TW202032917A - 壓電振動器件 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種壓電振動器件。該壓電振動器件中,從而構成將包括第一激勵電極(111)和第二激勵電極(112)的晶體振動片(10)的振動部(11)氣密密封的內部空間(C1),將晶體振動片(10)的振動部(11)氣密密封的密封路徑(115、116)被構成為俯視呈環形,在第二密封構件(30)的第二主面(302)上形成有與外部電路基板電連接的多個外部電極端子(32),俯視時各外部電極端子(32)沿包圍著內部空間(C1)的外框部(W1)配置。基於上述結構,能夠減小安裝於外部電路基板時作用於密封部上的應力。
Description
本發明涉及壓電振動器件。
近年,各種電子設備朝著工作頻率高頻化,封裝體小型化(特別是低矮化)方向發展。因此,隨著高頻化,封裝體小型化,要求壓電振動器件(例如晶體諧振器,晶體振盪器等)也能應對高頻化及封裝體小型化。
這種壓電振動器件的殼體通常由近似長方體的封裝體構成。該封裝體包括例如由玻璃或石英晶體構成的第一密封構件和第二密封構件、及例如由石英晶體構成並在兩個主面上形成有激勵電極的壓電振動板,第一密封構件與第二密封構件間通過壓電振動板而層疊接合。並且,配置在封裝體內部(內部空間)的壓電振動板的振動部(激勵電極)被氣密密封(例如,專利文獻1)。以下,將這種壓電振動器件的層疊形態稱為三明治結構。
如上所述的壓電振動器件中,在第二密封構件的第二主面(另一個主面)上,形成有與外部電路基板電連接用的多個外部電極端子(背面端子)。另外,將壓電振動板的振動部氣密密封的密封部(密封路徑)被形成為俯視呈環形。
然而,將壓電振動器件安裝在外部電路基板上時,例如用焊料等的導電性膠黏劑將外部電極端子連接在外部電路基板上。安裝於外部電路基板時,由於焊料等導電性膠黏劑收縮,所以通過外部電極端子,第二密封構件受到沿著長邊方向作用的拉伸應力或壓縮應力。即,安裝於外部電路基板時,會產生使第二密封構件變形而導致第二密封構件翹起的應力,該應力有可能作用在密封路徑上。
然而,現有技術中,多個外部電極端子被配置為佔據了第二密封構件的另一個主面的幾乎整個區域,而未採取任何措施來應對上述應力引起的第二密封構件的變形。因此,安裝於外部電路基板時,由第二密封構件的變形引起的作用於密封路徑的應力有可能變大。
[專利文獻1]:日本特開2010-252051號公報
鑒於上述情況,本發明的目的在於,提供一種能夠減小安裝於外部電路基板時作用於將壓電振動板的振動部氣密密封的密封部上的應力的壓電振動器件。
作為解決上述技術問題的技術方案,本發明提供一種壓電振動器件,該壓電振動器件中,設置有在基板的一個主面上形成有第一激勵電極、且在所述基板的另一個主面上形成有與所述第一激勵電極成對的第二激勵電極的壓電振動板;將所述壓電振動板的所述第一激勵電極覆蓋的第一密封構件;及將所述壓電振動板的所述第二激勵電極覆蓋的第二密封構件,所述第一密封構件與所述壓電振動板相接合、且所述第二密封構件與所述壓電振動板相接合,從而形成將包括所述第一激勵電極和所述第二激勵電極的所述壓電振動板的振動部氣密密封的內部空間,其特徵在於:將所述壓電振動板的振動部氣密密封的密封部被構成為俯視呈環形,在所述第二密封構件的另一個主面上,形成有與外部電路基板電連接的多個外部電極端子,俯視時,各所述外部電極端子沿包圍著所述內部空間的外框部配置。
基於上述結構,由於俯視時外部電極端子沿外框部配置,所以外部電極端子中,與內部空間疊合的部分盡可能地被減小。由此,安裝於外部電路基板時,由第二密封構件的變形引起的作用於密封部上的應力減小,從而能使密封部的氣密性提高。
上述壓電振動器件中,較佳為,所述外部電極端子被配置為,俯視時只與所述外框部疊合。
基於該結構,外部電極端子中,與內部空間疊合的部分能被消除,因而,安裝於外部電路基板時,由第二密封構件的變形引起的作用於密封部上的應力進一步減小,從而能使密封部的氣密性進一步提高。
上述壓電振動器件中,較佳為,各所述外部電極端子被配置在所述第二密封構件的另一個主面的角部。在此情況下,較佳為,所述外部電極端子分別配置在所述第二密封構件的另一個主面的四個角落;另外,所述各外部電極端子被構成為,俯視呈近似L字形。
基於上述結構,能有效地利用外框部的有限的空間來配置外部電極端子。
發明效果:
基於本發明的壓電振動器件,由於俯視時外部電極端子沿外框部配置,所以,外部電極端子中,與內部空間疊合的部分盡可能地被減小。由此,安裝於外部電路基板時,由第二密封構件的變形引起的作用於密封部上的應力減小,從而能使密封部的氣密性提高。
以下,參照附圖對本發明的實施方式進行詳細說明。另外,在下述實施方式中,對於採用了本發明的壓電振動器件是晶體振盪器的情況進行說明。
首先,對本實施方式所涉及的晶體振盪器100的基本結構進行說明。如圖1所示,晶體振盪器100具備晶體振動片(壓電振動板)10、第一密封構件20、第二密封構件30、及IC晶片40。該晶體振盪器100中,晶體振動片10與第一密封構件20相接合;晶體振動片10與第二密封構件30相接合,從而構成近似長方體的三明治結構的封裝體。即,晶體振盪器100中,晶體振動片10的兩個主面分別與第一密封構件20及第二密封構件30接合而形成封裝體的內部空間(空室)C1,在該內部空間C1內,振動部11(參照圖4、圖5)被氣密密封。
另外,在第一密封構件20的與晶體振動片10接合的面的反面側的主面上,安裝有IC晶片40。作為電子部件元件的IC晶片40是與晶體振動片10一起構成振盪電路的單晶片積體電路元件。
本實施方式所涉及的晶體振盪器100的封裝體尺寸例如為1.0×0.8mm,實現了小型化與低矮化。另外,伴隨小型化,封裝體中未形成雉堞牆,而是採用後述的貫穿孔來實現電極的導通。
下面,參照圖1~圖7,對上述晶體振盪器100中的晶體振動片10、第一密封構件20、及第二密封構件30的各部件進行說明。另外,在此是對尚未接合的、分別被構成為單體的各部件進行說明。圖2~圖7僅僅示出晶體振動片10、第一密封構件20、及第二密封構件30各自的一種構成例,對本發明不產生限定作用。
如圖4、圖5所示,晶體振動片10是由石英水晶構成的壓電基板,其兩個主面(第一主面101、第二主面102)被加工(鏡面加工)成平坦的平滑面。本實施方式中,作為晶體振動片10,使用進行厚度剪切振動的AT切石英晶體片。圖4、圖5所示的晶體振動片10中,晶體振動片10的兩個主面(第一主面101、第二主面102)在XZ´平面上。該XZ´平面中,與晶體振動片10的短邊方向平行的方向為X軸方向;與晶體振動片10的長邊方向平行的方向為Z´軸方向。另外,AT切是指,作為人工石英晶體的三個晶軸的電軸(X軸)、機械軸(Y軸)、及光學軸(Z軸)中,在相對Z軸繞X軸旋轉35°15′後的角度進行切割的加工手法。AT切石英晶體片中,X軸與石英晶體的晶軸一致。Y´軸及Z´軸為相對石英晶體的晶軸的Y軸及Z軸分別傾斜了35°15′(該切斷角度可在調節AT切晶體振動片的頻率溫度特性的範圍內少量變動)的軸一致。Y´軸方向及Z´軸方向與將AT切石英晶體片切割出來時的切割方向相當。
在晶體振動片10的第一主面101及第二主面102上,形成有一對激勵電極(第一激勵電極111、第二激勵電極112)。晶體振動片10具有被構成為大致矩形的振動部11、將該振動部11的外周包圍的外框部12、及通過將振動部11與外框部12連接而保持著振動部11的保持部13。即,晶體振動片10採用將振動部11、外框部12、及保持部13構成為一體的結構。保持部13只從位於振動部11的+X方向及-Z´方向的一個角部朝著-Z´方向延伸(突出)至外框部12。
第一激勵電極111設置在振動部11的第一主面101側,第二激勵電極112設置在振動部11的第二主面102側。在第一激勵電極111、第二激勵電極112上,連接有用於將這些激勵電極連接到外部電極端子上的引出佈線(第一引出佈線113、第二引出佈線114)。第一引出佈線113從第一激勵電極111被引出,並經由保持部13與外框部12上形成的連接用接合圖案14相連。第二引出佈線114從第二激勵電極112被引出,並經由保持部13與外框部12上形成的連接用接合圖案15相連。
在晶體振動片10的兩個主面(第一主面101、第二主面102)上,分別設置有用於將晶體振動片10與第一密封構件20及第二密封構件30接合的振動側密封部。作為第一主面101的振動側密封部,形成有振動側第一接合圖案121;作為第二主面102的振動側密封部,形成有振動側第二接合圖案122。振動側第一接合圖案121及振動側第二接合圖案122被設置在外框部12上,俯視為環形。
另外,如圖4、圖5所示,在晶體振動片10上,形成有將第一主面101與第二主面102之間穿透的五個貫穿孔。具體而言,四個第一貫穿孔161分別設置在外框部12的四個角落(角部)的區域中。第二貫穿孔162設置在外框部12上的振動部11的Z´軸方向的一側(圖4、圖5中,是-Z´方向側)。在第一貫穿孔161的周圍,分別形成有連接用接合圖案123。另外,在第二貫穿孔162的周圍,第一主面101側形成有連接用接合圖案124;第二主面102側形成有連接用接合圖案15。
在第一貫穿孔161及第二貫穿孔162中,沿著貫穿孔各自的內壁面分別形成有用於將第一主面101上形成的電極與第二主面102上形成的電極導通的貫穿電極。另外,第一貫穿孔161及第二貫穿孔162各自的中間部分成為將第一主面101與第二主面102之間穿透的中空狀態的貫穿部分。
如圖2、圖3所示,第一密封構件20是由一塊AT切石英晶體板形成的長方體基板,該第一密封構件20的第二主面202(與晶體振動片10接合的面)被形成(鏡面加工)為平坦的平滑面。另外,第一密封構件20不具有振動部,但通過與晶體振動片10一樣使用AT切石英晶體板,使晶體振動片10的熱膨脹率與第一密封構件20的熱膨脹率相同,能抑制晶體振盪器100的熱變形。另外,第一密封構件20的X軸、Y軸、及Z´軸的朝向也與晶體振動片10的相同。
如圖2所示,在第一密封構件20的第一主面201(安裝IC晶片40的面)上,形成有六個電極圖案22,該六個電極圖案22包含用於安裝作為振盪電路元件的IC晶片40的安裝墊。IC晶片40利用金屬凸點(例如金凸點等)23(參照圖1)通過FCB(Flip Chip Bonding,覆晶接合)法而接合在電極圖案22上。
如圖2、圖3所示,在第一密封構件20上形成有分別與六個電極圖案22連接、並將第一主面201與第二主面202之間穿透的六個貫穿孔。具體而言,四個第三貫穿孔211被設置在第一密封構件20的四個角落(角部)的區域中。第四貫穿孔212、第五貫穿孔213分別設置在圖2、圖3的+Z´方向及-Z´方向。
在第三貫穿孔211、第四貫穿孔212、及第五貫穿孔213中,沿著貫穿孔各自的內壁面形成有用於將形成在第一主面201上的電極與形成在第二主面202上的電極導通的貫穿電極。另外,第三貫穿孔211、第四貫穿孔212、及第五貫穿孔213各自的中間部分成為將第一主面201與第二主面202之間穿透的中空狀態的貫穿部分。
在第一密封構件20的第二主面202上,形成有用於與晶體振動片10接合的作為密封側第一密封部的密封側第一接合圖案24。密封側第一接合圖案24被形成為俯視呈環形。
另外,第一密封構件20的第二主面202上,在第三貫穿孔211的周圍分別形成有連接用接合圖案25。在第四貫穿孔212的周圍形成有連接用接合圖案261;在第五貫穿孔213的周圍形成有連接用接合圖案262。並且,在相對於連接用接合圖案261為第一密封構件20的長軸方向的反面側(-Z´方向側)上形成有連接用接合圖案263,連接用接合圖案261與連接用接合圖案263之間通過佈線圖案27相連接。
如圖6、圖7所示,第二密封構件30是由一塊AT切石英晶體板形成的長方體基板,該第二密封構件30的第一主面301(與晶體振動片10接合的面)被形成(鏡面加工)為平坦的平滑面。另外,較佳為,第二密封構件30也與晶體振動片10一樣使用AT切石英晶體板,X軸、Y軸、及Z´軸的朝向也與晶體振動片10相同。
在該第二密封構件30的第一主面301上,形成有用於與晶體振動片10接合的作為密封側第二密封部的密封側第二接合圖案31。密封側第二接合圖案31被形成為俯視呈環形。
在第二密封構件30的第二主面302(不面對晶體振動片10的、外側的主面)上,設置有與晶體振盪器100的設置在外部的外部電路基板(圖示省略)電連接的四個外部電極端子32。外部電極端子32分別位於第二密封構件30的第二主面302的四個角落(角部)上。
如圖6、圖7所示,在第二密封構件30上形成有將第一主面301與第二主面302之間穿透的四個貫穿孔。具體而言,四個第六貫穿孔33被設置在第二密封構件30的四個角落(角部)的區域中。在第六貫穿孔33中,沿著貫穿孔各自的內壁面形成有用於將形成在第一主面301上的電極與形成在第二主面302上的電極導通的貫穿電極。通過這樣在貫穿孔的內壁面上形成的貫穿電極,形成在第一主面301上的電極與形成在第二主面302上的外部電極端子32可被導通。另外,第六貫穿孔33各自的中間部分成為將第一主面301與第二主面302之間穿透的中空狀態的貫穿部分。另外,第二密封構件30的第一主面301中,在各第六貫穿孔33的周圍分別形成有連接用接合圖案34。
包括上述晶體振動片10、第一密封構件20、及第二密封構件30的晶體振盪器100中,晶體振動片10與第一密封構件20在使振動側第一接合圖案121和密封側第一接合圖案24相重疊的狀態下擴散接合;晶體振動片10與第二密封構件30在使振動側第二接合圖案122和密封側第二接合圖案31相重疊的狀態下擴散接合,從而製成圖1所示的三明治結構的封裝體。由此,封裝體的內部空間C1,即,振動部11的容納空間被氣密密封。
此時,上述連接用接合圖案彼此也在相重疊的狀態下擴散接合。這樣,通過連接用接合圖案彼此間的接合,晶體振盪器100中,第一激勵電極111、第二激勵電極112、IC晶片40、及外部電極端子32實現了電導通。
具體而言,第一激勵電極111依次經由第一引出佈線113、佈線圖案27、第四貫穿孔212、及電極圖案22,而與IC晶片40連接。第二激勵電極112依次經由第二引出佈線114、第二貫穿孔162、第五貫穿孔213、及電極圖案22,而與IC晶片40連接。另外,IC晶片40依次經由電極圖案22、第三貫穿孔211、第一貫穿孔161、及第六貫穿孔33,而與外部電極端子32連接。
晶體振盪器100中,各種接合圖案是通過多個層在石英晶體板上層疊而構成的,較佳為從其最下層側起蒸鍍形成Ti(鈦)層和Au(金)層。另外,較佳為,在晶體振盪器100上形成的其它佈線、電極也採用與接合圖案相同的結構,這樣便可同時將接合圖案、佈線、及電極圖案化。
如上所述那樣構成的晶體振盪器100中,將晶體振動片10的振動部11氣密密封的密封部(密封路徑)115、116被形成為俯視呈環形。密封路徑115由上述振動側第一接合圖案121和密封側第一接合圖案24的擴散接合而形成,密封路徑115的外緣形狀及內緣形狀為近似八角形。同樣,密封路徑116由上述振動側第二接合圖案122和密封側第二接合圖案31的擴散接合而形成,密封路徑116的外緣形狀及內緣形狀為近似八角形。
通過這樣擴散接合而形成了密封路徑115、116的晶體振盪器100中,第一密封構件20與晶體振動片10之間存在1.00μm以下的間隔,第二密封構件30與晶體振動片10之間存在1.00μm以下的間隔。即,第一密封構件20與晶體振動片10之間的密封路徑115的厚度在1.00μm以下;第二密封構件30與晶體振動片10之間的密封路徑116的厚度在1.00μm以下(具體而言,本實施方式的Au-Au接合中是0.15μm~1.00μm)。另外,作為比較例,採用Sn的現有技術的金屬膏密封材料的情況下是5μm~20μm。
本實施方式中,在第二密封構件30的第二主面(另一個主面)302上,形成有與外部電路基板連接的多個(本實施方式中是四個)外部電極端子32,各外部電極端子32沿著俯視時將內部空間C1包圍的外框部W1配置。以下,對此進行說明。
圖7中用雙點劃線示出內部空間C1與外框部W1間的交界線L1。即,交界線L1是內部空間C1的外周緣,也是外框部W1的內周緣。本實施方式中,交界線L1位於俯視時與晶體振動片10的外框部12的內周緣大致一致的位置。
晶體振盪器100中,外框部W1是第一密封構件20與晶體振動片10、第二密封構件30與晶體振動片10以幾乎沒有間隙的狀態緊貼在一起的部分。以幾乎沒有間隙的狀態緊貼在一起是指,第一密封構件20與晶體振動片10、第二密封構件30與晶體振動片10以間隙在上述間隔(1.00μm)以下的狀態緊貼在一起。本實施方式中,外框部W1被設置在俯視時與晶體振動片10的外框部12大致一致的位置。
晶體振盪器100中,內部空間C1是第一密封構件20與晶體振動片10、第二密封構件30與晶體振動片10沒有緊貼在一起,存在間隙的部分。此處,第一密封構件20與晶體振動片10間的間隙、第二密封構件30與晶體振動片10間的間隙大於上述間隔(1.00μm)。另外,晶體振動片10的振動部11與外框部12之間的空間部分也屬於內部空間C1。內部空間C1被設置為比密封路徑115、116更位於內周側。本實施方式中,內部空間C1被設置在與俯視時比晶體振動片10的外框部12更靠內側的區域大致一致的位置。
本實施方式中,第二密封構件30的第二主面302上形成的四個外部電極端子32沿著俯視時將內部空間C1包圍的外框部W1配置。詳細而言,各外部電極端子32被配置為俯視時只與外框部W1疊合,並且不跨越外框部W1和內部空間C1。各外部電極端子32配置在第二密封構件30的第二主面302的四個角落的區域中。各外部电极端子32被形成為俯視呈近似L字形。各外部電極端子32具有沿X軸方向延伸的X軸方向部分及沿Z´軸方向延伸的Z´軸方向部分,X軸方向部分的一端與Z´軸方向部分的一端在第二密封構件30的第二主面302的四個角落連接。
基於本實施方式,由於俯視時外部電極端子32沿著外框部W1配置,所以將晶體振盪器100安裝於外部電路基板時,能減小作用在密封路徑115、116上的應力,從而能提高密封路徑115、116的氣密性。以下,對此進行說明。
將晶體振盪器100安裝在外部電路基板上時,例如用焊料等的導電性膠黏劑將外部電極端子32連接在外部電路基板上。安裝於外部電路基板上時,由於焊料等導電性膠黏劑收縮,所以通過外部電極端子32,對第二密封構件30施加沿Z´軸方向作用的拉伸應力或壓縮應力。即,安裝於外部電路基板上時,第二密封構件30會反翹而產生使第二密封構件30變形的應力,該應力有可能作用於密封路徑115、116。在此情況下,外部電極端子32中,俯視時與內部空間C1疊合的部分越大,安裝於外部電路基板時因第二密封構件30的變形而導致的作用於密封路徑115、116的應力越大,從而有可能無法確保密封路徑115、116的氣密性。其理由可認為是,外部電極端子32被配置為,跨越了與外框部W1疊合的比較穩定的部分和與內部空間C1疊合的比較不穩定的部分。
對此,本實施方式中,由於俯視時外部電極端子32被配置為沿著外框部W1配置,所以,外部電極端子32中,儘量減小了與內部空間C1疊合的部分。由此,安裝於外部電路基板時,能減小因第二密封構件30的變形而導致的作用於密封路徑115、116上的應力,從而能提高密封路徑115、116的氣密性。
而且,由於外部電極端子32被配置為俯視時只與外框部W1疊合,不跨越外框部W1和內部空間C1,所以,能消除外部電極端子32中的與內部空間C1疊合的部分。由此,安裝於外部電路基板時,能進一步減小因第二密封構件30的變形而導致的作用在密封路徑115、116上的應力,從而能使密封路徑115、116的氣密性進一步提高。
另外,外部電極端子32配置在第二密封構件30的第二主面302的四個角落的區域中,並且,外部電極端子32被形成為俯視呈近似L字形。如此,四個外部電極端子32被設置為俯視時包圍著內部空間C1,因而,能合理地利用外框部W1的有限的空間來配置外部電極端子32。
另外,本實施方式中,外部電極端子32只設置在第二密封構件30的第二主面302側,未設置在第一密封構件20的第一主面301側。在第一密封構件20的第一主面201側設置有用於安裝IC晶片40的電極圖案22。即,外部電極端子32只形成在晶體振盪器100的單面(第二密封構件側)上。並且,晶體振盪器100中,第二密封構件30上的外部電極端子32具有與第一密封構件20上的電極圖案22相同的膜結構(層結構),例如,可採用與上述各種接合圖案相同的膜結構。具體而言,外部電極端子32及電極圖案22是由多個層進行層疊而構成的,較佳為,從其最下層側起蒸鍍形成Ti(鈦)層和Au(金)層。如此,通過使外部電極端子32及電極圖案22的膜結構與形成在晶體振盪器100上的其它接合圖案、佈線、電極等的膜結構相同,能將外部電極端子32及電極圖案22與晶體振盪器100上形成的其它接合圖案、佈線、電極等同時進行圖案化。此外,由於第二密封構件30上的外部電極端子32採用與第一密封構件20上的電極圖案22相同的膜結構(層結構),能使這些膜結構所產生的應力平衡均勻化,從而實現較為良好的結構。
本次公開的實施方式只是對各方面的示例,不作為限定性解釋的依據。因而,本發明的技術範圍不能只根據上述實施方式進行解釋,要根據請求項的記載來界定。另外,本發明包含與請求項等同的意義及範圍內的所有變更。
上述實施方式中,對將本發明應用於晶體振盪器100的情況進行了說明。但不侷限於此,也可以將本發明應用於由第一密封構件20、晶體振動片10、及第二密封構件30層疊而構成的晶體諧振器。
上述實施方式中,第二密封構件30的第二主面302的外部電極端子32的個數為4個,但不侷限於此,外部電極端子32的個數例如可為2個、6個、或8個等。另外,外部電極端子32的形狀不侷限於近似L字形,可以為任意形狀。例如,如圖8所示那樣,外部電極端子32的形狀可為只有沿X軸方向延伸的X軸方向部分的近似矩形。另外,並非所有的外部電極端子32均要有相同的形狀,例如,也可以為,四個外部電極端子32中的一個為具有標記用的突起或缺口的形狀。
另外,上述實施方式中,將外部電極端子32配置為俯視時只與外框部W1疊合,但也可以是,外部電極端子32的一部分與內部空間C1疊合。在此情況下,從盡可能減小外部電極端子32中與內部空間C1疊合的部分的觀點出發,較佳為,外部電極端子32的幾乎所有部分(例如90%以上的面積的部分)與外框部W1疊合,剩餘的較少的部分(例如10%以下的面積的部分)與內部空間C1疊合。
上述實施方式中,對第一密封構件20的第二主面202及第二密封構件30的第一主面301為平坦面的情況進行了說明,但不侷限於此,也可以在第一密封構件20的第二主面202及第二密封構件30的第一主面301中的至少一方形成凹部。另外,也可以將晶體振動片10的振動部11構成為比外框部12更薄。
另外,上述實施方式中,用石英晶體板構成第一密封構件20及第二密封構件30,但不侷限於此,例如也可以用玻璃、陶瓷構成第一密封構件20及第二密封構件30。
本申請基於2018年12月14日在日本提出的特願2018-234555號要求優先權。不言而喻,其所有內容被導入到本申請。
10:晶體振動片(壓電振動板)
11:振動部
12:外框部
13:保持部
14:連接用接合圖案
15:連接用接合圖案
20:第一密封構件
22:電極圖案
23:金屬凸點
24:密封側第一接合圖案
25:連接用接合圖案
27:佈線圖案
30:第二密封構件
40:IC晶片
31:密封側第二接合圖案
32:外部電極端子
33:第六貫穿孔
34:連接用接合圖案
100:晶體振盪器(壓電振動器件)
101:第一主面
102:第二主面
111:第一激勵電極
112:第二激勵電極
113:第一引出佈線
114:第二引出佈線
115:密封路徑(密封部)
116:密封路徑(密封部)
121:振動側第一接合圖案
122:振動側第二接合圖案
123:連接用接合圖案
124:連接用接合圖案
161:第一貫穿孔
162:第二貫穿孔
201:第一主面
202:第二主面
211:第三貫穿孔
212:第四貫穿孔
213:第五貫穿孔
261:連接用接合圖案
262:連接用接合圖案
263:連接用接合圖案
301:第一主面
302:第二主面(另一個主面)
C1:內部空間
L1:交界線
W1:外框部
+X:+X軸方向
-X:-X軸方向
+Z´:+Z´軸方向
-Z´:-Z´軸方向
圖1是示意性地表示本發明的實施方式所涉及的晶體振盪器的各構成部分的概要結構圖。
圖2是晶體振盪器的第一密封構件的第一主面側的概要俯視圖。
圖3是晶體振盪器的第一密封構件的第二主面側的概要俯視圖。
圖4是晶體振盪器的晶體振動片的第一主面側的概要俯視圖。
圖5是晶體振盪器的晶體振動片的第二主面側的概要俯視圖。
圖6是晶體振盪器的第二密封構件的第一主面側的概要俯視圖。
圖7是晶體振盪器的第二密封構件的第二主面側的概要俯視圖。
圖8是表示變化例的晶體振盪器的與圖7相對應的圖。
30:第二密封構件
32:外部電極端子
33:第六貫穿孔
302:第二主面(另一個主面)
C1:內部空間
L1:交界線
W1:外框部
+X:+X軸方向
-X:-X軸方向
+Z′:+Z′軸方向
-Z′:-Z′軸方向
Claims (5)
- 一種壓電振動器件,設置有在基板的一個主面上形成有第一激勵電極、且在所述基板的另一個主面上形成有與所述第一激勵電極成對的第二激勵電極的壓電振動板;將所述壓電振動板的所述第一激勵電極覆蓋的第一密封構件;及將所述壓電振動板的所述第二激勵電極覆蓋的第二密封構件,所述第一密封構件與所述壓電振動板相接合、且所述第二密封構件與所述壓電振動板相接合,從而形成將包括所述第一激勵電極和所述第二激勵電極的所述壓電振動板的振動部氣密密封的內部空間,其特徵在於: 將所述壓電振動板的振動部氣密密封的密封部被構成為俯視呈環形, 在所述第二密封構件的另一個主面上,形成有與外部電路基板電連接的多個外部電極端子,俯視時,各所述外部電極端子沿包圍著所述內部空間的外框部配置。
- 如請求項1所述的壓電振動器件,其中: 所述外部電極端子被配置為,俯視時只與所述外框部疊合。
- 如請求項1或2所述的壓電振動器件,其中: 各所述外部電極端子被配置在所述第二密封構件的另一個主面的角部。
- 如請求項3所述的壓電振動器件,其中: 所述外部電極端子分別配置在所述第二密封構件的另一個主面的四個角落。
- 如請求項1至4中任一項所述的壓電振動器件,其中: 各所述外部電極端子被構成為,俯視呈近似L字形。
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