TW201616093A - 檢測裝置 - Google Patents

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楊明陸
呂延安
付威
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鴻海精密工業股份有限公司
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Abstract

一種檢測裝置,用於對工件進行自動檢測,包括控制箱、與該控制箱相連接的檢測箱,以及設置於該檢測箱中的檢測機構。該檢測機構包括第一檢測組件、第二檢測組件,以及由該第一檢測組件與第二檢測組件帶動以對工件進行檢測的第三檢測組件。該檢測裝置還包括定位機構、平行地穿設於該定位機構中並用於傳輸工件的傳輸機構,以及用於阻擋與感應來料工件並觸發該定位機構的後擋料機構。該定位機構用於定位工件以使該檢測機構對工件進行檢測。

Description

檢測裝置
本發明涉及電子零部件製造領域,尤其涉及針對電子零部件的檢測裝置。
電子產品的零部件加工、組裝等工段均需要對產品的尺寸等參數進行檢測以保證產品品質。先前技術中,常採用檢測機配合人工上、下料對產品進行檢測,但往往由於產品數量較大、產品精度要求較高,該種檢測方式耗費的成本較高,且較易受人為因素影響。
鑒於此,提供一種能夠實現自動檢測、成本較低的檢測裝置實為必要。
本發明提供一種能夠實現自動檢測、成本較低的檢測裝置。
一種檢測裝置,用於對工件進行自動檢測,包括控制箱、與該控制箱相連接的檢測箱,以及設置於該檢測箱中的檢測機構。該檢測機構包括第一檢測組件、第二檢測組件,以及由該第一檢測組件與第二檢測組件帶動以對工件進行檢測的第三檢測組件。該檢測裝置還包括定位機構、平行地穿設於該定位機構中並用於傳輸工件的傳輸機構,以及用於阻擋與感應來料工件並觸發該定位機構的後擋料機構。該定位機構用於定位工件以使該檢測機構對工件進行檢測。
上述檢測裝置,該後擋料機構可阻擋與感應來料工件並觸發該定位機構,該定位機構將工件朝向該檢測機構提升至預定高度後,該第一檢測組件與第二檢測組件帶動第三檢測組件對工件進行檢測,能夠實現對工件的自動檢測,並且成本相對較低。
圖1係本發明一種實施例提供的檢測裝置的結構示意圖。
圖2係圖1所示檢測箱的部分結構示意圖。
圖3係圖2所示定位機構的部分結構示意圖。
下面將結合圖式與實施例對本發明的提供之檢測裝置作詳細的說明。
請參閱圖1,本發明提供的檢測裝置100包括控制箱10、與控制箱10相連接的檢測箱20,以及裝設於檢測箱20中的檢測機構30。
控制箱10包括控制組件11,以及與控制組件11電性連接的顯示組件12。控制組件11用於控制檢測機構30,顯示組件12用於顯示控制組件11的工作狀態。
檢測箱20包括殼體21、固定於殼體21內的支撐架22及底座23。支撐架22固定於底座23上,以用於承載檢測機構30。本實施例中,工件200可自底座23的一端進入檢測裝置100並藉由該底座23的相對的另一端流出檢測裝置100。檢測機構30用於自動檢測工件200。
請一併參閱圖2至圖3,檢測機構30包括第一檢測組件31、與第一檢測組件31垂直設置的第二檢測組件32,以及用於檢測工件200的第三檢測組件33。第一檢測組件31、第二檢測組件32用於帶動第三檢測組件33移動以對工件200進行檢測。本實施例中,於底座23所在的平面內,沿工件200傳輸的方向設置為Y軸方向,與工件200傳輸方向垂直的方向為X軸方向。第一檢測組件31用於帶動第三檢測組件33沿X軸方向移動,第二檢測組件32用於帶動第三檢測組件33沿Y軸方向移動。
檢測裝置100還包括前擋料機構40、用於對工件200進行掃描的掃描組件50、與前擋料機構40相對的後擋料機構60、定位機構70,以及與定位機構70相平行地穿設於定位機構70中並用於傳輸工件200的傳輸機構80。前擋料機構40、後擋料機構60、定位機構70及傳輸機構80設置於底座23上。
前擋料機構40與後擋料機構60沿工件200的上、下料方向相對設置。前擋料機構40與掃描組件50相鄰設置。本實施例中,掃描組件50為二維碼掃描器。前擋料機構40用於感應與阻擋上料的工件200,並將感應訊號傳輸至掃描組件50以觸發掃描組件50。掃描組件50用於接收前擋料機構40傳輸的感應訊號,並對來料工件200進行掃描。掃描組件50對工件200掃描後,前擋料機構40自動下降以解除對已掃描工件200的阻擋,使得已掃描工件200繼續流至後擋料機構60。後擋料機構60用於感應與阻擋已掃描工件200,並將感應訊號傳輸至定位機構70以觸發定位機構70。
本實施例中,定位機構70為兩個,但不限於此,於其它實施例中,定位機構70亦可被配置為至少一個,與傳輸機構80的數量相匹配即可。定位機構70用於接收後擋料機構60傳輸的感應訊號,並對工件200朝向檢測機構30提升至預定高度並進行定位以便被檢測機構30檢測。
定位機構70包括平行且間隔設置的兩個載板71、設置於載板71上的支撐組件72、用於升降載板71的升降驅動件73、用於沿X軸方向推動工件200的第一定位組件74,以及用於沿Y軸方向推動工件200的第二定位組件75。
兩個載板71分別設置於傳輸機構80的兩側並與傳輸機構80相平行。本實施例中,兩個載板71均呈長條狀,支撐組件72的數量為三個,均為球頭柱銷。支撐組件72與載板71相垂直,兩個支撐組件72間隔地設置於一個載板71上,另一個支撐組件72設置於另一個載板71上。但不限於此,於其它實施例中,支撐組件72可為至少三個,並排佈於兩個載板71上。定位機構70接收到後擋料機構60傳輸的感應訊號後,升降驅動件73帶動兩個載板71上升並藉由三個支撐組件72將工件200頂起。
本實施例中,升降驅動件73為提料氣缸,第一定位組件74為用於對工件200進行X軸方向定位的氣缸,第二定位組件75為用於對工件200沿Y軸方向定位的氣缸。
定位機構70還包括垂直地設置於載板71上的兩個第一定位銷76,以及與後擋料機構60相鄰設置的一個第二定位銷77。第一定位銷76用於輔助第一定位組件74對工件200進行X軸方向的定位。第二定位銷77用於輔助第二定位組件75對工件200進行Y軸方向的定位。
對工件200進行定位時,第一定位組件74、第二定位組件75分別將工件200推至第一定位銷76與第二定位銷77。接著,第一定位組件74、第二定位組件75鬆開而使工件200處於放鬆狀態,以避免第一定位組件74、第二定位組件75使工件200變形。然後,檢測機構30對工件200進行檢測。檢測完成後,升降驅動件73下降而使工件200落至傳輸機構80並流至下一工段。
於本實施例中,兩個第一定位銷76間隔地設置於設有兩個支撐組件72的載板71上。兩個第一定位銷76且均設置於載板71上以用於一併抵持工件200的同一個側邊,第二定位銷77設置於傳輸機構80上方且位於第一定位組件74與第二定位組件75之間以抵持工件200的另一個側邊。第一定位銷76與第二定位銷77用於在工件200所在平面內分別從兩個垂直的方向上對工件200進行側邊定位,以增加工件200定位的穩定性。
但不限於此,於其它實施例中,第一定位銷76可設為至少一個且第二定位銷77可設為至少兩個;第一定位銷76設為至少兩個且第二定位銷設為至少一個,只要使得第一定位銷76可一併抵持工件200的同一個側邊,第二定位銷77位於第一定位組件74與第二定位組件75之間以抵持工件200另一個側邊即可。
可理解的是,三個支撐組件72可從底座23的三點支撐工件200,並且兩個第一定位銷76與一個第二定位銷77可對工件實現側邊定位,支撐及定位的穩定性較高,定位機構70可將先後進入的各工件200定位於同一位置,以便檢測機構30對工件200進行精確的檢測,降低人為影響因素。
傳輸機構80與載板71平行設置,並穿設於兩個載板71之間。本實施例中,傳輸機構80為兩個,傳輸機構80設有兩個平行且間隔設置的傳送帶81,但不限於此,於其它實施例中,傳輸機構80亦可為至少一個。
可理解的是,當定位機構70完成對前方來料工件200的定位並藉由檢測機構30對工件200進行檢測時,定位機構70相對地位於傳送帶81的上方,後方的工件200可自定位機構70的下方穿過並流向後續的工段。
可理解的是,於其它實施例中,本發明提供的檢測裝置100可用於多台串接使用,以實現對工件200的相同檢測項目的檢測,自定位機構70的下方穿過的工件200可流至後一台檢測裝置100直至流至出料流水線。於其它實施例中,多台串接使用的檢測裝置100亦可結合NG排料機構進行NG排料。
本發明提供的檢測裝置100,具有檢測箱20、用於對工件200進行自動檢測的檢測機構30、掃描組件50與可觸發掃描組件50的前擋料機構40、定位機構70與可觸發定位機構70的後擋料機構60,以及穿設於檢測箱20中並用於傳輸工件200的傳輸機構80,故檢測裝置100可實現對工件200的生產線上自動檢測,並且相對人力上、下料以配合檢測機進行檢測的方式成本較低。一併,定位機構70包括三個可從底座23的三點支撐工件200的支撐組件72、可對工件實現側邊定位的兩個第一定位銷76與第二定位銷77,故使得檢測裝置100對工件200的定位較為穩定、檢測較為精准,受人為因素影響較小。
另,本領域技術人員還可在本發明精神內做其他變化,當然,這些依據本發明精神所做的變化,均應包含在本發明所要求保護的範圍內。
100‧‧‧檢測裝置
10‧‧‧控制箱
11‧‧‧控制組件
12‧‧‧顯示組件
20‧‧‧檢測箱
21‧‧‧殼體
22‧‧‧支撐架
23‧‧‧底座
30‧‧‧檢測機構
31‧‧‧第一檢測組件
32‧‧‧第二檢測組件
33‧‧‧第三檢測組件
40‧‧‧前擋料機構
50‧‧‧掃描組件
60‧‧‧後擋料機構
70‧‧‧定位機構
71‧‧‧載板
72‧‧‧支撐組件
73‧‧‧升降驅動件
74‧‧‧第一定位組件
75‧‧‧第二定位組件
76‧‧‧第一定位銷
77‧‧‧第二定位銷
80‧‧‧傳輸機構
81‧‧‧傳送帶
200‧‧‧工件
100‧‧‧檢測裝置
200‧‧‧工件
10‧‧‧控制箱
11‧‧‧控制組件
12‧‧‧顯示組件
20‧‧‧檢測箱
21‧‧‧殼體
22‧‧‧支撐架
23‧‧‧底座

Claims (9)

  1. 一種檢測裝置,用於對工件進行自動檢測,包括控制箱、與該控制箱相連接的檢測箱,以及設置於該檢測箱中的檢測機構,其改良在於:該檢測機構包括第一檢測組件、第二檢測組件,以及由該第一檢測組件與第二檢測組件帶動以對工件進行檢測的第三檢測組件;該檢測裝置還包括定位機構、平行地穿設於該定位機構中並用於傳輸工件的傳輸機構,以及用於阻擋與感應來料工件並觸發該定位機構的後擋料機構,該定位機構用於定位工件以使該檢測機構對工件進行檢測。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中該檢測裝置還包括沿工件傳輸方向與該後擋料機構相對的前擋料機構,以及與該前擋料機構相鄰設置的掃描組件,該前擋料機構用於阻擋與感應來料工件並觸發該掃描組件以對該工件進行掃描。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中該定位機構包括設置於該傳輸機構的兩側並與該傳輸機構相平行的兩個載板,以及用於升降該載板的升降驅動件。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置,其中該定位機構還包括垂直地設置於該載板上的支撐組件,該支撐組件為至少三個且排佈於兩個載板上。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中該定位機構還包括用於對工件進行定位的第一定位組件與第二定位組件,該第一定位組件用於沿與工件傳輸相垂直的方向推動工件以進行定位,該第二定位組件用於沿工件傳輸方向推動工件以進行定位。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之檢測裝置,其中該定位機構還包括設置於該載板上的第一定位銷,該第一定位銷用於輔助該第一定位組件對工件定位。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置,其中該定位機構還包括第二定位銷,該第二定位銷用於輔助該第二定位組件對工件定位。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之檢測裝置,其中該第一定位銷為至少兩個且均設置於該載板上以用於一併抵持工件的同一個側邊,該第二定位銷設置於傳輸機構上方且位於第一定位組件與第二定位組件之間。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中該檢測箱包括底座與固定於該底座上的支撐架,該定位機構與該傳輸機構設置於該底座上,該檢測機構設置於該支撐架上。
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