TW201827153A - 帶狀玻璃膜之品質檢查方法、及玻璃卷 - Google Patents

帶狀玻璃膜之品質檢查方法、及玻璃卷 Download PDF

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Abstract

將帶狀玻璃膜(2)沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成的端邊(3)之真直度來檢查切斷後的帶狀玻璃膜(4)之品質時，係執行攝像步驟、線性近似步驟、偏差算出步驟及評價步驟，攝像步驟，係將端邊(3)分成複數個區間並進行攝像，線性近似步驟，是對在攝像步驟所取得的複數個圖像(19)各個，從端邊(3)上彼此不同的複數個點(17)求出端邊(3)的近似直線(18)，偏差算出步驟，是以近似直線(18)為基準求出複數個點(17)的偏差值，評價步驟，是根據對應於複數個圖像(19)各個之複數個偏差值來評價端邊(3)的真直度。

Description

帶狀玻璃膜之品質檢查方法、及玻璃卷
[0001] 本發明是關於一種帶狀玻璃膜之品質檢查方法，係將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成的端邊之真直度來檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質，並關於玻璃卷。
[0002] 近年急速普及之智慧型手機、平板電腦等的行動終端機，因為要求薄型、輕量，對於在這些終端機內所組裝的玻璃基板之薄板化的要求也越來越高乃是現狀。在這樣的現狀下，甚至連薄板化到膜狀程度(例如，厚度300μm以下)的玻璃基板、即玻璃膜都已被開發、製造出。 　　[0003] 玻璃膜，例如可從藉由下拉法成形後的帶狀玻璃膜切出而製造。成為玻璃膜的前身之帶狀玻璃膜具有可撓性，能利用該可撓性對帶狀玻璃膜實施處理。舉例而言，在專利文獻1揭示的處理，係利用所謂卷對卷(roll-to-roll)的形態，將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，而從帶狀玻璃膜將非有效部(該文獻中的不要部)除去(參照該文獻的圖15)。 　　[0004] 然而，切斷後的帶狀玻璃膜之品質良窳，受到伴隨切斷所形成的端邊之真直度很大的影響。詳而言之，當端邊蛇行而使其真直度降低的情況，對應於此容易在端邊產生較大的應力，在下游側的步驟以端邊為起點而發生破損的疑慮變高。因此，為了檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質而要求評價端邊的真直度。作為該評價的手法，例如(A)用顯微鏡觀察端邊來進行評價的手法、(B)用手觸摸端邊來進行評價的手法是可考慮的。 　　[0005] 　　[專利文獻1] 日本特開2015-63450號公報
[發明所欲解決之問題] 　　[0006] 然而，利用上述手法來評價端邊之真直度的情況，存在著下述般之待解決的問題。 　　[0007] 亦即，在上述(A)的手法，因為要求端邊當中之要評價真直度的區間之整個區域都用顯微鏡觀察，要評價的區間變得越長，評價作業變得更為煩雜。如此，依據上述(A)的手法，縱使能對很長的端邊之局部區間評價真直度，要對端邊的全長評價真直度是實質上不可能的。另一方面，依據上述(B)的手法，因為無法對真直度進行定量的評價，而有評價精度必然降低的問題。 　　[0008] 這些問題，不僅是上述般的利用卷對卷的形態的情況，將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，將伴隨切斷所形成之端邊的真直度藉由上述(A)、(B)的手法進行評價來檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質的情況，同樣會發生。 　　[0009] 有鑑於上述事情，本發明的技術課題是為了確立一種方法，係將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成之端邊的真直度，來檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質時，可對端邊的全長實施評價，且可獲得高精度的評價。 [解決問題之技術手段] 　　[0010] 為了解決上述課題所開發完成之本發明的方法，係將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成之端邊的真直度，來檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質的方法，其特徵在於，係包含攝像步驟、線性近似步驟、偏差算出步驟及評價步驟，該攝像步驟，是將端邊分成複數個區間並對各區間分別進行攝像；該線性近似步驟，是對於在攝像步驟所取得的複數個圖像各個，從在端邊上彼此不同的複數個點求出端邊的近似直線；該偏差算出步驟，是對於複數個圖像各個，以近似直線為基準求出複數個點之偏差值；該評價步驟，是根據複數個圖像各個所對應之複數個偏差值來評價端邊的真直度。 　　[0011] 依據本方法，藉由執行攝像步驟，將端邊分成複數個區間並對各區間分別進行攝像後，藉由執行線性近似步驟及偏差算出步驟，對於在攝像步驟所取得之複數個圖像各個，在圖像中所呈現的區間之端邊的真直度以偏差值的形式被定量求出。接著，藉由執行評價步驟，根據複數個圖像各個所對應的複數個偏差值，來評價端邊的真直度。換言之，在評價步驟，是根據被定量求出之各區間之端邊的真直度，對於端邊的全長進行真直度的評價。經由以上的操作，依據本方法，可對端邊的全長實施真直度的評價。再者，因為在成為對全長之評價的前身之各區間的真直度被定量求出，對全長的評價可獲得高精度的評價。 　　[0012] 在上述方法較佳為，在攝像步驟，以將用於進行攝像之攝像手段固定在定點的狀態，一邊將切斷後的帶狀玻璃膜沿著長度方向搬送一邊進行攝像。 　　[0013] 如此，為了將很長的端邊之各區間進行攝像，不須沿著切斷後的帶狀玻璃膜之長度方向讓攝像手段移動，也不須改變攝像手段所朝向的方向。因此，可高效率地評價端邊的真直度。 　　[0014] 在上述方法較佳為，在攝像步驟，是從將切斷後的帶狀玻璃膜俯視的方向進行攝像。 　　[0015] 對於端邊的各區間，若從與將切斷後的帶狀玻璃膜俯視的方向不同的方向進行攝像，當切斷後的帶狀玻璃膜發生皺紋或起伏的情況，會有產生下述問題的疑慮。亦即，若在切斷後的帶狀玻璃膜發生皺紋或起伏，對應於此可能造成端邊不可避免地彎曲。在這樣的情況，在線性近似步驟中要正確求出端邊的近似直線變困難，縱使實際上端邊的真直度非常高，起因於皺紋、起伏的發生所造成之端邊彎曲的影響，會有端邊的真直度被評價成低的疑慮。然而，對於端邊的各區間，如果從將切斷後的帶狀玻璃膜俯視的方向進行攝像，就能確實地排除上述般的疑慮。這是因為，藉由從俯視的方向進行攝像，藉使端邊發生彎曲的情況，所攝像的各圖像上不容易受到彎曲的影響。 　　[0016] 在上述方法較佳為，在攝像步驟，將作為攝像對象的各區間在用光照射的狀態下進行攝像。光的照射形態，是透射照明(隔著帶狀玻璃膜而使攝像機和光源相對向的情況)、或落射照明(攝像機和光源位於帶狀玻璃膜之同一面側，帶狀玻璃膜所反射的光被攝像機捕捉的情況)皆可。 　　[0017] 如此，在攝像步驟所取得之複數個圖像各個，對應於光的照射可將端邊的各區間鮮明地呈現。因此，在獲得高精度的評價方面是更有利的。 　　[0018] 在上述方法較佳為，在攝像步驟，在相鄰之被攝像的兩區間之間，讓一方的區間和另一方的區間局部重複。 　　[0019] 如此，相較於在相鄰之被攝像的兩區間之間不讓一方的區間和另一方的區間重複的情況，在攝像步驟所攝像之圖像數量必然會增加。而且，根據對應於圖像數量增加的分量其數量同樣增加之偏差值，來評價端邊的真直度，因此在獲得高精度評價的方面是更有利的。此外，藉由讓一方的區間和另一方的區間局部重複，能確實地避免在端邊發生漏攝像的區間。 　　[0020] 在上述方法較佳為，對於在攝像步驟所取得之複數個圖像各個，在線性近似步驟之前執行邊緣偵測處理。 　　[0021] 如此，在所攝像的各圖像中，端邊的輪廓變鮮明，因此在獲得高精度的評價方面是更有利的。 　　[0022] 在上述方法較佳為，在線性近似步驟，沿著切斷後之帶狀玻璃膜的長度方向將複數個點等間隔地配置。 　　[0023] 在攝像步驟所取得的圖像上，當複數個點的所在位置不均衡的情況，在線性近似步驟所求出的近似直線，可能無法對端邊充分地近似。然而，如果沿著切斷後之帶狀玻璃膜的長度方向將複數個點等間隔地配置，就能確實排除上述般的疑慮。 　　[0024] 在上述方法較佳為，將帶狀玻璃膜從第一玻璃卷退繞並沿著長度方向切斷之後，將切斷後的帶狀玻璃膜捲繞成第二玻璃卷。 　　[0025] 如此，能以卷對卷的形態，將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，並評價伴隨切斷所形成之端邊的真直度。因此，能效率極佳地評價端邊的真直度。 　　[0026] 此外，如果利用上述的品質檢查方法，可藉由該方法篩選而取得由端邊的真直度高之帶狀玻璃膜所構成的玻璃卷。所篩選出的玻璃卷，是將帶狀玻璃膜呈卷狀捲繞而成的玻璃卷，其特徵在於，在執行以下所列舉之(1)~(4)的情況，滿足以下(5)的條件。 　　[0027] 亦即，(1)將帶狀玻璃膜之沿著長度方向延伸的端邊以30mm長度為一區間分成複數個區間並對各區間分別進行攝像時，以使相鄰而被攝像之兩區間的一方和另一方彼此重複5mm的方式進行攝像，並從將帶狀玻璃膜俯視的方向攝像。(2)對於藉由攝像所取得之複數個圖像各個，從沿著長度方向等間隔地配置之端邊上的彼此不同的80個點用最小平方法求出端邊的近似直線。(3)對於複數個圖像各個，以近似直線為基準將80個點的偏差值以標準偏差σ的形式求出。(4)對於複數個圖像各個，將圖像中之1像素的大小設為p[μm]，求出Z=σ×p的值。(5)複數個圖像全部都是Z＜105，且複數個圖像當中之99.5%以上為0≦Z≦50。 [發明效果] 　　[0028] 依據本發明，將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成之端邊的真直度來檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質時，能對端邊的全長實施評價，且可獲得高精度的評價。
[0030] 以下，針對本發明的實施形態之帶狀玻璃膜之品質檢查方法及玻璃卷，參照所附的圖式做說明。 　　[0031] 圖1係顯示本實施形態的帶狀玻璃膜之品質檢查方法的概略之側視圖。如該圖所示般，在本實施形態，是利用卷對卷的形態，將從第一玻璃卷1退繞後之帶狀玻璃膜2以平放姿勢搬送並沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成之端邊3的真直度，來檢查切斷後的帶狀玻璃膜4的品質。此外，將切斷後的帶狀玻璃膜4再度呈卷狀捲繞成第二玻璃卷5。 　　[0032] 作為切斷對象之帶狀玻璃膜2，是藉由以溢流下拉法、流孔下拉法、再伸延(redraw)法等為代表的下拉法、或浮法所成形出之帶狀的薄板玻璃。該帶狀玻璃膜2係具備能賦予可撓性的程度之厚度(例如厚度為300μm以下)。此外，帶狀玻璃膜2係具有：位於其寬度方向中央之有效部2a、及相對於有效部2a是位於寬度方向外側之一對的非有效部2b,2b。 　　[0033] 有效部2a是隨後被實施既定的處理而成為製品玻璃膜的部位。相對於此，兩非有效部2b,2b，是不會成為製品玻璃膜而隨後被廢棄的部位。伴隨帶狀玻璃膜2的切斷而讓有效部2a和兩非有效部2b,2b分離。藉此，切斷後的帶狀玻璃膜4僅由與兩非有效部2b,2b分離後的有效部2a所構成。該有效部2a之寬度方向兩端成為被評價真直度的對象、即端邊3。 　　[0034] 第一玻璃卷1，是以將帶狀玻璃膜2和用於保護其之帶狀保護薄片6重疊的狀態，將兩者2,6在卷芯7的周圍呈卷狀捲繞而成者。帶狀保護薄片6，是與帶狀玻璃膜2同樣的具備能賦予可撓性的程度之厚度。該帶狀保護薄片6，為了切斷而和從第一玻璃卷1退繞的帶狀玻璃膜2一起退繞後，從帶狀玻璃膜2分離。分離後的帶狀保護薄片6，在卷芯8的周圍呈卷狀捲繞成第一薄片卷9。 　　[0035] 從第一玻璃卷1退繞後的帶狀玻璃膜2，是藉由雷射割斷法切斷。在執行雷射割斷法時，是採用以固定在定點的狀態設置於帶狀玻璃膜2之搬送路徑的上方之雷射照射器10及冷媒噴射器11。雷射照射器10及冷媒噴射器11分別設置有二具(在圖1中，僅圖示出雷射照射器10及冷媒噴射器11各一具)。二具中的一方，是用於讓有效部2a和兩非有效部2b,2b中的一方分離的機器，二具中的另一方是用於讓有效部2a和兩非有效部2b,2b中的另一方分離的機器。 　　[0036] 雷射照射器10，是沿著通過其下方之帶狀玻璃膜2的有效部2a和非有效部2b的邊界連續照射雷射12。冷媒噴射器11，是對帶狀玻璃膜2之被雷射12照射後的部位連續噴射冷媒13(例如，霧狀的水)。藉此，利用起因於被雷射12加熱後的部位和被冷媒13冷卻後的部位間的溫度差所產生的熱應力，沿著有效部2a和非有效部2b的邊界將帶狀玻璃膜2連續切斷(割斷)，而讓有效部2a和非有效部2b分離。和有效部2a分離後之非有效部2b，是從切斷後的帶狀玻璃膜4(僅由有效部2a構成的帶狀玻璃膜4)之搬送路徑往下方脫離後，分割成適當的長度而被廢棄。 　　[0037] 在此，作為本實施形態的變形例，例如可採用下述般的切斷手法將帶狀玻璃膜2切斷。亦即可採用：一邊沿著有效部2a和非有效部2b的邊界照射雷射而將帶狀玻璃膜2熔斷，一邊讓形成於熔斷後的有效部2a之熔斷端部以線狀玻璃的形式從有效部2a剝離而除去的切斷手法。在此情況，讓熔斷端部剝離後的有效部2a之寬度方向兩端，成為被評價真直度的對象、即端邊3。 　　[0038] 在評價端邊3的真直度時，首先執行，將端邊3分成複數區間並對各區間分別進行攝像之攝像步驟。在執行攝像步驟時，是採用作為攝像手段之攝像機14、及可照射光15之光源16(例如，平板狀的LED照明)。又在圖1中，雖是成為攝像機14和光源16隔著帶狀玻璃膜4相對向的照明方式，但也能成為：攝像機14和光源16相對於帶狀玻璃膜4位於同一面側而利用帶狀玻璃膜4的反射光之照明方式。攝像機14及光源16分別設置有二具(圖1中僅圖示出攝像機14及光源16各一具)。二具中的一方，是用於對位於有效部2a之寬度方向一側之端邊3執行攝像步驟的機器，二具中的另一方，是用於對位於有效部2a之寬度方向另一側之端邊3執行攝像步驟的機器。 　　[0039] 攝像機14，可從將帶狀玻璃膜4俯視的方向進行端邊3之各區間的攝像。該攝像機14，是以固定在定點的狀態設置於帶狀玻璃膜4之搬送路徑的上方，隨著帶狀玻璃膜4的搬送使端邊3以橫越攝像機14之視野14a的方式通過。在此，在本實施形態，是將帶狀玻璃膜4以一定的搬送速度進行搬送。而且控制成，使攝像機14隔著一定的時間間隔進行連續攝像。基於該帶狀玻璃膜4的搬送速度和攝像機14進行攝像之時間間隔的關係，使攝像機14每當帶狀玻璃膜4沿著搬送方向往下游側搬送一定距離就進行攝像。在攝像和攝像之間帶狀玻璃膜4被搬送的一定距離(以下稱為「攝像間搬送距離」)，被調節成比攝像機14的視野14a之沿著搬送方向的長度(以下稱為「視野長度」)短。 　　[0040] 光源16，是以在厚度方向(上下方向)隔著帶狀玻璃膜4而與攝像機14相對向的方式，以固定在定點的狀態設置於帶狀玻璃膜4之搬送路徑的下方。該光源16，可朝向端邊3當中之位於攝像機14的視野14a內的區間照射光15。藉此，可將作為攝像對象之端邊3的各區間以用光15照射的狀態進行攝像。 　　[0041] 圖2a~圖2c係顯示本實施形態的攝像步驟之俯視圖。以下，參照該圖說明攝像步驟的具體態樣。在此，在圖2a~圖2c中，被粗線方框包圍的範圍表示攝像機14的視野14a。該視野14a，在帶狀玻璃膜4的搬送路徑上始終存在於同一位置。 　　[0042] 當攝像機14進行攝像時，如圖2a所示般，端邊3當中之位於視野14a內的區間3a被攝像。然後，當隔著時間間隔再度使攝像機14進行攝像時，如圖2b所示般，以區間3a的攝像時為基準，在帶狀玻璃膜4被往下游側搬送攝像間搬送距離的時點，位於視野14a內的區間3b被攝像。在此，因為攝像間搬送距離比視野長度短，區間3a和區間3b兩者成為局部重複。換言之，區間3a完全通過視野14a之前再度進行攝像，區間3b被攝像。然後，當隔著時間間隔再度使攝像機14進行攝像時，如圖2c所示般，以區間3b的攝像時為基準，在帶狀玻璃膜4被往下游側搬送攝像間搬送距離的時點，位於視野14a內的區間3c被攝像。與區間3a和區間3b成為局部重複同樣的，在區間3b和區間3c兩者間也成為局部重複。藉由如此般使攝像機14隔著時間間隔進行連續攝像，將端邊3的全長分成複數區間進行攝像。藉此，在所攝像的各圖像中呈現端邊3的各區間。經由以上操作結束攝像步驟。 　　[0043] 當攝像步驟結束時，接下來，對於在攝像步驟所取得之複數個圖像各個執行邊緣偵測處理。藉此，使各圖像上之端邊3的輪廓變鮮明。當邊緣偵測處理結束時，執行線性近似步驟及偏差算出步驟。圖3顯示本實施形態的線性近似步驟及偏差算出步驟。以下，參照該圖說明兩步驟。 　　[0044] 在線性近似步驟，對於在攝像步驟所取得的各圖像，從端邊3上之彼此不同的複數個點17求出端邊3的近似直線18。在求出近似直線18時，首先，在圖像19上，等間隔地畫出沿著帶狀玻璃膜4的寬度方向延伸之複數條直線20(圖3中，省略一部分的直線20的圖示)。接下來，在複數條直線20與端邊3之所有的交點畫上點17。所畫的複數個點17在圖像19上之各個座標，是由相互正交的X座標軸及Y座標軸來決定。X座標軸是朝帶狀玻璃膜4的長度方向(搬送方向)延伸， Y座標軸是朝帶狀玻璃膜4的寬度方向延伸。複數個點17是沿著帶狀玻璃膜4的長度方向等間隔地配置。在此，為了高精度地求出近似直線18，相鄰直線20彼此的間隔，較佳為比沿著帶狀玻璃膜4之長度方向的長度0.4mm(不是圖像19上的長度，而是實際長度)短。最後，根據複數個點17各個的座標，利用最小平方法求出近似直線18。經由以上操作結束線性近似步驟。 　　[0045] 在偏差算出步驟，對於在攝像步驟所取得的各圖像，以近似直線18為基準，求出相對於該近似直線18之複數個點17的偏差值。在本實施形態，作為偏差值是求出標準偏差σ值(以像素為基準的值)。在此，作為本實施形態的變形例，例如作為偏差值可求出分散值。經由以上操作結束偏差算出步驟。當偏差算出步驟結束時，成為在攝像步驟所取得的複數個圖像一張一張所對應的標準偏差σ值分別被求出的狀態。換言之，在攝像步驟所攝像之圖像的張數、和在偏差算出步驟所求出之標準偏差σ值的數目成為同數。所求出之複數個標準偏差σ值各個，是定量表示在圖像19上所呈現的區間之端邊3的真直度的數值。將標準偏差σ值乘6而得之6σ值大致等於：端邊3當中，在各圖像上所呈現的區間中，朝寬度方向外側最突出的部位和朝寬度方向內側最凹陷的部位之相互間距離(沿著寬度方向的相互間距離)。 　　[0046] 當線性近似步驟及偏差算出步驟結束時，執行評價步驟。在該評價步驟，根據對應於複數個圖像各個之標準偏差σ值，評價端邊3的真直度。以下舉出具體例來說明評價步驟。 　　[0047] 例如，對於在攝像步驟所攝像之各圖像，是在沿著帶狀玻璃膜4的長度方向(在圖像19上為X座標軸的延伸方向)30mm的範圍、及沿著帶狀玻璃膜4的寬度方向(在圖像19上為Y座標軸的延伸方向)22.5mm的範圍被攝像者。這兩個長度，不是圖像19上的長度而是實際長度。在本例，上述視野長度為30mm，上述攝像間搬送距離為25mm。換言之，在本例，在相鄰而被攝像的兩區間之間，一方的區間和另一方的區間以5mm長度形成重複。此外，在本例，沿長度方向為1600像素，沿寬度方向為1200像素，1像素(pixel)大小為18.75μm。在求出標準偏差σ時，在長度方向分割成80等分，且以1/2節距錯開的方式畫出複數條直線20，以其與端邊3的交點作為複數個點17，作成近似直線18。 　　[0048] 在上述條件下，根據對應於複數個圖像各個之標準偏差σ，依據式：Z=(標準偏差σ×18.75)/5算出Z值。Z值是以整數值算出，並藉由PLC(可程式邏輯控制器)處理。而且，例如如果Z值為0~3區分為「A級」，Z值為4~10區分為「B級」，Z值為11~20區分為「C級」，Z值為21以上區分為「D級」。然後，將依據上式所獲得之所有的Z值(對應於各標準偏差σ值之各Z值)區分為「A級」~「D級」。結果，例如當「B級」以上為99.5%以上，且「C級」未達0.5%、「D級」為0%的情況，對於端邊3的真直度評價為合格。亦即，作為帶狀玻璃膜4的品質檢查結果，判定為具有可成為製品的品質。經由以上操作結束評價步驟。 　　[0049] 在此，在本實施形態，雖是依上述態樣執行評價步驟，但並不限定於此。評價步驟，只要是根據在偏差算出步驟所定量取得的偏差值進行評價即可，能以任意的態樣來執行。例如，關於上述Z值，當用PLC處理的限制取消的情況，能以Z=標準偏差σ×18.75的方式算出。 　　[0050] 如圖1所示般，在將切斷後的帶狀玻璃膜4和用於保護其之帶狀保護薄片21重疊的狀態，將兩者4,21在卷芯22周圍呈卷狀捲繞而成為第二玻璃卷5。帶狀保護薄片21，是與帶狀玻璃膜4同樣的具備能賦予可撓性的程度之厚度。該帶狀保護薄片21，是從由該帶狀保護薄片21在卷芯23周圍呈卷狀捲繞而成之第二薄片卷24退繞而進行供給。經由以上操作，結束本實施形態的帶狀玻璃膜之品質檢查方法。 　　[0051] 以下說明，本發明的實施形態的帶狀玻璃膜之品質檢查方法之主要作用及效果。 　　[0052] 依據本實施形態的帶狀玻璃膜之品質檢查方法，藉由執行攝像步驟，將端邊3分成複數區間並對各區間分別進行攝像後，藉由執行線性近似步驟及偏差算出步驟，對於在攝像步驟所取得的複數個圖像19各個，將在圖像19上所呈現的區間之端邊3的真直度以標準偏差σ值的形式定量求出。接著，藉由執行評價步驟，根據分別對應於複數個圖像19各個之複數個標準偏差σ值，評價端邊3的真直度。換言之，在評價步驟，根據被定量求出之各區間的端邊3之真直度，對於端邊3的全長實施真直度的評價。經由以上的操作，可對端邊3的全長實施真直度的評價。再者，因為成為對於全長的評價的前身之各區間的真直度被定量求出，作為對於全長的評價，可獲得高精度的評價。 　　[0053] 以下說明，利用上述帶狀玻璃膜之品質檢查方法之玻璃卷製造方法。在本製造方法的說明，對於與在上述品質檢查方法說明完畢的要素實質相同的要素，是賦予同一符號而省略重複的說明。 　　[0054] 如果利用上述品質檢查方法，可篩選出由端邊3的真直度高之帶狀玻璃膜4所構成的玻璃卷5。換言之，當將執行沿著長度方向的切斷後之帶狀玻璃膜4呈卷狀捲繞而成的玻璃卷5製作複數個時，可從複數個當中僅採取端邊3的真直度高之良品。 　　[0055] 所採取的玻璃卷5，當執行以下所列舉的(1)~(4)的情況，滿足以下(5)的條件。 　　[0056] (1)將帶狀玻璃膜4的端邊3以長度30mm(沿著帶狀玻璃膜4之長度方向的長度)為一區間分成複數個區間，並對各區間分別進行攝像。這時，以使相鄰而被攝像之兩區間的一方和另一方彼此重複5mm的方式進行攝像，並從將帶狀玻璃膜4俯視的方向攝像。關於複數個區間之數目，是取決於帶狀玻璃膜4的長短(端邊3的長短)而進行增減。 　　[0057] (2)對於攝像所取得之複數個圖像19(圖像19數目是與複數區間的數目相等)各個，從沿著帶狀玻璃膜4的長度方向等間隔地配置之端邊3上彼此不同的80個點17，利用最小平方法求出端邊3的近似直線18。 　　[0058] (3)對於複數個圖像19各個，以近似直線18為基準而將80個點的偏差值以標準偏差σ的形式求出。 　　[0059] (4)對於複數個圖像19各個，將圖像19中的1像素之大小設為p[μm]，求出Z=σ×p的值。作為p的一例是18.75，其數值是取決於攝像條件而改變。 　　[0060] (5)複數個圖像19全部都是Z＜105，且複數個圖像19當中之99.5%以上為0≦Z≦50。複數個圖像的數目為N時，當N×0.995所算出的數目不是整數的情況，將小數點以下捨去。 　　[0061] 在此，本發明的帶狀玻璃膜之品質檢查方法，並不限定於在上述實施形態所說明的態樣。例如，在上述實施形態，是利用卷對卷的形態，將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，而評價伴隨切斷所形成的端邊之真直度，但並不限定於此。對於藉由下拉法或浮法所成形的帶狀玻璃膜，將位於其寬度方向兩端的非有效部(包含耳部的部位)切斷，評價伴隨切斷所形成之端邊的真直度的情況，也能運用本發明。
[0062]
1‧‧‧第一玻璃卷
2‧‧‧帶狀玻璃膜
2a‧‧‧有效部
3‧‧‧端邊
3a~3c‧‧‧區間
4‧‧‧切斷後的帶狀玻璃膜
5‧‧‧第二玻璃卷
14‧‧‧攝像機
15‧‧‧光
17‧‧‧點
18‧‧‧近似直線
19‧‧‧圖像
20‧‧‧直線
[0029] 　　圖1係顯示本發明的實施形態之帶狀玻璃膜之品質檢查方法的概略之側視圖。 　　圖2a係顯示本發明的實施形態之帶狀玻璃膜之品質檢查方法的攝像步驟之俯視圖。 　　圖2b係顯示本發明的實施形態之帶狀玻璃膜之品質檢查方法的攝像步驟之俯視圖。 　　圖2c係顯示本發明的實施形態之帶狀玻璃膜之品質檢查方法的攝像步驟之俯視圖。 　　圖3係顯示本發明的實施形態之帶狀玻璃膜之品質檢查方法的線性近似步驟及偏差算出步驟。

Claims (9)

  1. 一種帶狀玻璃膜之品質檢查方法，係將帶狀玻璃膜沿著長度方向切斷，藉由評價伴隨切斷所形成的端邊之真直度來檢查切斷後的帶狀玻璃膜之品質的方法，其特徵在於， 　　係包含攝像步驟、線性近似步驟、偏差算出步驟及評價步驟， 　　該攝像步驟，是將前述端邊分成複數個區間並對各區間分別進行攝像； 　　該線性近似步驟，是對於在前述攝像步驟所取得的複數個圖像各個，從在前述端邊上彼此不同的複數個點求出該端邊的近似直線； 　　該偏差算出步驟，是對於前述複數個圖像各個，以前述近似直線為基準求出前述複數個點之偏差值； 　　該評價步驟，是根據對應於前述複數個圖像各個之複數個偏差值來評價前述端邊的真直度。
  2. 如申請專利範圍第1項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　在前述攝像步驟，以將用於進行攝像之攝像手段固定在定點的狀態，一邊將前述切斷後的帶狀玻璃膜沿著長度方向搬送一邊進行攝像。
  3. 如申請專利範圍第1或2項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　在前述攝像步驟，從將前述切斷後的帶狀玻璃膜俯視的方向進行攝像。
  4. 如申請專利範圍第1至3項中任一項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　在前述攝像步驟，將作為攝像對象之各區間在用光照射的狀態下進行攝像。
  5. 如申請專利範圍第1至4項中任一項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　在前述攝像步驟，在相鄰而被攝像的兩區間之間，讓一方的區間和另一方的區間局部重複。
  6. 如申請專利範圍第1至5項中任一項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　對於在前述攝像步驟所取得的複數個圖像各個，在前述線性近似步驟之前執行邊緣偵測處理。
  7. 如申請專利範圍第1至6項中任一項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　在前述線性近似步驟，沿著前述切斷後之帶狀玻璃膜的長度方向將前述複數個點等間隔地配置。
  8. 如申請專利範圍第1至7項中任一項之帶狀玻璃膜之品質檢查方法，其中， 　　將前述帶狀玻璃膜從第一玻璃卷退繞並沿著長度方向切斷後，將切斷後的帶狀玻璃膜捲繞成第二玻璃卷。
  9. 一種玻璃卷，是由帶狀玻璃膜呈卷狀捲繞而成的玻璃卷，其特徵在於，當執行以下所列舉的(1)~(4)的情況，滿足以下(5)的條件， 　　(1)將沿著前述帶狀玻璃膜的長度方向延伸的端邊，以長度30mm為一區間分成複數個區間並對各區間分別進行攝像時，以使相鄰而被攝像之兩區間的一方和另一方彼此重複5mm的方式進行攝像，並從將前述帶狀玻璃膜俯視的方向攝像， 　　(2)對於藉由攝像所取得之複數個圖像各個，從沿著前述長度方向等間隔地配置之前述端邊上之彼此不同的80個點利用最小平方法求出該端邊的近似直線， 　　(3)對於前述複數個圖像各個，以前述近似直線為基準而將前述80個點的偏差值以標準偏差σ的形式求出， 　　(4)對於前述複數個圖像各個，將圖像之1像素的大小設為p[μm]，求出Z=σ×p的值， 　　(5)前述複數個圖像全都是Z＜105，且前述複數個圖像當中之99.5%以上為0≦Z≦50。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019151246A1 (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 日本電気硝子株式会社 ガラスロール、ガラスロールの製造方法および品質評価方法
KR20220064528A (ko) 2020-11-12 2022-05-19 동우 화인켐 주식회사 형상 관리 장치 및 이를 이용한 형상 관리 방법
CN113399784B (zh) * 2021-07-09 2022-08-12 武汉武重机床有限公司 工件加工控制方法、装置、设备及存储介质
CN114742749B (zh) * 2022-02-27 2023-04-18 扬州盛强薄膜材料有限公司 基于图像处理的pvc薄膜质量检测方法
CN115382797B (zh) * 2022-07-28 2024-05-03 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种利用光学原理的沉头铆钉筛选工具及使用方法

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5541734A (en) * 1992-09-24 1996-07-30 Lawson-Hemphill, Inc. System for electronically grading yarn
JP2716918B2 (ja) * 1992-10-30 1998-02-18 三菱重工業株式会社 製鉄熱延ラインの鋼板キャンバ検出方法
JP2731335B2 (ja) * 1993-07-08 1998-03-25 株式会社横河ブリッジ 構造物の長尺部材の計測装置
DE19918936A1 (de) * 1999-04-27 2000-11-02 Schott Glas Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Einzelglasscheiben
KR100626983B1 (ko) * 1999-06-18 2006-09-22 미쓰보시 다이야몬도 고교 가부시키가이샤 레이저를 이용한 스크라이브 방법
JP2003315278A (ja) * 2002-04-22 2003-11-06 Sekisui Chem Co Ltd フィルム欠陥検査装置
US7110910B1 (en) 2005-06-13 2006-09-19 The Timken Company Method and apparatus for determining the straightness of tubes and bars
JP2007205724A (ja) * 2006-01-30 2007-08-16 Central Glass Co Ltd ガラス基板の形状測定装置および測定方法
JP4646035B2 (ja) * 2006-04-07 2011-03-09 株式会社 日立ディスプレイズ ラビング角度測定装置、及び液晶表示装置並びに光学フィルムの製造方法
DE102007059185B4 (de) * 2007-01-15 2011-04-07 Sms Meer Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Geradheit von Langprodukten
US8497985B2 (en) * 2007-10-23 2013-07-30 Shibaura Mechatronics Corporation Inspection method based on captured image and inspection device
CN102667400B (zh) * 2009-10-19 2014-11-05 新日铁住金株式会社 板材的平坦度测量方法以及使用该方法的钢板的制造方法
JP5696393B2 (ja) * 2010-08-02 2015-04-08 日本電気硝子株式会社 ガラスフィルムの割断方法
JP5617556B2 (ja) * 2010-11-22 2014-11-05 日本電気硝子株式会社 帯状ガラスフィルム割断装置及び帯状ガラスフィルム割断方法
JP2012173277A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Jfe Steel Corp 形状測定装置およびこれに用いる光学フィルタ
JP5633467B2 (ja) * 2011-05-11 2014-12-03 日本電気硝子株式会社 ガラスフィルムの巻きズレ修正装置およびその巻きズレ修正方法
US11179295B2 (en) * 2012-02-29 2021-11-23 Corning Incorporated Glass packaging ensuring container integrity
WO2013146023A1 (ja) * 2012-03-30 2013-10-03 東京特殊電線株式会社 積層体の検査方法、積層体検査装置および積層体製造装置
JP2013216513A (ja) * 2012-04-05 2013-10-24 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラスフィルムの切断方法及びガラスフィルム積層体
KR101434637B1 (ko) * 2012-07-19 2014-08-26 (주) 인텍플러스 자동광학 검사장치
KR102047153B1 (ko) * 2012-10-04 2019-11-20 도레이 카부시키가이샤 사조의 검사 방법, 사조의 검사 장치, 사조의 제조 방법, 사조 패키지 및 사조 모듈
KR20150084758A (ko) * 2012-11-13 2015-07-22 니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤 판 유리의 제조 방법 및 제조 장치
JP2014227298A (ja) * 2013-05-27 2014-12-08 日東電工株式会社 光学フィルムロールの製造システムおよび光学フィルムロールの製造方法
JP6129651B2 (ja) * 2013-06-11 2017-05-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ ラインパターンの形状評価方法及びその装置
US9932259B2 (en) * 2013-08-28 2018-04-03 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Glass film ribbon manufacturing method and glass film ribbon manufacturing device
JP6331087B2 (ja) 2013-08-28 2018-05-30 日本電気硝子株式会社 ガラスフィルムリボン製造方法及びガラスフィルムリボン製造装置
CN105849503B (zh) * 2013-12-27 2019-04-16 Ａｇｃ株式会社 形状测定装置、形状测定方法及玻璃板的制造方法
US9588056B2 (en) * 2014-05-29 2017-03-07 Corning Incorporated Method for particle detection on flexible substrates
JP2016070836A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 大日本印刷株式会社 検査装置、検査方法、検査装置用のプログラム、および、検査システム
US10494289B2 (en) * 2015-01-29 2019-12-03 Corning Incorporated Methods and apparatus for fabricating respective sections from a glass web
US10088339B2 (en) * 2015-02-13 2018-10-02 Azbil Corporation Automated system and method for detecting defective edges of printed circuit boards and other objects using multiple sensors
WO2016171129A1 (ja) * 2015-04-20 2016-10-27 新日鐵住金株式会社 方向性電磁鋼板
WO2017147223A1 (en) * 2016-02-25 2017-08-31 Corning Incorporated Methods and apparatus for edge surface inspection of a moving glass web

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