TW201626197A - 使用差動感測供電容性觸控螢幕控制器噪音消除技術 - Google Patents

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Abstract

一差動感測方案提供一種在入射雜訊存在下，決定於一觸控感應裝置上的一、或多個觸控事件的裝置。取代感測一個觸控感應通道(例如，一列、行、或單點觸控感測器)的是，一次取樣多點觸控感應通道。藉由同時取樣二個鄰近的通道以及進行差動測量，對二個通道為共同的雜訊可被消除。該差動感測方案是利用簡單的切換電容器AFE電路而實行。在每一個個別通道上的原先感測資料被恢復而成為沒有共用模式雜訊。該已恢復感測資料被用來決定一、或多個觸控事件的存在，以及如果存在的每一個觸控事件在該觸控感應裝置上的位置。

Description

使用差動感測供電容性觸控螢幕控制器噪音消除技術
相關申請案
此申請案根據35 U.S.C.§ 119(e)主張申請日2010年4月22日且案名為“差動電容性觸控面板電路及方法”的所同時申請美國暫時專利申請案號第61/326,830號的優先權，其整體於此併入做為參考。
以下同時擁有、同時提出申請、同時申請中的申請案的整體亦全部併入做為參考：美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，案名“改善觸控螢幕控制器動態範圍方法及裝置(Method and Apparatus for Improving Dynamic Range of a Touchscreen Controller)”，代理人檔號MAXIM-04400；美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，案名“將觸控螢幕控制器電容轉為電壓的電荷轉移方案(Charge Transfer Scheme to Convert Capacitance to Voltage for Touchscreen Controlle)”，代理人檔號MAXIM-04500；美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，案名“用於近零延遲觸覺介面播出的觸覺回饋及觸控螢幕控制器系統整合(System Integration of Tactile Feedback and Touchscreen Controller for Near-Zero Latency Haptics Playout)”，代理人檔號MAXIM-04700；美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，案名“以隨機取樣技術降低手指耦合雜訊的使用(Use of Random Sampling Technique to Reduce Finger-Coupled Noise)”，代理人檔號MAXIM-04800；以及美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，案名“利用升壓轉換器產生壓電傳感器激發波長的方法及裝置(Method and Apparatus for Generating Piezoelectric Transducer Excitation Waveforms Using A Boost Converter)”，代理人檔號MAXIM-04900。
本發明相關於電容性感測器陣列的領域。更特別地是，本發明相關於降低以及消除如觸控螢幕之電容性感測器陣列的輸出中錯誤的領域。
許多電子裝置現在都含有觸控螢幕型態顯示器。觸控螢幕是一種可在顯示器區域範圍內偵測(大體而言，藉由手指、手、尖筆、或其他點擊裝置)觸控之存在、位置、以及壓力的顯示器。觸控螢幕讓使用者能夠在不需要任何居中裝置的情形下直接與顯示器面板互動，而非間接地利用滑鼠、或觸控板。觸控螢幕可以實施於電腦中、或實施為存取網路的終端。通常可以在銷售點系統(point-of-sale system)、自動櫃員機(ATMs)、行動電話、個人數位助理(PDAs)、可攜式遊戲主機、衛星導航裝置、以及資訊家電產品中發現觸控螢幕。
有數種觸控螢幕技術。電容式觸控螢幕面板會被塗覆，部分地被塗覆或是利用在整個觸控感測器對一連續電流進行傳導的材料而被圖案化。該觸控感測器展現在水平以及垂直軸兩者中儲存電子的精準控制場，以達成電容。人體亦是具有儲存電子的電子裝置，且因此亦表現電容。當觸控感測器的參考電容因另一個電容場(例如，手指)而改變時，位在 該面板的每個角落的電子電路會測量在該參考電容中的結果失真。所測得之相關於該觸控事件的資訊被發送至控制器，以進行數學處理。電容性感測器可以是以裸露的手指、或由裸露手指所握持的傳導裝置觸控。電容性感測器亦可以根據接近而運作，且不需要直接接觸來被觸發。在大多數的情形中，不會發生對於傳導金屬表面的直接接觸，以及該傳導感測器是利用一絕緣玻璃、或塑膠層而與使用者的身體分開。具有可讓手指接觸的電容性按鈕的裝置在不觸碰的情形下，通常可因快速揮動接觸該表面的手的手掌而受到觸發。
在電容性觸控的應用中，該觸控感測器是作為可拾起周圍雜訊(例如，RF以及電源供應雜訊)的天線。當被使用在一觸控螢幕應用中時，觸控感測器被放置在顯示器螢幕(例如，液晶顯示器(LCD))的頂部。當被使用在具有RF收發器的應用(例如，行動電話)中時，額外的雜訊會被觸控感測器所拾起。若不能正確地處理這些雜訊，可能造成電容性觸控螢幕控制器(CTSC)偵測到偽觸控，以及回報錯誤的已觸控座標。
一差動感測方案提供一種在入射雜訊存在下，決定於一觸控感應裝置上的一、或多個觸控事件的裝置。對感測一個觸控感應通道(例如，一列、行、或單點觸控感測器)取而代之的是，會一次取樣多點觸控感應通道。藉由同時取樣二個鄰近的通道以及進行差動測量，對二個通道為共同的雜訊可被消除。該差動感測方案是利用簡單的切換電容器類比前端AFE電路而實行。在每一個個別通道上的原先感測資料被恢復而成為沒有共用模式雜訊。該已恢復感測資料被用來決定一、或多個觸控事件的存在，以 及如果存在的每一個觸控事件在該觸控感應裝置上的位置。
根據一方面的構想，所揭示地是一種偵測在一觸控感應裝置上的一、或多個觸控事件的方法。該方法包括接收複數個通道，每一個通道皆具有相應於該觸控感應裝置的感測資料；當沒有觸控事件出現在該複數個通道的任何一個上時，測量每一個通道的一電容，以藉此決定每一個通道的一無觸控基線數值；選擇該複數個通道的其中一個作為一主要通道；選擇該複數個通道的其中另一個作為一參考通道，其中，該參考通道不同於該主要通道；測量該主要通道的一電容；測量該參考通道的一電容；計算該主要通道的已測量電容與該參考通道的已測量電容之間的一差異，以藉此決定一已測量差異；計算該主要通道的該無觸控基線數值以及該參考通道的該無觸控基線數值之間的一差異，以藉此決定一基線差異；計算該已測量差異與該基線差異之間的一差異，以藉此決定該主要通道以及參考通道對的一基線差值；為該複數個通道的每一個通道重複選擇該複數個通道的其中一個作為一主要通道、選擇該複數個通道的其中另一個作為一參考通道、測量該主要通道的一電容、測量該參考通道的一電容、計算該主要通道的已測量電容與該參考通道的已測量通道之間的一差異、以及計算該主要通道的該無觸控基線數值以及該參考通道的該無觸控基線數值之間的一差異的步驟，以使得每一個通道被選擇作為該主要通道；以及自針對所有主要通道以及參考通道對所計算基線差值決定一、或多個觸控事件。
在一些實施例中，該主要通道的該電容以及該參考通道的該電容同時進行測量。在一些實施例中，每一個通道皆被配置為具有一相同的形狀以及尺寸。在一些實施例中，每一個通道是在該觸控感應裝置中的 一列、或行感測器。在一些實施例中，該觸控感應裝置是一二維觸控面板、或一一維虛擬滑動塊。該主要通道以及該參考通道的每一個皆具有在基線差值中被移除的共用模式雜訊。在一些實施例中，該主要通道以及該參考通道為相鄰的通道。在一些實施例中，選擇該主要通道以及該參考通道的步驟包括致能該主要通道以及該參考通道。在一些實施例中，該方法亦更包括在計算該主要通道以及該參考通道對該基線差值後，自該主要通道以及該參考通道恢復該已感測資料。在一些實施例中，恢復該感測資料的步驟包括，在針對所有主要通道以及該參考通道對計算的基線差值上執行一往回積分(integration backwards)，其中，基線的差值是自一第一通道起至一最後通道依序向前計算，以及該往回積分是自基線的最後差值起計算至基線的第一差值。在一些實施例中，該方法更包括，自針對所有主要通道以及參考通道對所計算的基線差值決定基線的最小差值。在一些實施例中，該方法更包括，藉由自每一個通道的已恢復感測資料減去基線的最小差值而計算每一個通道的已調整感測資料。在一些實施例中，出現在該感測資料中的共用模式雜訊不會出現在該已調整感測資料中。在一些實施例中，決定一、或多個觸控事件的步驟包括，決定多個觸控事件。
根據又另一方面的構想，所揭示地是決定在一觸控感應裝置上的一、或多個觸控事件的另一種方法。該方法包括接收複數個通道，每一個通道皆具有相應於該觸控面板的感測資料；當沒有觸控事件出現在該複數個通道的任何一個上時，決定每一個通道的一電容，以藉此決定每一個通道的一無觸控基線數值；選擇該複數個通道的其中二個，以及計算該二個通道之該無觸控基線數值間的一差異，以藉此決定一基線差異；測量 所選擇二個通道之每一個的一電容；計算該二個通道的已測量電容之間的一差異，以藉此決定一已測量差異，其中，出現在所選擇測量之二個通道兩者中的一共用模式雜訊被移除；計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異，以藉此決定該二個通道的基線差值；為該複數個通道中的額外通道對重複選擇該複數個通道的其中二個以及計算該二個通道之該無觸控基線數值間的一差異、測量所選擇二個通道之每一個的一電容、計算該二個通道的已測量電容之間的一差異、以及計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異的步驟；自該等通道對的所有基線差值恢復該感測資料，其中，該已恢復感測資料不會包括出現在該感測資料中的共用模式雜訊；以及自該已恢復感測資料中決定一、或多個觸控事件。
根據又再一方面的構想，所揭示地是決定在一觸控面板上的一、或多個觸控事件的另一種方法。該方法包括接收複數個通道，每一個通道皆具有相應於該觸控面板的感測資料；當沒有觸控事件出現在該複數個通道的任何一個上時，決定每一個通道的一電容，以藉此決定每一個通道的一無觸控基線數值；選擇該複數個通道的其中N個，以及計算該N個通道之該無觸控基線數值間的一差異，以藉此決定一基線差異；測量所選擇N個通道之每一個的一電容；計算該N個通道的已測量電容之間的一差異，以藉此決定一已測量差異，其中，出現在所選擇測量之N個通道中的一共用模式雜訊被移除；計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異，以藉此決定該N個通道的基線差值；為該複數個通道中的額外通道組重複選擇該複數個通道的其中N個以及計算該N個通道之該無觸控基線數值間的一差異、測量所選擇N個通道之每一個的一電容、計算該N個通道的已測量電容 之間的一差異而藉此決定一測量差異(其中出現在選擇測量的N個通道中的共用模式雜訊被移除)、以及計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異的步驟；自該等通道組的所有基線差值恢復該感測資料，其中，該已恢復感測資料不會包括出現在該感測資料中的共用模式雜訊；以及自該已恢復感測資料決定一、或多個觸控事件。
A1‧‧‧差動放大器
ADC、24‧‧‧類比數位轉換器
AFE‧‧‧類比前端
en‧‧‧致能訊號
INT‧‧‧積分器
LCD‧‧‧液晶顯示器
reset、rst‧‧‧重設訊號
sel‧‧‧選擇數值
SW‧‧‧開關
10‧‧‧行動電話
11‧‧‧揚聲器元件
12‧‧‧整合型LCD/觸控板
13‧‧‧麥克風
14‧‧‧微處理器
15‧‧‧記憶體
16‧‧‧顯示器控制器
17‧‧‧編碼解碼器
18‧‧‧無線電
20、20A、20B‧‧‧觸控板電路
22‧‧‧控制邏輯
26A、26B、26C‧‧‧多工器
28‧‧‧觸控板元件
併入並形成部分本說明書的所附圖式舉例說明差動感測方案的實施例，並與敘述一起用來解釋觸覺回饋系統的原理，但本發明不被限制為所揭示的實例。
第1圖：其舉例說明使用差動感測方案的示範性應用的方塊圖；第2圖：其舉例說明被使用作為一電容性觸控介面的示範性電容性觸控感測器陣列，整體稱為一觸控面板；第3圖：其舉例說明根據本發明一實施例觸控板電路的示意圖；第4圖：其舉例說明可替代地用來執行第1圖的該觸控板電路的一另一實施例；第5圖：其舉例說明可替代地用來執行第1圖的該觸控板電路的又再一實施例；第6圖：其舉例說明相應於在一單點觸控應用中該差動感測方案之執行的測量以及計算的示範性組合；第7圖：其以圖式方式舉例說明第6圖之步驟S8的結果；第8圖：其舉例說明相應於在一多點觸控應用中該差動感測方案之執行的測 量以及計算的示範性組合；第9圖：其以圖式方式舉例說明第8圖之步驟S8的結果；第10圖：其舉例說明依照本發明一實施例，決定一觸控事件以及該觸控事件的位置的方法；第11圖：其舉例說明四感測器滑動塊的一方塊圖；第12圖：其舉例說明二感測器滑動塊的一方塊圖；第13圖：其舉例說明在具有LCD的7吋觸控面板上針對單端測量(single ended measurements)所擷取列資料的長條圖；以及第14圖：其舉例說明在具有LCD的相同7吋觸控面板上針對下一個鄰接差動感測測量所擷取列資料的長條圖。
本發明的實施例是針對一種差動感測方案(differential sensing scheme)。
本領域具通常知識者將可瞭解，本發明接下來的詳細敘述僅在於舉例說明，而非意欲於作為任何型式的限制。對具有此揭露利益的通常知識者而言，本發明的其他實施例將可很容易地聯想。
現在，將以所附圖式中所舉例說明之本發明實施作為更詳盡的參考。在整份圖式以及接下來的詳細敘述中將使用相同的參考符號來代表相同、或類似的部件。為了清楚的目的，並非在此所敘述之實施例的所有常規特徵皆進行顯示以及敘述。當然，將可瞭解地是，在發展任何如此的真實實施時，為了達到發展者的特有目標，例如，與應用及商業相關的限制相符合，必然會做出眾多實行特有的決定，而這些特有目標則是會隨 著不同的實施以及不同的發展者而有所變化。再者，將可瞭解地是，如此的發展努力可能是複雜且消耗時間的，但對具有此揭露利益的本領域通常知識者而言，其仍是工程例行工作。
在差動感測方案關連下列實施例而進行敘述的同時，將可瞭解地是，其並非意欲於限制這些實施例以及實例的方法以及系統，相反地，該差動感測方案是在於涵蓋包含在由所附申請專利範圍所定義之差動感測方案的精神與範疇內的替代、修飾、以及等義。
再者，在接下來的詳細敘述中，眾多的特殊細節是為了更全面地舉例說明方法以及系統而提出。然而，對本領域具通常知識者仍將清楚的是，方法以及系統亦可在沒有這些特殊細節的情形下實行。
根據本申請案，一些構件、處理步驟、及/或資料結構可以利用利用各種型態的處理系統，包括，硬體、軟體、或任何結合，來實現。此外，本領域具通常知識者將可瞭解地是，在不脫離在此所揭示之本發明概念範疇及精神的情形下，亦可使用較少通用性質的裝置，例如，硬線裝置、特殊應用積體電路(ASICs)、或類似者。
差動感測方案包括降低、或消除電容性感測器陣列(例如，觸控板、觸控螢幕、滑動塊、或類似者)的輸出中錯誤的技術，包括偵測尖筆之存在與位置的觸控感測器，以及偵測與決定手指位置的觸控感測器。該差動感測方案敘述用於在外來訊號存在下獲取相關於訊號的觸控事件的裝置。當在此所敘述的所舉例說明實施例應用於行動電話的同時，要瞭解地是，電容性觸控感測器可用於各式各樣的裝置中。如此之裝置的實例包括，但不限於可攜式裝置，例如，個人數位助理(PDAs)，全球定位系 統(GPS)接收器，以及較大型的裝置，例如，觸控螢幕致能顯示器與電腦系統，以及家電。
第1圖舉例說明利用差動感測方案的示範性應用的方塊圖。行動電話10包括一微處理器14，其耦接至一記憶體15，該記憶體15可儲存微處理器14所執行的程式指令，以及大體而言包括用於如此之程式指令的非揮發性儲存以及供微處理器14使用的暫時儲存。根據本發明的實施例，儲存在記憶體15中的程式指令包括形成電腦程式產品的程式指令，其可決定位在包含於一整合型液晶顯示器(LCD)/觸控板12中的觸控感測器陣列表面處的一、或多個手指、及/或尖筆的位置。根據本發明一實施例，該LCD/觸控板12被耦接至一觸控板電路20，其包括同時測量在LCD/觸控板12範圍內觸控板的二、或多個觸控感測通道的電容的能力替代地，正如將於接下來更進一步詳述地，可藉由積分出現在二、或多個通道上的電壓而執行該差動感測方案，該電壓通常是藉由提供一參考電位至另一層而產生(多個)積分電路可被提供來執行該積分，或該差動感測方案可執行記憶體15中的程式指令，其可測量出現在該二、或多個通道上的電壓(來自電壓的同時取樣)，並整合電壓。該行動電話10亦包括用以將微處理器14耦接至整合型LCD/觸控板12中的LCD之一顯示器控制器16，以及提供無線電話連接的無線電電路18。行動電話10亦包括音頻編碼解碼器17，其耦接至一麥克風13以及提供使用者進行語音通信的一揚聲器元件11。
在該觸控板中的每一個觸控感測器測量電容的變化。該觸控板電路20將所感測的電容變化轉換為一電壓。出現在系統中的雜訊可改變電容性觸控感測器所察覺的電容變化，使其與真實的觸控事件無法區分。
由於電容性觸控感測器通常就剛好被設置在一LCD螢幕的上方，因此，切換來自該CD的雜訊可造成該觸控板電路20報告偽觸控。
在該差動感測方案中，二、或多個通道(例如，一個二維觸控感測器陣列的二、或多列/行，或是一個一維觸控感測器陣列(例如，一滑動塊)的二、或多個元件)的電容會同時進行測量(直接、或是藉由測量出現在元件上的電壓)測量會被減去，以產生除去主要導因於入射雜訊(例如，操作整合型LCD/觸控板的該LCD、無線電電路18、任何背光或其他電力供應所產生者，以及其他外在環境雜訊源)之共用模式錯誤的測量。而造成在一觸控感測器處所感測到之入射雜訊、或共用模式雜訊的所有來源則全體被稱之為“雜訊源”。
第2圖舉例說明被使用作為一電容性觸控介面的電容性觸控感測器的示範性陣列，其全體稱之為觸控面板。觸控感測器被配置為列以及行。空心菱形是列觸控感測器，以及實心菱形是行觸控感測器，在特定列中的所有空心菱形，舉例而言，在列1中的15個空心菱形，是經由橋接而連續地連接，以形成單一個列感測器。類似地，在特定行中的所有實心菱形連續地連接而形成單一個行感測器。
在此示範性配置中，該觸控面板包括8列的感測器以及14行的感測器。
當一手指、或一傳導尖筆接近該觸控面板時，在該觸控面板被接觸的區域，該觸控感測器電容發生變化，或是在第2圖中二維觸控感測器陣列的情形中，一列、或行的電容發生變化。一類比前端(AFE)電路將該觸控感測器/列所偵測的電容轉換為成比例的電壓，該AFE將轉換的電壓 輸出至一類比數位轉換器(ADC)，其將電壓轉換為一數位編碼表示(digital code representation)，雜訊源可以改變該AFE的輸出。在缺乏入射雜訊的情形下，正常的觸控造成該ADC輸出是數百個編碼。然而，在存在有雜訊的情形下，未被觸碰的感測器亦可造成該ADC輸出是數百個編碼。在此情形下，該觸控板電路20就無法區分真實的觸控以及伴隨著雜訊耦合的未觸碰。
該差動感測方案提供用來在入射雜訊存在下偵測一觸控事件的裝置。用來取代一個次感測一個觸控感測器/列的是，一次會取樣多個觸控感測器/列。該入射雜訊經常被耦接至類似的觸控感測器(若沒有相同的強度)。這對具有相同形狀以及大小、且被設置為彼此鄰近的觸控感測器尤其適用。藉由同時取樣二個鄰近的觸控感測器/列以及進行差動測量，二個觸控感測器/列所共同的雜訊就可被消除。該差動感測方案利用簡單的切換電容AFE電路而執行。不像習知的電容性感測方案，在差動感測方案中不需要外接的RC零件、或複雜的類比濾波來濾掉雜訊。
第3圖舉例說明根據本發明一實施例的觸控板電路20的一示意圖。該觸控板電路20被配置為輸出差動感測資料，其接續地進行處理，以決定一真實觸控事件以及在該真實觸控事件的觸控面板上的相關座標。該觸控板電路20包括，一對多工器26A以及26B，其耦接至每一列觸控板元件28。第3圖的配置相符於第2圖之觸控面板的配置。也因此，有8個觸控板元件28，每一個觸控板元件28對應於第2圖中該觸控面板的八列的一個。在第3圖中所舉例顯示的是單個觸控板元件28，但可理解地是，可以實行一維以及二維的觸控板元件。舉例而言，如第3圖中所顯示的額外類似電路可被執行來決定該觸控面板的行的感測資料。在此情形下，在額外電路中觸控 板元件的數量對應於在該觸控面板中行的數量。一多工器26A自觸控板元件28選擇一第一通道，例如，列1，且多工器26B自觸控板元件28選擇另一第二通道，例如列2。正如在此所使用地，一通道表示一列感測器、或一行感測器(正如在第2圖的該二維觸控面板中一樣)，或者表示在一維面板中的單個觸控感測器。一對AFE電路AFE1以及AFE2測量分別在多工器26A以及28A的輸出處的電容，其會因出現一手指/尖筆靠近所選擇的觸控板元件28而發生變化。
一控制邏輯電路22提供一重設訊號rst，以重設AFE1以及AFE2電路，這使AFE1以及AFE2電路準備好進行電容測量。在一些實施例中，該控制邏輯22是受到系統主處理器的控制，例如，在第1圖的行動電話10中的微處理器14。選擇數值sel1以及sel2被設定在多工器26A以及26B的位址輸入處，以在執行測量前選擇待測觸控板元件28。對重設訊號rst進行去斷言(de-asserted)，以允許AFE1以及AFE2電路能夠測量分別所選擇觸控板元件28的電容。該AFE1以及AFE2電路的輸出差動地被施加至一類比數位轉換器(ADC)24的輸入。在為了取樣AFE1以及AFE2電路的輸出而斷言一取樣控制訊號後，該ADC 24提供相應於在多工器26A以及28A的輸出處所測量的電容間差異的數位值。因此，出現在該多工器26A以及26B的輸出處的任何共用模式雜訊以及偏置(offset)可以在ADC 24的輸出中被消除。
在一些實施例中，該觸控板電路20以及該AFE1以及AFE2電路被配置為電容測量電路。在其他實施例中，替代地，該觸控板電路被配置為使得該差動感測方案可與電壓測量型態電容性感測器配置一起使用。現在，請參閱第4圖，其根據本發明的一替代實施例而顯示可被使用來實行 第1圖的行動電路10中的觸控板電路20的一觸控板電路20A。該觸控板電路20A類似於上述的該觸控板電路20，且因此，接下來僅敘述它們間的差異。取代電容測量電路的是，一對積分器INT1以及INT2，分別對多工器26A以及26B的輸出處的相應電壓進行積分，以使得該差動感測方案可以與電壓測量型態電容感測器配置一起使用。一致能訊號en會致能開關SW1以及SW2，以造成積分器INT1以及INT2起始對於相應所選擇之觸控板元件28的電壓的積分。
該控制邏輯電路22提供用於重設積分器INT1以及INT2的一重設訊號reset。在積分器INT1以及INT2進行重設的同時，選擇數值sel1以及sel2會在多工器26A以及26B的位址輸入處進行設定，以選擇要分別被提供至積分器INT1以及INT2的測量元件電壓以及參考元件電壓。對重設訊號reset進行斷言，以允許積分器INT1以及INT2能夠對出現在分別所選擇之觸控板元件28上的電壓進行積分。提供有另一個多工器26C，以根據控制邏輯22所提供的選擇訊號sel而在積分器INT1以及INT2的輸出間進行選擇。在為了取樣積分器INT1以及INT2的輸出而對一取樣控制訊號進行斷言後，所選擇的輸出被接收為該ADC24的輸入，而該ADC24則是會在一測量間隔的終端處提供相應於積分器INT1以及INT2之輸出電壓的數位值。
第5圖舉例說明可替代地用來實行第1圖行動電話10中之觸控板電路20的一觸控板電路的一另一實施例。第5圖的該觸控板電路20B類似於第4圖的觸控板電路20A，且因此，接下來僅敘述它們間的差異。該觸控板電路20B具有單一個積分器INT，其被提供代表該多工器26A所選擇的該測量觸控板元件上以及該多工器26B所選擇的該參考觸控板元件上的電 壓間差異的一輸入訊號(如從一差動放大器A1提供)。該觸控板電路20B以及第4圖的該觸控板電路20A之操作間的差異在於，在該觸控板電路20B中，電壓的瞬時值會被減去然後進行積分的同時，而在第4圖的該觸控板電路20A中，該微處理器14可獲得每一個電壓的積分，其計算差異，但可基於分別所獲得的積分數值而進行其他校正/計算。
請再次參閱第3圖，來自ADC 24的差動感測資料輸出會進行處理，以決定是否發生一觸控事件，以及若是的話，該觸控事件發生在該觸控面板上的何處。在一些實施例中，該差動感測資料受到第1圖中該微處理器14的處理。一般而言，該差動感測資料是受到系統主控制器、或其他應用處理器的處理。
在該差動感測方案的一些實施例中，二個通道於同時間進行取樣。一第一通道是測量中的通道，稱之為主要通道，且該第一通道的輸出被連接至該ADC的正輸入。第二通道(稱之為參考通道)的輸出被連接至該ADC的負輸入。該ADC將此二個輸入差動地轉換為一數位編碼。若該參考通道具有出現作為共用模式訊號的外來入射雜訊時，該差動感測方案的操作最具效率。對最佳性能而言，二個差動通道應該在形狀以及尺寸上相同，且物理位置上盡可能地接近彼此。所以，就此而言，鄰接的通道較佳地是選擇為該參考通道，這是由於其具有拾起與正在測量之該第一通道相同雜訊的最大可能性。舉例而言，當取樣列1、列2時，選擇列2做為參考通道，以及對列2而言，選擇列3做為參考，以此類推。對8列而言，僅完成7個轉換。最後一列不進行取樣。對行1也是類似地，較佳地是行2做為參考通道，而對行2而言，則是較佳地以行3做為參考，以此類推。最後一行不 進行取樣。
第6圖舉例說明在一單點觸控應用中，相應於該差動感測方案之執行的測量與計算的一示範性組合。在匯入第6圖的資料中，一手指、或尖筆出現在第2圖的示範性8列電容性感測器陣列的列2以及列3。第6圖的“無觸控單端(No Touch Single Ended)”排(標示為步驟S1)是在沒有利用一參考列測量進行任何微差平差法(differential adjustment)的情形下，每一個所選擇列的測量數值。換言之，在步驟S1中的數值是每一列在沒有觸控事件下進行個別測量時所決定的數值。“起因於觸控的假設編碼改變(Assumed Code Change due to TOUCH)”排(標示為步驟S2)顯示當手指/尖筆出現在列2以及列3時，在沒有雜訊情形下的理想編碼改變數值。這些數值對所使用觸控感測器的型態而言是被預期的之前得知的數值。在第6圖的實例中，在列3中的理想編碼改變大於在列2中的理想編碼改變，這表示，相對於列2，該觸控事件較接近列3。可理解地是，其他的理想編碼改變被用來指示該觸控事件相對於這二列的其他相關位置。在第6圖中步驟2所顯示的數值對應於關連於“輕觸控(light tough)”的數值。對於“更堅實的觸控(firmer touch)”而言，預期的是更高的數值。“觸控單端(Touched Single Ended)”排(標示為步驟S3)顯示在沒有補償雜訊的情形下，單端測量列(主要通道)的真實測量數值的結果。此可與步驟S1比較，但包括對應於觸控列2以及列3的示範性觸控事件。“無觸控差動(基線)(No Touch Differential(Baseline))”排(標示為步驟S4)顯示在沒有觸控在任何列上時差動計算的基線，顯示在步驟S4中的數值是藉由將被測量列的步驟S1數值減去參考列的步驟S1數值而計算。舉例而言，對列1(被測量列)而言， 在步驟S4的數值200是藉由將列1在步驟S1中的數值2100減去列2(參考列)在步驟S1中的數值1900而決定。
類似地，“觸控差動測量(Touched Differential Measurement)”排(標示為步驟S5)顯示的結果是利用來自參考列測量的步驟S3結果之調整過的步驟S3結果。換言之，步驟S5結果是藉由將被測量列的步驟S3減去參考列的步驟S3結果而被計算。舉例而言，列1(被測量列)在步驟S5的數值190是藉由將列1在步驟S3的數值2100減去列2(參考列)在步驟S3中的數值1910而決定。“基線的差值(Delta from Baseline)”排(標示為步驟S6)顯示的結果是，在步驟S4中無觸控差動(基線)列數值與步驟S5中觸控差動測量列數值之間的差異。舉例而言，列1在步驟S6中的數值-10是藉由將列1在步驟S4的數值200減去列1在步驟S5中的數值190而計算。
“累加(Cumulative Sum)”排(標示為步驟S7)顯示自最後列，列8，起的每一列的改變差值(delta change)的累加。該累加被定義為當前列之差值改變與先前列的累加的總和。舉例而言，列3的累加是列3的差值改變(顯示在列3的步驟S6中)加上列4的累加。正如在第6圖中所應用的數值，列3的累加數值是列3在步驟S6中的數值150加上列4在步驟S7中的數值0。“段落最小值(Minimum from Segment)”欄是步驟S6中的最少數值。此數值被用來規格化步驟S7中的數值，以移除由於參考元件電壓間偏置所造成的任何錯誤。藉由段落最小值數值規格化在步驟S7中編碼數值產生“起因於觸控的已計算編碼改變(Calculated Code Change due to TOUCH)”排(標示為步驟S8)，其相同於步驟S2中所預期的結果“起因於觸控的假設編碼改變”。第7圖圖例地舉例說明第6圖的步驟S8中的結果。
在基線的差值中，列3顯示當自列3至列4的“起因於觸控的假設編碼改變”為最大時，ADC編碼的一增加。因為自列2至列3的“起因於觸控的假設編碼改變”是最大負值，因此列2顯示自基線起的最大負改變。剩下的通道，列4至列8，未顯示任何差值改變，因為鄰接的通道亦顯示自基線起的零改變差值。最後一列，列8，未取樣，因此，改變差值為零。
前述的實例是應用於觸控感測器的列。此技術亦可應用於觸控感測器的行，其結果與列分析的結果相結合可決定在該觸控面板上的觸控事件的列與行的位置。此程序在習知技術中為大家所熟知。
第6圖以及第7圖顯示在一單點觸控事件期間，該差動感測方案的示範性應用。這些技術可類似地被應用於多點觸控事件、或多點觸控。第8圖舉例說明對應於在一多點觸控應用中該差動感測方案之實行的測量與計算的示範性組合。測量與計算類似於先前第6圖的該些敘述，因此，接下來將僅敘述它們間的差異。在第8圖所描繪的資料中，一手指/尖筆出現在列2-3以及在列6-8。在列2以及列3上的觸控一起形成第一觸控，以及在列6、列7以及列8上的觸控一起形成第二觸控。在列1-2處的觸控與在列6-8的觸控相互獨立。第9圖圖例地舉例說明第8圖的步驟S8中的結果。
大體而言，取決於感測器的佈置，觸控可以出現在一、或多個感測器上。在此，假設觸控覆蓋了二、或多個感測器，尤其是該第一觸控的二個感測器以及該第二觸控的三個感測器。若觸控覆蓋一、或多個感測器時，演算式亦可運作。同樣可應用於一個觸控的應用。
第10圖舉例說明根據本發明一實施例，決定一觸控事件以及該觸控事件的位置的方法。所描繪之方法的所有、或部分可根據形成儲存 在記憶體15中之電腦程式產品的程式指令的控制，而藉由系統主控制器(例如，在第1圖行動電話10中的微處理器14)來執行。步驟50，選擇一對觸控感應通道。通道應具有相同、或類似的形狀以及尺寸，以做好消除其他通道所拾起之雜訊的準備。每一個通道代表一單點觸控感測器、或一觸控感測器陣列，例如，一列、或一行。在步驟52，同時測量通道的電容，以使得任何的共用模式雜訊都會在測量中產生相等的錯誤。替代地，在二個電壓耦合型態元件上的電壓可根據第4圖以及第5圖所顯示的替代實施例而進行整合。在步驟54，計算二個通道的測量結果間的差異，並將結果儲存起來。在步驟56，決定是否尚未到達最後的待測通道。若決定為尚未當達最後通道，則為其他通道重複步驟50-54。當在步驟56中已到達最後通道後，則在步驟58，由差動資料決定手指、或尖筆的存在/不存在，且若該手指/尖筆存在，位置即被決定。
前面是以二維的觸控感測器陣列，例如，第2圖的該觸控面板，作為背景而敘述差動感測方案。該差動感測方案亦可以應用於一維的觸控感測器陣列，其中，相對於一列、或一行的觸控感測器，所測量地是每一個個別的觸控感測器。如此之一維應用的一個實例是將該差動感測方案應用在虛擬滑動塊、或滾輪。第11圖舉例說明一四感測器滑動塊的方塊圖，感測器1可差動地相對於感測器2取樣。感測器2可以相對於感測器3取樣，以及感測器3可相對於感測器4取樣。相關於第6圖以及第8圖所敘述的技術可類似地被應用於此一維配置之中。
該一維觸控感測器陣列可被應用於任何具有二、或多個感測器的陣列。在二感測器陣列的情形下，例如，在第12圖中所顯示的二感測 器滑動塊，在感測器1以及感測器2之間的單個差動測量即足以提供該觸控事件的位置。若該觸控事件位在該滑動塊的左側上，測量為最正，且若觸控事件在滑動塊的右側，測量為最負。若該觸控事件在該滑動塊的中心，該差動測量為零。
在一示範性地應用中，該差動感測方案是利用Maxim Integrated Products,Inc.TM的部件來實行。當一觸控面板被放在一LCD螢幕的頂部上以及一單端感測方案被應用時，所產生的表現充滿雜訊，且偵測到許多的偽觸控。第13圖顯示在一具有LCD的7吋觸控面板上對單端測量所擷取的列資料的柱狀圖。在此實例中，標準偏差為21.8編碼。利用了相鄰已取樣通道的差動取樣方案被用來降低雜訊的影響。該LCD所產生的大部分雜訊被消除，且表現非常接近其附近沒有LCD電子電路的情形。第14圖顯示在相同具有LCD7吋面板上對差動感測測量所擷取列資料的柱狀圖，當擷取方法被改變至不同於單端時，標準偏差自21.8標碼改善至0.9。
正如前述，該差動感測方案被應用為一相鄰通道實施，表示緊鄰的觸控感測器、列、或行被用於差動測量。替代地，該差動感測方案可延伸而包括非相鄰觸控感測器、列、或行間的差動比較。舉例而言，可以比較列1以及列3，列2以及列4，列3以及列5等以此類推。作為另一個實例，則是可以比較列1以及列4，列2以及列5，列3以及列6等以此類推。
正如上述，該差動感測方案被應用於二個感測器、列、或行，舉例而言，以決定列1以及列2之間的差異。替代地，該差動感測方案可被應用於多於二個的感測器、列、或行。
本發明已藉由含有利於瞭解本發明之配置與操作原則的詳細內容的特殊實施例而進行敘述。在此，如此之對於特殊實施例以及其詳細內容的參考並非意欲於顯示所附申請專利範圍的範疇，對本領域具通常知識者而言，清楚的是，可以在不脫離本發明之精神與範疇的情形下，而對被選來作為舉例之用的實施例做出修飾。

Claims (30)

  1. 一種偵測在一觸控感應裝置上的一或多個觸控事件的方法，該方法包括：當沒有觸控事件出現在複數個通道的任何一個上時，測量該複數個通道的每一個通道的一電容值，以決定每一個通道的一無觸控基線數值；選擇該複數個通道的其中一個作為一主要通道；選擇該複數個通道的其中另一個作為一參考通道，其中，該參考通道不同於該主要通道；測量該主要通道的一電容值；測量該參考通道的一電容值；計算該主要通道的該已測量電容值與該參考通道的該已測量電容值之間的一差異，以決定一已測量差異；計算該主要通道的該無觸控基線數值以及該參考通道的該無觸控基線數值之間的一差異，以決定一基線差異；計算該已測量差異與該基線差異之間的一差異，以決定來自該主要通道以及參考通道對的基線的一差值；針對在該複數個主要通道的每一個通道，重複下列步驟：選擇該複數個通道的其中一個作為一主要通道、選擇該複數個通道的其中另一個作為一參考通道、測量該主要通道的一電容值、測量該參考通道的一電容值、計算該主要通道的該已測量電容值與該參考通道的該已測量電容值之間的一差異、計算該主要通道的該無觸控基線數值以及該參 考通道的該無觸控基線數值之間的一差異、以及計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異，使得每一個通道被選擇作為該主要通道；以及自針對所有主要通道以及參考通道對所計算的多個基線的該值，來確定一或多個觸控事件。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該主要通道的該電容值以及該參考通道的該電容值被同時測量。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中每一個通道被配置為具有一相同的形狀以及尺寸。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中每一個通道包括在該觸控感應裝置中的一列感測器。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中每一個通道包括在該觸控感應裝置中的一行感測器。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該觸控感應裝置包括一二維的觸控面板。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該觸控感應裝置包括一一維的虛擬滑動塊。
  8. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該主要通道以及該參考通道的每一個具有共用模式雜訊，該共用模式雜訊在基線的該差值中被移除。
  9. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該主要通道以及該參考通道為相鄰的通道。
  10. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中選擇該主要通道以及該參考通道的步驟包括致能該主要通道以及該參考通道。
  11. 如申請專利範圍第1項所述的方法，更包括在針對該主要通道以及該參考通道對計算基線的該差值後，自該主要通道以及該參考通道恢復感測資料。
  12. 如申請專利範圍第11項所述的方法，其中恢復該感測資料包括針對所有主要通道以及參考通道對而在所計算基線的該差值上執行一往回積分(integration backwards)，其中基線的該差值是自一第一通道起至一最後通道依序向前計算，以及該往回積分是自所計算的基線的一最後差值起至基線的一第一差值。
  13. 如申請專利範圍第11項所述的方法，更包括針對所有主要通道以及參考通道對而從所決定基線的該差值決定基線的一最小差值。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的方法，更包括藉由自每一個通道的已恢復感測資料減去基線的該最小差值而計算每一個通道的已調整感測資料。
  15. 如申請專利範圍第14項所述的方法，其中出現在該感測資料中的共用模式雜訊不出現在該已調整感測資料中。
  16. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中決定一或多個觸控事件包括決定多個觸控事件。
  17. 一種在一觸控面板上偵測一或多個觸控事件的方法，該方法包括：當沒有觸控事件出現在複數個通道的任何一個上時，決定該複數個通道的每一個通道的一電容值，以決定每一個通道的一無觸控基線數 值；選擇該複數個通道的其中二個，以及計算二個通道之該無觸控基線數值間的一差異，以決定一基線差異；測量該所選擇的二個通道之每一個的一電容值；計算該二個通道的該已測量電容值之間的一差異，以決定一已測量差異；計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異，以決定該二個通道的基線的一差值；針對在該複數個通道中的額外通道對，重複下列步驟；選擇該複數個通道的其中二個，以及計算該二個通道之該無觸控基線數值間的一差異、測量該所選擇的二個通道之每一個的一電容值、計算該二個通道的該已測量電容值之間的一差異、以及針對在該複數個通道中的額外通道對來計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異；自該等通道對的基線的所有該差值恢復該感測資料，其中該已恢復感測資料不包括出現在該感測資料中的共用模式雜訊；以及自該已恢復感測資料決定一或多個觸控事件。
  18. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中該所選擇的二個通道之每一個的該電容值被同時測量。
  19. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中每一個通道被配置為具有一相同的形狀以及尺寸。
  20. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中每一個通道包括在該觸控感應裝置中的一列感測器。
  21. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中每一個通道包括在該觸控感應裝置中的一行感測器。
  22. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中該觸控感應裝置包括一二維的觸控面板。
  23. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中該觸控感應裝置包括一一維的虛擬滑動塊。
  24. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中該二個通道為相鄰的通道。
  25. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中選擇二個通道包括致能該二個通道。
  26. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中恢復該感測資料包括針對所有通道而在基線的該差值上執行一往回積分(integration backwards)，其中基線的該差值是自一第一通道起至一最後通道依序向前計算，以及該往回積分是自所計算的基線的一最後差值起至基線的一第一差值。
  27. 如申請專利範圍第26項所述的方法，更包括針對所有通道對而從所決定基線的該差值決定基線的一最小差值。
  28. 如申請專利範圍第27項所述的方法，更包括藉由自每一個通道的已恢復感測資料減去基線的該最小差值而計算每一個通道的已調整感測資料。
  29. 如申請專利範圍第17項所述的方法，其中決定一或多個觸控事件包括決定多個觸控事件。
  30. 一種在一觸控面板上偵測一或多個觸控事件的方法，包括： 當沒有觸控事件出現在複數個通道的任何一個上時，決定該複數個通道的每一個通道的一電容值，以決定每一個通道的一無觸控基線數值；選擇該複數個通道的其中N個，以及計算N個通道之該無觸控基線數值間的一差異，以決定一基線差異；測量該所選擇的N個通道之每一個的一電容值；計算該N個通道的該已測量電容值之間的一差異，以決定一已測量差異；計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異，以決定該N個通道的基線的一差值；針對在該複數個通道中的額外通道組，重複下列步驟；選擇該複數個通道的其中N個，以及計算該N個通道之該無觸控基線數值間的一差異、測量該所選擇的N個通道之每一個的一電容值、計算該N個通道的該已測量電容值之間的一差異、以及計算該已測量差異以及該基線差異之間的一差異；自該等通道組的基線的所有該差值恢復感測資料；以及自該已恢復感測資料決定一或多個觸控事件。
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