TW201925132A - 附透明導電膜之玻璃片材、附透明導電膜之玻璃捲筒、及其製造方法 - Google Patents

附透明導電膜之玻璃片材、附透明導電膜之玻璃捲筒、及其製造方法 Download PDF

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Abstract

本發明提供一種附透明導電膜之玻璃片材，其即便以捲繞體之形態製造或使用之情形時，亦不易發生破損。
本發明之附透明導電膜之玻璃片材1具備玻璃片材2及設置於玻璃片材2之主面2a上之非晶質透明導電膜3。

Description

附透明導電膜之玻璃片材、附透明導電膜之玻璃捲筒、及其製造方法
本發明係關於一種附透明導電膜之玻璃片材、附透明導電膜之玻璃捲筒、及其製造方法。
先前，於液晶顯示設備、有機EL(Electro-Luminescence，電致發光)顯示設備等顯示設備、有機EL照明機器、太陽電池等用途中，使用於玻璃基板上設置氧化銦錫(ITO)等透明導電膜而成之附膜玻璃基板。作為此種附膜玻璃基板之製造方法，例如已知有使用濺鍍法等於玻璃基板上成膜透明導電膜之方法。
下述專利文獻1中揭示有將自展開輥拉出之可撓性基板搬送至蒸鍍部，於可撓性基板上成膜後，捲取至捲取輥之輥對輥(Roll to Roll)濺鍍法。專利文獻1中記載有如下主旨：藉由以高溫濺鍍ITO等靶物質，使靶物質結晶化，獲得具有低比電阻與高透過率之膜。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2014-109073號公報
[發明所欲解決之問題]
然而，如專利文獻1，存在如下問題：於藉由濺鍍將ITO等靶物質成膜於可撓性基板上之情形時，當可撓性基板產生彎曲應力時等，導電膜或可撓性基板容易破損。因此，於形成有此種導電膜之可撓性基板之保管或搬運時，伴隨高破損之風險。尤其是如專利文獻1，於以捲繞體(roll)之形態製造或使用之情形時，其傾向較明顯。
本發明之目的在於提供一種即便以捲繞體之形態製造或使用之情形時亦不易發生破損的附透明導電膜之玻璃片材、附透明導電膜之玻璃捲筒、及其製造方法。
[解決問題之技術手段]
本發明之附透明導電膜之玻璃片材之特徵在於具備玻璃片材及設置於上述玻璃片材之主面上之非晶質透明導電膜。
本發明之附透明導電膜之玻璃片材中，上述透明導電膜較佳為包含氧化銦錫。
本發明之附透明導電膜之玻璃片材中，上述透明導電膜較佳為包含氧化銦鋅。
本發明之附透明導電膜之玻璃片材中，上述透明導電膜之厚度較佳為30 nm以上且500 nm以下。
本發明之附透明導電膜之玻璃片材中，上述玻璃片材之厚度較佳為10 μm以上且200 μm以下。
本發明之附透明導電膜之玻璃捲筒之特徵在於由根據本發明構成之附透明導電膜之玻璃片材捲取而成。
本發明之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法之特徵在於具備：自玻璃捲筒拉出玻璃片材之步驟；於拉出之上述玻璃片材之主面上成膜透明導電膜之步驟；以及捲取成膜有上述透明導電膜之玻璃片材之步驟；且於成膜上述透明導電膜時，將上述玻璃片材之上述透明導電膜之成膜部之溫度保持為-30℃以上且30℃以下。
本發明之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法中，上述透明導電膜之成膜處理較佳為藉由濺鍍法進行。
本發明之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法中，上述透明導電膜之成膜處理較佳為至少進行1次以上。
本發明之附透明導電膜之玻璃片材之製造方法之特徵在於具備：自藉由根據本發明構成之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法所獲得之附透明導電膜之玻璃捲筒拉出成膜有上述透明導電膜之玻璃片材，並將其切斷成特定之大小之步驟；以及使上述切斷之玻璃片材上之上述透明導電膜結晶化之步驟。
[發明之效果]
根據本發明，可提供一種附透明導電膜之玻璃片材，其即便以捲繞體之形態製造或使用之情形時亦不易發生破損。
以下，對較佳之實施形態進行說明。但是，以下之實施形態僅是例示，本發明並非限定於以下之實施形態。又，於各圖式中，有時實質上具有相同功能之構件以相同之符號進行參照。
(附透明導電膜之玻璃片材)
圖1係表示本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃片材之模式剖視圖。如圖1所示，附透明導電膜之玻璃片材1具備玻璃片材2及透明導電膜3。玻璃片材2具有相對向之第1主面2a及第2主面2b。於玻璃片材2之第1主面2a上設置有透明導電膜3。透明導電膜3為非晶質。再者，於本發明中，非晶質透明導電膜3係不具有結晶結構之原子不規則排列之結構者，於X射線繞射曲線中無法實質地觀察到峰值。
玻璃片材2之形狀無特別限定，例如為矩形片材形狀。作為玻璃片材2之材料，無特別限定，例如可使用矽玻璃、二氧化矽玻璃、硼矽酸玻璃、鈉鈣玻璃、鋁矽酸鹽玻璃、化學強化玻璃、無鹼玻璃等。作為玻璃片材2之材料，較佳為可使用硼矽酸玻璃、鈉鈣玻璃、鋁矽酸鹽玻璃、化學強化玻璃、無鹼玻璃，更佳為可使用無鹼玻璃。於使用無鹼玻璃作為玻璃片材2之材料之情形時，可製成化學上更穩定之玻璃。再者，無鹼玻璃係指實質上不包含鹼成分(鹼金屬氧化物)之玻璃。具體而言，係指鹼成分之重量比為3000 ppm以下之玻璃。鹼成分之重量比較佳為1000 ppm以下，更佳為500 ppm以下，進而較佳為300 ppm以下。
玻璃片材2例如可藉由先前公知之浮式法、滾壓法、流孔下引法、再曳引法等成形而獲得。其中，較理想為藉由溢流下拉法成形。
玻璃片材2之厚度無特別限定，較佳為10 μm以上，更佳為30 μm以上，較佳為200 μm以下，更佳為150 μm以下。於玻璃片材2之厚度於上述範圍內之情形時，可更容易捲取，可更容易製成玻璃捲筒(玻璃片材2之捲繞體)。又，適宜用作薄型之電子設備基板。
作為透明導電膜3之材料，只要為具有透光性及導電性者，無特別限定。透明導電膜3例如可包含氧化銦錫(ITO)、摻氟氧化錫(FTO)、氧化銦鋅(IZO)、摻鋁氧化鋅(AZO)等。
透明導電膜3之厚度無特別限定，但較佳為30 nm以上，更佳為50 nm以上，較佳為500 nm以下，更佳為300 nm以下，進而較佳為200 nm以下。於透明導電膜3之厚度為上述下限以上之情形時，更不易發生透明導電膜3之破裂，更不易發生由破裂所導致之導電性之降低。於透明導電膜3之厚度為上述上限以下之情形時，可更容易捲取，可更容易製成附透明導電膜之玻璃捲筒(附透明導電膜之玻璃片材1之捲繞體)。
再者，於透明導電膜3包含氧化銦鋅(IZO)之情形時，透明導電膜3之厚度較佳為50 nm以上，更佳為70 nm以上，較佳為500 nm以下，更佳為400 nm以下。於該情形時，雖未使氧化銦鋅(IZO)結晶化，但透明導電膜3之透明性優異。
於透明導電膜3為氧化銦錫(ITO)之情形時，較佳為結晶化後使用。於使氧化銦錫(ITO)結晶化後使用之情形時，可進一步提高導電性與透明性。再者，氧化銦錫(ITO)通常可藉由約170℃以上之熱處理使其結晶化。
又，透明導電膜3之片材電阻較佳為30 Ω/□以下，更佳為15 Ω/□以下。於該情形時，可進一步提高透明導電膜3之導電性。
附透明導電膜之玻璃片材1由於透光性及導電性優異，故適宜用於液晶顯示設備、有機EL顯示設備等顯示設備、有機EL照明機器、太陽電池等用途。
圖2係表示本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃捲筒之模式圖。如圖2所示，附透明導電膜之玻璃捲筒10為附透明導電膜之玻璃片材1較佳為與保護膜10b一起捲取至捲芯10a而成之附透明導電膜之玻璃片材1之捲繞體。如此，附透明導電膜之玻璃片材1亦可以附透明導電膜之玻璃捲筒10之形態使用。作為保護膜10b之材料，無特別限定，可使用聚對苯二甲酸乙二酯(PET)等樹脂。
附透明導電膜之玻璃片材1由於具備非晶質之透明導電膜3，故即便以附透明導電膜之玻璃捲筒10之形態製造或使用之情形時，亦不易發生破損。關於該方面，於以下所示之製造方法之欄中進行詳細之說明。
(附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法)
以下，參照圖3，對附透明導電膜之玻璃捲筒10之製造方法之一例進行說明。
圖3係用以說明本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法之模式圖。本實施形態之製造方法可使用圖3所示之成膜裝置20。成膜裝置20具備玻璃捲筒21、濺鍍源22、冷卻輥23、附透明導電膜之玻璃捲筒10及真空腔室24。玻璃捲筒21、濺鍍源22、冷卻輥23及附透明導電膜之玻璃捲筒10設置於真空腔室24內。再者，真空腔室24內藉由未圖示之真空泵設定為特定之真空度，並且供給氬氣等惰性氣體與少量氧。
本實施形態之製造方法中，首先準備圖3所示之玻璃捲筒21。玻璃捲筒21為帶狀玻璃片材2捲取至捲芯21a而成之玻璃片材2之捲繞體。再者，構成玻璃捲筒21之玻璃片材2與保護膜21b重疊。作為保護膜21b之材料，無特別限定，例如可使用PET等樹脂。
其次，自準備之玻璃捲筒21拉出玻璃片材2，一面剝離保護膜21b，一面搬送至冷卻輥23。繼而，自濺鍍源22例如使ITO粒子等濺鍍粒子飛散，使其附著於玻璃片材2之第1主面2a。藉此，於玻璃片材2之第1主面2a上可成膜透明導電膜3。
濺鍍源22以自靶飛散之濺鍍粒子(ITO粒子)附著於玻璃片材2之第1主面2a之方式與冷卻輥23隔以一定間隔配置。冷卻輥23具備支持玻璃片材2之圓筒狀輥本體23a及使該輥本體23a冷卻之未圖示之調溫機本體。輥本體23a例如可包含金屬或陶瓷。輥本體23a由軸部23a1旋轉自如地支持。調溫機本體設置於成膜裝置20之外部，為了使輥本體23a冷卻，於輥本體23a之內側配置有用以供熱介質循環之配管23b。再者，藉由自調溫機本體使熱介質循環，輥本體23a之溫度得到控制。
冷卻輥23之輥本體23a利用未圖示之驅動源使軸部23a1驅動，藉此，以沿著玻璃片材2之搬送方向之方式向特定之方向(圖3之箭頭X之方向)旋轉。輥本體23a之一部分與玻璃片材2之第2主面2b相接觸。輥本體23a藉由該旋轉將玻璃片材2搬送至下流側。
再者，於本實施形態中，藉由冷卻輥23，玻璃片材2之成膜部2a1之溫度保持為-30℃以上且30℃以下。成膜部2a1為玻璃片材2之第1主面2a中成膜有透明導電膜3之部分。於本實施形態之製造方法中，至少成膜部2a1之溫度保持於上述範圍即可，第1主面2a中除成膜部2a1以外之部分亦可保持於上述範圍。
其次，將成膜有透明導電膜3之玻璃片材2捲取至捲芯10a，獲得附透明導電膜之玻璃捲筒10。於捲取成膜有透明導電膜3之玻璃片材2時，使保護膜10b重疊進行捲取。繼而，自真空腔室24取出附透明導電膜之玻璃捲筒10。再者，作為保護膜10b，例如可使用PET等樹脂。
圖4係用以說明本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃片材之製造方法之模式圖。
如圖4所示，自獲得之附透明導電膜之玻璃捲筒10拉出成膜有透明導電膜3之玻璃片材2，切斷成膜有透明導電膜3之玻璃片材2。於拉出成膜有透明導電膜3之玻璃片材2時，同時使保護膜10b分離。繼而，拉出之玻璃片材2一面藉由搬送裝置30進行搬送，一面藉由切斷裝置40切斷成單片狀。藉此，可獲得附透明導電膜之玻璃片材1。作為搬送裝置30，例如可使用輥式輸送機。作為切斷裝置40，例如，如圖4所示，可使用藉由照射雷射光L進行熔斷或切斷之裝置。當然，亦可使用刻劃切割器等切斷具，切斷方法無特別限定。
本實施形態之製造方法如上所述於將玻璃片材2之成膜部2a1之溫度保持為-30℃以上且30℃以下之狀態下進行透明導電膜3之成膜。因此，可降低透明導電膜3之成膜溫度，可獲得非晶質透明導電膜3。因此，本實施形態之製造方法所獲得之附透明導電膜之玻璃片材1即便以如附透明導電膜之玻璃捲筒10之捲繞體之形態製造或使用之情形時，亦不易發生破損。以下，對於該理由，與先前之附透明導電膜之玻璃片材相比較進行說明。
先前之製造方法中藉由利用濺鍍法等以高溫成膜透明導電膜，獲得結晶性透明導電膜。先前之製造方法如此藉由以伴隨結晶化之高溫進行成膜處理，獲得具有低比電阻與高透過率之膜。
然而，於如此以伴隨結晶化之高溫進行成膜處理之情形時，由於經結晶化所得之膜之收縮而使得膜面產生膜應力，或生成晶界之情形較多。再者，晶界係OLED(Organic Light-Emitting Diode，有機發光二極體)設備之電流洩漏或短路缺陷之原因。於存在此種膜應力或晶界之情形時，成為基體之玻璃片材由於由彎曲應力所導致之翹曲，於操作時容易破損。尤其是如圖3所示，於以自玻璃捲筒拉出之玻璃片材成膜透明導電膜，獲得附透明導電膜之玻璃捲筒之輥對輥之形態進行操作之情形時，彎曲應力作用於玻璃片材而翹曲，故伴隨高破損之風險。
與之相對，本實施形態之製造方法中，藉由以低溫成膜而形成非晶質透明導電膜3，透明導電膜3未結晶化。因此，膜應力降低，且晶界變得模糊。因此，於輥對輥之製造時或使用時，不易發生由膜引起之破損。
又，本實施形態中，因於將玻璃片材2之成膜部2a1之溫度保持為-30℃以上且30℃以下之低溫之狀態下進行，故可大幅度減少翹曲。考慮到由經加熱飛來之濺鍍粒子之附著所導致之溫度上升，就進一步減少翹曲之觀點而言，更佳為將成膜部2a1之溫度保持為-30℃以上且0℃以下。尤其是於透明導電膜3包含氧化銦錫(ITO)之情形時，成膜時之結晶化更不易發生，膜之收縮更不易發生，故較佳。
如此，由於本實施形態之製造方法所獲得之附透明導電膜之玻璃片材1即便以捲繞體之形態製造或使用之情形時，亦不易發生破損，且不易發生翹曲，故操作性優異。
透明導電膜3之成膜處理可僅進行1次，亦可進行複數次。於進行1次成膜處理之情形時，可進一步簡化製造步驟。又，於藉由進行複數次成膜處理而減小1次成膜之膜厚之情形時，可進一步降低成膜對玻璃片材2面之應力負荷，翹曲將更不易發生。
透明導電膜3之成膜方法不限定於濺鍍法。透明導電膜3例如亦可藉由蒸鍍法或CVD(Chemical Vapor Deposition，化學氣相沈積)法成膜。
再者，獲得之單片狀附透明導電膜之玻璃片材1於後步驟中彎曲應力等之賦予較小之情形時，亦可結晶化後使用。尤其是於透明導電膜3為ITO之情形時，就進一步降低電阻值之觀點而言，較理想為結晶化後使用。透明導電膜3之結晶化方法無特別限定，例如可列舉熱處理。於該情形時，熱處理之溫度例如可設為200℃～250℃。熱處理之時間根據熱處理方法極其不同，但例如可設為0.5分鐘～30分鐘。
[實施例]
以下，關於本發明，基於具體之實施例，進一步詳細地說明。本發明完全不限定於以下之實施例，能夠於不變更要旨之範圍內適當變更而實施。
(實施例1)
使用圖3所示之成膜裝置20，於玻璃片材2上成膜透明導電膜3。具體而言，於自玻璃捲筒21拉出之玻璃片材2(日本Electric Glass股份有限公司製造，無鹼玻璃「OA-10G」，厚100 μm)，於以下之條件藉由濺鍍成膜透明導電膜3，獲得附透明導電膜之玻璃捲筒10。獲得之附透明導電膜之玻璃捲筒10如圖4所示藉由雷射光L切斷成單片片材，製成附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材料：ITO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：-20℃
成膜施加電壓：3 kW
成膜速度：0.3 m/min
處理次數：1次
獲得之透明導電膜3之膜厚為100 nm，片材電阻為30 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材觀察到0.6 mm之隆起。如此，可確認，於實施例1中，可不降低面強度而將翹曲減少至未達1 mm，不易發生操作時之破損。
進而，對獲得之透明導電附膜片材1於潔淨烘箱內於250℃下進行30分鐘之結晶化處理後，可使片材電阻值降低至15 Ω/□。再者，片材電阻之測定使用電阻率計(三菱Chemical Analytech公司製造，Loresta)。
又，翹曲之評估依據SEMI D074-0116(Guide for Measuring Dimensions for Plastic Films/Substrates)測定。具體而言，如圖5所示，將附透明導電膜之玻璃片材試樣1a切成100 mm見方(100 mm×100 mm)後載置於平板50上。繼而，測量附透明導電膜之玻璃片材試樣1a之4個端部距平板50之各個距離x1～x4，將其平均((x1＋x2＋x3＋x4)/4)作為翹曲量。
(實施例2)
將透明導電膜3之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材料：ITO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：-20℃
成膜施加電壓：3 kW
成膜速度：1 m/min
處理次數：3次
獲得之透明導電膜3之膜厚為100 nm，片材電阻為30 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材幾乎未產生隆起，可將翹曲減少至未達1 mm。再者，實施例2中，相對於實施例1將1次成膜之厚度設為約1/3，藉由3次處理獲得必要之片材電阻值(膜厚)。可確認，藉由分批成膜，降低對玻璃片材2面之應力，可進一步抑制翹曲之發生，不易發生操作時之破損。
(實施例3)
將透明導電膜3之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材料：ITO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：-20℃
成膜施加電壓：1 kW
成膜速度：0.1 m/min
處理次數：1次
獲得之透明導電膜3之膜厚為125 nm，片材電阻為30 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材幾乎未產生隆起，可將翹曲減少至未達1 mm。再者，實施例3中，代替相對於實施例1將施加電壓設為1/3，而將成膜速度設為1/3，獲得片材電阻值(膜厚)。可確認，實施例3中，亦降低了對玻璃片材面之應力，翹曲之發生為0，進一步得到抑制，不易發生操作時之破損。
(實施例4)
將玻璃片材2之厚度設為50 μm(日本Electric Glass股份有限公司製造，無鹼玻璃「OA-10G」)，將透明導電膜3之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材料：IZO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：-20℃
成膜施加電壓：1 kW
成膜速度：0.1 m/min
處理次數：1次
獲得之透明導電膜3之膜厚為100 nm，片材電阻為30 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材中幾乎未產生隆起，可將翹曲減少至未達1 mm。可確認，實施例4中，亦可不降低面強度而進一步減少翹曲，不易發生操作時之破損。
(實施例5)
將玻璃片材2之厚度設為50 μm(日本Electric Glass股份有限公司製造，無鹼玻璃「OA-10G」)，將透明導電膜3之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材料：IZO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：20℃(常溫)
成膜施加電壓：1 kW
成膜速度：0.1 m/min
處理次數：1次
獲得之透明導電膜3之膜厚為100 nm，片材電阻為30 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材幾乎未產生隆起，可將翹曲減少至未達1 mm。如此可不降低面強度而減少翹曲。相對於實施例4之低溫成膜，大致於室溫20℃下進行成膜，但片材電阻值並無差異。又，可確認，亦未發生翹曲，不易發生操作時之破損。
(實施例6)
將玻璃片材2之厚度設為50 μm(日本Electric Glass股份有限公司製造，無鹼玻璃「OA-10G」)，將透明導電膜3之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材：IZO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：-20℃
成膜施加電壓：1 kW
成膜速度：0.13 m/min
處理次數：3次
獲得之透明導電膜3之膜厚為250 nm，片材電阻為15 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材幾乎未產生隆起，可將翹曲減少至未達1 mm。如此，可確認，可不降低面強度而減少翹曲，不易發生操作時之破損。
又，藉由以實施例4之成膜條件進行3次成膜處理，獲得膜厚250 nm，片材電阻成為15 Ω/□。該片材電阻值與ITO膜之結晶化後者相同。
(實施例7)
將玻璃片材2之厚度設為50 μm(日本Electric Glass股份有限公司製造，無鹼玻璃「OA-10G」)，將透明導電膜3之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材1。
透明導電膜3之成膜條件
膜材：IZO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：-20℃
成膜施加電壓：1 kW
成膜速度：0.1 m/min
處理次數：1次
獲得之透明導電膜3之膜厚為100 nm，片材電阻為30 Ω/□。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材幾乎未產生隆起，翹曲可減少至未達1 mm。如此，可確認，可不降低面強度而減少翹曲，不易發生操作時之破損。
又，實施例7中，於成膜後切斷成100 mm見方，觀察非加熱品與事後之加熱處理品中之可見光透過率有無變化。加熱條件設為於150℃下加熱1小時(150℃處理)及於250℃下加熱1小時(250℃處理)。即，對於無熱處理、經150℃處理、經250℃處理之於相當於可見光線波長區域之400 nm～700 nm內之分光透過率曲線進行比較。將結果示於圖6。如圖6所示，藉由熱處理，可見光透過率未呈現出明顯變化。再者，分光透過率曲線之測定使用分光透過率計(日本分光公司製造，商品名「紫外可見分光光度計V-570」)。
(比較例1)
將透明導電膜之成膜條件如下所述進行變更，除此以外與實施例1相同，獲得附透明導電膜之玻璃片材。
透明導電膜之成膜條件
膜材料：ITO
成膜溫度(成膜部2a1之溫度)：250℃
成膜施加電壓：3 kW
成膜速度：0.3 m/min
處理次數：1次
獲得之透明導電膜3之膜厚為125 nm，由於以超過ITO之結晶化溫度、即約170℃之250℃成膜，故局部發生結晶化。為了使其完全結晶化，於潔淨烘箱內於250℃下熱處理30分鐘，獲得片材電阻為15 Ω/□者。又，於翹曲評估中，於100 mm見方之片材產生6 mm之隆起。由於翹曲較大，且面強度亦顯著降低，故操作時易發生破損，即便是單片，玻璃片之搬運亦較困難。
＜面強度比較試驗＞
對實施例1之ITO-20℃成膜品(未結晶化)、實施例4之IZO-20℃成膜品及比較例1之ITO250℃成膜品(結晶化)進行面強度之比較。面強度利用夾環上之環試驗(Ring on Clamped Ring試驗)進行評估。夾環上之環試驗如圖7所示，藉由由樹脂構成之上圓板62與由金屬構成之下圓板63夾住截取成50 mm×50 mm之尺寸之附透明導電膜之玻璃片材試樣1a。繼而，於藉由上圓板62(貫通孔之內徑：25 mm)及下圓板63(貫通孔之內徑：25 mm)夾住附透明導電膜之玻璃片材試樣1a之狀態下，藉由以速度0.5 mm/min按壓上側環61(直徑：12.5 mm)進行試驗。再者，下圓板63兼作下側環。又，附透明導電膜之玻璃片材試樣1a以成膜側為下圓板63側之方式載置。再者，於面強度之試驗中，將未成膜之毛坯玻璃之平均破壞負載值設為100與各試樣進行比較。將結果示於圖8。如圖8所示，具有非晶質狀態之膜之實施例1(ITO成膜)與實施例4(IZO成膜)與毛坯玻璃相比較維持約80%之強度，但比較例1之ITO膜結晶化者強度明顯降低至約30%。
1‧‧‧附透明導電膜之玻璃片材
1a‧‧‧附透明導電膜之玻璃片材試樣
2‧‧‧玻璃片材
2a‧‧‧第1主面
2a1‧‧‧成膜部
2b‧‧‧第2主面
3‧‧‧透明導電膜
10‧‧‧附透明導電膜之玻璃捲筒
10a‧‧‧捲芯
10b‧‧‧保護膜
20‧‧‧成膜裝置
21‧‧‧玻璃捲筒
21a‧‧‧捲芯
21b‧‧‧保護膜
22‧‧‧濺鍍源
23‧‧‧冷卻輥
23a‧‧‧輥本體
23a1‧‧‧軸部
23b‧‧‧配管
24‧‧‧真空腔室
30‧‧‧搬送裝置
40‧‧‧切斷裝置
50‧‧‧平板
61‧‧‧上側環
62‧‧‧上圓板
63‧‧‧下圓板
L‧‧‧雷射光
X‧‧‧輥本體之軸部旋轉之方向
x1～x4‧‧‧附透明導電膜之玻璃片材試樣1a之4個端部距平板50之距離
圖1係表示本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃片材之模式剖視圖。
圖2係表示本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃捲筒之模式圖。
圖3係用以說明本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法之模式圖。
圖4係用以說明本發明之一實施形態之附透明導電膜之玻璃片材之製造方法之模式圖。
圖5係用以說明翹曲之評估方法之模式圖。
圖6係表示實施例7之分光透過率曲線之圖。
圖7係用以說明夾環上之環試驗之方法之模式剖視圖。
圖8係表示夾環上之環試驗之結果之圖。

Claims (10)

  1. 一種附透明導電膜之玻璃片材，其具備： 玻璃片材、及 設置於上述玻璃片材之主面上之非晶質透明導電膜。
  2. 如請求項1之附透明導電膜之玻璃片材，其中上述透明導電膜包含氧化銦錫。
  3. 如請求項1或2之附透明導電膜之玻璃片材，其中上述透明導電膜包含氧化銦鋅。
  4. 如請求項1至3中任一項之附透明導電膜之玻璃片材，其中上述透明導電膜之厚度為30 nm以上且500 nm以下。
  5. 如請求項1至4中任一項之附透明導電膜之玻璃片材，其中上述玻璃片材之厚度為10 μm以上且200 μm以下。
  6. 一種附透明導電膜之玻璃捲筒，其由如請求項1至5中任一項之附透明導電膜之玻璃片材捲取而成。
  7. 一種附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法，其具備： 自玻璃捲筒拉出玻璃片材之步驟； 於拉出之上述玻璃片材之主面上成膜透明導電膜之步驟；以及 捲取成膜有上述透明導電膜之玻璃片材之步驟；且 於成膜上述透明導電膜時，將上述玻璃片材之上述透明導電膜之成膜部之溫度保持為-30℃以上且30℃以下。
  8. 如請求項7之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法，其中上述透明導電膜之成膜處理藉由濺鍍法進行。
  9. 如請求項7或8之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法，其中上述透明導電膜之成膜處理至少進行1次以上。
  10. 一種附透明導電膜之玻璃片材之製造方法，其具備： 自藉由如請求項7至9中任一項之附透明導電膜之玻璃捲筒之製造方法所獲得之附透明導電膜之玻璃捲筒拉出成膜有上述透明導電膜之玻璃片材，並將其切斷成特定之大小之步驟；以及 使上述切斷之玻璃片材上之上述透明導電膜結晶化之步驟。
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