲15 質量%。以下將該焊接糊稱爲樣本2 1之焊接糊。 第2 8圖表示使用樣本2 1、2 2之焊接糊焊接電容器時, 逆流溫度和零件橫壓強度之關係。試驗用之電容器使用 1005大小之STD端子電容器,和1 00 5大小之CBS端子 電容器之2種。STD端子電容器是端子形成在電容器本 體之兩側面之電容器。CSB端子電容器是端子形成在電 容器本體之底面之兩端之電容器。 在第28圖中,特性L31是在STD端子電容器使用樣本 2 1之焊接糊之情況時之特性,特性L3 2是在STD端子電 容器使用樣本22之焊接糊之情況時之特性,特性L4 1 是在CSB端子電容器使用樣本1 2 1之焊接糊之情況時之特 性,特性L 4 2是在C S B端子電容器使用樣本2 2之焊接糊 之情況時之特性。零件橫壓強度依照上述之第2圖所示 之方法進行測定。 如第28圖所示,在焊接STD端子電容器之情況時,樣 本22之焊接糊(參照特性L32)利用比樣本21之焊接糊 -38 - 本紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4規格⑽X 297公^ -------------·-裝 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
•ϋ n ϋ ϋ 一一口、 ϋ I ϋ ϋ ·ϋ ϋ I 禮· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 B7___ 五、發明說明(V ) (參照特性L3 1 )低之逆流溫度就可以獲得相同程度之零 件橫壓強度。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 另外,在焊接CSB端子電容器之情況時,樣本22之焊 接糊(參照特性L42 )利用比樣本2 1之焊接糊(參照特性 4L 1 )低之逆流溫度就可以獲得相同程度之零件橫壓強度 。例如,假定零件橫壓強度需要0 . 9 k g時,在樣本2 1 之焊接糊(參照特性L41 )之情況,需要224〜230t之逆 流溫度,但是在樣本22之焊接糊(參照特性L42 )之情況, 只要217〜221°C之逆流溫度即可。 如上所述,經由使融點互不相同之羧酸(己二酸和琥 ί白酸)混合,可以變化接著性樹脂(雙酣A )之熱硬化溫 度。因此,利用任意之逆流溫度可以使接著性樹脂(雙 酚A )硬化,可以配合所使用之焊接成分之融點變更逆 流溫度。可以不需要將逆流溫度固定在一定之値。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 另外,經由變更進行混合之羧酸之組合(己二酸和琥 珀酸),可以變更接著性樹脂(雙酚A )之熱硬化溫度, 可以獲得同樣之作用和效果。例如,將己二酸和琥珀酸 之組合,變更成爲己二酸和庚二酸之組合,可以用來變 更接著性樹脂(雙酚A )之熱硬化溫度。 實驗4 :經由調整羧酸之混合比之逆流溫度之變更 其次,調整混合之羧酸(己二酸和琥珀酸)之混合比, 試著變更逆流溫度。熱硬化性樹脂使用雙酚A。硬化劑 使用己二酸和琥珀酸。雙酚A,己二酸,和琥珀酸以下 面之表4所示之調配比(質量% )進行調配,用來調製助 -39 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21(^297公釐) ~ 527253 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(w) 溶劑。當己二酸之含有率爲a (質量% ),琥珀酸之含有率 爲c (質量% )時,該等之助溶劑在 a:c = (100:0)〜(0: 100)(其中 a + c = 100) 之範圍變化。 其次,在所調整之各個助溶劑混合焊接粉末,調整樣 本50〜55之焊接糊。焊接粉末使用共晶焊劑(Sn63-Pb 3 7 )之粉末。助溶劑對焊接粉末之調配量爲1 5質量%。 焊接粉末可以依照逆流溫度選擇,亦可以使用其他之成 分系。助溶劑之調配比亦可以任意的選擇。 表4
樣本50 樣本51 樣本52 樣本53 樣本54 樣本55 調配比 (質量%) 雙酚A 1 1 1 1 1 1 己二酸 1 0.95 0.75 0.50 0.25 0 琥珀酸 0 0.05 0.25 0.50 0.75 1 焊接粉末 共晶焊 接粉末 共晶焊 接粉末 共晶焊 接粉末 共晶焊 接粉末 共晶焊 接粉末 共晶焊 接粉末 焊接結果 OK OK OK OK OK NG 如表4所示,樣本5 0之焊接糊可以良好的連接焊接之 端子。但是樣本50之焊接糊因爲只包含己二酸作爲硬化 劑,所以不能變化接著性樹脂(雙酚A )化之熱硬化溫度, 不能變更逆流溫度。 另外,樣本5 5之焊接糊在焊劑之熔融1,助溶劑進行 硬化,其結果是不能接合端子。 與此相對的,樣本5 1〜54之焊接糊分別可以良好的 -40 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ------------裝---------訂---------線0^- · (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 527253 A7 B7 五、發明說明(Μ ) 連接焊接之端子。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第32圖表示使用樣本50〜54之助溶劑焊接電容器時 之逆流溫度和零件橫壓強度之關係。試驗用之電容器使 用1 00 5大小之STD端子電容器。在第29圖中,特性L50 〜L54分別表示使用樣本50〜54之焊接糊之情況時之特 性。 經由使琥珀酸之調配率增大,則即使在低逆流溫度亦 可以確保具有所需要之零件橫壓強度。例如,假定零件 橫壓強度需要1.4kg時,在樣本52之焊接糊(參照特性 L52)需2 30 °C之逆流溫度。與此相對的,樣本53之焊接 糊(參照特性L5 3 )因爲其琥珀酸之調配率比上述之樣本 52大,所以只要210°C之逆流溫度即可。 如上所述,經由變更混合之羧酸(己二酸和琥珀酸)之 混合比,可以變化接著性樹脂(雙酚A )之熱硬化溫度。 因此,可以以任意之逆流溫度使接著性樹脂(雙酚A )硬 化,可以配合所使用之焊劑成分之融點的變更逆流溫度 。可以不需要使逆流溫度固定在一定之値。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 依照上述之實驗4之結果,在焊劑成分使用共晶焊劑 (S η 6 3 - Pb 3 7 )之情況時,調配己二酸和琥珀酸作爲硬化 劑,在己二酸之含有率爲a (質量% ),琥珀酸之含有率 爲c (質量% )時,最好能滿足 a:c(95:5)〜( 2 5:7 5 )(其中 a + c = 100) 之關係。 試驗5 :與助溶劑組合之焊劑成分之變更 -41 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 527253 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(办) 在實驗4中,焊劑成分使用共晶焊劑(Sn6 3-Pb 3 7)。共 晶焊劑(31163邛637)之融點爲183°(:。與該實驗4不同的, 下面所說明之實驗(以下稱爲實驗5 )是焊劑成分使用 Sn-3 . 5Ag焊劑。Sn-3 . 5Ag焊劑之融點爲217°C,比共結 焊劑(Sn63-Pb37)之融點183°C高很多。 雙酚A,己二酸,和琥珀酸以下列之表5所示之調配 比(質量%)調配,用來調製助溶劑。該等助溶劑在己二酸 之含有率爲a(質量%),琥珀酸之含有率爲c(質量%)時, 在 a:c = (100:0)〜(0:100)(其中 a + c = 100) 之範圍變化。 其次,在所調製之各個助溶劑合焊接粉末,用來調製 樣本70〜75之焊接糊。焊接粉末使用Sn = 3 . 5Ag焊接粉 末。助溶劑對焊接粉末之調配量爲1 5質量%。 表5
樣本70 樣本71 樣本72 樣本73 樣本74 樣本75 調配比 (質量%) 雙酚A 1 1 1 1 1 1 己二酸 1 0.95 0.75 0.50 0.25 0 琥珀酸 0 0.05 0.25 0.50 0.75 1 焊接粉末 Sn-3.5Ag 焊接粉末 Sn-3.5Ag 焊接粉末 Sn-3.5Ag 焊接粉末 Sn-3.5Ag 焊接粉末 Sn-3.5Ag 焊接粉末 Sn-3.5Ag 焊接粉末 焊接結果 OK OK NG NG NG NG 如表5所示,樣本7 2〜7 5之焊接糊分別在焊劑之熔融 前使助溶劑硬化,所以不能接合端子。 -42 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ----------裝---- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------#_ 527253 A7 B7 五、發明說明(心) 另外,樣本70、7 1之焊接糊分別在焊接時可以良好所 連接端子。 依照上述之實驗5之結果,在焊劑成分使用Sn-3.5 Ag 焊劑之情況,當調配量己二酸和琥珀酸作爲硬化劑時, 對於己二酸之含有率a (質量% )和琥珀酸之含有率c (質 量% ),最好能滿足 a:c=(100:0)〜(95:5)(其中 a+c=l〇〇) 之關係。 在上述之實驗3〜5中,使助溶劑混合在焊接粉末, 使用混合所得之焊接糊進行焊接。與此不同的,亦可以 將助溶劑塗布在具有焊接突塊之基板上藉以進行焊接, 可以獲得同樣之作用和效果。 利用實驗3〜5所調製之焊接糊亦可以構成與第25圖 所示之電子電路裝置同樣之電子電路裝置當可明白。另 外,利用實驗3〜5之焊接糊亦可以構成電子零件裝置 和電子電路模組。 另外,當使熱硬化速度互不相同之羧酸進行混合作爲 硬化劑時,可以變化接著性樹脂之熱硬化速度。因此, 可以配合所使用之焊劑成變更逆流時間或逆流溫度。例 如在己二酸和琥珀酸之情況時,因爲琥珀酸之熱硬化所 需要之熱量少於己二酸之熱硬化所需要之熱量,所以琥 珀酸之熱硬化速度比己二酸之熱硬化速度快速。因此, 當混合己二酸和琥珀酸作爲硬化劑時,可以變更接著性 樹脂(雙酚A )之熱硬化速度,可變更逆流時間或逆流溫 -43 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ▼裝 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ----訂---------· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 功253 A7 ____BZ____ 五、發明說明(心) 度。在其他之羧酸之組合(例如己二酸和庚二酸)之情況 亦同。 另外,經由變更進行混合之羧酸之組合或混合比,亦 可以變更接著性樹脂之熱硬化速度,可以獲得同樣之作 用和效果。 圖中被省略者,在使用本發明之焊接糊之情況,使用 本發明之助溶劑作爲密封劑,可以利用由助溶劑所構成 之密封劑用來接合電子零件和零件裝載基板,半導體晶 片和晶片裝載基板,以及電子電路模組和母基板。另外 ,在使用有本發明之助溶劑之零件裝載基板,亦可以在 本助溶劑之上層部形成一般之密封劑。 [產業上之利用可能性] 如上所述,依照本發明時可以獲得下面所述之效果。 (a )對於組裝之高密度化,零件之小型化和零件之配 置間隔之狹間化等,可以提供具有充分之接合強度藉以 因應之焊接用助溶劑和焊接糊及焊接方法。 (b )在兩面組裝型之零件裝載基板,可以提供能夠確 實防止零件之浮動或脫落等之問題之焊接用助溶劑和焊 接糊及焊接方法。 (c )可以提供不需要助溶劑洗淨工程之製造成本低廉 之電子零件裝置,電子電路模組和電子電路裝置。 (d )可以提供能夠使焊接接合壽命比習知者顯著延長 之高可靠度之電子零件裝置,電子電路模組和電子電路 裝置。 -44 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) · amma* 1_ n ϋ ϋ n 一 0, I Hi i n n ϋ I · 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A7 _B7_五、發明說明(〇 ) [符號之說明] 1 零件裝載基板 3 助溶劑 4 電子零件 21、22 焊接突塊 41、42 端部電極 81、82、91、92 焊接糊 1 1 0、1 2 0 端子電極 1〇〇 半導體晶片 2〇〇 晶片裝載基板 3 00 電子電路模組 500 母基板 6 1 0、6 2 0、4 10、4 2 0含有焊接粉末之助溶劑 ▼裝 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Ρ tr---------#- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -45 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1 . 一種焊接用助溶劑,其特徵是包含有接著性樹脂,和 硬化劑。 2 .如申請專利範圍第1項之助溶劑,其中該接著性樹脂 包含熱硬化性樹脂。 3 .如申請專利範圍第2項之助溶劑,其爲液狀或糊狀。 4 .如申請專利範圍第3項之助溶劑,其中該熱硬化性樹 脂包含選自環氧樹脂,酚醛樹脂,聚醯亞胺樹脂,矽 樹脂,變性樹脂或丙烯酸樹脂至少1種。 5 .如申請專利範圍第1項之助溶劑,其中該硬化劑包含 羧酸。 6 .如申請專利範圍第1項之助溶劑,其中該硬化劑包含 至少2種之羧酸,該至少2種之羧酸具有互不相同之 融點。 7 .如申請專利範圍第6項之助溶劑,其中該至少2種之 羧酸中,1種爲己二酸,另外1種爲庚二酸。 8 .如申請專利範圍第7項之助溶劑,其中 當該己二酸之含有率爲a(質量%),該庚二酸之含 有率爲b (質量% )有時,可以滿足 a:b=(85:15)〜(95:5) 之關係。 9 .如申請專利範圍第6項之助溶劑,其中該至少2種之 羧酸中,1種爲己二酸,另外1種爲琥珀酸。 1 〇 .如申請專利範圍第9項之助溶劑,其中 當該己二酸之含有率爲a(質量%),該琥珀酸之含 ____-46 -___ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -----------裝·-------訂---------^Awi (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 527253 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 有率爲C (質量% )時,可以滿足 a:c=(95:5)〜(25:75) 之關係。 1 1 · 一種焊接糊,其包含焊接粉末和助溶劑,其特徵是 該助彳谷劑由申g靑專利範圍第1至1 0項之任一*項助溶劑 構成,且該焊接粉末與該助溶劑混合。 1 2 .如申請專利範圍第1 1項之焊接糊,其中該焊接粉末 包含選自Sn,Cu,Ag,Sb,Pb,In,Zn和Bi之至少 1種。 13.—種電子零件裝置,包含至少爲1個之電子零件、零 :件裝載基板和焊接用助溶劑,其特徵是 該電子零件被焊接在該零件裝載基板之上;和 該焊接用助溶劑由申請專利範圍第1至1 〇項之任何 一項之助溶劑構成,介於該電子零件和該零件裝載基 板之間,用來使該兩者接著。 1 4 . 一種電子電路模組,包含半導體晶片、晶片裝載基 板和焊接用助溶劑;其特徵是 該半導體晶片包含至少爲1個之半導體元件,且被 焊接在該晶片裝載基板之上;和 該焊接用助溶劑由申請專利範圍第1至1 0項之任何 一項之助溶劑構成,介於該半導體晶片和該晶片裝載 基板之間,用來使該兩者接著。 1 5 · —種電子電路模組,包含電子電路模組、母基板和 焊接用助溶劑·,其特徵是 __ -47 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) '~ —II----I I I--—訂------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) mr 線♦_ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527253 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 該電子電路模組被焊接在該母基板上;和 該焊接用助溶劑由申請專利範圍第1至1 0項之任何 一項之助溶劑構成,介於該電子電路模組和該母基板 之間,用來使該兩者接著。 1 6 . —種電子電路裝置,包含電子電路模組、母基板和 第1焊接用助溶劑;其特徵是 該電子電路模組被焊接在該母基板上;和 該第1焊接用助溶劑用來使該電子電路模組和該母 基板接著; 該電子電路模組包含半導體晶片、晶片裝載基板和 第2焊接用助溶劑; 該半導體晶片包含至少爲1個之半導體元件,且被 焊接在該晶片裝載基板之上; 該第2焊接用助溶劑用來使該半導體晶片和該晶片 裝載基板接著;和 該第1和第2焊接用助溶劑由申請專利範圍第1至 1 0項之任何一項之助溶劑構成。 1 7 · —種焊接方法,其特徵是使用有如申請專利範圍第 1至1 0項之任何一項助溶劑。 1 8 . —種焊接方法,其特徵是使用有如申請專利範圍第 1 1項之焊接糊。 1 9 .如申請專利範圍第1 7項之焊接方法,其中將電子零 件、電子電路模組或半導體晶片焊接在基板之上。 2 〇 ·如申請專利範圍第1 9項之焊接方法,其中所包含之 —__ μ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) f t -----------裝--------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 527253 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 工程有: 在該基板之一面上,利用該焊接糊實行焊接處理; 其次,在該基板之另一面上,使用與該焊接糊不同 之焊劑,用來焊接電子零件。 --------^--------訂--------- 往叫先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁} 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
TW089120637A 1999-10-05 2000-10-04 Soldering flux, soldering paste and soldering process TW527253B (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28485999 1999-10-05
JP2000083001A JP2001170798A (ja) 1999-10-05 2000-03-23 はんだ付け用フラックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法
JP2000218046A JP3849842B2 (ja) 1999-10-05 2000-07-18 はんだ付け用フラックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW527253B true TW527253B (en) 2003-04-11

Family

ID=27337125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW089120637A TW527253B (en) 1999-10-05 2000-10-04 Soldering flux, soldering paste and soldering process

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6915944B1 (zh)
EP (2) EP1231016B1 (zh)
AT (2) ATE408475T1 (zh)
DE (2) DE60040311D1 (zh)
TW (1) TW527253B (zh)
WO (1) WO2001024968A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103152999A (zh) * 2013-03-20 2013-06-12 上海安费诺永亿通讯电子有限公司 一种降低电子元器件立碑的工艺

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3888573B2 (ja) * 2001-06-29 2007-03-07 富士電機ホールディングス株式会社 ハンダ組成物
US7182241B2 (en) * 2002-08-09 2007-02-27 Micron Technology, Inc. Multi-functional solder and articles made therewith, such as microelectronic components
DE10319888A1 (de) 2003-04-25 2004-11-25 Siemens Ag Lotmaterial auf SnAgCu-Basis
JP3797990B2 (ja) * 2003-08-08 2006-07-19 株式会社東芝 熱硬化性フラックス及びはんだペースト
CA2544731A1 (en) * 2003-11-03 2005-05-12 Altachem Pharma Ltd. Rapamycin peptides conjugates: synthesis and uses thereof
CN101005917A (zh) * 2004-08-25 2007-07-25 松下电器产业株式会社 焊料组合物、利用焊接的连接方法和利用焊接的连接结构
JP4356581B2 (ja) * 2004-10-12 2009-11-04 パナソニック株式会社 電子部品実装方法
WO2008016140A1 (en) 2006-08-04 2008-02-07 Panasonic Corporation Bonding material, bonded portion and circuit board
US8247267B2 (en) 2008-03-11 2012-08-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Wafer level IC assembly method
JP4788754B2 (ja) * 2008-10-15 2011-10-05 パナソニック株式会社 部品内蔵配線基板および部品内蔵配線基板の製造方法
TWI523127B (zh) * 2008-10-27 2016-02-21 松下知識產權經營股份有限公司 電子裝置之製造方法
US20120002386A1 (en) * 2010-07-01 2012-01-05 Nokia Corporation Method and Apparatus for Improving the Reliability of Solder Joints
JP2014110370A (ja) * 2012-12-04 2014-06-12 Seiko Epson Corp ベース基板、実装構造体、モジュール、電子機器、および移動体
CN106134300A (zh) * 2014-03-14 2016-11-16 铟泰公司 用可辐射固化的或可热固化的助焊剂在基底上形成焊料凸点的方法和组合物
JP5952849B2 (ja) 2014-03-25 2016-07-13 岡村製油株式会社 フラックス及びソルダペースト
EP3278405A4 (en) * 2016-04-25 2018-11-14 Hewlett Packard Enterprise Development Company LP Sockets including wicking regions
US10160066B2 (en) * 2016-11-01 2018-12-25 GM Global Technology Operations LLC Methods and systems for reinforced adhesive bonding using solder elements and flux
US11769730B2 (en) * 2020-03-27 2023-09-26 STATS ChipPAC Pte. Ltd. Semiconductor device and method of providing high density component spacing
CN113084393B (zh) * 2021-04-21 2022-06-17 兰州理工大学 一种用于金属材料焊接的抗氧化助焊剂

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS595698A (ja) 1982-06-30 1984-01-12 三菱電機株式会社 電子部品の取付方法
US4479983A (en) * 1983-01-07 1984-10-30 International Business Machines Corporation Method and composition for applying coatings on printed circuit boards
JPS6088495A (ja) 1983-10-20 1985-05-18 松下電器産業株式会社 配線基板
DE3782522T2 (de) * 1986-03-31 1993-06-03 Tatsuta Densen Kk Leitfaehige kupferpastenzusammensetzung.
US4940498A (en) * 1989-08-14 1990-07-10 Multicore Solders Limited Flux composition
US5004509A (en) * 1990-05-04 1991-04-02 Delco Electronics Corporation Low residue soldering flux
US5128746A (en) * 1990-09-27 1992-07-07 Motorola, Inc. Adhesive and encapsulant material with fluxing properties
JPH058085A (ja) * 1990-11-30 1993-01-19 Nippondenso Co Ltd はんだ付け用フラツクス
DE4235575C2 (de) * 1992-10-22 1994-11-10 Degussa Weichlotpaste zum Löten von elektronischen Schaltungen
JPH06269980A (ja) * 1993-03-23 1994-09-27 Tdk Corp 接合用導電ペースト
JPH0780682A (ja) * 1993-09-10 1995-03-28 Fujitsu Ltd はんだペースト
JPH0890283A (ja) * 1994-09-21 1996-04-09 Murata Mfg Co Ltd はんだ付け用フラックス
JP2606610B2 (ja) * 1994-12-20 1997-05-07 日本電気株式会社 ソルダーペースト、半導体装置の接続方法および接続構造
WO1996037336A1 (en) 1995-05-24 1996-11-28 Fry's Metals Inc. Epoxy-based, voc-free soldering flux
WO1997012718A1 (en) * 1995-10-06 1997-04-10 Brown University Research Foundation Soldering methods and compositions
JP3378139B2 (ja) * 1996-03-19 2003-02-17 株式会社デンソー はんだ付け用のフラックス
JPH11121915A (ja) 1997-10-08 1999-04-30 Tdk Corp 電子部品の実装方法及び電子部品実装用フラックス
US6228678B1 (en) * 1998-04-27 2001-05-08 Fry's Metals, Inc. Flip chip with integrated mask and underfill
GB2380964B (en) * 2001-09-04 2005-01-12 Multicore Solders Ltd Lead-free solder paste

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103152999A (zh) * 2013-03-20 2013-06-12 上海安费诺永亿通讯电子有限公司 一种降低电子元器件立碑的工艺

Also Published As

Publication number Publication date
EP1231016A4 (en) 2004-11-03
DE60033552T2 (de) 2007-05-31
DE60040311D1 (de) 2008-10-30
US6915944B1 (en) 2005-07-12
ATE354451T1 (de) 2007-03-15
EP1762329B1 (en) 2008-09-17
DE60033552D1 (de) 2007-04-05
EP1231016A1 (en) 2002-08-14
ATE408475T1 (de) 2008-10-15
EP1762329A1 (en) 2007-03-14
EP1231016B1 (en) 2007-02-21
WO2001024968A1 (fr) 2001-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW527253B (en) Soldering flux, soldering paste and soldering process
TWI230103B (en) Semiconductor module and circuit substrate connecting to semiconductor device
JP5093766B2 (ja) 導電性ボール等搭載半導体パッケージ基板の製造方法
US5851311A (en) Polymerizable flux composition for encapsulating the solder in situ
JP3454509B2 (ja) 導電性材料の使用方法
JP4799997B2 (ja) 電子機器用プリント板の製造方法およびこれを用いた電子機器
US20010005314A1 (en) Interconnection process for module assembly and rework
JP3849842B2 (ja) はんだ付け用フラックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法
JP2008510620A (ja) 半田組成物および半田接合方法ならびに半田接合構造
WO2006041068A1 (ja) 電子部品の実装方法
US9808874B2 (en) Flux composition and techniques for use thereof
JP4753329B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物および半導体装置
TWI777041B (zh) 無鉛焊料合金、焊料接合用材料、電子電路封裝基板及電子控制裝置
JP2001223227A (ja) 半導体封止用樹脂組成物および半導体装置
JP2004179552A (ja) 半導体装置の実装構造、実装方法およびリワーク方法
JP2001170798A (ja) はんだ付け用フラックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法
JP3938502B2 (ja) 液状封止樹脂組成物、半導体素子の組立方法及び半導体装置
JP2006265484A (ja) 接着性樹脂組成物及び電子装置
JP2008087014A (ja) はんだペーストおよび接合部品
JP2003243449A (ja) 半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP3295709B2 (ja) 電子部品の半田付け用フラツクスおよび電子部品の半田付け方法
JP2006152312A (ja) 封止材料、はんだ付け用フラックス、はんだぺースト、電子部品装置、電子回路モジュール及び電子回路装置
JP4421813B2 (ja) 電子部品の接合材料および電子部品実装方法
JP4218181B2 (ja) 半田接合接着方法
JP2006143795A (ja) 液状樹脂組成物、それを用いた半導体装置の製造方法及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MK4A Expiration of patent term of an invention patent