TW526589B - Method and apparatus for supplying electricity uniformly to a workpiece - Google Patents
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Description
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五、發明說明() 發明領域· 本發明係與提供電性接觸而施加電能於金屬沉積系 統中之基板有關’特別是-種在電鍍系統中均勻施加電流 於工件上之方法及設備。 發明背景: 次四分之一微米與多層金屬化係為下一世代極大型 積體電路I重要技術。形成這些内連線特徵的可靠方式使 得電路密度增加、改善極大型積體電路之接受度並改善個 別處理晶圓之品質。當電路密度增加時,介層t、接:及 其他特徵之寬度,特徵間介電層材料的寬度會隨之減小。 然而,介私層的咼度大致上維持不變,因此特徵之深寬比 (亦即高度或深度除以其寬度)會增加。目前許多傳統沉積 製程(例如物理氣相沉積法PVD與化學氣相沉積法cVD) 難以提供深寬比4/1以上(特別是1/10以上)之均勻特徵, 因此形成深寬比4/1(或以上)之無空洞奈米尺寸特徵的努 力不斷地在進行中。 電鍍製程(先前受限於積體電路設計中電路板上之導 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 線)被用來填滿介層窗及接點❶通常可以數種技術來電鍍 金屬。一種方式係涉及先沉積一阻障層於晶圓之特徵表面 上方,沉積導電金屬晶種層於此阻障層上,然後沉積導電 金屬(例如銅)於晶種層上方以填滿結構/特徵,最後使這些 沉積膜層平坦化(例如以化學機械研磨法)以定義出導體内 連線特徵。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 χ 297公釐 526589 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 鑲嵌製程包含以金屬導電層填滿絕緣材料溝槽之製 程’然後姓刻金屬導電層之表面以形成表面平坦絕緣導體 於絕緣材料中。鑲嵌與雙重鑲嵌製程(製造銅導線於矽晶 圓上之上述應用)之效果與成功主要係視所沉積銅層的均 勻性而定,其效果亦視以化學機械研磨法移除部份銅層而 定。 在電鐘製程中,沉積一金屬層係施電能至晶種層,然 後將晶圓電鍍面曝露於一含欲鍍金屬之電鍍液中。後續沉 積之金屬層則黏附於此晶種層(以及一均勻層)上以均勻地 生成此金屬層。有數種原因阻礙了金屬電鍍於具有高深寬 比奈米尺寸特徵之晶圓上,這些阻礙包含晶圓電鍍面之功 率及電流密度之不均勻分俾。 在一金屬沉積系統中,有數個原因可能會導致金屬層 沉積不均句。其一主要原因係與不同接點56上之材料變 動有關之製程時間的不均勻。因此,每個接點會生成獨一 且不可預測S幾何輪廓與密度,因此若曝露於相同電壓時 會產生變化且不可預測之電阻值。此不同接點%之變化 電阻值會導致晶圓上之電流密度分佈不均勾。4匕接點之變 化電阻值會改變電場並且接點/晶種層界面之接點電阻值 會隨晶圓4"文變,如此會導致同一設備中不同的晶圓上 會有不一致的電鍍分佈。 ^施加電流至晶種層之電源供應電路包含複數個接觸 環上上之接點56。在一電鍍設備之範例中,以單一電源供 應器施加電流至一電性連結於所有的金屬接點56的接 第3頁 -------;---.---裝·1 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 一SJ.- -線 526589 A7 B7____ 五、發明說明() 點。不同接點的電氣特性可能會不同,特別是在長時間使 用之後。這些具有高電阻的金屬接點會供給晶種層較少的 電流。若每一金屬接點所受的電壓相同,則依據歐姆定律 可知具有較大電阻的接點會有較大的電流流過。施於晶圓 電鏡面之晶種層之不均勻功率分佈及電流密度會導致接 點有不同的電流。不均勻功率分佈及電流密度的不均等會 導致晶種層上沉積不均勻的金屬。 因此亟需一種可提供均勻電流至數個接點及晶圓上 晶種層之設備。此種設備必須提供電鍍槽中晶圓表面大致 上均勻的功率分佈以沉積可靠及一致的導電金屬層於曰 圓上。 ------J——.——裝·· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發明目的及概述: 本發明提供一種供應基板電能之方法與設備。在一實 施例中,此设備包含數個接點、一電流感測器及一電流調 整器。此電流感測器附於每一接點上以感測其電流。電流 調整器因應於電流感測器之訊號而控制施於每一接點2 的電流。 ‘ 在另一實施例中,一隆起環繞著每一接點的周圍形 以形成一接點密封物。此隆起可藉—可定義於均句膜層、 外表面的隆起物之厚導電層形成;或者是,此隆起可 一膜層形成之》 另 第4頁 訂 線 本紙張尺度翻中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公髮了 526589 A7 B7 五、發明說明( 圖式簡單說明: 藉由以下之詳細說明與伴隨圖示厚將可輕易地了解 本發明之教導,其中: 第1圖係本發明之一喷泉板的簡化側視剖面圖; 第2圖係本發明用於第1圖之電源供應器的一實施例示意 rg! · 圖, 第3圖係本發明個別導體具有第2圖之回授部份242的示 意圖, 第4圖係本發明晶圓固定剖面圖; 第5圖係第4圖之部份410的展開圖; 第6圖(包含第6A圖至第61圖)係接觸基板製程之一實施 例的剖面圖;及 第7圖係隆起之實施例的俯視圖。 為便於了解,本發明使用相同圖號以標示圖中的相同 元件。 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 再 填
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖號對照說明: 10 噴泉板 12 電解容器 13 開口 14 晶圓支撐件 14 晶圓支撐件 16 陽極 20 接觸環 21 封閉室 22 電源供應器 48 晶圓 54 晶圓電鐘面 56 接點 204 控制器 206 電源供應器 第5頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 526589 A7 B7 五、發明說明() 210 中央處理單元 212 記憶體 214 輸出/入電路 216 支援電路 218 系統匯流排 250 電流調整器 400 晶圓支撐件 410 部份 424 環狀支撐元件 424 環狀支撐元件 425 扣件 460 聚醯亞胺層 462 導電層 470 隆起 606 絡-銅-路賤鍵層 608 光罩 612 PSPI 層 614 導電線路層 616 導電線路層 652 接點 654 隆起 704 功率導體 706 可變電阻 708 功率導體 710 電流感測器 712 功率導體 714 控制導體 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發明詳細說明: 在下列說明之後热悉該項技藝者可清楚地察覺本發 明之教導可用於任何金屬沈積,例如電鍍。 1.組成結構 一喷泉板10至少包含一電解容器12、一陽極16、一 電源供應器2 2、一接觸環2 0、複數個接點5 6及一晶圓支 撐件1 4。此喷泉板1 0包含一沈積金屬於基板(例如一晶圓) 上之電解液。一晶圓48固定於此晶圓支撐件1 4上然後浸 第6頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 526589 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 入容器12之電解液中以沈積金屬於其上。以電鍍法將電 解液所含之銅沈積出一銅層於晶圓48之一區域上(典型上 已預先披覆一銅晶種層)。第2圖係描述本發明電源供應 器22之一實施例,其感測並控制加至第丨圖所示嘴泉板 1 0之接點56上之電流。即使本發明所揭示係噴泉板1 〇 , 本發明卻曰在涵蓋任何至少包含沉積金屬於晶圓或其他 基板上之接點5 6的製程反應室。 在第1圖中’接點56係電性耦合於電源供應器22。 任何接觸基板上所沉積之晶種層的接點結構均為本發明 此揭所指之”接點”,例如接點至少包含接觸桿、接觸針以 及其他已知的接點結構。此噴泉板1 〇包含一電解容器 12 ’觸及晶圓支撐件14之晶圓48可經一開口 ! 3置於其 中。陽極16係置於靠近此噴泉板1 〇之底部。接觸環2〇 係用以維持晶圓之定位以由接觸環2〇中之接點56施以電 流。此晶圓支撐件1 4以開口 1 3之邊緣支撐以形成一含電 解液之封閉室2 1。此圓形接觸環20可電性接觸晶圓電鍍 面54上之晶種層。此晶種層之部份包含一最好是位於晶 圓4 8周圍之晶種層接觸部。晶種層之所在位置可與接點 56形成有效接觸。一電解液之輸入源及輸出源(均未顯示) 連結於電解容器1 2以個別地供給及汲取電解液至(自)電 解容器12中。 典型上此接點5 6係以含導電物質(例如Is、飲、鉑、 金、銅或銀)之材料或合金所形成的。位於接觸環20内部 之部份接點5 6係用以使晶圓4 8上產生之電場(及機械結 第7頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) i^T· •線· 526589 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 合效應)最小。此晶圓48係固著並位於柱狀電解容器12(其 軸向地符合晶圓4 8之形狀)之上方。此喷泉板1 0運作時 電解液會垂直地衝擊晶圓48之晶圓電鍍面54。 運作時,晶圓48與陽極1 6相互影響而作為陰極並可 被視為其上具有金屬可控膜層之工件。典型上此接觸環2〇 至少包含複數個金屬製或半金屬製之接點56。若此接點 5 6曝露於電解液中,則此晶種層會累積電鍍沉積物。接點 5 6上之沉積物會改變其物理、電氣及化學特性並最後使接 觸環20之電氣效能變差。此效能變差會因不均勻電流分 佈而導致晶圓上電鍍不均勻。 第2圖係描述本發明伴隨喷泉板1 〇之電源供應器22 的實施例。此實施例提供一可供給電源至個別接點之電源 設計,其中即使每一接點5 6之電阻相異,不同接點之電 流仍為平衡。即使是在接點5 6具有相同電阻之例子中, 此電源供應器22提供晶種層一更為均勻之電流密度(及電 流密度之應用)。含回授部份242之個別導體使每一接點 56個別地連接至一控制器204。每一含回授部份242之個 別導體感測施於其個別接點5 6之電流,並提供表示電流 之輸入至控制器204。此控制器依據所感測之電流來使不 同接點5 6間(如果有需要)之電流平衡如下。 第3圖係詳細顯示伴隨電源供應器206及控制器204 之含回授部份242的個別導體的實施例。此含回授部份 242的個別導體至少包含功率導體702、704及714、一可 變電阻706、一電流感測器7 1 0、控制導體7 1 2及7 1 4。此 第8頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) -------r —·— ------^--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526589 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 功率導體702由電源供應器206供給足夠的電流至控制器 204以滿足控制器204與噴泉板1〇之電氣及電子需求。功 率導體704及708(其中隔有可變電阻706)自控制器204 提供控制之電功率至喷泉板1 0之接點5 6。此電流感測器 7 1 0判定流經功率導體708之電流然後將此訊息(最好是以 數位形式)傳回控制器204。 此控制器204之電流調節器部份720提供一控制訊號 至可變電阻706。此可變電阻706之反應係若此接點個別 地接收較其他接點更多或更少的電流則增加或減少其電 阻值以控制施於控制器5 6之電流。伴隨不同個別回授部 份242之可變電阻706必須以整體方式運作。然後幾乎相 同的電流會自含回授部份242之個別導體施於其各自的接 點5 6 〇 在一實施例中,施於每一個別接點56之電流會因流 至個別接點之電流超過施於噴泉板之特定接點(其接收最 少電流)的電流量而減少。此電流減少可能肇因於增加可 變電阻706之一適當電阻值(由控制器204決定)。此控制 器2 0 4連續地運作使得可變電阻7 0 6之相關電阻值準位連 續地調整施於接點之電流。 在另一實施例中,控制器204施於相較其他接點接收 較少電流之接點5 6的電流可藉由增加電流調節器(未顯示) 所施之電流來接收更多電流;或者是,控制器2 〇 4可減少 施於較其他接點5 6接收更多電流之接點5 6的電流。任何 依據施於接點5 6之感測電流來改變施於不同接點5 6之電 第9頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公餐) 請 先 閲 讀 背 之 注 項 再 填
訂 線 526589 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明( 流(以平衡多個接點間之電流)的技術均為本發明之範疇所 包含。 運作上此控制器204可視為包含電流感測部份及電流 凋節4丨刀等兩部份。圖中並未對此兩部份之個別分開描述 因其運作為有相關性並牽涉許多相同設備。此控制器至少 包含一中央處理單元(CPU)21〇、一記憶體212、輸出/入電 路214、電路部份216、系統匯流排218。此控制器204 之形式可為一個人電腦、一微電腦、一網路電腦、一主機、 一械處理器或是任何其他已知的電腦種類(其運作為該項 技藝已知故簡化而不予詳述)。 此中央處理單元2 1 0執行控制器204之處理及運算功 月匕此中央處理早元210最好為Intel Corporation、Texas
Instrument或Advanced Micro Device以及其他該項技藝所 知悉所製造之種類。此記憶體2 1 2包含儲存、讀取、程式、 運算域、系統參數及其他控制電源供應器22之必要參數 的隨機存取記憶體(RAM)及唯讀記憶體(R〇M)。系統匯流 排218於中央處理單元210、記憶體212、支援電路216 與輸出/入電路214間傳輸數位資訊。此系統匯流排21 8 亦於中央處理單元210、記憶體212、輸出/入電路214、 支挺電路216(蔭流排218連結於噴泉板1〇)。 此輸出/入電路214提供一於控制器204之每一組成 元件間傳輸數位資訊之界面。此輸出/入電路214亦提供控 制器204之每一組成元件與噴泉板1 〇之不同部份間之界 面。此支援電路216至少包含所有其他的使用者界面部份 第10頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 11 — ^ — — — — --I---^ · 11--I 111 -- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526589 A7 B7 五、發明說明() (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) (例如顯示器或鍵盤)、系統裝置及伴隨控制器204之附加 裝置。在以數位裝置說明控制器204之同時,本發明之範 疇亦包含執行類似功能之類比裝置。如第2圖所示之電流 調整器控制由電源供應器206供給陽極1 6之電流。 此控制器204與接點56間之交互連結可以涉及於適 當晶圓上單一或多層薄膜佈線方式的已知製造技術來達 成。 2 ·晶圓接點之製造 現在描述第2圖所用之接觸環20的製作過程實施 例。此製作實施例提供接點56,其提供比較流入個別接點 之電流的必要線路結構。此實施例提供可使下述不同接點 56間之電流再平衡的電氣接點。 此佈線網狀物與此接點5 6可製成一金屬網狀物。較 佳之金屬係長條狀且廣泛用於電氣接點之銅-鈹合金,因 其具有高彈性係數、良好的塑性及相對高的導電性。此製 造方法之範例說明於包含第6A圖至第61圖之第6圖。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在第6A圖中,此接觸環20(最好是由鈹所製成)係去 毛邊並電鍍一層厚5微米之鎳。在第6B圖中,15-20微米 之聚醯亞胺層604包覆接觸環2〇之側面及邊緣。雖然聚 酿亞胺係為熟知的介電層,但任何其他可以下述方式應用 之介電層均為本發明之範疇所涵蓋。然後此晶圓於攝氏 300度至400度中固化。 在第6C圖中,一鉻_銅_鉻濺鍍層6〇6形成於接觸環 第”頁 I紙張尺度適时@國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公f )-' '""""' 526589 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明() 20之上表面上。較薄之鉻層係作為保護層以避免對銅層有 不良影響。此銅層係作為導電層且外部鉻層係作為另一保 護層。移除此兩鉻保護層亦為本發明之範疇。第6C圖之 鉻-銅-鉻濺鍍層606包含約為200埃之鉻層、約為10-25 微米之銅層及約為200埃之鉻層。此10-25微米之銅層較 既存之技術為厚,且如第5圖所示提供一 470隆起。 在第6D圖中,接著形成一光阻(未顯示)於晶圓上以 開始選擇性地移除此鉻-銅-鉻濺破層 606。然後對此光阻 進行軟烤。此光阻可依需求為正光阻或是負光阻。然後以 光罩608將此光阻曝光以定義出第一線路層。在第6E圖 中’以一負蚀刻層(其一實施例包含高硫酸铵鹽ammonium persulfatee)移除鉻-銅-鉻濺鍍層 606未被光阻保護之部 份。此負蝕刻層(亦可使用其他蝕刻技術,以電漿蝕刻、 反應性離子蝕刻、液態蝕刻或其他適當技術)因而回復成 聚醯亞胺層。 在第6F圖中,接著形成光阻性聚醯亞胺層(PSPI)612 並進行軟烤。然後將此PSPI層曝光、顯影及固化。此係 為一介電材料。然後於第6F圖中視需要重複第6C圖之步 驟以形成導電線路層614、616於後續聚醯亞胺層間。在 第6G圖中,光阻性聚醯亞胺層於618中移除之部份,在 第6F圖中,若有需要於曝光及處理部份時提供下方膜層 介層窗。此多層可提供第6G圖之多層導體結構。 在第6H圖中,以雷射刻出一貫穿此多層至(但不限定) 第6B圖之聚醯亞胺層604的接觸孔650。此步驟使接點 第12頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) --------^---.——裝•丨 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 526589 五、發明說明( 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 A7 B7 56延伸至此聚醯亞胺層604。在第61圖中,以電鍍形成 接點56(最好是由鉑所形成)於第6H圖之接觸孔650中。 第6A圖至第6G圖所述之方法的好處在於形成之隆 起645環繞每一接點56。當如第4圖及第5圖壓縮時,此 隆起645會封住接點56而與第1圖之電解容器12的封閉 皇2 1所含的電解液隔離。在本發明之一實施例中,在路_ 銅-鉻濺鍍層606中披覆厚的(25微米)銅特徵可如第6C圖 所示形成此隆起645。此隆起645環繞接點56如第7圖所 示。此表面型態可提供可壓縮之隆起或是屏障654(因鉻_ 銅-鉻濺鍍層之厚度相較於周圍表面為突起)。當此隆起接 觸並被壓縮緊貼於基板48時,環繞於接點652之突起及 可壓縮之隆起或屏障延使接點56”截斷,,於電鍍液。第7圖 之接點652的俯視圖顯示此昇起之可壓縮隆起或屏障延伸 於環島702及内島704之上方。此可壓縮之隆起654可藉 由上述薄膜製程而具有高度重製性。接點56密封隔絕於 電鍍液可使電鍍液所含之金屬不會附著於接點56。此接點 密封亦可延長電鍍液之壽命因為電鍍液不會與接點56之 才瞭產生化學反應。此接點密封隔絕於電鍍液使得不同電 氣接點56間之電性均等及可預測,因為接點可維持其= 有材料及組態更久。在本發明之另一實施例中,此隆起'Μ# 具有一額外環繞於接點56周圍之聚醯亞胺層。此另一實 施例並不使用較厚的鉻-銅-鉻濺鍍層606。 第4圖及第5圖係顯示另一實施例中搭配電解容器u 之晶圓支撐件400的更細部。此晶圓支撐件4〇〇支撐著晶 第13頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公爱 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
五、發明說明() 圓48使得晶圓電鍍面54曝露於容器12所定義之封閉室 21所含的電解液中。此接觸環20(如第4圖及第5圖之剖 面)藉一塑膠或其他抗腐蝕材料製成之絕緣扣件425(例% 螺栓或螺絲)貼附於一環狀支撐元件424。第1圖之晶圓支 撐件14係由環狀支撐元件424之表面426所支撐。複數 個接點56被接觸環20之周圍所隔離並施電能於晶圓電艘 面54上之晶種層(未顯示)上。 第5圖係第4圖之部份410元件的展開圖。介電聚酿 亞胺層4 6 0結構性地支撐接點5 6。有數個導電層4 6 2置於 此介電聚酿亞胺層462中。接點56施加電流於晶圓電鍍 面54上之晶種層。隆起470(在一實施例中其外層是由介 电1酿亞胺層4 6 0所組成)佔滿壤繞接點5 6周圍之晶圓電 鍍面54。此隆起限制了電解液由反應室422流至接點56。 使接點5 6不曝露於電解液之限制延長了接觸環與電解液 的實際壽命。 施於接觸環20背面之壓力足以使環繞接點652之隆 起654平坦。變平坦之隆起654可使每一接點%建立穩 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 X 消 費 合 作 社 印 製 固的電性連結。接觸裱20被施以足夠的力量來使環繞接 觸孔650之隆起654平坦,並藉以使緊貼接點接觸環2〇 之652偏斜。此力量可形成緊密的封閉而限制接觸環2〇 之接點56與晶圓電鍍面54之上晶種層間的流體通道。 包含接點56與隆起之接觸環2〇的結構在其他實施例 中可作為具有聚醯亞胺之彈性電路層間介電層,如以已知 電路製造方法形成。此彈性電路之一範例見於1999年3 第14頁
526589 A7 五、發明說明() 月12日核發予Kholodenko筝乂、 〒人 < 美國專利第5,885,469 號中,且此專利已讓渡於本發明 j <所有權人。此彈性電路 可藉膠合或是適當扣件附著於雷蚀 、私鍍設備之剛體上(且可固 化於一壓力銷中)。在後面的情況φ 旧,疋中,不昂貴的彈性電路 可作為電鍍槽中一可置換的接觸+牧 安觸私路。通常聚醯亞胺可良 好地抵抗酸性之電鍍溶液,其他聚人彡 儿來合物介電材料亦可取代 聚醯亞胺。 雖然不同含有本發明之教導的實施例已經詳細地說 明’但熟悉該項技藝者仍可輕易地推得這些教導所含之不 同實施例。 -----------,---裝 ------訂---------線--.^9 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第15頁 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐)
Claims (1)
- 526589 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 1. 一種供應基板電流之設備,至少包含: 複數個接點; 一電流感測器,附於每一該複數個接點;及 一電流調整器,因應於該電流感測器來控制施於每 一該複數個接點之電流。 2 ·如申請專利範圍第1項所述之設備,更包含一控制器, 以判定每一該複數個接點間之不均句電流。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之設備,其中上述電流調整 器之運作因應於上述控制器。 4. 如申請專利範圍第1項所述之設備,其中上述電流調整 器確保該複數個接點有類似之電流準位。 5. 如申清專利範圍第1項所述之設備,更包含一電源供應 器供應上述接點電流。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 6·如申請專利範圍第5項所述之設備,更包含複數個個別 導體’該別導體之至少一個使上述電源供應器連結至上 述複數個接點。 7·如申請專利範圍第6項所述之設備,其中上述電流調整 器更至少包含複數個可變電阻,至少一個可變電阻連結 第16頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐〉 526589 A8 B8 C8 D8 、申請專利範圍 至每一上述該別導體以控制施於上述複數個接點之電 流。 8 ·如申請專利範圍第6項所述之設備,其中上述電流調整 器更至少包含一電流控制裝置,調整每一上述該別導體 之電流。 9·如申請專利範圍第1項所述之設備,更包含一隆起環繞 上述接點形成。 1〇·—種施加電流於基板之方法’至少包含: 提供複數個接點; 感測施於每一該複數個接點之電流;且 因應於電流感測器而控制施於每一該複數個接點之 電流。 1 1 ·如申請專利範圍第1 0項所述之方法,其中上述控制電 流之步驟更包含使施於每一該複數個接點之電流平 衡。 1 2.如申清專利範圍第1 〇項所述之方法’其中上述控制電 流之步驟更包含改變施電流於接點之導體的阻抗。 1 3 ·如申請專利範圍第1 〇項所述之方法,其中上述控制電 第17頁 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ------:---------裝: (請先閱讀背面之注意事項再填寫本 1 訂: --線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 526589 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 泥芡步驟更包含改變施加電流於接點之導體的電流準 位。 1 4· 一種形成接觸環之方法,至少包含: 提供一基板; 沉積至少一導電層於該基板上;且 沉積一至少鄰接該導電層之絕緣層於該基板上。 15·如申請專利範圍第14項所述之方法,更至少包含使一 接點電性連結於至少一個上述導電層。 16·如申請專利範圍第14項所述之方法,其中上述至少一 個導電層之厚度足以在上述絕緣層沉積後在中上述絕 緣層中定義一隆起。 1 7 ·如申請專利範圍第1 6項所述之方法,更至少包含使一 接點電性連結於至少一個上述導電層,其中上述隆起於 上述接點之周圍延伸。 1 8. —種使晶圓與一電源供應器電性連結之接觸環,至少包 含: 一導電層; 一絕緣層,沉積於該導電層上方; 一接點,電性連結於該導電層並延伸穿過該絕緣層 第18頁 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本 l·. •裝 ’» · •線· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 526589 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 至一外表面;及 一隆起’形成於該外表面上且於上述接點之周圍延 伸〇 19·如申請專利範圍第18項所述之接觸環,其中上述絕緣 層係一均勻膜層,且上述導電層具有足夠的大小來形成 上述隆起於上述絕緣層上。 2 0.如申請專利範圍第18項所述之接觸環,其中上述隆起 係以沉積於上述絕緣層上之附加膜層來形成。 21. —種施加電流於基板上之設備,至少包含: 一金屬沉積系統,至少包含一沉積室、一陽極及一 陰極,該陽極至少包含: 複數個接點; 一電流感測器,附於每一該複數個接點上; 一電流調整器,因應於該電流感測器而控制施於每 一該複數個接點之電流。 22·如申請專利範圍第21項所述之設備,其中上述金屬沉 積系統係一電鍍裝置。 23 .如申請專利範圍第2 1項所述之設備,更至少包含一隆 起形成於外表面上且於上述接點之周圍延伸。 第19頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ------1---?-----裝· · 赢 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本V ·
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SE522909C2 (sv) * | 2001-09-06 | 2004-03-16 | Ericsson Telefon Ab L M | Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor |
US20040072445A1 (en) * | 2002-07-11 | 2004-04-15 | Applied Materials, Inc. | Effective method to improve surface finish in electrochemically assisted CMP |
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KR100545192B1 (ko) * | 2003-06-19 | 2006-01-24 | 동부아남반도체 주식회사 | 증착 중단 시기 검출 장치 및 이를 이용한 반도체 소자의구리 배선 형성 방법 |
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US20070056856A1 (en) * | 2005-09-13 | 2007-03-15 | Dongbuanam Semiconductor Inc. | Apparatus and method for electrically contacting wafer in electronic chemical plating cell |
KR101156786B1 (ko) * | 2009-11-13 | 2012-06-18 | 삼성전기주식회사 | 바렐도금장치 |
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ITMI20130235A1 (it) * | 2013-02-20 | 2014-08-21 | Industrie De Nora Spa | Dispositivo per il monitoraggio della distribuzione di corrente in celle elettrolitiche interconnesse |
ITBA20140074A1 (it) * | 2014-12-05 | 2016-06-05 | Selco Italia S R L | "ripartitore modulare per la stabilizzazione delle correnti nei processi di elettrodeposizione" |
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AU7403694A (en) * | 1994-07-19 | 1996-02-16 | American Plating Systems, Inc. | Electrolytic plating apparatus and method |
US5670034A (en) * | 1995-07-11 | 1997-09-23 | American Plating Systems | Reciprocating anode electrolytic plating apparatus and method |
US6004440A (en) * | 1997-09-18 | 1999-12-21 | Semitool, Inc. | Cathode current control system for a wafer electroplating apparatus |
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WO1999031304A1 (fr) * | 1997-12-16 | 1999-06-24 | Ebara Corporation | Dispositif de plaquage et procede de confirmation d'alimentation en courant |
US6071388A (en) * | 1998-05-29 | 2000-06-06 | International Business Machines Corporation | Electroplating workpiece fixture having liquid gap spacer |
US6190494B1 (en) * | 1998-07-29 | 2001-02-20 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for electrically endpointing a chemical-mechanical planarization process |
US6251236B1 (en) * | 1998-11-30 | 2001-06-26 | Applied Materials, Inc. | Cathode contact ring for electrochemical deposition |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI653366B (zh) | 2015-01-30 | 2019-03-11 | 台灣積體電路製造股份有限公司 | 電鍍設備與方法 |
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