CN203037676U - 定位检知装置及应用的测试设备 - Google Patents

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曹诣
李俊义
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Abstract

一种定位检知装置应用于测试设备中。测试设备包含治具及输送装置。输送装置包含两轨道,分别包含两皮带。皮带用以承载并输送待测电路板。轨道用以朝向治具的载板移动,进而将待测电路板放置于载板上。定位检知装置包含固定座、探测机构及光电感测器。固定座设置至轨道中之其一。探测机构可移动地设置至固定座,并延伸至对应的皮带上方,致使待测电路板的一边缘位于探测机构与对应的皮带之间。光电感测器固定至固定座,用以产生感应信号。当探测机构受待测电路板推挤而相对固定座移动通过光电感测器并遮断感应信号时,光电感测器产生警告信号。

Description

定位检知装置及应用的测试设备
【技术领域】
本实用新型是有关于一种定位检知装置及应用其之测试设备,特别是有关于一种电路板的测试设备。
【背景技术】
以电子产品来说,产品于构装完成后必须进行电性功能测试,以确保出厂的电子产品于功能上的完整性。同时,通过电性测试结果来作分类,可作为不同等级产品的评价依据。以半导体测试制程为例,在将待测元件(例如,封装IC)送入测试机(Tester)中(例如,逻辑IC测试机、记忆体IC测试机、混合式IC测试机)之后,测试机可针对为待测元件所量身订作的测试程序进行细部相关控制,发出待测元件所需的电性信号,并接受由待测元件回应的电性信号,借以作出产品电性测试结果判断。
一般来说,待测元件与测试机间往往存在有介面问题而无法直接连接,因此必须通过一转换介面-电测治具,以让测试作业顺畅进行。进一步来说,电测治具是通过连接测试机的测试接点与待测元件的接脚的方式,例如探针(Probe),以作为电性信号传递桥梁。
目前,在将待测电路板放置于电测治具的载板上的过程中,为了尽可能确保待测电路板与载板能够顺利地结合而不翘起,有一种现有测试机是在测试机的轨道上设置可测距离的距离感测器,借以利用所侦测的高度差来判断是否达到定位。然而,距离感测器牵涉到较精密的距离测量设定,因此调整不易,且使用过程中的稳定性不佳。另外,为了达到上述目的,还有一种现有测试机是在电测治具载板的四角分别安装微动开关,然而,微动开关安装不易,而且每个电测治具皆需安装,并无法因应不同待测电路板而使用。
【实用新型内容】
本实用新型的一技术态样是一种定位检知装置。
根据本实用新型的一实施方式,一种定位检知装置应用于测试设备中。测试设备包含治具以及输送装置。治具包含载板。输送装置包含两轨道,分别包含两皮带。皮带用以承载并输送待测电路板。轨道用以朝向载板移动,进而将待测电路板放置于载板上。定位检知装置包含固定座、探测机构以及光电感测器。固定座设置至轨道中之其一。探测机构可移动地设置至固定座,并延伸至对应的皮带上方,致使待测电路板的一边缘位于探测机构与对应的皮带之间。光电感测器固定至固定座,用以产生感应信号。当探测机构受放置于载板上的待测电路板推挤而相对固定座移动通过光电感测器并遮断感应信号时,光电感测器产生警告信号。
于本实用新型的一实施方式中,上述的固定座包含底板、顶板以及至少一导杆。底板固定至对应的轨道。导杆固定于底板与顶板之间。探测机构套置于导杆外,借以相对导杆滑动于底板与顶板之间。
于本实用新型的一实施方式中,上述的探测机构包含第一探测件以及第二探测件。第一探测件套置于导杆外,借以相对导杆滑动于底板与顶板之间。第二探测件连接第一探测件,用以受放置于载板上的待测电路板推挤。
于本实用新型的一实施方式中,上述的定位检知装置进一步包含弹簧。弹簧套置于导杆外,并压缩于顶板与第一探测件之间,用以将探测机构朝向底板推挤。
于本实用新型的一实施方式中,上述的光电感测器包含发射端以及接收端。发射端用以朝向接收端发射感应信号。第一探测件具有第一延伸部。当第二探测件受放置于载板上的待测电路板推挤而带动第一探测件相对导杆移动,致使第一延伸部由发射端与接收端之间通过并遮断感应信号时,光电感测器产生警告信号。
于本实用新型的一实施方式中,上述的第二探测件具有第二延伸部。第二延伸部延伸至对应的皮带上方。待测电路板的两边缘中之其一位于第二延伸部与对应的皮带之间。
于本实用新型的一实施方式中,上述的固定座进一步包含至少一固定杆。固定杆固定于底板与顶板之间。光电感测器套置于固定杆外。
本实用新型的另一技术态样是一种测试设备。
根据本实用新型一实施方式,一种测试设备用以测试待测电路板。测试设备包含治具、输送装置以及至少一定位检知装置。治具包含载板。输送装置包含两轨道。轨道位于载板上方,用以输送待测电路板,并朝向载板移动,进而将待测电路板放置于载板上。定位检知装置包含固定座、探测机构以及光电感测器。固定座设置至轨道中之其一。探测机构可移动地设置至固定座,并延伸至对应的皮带上方,致使待测电路板的一边缘位于探测机构与对应的皮带之间。光电感测器固定至固定座,用以产生感应信号。当探测机构受放置于载板上的待测电路板推挤而相对固定座移动通过光电感测器并遮断感应信号时,光电感测器产生警告信号。
由此可知,本实用新型所提供的定位检知装置主要可应用于测试设备中,并安装于输送装置的轨道上。在轨道朝向治具的载板移动并将待测电路板放置至载板上的过程中,若待测电路板与载板两平面有不平行结合的状况发生,则定位检知装置的探测机构会被待测电路板推挤而往上提起。并且,在探测机构通过光电感测器而遮断光电感测器的感应信号时,光电感测器即产生警告信号。借此,操作人员即可检知并即时调整输送装置与治具之间的相对位置,进而解决上述结合不良的状况。由此可知,本实用新型的定位检知装置的零件简单且容易取得,也容易安装调整,并不需要精密的测量功能。再者,由于本实用新型的定位检知装置安装于输送装置的轨道上,而非安装于治具上,因此当欲测试不同待测电路板时,仅需更换对应的治具,并调整输送装置相对治具的位置,即可继续沿用定位检知装置。
【附图说明】
图1为绘示依照本实用新型的一实施方式的测试设备的立体组合图。
图2为绘示图1中的输送装置与治具的立体分解图。
图3为绘示图1中的输送装置与定位检知装置的局部放大图,其中待测电路板承载于皮带上。
图4为绘示图1中的输送装置与定位检知装置的另一局部放大图,其中待测电路板脱离皮带并推挤探测机构。
【具体实施方式】
以下将以图式揭露本实用新型的数个实施方式,为明确说明起见,许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而,应了解到,这些实务上的细节不应用以限制本实用新型。也就是说,在本实用新型部分实施方式中,这些实务上的细节是非必要的。此外,为简化图式起见,一些现有惯用的结构与元件在图式中将以简单示意的方式绘示之。
请参照图1以及图2。图1为绘示依照本实用新型的一实施方式的测试设备1的立体组合图。图2为绘示图1中的输送装置12与治具10的立体分解图。
如图1与图2所示,于本实施方式中,本实用新型的测试设备1主要是用以测试待测电路板2。测试设备1至少包含测试主机(图未示)、治具10、输送装置12以及定位检知装置14。测试主机可针对为待测电路板2所量身订作的测试程序进行细部相关控制,发出待测电路板2所需的电性信号,并接受由待测电路板2回应的电性信号,借以作出产品电性测试结果判断。
测试设备1的治具10主要是作为测试主机与待测电路板2之间的电性信号传递桥梁。其中,测试设备1的治具10包含针板100以及载板102。治具10的载板102设置于针板100上,并且针板100可以其探针(图未示)穿过载板102,进而连性连接待测电路板2的测试接点。
测试设备1的输送装置12主要包含两轨道120。输送装置12的轨道120跨越治具10,并位于载板102上方两侧,用以输送待测电路板2。并且,输送装置12的轨道120可朝向载板102移动,进而将待测电路板2放置于治具10的载板102上。
进一步来说,输送装置12的两轨道120分别包含两皮带120a。皮带120a沿着轨道120设置于轨道120之间(亦即,每一皮带120a设置于对应的轨道120的内侧),用以承载待测电路板2的两边缘。此外,测试设备1的输送装置12进一步包含驱动组件122。输送装置12的驱动组件122设置至轨道120并操作性连接皮带120a,用以驱动皮带120a输送待测电路板2。
当输送装置12的轨道120朝向载板102移动而将待测电路板2放置于治具10的载板102上时,轨道120的皮带120a分别位于载板102的两边缘。换言之,在输送装置12的轨道120朝向载板102移动的过程中,轨道120的皮带120a并不会与载板102发生干涉的问题。
请参照图3以及图4。图3为绘示图1中的输送装置12与定位检知装置14的局部放大图,其中待测电路板2承载于皮带120a上。图4为绘示图1中的输送装置12与定位检知装置14的另一局部放大图,其中待测电路板2脱离皮带120a并推挤探测机构142。
如图3与图4所示,于本实施方式中,测试设备1的定位检知装置14主要包含固定座140、探测机构142以及光电感测器144。定位检知装置14的固定座140设置至轨道120。定位检知装置14的探测机构142可移动地设置至固定座140,并延伸至皮带120a上方,致使待测电路板2的一边缘位于探测机构142与皮带120a之间。定位检知装置14的光电感测器144固定至固定座140,用以产生感应信号。
在输送装置12的轨道120朝向治具10的载板102移动并将待测电路板2放置至载板102上的过程中,若待测电路板2与载板102两平面为平行结合,则离开皮带120a的待测电路板2并不会与定位检知装置14的探测机构142接触。亦即,离开皮带120a的待测电路板2的边缘会位于皮带120a与探测机构142之间,并不会推挤探测机构142相对固定座140移动通过光电感测器144而遮断感应信号。
相反地,在输送装置12的轨道120朝向治具10的载板102移动并将待测电路板2放置至载板102上的过程中,若待测电路板2与载板102两平面有不平行结合的状况发生,则探测机构142会受放置于载板102上的待测电路板2推挤(因待测电路板2被载板102推挤而翘起)而相对固定座140移动(如图4中的粗箭头所示)通过光电感测器144并遮断感应信号,且光电感测器144会产生警告信号。
换句话说,若待测电路板2与载板102两平面为平行结合,则待测电路板2并不会推挤定位检知装置14的探测机构142,也就不会使光电感测器144产生警告信号;若待测电路板2与载板102两平面有不平行结合的状况发生,则翘起的待测电路板2将会推挤定位检知装置14的探测机构142致使光电感测器144产生警告信号。借此,操作人员即可检知并即时调整输送装置12与治具10之间的相对位置,进而解决上述结合不良的状况。
进一步来说,如图3与图4所示,定位检知装置14的固定座140包含底板140a、顶板140b、导杆140c以及固定杆140d。固定座140的底板140a固定至轨道120上。固定座140的导杆140c与固定杆140d皆固定于底板140a与顶板140b之间。定位检知装置14的探测机构142套置于导杆140c外,借以相对导杆140c滑动于底板140a与顶板140b之间。定位检知装置14的光电感测器144套置于固定杆140d外。
于本实施方式中,固定座140的底板140a与顶板140b相互平行,且固定座140的导杆140c与固定杆140d亦相互平行。另外,固定座140的导杆140c与固定杆140d的数量并不以本实用新型的图式为限。于另一实施方式中,固定座140所包含的导杆140c与固定杆140d的数量皆可根据实际需求而调整。
另外,如图3与图4所示,定位检知装置14的探测机构142包含第一探测件142a以及第二探测件142b。探测机构142的第一探测件142a套置于固定座140的导杆140c外,借以相对导杆140c滑动于底板140a与顶板140b之间。探测机构142的第二探测件142b连接第一探测件142a,用以受放置于载板102上的待测电路板2推挤。
定位检知装置14的光电感测器144包含发射端144a以及接收端144b。光电感测器144的发射端144a用以朝向接收端144b发射感应信号。探测机构142的第一探测件142a具有第一延伸部142a1。第一探测件142a的第一延伸部142a1朝向光电感测器144的方向延伸。探测机构142的第二探测件142b具有第二延伸部142b1。第二探测件142b的第二延伸部142b1由固定座140延伸至皮带120a上方,致使待测电路板2的一边缘位于第二延伸部142b1与皮带120a之间。
借由上述的架构,在输送装置12的轨道120朝向治具10的载板102移动并将待测电路板2放置至载板102上的过程中,若待测电路板2与载板102两平面有不平行结合的状况发生,则第二探测件142b的第二延伸部142b1会受放置于载板102上的待测电路板2推挤而带动第一探测件142a相对导杆140c移动,致使第一探测件142a的第一延伸部142a1由光电感测器144的发射端144a与接收端144b之间通过并遮断感应信号时,光电感测器144产生警告信号。
同样示于图3与图4,测试设备1的定位检知装置14进一步包含弹簧146。定位检知装置14的弹簧146套置于固定座140的导杆140c外,并压缩于顶板140b与探测机构142的第一探测件142a之间,用以将探测机构142朝向底板140a推挤。
借此,当待测电路板2与载板102两平面有不平行结合的状况发生,但待测电路板2被载板102推挤而翘起的程度还不到使第一探测件142a的第一延伸部142a1由光电感测器144的发射端144a与接收端144b之间通过并遮断感应信号的情况时,压缩于固定座140的顶板140b与探测机构142的第一探测件142a之间的弹簧146可达到辅助定位的功能。亦即,定位检知装置14的弹簧146所产生的弹力会使探测机构142朝向底板140a推挤,借以经由探测机构142的第二探测件142b的第二延伸部142b1对待测电路板2施压,进而将轻微翘起的待测电路板2压抵于治具10的载板102上。
换句话说,当待测电路板2与载板102两平面有不平行结合的状况发生,且待测电路板2被载板102推挤而翘起的程度过大时,本实用新型的定位检知装置14即可借由光电感测器144产生警告信号;当待测电路板2与载板102两平面有不平行结合的状况发生,但待测电路板2被载板102推挤而翘起的程度仍在容许范围之内时,定位检知装置14的弹簧146所产生的弹力可达到辅助定位的功能。
再回到图1,于本实施方式中,输送装置12的每一轨道120上设置两个定位检知装置14。并且,当轨道120的皮带120a将待测电路板2输送至治具10的载板102上方时,四个定位检知装置14的位置恰好分别邻近待测电路板2的四个角落。
借此,在轨道120朝向治具10的载板102移动并将待测电路板2放置至载板102上的过程中,若发生待测电路板2与载板102两平面不平行而造成待测电路板2的四个角落中的其中一角落被载板102推挤而翘起的状况发生,则位于待测电路板2翘起的角落的定位检知装置14即可被推挤而产生警告信号。
然而,本实用新型并不以此为限,于另一实施方式中,测试设备1的定位检知装置14设置于轨道120上的数量与位置皆可根据实际需求而调整。
由以上对于本实用新型的具体实施方式的详述,可以明显地看出,本实用新型的定位检知装置主要可应用于测试设备中,并安装于输送装置的轨道上。在轨道朝向治具的载板移动并将待测电路板放置至载板上的过程中,若待测电路板与载板两平面有不平行结合的状况发生,则定位检知装置的探测机构会被待测电路板挤压而往上提起。并且,在探测机构通过光电感测器而遮断光电感测器的感应信号时,光电感测器即产生警告信号。借此,操作人员即可检知并即时调整输送装置与治具之间的相对位置,进而解决上述结合不良的状况。由此可知,本实用新型的定位检知装置的零件简单且容易取得,也容易安装调整,并不需要精密的测量功能。再者,由于本实用新型的定位检知装置安装于输送装置的轨道上,而非安装于治具上,因此当欲测试不同待测电路板时,仅需更换对应的治具,并调整输送装置相对治具的位置,即可继续沿用定位检知装置。
虽然本实用新型已以实施方式揭露如上,然其并非用以限定本实用新型,任何熟习此技艺者,在不脱离本实用新型的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,因此本实用新型的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims (15)

1.一种定位检知装置,应用于一测试设备中,其特征在于:该测试设备包含一治具以及一输送装置,该治具包含一载板,该输送装置包含两轨道,分别包含两皮带,用以承载并输送一待测电路板,并且这些轨道用以朝向该载板移动,进而将该待测电路板放置于该载板上,该定位检知装置包含:
一固定座,设置至这些轨道中之其一;
一探测机构,可移动地设置至该固定座,并延伸至对应的该皮带上方,致使该待测电路板的一边缘位于该探测机构与对应的该皮带之间;以及
一光电感测器,固定至该固定座,用以产生一感应信号,
其中当该探测机构受放置于该载板上的该待测电路板推挤而相对该固定座移动通过该光电感测器并遮断该感应信号时,该光电感测器产生一警告信号。
2.如权利要求1所述的定位检知装置,其特征在于:该固定座包含:
一底板,固定至对应的该轨道;
一顶板;以及
至少一导杆,固定于该底板与该顶板之间,其中该探测机构套置于该导杆外,借以相对该导杆滑动于该底板与该顶板之间。
3.如权利要求2所述的定位检知装置,其特征在于:该探测机构包含:
一第一探测件,套置于该导杆外,借以相对该导杆滑动于该底板与该顶板之间;以及
一第二探测件,连接该第一探测件,用以受放置于该载板上的该待测电路板推挤。
4.如权利要求3所述的定位检知装置,其特征在于:该定位检知装置进一步包含一弹簧,套置于该导杆外,并压缩于该顶板与该第一探测件之间,用以将该探测机构朝向该底板推挤。
5.如权利要求3所述的定位检知装置,其特征在于:该光电感测器包含一发射端以及一接收端,该发射端用以朝向该接收端发射该感应信号,该第一探测件具有一第一延伸部,并且当该第二探测件受放置于该载板上的该待测电路板推挤而带动该第一探测件相对该导杆移动,致使该第一延伸部由该发射端与该接收端之间通过并遮断该感应信号时,该光电感测器产生该警告信号。
6.如权利要求3所述的定位检知装置,其特征在于:该第二探测件具有一第二延伸部,延伸至对应的该皮带上方,并且该待测电路板的两边缘中之其一位于该第二延伸部与对应的该皮带之间。
7.如权利要求2所述的定位检知装置,其特征在于:该固定座进一步包含至少一固定杆,固定于该底板与该顶板之间,并且该光电感测器套置于该固定杆外。
8.一种测试设备,用以测试一待测电路板,其特征在于:该测试设备包含:
一治具,包含一载板;
一输送装置,包含:
两轨道,位于该载板上方,用以输送该待测电路板,并朝向该载板移动,进而将该待测电路板放置于该载板上;以及
至少一定位检知装置,包含:
一固定座,设置至这些轨道中之其一;
一探测机构,可移动地设置至该固定座,并延伸至对应的该皮带上方,致使该待测电路板的一边缘位于该探测机构与对应的该皮带之间;以及
一光电感测器,固定至该固定座,用以产生一感应信号,
其中当该探测机构受放置于该载板上的该待测电路板推挤而相对该固定座移动通过该光电感测器并遮断该感应信号时,该光电感测器产生一警告信号。
9.如权利要求8所述的测试设备,其特征在于:该固定座包含:
一底板,固定至对应的该轨道;
一顶板;以及
至少一导杆,固定于该底板与该顶板之间,其中该探测机构套置于该导杆外,借以相对该导杆滑动于该底板与该顶板之间。
10.如权利要求9所述的测试设备,其特征在于:该探测机构包含:
一第一探测件,套置于该导杆外,借以相对该导杆滑动于该底板与该顶板之间;以及
一第二探测件,连接该第一探测件,用以受放置于该载板上的该待测电路板推挤。
11.如权利要求10所述的测试设备,其特征在于:该定位检知装置进一步包含一弹簧,套置于该导杆外,并压缩于该顶板与该第一探测件之间,用以将该探测机构朝向该底板推挤。
12.如权利要求10所述的测试设备,其特征在于:该光电感测器包含一发射端以及一接收端,该发射端用以朝向该接收端发射该感应信号,该第一探测件具有一第一延伸部,并且当该第二探测件受放置于该载板上的该待测电路板推挤而带动该第一探测件相对该导杆移动,致使该第一延伸部由该发射端与该接收端之间通过并遮断该感应信号时,该光电感测器产生该警告信号。
13.如权利要求10所述的测试设备,其特征在于:这些轨道分别包含两皮带,这些皮带沿这些轨道设置于这些轨道之间,用以承载该待测电路板,该输送装置进一步包含一驱动组件,设置至这些轨道并操作性连接这些皮带,用以驱动这些皮带输送该待测电路板。
14.如权利要求13所述的测试设备,其特征在于:该第二探测件具有一第二延伸部,延伸至对应的该皮带上方,并且该待测电路板的该边缘位于该第二延伸部与对应的该皮带之间。
15.如权利要求9所述的测试设备,其特征在于:该固定座进一步包含至少一固定杆,固定于该底板与该顶板之间,并且该光电感测器套置于该固定杆外。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104360292A (zh) * 2014-12-08 2015-02-18 昆山精讯电子技术有限公司 Led灯条光电性检测机构
CN104849500A (zh) * 2015-03-24 2015-08-19 昆山德友机械设备有限公司 一种电子器件极性测试设备的输送定位系统
CN105588524A (zh) * 2014-10-22 2016-05-18 富鼎电子科技(嘉善)有限公司 检测装置
CN105866661A (zh) * 2016-04-29 2016-08-17 深圳市森力普电子有限公司 Pcba定位检测装置及检测机构

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105588524A (zh) * 2014-10-22 2016-05-18 富鼎电子科技(嘉善)有限公司 检测装置
CN104360292A (zh) * 2014-12-08 2015-02-18 昆山精讯电子技术有限公司 Led灯条光电性检测机构
CN104360292B (zh) * 2014-12-08 2017-09-19 昆山精讯电子技术有限公司 Led灯条光电性检测机构
CN104849500A (zh) * 2015-03-24 2015-08-19 昆山德友机械设备有限公司 一种电子器件极性测试设备的输送定位系统
CN105866661A (zh) * 2016-04-29 2016-08-17 深圳市森力普电子有限公司 Pcba定位检测装置及检测机构
CN105866661B (zh) * 2016-04-29 2019-03-12 深圳市森力普电子有限公司 Pcba定位检测装置及检测机构

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