CN202758021U - 电性测试装置及系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种电性测试装置及系统，包括一个基板，所述基板上设有至少一个芯片卡槽，所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线，每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。本实用新型结构简单，检测芯片时不会受到管脚过细、管脚间距过小的干扰，并且操作省时省力，整个装置的成本低廉。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置及系统，特别涉及一种用于测试芯片等测试样品的电学特性的装置及系统。
背景技术
芯片是一种常见的电子元件，在很多时候，需要检测芯片的电学特性，例如芯片上某两个管脚之间的电阻值。这些检测都离不开将特定的测试装置用导线和芯片上的特定管脚电连接。一个最直接的例子就是用万用表的两个表笔来检测芯片上某两个管脚之间的电阻值大小。另外还有一些更为精密的测试仪器，能够实现更加丰富的芯片测试功能，但在将需要测试的芯片管脚和测试仪器相互电连接时，都离不开探测头和芯片管脚的物理触碰。由于现在芯片的体积日趋微型化，这样一来，芯片的管脚就不可避免地要变得更细小，管脚之间变得更加靠近。在市面上，管脚间距在0.5mm甚至更小的芯片比比皆是。
在检测这种小管脚间距的芯片时，一种比较常见的办法是用探针来接触管脚。例如，在万用表的两个表笔上分别连接一根细针，用针尖去触碰管脚。这种方法操作起来很麻烦，不仅细针的针尖无法和管脚固定，而且操作者的手在自然抖动时就很容易超过0.5mm的幅度，容易发生脱接或错接。这种测试方法可靠性很差且费时费力。
一种改进的方法是将芯片固定在一个设有显微镜的检测台上，在显微镜下观察芯片的管脚，并用探针来点测。这种方法在操作时很容易观察探针和管脚是否连接可靠，但是操作起来还是很麻烦，因为显微镜在观察时需要贴近芯片，为了避免移动探针或者更换芯片时触碰到显微镜的镜头，每次更换探针点测位置时，都需要抬起显微镜，操作起来费时费力。另外，这种测试方法中装置的成本也比较高。
实用新型内容
本实用新型是为了克服上述现有技术中的缺陷，提供一种电性测试装置及系统，其结构简单，检测时不会受到芯片等测试样品管脚过细、管脚间距过小的干扰，并且操作省时省力，整个装置及系统的成本低廉。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种电性测试装置，包括一个基板，所述基板上设有至少一个芯片卡槽，所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线，每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
进一步地，所述探测点的直径可以至少为1mm。
进一步地，所述管脚延长导线可以是至少两根，并且任意两根所述管脚延长导线形成的所述探测点彼此的间距至少为2mm。
进一步地，所述管脚延长导线可以是复数个，并且所述管脚延长导线的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置。
一种电性测试装置，包括一个基板，所述基板上设有至少一个用于卡接测试样品的管脚的卡槽，所述卡槽中设有至少一根与一个测试样品的管脚形成电连接的管脚延长导线，每根管脚延长导线从所述卡槽中延伸到所述基板上，每根管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
进一步地，所述探测点的直径可以至少为1mm。
进一步地，所述管脚延长导线可以是至少两根，并且任意两根所述管脚延长导线形成的所述探测点彼此的间距至少为2mm。
进一步地，所述管脚延长导线是复数个，并且所述管脚延长导线的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置
一种电性测试系统，包括前述的电性测试装置，还包括测试器件。
进一步地，所述测试器件可包括测试笔，所述测试笔放置于所述探测点上进行电性测试。
进一步地，所述测试器件还可包括与所述测试笔相连的电性测试设备，所述电性测试设备包括万用表、电性测试台或精密测试仪器。
与现有技术相比，本实用新型的一个或多个实施例具有如下有益效果：
1、芯片或其他具有管脚的测试样品安装在卡槽（或芯片卡槽）内，管脚和管脚延长导线之间形成可靠的电连接，不会在检测过程中因为碰撞或者晃动而发生连接不良或者错接，这样一来，可以使本实用新型的设计不仅适用于芯片，也适用于对包含了由芯片组成的系统模块等进行相应的电性测试。
2、管脚延长导线和探测点的设计相当于把管脚之间的间距进行了放大，使得检测装置上的探笔、探头或者探针在目测时就容易找准检测点位，操作起来相当方便快捷。
3、整个装置的结构简单，测试精度高、成本低廉。
4、提出了一种更为快捷、方便的检测方式，节省时间和效率。
5、本实用新型可加快IC设计领域的研发验证周期，以及可以创造出新的工程模式。
附图说明
图1是实施例1的电路原理图；
图2是实施例1的装置结构示意图。
结合附图在其上标记以下附图标记：
1-基板，2-卡槽，3-管脚延长导线，4-探测点，5-芯片，6-管脚。
具体实施方式
下面结合附图，对本实用新型的优选具体实施方式进行详细描述，但应当理解本实用新型的保护范围并不受具体实施方式的限制。
实施例一
如图1至图2所示，本实施例中的电性测试装置用于检测具有八个管脚6的芯片5。该电性检测装置包括一个基板1，基板1上设有一个卡槽2（也可以称为芯片卡槽），卡槽2中设有八根分别与八个管脚6形成电连接的管脚延长导线3，每根管脚延长导线3从卡槽2中延伸到基板1上，每根管脚延长导线3均在基板1的表面上形成一个探测点4。这样的结构可以使检测芯片的电性特征时，探笔或探针等工具落在探测点4上就能够进行检测，从而避免了管脚6自身过细、间距过窄造成的不便。
为了给操作者留出充裕的空间，可以在目测的条件下优质快速地完成检测，探测点4的直径优选为1mm或者更大，任意两个探测点4彼此之间的间距优选为2mm或者更大。
为使芯片5可以很好的插入卡槽2，管脚延长导线3可以是复数个，并且管脚延长导线3的宽度和相互的间距可以按照芯片管脚的封装标准布置。
实施例二
本实施例是在前一实施例的基础上提供一种电性测试装置，其中作为测试样品的不再是芯片，而是其他具有管脚的非芯片对象，例如通过芯片组成的测试系统模块等。由于本实施例的电路连接原理与前一实施例完全相同，所以不再对具体结构进行复述。
实施例三
本实施例是在实施例二的基础上提供一种电性测试系统，包括前述的电性测试装置，还包括测试器件。
进一步地，测试器件可以包括测试笔。在测试时，将测试笔放置于探测点上进行电性测试。
进一步地，测试器件还可以包括与测试笔相连的电性测试设备，例如万用表、电性测试台或精密测试仪器等。
在上述实施例中，作为测试样品的芯片5仅仅是一种示例性而非限制性的举例。任何具有管脚的类似于芯片的器件，均可以应用到上述实施例中作为电性检测的测试样品。
本实用新型将芯片较小尺寸的管脚转接为测试装置基板的外围大尺寸，从而有效地进行电性能测试，测试精度高；接触测试的芯片等样品时使用常规表笔即可完成，可以不用探针台和/或显微镜，有着很强的通用性并且节省了空间；装置本身使用芯片卡槽（或卡槽）的弹性夹紧方式固定测试样品，增加测试时样品的稳定性；本新型可以手持测试表或测试笔进行对探测点的测试，而不是像现有技术中调节精密的探针轴，操作起来方便快捷。此外，使用本实用新型观察测试样品时，直接目视装置上的测试点，不用去在显微镜下观察，省去了大量的时间。
应当理解，上述实施例及附图1和2中的芯片5的管脚6的数目仅仅是一个示例性的内容，不代表对本实用新型技术方案的限制。本领域技术人员很容易就可以判断，本实用新型的设计思路同样可以适用于具有其他管脚数目的芯片或其他测试样品上并达到同样的技术效果，例如4个、6个或者更多个管脚的芯片或其他测试样品。
以上公开的仅为本实用新型的较优具体实施例，但是，本实用新型并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种电性测试装置，其特征在于，包括一个基板，所述基板上设有至少一个芯片卡槽，所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线，每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
2.根据权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述探测点的直径至少为1mm。
3.根据权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是至少两根，并且任意两根所述管脚延长导线形成的所述探测点彼此的间距至少为2mm。
4.根据权利要求1-3任一项所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是复数个，并且所述管脚延长导线的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置。
5.一种电性测试装置，其特征在于，包括一个基板，所述基板上设有至少一个用于卡接测试样品的管脚的卡槽，所述卡槽中设有至少一根与一个测试样品的管脚形成电连接的管脚延长导线，每根管脚延长导线从所述卡槽中延伸到所述基板上，每根管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
6.根据权利要求5所述的电性测试装置，其特征在于，所述探测点的直径至少为1mm。
7.根据权利要求5所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是至少两根，并且任意两根所述管脚延长导线形成的所述探测点彼此的间距至少为2mm。
8.根据权利要求5-7任一项所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是复数个，并且所述管脚延长导线的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置
9.一种电性测试系统，其特征在于，包括根据权利要求5至8中任一项所述的电性测试装置，还包括测试器件。
10.根据权利要求9所述的电性测试系统，其特征在于，所述测试器件包括测试笔，所述测试笔放置于所述探测点上进行电性测试。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2012204072630U CN202758021U (zh) | 2012-08-16 | 2012-08-16 | 电性测试装置及系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2012204072630U CN202758021U (zh) | 2012-08-16 | 2012-08-16 | 电性测试装置及系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN202758021U true CN202758021U (zh) | 2013-02-27 |
Family
ID=47737193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2012204072630U Expired - Lifetime CN202758021U (zh) | 2012-08-16 | 2012-08-16 | 电性测试装置及系统 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN202758021U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111693738A (zh) * | 2020-05-13 | 2020-09-22 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种多通道高频芯片的低温测试结构 |
| CN112345828A (zh) * | 2020-09-25 | 2021-02-09 | 华东光电集成器件研究所 | 多列直插式金属管壳绝缘电阻测试装置 |
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2012
- 2012-08-16 CN CN2012204072630U patent/CN202758021U/zh not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN111693738A (zh) * | 2020-05-13 | 2020-09-22 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种多通道高频芯片的低温测试结构 |
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| GR01 | Patent grant | ||
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