TW419750B - Composition and process for forming electrically insulating thin films - Google Patents

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TW419750B TW087104836A TW87104836A TW419750B TW 419750 B TW419750 B TW 419750B TW 087104836 A TW087104836 A TW 087104836A TW 87104836 A TW87104836 A TW 87104836A TW 419750 B TW419750 B TW 419750B
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Katsutoshi Mine
Takashi Nakamura
Motoshi Sasaki
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Dow Corning Toray Silicone
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Description

M濟部中央樣隼局員工消費合作.杜印策 419750 A7 -_______B7 五、發明説明(i 本發明係關於一種形成電絕緣薄膜之組合物’及一種形 成電絕緣薄膜之方法。更特定言《,本發明係關於形成具 有低介電常數之絕緣薄膜之组合物與方法。 已知砂石之絕緣薄膜係在電子裝置中作為保護層及作為 電絕緣層使用。包含樹脂與溶劑之组合物濕式塗料,係一 般性地且纽地採用於此4請巾。例如,美料利4,756,奶 陳述一種以碎石薄膜塗覆電子裝置之方法,其係將氩珍倍 半氧㈣脂之溶劑溶液塗敷於基材±,蒸發溶㉟,然後在 150°C至聊。(:之溫度下加熱,α達成轉化成似陶竞之梦 石。 當裝置具有縮小之尺寸且變得更高度地整合時,此等絕 緣層需要較低之介電常數。例如,日本應用物理學會及相 關學會第43版擴大摘要,第654頁,摘要26哪已報告藉由氮 矽倍半氧燒樹脂之熟化所獲得薄膜’具有介電常數為Μ。 但是,低,2.7之介電常數為在具有設計尺度比〇ι8微米窄 义下-代高度積體電路中之電絕緣薄膜所需要的。迄今尚 未發現安^且兩度可再現地在適合高度積體電路之電絕緣 薄膜中、例如在碎石薄膜中,產生此種低介電常數之方 法。 ,另一方面,一般已知絕緣薄膜之介電常數’可經由將此 薄膜作成多孔性結構而予降低。例如,美國專利,⑼已 報告經由使用氫㈣半氧燒樹脂之烘烤產物作為高度積體 料中之介電|,以形成具有多孔性結構之絕緣薄膜。但 疋,此項專利並未揭示形成多孔性結構之特定方法。因 -4- 本錄尺度適財ϋϋ家料(CNS )崎格(mx297公瘦 (請先閱請背面之注意事續再填寫本頁) 衣. 419750 A7 -----—______B7 五、發明説明(2 ) 此,,如上文所概述,能夠形成具有低介電常數(例如具有介 電常數實質上低於2.7)之電絕緣薄膜之組合物與方法,迄今 仍然未知。 、本發明(-項目的係為提供一種可製造具有低介電常數 之電絕緣薄膜之組合物與方法。 本發明係關於-種可形成絕緣薄膜之组合物,其包含 ㈧電絕緣可熟化樹脂,選自包括電絕緣可熟化無機樹 脂與電絕緣可熟化有機樹脂, ⑻溶劑:及 (C)至少一種溶劑可溶之物質(排除使用於成份⑻之溶 劑),其在加熱時或經由與樹脂(A)之交互作用’可在 0C至800 C之溫度範圍内產生氣體或進行揮發作用。 該可形成絕緣薄膜之组合物包含 (A) 電絕緣可熟化無機或有機樹脂, (B) 溶劑,及 (C) 至少一種洛劑可溶之物質(排除使用於成份(b)之溶 劑),其在加熱時或經由與樹脂(A)之交互作用,可在〇它 至800 C之溫度範圍内產生氣體或進行揮發作用。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 ---------氏------T -'-Ύ-'0 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 樹脂(A)可為無機性或有機性,然其並不重要,只要其為 溶劑可溶者、於塗敷後可藉加熱予以熟化、並提供絕緣作 用者即可。此樹脂之實例為烷氧基矽烷之部份水解物,無 機樹脂,譬如矽石先質樹脂、例如氫矽倍半氧烷樹脂;及 聚醯亞胺樹脂,氟碳樹脂,苯并環丁締樹脂及氟化聚烯丙 基醚a此树脂可採取單一樹脂或兩種或多種樹脂混合物之 __ -5- 本紙張又度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X29^楚) ' 經濟部中央橾準局員工消費合作社印装 419750 A7 __ _B7 五、發明説明(3 ). 形式。會熟化成矽石之樹脂對於提供特別良好之電絕緣性 質而了係較佳者。於矽石先質樹脂中,特佳係使用於非逆 蚀刻方法中之氫矽倍半氧烷樹脂。 於本發明中使用之氫矽倍半氧烷樹脂為聚矽氧烷,其主 要骨架係由三官能性矽氧烷單位HSi〇3/2所組成,且為一種 具有通式(HSl〇3")n之聚合物,其中下標η為整數。從分子 結構觀點見之,此氫矽倍半氧烷樹脂包括所謂梯型聚矽氧 烷與籠型聚矽氧烷0梯型聚矽氧烷之末端可經由下列基團 封端:例如,羥基,三有機矽烷氧基、譬如三^基矽烷氧 基,或二有機氫矽烷氧基、譬如二甲基氫矽烷氧基。 製備氫矽倍半氧烷樹脂之方法,事實上乃已知,且通常 涉及三氣矽烷之水解作用,及接著進行聚縮合作用(參閱美 國專利第3,615,272號,及日本專利申請案特許公開(公開或 未經審查),特開昭59-189126 (189,120/1984)與特開昭6〇_ 42426 (42,426/1985))。 於本發明中使用之溶劑(Β)應為可溶解樹脂(Α)、然却不會 引致其中之化學變化者,同樣地,其並不重要。可用溶; 之實例為芳族溶劑,譬如甲苯、二甲苯等;脂族溶劑,譬 如己烷、庚烷 '辛烷等;酮溶劑,譬如甲基乙基酮、曱基 異丁基酮等;脂族酯溶劑,譬如醋酸丁酯、醋酸異戍酯 等;及矽酮溶劑,譬如直鏈之曱基矽氧烷,例如六曱基二 矽氧烷與1山3,3-四甲基二矽氧烷,環狀矽氧烷,例: 1,1,3,3,5,5,7,7-八甲基四環矽氧烷與丨,3,5,7•四甲基四環矽氧 烷,及矽烷,譬如四甲基矽烷與二甲基二乙基矽烷。甲基 __ - 6 · 本纸张尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210x2^缝) ---— (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) —訂 419750 A7 B7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印繁 五、發明説明(4 ) 異丁基網與珍氧溶劑係為較佳的。此溶劑可採取單一溶劑 或兩種或多種溶劑混合物之形式。 成份(C)之功能在於降低電絕緣薄膜之介電常數。成份(c) 係於樹脂(A)熟化期間或之後’經由產生氣體或進行揮發作 用·較佳亦自系統中排出·以行使此項功能。此氣體產生或 揮發作用,係藉由加熱或與樹脂⑷之交互作用而引致。此 氣體產生或揮發作用,較佳亦自系統中排出,其效應係為 在電絕緣薄膜中留下空隙或自由空間’並藉以較低絕緣薄 膜之介電常數。使氣體自成份(c)產生之溫度,必須可與用 以形成電絕緣薄膜之方法相容,且係在Ot至8〇〇。〇之範圍 内,較佳為25°c至400。(:。由於大部份溶劑會在塗覆於基材 上之後立即蒸發,且自成份(c)產生氣體較佳係於其後發 生,故自成份(C)產生氣體之開始溫度,較佳係高於溶劑⑻ 之沸點。 由成份(C)所涵蓋之揮發物質,舉例如下,但不限於有 機固體’譬如聯;^、秦、慈等,及油類,譬如碎g同油等。 當氩矽倍半氧烷樹脂作為樹脂(A)使用時,矽酮油較佳係以 相容性考量為基礎》 藉由自行分解而產生氣體之成份,舉例如下,但不限 於’有機過氧化物,譬如過氧化二苯甲醯等。 經由與樹脂交互作用而產生氣體之成份,可舉例如下, 胺類’例如N,N,N|,N,-四甲基-l,6-己二胺,當樹脂含有細 時’於此種情況中係產生氫氣。 成份(D)係於視需要之情況下,當其變得必須在相對較低 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Αϋ規格(210X 297公釐} ;----^-----1^ (請先閏讀背面之注意事項再填寫本頁) 419750 A7 B7 經濟部中央標準局員工消费合作社印掣 五、發明説明( 溫度下先行引致樹脂(A)之部份交聯時使用。當氫矽倍半氧 烷樹脂作為(A)使用時,成份(D)較佳為鉑觸媒’譬如氫氟 鉑酸或铑觸媒。對每1,000,000重量份之樹脂(A)而言,此等 觸媒通常係於1至500重量份下使用。此外,依特定狀況而 定,一種輔助劑,例如安定劑、譬如界面活性劑,可存在 於组合物中’以幫助成份(c)分散。 S氩硬倍半氧炫樹脂作為(A)使用時,加熱此组合物會造 成電絕緣薄膜之形成,例如矽石薄膜。於本文中使用之妙 石係指二氧化矽(Si〇2),且包括非晶質矽石及未完全不含矽 燒醇及/或氫之非晶質矽石》在添加陶瓷先質之情況中, 此矽石亦含有其相應之化合物。 可使用於根據本發明方法中之基材之實例為陶瓷基材、 各種金屬基材及電子裝置,較佳為電子裝置。 一種形成電絕緣薄膜之方法,包括 ⑴將可形成絕緣薄膜之組合物塗覆於基材之表面,該组合 物包含 / (A) 電絕緣可熟化無機或有機樹脂, (B) 溶劑,及 (C) 至少一種溶劑可溶之物質,排除使用於成份⑻之溶 劑,其在加熱時或經由與樹脂(A)之交互作用,可在〇 °(:至800°(:之溫度範圍内產生氣體或進行揮發作用; (Π)蒸發溶劑(B);及 (III)接著加熱基材,以在該樹脂(A)熟化期間或熟化後,自 成份(C)產生氣體》 -8 - 木紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (婧先閱讀背面之注意事項再填寫本頁j I Λ衣·
-'1T 且可舉例如下:靜置於 在減壓下或於氣流下。 由於溶劑係在旋轉期間 419750 A7 B7 五、發明说明(6) 於此方法中,係將包含成份(八)至((::)之可形成絕緣薄膜之 組合物’塗覆於基材表面上,然後蒸發溶劑(B),及接著將 基材加熱,以在樹脂⑷熟化期間或熟化後,自成份(c)產 生範體。可應用之塗覆方法之實例為旋轉塗覆、浸潰、喷 霧及流動塗覆。 使溶劑(B)蒸發之技術並不重要 環境或高溫下,及在空氣中乾燥 當使用旋轉塗覆作為塗覆技術時 被逐出’故乾燥時間通常不需要。 加熱溫度並不重要,只要使用可引致成份(c)氣化之溫度 即可。但是’當期望電絕緣薄膜熔解以使基材平面化時, 加熱必須進行至高於樹脂(A)熔點之溫度。再次地,用於此 加熱之裝置並不重要’且一般已知之加熱器譬如烘箱、熱 板等,均可使用於本發明。 於此方法中,係使成份(C)氣化,並將其一部份逐出系 統,其會在電絕緣薄膜中造成相應形成之空隙與多孔性結 構或自由空間。 另一種形成電絕緣薄膜之方法,包括 (I)將可形成絕緣薄膜之組合物塗覆於基衬之表面,該組合 物包含 (A) 電絕緣可熟化無機或有機樹脂, (B) 溶劑,及 (C) 至少一種溶劑可落之物質’排除使用於成份⑻之溶 劑,其在加熱時或經由與樹脂(A)之交互作用,可在〇 -9- {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
*1T 經濟部中央標準局員Η消費合作社印袈 - 千 ΪΓ 419750 A7 B7 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 五、發明説明(7) °C至800°C之溫度範圍.内產生氣體或進行揮發作用; (Π)蒸發溶劑(B); (III) 接著在溫度低於會自成份(C)提供徹底氣體產生之溫& 下,加熱基材,並達成樹脂(A)之部份熟化;及 (IV) 然後完成自成份(C)之氣體產生。 此方法包括以可形成絕緣薄膜之組合物塗覆基材,該組 合物包含如上述之成份(A)至(C),接著蒸發溶劑(B),然後 加熱基材。用以達成溶劑蒸發及加熱之方法,可與上文第 一種方法相同。 然後使樹脂(A)在低於會造成自成份(C)徹底或完全產生氣 體之溫度下部份熟化。在此步驟後,係接著完成自成份(c) 之氣體產生。用以引致此樹脂(A)部份熟化之方法,包括在 成份(A)將會熟化之溫度下靜置一段規定時間,曝露至紫外 線輻射或電子束中等等》自成份(C)產生氣體,可藉由例如 在減壓下加熱基材而完成。 该可形成絕緣薄膜之组合物,具有熟化成低介電常數絕 緣薄膜之能力,且因此可用於需要此種性質之應用上。根 據本發明之組合物,特別可用於半導體裝置中之中間絕緣 薄膜之形成* 宥例 提出下述實例,以使熟悉此項技藝之人士者可瞭解及認 知本文中所陳述之發明,應明瞭的是,此等實例不應用以 限制申請專利範圍中所定義之本發明範圍。 矽石之轉化率係使用F〇urier變換紅外線吸收光譜分析,經 _ -10. 本紙張^度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇x297公缓)"' ----" (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 419750 A7 B7 _ 五、發明説明(8)
由度量薄膜中之殘留SiH%加以評估a於薄膜中之殘留SiH % ’係使用旋轉塗覆後之100% SiH量計算而得。 介電常數係於25°C與1百萬赫茲下,對於在具有電阻係數 為1〇·2 Ω · cm之矽晶圓上所形成之試樣進行度量。此度量 法係藉由插入法、使用鋁電極及阻抗分析器進行操作a 膏例1 氩矽倍半氧烷樹脂係藉日本專利公告(K〇k〇ku)特公眧47_ 31838 (美國專利第3,615,272號)之實例1中所述之方法合成。 藉凝膠滲透層析(GPC)分析氫矽倍半氧烷樹脂產物,獲得數 目平均分子量為1,540,及重量平均分子量為77〇5。根據曰 本專利申請案特許公開(公開專利案或未經審查)Hei6_ 157760 (157,760/1"4)(美國專利第5,4i6,l9〇號)之實例i中所述之 方法’使氩碎倍半氧坑樹脂接受分子量分級分離。藉Gpc 为析所回收溶離份(_Ή-樹脂溶離份")中之氫碎倍半氧虎樹 脂’獲得數目平均分子量為5,830,及重量平均分子量為 U,200。在GPC度量法中之條件為:
儀器:802A,得自Tosoh公司 管柱:G3000/G4000/G5000/G6000 載體溶劑:甲苯 柱溫:30°C 分子量標準物:聚苯乙締 檢測:差示折射計 試樣:2重量%固體(甲苯溶液) 將H-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酮中,以製備^重量 _ -11 - 本紙浪尺度適用中國國家標準(CMS ) A4規格(210^97公竣)~~~'--- (诗先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I木· Ί訂 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 419750 A7 B7 9 五、發明説明( 請 先 閱 讀 背 δ 之 注 意 事 項 再 填 % 本 頁 % (固體)溶液。於其中添加10重量%聯苯,以甲基異丁基 酮溶液為基準,以及1〇〇 ppm重量之氩氣鉑酸六水合物以 H-樹脂溶離份為基準。製造具有6,4〇〇埃厚度之薄膜,其方 式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上’在5〇〇rpm之初步旋轉下 歷經3秒,然後在3,〇〇〇 rpm之主要旋轉下歷經1〇秒,接著在 室溫下靜置ίο分鐘。將晶圓於空氣流中、在25(rc石英烘箱 中烘烤1小時’移除並使其在室溫下靜置1〇分鐘。此時, 薄膜在甲基異丁基酮中之溶解度係低於旋轉塗覆後者。使 晶圓在400°C石英烘箱中、於含丨〇 ppm氧之氮氣流下退火丨小 時’取出I使其在室溫下靜置丨〇分鐘。在薄膜中之殘留别只 %為78%,確認轉化至矽石確已發生。於薄膜中未發現異 常、意即裂缝等《此矽石薄膜之介電常數為24。 f例2 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 使實例1中製成之溶離份’溶解於甲基異丁基酮中,以製 備22重1%(固體)溶液。於其中添加卯爪重量之n,n,N, N,· 四甲基-1,6-己二胺’以甲基異丁基酮溶液為基準。在其製 備後’ 1即將此溶液旋轉塗覆於碎晶圓上,在印⑺之初 步旋轉下歷經3秒,然後在3,〇〇〇 rpm之主要旋轉下歷經 秒。此時薄膜在甲基異丁基酮中顯示低溶解度。在室溫下 靜置10分鐘,獲得具有6,11〇埃厚度之薄膜。將晶圓於空氣 流下、在〗00°C石英烘箱中烘烤1小時,移除並使其在室溫 下靜置10分鐘。此時,薄膜顯示在甲基異丁基酮申幾乎無 溶解。然後,使晶圓在400°C石英烘箱中,於含10 ppm氧之 氮氣流下退火1小時,取出並使其在室溫下靜置1〇分鐘。 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(2丨ΟΧ297公爱) /Π 9750 Α7 Β7 五、發明説明(1〇) 在薄膜t之殘留siH%為32%,確認轉化至矽石確已發生β 於薄膜中未發現異常、意即裂縫等。此矽石薄膜之介電常 數為2.4。 將實例1中所製成之Η-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酬 中’以製備22重量% (固體)溶液。於其中添加5〇 ppm重量 之過氧化二苯甲醯,以甲基異丁基酮溶液為基準。製造具 有6,100埃厚度之薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓 上,在500 rpm之初步旋轉下歷經3秒,然後在3 〇〇〇印⑺之主 要旋轉下歷經10秒,接著在室溫下靜置丨〇分鐘β將晶圓於 芝氣流下,在15〇eC石英烘箱中烘烤1小時,移除並使其在 至m下靜置1〇分鐘。此時,薄膜在甲基異丁基辆中之溶解 度係低於旋轉塗覆後者。使晶圓在4〇〇它石英烘箱中、於含 10 ppm乳之氮氣流下退火1小時,取出並使其在宣溫下靜置 10分鐘。在薄膜中之殘留SiH%為41%,確認轉化至矽石確 已發生》於薄膜中未發現異常、意即裂縫等。此矽石薄膜 之介電常數為2.4。 實例4 氟化聚缔丙基醚樹脂,係根據第十二屆國際几幻多階互 連會議之1995會刊第U6頁上所述之方法合成。藉Gpc分析 才4脂產物’獲得數目平均分子量為2,54〇,及重量平均分子 量為9,390。使此樹脂溶解於甲基異丁基酮中,以製備%重 量% (固體)溶液。於其中添加1〇重量%聯苯,以曱基異丁 基嗣溶液為基準。製備具有6,120埃厚度之薄膜,其方式是 -13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公楚) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、?τ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 419750 A7 B7 五、發明説明(Μ) {請先聞讀背面之注意事項再填舄本頁} 將溶液旋轉塗覆於妙晶回上’在500 rpm之初步旋轉下歷經3 秒,然後在3,000 rpm之主要旋轉下歷經1〇秒,接著在室溫下 靜置10分鐘。將晶圓於空氣流下,在250°C石英烘箱中烘烤 1小時,移除並使其在室溫下靜置1〇分鐘。此時,薄摸在 甲基異丁基酮中之溶解度係低於旋轉塗覆後。使晶圓在4〇〇 C石英烘箱中、於含1〇 ppm氧之氮氣流下退火1小時,取出 並在室溫下保持10分鐘,發現薄膜在甲基異丁基酮中之溶 解度已遭受進一步減退β此薄膜具有介電常數為2 4。 典較實例τ 將實例1中所製成之H-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基_ 中’以製備22重量%(固體)溶液。製造具有6,078埃厚度之 薄膜’其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在5〇〇 rpm之 初步旋轉下歷經3秒,然後在3,〇〇〇 φΙΏ之主要旋轉下歷經1〇 秒’接著在室溫下靜置10分鐘β使晶圓在40〇°C石英烘箱 中、於含10 ppm氧之氮氣流下退火1小時,取出並使其在室 溫下保持10分鐘。在薄膜中之殘留SiH%為75%,確認轉化 至石夕石確已發生,於薄膜中發現裂縫之產生。此矽石薄膜 之介電常數為2.8。 绥濟部中央標準局員工消費合作社印装 比較實W 2 將實例1中所製成之H-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酮 中’以製備35重量%(固體)溶液。製造具有13,200埃厚度之 薄膜*其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在500 rpm之 初步旋轉下歷經3秒,然後在2,000 rpm之主要旋轉下歷經1〇 秒’接著在室溫下靜置1〇分鐘。使晶圓在400t石英烘箱 -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS ) A4規格(210.X 297公釐) 4^9750 A7 B7 12 五、發明説明( 中、於含10 ppm氧之氮氣流下退火1小時,取出並在室溫下 保持10分鐘。在薄膜中之殘留SiH%為75% ,確認轉化至碎 石確已發生’於薄膜中發現裂縫產生。此 常數為2‘卜 此砂石薄膜之介電 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)

Claims (1)

  1. 419T50 A8 B8 C8 D8 洛劑(B)為嗣溶 經濟部中央標準局員工消费合作社印裝 中請專利範圍 ι 一種形成電絕緣薄膜之組合物,其包含 (A)電絕緣可熟化樹脂’選自電絕緣可熟化無機樹脂 電絕緣可熟化有機樹脂, 5 ⑻溶劑,及 (C)至少一種溶劑可溶之物質,選自 (1)在0 C至80(TC之溫度下加熱時會產生氣體之物質. (H)經由與樹脂(A)之交互作用會產生氣體之物質,或 (iii)在〇t至800eC範圍之溫度下進行揮發作用之物質' 2.如申請專利範圍第丨項之組合物,其中樹脂(⑸為氫矽倍 半氧烷樹脂·> ° 3·如申請專利範園第丨項之組合物,其中溶劑係選自由芳 族溶劑;脂族溶劑;酮溶劑;脂族酯溶劑;矽氧溶劑及 妙燒所组成之群。 4.如申請專利範圍第1項之組合物,其中 劑D 5. 如申請專利範圍第4項之組合物,其中溶劑為甲基異丁 基酮。 6. 如申請專利範圍第丨項之組合物,其中溶劑為矽氧溶 劑。 7. 如申請專利範圍第i項之組合物,其另外包含(D)熟化· 加速觸媒。 8. 如申請專利範圍第7項之组合物,其中(D)係選自鉑化合 物或過渡金屬化合物。 9·如申請專利範圍第1項之組合物,其中成份(c)為(i)在〇 -16- 本紙張尺度適用申國圉家樣隼(CNS ) A4規格(21〇X297公釐) In - ------ -HI. ]— I I - --- - I I Γ Ηςτ f請先閲碛背面之注意事項再填本I} 經濟部中央棣準局貝工消費合作社印装 Α8 Β8 C8 D8 π、申請專利範圍 °C至80(TC之溫度下加熱時會產生氣體之物質。 10.如申請專利範圍第9項之組合物,其中成份(c)為有機過 氧化物》 Η.如申請專利範園第i項之组合物,其中成份(c)為⑼經由 與樹脂(A)之交互作用會產生氣體之物質。 12.如申清專利範圍第丨丨項之組合物,其中樹脂(八)為氫矽 倍半氧烷樹脂,而成份(C)為胺。 13·如申請專利範圍第1項之组合物,其中成价(C)為(iii)在〇 C至800°C範圍之溫度下進行揮發之物質β Μ.如申請專利範圍第13項之组合物,其中成份(c)係選自 由聯苯、莕、蒽及碎酮油所組成之群。 15. —種形成電絕緣薄膜之方法,其包括 (I) 將申請專利範圍第1項之電絕緣組合物塗覆於基材 之表面; (II) 蒸發溶劑(B);及 (III) 接著加熱基材,以在該樹脂(A)熟化期間或熟化後, 自成份(C)產生氣體。 16. 如申請專利範圍第15項之方法,其中基材為電子裝置β 17·如申請專利範圍第15項之方法,其中樹脂(Α)為氫矽倍 半氧燒樹脂。 18· —種形成電絕緣薄膜之方法,其包括 (I)以可形成絕緣薄膜之組合物塗覆基材之表面,該組 合物包含 (Α)電絕緣可熟化無機或有機樹脂, ____-17- 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) I - —II · 私 I - I H (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1· ο 5 7 9 41 ABCD 六、申請專利範園 (B)溶劑,及 (c)至少一種溶劑可溶之物質,排除使用於成份(B)之 溶劑’其在加熱時或經由與樹脂(A)之交互作用, 可在〇 C至800°c之溫度範圍内產生氣體或進行揮發 作用; Λ (Π)蒸發溶劑(Β); (III) 接著在溫度低於會自成份(c)提供徹底氣體產生之溫 度下’加熱基材’並達成樹脂之部份熟化;及 (IV) 然後完成自成份(c)之氣體產生。 19. 如申請專利範圍第〖8項之方法,其中基材為電子裝置。 20. 如申請專利範圍第18項之方法,其中樹脂(A)為氫矽倍 半氧烷樹脂》 一, f請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) M濟部中央標準局員工消費合作社印製 I張 -紙 本 準 標 家 國 國 中 用 適 8 1 釐 公 7 ft T.t 印 申請曰期 II 案 號 87104836 ., 類 別 it Tr/tvxfT (以上各櫊由本局填註)
    Λ4 C4 419750 ^/^9^6月說明書修正本 雲I專利説明書 發明 新型 發明 創作
    形成電絕緣薄膜之組合物及方法 英文 COMPOSITION AND PROCESS FOR FORMING ELECTRICALLY INSULATING THIN FILMS 姓 名 國 籍 住、居所
    i國籍 住,居所 (事務所)
    彦 司昭利I林勝村 1* 9- οα 4. 佐佐木基 5. 澤清隆 裝 1,2·3·4·5‘均曰本 1. 曰本國千葉縣市原市西柚須台1丁目6號 2. 曰本國千葉縣市原市青葉台2丁目20-2 3. 曰本國千葉縣市原市東立見台3丁目1-14 4. 曰本國千葉縣市原市茅原台4-55-1 5. 曰本國千葉縣市原市西柚須台1 丁目6號 曰本商道康寧特雷矽力康股份有限公司 曰本 曰本國東京都千代田區丸之内1-1-3 AIG大道4樓 田邊英一 本纸张足度適圬中確w家捸準() Λ4ϋ格(2丨(丨公斧 訂 線
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