SE522909C2 - Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor - Google Patents

Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor

Info

Publication number
SE522909C2
SE522909C2 SE0102960A SE0102960A SE522909C2 SE 522909 C2 SE522909 C2 SE 522909C2 SE 0102960 A SE0102960 A SE 0102960A SE 0102960 A SE0102960 A SE 0102960A SE 522909 C2 SE522909 C2 SE 522909C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
varistor
connection point
toad
resistance
varistom
Prior art date
Application number
SE0102960A
Other languages
English (en)
Other versions
SE0102960L (sv
SE0102960D0 (sv
Inventor
Andrej Litwin
Ola Pettersson
Original Assignee
Ericsson Telefon Ab L M
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ericsson Telefon Ab L M filed Critical Ericsson Telefon Ab L M
Priority to SE0102960A priority Critical patent/SE522909C2/sv
Publication of SE0102960D0 publication Critical patent/SE0102960D0/sv
Priority to TW091105743A priority patent/TW556332B/zh
Priority to CNA028175565A priority patent/CN1554141A/zh
Priority to EP02753324A priority patent/EP1423898B1/en
Priority to PCT/SE2002/001535 priority patent/WO2003021737A1/en
Publication of SE0102960L publication Critical patent/SE0102960L/sv
Priority to US10/791,389 priority patent/US7019382B2/en
Publication of SE522909C2 publication Critical patent/SE522909C2/sv

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0248Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection
    • H01L27/0251Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection for MOS devices
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H9/00Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
    • H02H9/04Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
    • H02H9/042Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage comprising means to limit the absorbed power or indicate damaged over-voltage protection device

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Description

20 25 5221 90.9 2 Detta ernås enligt uppfinningen medelst en anordning för att skydda en integrerad högfrekvenskrets mot högre spänningar än normala driftspänningar på en till en bondpadd ansluten in/utgångsklämma genom att anordningen innefattar en halv- ledarvaristor som är utformad mellan bondpadden och kretsens in/utgångsklämma i en och samma process och på en och samma bricka och som har låg, huvudsakligen konstant resistans för nämnda normala driftspänningar och högre resistans för nämnda högre spänningar.
FIGURBESKRIVNING Uppñnningen beskrivs närmare nedan under hänvisning till bifogade ritning på vilken fig. 1 visar en utföringsforrn av en anordning enligt uppfinningen för att ESD-skydda en ingångsförstärkare hos en integrerad krets medelst en varistor, fig. 2 är ett resistans-spänningsdiagram for varistorn i fig. 1, fig. 3 visar en första utföringsforrn av en varistor för användning i fig. 1 och fig. 4 visar en andra utföringsforrn av en varistor för användning i fig. l.
BESKRIVNING AV UPPFINNINGEN I enlighet med uppfinningen används en i kisel integrerad varistor som strömbe- gränsande komponent i en anordning för ESD-skydd av en i kisel integrerad krets för högfrekvenstillämpningar.
Det bör framhållas att varistorer kan designas på ett antal olika sätt för detta ändamål, där olika fysikaliska fenomen kan utnyttjas. Det enklaste sättet att uppnå den önskade effekten är att utnyttja faktumet att elektriska bärares, d.v.s. elektroners och håls, hastighet mättas med ökande styrka hos ett elektriskt fält. Härav följ er att strömmen genom varistom mättas även om spänningen över varistorn fortsätter att stiga. 10 15 20 25 30 522 '909 3 o c n ø oo v v r ø ø n no Fig. l visar en utföringsform av en anordning enligt uppfinningen för att skydda en ingångsförstärkare 1 i en integrerad krets (inte visad f.ö.) mot ESD som uppträder på en till en bondpadd 2 ansluten ingångsklämma hos förstärkaren 1.
I enlighet med uppfinningen är en varistor 3 integrerad mellan förstärkarens 1 ingångsklämma och bondpadden 2 för att begränsa varje uppträdande ESD-ström.
På i och för sig känt sätt i samband med ESD-strömbegränsande högresistansmot- stånd är hopkopplingspunkten mellan varistom 3 och bondpadden 2 ansluten till en s.k. primär strömshuntningsanordning.
Vid den i fig. 1 visade utföringsforrnen består den primära strömshuntningsanord- ningen av dels en diod 4 som är ansluten med sin anod till hopkopplingspunkten mellan varistom 3 och bondpadden 2 och med sin katod till en positiv spänning VA och dels en diod 5 som är ansluten med sin katod till hopkopplingspunkten mellan varistom 3 och bondpadden 2 och med sin anod till jord GND.
Hopkopplingspunkten mellan varistom 3 och förstärkarens 1 ingângsklämma kan vara ansluten till en s.k. sekundär strömshuntningsanordning som emellertid också kan utelämnas.
Vid den i fig. 1 visade utföringsformen består den sekundära strömshuntningsanord- ningen av dels en diod 6 som är ansluten med sin anod till hopkopplingspunkten mellan varistom 3 och förstärkaren 1 och med sin katod till den positiva spänningen VA och dels en diod 7 som är ansluten med sin katod till hopkopplingspunkten mellan varistom 3 och förstärkaren 1 och med sin anod till jord GND.
De primära och sekundära strömshutningsanordningarna shuntar varje uppträdande ESD-ström till VA eller jord GND.
I c o o u' 10 15 20 25 ø o o n nu 522 909 4 Det är underförstått att andra strömbegränsningsanordningar kan användas såsom exempelvis tyristordioder.
I enlighet med uppfinningen är varistom 3 designad till att ha låg, huvudsakligen konstant resistans inom ett normalt driftspänningsornråde för förstärkaren 1 och högre resistans for högre spänningar än de normala driftspänningarna.
Ett exempel på ett diagram över resistansen R som funktion av spänningen V för varistom 3 visas i fig. 2. Såsom visas i diagrammet i fig. 2 antas varistoms resistans R var låg och huvudsakligen konstant för driftspänningar mellan V0 och V1.
Fig. 3 visar en första utföringsform av varistom 3 i fig. 1 som kan användas för ESD-skydd enligt uppfinningen.
Utföringsforrnen av varistom i fig. 3 har framställts i ett (P-)-substrat 8, exempelvis innefattande bor, i vilket en (N-)-brunn 9, exempelvis innefattande fosfor, diffunderats från substratets 8 ovansida. Två (NH-områden 10, 11 har implanterats i (NJ-brunnen 9 från substratets 8 ovansida. (N+)-områdena 10, 11 är åtskilda medelst en isolator 12 som sträcker sig in i (N-)-brunnen 9. Isolatorer 13, 14 som också sträcker sig in i (NJ-brunnen 9 förefinns på den andra sidan av respektive (N+)-område 10 och 11. Isolatorema 12, 13 och 14 utgörs exempelvis av fältoxid eller grund dikesisolering.
För att ansluta varistom i fig. 3 till förstärkaren 1 och bondpadden 2 enligt fig. 1 förefinns kontakter 15, 16 ovanpå respektive (NH-område 10 och 11. Kontaktema 15, 16 består exempelvis av TiSiZ eller CoSiz. Substratets 8 undersida är normalt jordad. o ~ u a u ou 10 15 20 25 30 o O o ø av 522 '909 5 För normala driftspänningar V0-V1 för förstärkaren 1 i fig. 1 är resistansen låg och huvudsakligen konstant mellan kontakterna 15 och 16 hos varistorn i fig. 3 såsom framgår av diagrammet i fig. 2. Ström kommer att flyta från (N+)-området 10 via (Ng-Området 9 fi11 (Nfi-omådef 11.
När potentialskillnaden mellan kontakterna 15 och 16 hos varistorn i fig. 3 överstiger de normala driftspänningarna for förstärkaren 1 i fig. 1 såsom exempelvis när en ESD uppträder, d.v.s. när det elektriska fältet mellan (N+)-områdena 10 och 11 överstiger det normala elektriska fältet mellan (N+)-ornrådena 10 och 11, mättas de elektriska bäramas, i detta fall elektronernas, hastighet mellan (Nfi-ornrådena 10 och 11. Strömmen genom varistom i fig. 3 kommer således att mättas även om det elektriska fältet fortsätter att öka. Resistansen kommer med andra ord att öka med ökande spänning över varistom i fig. 3, d.v.s. spänningar > V1, såsom illustreras medelst diagrammet i fig. 2.
(N-)-brunnens 9 dopningsnivå och isolatoms 12 dimensioner väljs på sådant sätt att de elektriska egenskapema enligt diagrammet i fig. 2 uppfylls. Om valet inte görs noggrant kommer den beskrivna anordningen att uppföra sig som ett motstånd eller att ha egenskaper som är olämpliga för en skyddsanordning.
Fig. 4 visar en andra utföringsforrn av varistorn 3 i fig. 1 som kan användas for ESD-skydd enligt uppfinningen.
Utföringsfonnen av varistorn i fig. 4 har framställts i ett (P-)-substrat 17, exempelvis innefattande bor, i vilket en (N-)-brunn 18, exempelvis innefattande fosfor, diffunderats från substratets 17 ovansida. Tre separata (N+)-omräden 19, 20 och 21 har implanterats i (N-)-brunnen 18 från substratets 17 ovansida mellan två isolatorer 22, 23 som sträcker sig in i (N-)-brunnen 18. Isolatorerna 22, 23 utgörs exempelvis av fåltoxid eller grund dikesisolering. u I ø n un 10 15 20 25 30 522' 909 6 Kontakter 24, 25 och 26 förefinns ovanpå respektive (NH-område 19, 20 och 21.
Kontakterna 24, 25 och 26 består exempelvis av TiSi2 eller CoSiz. Substratets 17 undersida är normalt jordad.
Kontaktema 24 och 26 som är belägna intill isolatorema 22 och 23 hos varistom i fig. 4 är avsedda att anslutas till förstärkaren 1 och bondpadden 2 i fig. 1.
Isolerande skikt 27, 28, exempelvis bestående av SiOz, förefinns mellan kontakterna 24, 25 respektive 25, 26. Styren 29, 30, exempelvis av polykisel, fórefinns ovanpå dessa isolerande skikt 27, 28. Dessa styren 29, 30 är hopkopplade med kontakten 25 ovanpå (N+)-området 20.
För normala driftspänningar för förstärkaren 1 i fig. l är resistansen konstant mellan kontakterna 24 och 26 hos varistom i fig. 4 såsom illustreras medelst diagrammet i fig. 2. Ström kommer att flyta från (N+)-området 19 till (N+)-on1rådet 20 och från (N+)- området 20 till (N+)-området 21.
Om en positiv ESD-spänning uppträder exempelvis på kontakten 24 kommer dess potential att bli högre än potentialen på kontakten 25, d.v.s. på styrena 29 och 30.
Detta medför att (NJ-området under styret 29 blir utarmat på elektroner med början från kontakten 24. Härigenom kommer resistansen mellan (N+)-ornrådena 19 och 20 att öka. I (NJ-området under styret 30 kommer emellertid elektroner att ackumuleras.
Förutom den av utarrrmingen av elektroner under styret 29 förorsakade resistans- ökningen kommer de elektriska bäramas, i detta fall elektronernas, hastighet mellan (NH-områdena i varistom i fig. 4 att mättas när det elektriska fältet mellan (N+)- områdena överstiger det normala elektriska fältet mellan (N+)-områdena. Strömmen genom varistom i fig. 4 kommer således också att mättas även om det elektriska 9 9 ß n 1.- u u ..
I - o o o " " 'H0 nu en ; Û . a . . . I '_ :- ; ø r o . . . ._ li- n» o; s n _ I u o . nn c 4 n n nu n o . f z : ' i ' ' ' II fluo nu o e:vn n ' ' 7 fältet fortsätter att öka. Resistansen kommer med andra ord att öka med ökande spänning över varistorn i fig. 4 såsom illustreras medelst diagrammet i fig. 2.
Det torde vara uppenbart för fackmannen att liknande typer av varistorer såsom varistorer baserade på J FETar eller MESFETar eller kombinationer med dessa, d.v.s. kombinationer med ovan beskrivna varistorer, kan användas for ESD-skydd i enlighet med uppfinningen.

Claims (6)

10 15 20 25 30 522' 909 8 » n v o oo u c PATENTKRAV
1. Anordning för att skydda en integrerad högfrekvenskrets (1) mot högre spänningar än norrnala driftspänningar på en till en bondpadd (2) ansluten in/utgångsklämma, kännetecknad av att anordningen innefattar en halvledar- varistor (3) som är integrerad mellan bondpadden (2) och in/utgångsklämman tillsammans med den integrerade kretsen (1) och som har låg resistans för nämnda normala driftspänningar och högre resistans för nämnda högre spänningar.
2. Anordningen enligt kravet l, kännetecknad av att resistansen är huvudsakligen konstant för nämnda normala driftspänningar.
3. Anordningen enligt kravet 1, kännetecknad av att hopkopplingspunkten mellan varistom (3) och bondpadden (2) är ansluten till en primär strömshuntningsanord- ning (4, 5).
4. Anordningen enligt kravet 3, kännetecknad av att den primära strömshuntnings- anordningen innefattar dels en diod (4) som är ansluten med sin anod till hopkopplingspunkten mellan varistorn (3) och bondpadden (2) och med sin katod till en positiv spänning (VA) och dels en diod (5) som är ansluten med sin katod till hopkopplingspunkten mellan varistorn (3) och bondpadden (2) och med sin anod till jord (GND).
5. Anordningen enligt kravet 1, kännetecknad av att hopkopplingspunkten mellan varistorn (3) och den integrerade kretsen (1) är ansluten till en sekundär strömshunt- ningsanordning (6, 7).
6. Anordningen enligt kravet 5, kännetecknad av att den sekundära strömshunt- ningsanordningen innefattar dels en diod (6) som är ansluten med sin anod till hopkopplingspunkten mellan varistom (3) och den integrerade kretsen (1) och med n ~ > ø n nu , ÅIOIII i O? II I O I I GI 0 .:::'.:::-:;;,--»----- :av nu 4: g | ,,, ,, , _" ' "l I u .n n |. . ,, ~ @ o v u: 9 sin katod till en positiv spänning (VA) och dels en diod (7) som är ansluten med sin katod till hopkopplingspunkten mellan varistorn (3) och den integrerade kretsen (1) och med sin anod till jord (GND).
SE0102960A 2001-09-06 2001-09-06 Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor SE522909C2 (sv)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0102960A SE522909C2 (sv) 2001-09-06 2001-09-06 Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor
TW091105743A TW556332B (en) 2001-09-06 2002-03-25 An arrangement for ESD protection of an integrated circuit
CNA028175565A CN1554141A (zh) 2001-09-06 2002-08-28 集成电路的静电放电保护布线
EP02753324A EP1423898B1 (en) 2001-09-06 2002-08-28 An arrangement for esd protection of an integrated circuit
PCT/SE2002/001535 WO2003021737A1 (en) 2001-09-06 2002-08-28 An arrangement for esd protection of an integrated circuit
US10/791,389 US7019382B2 (en) 2001-09-06 2004-03-02 Arrangement for ESD protection of an integrated circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0102960A SE522909C2 (sv) 2001-09-06 2001-09-06 Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE0102960D0 SE0102960D0 (sv) 2001-09-06
SE0102960L SE0102960L (sv) 2003-03-07
SE522909C2 true SE522909C2 (sv) 2004-03-16

Family

ID=20285244

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE0102960A SE522909C2 (sv) 2001-09-06 2001-09-06 Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7019382B2 (sv)
EP (1) EP1423898B1 (sv)
CN (1) CN1554141A (sv)
SE (1) SE522909C2 (sv)
TW (1) TW556332B (sv)
WO (1) WO2003021737A1 (sv)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE0302296D0 (sv) 2003-08-27 2003-08-27 Infineon Technologies Ag Device for ESD protection of an integrated circuit
US7164185B1 (en) * 2004-02-02 2007-01-16 Advanced Micro Devices, Inc. Semiconductor component and method of manufacture
KR20050089219A (ko) * 2004-03-04 2005-09-08 주식회사 팬택앤큐리텔 정전기 보호 및 잡음 차단이 가능한 일렉트리트 콘덴서마이크로폰
EP1603162A1 (en) 2004-05-28 2005-12-07 Infineon Technologies AG Device for esd protection of an integrated circuit
DE102005014176B4 (de) * 2005-03-29 2009-08-20 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Erstellen einer Schutzanordnung zum Schutz eines Elektronikbausteins vor elektrostatischen Entladungen und entsprechend ausgebildeter Elektronikbaustein
WO2010087184A1 (ja) * 2009-01-29 2010-08-05 パナソニック株式会社 差動伝送回路及びそれを備えた電子機器
US8619397B2 (en) * 2011-01-31 2013-12-31 Fairchild Semiconductor Corporation Non-linear power management device for input power protection
CN103378088B (zh) * 2012-04-28 2015-10-14 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种多晶硅二极管静电保护结构
US9696736B2 (en) 2013-03-15 2017-07-04 Fairchild Semiconductor Corporation Two-terminal current limiter and apparatus thereof
US9172239B2 (en) 2013-03-15 2015-10-27 Fairchild Semiconductor Corporation Methods and apparatus related to a precision input power protection device
US9679890B2 (en) 2013-08-09 2017-06-13 Fairchild Semiconductor Corporation Junction-less insulated gate current limiter device
US9735147B2 (en) 2014-09-15 2017-08-15 Fairchild Semiconductor Corporation Fast and stable ultra low drop-out (LDO) voltage clamp device
US9653913B2 (en) * 2015-02-17 2017-05-16 Littelfuse, Inc. Resistance change device providing overcurrent protection
CN111128496B (zh) * 2019-12-26 2021-09-07 亨斯迈(杭州)电力技术有限公司 一种大功率分压器件及制作方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5928370A (ja) * 1982-08-09 1984-02-15 Toshiba Corp 半導体装置
JPS6144454A (ja) * 1984-08-09 1986-03-04 Fujitsu Ltd 半導体装置
US4806999A (en) * 1985-09-30 1989-02-21 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Area efficient input protection
GB8621839D0 (en) * 1986-09-10 1986-10-15 British Aerospace Electrostatic discharge protection circuit
JPH01199403A (ja) * 1987-10-23 1989-08-10 Mitsubishi Electric Corp バリスタ
US5196913A (en) * 1988-07-11 1993-03-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Input protection device for improving of delay time on input stage in semi-conductor devices
ES2055795T3 (es) 1988-11-22 1994-09-01 At & T Corp Separador de salida de circuito integrado que tiene proteccion de esd mejorada.
US5124578A (en) * 1990-10-01 1992-06-23 Rockwell International Corporation Receiver designed with large output drive and having unique input protection circuit
JP2989406B2 (ja) * 1993-01-29 1999-12-13 シャープ株式会社 半導体装置用プリプレーテッドフレーム及びその製造方法
KR970009101B1 (ko) * 1993-08-18 1997-06-05 엘지반도체 주식회사 정전기(esd) 보호회로의 제조 방법
US5615073A (en) * 1995-06-22 1997-03-25 National Semiconductor Corporation Electrostatic discharge protection apparatus
US5751507A (en) * 1995-08-15 1998-05-12 Cypress Semiconductor Corporation KSD protection apparatus having floating EDS bus and semiconductor structure
US5803343A (en) 1995-10-30 1998-09-08 Delco Electronics Corp. Solder process for enhancing reliability of multilayer hybrid circuits
US5808343A (en) * 1996-09-20 1998-09-15 Integrated Device Technology, Inc. Input structure for digital integrated circuits
US6037636A (en) * 1998-05-19 2000-03-14 National Semiconductor Corporation Electrostatic discharge protection circuit and method
US6292046B1 (en) * 1998-09-30 2001-09-18 Conexant Systems, Inc. CMOS electrostatic discharge protection circuit with minimal loading for high speed circuit applications
DE19942023A1 (de) * 1999-09-03 2001-03-08 Moeller Gmbh Schaltungsanordnung für den Überspannungsschutz eines Leistungstransistors zur Steuerung einer induktiven Last
US6432282B1 (en) * 2000-03-02 2002-08-13 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for supplying electricity uniformly to a workpiece
US6331726B1 (en) * 2000-03-21 2001-12-18 International Business Machines Corporation SOI voltage dependent negative-saturation-resistance resistor ballasting element for ESD protection of receivers and driver circuitry
TW449842B (en) * 2000-07-13 2001-08-11 United Microelectronics Corp SOI electrostatic discharge protection circuit
US6455919B1 (en) * 2001-03-19 2002-09-24 International Business Machines Corporation Internally ballasted silicon germanium transistor

Also Published As

Publication number Publication date
US7019382B2 (en) 2006-03-28
EP1423898B1 (en) 2012-02-22
US20040164355A1 (en) 2004-08-26
WO2003021737A1 (en) 2003-03-13
SE0102960L (sv) 2003-03-07
SE0102960D0 (sv) 2001-09-06
EP1423898A1 (en) 2004-06-02
CN1554141A (zh) 2004-12-08
TW556332B (en) 2003-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8637899B2 (en) Method and apparatus for protection and high voltage isolation of low voltage communication interface terminals
SE522909C2 (sv) Anordning för skydd av integrerad högfrekvenskrets innefattande en halvledarvaristor
EP2248172B1 (en) Resistor triggered electrostatic discharge protection
US7186594B2 (en) High voltage ESD-protection structure
CN109256416B (zh) 改善静电放电防护能力的瞬时电压抑制装置
CN100459130C (zh) 半导体结构及其应用、尤其是限制过电压的应用
US9093272B2 (en) Methods of forming electronic elements with ESD protection
WO1993012544A1 (en) Scr protection structure and circuit with reduced trigger voltage
KR910003834B1 (ko) Mos트랜지스터회로
US10074642B2 (en) Crowbar device for voltage transient circuit protection
US9536869B2 (en) Electrostatic discharge protection apparatus and method therefor
EP0472592B1 (en) Low trigger voltage scr protection device and structure
TW202044540A (zh) 具有二極體及矽控整流器的半導體元件
EP0202646B1 (en) Input protection device
CN213042916U (zh) 一种电子装置、一种静电放电保护装置和一种半导体装置
EP0730300B1 (en) Device for the protection of an integrated circuit against electrostatic discharges
Du et al. A robust dual directional SCR without current saturation effect for ESD applications
KR20180085580A (ko) 정전기 방전 보호소자
KR102463902B1 (ko) 다이오드를 내장한 mos 구조의 사이리스터 소자
CN113964115A (zh) 静电放电保护半导体结构及其制造方法
CN103247616A (zh) 静电放电保护装置
US4207584A (en) Safety device for protecting semiconductor components against excessive voltage rise rates
JPS61225875A (ja) サ−ジ吸収用半導体装置