TW202006026A

TW202006026A - 聚乙烯醇薄膜及其製造方法

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Publication number: TW202006026A
Application number: TW108121442A
Authority: TW
Inventors: 中村高廣; 田中遼太郎; 高藤勝啓
Original assignee: 日商可樂麗股份有限公司
Priority date: 2018-06-21
Filing date: 2019-06-20
Publication date: 2020-02-01
Also published as: JPWO2019244968A1; WO2019244968A1; CN112292418A; CN112292418B; JP7301829B2; KR20210021471A

Abstract

一種聚乙烯醇薄膜，其中將PVA薄膜之寬度方向作為TD方向，將機械流動方向作為MD方向，朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.15μm以上的條紋狀缺陷在薄膜全寬中為5條以下，且朝MD方直線狀向連續延伸1.5m以上之高低差為0.50μm以上的條紋狀缺陷在薄膜全寬中不存在；且當將朝MD方向以0.5mm間隔測定每1.0m上TD方向中央部之厚度時之最大值作為t_MAX、最小值作為t_MIN、及平均值作為t_AVE時，t_AVE為35μm以下，且由下述式(1)所規定之厚度不均率為5.5%以下。該薄膜係薄但條紋狀缺陷亦少，且MD方向之厚度不均經降低，因此在延伸時可抑制皺褶之產生。

厚度不均率=(t_MAX-t_MIN)/t_AVE×100(%) (1)

Description

聚乙烯醇薄膜及其製造方法

本發明係關於膜面缺陷少、厚度均勻的聚乙烯醇薄膜及其製造方法。

具有光之穿透及遮蔽機能的偏光板，與使光之偏光狀態產生變化的液晶同為液晶顯示器(LCD)之基本構成要素。LCD係使用於計算機及手錶等小型機器、筆記型電腦、液晶螢幕、液晶彩色投影機、液晶電視、車載用導航系統、行動電話、室內外使用之計測儀器等廣範圍中。此等LCD的應用領域之中，液晶電視、液晶螢幕等正在發展薄型化，薄化薄膜之需求變高。

通常的偏光板具有：對藉由將聚乙烯醇薄膜單軸延伸並染色所製成之偏光薄膜，貼合三乙酸纖維素(TAC)薄膜等保護薄膜而成之構成。

作為製造厚度均勻的聚乙烯醇薄膜之方法，例如專利文獻1記載了一種製造方法，其係將聚乙烯醇溶解於水等溶劑而製備原液後在圓筒(輥)上流延前述原液而製膜並且加熱乾燥圓筒上的薄膜之製造方法，其中，將圓筒之速度與原液吐出速度之速度比設為1~5。專利文獻1記載了藉由設為這樣的速度比，可製造大面積但厚度亦均勻且平滑性優異的聚乙烯醇薄膜。

專利文獻2揭示了一種聚乙烯醇薄膜，其係厚度5~60μm、寬度2m以上、長度2km以上的聚乙烯醇薄膜，其中薄膜全面中的厚度之變動係數為1%以下。專利文獻2揭示了為了將該變動係數設為1%以下，而利用氣刀使聚乙烯醇之水溶液著陸於澆鑄圓筒(輥)時的邊線(touchline)安定化，藉此降低MD方向(薄膜之流動方向)厚度不均之手法。

又，專利文獻3則揭示了使聚乙烯醇含有非離子系界面活性劑而成之聚乙烯醇薄膜其不會產生模線(die line)、異物，尤其長期之製膜性優異，且即使在製作厚度120μm的聚乙烯醇薄膜繼而連續60天進行雙軸延伸之製膜步驟之情形下，亦不會產生模線、凝膠。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2002-79530號公報

[專利文獻2]日本特開2016-172851號公報

[專利文獻3]日本特開2001-253993號公報

專利文獻1所記載之由調整圓筒速度與原液吐出速度之速度比的方法所得之薄膜的最大厚度與最小厚度之差為1.6μm以上。以往的偏光板所使用之聚乙烯醇薄膜(以下有時將聚乙烯醇稱為PVA)之厚度(例如45μm~70μm)，其在PVA薄膜之機械流動方向(以下有時將機械流動方向稱為MD方向)上所發生的厚度不均並未成為大問題。然而，由於近年的PVA薄膜之薄化，導致尤其當厚度為35μm以下時，會外顯出厚度不均率(相對於平均厚度而言之厚度不均的比例)惡化之問題。

專利文獻2所記載之手法，由於是利用氣刀將由T模吐出之聚乙烯醇水溶液(製膜原液)物理性地按壓於圓筒輥，因此有因T模的模唇前端接觸於被吐出之製膜原液致使條紋狀缺陷朝MD方向連續產生之情形。

專利文獻3中未記載當聚乙烯醇薄膜之厚度為35μm以下時尤其會使厚度不均率惡化，亦未記載或暗示其解決手段。

本發明之目的係提供：MD方向之厚度不均經降低且朝MD方向連續產生之條紋狀缺陷少之厚度為35μm以下的PVA薄膜；及該薄膜之製造方法。

上述目的可藉由以下記載之本發明而達成。

即本發明係：

一種聚乙烯醇薄膜，其中將PVA薄膜之寬度方向作為TD方向，將機械流動方向作為MD方向，朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.15μm以上的條紋狀缺陷在薄膜全寬中為5條以下，且朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.50μm以上的條紋狀缺陷在薄膜全寬中不存在；且當將朝MD方向以0.5mm間隔測定每1.0m上TD方向中央部之厚度時之最大值作為t_MAX、最小值作為t_MIN、及平均值作為t_AVE時，t_AVE為35μm以下，且由下述式(1)所規定之厚度不均率為5.5%以下；厚度不均率=(t_MAX-t_MIN)/t_AVE×100(%) (1)

如上述[1]之PVA薄膜，其中寬度為2.0m以上7.0m以下；

一種如上述[1]或[2]所記載之聚乙烯醇薄膜之製造方法，其中藉由將含有聚乙烯醇之94~98℃的製膜原液流延於88~92℃的輥上而進行製膜。

根據本發明，可提供：薄膜之厚度為35μm以下地薄，但朝MD方向連續產生之條紋狀缺陷亦少，且MD方向之厚度不均經降低的PVA薄膜；及該PVA薄膜之製造方法。又，藉由使用本發明之PVA薄膜，可得到皺褶之產生經抑制的偏光薄膜。再者，由於偏光薄膜之皺褶經抑制，因此在將保護薄膜貼合於該偏光薄膜而加工為偏光板時，不會發生偏光薄膜與保護薄膜之間摻入氣泡，所得之偏光板的品質提升。

本發明之PVA薄膜，其特徵點係平均厚度t_AVE為35μm以下，且MD方向的厚度不均率為5.5%以內。此外，當將薄膜之寬度方向作為TD方向，將薄膜之機械流動方向作為MD方向，將朝該薄膜之MD方向以0.5mm間隔測定每1.0m上TD方向中央部之厚度時的薄膜厚度之最大值作為t_MAX、薄膜厚度之最小值作為t_MIN、薄膜厚度之平均值作為t_AVE時，本發明中的厚度不均率係由下述式(1)所規定。

厚度不均率=(t_MAX-t_MIN)/t_AVE×100(%) (1)

比35μm更厚的PVA薄膜，其無關乎上述厚度不均率之值，極少外顯出朝MD方向連續產生之條紋狀缺陷的問題。厚度之平均值t_AVE的下限並未特別限制，但若太過薄，則在用來製造偏光薄膜之單軸延伸時變得易發生延伸中斷。因此，平均值t_AVE係以5μm以上為較佳，10μm以上為更佳，15μm以上為特佳。

作為構成本發明之PVA薄膜的PVA，可使用：將聚合乙烯酯單體所得之乙烯酯聚合物皂化，且以乙烯酯單元作為乙烯醇單元者。作為該乙烯酯單體，例如可列舉：甲酸乙烯酯、乙酸乙烯酯、丙酸乙烯酯、戊酸乙烯酯、月桂酸乙烯酯、硬脂酸乙烯酯、苯甲酸乙烯酯、三甲基乙酸乙烯酯、維沙狄克酸乙烯酯等，其中又以使用乙酸乙烯酯為較佳。

在使乙烯酯單體聚合時，也可因應需要而在未損及本發明主旨的範圍內用可與乙烯酯單體共聚合的單體(相對於PVA中的總單體單元，較佳為15莫耳%以下，更佳為5莫耳%以下)共聚合。作為這樣的單體，例如可列舉：乙烯、丙烯、1-丁烯、異丁烯等碳數3~30之烯烴類；丙烯酸及其鹽；丙烯酸甲酯、丙烯酸乙酯、丙烯酸正丙酯、丙烯酸異丙酯、丙烯酸正丁酯、丙烯酸異丁酯、丙烯酸三級丁酯、丙烯酸2-乙基己酯、丙烯酸十二酯、丙烯酸十八酯等丙烯酸酯類；甲基丙烯酸及其鹽；甲基丙烯酸甲酯、甲基丙烯酸乙酯、甲基丙烯酸正丙酯、甲基丙烯酸異丙酯、甲基丙烯酸正丁酯、甲基丙烯酸異丁酯、甲基丙烯酸三級丁酯、甲基丙烯酸2-乙基己酯、甲基丙烯酸十二酯、甲基丙烯酸十八酯等甲基丙烯酸酯類；丙烯醯胺、N-甲基丙烯醯胺、N-乙基丙烯醯胺、N,N-二甲基丙烯醯胺、二丙酮丙烯醯胺、丙烯醯胺丙磺酸及其鹽、丙烯醯胺丙基二甲胺及其鹽、N-羥甲基丙烯醯胺及其衍生物等丙烯醯胺衍生物；甲基丙烯醯胺、N-甲基甲基丙烯醯胺、N-乙基甲基丙烯醯胺、甲基丙烯醯胺丙磺酸及其鹽、甲基丙烯醯胺丙基二甲胺及其鹽、N-羥甲基甲基丙烯醯胺及其衍生物等甲基丙烯醯胺衍生物；N-乙烯基甲醯胺、N-乙烯基乙醯胺、N-乙烯基吡咯啶酮等N-乙烯基醯胺類；甲基乙烯醚、乙基乙烯醚、正丙基乙烯醚、異丙基乙烯醚、正丁基乙烯醚、異丁基乙烯醚、三級丁基乙烯醚、十二基乙烯醚、硬脂基乙烯醚等乙烯醚類；丙烯腈、甲基丙烯腈等腈類；氯乙烯、偏二氯乙烯、氟乙烯、偏二氟乙烯等鹵化乙烯基類；乙酸烯丙酯、氯丙烯等烯丙基化合物；馬來酸及其鹽或其酯；伊康酸及其鹽或其酯；乙烯基三甲氧基矽烷等乙烯基矽基化合物；乙酸異丙烯酯、N-乙烯基甲醯胺、N-乙烯基乙醯胺、N-乙烯基吡咯啶酮等N-乙烯基醯胺類等。

構成本發明之PVA薄膜的PVA之平均聚合度，從PVA薄膜之強度的觀點來看係以500以上為較佳，從偏光性能的觀點來看係以1000以上為更佳，2000以上為進一步較佳，3500以上為特佳。另一方面，PVA之聚合度的上限，從本發明之PVA薄膜之製膜性的觀點來看係以10000以下為較佳。

從使薄膜單軸延伸所得之偏光薄膜之耐水性的觀點來看，構成本發明之PVA薄膜的PVA之皂化度係以95莫耳%以上為較佳，96莫耳%以上為更佳，98莫耳%以上為進一步較佳。此外，本說明書中的PVA之皂化度係指：相對於PVA具有之可由皂化而變換為乙烯醇單元(-CH₂-CH(OH)-)的結構單元(典型而言為乙烯酯單元)與乙烯醇單元之合計莫耳數，該乙烯醇單元之莫耳數所佔的比例(莫耳%)。

在製造本發明之PVA薄膜時，係以在PVA添加多元醇作為塑化劑為較佳。作為多元醇，例如可列舉：乙二醇、甘油、丙二醇、二乙二醇、三乙二醇、四乙二醇、三羥甲基丙烷等，可單獨使用此等之1種、或組合2種以上而使用。其中又從延伸性之提升效果來看，可理想地使用乙二醇或甘油。

多元醇之添加量係以相對於100質量份的PVA而言為1~30質量份為較佳，3~25質量份為更佳，5~20質量份為進一步較佳。若前述添加量小於1質量份則有染色性、延伸性降低之情形，若大於30質量份則有PVA薄膜過於柔軟而處理性降低之情形。

又，在製造本發明之PVA薄膜時，係以添加界面活性劑為較佳。界面活性劑並未特別限定，而以陰離子性或非離子性的界面活性劑為較佳。作為陰離子性界面活性劑，例如可列舉：月桂酸鉀等羧酸型、硫酸辛酯等硫酸酯型、十二基苯磺酸鹽等磺酸型的陰離子性界面活性劑。作為非離子性界面活性劑，例如可列舉：聚氧乙烯油醚等烷基醚型、聚氧乙烯辛基苯基醚等烷基苯基醚型、聚氧乙烯月桂酸酯等烷基酯型、聚氧乙烯月桂基胺基醚等烷基胺型、聚氧乙烯月桂酸醯胺等烷基醯胺型、聚氧乙烯聚氧丙烯醚等聚丙二醇醚型、月桂酸二乙醇醯胺、油酸二乙醇醯胺等烷醇醯胺型、聚氧化烯烯丙基苯基醚等烯丙基苯基醚型等非離子性界面活性劑。作為非離子性界面活性劑，係以烷醇醯胺型的非離子性界面活性劑為較佳，月桂酸二乙醇醯胺為更佳。此等界面活性劑可單獨使用1種、或組合2種以上而使用。

當添加界面活性劑時，其添加量係以相對於100質量份的PVA而言為0.01~1質量份為較佳，0.02~0.5質量份為更佳，0.05~0.3質量份為特佳。若前述添加量小於0.01質量份，則延伸性提升、染色性提升之效果難以顯現，若大於1質量份，則在PVA薄膜表面溶出界面活性劑，成為PVA薄膜彼此黏連之原因，有處理性降低之情形。

在本發明之PVA薄膜中，重要的是：上述式(1)所規定之厚度不均率為5.5%以下。若PVA薄膜之厚度不均率大於此，則所得之偏光薄膜會產生皺褶。厚度不均率更佳為4%以下。為了使厚度不均率小於3%，必須更提升乾燥輥溫度，但若將乾燥輥溫度設為例如96℃以上則變得易在輥表面之鍍敷層產生裂痕。又，即使將厚度不均率設為小於3%，條紋狀缺陷亦未大幅改善，因此厚度不均率係以設為3%以上為較佳。

在本發明中，必要的是：朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.15μm以上的條紋狀缺陷在PVA薄膜全寬中為5條以下，且朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.50μm以上的條紋狀缺陷在PVA薄膜全寬中不存在。條紋狀缺陷係朝MD方向延伸且可被視為1.5m以上之連續的1條線的缺陷，因與周圍之厚度的高低差而產生。若高低差成為0.15μm以上則染色後的色不均變濃，若這樣的高低差之條紋狀缺陷在薄膜全寬中成為大於5條則在實用上會產生問題。又，若高低差成為0.5μm以上則染色後的色不均變得更濃，這樣的高低差之條紋狀缺陷即使只存在1條亦會產生實用上的問題。條紋狀缺陷係利用實施例所記載之方法而評價。

本發明之PVA薄膜之寬度並未特別限制，例如可設為0.5m以上。近年來，由於追求廣範圍的偏光薄膜，因此該寬度係以2.0m以上為較佳，2.5m以上為更佳，3.5m以上為進一步較佳。另一方面，寬度太寬的PVA薄膜會增加製膜裝置之製造費用，當利用實用化的製造裝置製造光學薄膜時有變得難以均勻延伸之情形，因此PVA薄膜之寬度係以7.0m以下為較佳，6.5m以下為更佳。

在本發明中，為了製造PVA薄膜，使用具備1個以上的旋轉之輥、乾燥裝置、調濕裝置及捲繞裝置等的輥製膜機。就各裝置之驅動而言係可使用馬達、變速機等，可調整運送速度。前述PVA薄膜之乾燥溫度通常為50~150℃。作為製膜方式，例如可採用：使用將PVA溶解於溶劑之溶液狀態的製膜原液之澆鑄製膜法；將包含含水聚乙烯醇之製膜原液擠出並流延於輥上之輥製膜法等，其中又以後者為較佳。前述包含含水聚乙烯醇之製膜原液可包含有機溶劑。

製造本發明之PVA薄膜時，係以供給至輥上的含有PVA之製膜原液在模具入口為94~98℃為較佳，94.5~96.5℃為更佳。若製膜原液之溫度小於94℃則供給至輥上的製膜原液之調平性降低且厚度不均易變大。另一方面，當前述溫度大於98℃時，製膜原液之黏度會降低且模唇前端與被吐出之製膜原液會發生干涉，因此會變得易產生MD方向的條紋狀缺陷。

在製造前述PVA薄膜時所使用之含有PVA的製膜原液之揮發分率係以50~90質量%為較佳，55~80質量%為更佳。若揮發分率小於50質量%，則有因黏度變高而變得難以製膜之情形。若揮發分率大於90質量%，則有黏度變得過低而損及PVA薄膜之厚度均勻性之情形。

在製造PVA薄膜時，係以使用包含可撓模唇之模具將製膜原液由前述模具供給至輥製膜機之輥上為較佳。作為上述模具，例如可列舉：T-模、I-模、模唇塗布模等。其次，在前述輥上使製膜原液所含有之水分、有機溶劑等揮發成分蒸發。

為了製造前述PVA薄膜，經供給有製膜原液的輥之溫度係以88℃~92℃為較佳，89℃~90℃為更佳。若小於88℃則有因乾燥不良而自輥剝離之剝離性變差且厚度不均變大之情形。又，當大於92℃時，會在薄膜之接觸輥的面進行PVA之結晶化，有與另一面之結晶性產生差別之情形。若在薄膜之一面與另一面的結晶性產生差別，則吸水特性會產生差別，因此在浸漬於水中之加工步驟中，薄膜變得易捲曲，步驟通過性惡化。

輥之圓周速度係以10.0~50.0m/min的範圍為較佳。當圓周速度小於上述下限時，生產性差。當圓周速度大於上述上限時，接觸於輥的時間變短，因此PVA薄膜之乾燥易變得不充分。

進行自輥剝離之PVA薄膜的乾燥及調濕而調整為適合的PVA薄膜後，捲繞該PVA薄膜。

為了由本發明之PVA薄膜製造偏光薄膜，例如將PVA薄膜進行染色、單軸延伸、固定處理、乾燥處理，進一步因應需要進行熱處理。各步驟之順序並未特別限定，同時實施染色與單軸延伸等2個步驟亦無妨。又，可多次重複各步驟。此外，可在單軸延伸前、單軸延伸中、單軸延伸後之任一者進行染色，由於PVA容易因單軸延伸而提升結晶化度，有時染色性會降低，因此係以在單軸延伸前之任意的步驟進行、或在單軸延伸中進行為較佳。

作為染色所使用之染料，可單獨使用1種、或作成2種以上的混合物來使用下述染料：碘-碘化鉀；Direct Black 17、19、154；Direct Brown 44、106、195、210、223；Direct Red 2、23、28、31、37、39、79、81、240、242、247；Direct Blue 1、15、22、78、90、98、151、168、202、236、249、270；Direct Violet 9、12、51、98；Direct Green 1、85；Direct Yellow 8、12、44、86、87；Direct Orange 26、39、106、107等二色性染料等。染色通常是藉由將PVA薄膜浸漬於含有前述染料之溶液中而進行，而在含有PVA之製膜原液中混合前述染料並製膜等時，其處理條件、處理方法並未特別限制。

作為朝前述PVA薄膜之長度方向進行的單軸延伸法，可採用：浸漬於溶液中進行延伸之濕式延伸法；或使PVA薄膜吸水後在空氣中進行延伸之乾熱延伸法。可在含有前述染料之溶液中、後述之固定處理浴中進行PVA薄膜之單軸延伸。延伸係以在不切斷PVA薄膜的範圍，以盡可能高的延伸倍率進行延伸為較佳，具體而言係以4倍以上為較佳，5倍以上為更佳，6倍以上為特佳。若延伸倍率小於4倍，則難以得到實用上充分的偏光性能、耐久性能。延伸溫度並未特別限定，而當在水中延伸(濕式延伸)PVA薄膜時係以30~90℃為佳，當進行乾熱延伸時係以50~180℃為佳。延伸後的薄膜之厚度係以2~25μm為較佳，5~20μm為更佳。

能以強化前述染料對於前述PVA薄膜之吸附為目的，進行固定處理。固定處理所使用之處理浴通常添加硼酸及硼化合物。又，可因應需要而在處理浴中添加碘化合物。

PVA薄膜之乾燥處理(熱處理)係以在30~150℃進行為較佳，在50~150℃進行為更佳。

如以上進行所得之偏光薄膜，通常在其兩面或單面貼合光學上透明且具有機械強度之保護薄膜而作為偏光板使用。作為保護薄膜，通常可使用乙酸纖維素系薄膜、丙烯酸系薄膜、聚酯系薄膜等。

[實施例]

以下藉由實施例而具體說明本發明，惟本發明不限定於此等實施例。實施例及比較例中的分析、測定及評價係利用以下所示之方法而進行。

(條紋狀缺陷之評價)

條紋狀缺陷係朝製膜時之機械流動方向(MD方向)延伸且可被視為1.5m以上之連續的1條線的缺陷，在使用光源而將光照射於薄膜並使穿透薄膜的光投影於白色牆壁時，可被確認為朝MD方向延伸之連續的明紋或暗紋。具有條紋狀缺陷之薄膜，其係表面之凹部分或凸部分的高低差為0.15μm以上，且可被觀察到前述明紋或暗紋。具體而言，將以下的實施例或比較例所得之PVA薄膜朝MD方向以1.5m、全寬裁切之試驗片，以MD方向成為上下的方式懸掛，在距離薄膜面350cm之位置，設置具有約550Lux的光度之S-1股份有限公司製鹵素燈光源，以相對於薄膜面而言為垂直的方式投射光。其次，在使穿透薄膜的光投影於距離薄膜10cm之白色牆壁時，將所觀察之條紋狀的明紋或暗紋判定為條紋狀缺陷。然後，將對應於條紋狀缺陷之薄膜的各處，利用Anritsu股份有限公司製接觸式厚度計「KG601A」，針對條紋狀缺陷之總數，測定缺陷部分與其周圍之部分的薄膜厚度方向之高低差。如此地求出有無在PVA薄膜全寬中朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的條數及朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.5μm以上的條紋狀缺陷，利用以下的基準來評價。此外，當高低差大於0.50μm時，即使只有1條條紋狀缺陷亦成為實用上的問題。

A：在PVA薄膜全寬中高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷為5條以下，不存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷

B：在PVA薄膜全寬中高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷大於5條，或存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷

(PVA薄膜之厚度測定及厚度不均率之計算)

朝MD方向以0.5mm節距測定每1.0m上PVA薄膜之TD方向(寬度方向)中央部之厚度。測定係使用Anritsu股份有限公司製接觸式厚度計「KG601A」而進行。將前述測定值之最大值作為t_MAX(μm)，將最小值作為t_MIN(μm)，將平均值作為t_AVE(μm)。使用所得之值而利用下述式(1)來求出厚度不均率。

厚度不均率=(t_MAX-t_MIN)/t_AVE×100(%)．．．(1)

(偏光薄膜之皺褶評價)

在利用連續延伸機而將PVA薄膜朝MD方向延伸2.6倍後，目視觀察有無產生排列於TD方向之皺褶，利用以下的基準來評價。

A：未產生皺褶，或產生極輕微的皺褶。

B：產生顯著的皺褶。

[實施例1]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在96℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度91.7℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE21.1μm、寬度3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為3.79%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為2條，不存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，未產生排列於TD方向之皺褶。

[實施例2]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在94℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度89.7℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.7μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為4.55%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為1條，不存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之極輕微的皺褶。

[實施例3]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在97℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度89.7℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.4μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為5.11%，在全寬中未產生條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之極輕微的皺褶。

[實施例4]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在96℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度88.0℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.1μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為5.22%，在全寬中未產生條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之極輕微的皺褶。

[比較例1]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在96.0℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度92.3℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.1μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為4.13%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為12條。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之顯著的皺褶。

[比較例2]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在98.5℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度89.7℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.4μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為7.13%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為50條以上。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之顯著的皺褶。

[比較例3]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在93.5℃ 下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度88.0℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.3μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為5.95%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為2條，不存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之顯著的皺褶。

[比較例4]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率70質量%的製膜原液，在96.0℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度86.7℃、圓周速度24.8m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE20.6μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為7.22%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為1條，不存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，產生排列於TD方向之顯著的皺褶。

[參考例1]

使用輥製膜機，將包含100質量份的皂化度99.9莫耳%、平均聚合度2400之PVA、12質量份的甘油、0.1質量份的月桂酸二乙醇醯胺、及水之揮發分率67質量%的製膜原液，在99.6℃下由T模吐出至第1乾燥輥(表面溫度90.0℃、圓周速度17.5m/min)，此後在第2乾燥輥進行剝離，第2乾燥輥以後在平均85℃下進行乾燥。最後藉由利用捲繞裝置來捲繞而得到PVA薄膜(厚度t_AVE44.7μm、膜寬3000mm)。所得之薄膜係厚度不均率為6.71%，高低差為0.15~0.50μm的範圍之條紋狀缺陷的數量係在全寬中為1條，不存在高低差0.5μm以上的條紋狀缺陷。又，在朝MD方向延伸2.6倍後，未產生排列於TD方向之皺褶。

將實施例、比較例、參考例中的PVA薄膜之製造條件及所得之PVA薄膜之評價結果示於表1。

[表11]

根據本發明，可製造薄但可抑制條紋狀缺陷且在延伸時亦不產生皺褶之聚乙烯醇薄膜。

Claims

一種聚乙烯醇薄膜，其中將聚乙烯醇薄膜之寬度方向作為TD方向，將機械流動方向作為MD方向，朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.15μm以上的條紋狀缺陷在薄膜全寬中為5條以下，且朝MD方向直線狀連續延伸1.5m以上之高低差為0.50μm以上的條紋狀缺陷在薄膜全寬中不存在；且

當將朝MD方向以0.5mm間隔測定每1.0m上TD方向中央部之厚度時之最大值作為t _MAX、最小值作為t _MIN、及平均值作為t _AVE時，t _AVE為35μm以下，且由下述式(1)所規定之厚度不均率為5.5%以下；厚度不均率=(t _MAX-t _MIN)/t _AVE×100(%) (1)。
如請求項1之聚乙烯醇薄膜，其中寬度為2.0m以上7.0m以下。
一種如請求項1或2之聚乙烯醇薄膜之製造方法，其中藉由將含有聚乙烯醇之94~98℃的製膜原液流延於88~92℃的輥上而進行製膜。