201113136 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關相對於形成預定尺寸的液晶面板，貼合 對應該液晶面板尺寸之預定尺寸的光學功能薄膜的薄片， 連續製造液晶顯示元件的裝置所使用的連續帶狀形態之附 帶切割線光學薄膜層疊體之連續捲體與其製造方法及製造 裝置。 【先前技術】 液晶面板W採畫面尺寸爲對角42吋的大型電視用液 晶面板爲例時，如第 1圖表示，以縱（54〇〜5 60)mmx橫 (950~970)mmx厚度 0.7ηιιη(700μηι)左右的矩形玻璃基板夾 持，配備有透明電極與濾色片等5μιη左右的液晶層所構 成，形成層狀的面板。因此，液晶面板W本身的厚度爲 1.4ηιπι(1400μιη)左右。液晶顯示元件在其液晶面板W的表 # 面側（識別側）與內側（背光側）分別貼合通常通稱名爲「偏 光板」的光學功能薄膜之偏光薄膜U的薄片所生成。 - 液晶顯示元件的功能中，液晶分子的定向方向和偏光 . 片的偏光方向是緊密相連著。液晶顯示元件技術是首先將 使用TN(Twisted Nematic)型液晶的LCD(液晶顯示裝置） 予以實用化，隨後乃至使用 VA(Vertical Alignment)型液 晶、IPS(Inplane Switching)型液晶等的LCD予以實用化 。雖省略技術性說明，但是使用TN型液晶面板的LCD中 ，液晶分子是以配置在液晶面板的玻璃基板內側面的各個 -5- 201113136 摩擦方向具有的上下2片定向膜，以90。扭轉的狀態配列 在光軸方向予以夾持，施加電壓時，垂直定向在定向膜。 但是，從顯示畫面的左右形成相同的像時，例如識別側定 向膜的摩擦方向必須形成45 °(另一方定向膜的摩擦方向爲 1 3 5 °)。因此，配合此由分別貼合在液晶面板的表面側與 內側的偏光薄膜形成薄片所包含偏光片的偏光方向也必須 對顯示畫面的縱或相對於橫向配置成45°方向傾斜。 因此，在製造TN型液晶面板的液晶顯示元件時所使 用的偏光薄膜的薄片，配合TN型液晶面板的大小，以相 對於偏光片朝縱或橫向的延伸所導致的定向方向讓長邊或 短邊的方向成爲45度方向的方式，在利用朝縱或橫向延 伸而進行定向處理的偏光片層疊保護膜，有必須從包含有 在貼合於液晶面板的面上形成黏著層的偏光薄膜的光學薄 膜，將其作爲薄片以衝切或切斷加工成矩形。該技術是例 如專利文獻1或專利文獻2所揭示。加工成矩形的光學薄 膜的薄片寬度，即薄片的短邊，當然小於光學薄膜的寬度 。如此由光學薄膜衝切或切斷加工成矩形的薄片稱爲「逐 片型薄片」。 使用逐片型薄片的液晶顯示元件的製造中’逐片型薄 片是預先從光學薄膜衝切或切斷加工，在黏著層以黏貼剝 離片的狀態成形爲矩形。成形後的逐片型薄片在液晶顯示 元件製造工程中’被收容在匣內。收容在匣內的逐片型薄 片被貼合在液晶面板W時，例如藉著吸附搬運裝置’逐 片地搬運到與液晶面板的貼合位置。逐片型薄片在貼合於 -6- 201113136 液晶面板W之前將可自由剝離地層疊於形成後之黏 的剝離片剝離，經由所露出的黏著層貼合在液晶面板 由於逐片型薄片具有撓性，在貼合時會有周緣產生撓 翹曲的問題。因此，使用逐片型薄片的液晶顯示元件 造工程中，爲了容易進行逐片之剝離片的剝離動作， 良好且迅速進行與液晶面板的定位貼合，必須採用撓 翹曲小，容易搬運和貼合，且具有某程度剛性的四邊 Φ 後的逐片型薄片。例如，逐片型薄片上爲了在偏光板 面而非單面層疊40~80μιη厚左右的保護膜形成具有 度的剛性。液晶顯示元件製造技術的初期階段中，該 薄膜的薄片或該薄片所包含的偏光薄膜的薄片一般是 偏光板」，即使現在仍是其通稱名》 如上述ΤΝ型的液晶顯示元件製造技術中，在衝 切斷加工工程之後，不能將所成形的薄面就其狀態連 合於液晶面板進行一連續工程製造液晶顯示元件。這 • 爲所使用光學薄膜的薄片，必須如上述相對於朝著偏 的縱或橫向延伸的定向方向（即，成形前光學薄膜的 方向或與其交叉方向）使長邊或短邊的方向成形爲45£ . ，如此所成形的薄片即不能以其狀態相同的姿勢連續 在液晶面板。如專利文獻1或專利文獻2表示，爲了 片貼合在液晶面板上，必須將一片一片的薄片以模具 比液晶面板的長邊更寬幅的連續狀光學薄膜相對於光 膜的長方向朝45°方向衝切，供應與液晶面板的貼合 。或是將所使用的連續狀光學薄膜由相當寬幅的連續 著層 W。 曲或 的製 精度 曲或 整形 的兩 因厚 光學 稱「 切或 續貼 是因 光片 進給 方向 貼合 使薄 等從 學薄 工程 狀光 201113136 學薄膜相對於其長方向朝著45°方向預先衝切或切斷成長 型光學薄膜或是將成形後的一片一片光學薄膜的薄片連結 成薄膜狀的長型的光學薄膜》該等的方法皆無法離開逐片 型薄片製造技術的領域。
專利文獻3是揭示在VA型液晶或IPS型液晶等實用 化以前，一邊連續供應包含偏光薄膜的光學薄膜，一邊將 成形爲所需長度的薄片依序貼合在液晶面板生成液晶面板 的裝置》該裝置是利用剝離片的載體功能連續送出包含保 護著偏光薄膜（同文獻稱「長型偏光板」）和偏光薄膜的黏 著層之剝離片的光學薄膜（同文獻稱「偏光板帶體」），實 施「保留剝離片6，僅將偏光板4和黏著劑層5切斷（以 下稱：半切割）」作業，將中途所切斷薄片的缺陷部分除 去，最後從剝離片將保留在剝離片上的薄片剝離，並在構 成電子計算機等小型顯示畫面的液晶面板（同文獻稱「「 液晶單元」」），將剝離後的薄片依序貼合加工成「偏光 薄片和液晶單元的層疊製品」。該裝置是用來製造使用 TN型液晶的LCD的貼標籤裝置。所使用的光學薄膜，當 然必須是配合液晶面板寬度將相當寬幅的光學薄膜朝45° 方向進行切斷加工而形成一片長型光學薄膜的薄片，或是 將一片一片的光學薄膜的薄片接合成薄膜狀的長型光學薄 膜的薄片。因此，該裝置的前提是使用配合液晶面板寬度 而相對於偏光薄膜的延伸方向成45°方向進行切斷加工所 成的一片長型的薄片，所以從光學薄膜層疊體來連續成形 偏光薄膜的薄片，並無法立即運用於直接貼合在使用VA -8- 201113136 型液晶或IPS型液晶的液晶面板而作爲液晶顯示元件的製 造裝置。 並且，與專利文獻4與專利文獻3同樣在VA型液晶 或IPS型液晶等予以實用化以前，揭示出連續供應包含用 以下順序製作偏光薄膜的光學薄膜並切出所需長度形成的 薄片依序貼合在液晶面板來製造液晶顯示元件的裝置。在 此所使用光學薄膜的製作順序是如下述。首先，在寬幅的 φ 偏光薄膜形成黏著層。從該寬幅的包含黏著層的偏光薄膜 切出預定寬度的長型偏光薄膜的薄片。將該等薄片貼在另 外準備的脫模處理後的搬運媒體（即載體薄膜）生成光學 薄膜。接著，以相對於長方向設置在預定間隔的兩片刀刃 將該光學薄膜以留下搬運媒體的方式在垂直方向進行半切 斷，連續形成搬運媒體上所切斷的光學薄膜的薄片。最後 ，將所形成的薄片依序貼合在送來的液晶面板，製造出液 晶顯示元件。該裝置的前提也是使用配合液晶面板寬度朝 • 著相對於偏光薄膜的延伸方向成45°方向切斷加工的一枚 偏光薄膜的長型薄片，因此並不能立即直接運用在將偏光 -薄膜的薄片從光學薄膜連續成形，直接貼合在使用VA型 . 液晶或IPS型液晶的液晶面板製成液晶顯示元件的製造裝 置。 針對使用逐片型薄片的液晶顯示元件製造的自動化技 術，例如揭示在專利文獻5。撓性的逐片型薄片，端部會 發生彎曲或下垂等，對於其與液晶面板的對準或貼合，容 易產生撓曲或翹曲等精確度及速度會造成極大的技術障礙 -9- 201113136 。因此，爲了容易進行吸附搬運及與液 合，對逐片型薄片典型上會要求一定程 例如專利文獻6、專利文獻7或專利文 著眼於此技術課題而努力硏創所得。 相對於TN型液晶面板，VA型液 板液晶分子並非配列使液晶分子扭轉的 該等液晶面板的液晶顯示元件中，從液 的視角特性，如使用TN型液晶面板的 學薄膜的薄片的偏光方向相對於液晶顯 邊的方向呈45°方向。使用該等液晶面 是使得偏光軸的方向以和液晶面的的長 別將形成彼此90°不同方向之光學薄膜 面板的表面側與內側。VA型液晶面板: 中考慮視角特性的對稱性及識別性的場 片的偏光軸方向是表示最大對比度的方 膜的薄片的光學軸是以對液晶面板的長 平行側爲佳。因此，貼合在該等液晶面 送出包含朝著縱或橫向延伸處理後之偏 學薄膜，相對於該連續狀光學薄膜的進 斷，可藉此連續成形具有和光學薄膜寬 薄膜的薄片的優點。 使用於大型電視用顯示元件的液晶 觀點來看，從TN型液晶改變爲VA型 。隨著如此技術開發環境的變化，如專 ΒΘΒ面板的對準及貼 度的厚度及剛性。 獻8所揭示，都是 晶或IPS型液晶面 狀態。因此，使用 晶定向狀態所獲得 場合，則不須使光 示元件的長邊或短 板的液晶顯示元件 邊或短邊平行，分 的薄片貼合在液晶 或IPS型液晶面板 合，光學薄膜的薄 向，因此，光學薄 邊或短邊的方向成 板的薄片具有連續 光薄膜的連續狀光 給方向朝著橫向切 度相同寬度的光學 從提升視角特性的 液晶或IPS型液晶 利文獻9所示，提 -10- 201113136 出一種以該等液晶面板爲前提來提升生產效率。專利文獻 9揭示的技術是連續送出連續狀光學薄膜配合液晶面板的 大小進行切斷加工，並將切斷加工後光學薄膜的薄片連續 貼合在液晶面板的技術。 但是，由於具有如以下的技術性課題，液晶顯示元件 的製造依然是以逐片型薄片製造爲主流的狀態。液晶顯示 元件的製造之重要技術性課題在於事先確認所製造顯示元 | 件的缺陷，不產生不良品。缺陷的多數主要是起因於包含 在連續狀光學薄膜的偏光薄膜內存在的缺陷。但是，現狀 是由於製造零缺陷的連續狀光學薄膜極爲困難，因此以完 全除去包含在所層疊的各個薄膜缺陷的狀態提供連續狀光 學薄膜並不一定可獲得實現。其另一方面，即使稍有可識 別的傷痕或缺陷而將包含該傷或缺陷的偏光薄膜的薄片作 爲電視用的薄片使用，從液晶顯示元件本身品質維持的觀 點而言並不被容許。例如，由光學薄膜所成形薄片的長邊 ® 爲大約1m左右時，事先不能除去缺陷處的場合，以單純 計算，所製造的液晶顯示元件每1，000個，會產生包含及 於20〜200個缺陷的不良品。 因此，現狀中，不存在有區分爲矩形的光學薄膜缺陷 的正常區域爲了適當迴避區分爲相同矩形之光學薄膜缺陷 內存在的不良區域，從連續狀光學薄膜衝切或切斷加工成 正常品的薄片（以下，稱「正常薄片」），或是不區分正常 區域及不良區域將光學薄膜的薄片衝切或切斷成矩形，其 中不良品的薄片（以下，稱「不良薄片」）只能以其隨後的 -11 - 201113136 工程挑選後排除加以處置之外別無他法。因此’從製品精 度及製造速度兩方面的限制來看，以逐片型薄片製造方法 提高現時點效率以上的生產效率是極爲困難的狀況。 本申請人是以儘可能提升逐片型薄片製造的生產效率 爲目的，例如專利文獻1 〇、專利文獻1 1或是專利文獻1 2 所揭示，曾提出偏光薄膜的事先檢查裝置。該等提案主要 包含有以下的2個工程。第1工程，首先，檢查連續供應 的連續狀光學薄膜的偏光薄膜內存在的缺陷，將所偵測出 的缺陷位置實施影像處理，將影像處理後的資訊編碼化。 接著，在從連續狀光學薄膜衝切出逐片型薄片時所殘留切 屑的端部上，藉著記錄裝置直接列印編碼化資訊之後，捲 繞連續狀光學薄膜加工成連續捲體。第2工程是藉由讀取 裝置讀取從所生成的捲體送出的連續狀光學薄膜上所列印 的編碼化資訊，根據判定良否的結果在缺陷處以標示器賦 予標記。隨後，從連續狀光學薄膜衝切逐片型薄片，根據 事先標示所賦予的標記來挑選光學薄膜的逐片型薄片爲正 常薄片或不良薄片。該等工程是爲了提昇逐片型薄片製造 時之良率提升上不可或缺的技術手段。 另外，在專利文獻13中提出一種製造方法，將包含 在從連續狀光學薄膜的層疊體捲體所連續送出的連續狀光 學薄膜（同文獻稱「偏光板原板」）的載體薄膜（同文獻稱 「脫模薄膜」）剝離使包含黏著層的偏光薄膜（同文獻稱「 偏光板」）露出，在偵測偏光薄膜內存在的缺陷後，以避 開偏光薄膜的缺陷處僅將正常區域衝切成矩形，將衝切後 -12- 201113136 的正常薄片（同文獻稱爲「薄片狀製品」）利用其他的搬 蓮媒體移送到與液晶面板的貼合位置。但是，該技術並無 法實現將連續狀光學薄膜所成形的光學薄膜的正常薄片利 用載體薄膜搬運至與液晶面板的貼合位置。該技術一旦將 裁斷後的逐片型薄片貼合在其他的搬運媒體並移送到與液 晶面板的貼合位置時，仍是屬於逐片型薄片之製造範圍的 液晶顯示元件的製造方法。 φ 本申請人，如專利文獻14所示，提出有關將光學薄 膜的薄片貼合在液晶面板的方法及裝置的發明。本發明劃 時代地提出一種可從事先所成形的逐片型薄片帶入液晶顯 示元件的製造工程貼合在液晶面板的液晶顯示元件的製造 技術，切換爲在液晶顯示元件的製造工程中連續成形光學 薄膜的薄片直接貼合於液晶面板的液晶顯示元件的連續製 造技術。 本發明是如第2圖表示，其特徵爲，包含在液晶顯示 ® 元件的一連續製造工程中，爲了決定光學薄膜的不良區域 及正常區域的檢査，從連續狀光學薄膜一旦剝離載體薄膜 及表面保護膜的工程，及檢查後將替代載體薄膜及代替表 .面保護膜再次層疊在連續狀光學薄膜的工程。該等的工程 是在液晶顯示元件的連續製造工程中，一邊保護因載體薄 膜及表面保護膜的剝離之偏光薄膜黏著層的露出面及不具 黏著層的面一邊進行內存在缺陷檢査用的必須工程。但是 ’該等的工程’將成形後光學薄膜的正常薄片貼合在液晶 面板的方法或裝置整體不僅相當複雜，同時會增加工程數 -13- 201113136 ，以致使各工程的控制困難。因此，專利文獻14記載的 發明則有不得不犧牲製造速度的缺點。 本發明是以上述相關發明爲基礎，刻意硏究後構思出 一種可進行液晶顯示元件的連續製造，迅速提升液晶顯示 元件製造的製品精度及製造速度，進而根本改善製品精度 〇 [先前技術文獻] [專利文獻] > # 專利文獻1 :日本特開2 0 0 3 - 1 6 1 9 3 5號公報 專利文獻2 :日本特許第3 6丨6 8 6 6號公報 專利文獻3:日本特公昭62-14810號公報 專利文獻4:日本特開昭55120005號公報 專利文獻5:日本特開2002-23151號公報 專利文獻6:日本特開2〇〇4_144913號公報 專利文獻7:日本特開2005-298208號公報 專利文獻8:日本特開2〇〇6-58411號公報 籲 專利文獻9:日本特開2〇〇4·361741號公報 專利文獻1〇:日本特許第3974400號公報 專利文獻11:日本特開2005_62165號公報 - 專利文獻12:日本特開2〇〇7_64989號公報 專利文獻13:日本特開2〇〇7_14〇〇46號公報 專利文獻14:日本特開2009_061498號公報 【發明內容】 -14- 201113136 [發明所欲解決的課題] VA型液晶面板或IPS型液晶面板上，從液晶定向狀 態所獲得的視角特性，並無貼合在液晶面板表面側和內面 側面上的偏光薄膜的偏光方向相對於TN型液晶面板特有 的技術性限制，即液晶面板的長邊或短邊的方向使偏光薄 膜的偏光方向形成45°方向的技術性限制。因此，使用 VA型液晶面板或IPS型液晶面板的液晶顯示元件在供應 # 連續狀光學薄膜中，將對該光學薄膜長方向的直角方向切 斷所形成的偏光薄膜的薄片連續貼合在液晶面板上，可藉 此進行連續製造。並且，連續狀光學薄膜的供應中，該供 應不會中斷，分別切出所包含連續狀偏光薄膜的事先檢查 所偵測之包含缺陷的不良薄片及不包含缺陷的正常薄片， 僅將其中的正常薄片供應與液晶面板的貼合位置，可藉此 迅速提升液晶顯示元件的連續製造的製品精度及製造速度 ，可大幅度改善製品的良率。 • 本發明的目的是提供一邊將包含有黏著層的連續狀偏 光薄膜和可自由剝離地層疊在黏著層的連續狀載體薄膜之 -檢查後的連續狀光學薄膜（以下，稱「連續狀檢查後光學 .薄膜」）供應給貼合位置，一邊分別連續切出藉事先檢査 所偵測出包含缺陷的不良薄片及不包含缺陷的正常薄片， 並不中斷地提供連續狀檢查後光學薄膜，以實現僅將所切 出正常薄片連續貼合在液晶面板上的手段，可藉此迅速提 升液晶顯示元件的連續製造之製品精度及製造速度，大幅 度改善製品的良率。 -15- 201113136 [解決課題用的手段] 本發明的第1樣態是提供對形成預定尺寸的液晶面板 ，貼合對應該液晶面板尺寸之預定尺寸所形成的光學功能 薄膜的薄片，連續製造液晶顯示元件的裝置所使用的連續 帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的連續捲體。本發 明所涉及連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的連 續捲體，在包含有進行缺陷事先檢査的黏著層的光學功能 薄膜和可自由剝離地層疊在該黏著層的載體薄膜之連續帶 狀形態的光學薄膜層疊體上依序形成有複數條切割線。所 形成的切割線是從和載體薄膜的相反側相對於光學薄膜層 疊體的長方向成直角方向進行切割直達載體薄膜的黏著層 側的面的深度爲止所形成。附帶切割線光學薄膜層疊體是 包含切割線區分爲預定長度的複數薄片，複數薄片爲不包 含缺陷的正常薄片和包含缺陷的不良薄片所構成。正常薄 片和不良薄片是藉著根據事先檢查偵測出之缺陷位置所生 成的識別手段，在連續製造液晶顯示元件的裝置中獲得識 別。 本發明之一實施形態中’識別手段可對事先檢查所偵 測出光學薄膜層疊體的缺陷位置賦予標記。本發明的其他 實施形態中，識別手段是構成根據事先檢查所偵測出缺陷 的位置和切割線的位置，在連續的2條切割線之間的薄片 存在有缺陷時顯示不良薄片的識別資訊。 本發明的第2樣態是提供對形成預定尺寸的液晶面板 -16- 201113136 ，貼合對應該液晶面板尺寸之預定尺寸所形成的光學功能 薄膜的薄片，連續製造液晶顯示元件的裝置所使用之製造 連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的連續捲體的 方法。本方法中，最初，在連續帶狀形態的偏光片至少一 面層疊連續帶狀形態的保護膜，藉此生成光學功能薄膜。 本方法更包含進行光學功能薄膜之表面及內部的檢查來偵 測出光學功能薄膜內存在的缺陷，藉黏著層將載體薄膜可 ϋ 自由剝離地層疊在進行缺陷檢查後的光學功能薄膜上生成 連續帶狀形態之光學薄膜層疊體的步驟。本方法更包含在 光學薄膜層疊體依序形成切割線，在載體薄膜上區分成具 有對應液晶面板尺寸之預定長度的不包含缺陷的正常薄片 和包含缺陷的不良薄片的步驟。切割線是相對於光學薄膜 層疊體長方向呈直角方向從載體薄膜的相反側進行切割直 達載體薄膜的黏著層側的面的深度爲止所依序形成。本方 法更包含生成藉著事先檢查所偵測出的缺陷位置，在連續 # 製造液晶顯示元件的裝置可識別正常薄片和不良薄片用識 別手段的步驟。最後，將所生成的連續帶狀形態之附帶切 割線光學薄膜層疊體捲繞成捲體狀。 本發明的第3樣態是提供連續製造液晶顯示元件之裝 置所使用的製造連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊 體之連續捲體的其他方法。本方法最初準備至少包含：連 續帶狀形態的偏光片，層疊在該偏光片至少一面的保護膜 及形成在一個面上的黏著層所成的光學功能薄膜，及可自 由剝離地層疊在該黏著層的擬載體薄膜之連續帶狀形態的 -17- 201113136 擬光學薄膜層疊體的連續捲體。本方法更包含從所準備連 續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體的連續捲體一邊送出擬光 學薄膜層疊體一邊將擬載體薄膜剝離藉以使包含黏著層的 光學功能薄膜露出，進行包含所露出黏著層之光學功能薄 膜的表面及內部的檢查偵測出包含黏著層之光學功能薄膜 內存在的缺陷，在包含進行缺陷檢査後的黏著層之光學功 能薄膜的該黏著層上層疊可自由剝離的載體薄膜，生成連 續帶狀態之光學薄膜層疊體的步驟。本方法更包含在光學 薄膜層疊體上依序形成切割線，藉此在載體薄膜上區分具 有對應液晶面板尺寸之預定長度的不包含缺陷的正常薄片 和包含缺陷的不良薄片。切割線是從和載體薄膜的相反側 相對於光學薄膜層疊體的長方向成直角方向進行.切割直達 載體薄膜的黏著層側的面的深度爲止依序形成。本方法更 包含生成藉著事先檢查所偵測出的缺陷位置，在連續製造 液晶顯示元件的裝置可識別正常薄片和不良薄片用識別手 段的步驟。最後，將所生成的連續帶狀形態之附帶切割線 光學薄膜層疊體捲繞成捲體狀。 本發明第2及第3樣態之一實施形態中，生成識別手 段的步驟包含將顯示事先檢查所偵測出缺陷的位置的標記 賦予光學薄膜層疊體的步驟。本發明之第2及第3樣態的 其他實施形態中，生成識別手段的上述步驟包含根據事先 檢查所偵測出的缺陷位置和切割線的位置，生成連續的2 條切割線之間的薄片存在有缺陷的場合即構成顯示該薄片 爲不良薄片之識別資訊的步驟。 -18- 201113136 本發明之一實施形態中，光學功能薄膜內存在的缺陷 是藉由反射光主要來檢査光學功能薄膜表面的方法、使從 光源照射的光穿透來將光學功能薄膜內存在的缺陷成爲影 子而偵測出的方法，及將光學功能薄膜與偏光濾光片，將 該等的吸收軸配置成正交偏光，使來自光源的光照射於該 處，藉由觀察穿透的光，使光學功能薄膜內存在的缺陷成 爲亮點來偵測出的其中之一方法或該等組合藉此進行偵測 本發明的第4樣態是提供對形成預定尺寸的液晶面板 ，貼合對應該液晶面板尺寸之預定尺寸的光學功能薄膜的 薄片，連續製造液晶顯示元件的裝置所使用的連續帶狀形 態之附帶切割線光學薄膜層疊體的連續捲體製造用的裝置 。本裝置，包含：在連續帶狀形態的偏光片至少一面層疊 連續帶狀形態的保護膜，藉此生成光學功能薄膜的光學功 能薄膜生成裝置；檢查光學功能薄膜的表面及內部來偵測 ® 出光學功能薄膜內存在缺陷的檢查裝置；及在進行缺陷檢 査後的光學功能薄膜隔著黏著層可自由剝離層疊載體薄膜 ，來生成連續帶狀形態的光學薄膜層疊體的光學薄膜層疊 體生成裝置。本裝置更包含在生成後的光學薄膜層疊體依 序形成切割線藉此在載體薄膜上區分具有對應液晶面板尺 寸的預定長度之不包含缺陷的正常薄片與包含缺陷的不良 薄片的切割形成裝置。切割線是從和載體薄膜的相反側相 對於光學薄膜層疊體的長方向成直角方向進行切割直達載 體薄膜的黏著層側的面的深度爲止所依序形成。本裝置更 -19- 201113136 包含根據事先檢査偵測出的缺陷位置，在連續製造液晶顯 示元件的裝置中生成可識別正常薄片和不良薄片用之識別 手段的識別手段生成裝置。本裝置更包含將所生成的連續 帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體捲繞成捲體狀並加 工成連續捲體的捲.繞裝置。 本發明的第5樣態是提供製造連續帶狀形態之附帶切 割線光學薄膜層疊體的連續捲體的其他裝置。本裝置，包 含：從至少包含連續帶狀形態的偏光片、層疊在該偏光片 的至少一面的保護膜及形成於一個面的黏著層所構成的光 學功能薄膜，及可自由剝離地層疊在該黏著層的擬載體薄 膜之配備有連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體之連續捲體 的該連續捲體，送出連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體之 連續捲體的擬光學薄膜層疊體供應裝置。本裝置，更包含 :將擬載體薄膜從所送出連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊 體剝離後使得包含黏著層的光學薄膜露出的擬載體薄膜剝 離裝置；檢査包含露出黏著層之光學功能薄膜的表面及內 部，偵測出包含黏著層之光學功能薄膜內存在缺陷的檢查 裝置；及進行缺陷檢查的包含黏著層的光學功能薄膜的該 黏著層上層疊可自由剝離的載體薄膜，藉此生成連續帶狀 形態的光學薄膜層疊體的載體薄膜層疊裝置。本裝置，更 包含：在所生成的光學薄膜層疊體上依序形成切割線，藉 此在載體薄膜上區分具有對應液晶面板尺寸之預定長度的 不包含缺陷的正常薄片與包含缺陷的不良薄片的切割線形 成裝置。切割線是從和載體薄膜的相反側相對於光學薄膜 -20- 201113136 層疊體的長方向成直角方向進行切割直達載體薄膜的黏著 層側的面的深度爲止所依序形成》本裝置，更包含：根據 事先檢查偵測出的缺陷位置，在連續製造液晶顯示元件的 裝置中生成可識別正常薄片和不良薄片用之識別手段的識 別手段生成裝置。本裝置，更包含：將所生成的連續帶狀 形態之附帶切割線光學薄膜層疊體捲繞成捲體狀並加工成 連續捲體的捲繞裝置。 φ 本發明的第4及第5樣態之一實施形態中，識別手段 生成裝置是將顯示事先檢查所偵測出缺陷位置的標記賦予 光學薄膜層疊體的標記賦予裝置。本發明的第4及第5樣 態的其他實施形態中，識別手段生成裝置，包含：根據事 先檢査所偵測出的缺陷位置和切割線的位置，連續的2條 切割線間的薄片存在有缺陷的場合生成顯示該薄片爲不良 薄片所構成識別資訊的識別資訊生成手段。 本發明之一實施形態中，檢查裝置，包含有下述檢查 • 裝置的其中之一或其組合：藉由反射光而主要來檢查光學 功能薄膜表面的第1檢查裝置；使從光源照射的光穿透以 光學功能薄膜內存在的缺陷成爲影子而偵測出的第2檢查 - 裝置；及將光學功能薄膜及偏光濾光片，使該等的吸收軸 配置成正交偏光，對該等照射來自光源的光觀察穿透後的 光’藉此以光學功能薄膜內存在的缺陷成爲亮點來偵測出 的第3檢査裝置。 【實施方式】 -21 - 201113136 本說明書中，貼合在單面或雙面層疊有保護膜的偏光 片（polarizer)之液晶面板W的一面形成有黏著層的薄膜稱 爲偏光薄膜，將通稱爲「偏光板」的薄片稱爲「偏光薄膜 的薄片」或僅單爲「薄片」。並且，從包含與表面保護膜 及載體薄膜一體的偏光薄膜的光學薄膜切出薄片的場合， 必須將該薄片和「偏光薄膜的薄片」區別的場合，將此稱 爲「光學薄膜的薄片j ，其中所包含的表面保護膜或載體 薄膜所切出的薄片則稱之爲「表面保護膜的薄片」或「載 體薄膜的薄片」。 以下，一邊參照圖示詳細說明本發明的實施形態如下 1.連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的構成 第3(1)圖是表示連續帶狀形態的光學薄膜層疊體15 ，第3(2)圖是表示本發明之一實施形態所涉及包含於層疊 體捲體的連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體1 0 的圖。附帶切割線光學薄膜層疊體1 〇是藉著在相對於長 方向成直角方向依序形成於連續狀光學薄膜層疊體15的 切割線16所生成。光學功能薄膜1〗（第3圖中，相當於 偏光薄膜11。以下，光學功能薄膜除了必須與其他的區 分時稱「偏光薄膜」。）的薄片是以形成之切割線1 6所區 分的狀態形成在載體薄膜1 3上。貼合在液晶面板W的偏 光薄膜1 1的薄片是以連續的2條切割線1 6所區分的狀態 依序形成在載體薄膜13上的複數的薄片之中，偏光薄膜 -22- 201113136 的不包含缺陷的薄片》連續的2條切割線16的間隔是和 對應液晶面板W尺寸的預定長度相等。第3(3)圖是該薄 片貼合於液晶面板W所製造的液晶顯示元件的圖。 附帶切割線光學薄膜層疊體10是在包含有黏著層12 的偏光薄膜11;可自由剝離地層疊於黏著層12的載體薄 膜13;及在與載體薄膜13相反側的偏光薄膜面上可自由 剝離地層疊之表面保護膜1 4的連續帶狀形態的光學薄膜 Φ 層疊體1 5，依序形成切割線1 6所生成的層疊體。在附帶 切割線光學薄膜層疊體10的載體薄膜13上，偏光薄膜 11的薄片及表面保護膜14的薄片是藉切割線以一體切斷 的狀態所形成。 偏光薄膜Π，通常是在雙面層疊有透明保護膜的連 續帶狀形態偏光片的一面，形成有與液晶面板W貼合的 丙烯系的黏著層12的薄膜。載體薄膜13是具有保護偏光 薄膜11之黏著層12的功能的薄膜，可自由剝離地層疊在 • 黏著層1 2。偏光薄膜11是例如經過以下的工程所製造。 首先，將50〜80μηι厚左右的PVA (聚乙烯醇系）薄膜使 • 用碘染色並實施交聯處理，對該PVA薄膜施以朝縱或橫 向延伸之定向處理。其結果，在與PVA薄膜延伸方向的 平行方向配列碘配位基，藉此吸收具有此一方向振動的偏 光，形成與延伸方向平行的方向具有吸收軸的連續帶狀形 態的偏光片。爲了製造除的具有優異的均一性及精度外’ 並具有優異光學特性的偏光片，PVA薄膜的延伸方向是以 和薄膜的長方向或橫向—致爲佳。一般’偏光片或包含偏 -23- 201113136 光片的偏光薄膜的吸收軸是和偏光薄膜的長方向平行’偏 光軸是形成和其垂直的橫向。偏光片的厚度爲2 0〜3 0 μηι。 接著，在偏光片的雙面隔著黏著劑層疊有保護偏光片的保 護膜。保護膜一般多使用40〜80μηι厚左右的透明TAC( 三乙酸纖維系）薄膜。從液晶顯示元件薄型化的觀點來看 ，也有僅在偏光片的一面貼合保護膜的場合。最後，在層 疊著保護膜的偏光片的一面，形成有貼合在液晶面板的丙 烯系的黏著層，製造包含黏著層的偏光薄膜11。 偏光薄膜11的厚度通常爲11〇~220μιη左右。偏光薄 膜11的構成，通常是由厚度爲2 0〜3 Ομηι左右的偏光片； 層疊在該偏光片雙面的場合厚度形成爲80~160μιη左右的 保護膜；及形成在貼合於液晶面板W的偏光片一面的厚 度爲10〜3 0 μηι左右的黏著層12所成。偏光薄膜11是在 液晶面板W的表面側與內側藉黏著層1 2貼合使各偏光軸 的交叉角形成90°。因此，例如在製造畫面尺寸爲對角42 吋的大型電視用液晶顯示元件的場合，液晶面板W的厚 度爲1 400μηι左右，偏光薄膜11的厚度爲110〜220μιη， 因此液晶顯示元件整體的厚度是形成1720〜1840μηι左右 。即便如此，液晶顯示元件的厚度仍在2 · 0 mm以下。此 時，具有液晶顯示元件厚度的液晶面板W和偏光薄膜11 的薄片厚度的比例爲10對1.5~3左右。從液晶顯示元件 薄型化的觀點來看，使用僅偏光片的一面貼合有保護膜， 另一面形成有黏著層12的偏光薄膜11的場合，偏光薄膜 11本身的厚度可形成薄至70〜140μιη厚度爲止，因此所製 -24- 201113136 造液晶顯示元件整體的厚度會形成1 540~ 1 680μηι左右。 液晶面板W和偏光薄片11的薄片厚度比例也是10對1〜2 左右" 本發明所涉及液晶顯示元件的連續製造所使用的連續 帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體10是如第3(2)圖 表示。槪略說明含製程的附帶切割線光學薄膜層疊體10 的構造時，偏光薄膜11的不具黏著層12的面上，層疊有 • 可自由剝離之具有黏著面14的60〜70μιη厚左右的表面保 護膜14，形成在貼合於液晶面板w的面的黏著層12上， 層疊有可自由剝離之具有黏著層12保護功能的載體薄膜 13。載體薄膜13及表面保護膜14通常是使用PET (聚對 苯二甲酸乙二醇酯系）薄膜。載體薄膜13通常在液晶顯 示元件的製程中除了保護黏著層12之外，並可作爲偏光 薄膜11的搬運媒體。以下’稱此爲「載體薄膜」。載體 薄膜13及表面保護膜14至液晶顯示元件之製造最終工程 ® 爲止皆是被剝離除去的所謂製程材料。該等是使用在液晶 顯不兀件的製程中，保護偏光薄膜11之不具黏著層的面 不致污染或受損，或者保護黏著層露出的面的薄膜。 偏光薄膜11的2片保護膜的其中—方可以置換成使 用環烯烴系聚合物或TAC系聚合物等具有光學補償功能 的相位差薄膜。並且TAC系等的透明基材上塗抹/定向聚 酯系或聚醯亞胺系等的聚合物材料，也可以賦予固定化後 的層。且貼合在液晶顯示元件背光側的偏光薄膜，也可以 在偏光片背光側的保護膜上貼合提升亮度薄膜附加功能。 -25- 201113136 除此之外，在偏光件的一面貼合TAC薄膜，另一面貼合 PET薄膜等，針對偏光薄膜11的構造提出種種的變更。 在偏光片的單面或雙面層疊有保護膜，貼合於液晶面 板W用的未形成黏著層的偏光薄膜11°上形成黏著層的 方法之一是在貼合於偏光薄膜11°的液晶面板W的面上 層疊形成可轉印黏著層的載體薄膜13的方法。再者，未 形成有黏著層12的偏光薄膜是以偏光薄膜11°和包含黏 著層12的偏光薄膜11區分。具體的轉印方法是如以下說 明。首先，在載體薄膜13的製程中，對層疊在貼合於偏 光薄膜11°的液晶面板面之載體薄膜13的一面施以脫模 處理，其面上塗抹含黏著劑的溶劑，藉著該溶劑的乾燥在 載體薄膜1 3上形成黏著層。接著，例如將包含形成後的 黏著層的載體薄膜13送出，層疊在與此同樣送出的偏光 薄膜11°上，藉此將載體薄膜13的黏著層轉印至偏光薄 膜11°形成黏著層12。上述所形成黏著層的取代上，當然 也可以在貼合於偏光薄膜1 Γ的液晶面板的面上直接塗抹 含黏著劑的溶劑使其乾燥形成黏著層1 2。 表面保護膜14通常具有黏著面。.該黏著面與偏光薄 膜1 1的黏著層1 2不同，在液晶顯示元件的製程中，從偏 光薄膜1 1的薄片剝離除去表面保護膜1 4的薄片時，必須 將表面保護膜14的薄片成一體剝離。這是由於和偏光薄 膜的薄片11—體成形的表面保護膜14的薄片是保護使偏 光薄膜Π的薄片的不具黏著層12的面不致被污染或損傷 等的薄片，而不是轉印在其面上的黏著面。並且，第3( -26- 201113136 3)圖的圖是表示剝離除去表面保護膜14的薄片的狀態。 另外追加說明時，不論是否在偏光薄膜11層疊表面保護 膜14,也可以在偏光薄膜11表側的保護膜表面上，施以 保護液晶顯示元件最外面的硬塗層處理或可獲得含抗眩處 理之防眩等效果的表面處理。 2.使用連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體連續 Φ 製造液晶顯示元件的裝置及方法 (液晶顯示元件的連續製造裝置的槪要） 第4圖是表示連續製造液晶顯示元件的裝置1的圖。 該裝置1，包含用來供應本發明的層疊體捲體所包含的連 續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體10的供應裝置 100。裝置1，並包含：貼合供應後的附帶切割線光學薄 膜層疊體10所切出之偏光薄膜的正常薄片貼合用的液晶 面板的搬運裝置3 00，及控制光學薄膜供應裝置1〇〇及液 # 晶面板的搬運裝置300整體的動作的控制裝置400。將藉 由依序形成之切割線16所區分的偏光薄膜11的正常薄片 Xct及不良薄片Χβ可自由剝離地層疊在偏光薄膜11的黏 著層12的載體薄膜13的附帶切割線光學薄膜層疊體10 送到排除站C，在此將不良薄片χβ從載體薄膜13剝離除 去。接著，將附帶切割線光學薄膜層疊體10送入貼合站 Β，在此僅將從載體薄膜13剝離的正常薄片χα連續貼合 在液晶面板W。液晶面板W是與正常薄片χα的進給同步 地供應至貼合站Β。 -27- 201113136 第5圖是表示將第4圖所示液晶顯示元件連續製造的 工程，即製造步驟的流程圖。並且，第6圖是在連續製造 液晶顯示元件的裝置1中，藉由切割線位置確認裝置1 3 0 讀取在連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體1 〇依 序所形成的切割線1 6而予以影像化的資訊，及必要時所 設置之標記讀取裝置1 2 5讀取的標記或儲存在記憶裝置 420的識別資訊X r，顯示僅將正常薄片Χα貼合在液晶 面板W用的貼合裝置200、不良薄片排除裝置150、液晶 面板搬運裝置3 00及控制裝置400的關係圖。 用來供應連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體 10的供應裝置1〇〇是如第4圖表示，包含：可自由旋轉 地安裝著附帶切割線光學薄膜層疊體1 0的連續捲體的支 架裝置1 1 0 ;包含進給輥的薄膜供應裝置1 20 ;確認切割 線1 6的位置用的切割線位置確認裝置1 3 0 ;根據必要所 設置的標記讀取裝置135:包含以一定速度供應薄膜的積 累輥的速度調整裝置140;將形成在載體薄膜13上的不 良薄片ΧΡ從載體薄膜13剝離後排除用的不良薄片排除 裝置150;包含進給輥的薄膜供應裝置160;將形成在載 體薄膜1 3上的正常薄片Χα從載體薄膜1 3剝離後貼合在 液晶面板W用的貼合裝置200;捲繞載體薄膜13用的載 體薄膜捲繞驅動裝置1 80 ;確認正常薄片χα前端用的邊 緣偵測裝置1 90 ;及算出正常薄片χα的偏移量用的直線 前進位置偵測裝置1 7 0。另外’由於在使用以識別資訊Χγ 作爲識別手段的層疊體捲體之實施形態的場合不需要標記 -28 - 201113136 讀取裝置135，因此須注意第4圖中以點線表示處。同樣 地，由於在使用以標記作爲識別手段的層疊體捲體之實施 形態的場合不需要識別資訊Χγ，因此第4圖中是以點線 表示。以下的圖示也相同。 (連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的構造） 裝配於供應裝置1 00的連續帶狀形態之附帶切割線光 學薄膜層疊體10是以具有與所貼合的液晶面板W的長邊 或短邊的尺寸對應的寬度爲佳。如第3(2)圖表示，附 帶切割線光學薄膜層疊體10是在連續帶狀形態之光學薄 膜層疊體15，包含：在貼合於層疊著透明保護膜的偏光 片之液晶面板W的面上包含黏著層12的偏光薄膜11，及 可自由剝離地層疊於黏著層12的載體薄膜13,在該光學 薄膜層疊體15依序形成切割線所獲得的光學薄膜。在附 帶切割線光學薄膜層疊體10的載體薄膜13上，以藉著切 ® 割線所區分的狀態形成偏光薄膜1 1的薄片。並且如第3 (1)及（2)圖表示，附帶切割線光學薄膜層疊體10可 根據需要，使用在與載體薄膜13相反側的偏光薄膜面具 有黏著面的表面保護膜14更可自由剝離層疊的光學薄膜 層疊體1 5上依序形成切割線，以將偏光薄膜1 1的薄片及 表面保護膜14的薄片一體切.斷的狀態形成於載體薄膜13 上的光學薄膜。 載體薄膜13，原來在附帶切割線光學薄膜層疊體的 製程及液晶顯示元件的製程中，用來保護偏光薄膜11的 -29- 201113136 薄片的黏著層12的脫模薄膜。因此，載體薄膜13在和液 晶面板w貼合前或貼合時，從黏著層1 2剝離，捲繞後去 除。 附帶切割線光學薄膜層疊體1 〇，例如是藉由以下兩 種製造方法所製造。以下大致說明各個製造方法。該等的 製程的詳細是如後述。第1製造方法是將保護膜層疊在偏 光片的至少一面所生成的連續帶狀形態的偏光薄膜1 1 °送 入檢查站Μ。在檢查站Μ中，藉由檢查所供應的連續帶 狀形態的偏光薄膜1 1 °的表面及內部，偵測出偏光薄膜 11 °內存在的缺陷。 檢查站Μ中偵測出缺陷之後，在偏光薄膜1 1 °隔著黏 著層12可自由剝離地層迭有載體薄膜13，製造出光學薄 膜層疊體15。另外，也可以根據需要，製造在與載體薄 膜1 3相反側的偏光薄膜面上可自由剝離地層疊著表面保 護膜14的光學薄膜層疊體15。 接著’將光學薄膜層疊體15送入到切割形成站Ν。 在切割形成站Ν中，切斷裝置在所供應的光學薄膜層豐 體1 5，將寬方向的切割從載體薄膜1 3的相反側切入直達 載體薄膜13的黏著層側的面的深度爲止，依序形成切割 線1 6。切割線1 6的間隔是與對應液晶面板w尺寸的預定 長度相等。在所形成的連續2條切割線1 6之間，根據需 要以區分包含表面保護膜14的薄片的偏光薄膜η。的不 包含缺陷的薄片即正常薄片Χα，及包含缺陷的薄片即不 良薄片Χβ的狀態形成在載體薄膜13上。 -30- 201113136 根據檢查站Μ所偵測出缺陷的位置，在連續製造液 晶顯示元件的裝置1中生成識別不良薄片Χβ與正常薄片 Χα用的識別手段。本發明之一實施形態中，識別手段是 表示賦予光學薄膜層疊體15的缺陷位置的標記。標記是 在光學薄膜層疊體15形成切割線16之前或形成後，藉標 記賦予裝置賦予光學薄膜層疊體15其中之一的位置。本 發明的其他實施形態中，識別手段則是表示薄片爲不良薄 § 片Χ(3或正常薄片Χα的識別資訊Χγ。該識別資訊Χγ，例 如藉著使檢查所偵測出的缺陷位置和所形成切割線的位置 相關聯，生成顯示任意2條切割線之間所存在薄片包含缺 陷的不良薄片Χβ，任意2條切割線之間所存在其他薄片 不包含缺陷的正常薄片Χα的圖表。另外其他的實施形態 中’識別資訊Χγ是使檢查所偵測出的缺陷位置和從切割 線所形成薄片之附帶切割線光學薄膜層疊體10前端的片 數相關聯’生成顯示第幾片的薄片爲不良薄片的圖表。藉 ® 著識別手段的生成’最終可完成連續帶狀形態的附帶切割 線光學薄膜層疊體1 0。亦即，本發明所涉及的附帶切割 線光學薄膜層疊體1〇是在連續製造液晶顯示元件的裝置 1的使用前進行缺陷的檢查，生成識別包含缺陷之不良薄 片Χβ用的手段的薄膜。 第2製造方法是使用連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊 體15’’包含有：事先準備的至少包含黏著層12的偏光 薄膜11’及可自由剝離地層疊在黏著層12的擬載體薄膜 1 3 ’’來製造附帶切割線光學薄膜層疊體1 〇的方法。最初 -31 - 201113136 ，將連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體1 5 ’，例如以連續 捲體的形態配備於製程。接著，從連續捲體送出擬光學薄 膜層疊體1 5 ’，將其供應到剝離站L。在剝離站L中，將 所供應的連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體15’構成的擬 載體薄膜13’，從偏光薄膜11的黏著層12剝離。藉此， 讓包含黏著層12的偏光薄膜11露出。 將包含所露出之黏著層12的偏光薄膜11送入到檢查 站M。在檢查站Μ中，藉由包含所供應黏著層12的偏光 薄膜11的表面及內部的檢査，來偵測出包含黏著層12的 偏光薄膜11內存在的缺陷。在第1製造方法中，檢查缺 陷的對象是形成黏著層12之前的偏光薄膜11°，相對地 在第2製造方法中，其對象是包含黏著層12的偏光薄.膜 1 1。根據檢査站Μ的檢查所偵測出的缺陷位置，與第1 製造方法同樣地，在連續製造液晶顯示元件的裝置1中， 生成識別不良薄片Χβ與正常薄片Χα用的識別手段。 檢查站Μ偵測出缺陷之後，在包含黏著層1 2的偏光 薄膜11，將代替剝離後的擬載體薄膜13’的載體薄膜13 可自由剝離地層疊在黏著層12上，來製造光學薄膜層疊 體15。並可根據需要製造出光學薄膜層疊體15，在與載 體薄膜1 3相反側的偏光薄膜面上可自由剝離地層疊表面 保護膜14。 在此之後，在第1及第2製造方法的其中之一 ’同樣 可經由相同的製成來完成連續帶狀形態的附帶切割線光學 薄膜層疊體1 0。任何一種的製造方法，皆可根據需要包 -32- 201113136 含將連續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層疊體10加工 成連續捲體的工程。 (液晶顯示元件製造的槪要） 連續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層疊體1 0所進 行的液晶顯示元件的製造，大致如下所述。一邊參照第4 圖及第5圖槪說如下。如第4圖表示，附帶切割線光學薄 φ 膜層疊體1〇，例如以連續捲體的形態可自由旋轉地安裝 在支架裝置110。從連續捲體送出的附帶切割線光學薄膜 層疊體10是藉由包含進給輥的薄膜供應裝置120，供應 至判定站A(第5圖的步驟1)。該判定站A設置與控制裝 置400相關聯的CCD攝影機等讀取裝置的切割線位置確 認裝置1 3 0。作爲識別不良薄片Χβ的識別手段使用賦予 標記的附帶切割線光學薄膜層疊體1 0的場合，在判定站 Α更設置讀取所賦予標記用的標記讀取裝置1 3 5。 • 在判定站A中，首先，切割線位置確認裝置130，例 如藉著包含CCD攝影機的光學感測器，來拍攝依序形成 -在附帶切割線光學薄膜層疊體1 0的切割線，將其影像化 ，並由其影像算出切割線1 6的位置（步驟2a)。接著，藉 相對於附帶切割線光學薄膜層疊體1 0的長方向朝橫向所 形成的切割線1 6在載體薄膜1 3上所區分的偏光薄膜1 1 °的薄片判定爲正常薄片薄片Χα或不良薄片χβ(步驟2 b)。 在一實施形態中，首先，藉判定站A的標記讀取裝置1 3 5 讀取對附帶切割線光學薄膜層疊體1 0所預先賦予的標記 -33- 201113136 。並且，標記的讀取順序和切斷位置的確認順序也可以彼 此前後互換。根據所算出切割線1 6的位置和賦予附帶切 割線光學薄膜層疊體1 0後的標記位置，判定賦予標記後 的薄片是否爲不良薄片Χβ。將判定爲不良薄片Χβ的薄片 的位置儲存在記億裝置420，可在之後的工程使用。如上 述藉著切割線位置確認裝置1 3 0進行切割線1 6位置的確 認，可更爲高精度進行後工程之不良薄片Χβ的排出。藉 著不良薄片Χβ排出的精度形成某程度的犧牲，不設置切 割線位置確認裝置1 3 0省略確認切割線1 6位置的工程， 可更爲高速地進行不良薄片Χβ的排除。此時，從光學薄 膜10的送出量算出從附帶切割線光學薄膜層疊體10的前 端或適當的基準位置到標記及切割線的位置爲止的距離， 根據該等的位置來判定不良薄片Χβ的位置。 其他的實施形態是使用顯示位在任意2條切割線1 6 之間的薄片爲不良薄片Χβ或正常薄片Χα的識別資訊Χγ ，來判定不良薄片Χβ的位置。首先，切割線位置確認裝 置130，例如藉著包含CCD攝影機的光學感測器，拍攝 依序形成在附帶切割線光學薄膜層疊體1 0的切割線並予 以影像化，由此影像算出切割線16的位置。接著，從記 憶裝置420讀出與切割線1 6的位置相關聯的識別資訊Χγ ，根據所讀出的識別資訊Χγ與切割線1 6的位置，進行位 在2條切割線16之間的薄片爲不良薄片Χβ或正常薄片 Χα的判定。將判定爲不良薄片Χβ之薄片的位置儲存於記 億裝置42 0，在之後的工程使用。另外，其他的實施形態 -34- 201113136 中’從記憶裝置420讀出與切割線16的位置相關聯的識 別資訊Χγ，根據所讀出的識別資訊Χγ與切割線1 6的位 置，進行形成在附帶切割線光學薄膜層疊體1 0之薄片中 ’由前端起算第幾片的薄片爲不良薄片Χβ的判定。使用 識別資訊Χγ的任意實施形態都是和使用標記的實施形態 的場合相同，可省略藉切割線位置確認裝置1 30確認切割 線16位置的工程。此時，從附帶切割線光學薄膜層疊體 10的前端或適當基準位置的送出量算出各個切割線16的 位置，根據所算出切割線16的位置和識別資訊Χγ.來判定 不良薄片Χβ的位置。 如上述，在判定不良薄片Χβ及正常薄片Χα之後， 將載體薄膜13上的不良薄片Χβ送入到排除站C時，控 制裝置400是根據不良薄片Χβ的判定資訊發出不良薄片 Χβ的排除指示，藉以使調整薄膜供應爲一定速度的速度 調整裝置140與包含進給輥的其他薄膜供應裝置160連動 ，使包含移動輥152的不良薄片排除裝置150動作。藉此 ，不良薄片排除裝置150，如第5圖的步驟7表示，以切 割線16在載體薄膜13上區分的偏光薄膜11的薄片之中 ，僅將判定爲不良薄片Χβ的薄片從載體薄膜1 3剝離、 排除（步驟6)。不良薄片Χβ的排除詳細如後述。 排除站C中，不良薄片Χβ排除後的附帶切割線光學 薄膜層疊體1〇,僅包含殘留在載體薄膜13上連續的2條 切割線1 6之間的正常薄片Χα。僅包含正常薄片X α的附 帶切割線光學薄膜層疊體1 〇是藉著包含進給輥的薄膜供 -35- 201113136 應裝置160及用來捲繞載體薄膜的載體薄膜捲繞驅動裝置 Λ 1 8 0的動作，被送入到貼合站Β。此時’藉由直線前進位 置偵測裝置170，確認在載體薄膜13上所形成正常薄片 X α的長方向及橫向是否與基準線一致。 如第9圖表示，只有載體薄膜13’藉著剝離板201 呈銳角地予以剝離。藉由將載體薄膜13呈銳角剝離’可 使正常薄片Χα的黏著層面逐漸露出。並且’從載體薄膜 13逐漸被剝離的正常薄片Χα的前端邊緣’可藉由邊緣偵 測裝置1 90予以偵測（步驟9)。將正常薄片Χα —邊逐漸 剝離，以一邊調整與液晶面板W的貼合速度供應至貼合 站Β的貼合裝置200爲佳》藉此，使正常薄片Χα前端的 邊緣部分稍微地露出，將依序搬運到該邊緣部份的液晶面 板W前端的邊緣部分對位。再者，第5圖的步驟11至步 驟1 6表示的液晶面板W的搬運及正常薄片Χα與液晶面 板W的貼合的詳細是後述。 (不良薄片Χβ的排除） 針對液晶顯示元件的製造工程中的不良薄片排除裝置 150的具體動作，詳述如下。不良薄片排除裝置15〇是藉 控制裝置400所控制。第7 ( 1 )圖及第7 ( 2 )圖是表示 將附帶切割線光學薄膜層疊體1 0所包含在載體薄膜i 3上 以切割線16所區分的正常薄片χα與不良薄片χβ之中， 將判定爲不良薄片Χβ的薄片從載體薄膜13剝離後排除 的不良薄片排除裝置150。不良薄片排除裝置150皆包含 -36- 201113136 有擬薄膜驅動裝置151及移動輥152。 第7(1)圖的不良薄片排除裝置150，包含有：擬薄 膜驅動裝置151與移動輥152，該擬薄膜驅動裝置151， 具有：將可自由剝離地層疊於載體薄膜13上的不良薄片 Χβ予以黏貼剝離的功能，該移動輥1 52可以使附帶切割 線光學薄膜層疊體1〇的搬運路徑移動。當不良薄片Χβ 到達附帶切割線光學薄膜層疊體1〇的搬運路徑的排除起 • 點時，根據控制裝置400的排除指令使移動輥1 52動作， 藉以使附帶切割線光學薄膜層疊體10的搬運路徑移動， 接觸於擬薄膜驅動裝置151的擬薄膜搬運路徑。載體薄膜 13上的不良薄片Χβ被從載體薄膜13剝離，黏貼在擬薄 膜搬運路徑，並從附帶切割線光學薄膜層疊體10的搬運 路徑排除。當排除不良薄片Χβ時，移動輥152恢復到原 來的狀態，可解除附帶切割線光學薄膜層疊體10的搬運 路徑與擬薄膜驅動裝置151的擬薄膜搬運路徑的接觸狀態 •。 又，第7(2)圖的不良薄片排除裝置〖50是藉由控 制裝置400所發出不良薄片Χβ的排除指示，與包含配備 • 於貼合站Β的一對貼合輥的貼合裝置200連動來作動的裝 置。不良薄片排除裝置150，包含：具有黏貼剝離不良薄 片Χβ的功能的擬薄膜驅動裝置151，及構成擬薄膜驅動 裝置151的擬薄膜搬運路徑的移動輥152。第7(2)圖的 裝置與第7(1)圖的裝置不同的點在於貼合站β中，可 將移動輕152置換成貼合裝置200的一對貼合輥其中—方 -37- 201113136 的貼合輥’該移動輥152是構成與貼合裝置200所包含的 一對貼合輥接近配置。 具體而言，在貼合站B中，控制裝置40 0，當不良薄 片Χβ到達附帶切割線光學薄膜的搬運路徑的終點（即排 除起點）時，使一對貼合輥分離，使移動輥152移動到已 分離的貼合輥之間的間隙爲止，置換成貼合輥其中—方的 輥。藉此，連動移動輥152與貼合輥另一方的輥。此時， 載體薄膜13被載體薄膜捲繞驅動裝置180所捲繞，因此 可將不良薄片Χβ從載體薄膜13上剝離，藉著剝離後的 不良薄片Χβ與貼合輥另一方的輥連動的移動輥152，黏 貼於擬薄膜搬運路徑，不貼合於液晶面板W將其排除。 當排除不良薄片Χβ時，移動輥1 52恢復到原來狀態，回 到置換後之貼合輥其中一方的輥與貼合輥另一方的輥連動 的位置。亦即，解除了不良薄片排除裝置150與貼合裝置 2 00的連動。接著，將載體薄膜13上的正常薄片Χα運送 過來時，貼合裝置.200動作使得置換後的貼合輥其中一方 的輥與貼合輥另一方的輥連動，將正常薄片Χα貼合在液 晶面板。
I (液晶面板w的搬運） 大致說明將液晶面板W供應到貼合裝置20 0用的液 晶面板搬運裝置300，貼合裝置200是貼合藉著切割線1 6 在連續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層疊體1 〇的載體 薄膜13上所區分的正常薄片Χα與液晶面板W。 -38- 201113136 以對角42吋的大型電視用液晶顯示元件爲例時，如 第1圖表示，矩形的液晶面板W大小爲縱長（540〜560) mmx橫寬（ 950〜970) mm。液晶顯示元件的製程中的液晶 面板W，在包含電子零件組裝的配線組裝階段’將其周緣 施以些微的切削加工。或是，液晶面板w是以周緣已實 施切削加工後的狀態搬運過來。液晶面板W是利用供應 裝置而可從收容多數液晶面板的面板匣逐片取出’例如經 P 由洗淨/硏磨後，如第5圖的步驟1 1到步驟16所示’藉 由搬運裝置300調整成一定間隔和一定速度’搬運到與正 常薄片Χα之貼合站B的貼合裝置200爲止。 第8圖是表示在液晶顯示元件的製程中，根據判定爲 正常薄片Χα的相關薄片的資訊，控制裝置400姿勢控制 液晶面板W進行搬運的圖。搬運裝置300包含與正常薄 片Χα的送入同步，將正常面板Χα送入到貼合站B時， 在依序供應貼合站Β的液晶面板W的最終階段，控制液 ® 晶面板W的姿勢用之預對準裝置310、對準裝置320、朝 向貼合位置的搬運裝置330及液晶面板W前端的邊緣部 份偵測用的邊緣偵測裝置3 40所構成.的液晶面板姿勢控制 裝置。 (正常薄片Χα與液晶面板W的貼合） 正常薄片Χα前端的邊緣部分是如第9圖表示，位在 貼合裝置200的上下方向形成分離狀態的一對貼合輥的間 隙，藉由邊緣檢査裝置190來進行確認。正常薄片Χα是 -39- 201113136 以層疊在載體薄膜13的狀態送來，但是相對於載體薄膜 13長方向的進給方向角度Θ，正確送來θ = 0的情況很少。 於是，關於正常薄片Χα的進給方向及橫向的偏移量，例 如是以直線前進位置偵測裝置1 7 0的C C D攝影機拍攝並 予以影像化，使用X、y、Θ來算出所測定的偏移量，並藉 由控制裝置400將所算出的數據儲存在記憶裝置420。 液晶面板W是藉預對準裝置3 1 0依序進行定位，使 液晶面板W的縱長及橫寬分別對準液晶面板W搬運路徑 的進給方向及其橫向。搭載著定位後運送來的液晶面板W 的對準裝置3 20包含藉控制裝置400所控制的驅動裝置進 行轉動的對準台。搭載於對準台的液晶面板W前端的邊 緣部分是藉著邊緣偵測裝置3 40進行偵測·前端邊緣部分 的位置是和儲存於記憶裝置420的基準貼合位置，具體而 言，和使用表示供應的正常薄片Χα姿勢的X、y、Θ所算 出的算出數據核對。例如，使用第1圖表示的液晶面板W 的對準標記，測定前端邊緣部分的位置和基準貼合位置之 間的位置偏移量，運算偏移Θ角，使搭載著液晶面板W 的對準台僅轉動Θ量。接著，使對準台連接於前往貼合站 B的貼合裝置200的搬運裝置3 3 0。液晶面板W是朝向貼 合站B的貼合裝置200藉由搬運裝置330以相同的姿勢運 送。如第8圖表示，液晶面板W前端的邊緣部分在貼合 裝置200中，對準正常薄片Χα前端的邊緣部分並重疊在 一起。在最終階段，對準後的正常薄片X α和液晶面板W 是藉由一對貼合輥進行壓接搬運，完成液晶顯示元件。 -40- 201113136 正常薄片Χα是藉由在張緊狀態下所供應的附帶切割 線光學薄膜層疊體10,以和載體薄膜13形成一體的方式 供應至與液晶面板W的貼合位置爲止。如第9圖表示可 以從載體薄膜13逐漸剝離，因此正常薄片Χα的周緣不 容易造成彎曲或下垂的現象。因此，液晶面板W的姿勢 容易配合正常薄片Χα。這種方法及裝置，在逐片型薄片 必須逐片將剝離片剝離後使黏著層露出吸附搬運到與液晶 ® 面板W的貼合位置爲止，和液晶面板W —邊進行對準貼 合而完成液晶顯示元件的逐片型薄片製造中，即使不能達 成的液晶顯示元件也能實現液晶顯示元件製造的高速化及 高精度化。 更加以附帶說明，構成使用於連續帶狀形態的附帶切 割線光學薄膜層疊體10的光學薄膜層疊體15的偏光薄膜 1 1在以PVA爲基材之偏光片的至少其中一面，較佳爲層 疊透明的保護膜，在另一面形成黏著層12即可。在黏著 ® 層1 2上，可自由剝離地層疊著連續帶狀形態的載體薄膜 13。如上述，在使用逐片型薄片的習知液晶顯示元件製程 中’爲了具備剛性通常是在偏光片的兩面層疊著保護膜作 爲偏光薄膜1 1使用。但是，在使用附帶切割線光學薄膜 層疊體10的液晶顯示元件的連續製程中，偏光薄膜11的 正常薄片Χα是在載體薄膜13上以切割線16所區分的狀 態連續形成，因此在貼合站Β的貼合裝置200中，正常薄 片Χα從載體薄膜13連續地被剝離，依序貼合在液晶面 板W。此時，正常薄片χα可逐漸露出其形態。如使用逐 -41 - 201113136 片型薄片的場合’也不需要逐片將剝離片剝離的工程。正 常薄片Χα前端的邊緣部分，在正常薄片Χα從載體薄膜 13剝離的期間，和每一片送入的液晶面板W的前端邊綠 部分進行連續對準，藉著貼合裝置200的一對貼合輥在被 緊壓的狀態下進行貼合。逐漸露出的正常薄片Χα的周緣 發生撓曲或翹曲的可能性降低。因此，不同於逐片型薄片 ，構成使用於附帶切割線光學薄膜層疊體1〇的光學薄膜 層疊體15的偏光薄膜11，層疊在偏光片的保護膜只要設 置在偏光片的單面即可。 3 .連續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層疊體之製造方法 及製造裝置 一邊參閱圖示，針對本發明所涉及連續帶狀形態之附 帶切割線光學薄膜層疊體的連續捲體與其製造方法及裝置 相關的實施形態說明如下。第1 〇圖及第11圖是分別表示 本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體 10的層疊體捲體之製造方法及裝置相關的第1及第2實 施形態的圖。第12圖及第13圖是表示第1〇圖及第Π圖 所示製造方法及製造裝置之製程即製造步驟的流程圖。 (第1實施樣態的層疊體捲體之製造方法及裝置） 第10圖是表示第1實施形態之製造裝置500的圖。 製造裝置5 00，包含：製造連續帶狀形態的偏光片（以下 ，仍如前述稱爲「偏光片J )的偏光片製造線510;層疊 -42- 201113136 於偏光片的保護膜的製造線520;製造層疊有保護膜的偏 光片單面製造層疊著保護膜的偏光片所構成的連續帶狀形 態的偏光薄膜膜11°的製造線530。製造線530，又包含 有藉由檢査偏光薄膜11°的表面及內部來偵測出內存在缺 陷的偏光薄膜11°的檢査站Μ。 製造裝置5 00,又包含：在檢査後的偏光薄膜11°可 自由剝離地層疊載體薄膜13與表面保護膜14來製造連續 • 帶狀形態的光學薄膜層疊體15的製造線5 40。製造裝置 5 00，又包含：在光學薄膜層疊體15進行寬方向的切割依 序形成切割線16的切割形成站Ν及確認形成於光學薄膜 層疊體1 5之切割線1 6位置的切割線確認站Ρ。藉著在切 割站Ν形成切割線1 6，獲得連續帶狀形態的附帶切割線 光學薄膜層疊體10。作爲識別不良薄片Χβ的識別手段使 用標記之實施形態的場合，製造裝置5 00更包含有對所偵 測出缺陷的位置賦予標記用的標記賦予裝置545。並且， • 製造裝置500也可以包含捲繞最終製造後之附帶切割線光 學薄膜層疊體10加工成連續捲體的製造線550。第12圖 是表示第10圖所示製造裝置500的各工程即製造步驟的 流程圖。 在偏光片的製造線510，例如將從構成偏光片基材的 PVA薄膜的連續捲體，藉由貼合驅動裝置5 60或未圖示的 其他驅動裝置所送出的Ρ V Α薄膜加以染色、交聯、延伸 處理後施以乾燥的工程。在保護膜的製造線520中，將從 構成保護膜基材之通常爲透明的TAC薄膜的連續捲體， -43- 201113136 藉由貼合驅動裝置5 60或未圖示的其他驅動裝置所送出的 透明TAC薄膜實施皂化處理後施以乾燥的工程。再者， 偏光片的兩面層疊保護膜的場合，製造裝置500包含有保 護膜的兩條製造線520、520’（在此，省略製造線5 2 0’） 。製造線520中，也可以在偏光片層疊保護膜之前，在保 護膜表面（非層疊面）進行硬塗層處理或施以防眩處理的 加工處理工程。 偏光薄膜11°的製造線530，進行在偏光片和保護膜 的界面塗抹以聚乙烯醇系樹脂爲主.劑的接著劑，將兩薄膜 利用僅數μπι的接著層予以乾燥接著的工程（第1 2圖的步 驟1)。製造線5 3 0的貼合驅動裝置560，包含一對貼合輥 5 6 1，在每個貼合輥5 6 1 .，裝配有例如組裝有編碼器的測 長裝置5 70，藉此，測量從貼合驅動裝置5 60所送出偏光 薄膜11°的送出量。 檢查站Μ，藉檢査所供應之偏光薄膜11°的表面及內 部來偵測出內存在缺陷的檢査工程。檢查工程是利用根據 影像讀取裝置581讀取的影像數據和根據測長裝置570所 測出從偏光薄膜11°前端之送出量的測長數據，生成偏光 偏光薄膜11°內存在缺陷位置的相關資訊，將其儲存在記 憶裝置720(第12圖的步驟2)。根據以檢查工程所偵測出 的缺陷位置的資訊，在連續製造液晶顯示元件的裝置1中 生成識別正常薄片Χα和不良薄片Χβ用的識別手段（第1 2 圖的步驟11)»針對缺陷位置的相關資訊生成識別手段用 的處理，由於是第1及第2實施形態之共同的技術事項， -44- 201113136 因此根據第1 5圖如後所述。藉著製造線5 3 0獲得檢查完 成的偏光薄膜1 Γ。 製造線540，包含：在以製造線5 3 0所製造檢査完成 的偏光薄膜11°上，可自由剝離層疊載體薄膜13的載體 薄膜貼合裝置5 9 0，及根據需要在與載體薄膜13相反側 的偏光薄膜面上，可自由剝離地層疊表面保護膜14的貼 合裝置640。載體薄膜13是從裝設在支架裝置591的載 # 體薄膜13的連續捲體，藉著脫膜薄膜捲繞驅動裝置592 及捲繞驅動裝置630，以露出可轉印生成之黏著層12的 狀態送出（第12圖的步驟3及步驟4)。接著，載體薄膜 13是藉著載體薄膜590可自由剝離地層疊在偏光薄膜 1Γ(第12圖步驟5)上，製造出包含黏著層12的光學薄膜 層疊體15。 在此雖顯示同時進行黏著層12對偏光薄膜11°的形 成及載體薄膜13對黏著層12層疊的構成，但是當然也可 • 以事先在偏光薄膜11°形成黏著層12。並且，尤其是在將 保護膜層疊於偏光片之前，無論是否在保護膜的表面施以 硬塗層處理或抗眩處理，皆可藉由貼合裝置640，將具有 黏著面的表面保護膜14層疊在偏光薄膜11的與載體薄膜 13相反側的面上（第12圖的步驟8)。表面保護膜14可藉 著脫膜薄膜捲繞驅動裝置及捲繞驅動裝置630,從裝設在 之架裝置的連續捲體送出（第12圖的步驟6及步驟7)。藉 此，所製造的光學薄膜層疊體15在偏光薄膜11的兩面可 自由剝離地層疊著載體薄膜13與表面保護膜14。 -45- 201113136 切割形成站N是使用切斷裝置600，在光學薄膜層疊 體15從與載體薄膜13相反側進行切割直達載體薄膜13 的黏著層側面的深度爲止，以預定的間隔形成切割線（第 12圖的步驟9)。其結果，在光學薄膜層疊體15的載體薄 膜1 3上’藉著切割線！ 6區分的狀態依序形成具有對應液 晶面板W尺寸之預定長度的複數薄片。形成薄片的切割 線1 6的間隔，即對應液晶面板W尺寸的預定長度是根據 系統管理人預先輸入儲存在記憶裝置720。 切割線確認站P包含可確認在光學薄膜層疊體15應 形成切割線1 6的位置（基準位置）與實際形成切割線1 6的 位置之間，是否產生偏移的切斷位置確認裝置610(第12 圖的步驟10)。切斷位置確認裝置610包含夾持切斷裝置 600前後的影像讀取裝置61 1。產生切斷位置偏移的場合 ，修正切斷裝置600的切斷位置或角度。 第14圖是表示包含檢査手法的切斷位置確認裝置 610動作的圖，檢査手法是確認在光學薄膜層疊體15中 ，在相對於其長方向形成於橫向的實際切割線1 6的位置 ，及藉著測長裝置5 70從光學薄膜層疊體1 5的測長數據 所算出應形成切割線的位置（基準線的位置）之間的偏移。 切斷位置確認裝置6 1 0的影像讀取裝置6 11是被配備 於夾持切斷裝置600前後的上游側和下游側。在下游側的 影像讀取裝置6 1 1的下游側，配備有包含於捲繞驅動裝置 630的一對進給輥631，在上游側的影像讀取裝置61 1的 上游側配備有包含積累輥的速度調整裝置660。藉著使該 -46 - 201113136 等裝置連動，光學薄膜層疊體15即使在切斷位置暫時地 停止，也能隨時以張緊狀態供應。 實際所形成切割線1 6的位置是否與切割線1 6的應形 成位置（基準線的位置）一致的確認，可藉由求出光學薄膜 層疊體15的長方向（X方向）和橫向（γ方向）的正確位置來 進行。以在光學薄膜層疊體15夾持形成切割線16的切斷 位置（切斷裝置600的位置）前後的2處，測定實際切割 • 線16的形成位置及光學薄膜層疊體15的邊緣（側端部） 位置和包含應形成切割線位置的各個基準線在X方向及Y 方向的偏移來進行確認爲佳。例如，藉包含CCD攝影機 的影像讀取裝置611，拍攝光學薄膜層疊體15實際形成 切割線的位置和光學薄膜1 5的邊緣位置並予以影像化。 在拍攝範圍內事先分別設定對應該等的基準線，根據所拍 攝影像內的對比度差，來判定該等位置。接著，算出事先 設定的基準線和該等位置的距離（偏移），根據所算出的距 ® 離（偏移），將切斷裝置600的位置及角度，修正爲光學薄 膜層疊體15的長方向前後。 修正光學薄膜層疊體1 5實際形成切割線1 6的位置和 應形成切割線1 6的位置偏移的處理，其中一例是根據以 下表示的順序進行。 (1)藉由影像讀取裝置611來拍攝在連續帶狀形態的光學 薄膜層疊體15的實際形成切割線16的位置（X)和2處的 邊緣位置（Yl、Y2)並予以影像化，根據影像內的對比度差 來測定連續帶狀形態的光學薄膜層疊體1 5之實際形成切 -47- 201113136 割線16的位置（X)及邊緣位置（Y1、Y2)。 (2) 從X方向觀察在上游側且在切斷位置確認裝置160的 攝影範圍內所事先設定沿著Υ方向延伸的基準線，及從X 方向觀察在下游側且在影像讀取裝置611的攝影範圍內事 先所設定沿著Υ方向延伸的基準線的中間位置，事先設 定沿著/方向延伸的切割線基準位置，將表示上游側的 基準線和下游側的基準線之間的距離的數據γ事先儲存於 記憶裝置720。另外，從X方向觀察在上游側及下游側且 在影像讀取裝置611的攝影範圍內事先設定沿著X方向 延伸的基準線。 (3) 根據光學薄膜層疊體15之實際形成切割線16的位置 (X)及邊緣位置（Yl、Υ2)和上述基準線，藉由切斷位置資 訊算出應形成切割線16的位置朝著X方向修正的修正量 α，及朝著切割線16的Υ方向修正角度的修正量δ。修正 量α是所測定的偏移量α，即實際形成切割線1 6的位置 (X)和下游側沿著Υ方向延伸的基準線之間的偏移量α。 修正量δ是根據從光學薄膜層疊體15邊緣位置的距離所 測定的Υ方向2處的偏移量，根據從朝著X方向延伸的 下游側的基準線及上游側基準線的偏移量（β ,及β2)和兩基 準線間的距離數據γ，可由以下的式子算出。 [數學式1] δ = C Ο S 1* - y -- y72+(/31— β2)2 -48- 201113136 (4) 根據所測定、算出的數據，爲了和沿著Y方向延伸的 切割線19應形成位置的基準線一致，將δ量的角度修正 和X方向的α量的位置修正指示給切斷裝置60 0的修正 量（α及δ)儲存在記億裝置720。 (5) 切斷裝置600是藉著控制裝置700，根據所儲存的修正 量（α及δ)，在連續帶狀形態的光學薄膜層疊體15形成下 條切割線1 6時，指示對長方向的修正及對於橫向的角度 修正，可使得與連續帶狀形態的光學薄膜層疊體1 5之應 形成切割線16位置的基準線一致。 (6) 然後，使切斷裝置600動作在連續帶狀形態的光學薄 膜層疊體1 5上形成下條切割線1 6 » 賦予顯示缺陷位置的標記之實施形態的場合，形成切 割線1 6，在切割線1 6的位置確認後的附帶切割線學薄膜 層疊體10的缺陷位置，藉標記賦予裝置545賦予標記（第 1 2圖的步驟1 1 )。標記的賦予也可以對形成切割線丨6之 前的光學薄膜層疊體15來進行。賦予標記的位置可以是 光學薄膜10的長方向及橫向的座標和缺陷相同的位置或 不同的位置，或是光學薄膜的長方向座標和缺陷相同的位 置或大槪相同的位置（即，從光學薄膜的橫向觀看，缺陷 的位置與光學薄膜的端部之間的任一位置）。標記的形狀 只要是所賦予標記的偵測可在連續製造液晶顯示元件的裝 置1中確實進行，則尤其不加以限定。 形成切割線1 6 ’確認出切割線位置的結果，獲得連 -49- 201113136 續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層疊體1 〇。製造裝置 500包含有捲繞附帶切割線光學薄膜層疊體10加工成連 續捲體620之一對進給輥631的捲繞驅動裝置63 0(第12 圖的步驟1 2)。 第1實施形態中，包含黏著層12的偏光薄膜U的製 造，也可在檢查後的偏光薄膜11°的貼合在液晶面板W 的面上直接塗抹包含黏著劑的溶劑使其乾燥。但是，包含 黏著劑12的偏光薄膜11通常是由以下的方式製造。首先 ，在載體薄膜13的製程中，在貼合於液晶面板W的偏光 薄膜11°的面上所層疊的載體薄膜面施以脫模處理，將包 含黏著劑的溶劑塗抹乾燥後製造出包含黏著層12的載體 薄膜1 3。在製造線540的載體薄膜層疊工程中，使用貼 合裝置5 90，藉著將事先製造的包含黏著層12的載體薄 膜13層疊於檢查後的偏光薄膜11°，將黏著層12轉印到 檢查後的偏光薄膜11°，製造出包含黏著層12的偏光薄 膜11。製造線540，也可包含在檢查後的偏光薄膜11°的 與載體薄膜13相反側的面上》藉著貼合裝置640來層疊 表面保護膜14的表面保護膜層疊工程。 (第2實施樣態的層疊體捲體之製造方法及裝置） 第Μ圖是表示根據第2實施形態之製造裝置5 00’的 圖。在此，第Π圖的製造線或裝置，分別對應於第10圖 的製造裝置5 00所包含的製造線或裝置的場合是使用相同 圖號。第13圖是表示第11圖所示裝置5 00的各製造工程 -50- 201113136 ，即製造步驟的流程圖。第2實施形態所涉及的製造裝置 5 〇〇’的特徵爲準備事先所製造連續帶狀形態的擬光學薄膜 層疊體15’。因此，與製造裝置500不同，製造裝置500, 當然不具有偏光片的製造線及保護膜的製造線。並且，也 不需要如第1實施形態的製造線53 0，藉著貼合驅動裝置 5 60的一對貼合輥561，在邊界面塗抹接著劑來乾燥接著 偏光片和保護膜的工程。對應此的線是如第11圖表示爲 擬光學薄膜層疊體1 5 ’的供應線5 3 0 ’。供應線5 3 0 ’包含將 裝設在支架裝置520’的擬光學薄膜層疊體15’的連續捲體 510’送出之包含一對進給輥561’的薄膜供應驅動裝置 5 6 0、 如第11圖表示，製造裝置500’，包含有供應包含黏 著層12的偏光薄膜11的供應線530’。供應線530’也是 相當於包含黏著層12的偏光薄膜11製造用的製造線，以 下，稱此線爲製造線530’。製造線530’雖然包含有與第1 • 實施形態的製造裝置500的檢查站Μ相同的檢査站Μ， 但是和第1實施形態的製造裝置5 00所檢査的對象包含黏 著層12的偏光薄膜11的點不同。製造裝置5 00並與第1 實施形態的製造裝置500同樣地，更包含有製造線540及 製造線5 50。因此，製造裝置500’包含有與第1實施形態 的製造裝置5 00共同的以下各裝置，即包括：含影像讀取 裝置581的檢查裝置580;包含安裝著載體薄膜13的連 續捲體的支架裝置591的載體薄膜貼合裝置590 ;切割形 成站Ν的切斷裝置600 ;切割線確認站Ρ之包含影像讀取 -51 - 201113136 裝置6 1 1的切割線確認裝置6 1 0 ;包含有捲繞所製造附帶 切割線光學薄膜層疊體10的一對進給輥631的捲繞驅動 裝置630;及包含連續資訊處理裝置71〇與記憶裝置720 的控制裝置700。製造裝置500’也可根據需要包含表面保 護膜14的貼合裝置640。作爲識別不良薄片χβ的識別手 段使用標記的實施形態的場合，製造裝置500’更包含對 所偵測出的缺陷位置賦予標記用的標記賦予裝置545。包 含在製造裝置5 00’的裝置中但不包含於第1實施形態的 製造裝置5 00的裝置是包含配備於剝離站L的擬載體薄膜 剝離裝置651的擬載體薄膜捲繞驅動裝置650。 製造裝置500’是將事先所準備的擬光學薄膜層疊體 15’的連續捲體510’安裝在支架裝置520’》擬光學薄膜層 疊體15’是例如在偏光片的單面或兩面層疊著保護膜的偏 光薄膜11上，層疊形成有可轉印的黏著層12的擬載體薄 膜13’。擬光學薄膜層疊體15’在其製程中，以使用包含 可轉印的黏著層的擬載體薄膜13’爲佳。這是因爲在製造 裝置5 00’中，從擬光學薄膜層疊體15’剝離擬光學薄膜 13’時，擬光學薄膜13’的黏著層被轉印至偏光薄膜11， 可製造包含黏著層12的偏光薄膜11。擬光學薄膜層疊體 15’是藉由包含一對進給輥561’的薄膜供應驅動裝置560’ ，供應至包含黏著層12的偏光薄膜11製造用之製造線 5 3 0’的剝離站L(第13圖的步驟1及步驟2)。薄膜供應驅 動裝置560’包含一對進給輥561，，在一對進給輥561’的 其中之—，例如裝配著組裝有編碼器的測長裝置5 7 0 ’藉 -52- 201113136 此測定從薄膜供應驅動裝置5 60’所供應擬光學薄膜層疊 體15’的送出量（第13圖的步驟2)。在剝離站L中，藉擬 載體薄膜捲繞驅動裝置65 0的擬載體薄膜剝離裝置65 1， 從擬光學薄膜層疊體15’將擬載體薄膜13’剝離去除（第13 圖的步驟4)，製造包含轉印後之黏著層12的偏光薄膜11 〇 檢査站Μ是和第1實施形態的場合相同，利用檢査 (I 裝置580進行包含露出之黏著層12的偏光薄膜11的表面 及內部的檢查，藉此偵測出內存在的缺陷。 檢查工程中，控制裝置700是利用影像讀取裝置581 讀取的影像數據和根據測長裝置570所測定包含從黏著層 12的偏光薄膜11前端之送出量的測長數據，生成包含黏 著層的偏光薄膜11內存在缺陷的位置的相關資訊，將其 儲存於記憶裝置72 0 (第13圖的步驟5)。根據檢査工程所 偵測出缺陷位置的相關資訊，在連續製造液晶顯示元件的 • 裝置1中生成正常薄片Χα與不良薄片Χβ識別用的識別 手段（第13圖的步驟14)。 製造線540，包含：將載體薄膜1 3可自由剝離地層 疊在藉製造線5 3 0 ’所製造檢查後之偏光薄膜1 1的載體薄 膜貼合裝置590，及根據需要在與載體薄膜13相反側的 偏光薄膜面上，可自由剝離地層疊表面保護膜14的貼合 裝置640。載體薄膜13是在所層疊的面施以脫膜處理， 藉載體薄膜貼合裝置590可自由剝離地層疊包含著黏著層 12的偏光薄膜11，製造出光學薄膜層疊體15。 -53- 201113136 另外，尤其是在保護膜層疊於偏光片之前，不論是否 在保護膜的表面施以硬塗層處理或抗眩處理，仍可藉著貼 合裝置640將具有黏著面的表面保護膜14可自由剝離地 層疊在與偏光薄膜11的載體薄膜13相反側的面上。藉此 所製造的光學薄膜層疊體15可將載體薄膜13和表面保護 膜14自由剝離地層疊於包含黏著層12的偏光薄膜11的 兩面。以上所製造出的光薄膜層疊體15具有和第1實施 形態之製造裝置500中所製造之光學薄膜1 5相同的構成 〇 製造後的光學薄膜層疊體15是與第1實施形態的製 造裝置5 0 0同樣，進行切割線的形成、切割線位置的確認 及修正、根據需要顯示缺陷位置之標記的賦予，最終製造 出附帶切割線光學薄膜層疊體10的層疊體捲體。 (不良薄片的識別手段的生成） 第1及第2實施形態的任一形態中，檢査站Μ的檢 查裝置580相關聯的控制裝置700皆是根據檢査站μ的 檢査所偵測出的缺陷位置，在連續製造液晶顯示元件的裝 置1中生成識別正常薄片Χα與不良薄片Χβ用的識別手 段。第15圖是表示對連續帶狀形態的光學薄膜層疊體之 切割線的形成與不良薄片Χβ之識別手段生成的圖。 本發明之一實施形態中，識別手段是如第1 5圖所示 ，表示存在於附帶切割線光學薄膜層疊體1 0的缺陷位置 的標記，連續製造液晶顯示元件的裝置1中，賦予標記的 -54- 201113136 薄片被判定爲不良薄片Χβ。標記的賦予是如以下進行。 首先，藉檢査裝置5 80進行所供應偏光薄膜11的缺陷檢 查。從根據影像讀取裝置5 8 1所讀取缺陷的影像數據及根 據測長裝置5 70所測定從偏光薄膜1 1前端之送出量的測 長數據，算出偏光薄膜11內存在缺陷的位置，儲存在記 憶裝置720。隨後，藉著切斷裝置600在載體薄膜13及 根據需要層疊表面保護膜14後的光學薄膜層疊體15形成 (I 切割線1 6，確認切割線1 6的形成位置之後，根據儲存在 記憶裝置720的缺陷位置，以標記賦予裝置545對光學薄 膜層疊體1 5賦予標記。標記的賦予也可以在形成切割線 16之前。並且，本發明中，不論缺陷的位置爲何，都是 以對應液晶面板W尺寸之預定長度相等的間隔形成切割 線1 6，因此也有可能在形成切割線1 6的位置存在有缺陷 的場合。此時，跨兩片薄片賦予標記，其中任一的薄片都 會被判定爲不良薄片ΧΡ。 • 本發明的其他實施形態中，識別手段是顯示形成於附 帶切割線光學薄膜層疊體的薄片之中，哪一薄片爲正 常薄片Χα哪一薄片爲不良薄片Χβ用的識別資訊Χγ。以 下，利用第1 5圖~第1 7圖說明生成識別資訊Χγ的方法 。第16圖是表示包含生成識別資訊Χγ的處理的由偏光薄 膜的供應到切割線形成位置確認爲止步驟的流程圖，第 1 7圖是根據缺陷位置所生成識別資訊Χγ的具體例。另外 ，應注意的是該生成識別資訊Χγ的方法僅爲其中的一例 -55- 201113136 首先，供應偏光薄膜11(步驟1)，在檢査站μ中進行 缺陷檢査。從根據影像讀取裝置581所讀取缺陷的影像數 據和由測長裝置570所測定偏光薄膜1 1的前端送出量的 測長數據，算出偏光薄膜1 1內存在缺陷的位置（步驟2)。 接著，運算所供應偏光薄膜11的缺陷位置和基準位置之 間的距離x(步驟3)。距離X是如第15圖表示，例如是檢 查裝置5 8 0的位置（缺陷位置）和載體薄膜貼合裝置590的 位置（偏光薄膜11的基準位置（第15圖的位置Α))之間的 距離。 接著，運算距離X減去相當於正常薄片的長度xa後 的距離（χ-χα) = χ’>比較X’和χα(步驟4)。相當於偏光薄膜 1 1的正常薄片的長度χα是根據液晶面板W的大小而由系 統管理員來設定，並事先儲存在記憶裝置720。X’ > χα的 場合，在偏光薄膜11上可確保正常薄片Χα。此時的位置 Β爲下一個切斷位置。將此位置Β儲存在記憶裝置720(步 驟6)，偏光薄膜1 1是以張緊狀態僅供應正常薄片長度xa 的量（步驟7)。以下，同樣地重複步驟1〜7，將位置C及 位置D儲存在記憶裝置720。 另一方面，在x’Sxa時，即第15圖表示的Χ’’’$χα 時’無法確保偏光薄膜11的正常薄片Χα。在此場合，在 連續製造液晶顯示元件的裝置1中，生成識別正常薄片 Χα和不良薄片Χβ用的資訊Χγ(步驟5)。識別資訊Χγ例 如第17圖表示，可以是相當於應形成正常薄片Χα之切 割線1 6與位置資訊相關聯的値「0」及相當於應形成不良 -56- 201113136 薄片Χβ之切割線16與位置資訊相關聯的値「1」。將該 等識別資訊Χγ儲存於記憶裝置720，隨後根據需要供裝 置1使用而以其中之一手段傳送到裝置1的記憶裝置420 。識別資訊Χγ也可以透過軟式磁碟、CD-ROM、DVD、 快閃記憶體等的資訊儲存媒體儲存在記憶裝置420，也可 以透過網路或專用電路等直接傳送到記憶裝置420。生成 識別資訊Χγ之後，將下個切斷位置E儲存於記億裝置 • 720。儲存在記憶裝置720的切斷位置的資訊是藉著切斷 裝置600在載體薄膜13及必要時層疊表面保護膜14的光 學薄膜層疊體1 5上形成切割線1 6時使用（步驟8 )，確認 切割線1 6的形成位置（步驟9)。如上述，複數切割線1 6 是以和對應液晶面板W尺寸的預定長度相等的間隔依序 形成在光學薄膜層疊體10上，該等複數切割線16中的其 中2條切割線16之間所區分的薄片存在有缺陷的場合， 可識別其薄片爲不良薄片Χβ。並且，和賦予標記的實施 • 形態同樣，在生成有識別資訊Χγ的實施形態的場合中， 不論缺陷的位置爲何都是以和對應液晶面板W尺寸的預 定長度相等的間隔形成切割線1 6，因此形成切割線1 6的 位置也會有缺陷存在的可能。此時，該切割線1 6的前後 2片薄片是藉著和第15圖表示的處理相同的處理使得顯 示不良薄片Χβ的識別資訊Χγ相關聯，任一的薄片都會 判定爲不良薄片Χβ。 (缺陷檢查裝置的詳細） -57- 201113136 第1 8圖是本發明第2實施樣態所涉及將連續帶狀形 態的擬光學薄膜層疊體15’送入剝離站L，藉著將構成連 續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體15’的擬載體薄膜13’剝 離，製造出包含黏著層12的偏光薄膜11，在包含3個檢 查裝置的檢査站Μ檢查所製造的包含黏著層12的偏光薄 膜1 1，顯示偵測出內存在缺陷用的較佳實施例之一。檢 查裝置並不限於此，當然也可以運用於本發明第1實施樣 態所涉及的檢査站Μ。第18圖並表示在檢查後的包含黏 著層12的偏光薄膜11，載準.薄膜13及依需要在與載體 薄膜13相反側的面上可自由剝離地層疊表面保護膜，來 製造連續帶狀形態的光學薄膜層疊體15的連續捲體的裝 置800 »並且，製造連續帶狀形態的光學薄膜層疊體15 的製造線是在第1及第2實施樣態的製造裝置500及 5 0 0 ’中加以詳述，在此省略其說明。 裝置800，除了包含供應擬光學薄膜層疊體15’的進 給輥8 1 1的薄膜供應裝置8 1 0之外，包含捲繞擬載體薄膜 13’驅動的捲繞驅動裝置820。裝置800，作爲檢查裝置， 包含有第1檢查裝置830、第2檢査裝置840及第3檢查 裝置8 50，該等裝置是藉著包含資訊處理裝置9 1 0及記憶 裝置920的控制裝置900所控制。包含貼合裝置86 1的載 體薄膜供應裝置860及根據需要所設置的包含貼合裝置 8*71的表面保護膜供應裝置870，在檢查後的包含黏著層 12的偏光薄膜Π之露出狀態的黏著層12的面上，分別 在載體薄膜13及依需要在與載體薄膜13相反側的偏光薄 -58- 201113136 膜面上，分別可自由剝離地層疊表面保護膜。藉此，製造 連續帶狀形態的光學薄膜層疊體15。 如第18圖表示，配備在裝置800的檢查裝置有3處 。第1檢査裝置840是在薄膜供應裝置810的進給輥811 和捲繞擬載體薄膜驅動的捲繞裝置820之間，檢查層疊著 擬載體薄膜13’狀態的連續帶狀形態的擬光學薄膜層疊體 。這是藉著光反射來偵測偏光薄膜Π表面的裝置。可偵 φ 測出的缺陷是如第1 9圖表示，僅止於CCD攝影機可偵測 之表面的凹凸及傷痕或斑點。 第2檢查裝置8 40是將光源所照射的光，相對於包含 黏著層12的偏光薄膜11垂直射入，並以光學式檢查單元 受光，以包含黏著層12的偏光薄膜11內存在缺陷成爲影 子偵測出。可偵測出的缺陷是如第1 9圖表示，爲內部的 異物及在內部形成的氣泡等。 第3檢查裝置8 50是利用正交偏光條件的缺陷偵測裝 ® 置。隨著該缺陷檢查裝置的實用化，可以使偏光薄膜的缺 陷檢查精確度迅速地提升。作爲大型液晶顯示元件用的偏 • 光薄膜，一般是傾向於只通過利用正交偏光條件所進行的 缺陷檢查。檢査方法如下。首先，將檢查對象的包含黏著 層12的偏光薄膜11及與其對應的偏光濾光片，配置使該 等的吸收軸形成正交偏光。將來自光源的光照射於該處， 觀察穿透的光。藉此，以包含黏著層12的偏光薄膜11內 存在的缺陷成爲亮點偵測出。第3檢查裝置850是將光源 所發出的光，相對於包含黏著層12的偏光薄膜11呈垂直 -59- 201113136 或傾斜射入，在光學式偵測單元的正前方，設置使偏光濾 光片相對於包含黏著層12的偏光薄膜11的吸收軸使偏光 濾光片的吸收軸形成90°的狀態’將穿透包含黏著層12 的偏光薄膜11的光，以光學式偵測單元受光，可藉此以 包含黏著層12的偏光薄膜11內存在的缺陷成爲亮點偵測 出的檢査方法。可偵測出的缺陷是如第19圖表示，除了 表面的凹凸之外大致包含全部的缺陷。 第1〜第3檢査裝置，雖然都是以包含黏著層12的偏 光薄膜11作爲檢查對象，但是當然也可以使用未形成有 黏著層的偏光薄膜11°，也可以使用其他的光學功能薄膜 〇 本發明雖針對較佳實施形態已有相關記載，但是可理 解的是只要該業者即可在不脫離本發明的範圍內進行各種 變更，而可以均等物來代替上述相關的要素。因此，本發 明並不僅限於所揭示爲了實施本發明所考慮之最佳實施樣 態的特定實施樣態，而是包含屬於申請專利範圍的所有實 施形態。 【圖式簡單說明】 第1圖是畫面尺寸爲對角42吋的大型電視用液晶顯 示元件的典型例子。 第2圖是表示液晶顯示元件的連續製造裝置的槪念圖 ’不中斷地供應連續帶狀形態的光學功能薄膜，經由光學 功能薄膜的缺陷檢査形成不包含缺陷的薄片，將其薄片貼 -60- 201113136 合於液晶面板。 第3圖是表示本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切割 線光學薄膜層疊體的構成圖。 第4圖是表示使用本發明所涉及連續帶狀形態之附帶 切割線光學薄膜層疊體連續製造液晶顯示元件的裝置的圖 〇 第5圖是表示第4圖所示裝置之製造步驟的流程圖。 P 第6圖是使用本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切割 線光學薄膜層疊體連續製造液晶顯示元件的裝置中，表示 藉切割線位置確認裝置所讀取之影像化後的資訊，及附帶 切割線光學薄膜層疊體的供應裝置、液晶面板供應裝置及 控制裝置的關係的模式圖。 第7圖是使用本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切割 線光學薄膜層疊體連續製造液晶顯示元件的裝置中，表示 識別或挑選不良薄片而動作的不良薄片排除裝置的圖。 • 第8圖是使用本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切割 線光學薄膜層疊體連續製造液晶顯示元件的裝置中，表示 將控制姿勢的液晶面板搬運到貼合位置的動作的圖。 第9圖是使用本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切割 線光學薄膜層疊體連續製造液晶顯示元件的裝置中，表示 正常薄片與液晶面板之貼合裝置的圖。 第1 〇圖是槪略表示本發明第1實施形態所涉及之連 續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的製造裝置的圖 -61 - 201113136 第11圖是槪略表示本發明第2實施形態所涉及之連 續帶狀形態之附帶切割線光學薄膜層疊體的製造裝置及方 法的圖。 第12圖爲第10圖所示製造裝置之製造步驟的流程圖 〇 第13圖爲第11圖所示製造裝置之製造步驟的流程圖 〇 第1 4圖是表示本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切 割線光學薄膜層疊體之製造裝置的切斷位置確認裝置的動 作的圖。 第1 5圖是表示切割線在連續帶狀形態的光學薄膜層 疊體的形成與不良薄片的識別手段生成的圖。 第〗6圖是表示本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切 割線光學薄膜層疊體的製造裝置中，包含不良薄片之識別 資訊生成用步驟的實施形態的圖。 第17圖是表示不良薄片的識別資訊的例圖。 第1 8圖是表示本發明所涉及連續帶狀形態之附帶切 割線光學薄膜層疊體的製造裝置之偵測內存在缺陷用的較 佳之一實施例的圖。 第1 9圖是表示缺陷檢查裝置、缺陷種類及缺陷偵測 方法的表。 【主要元件符號說明】 1 :連續製造液晶顯示元件的裝置 -62- 201113136 I 0 :附帶切割線光學薄膜層疊體 II :包含黏著層的偏光薄膜 11°:未形成黏著層的偏光薄膜 1 2 :黏著層 13 :載體薄膜 13’ ：擬載體薄膜 14 :表面保護膜 § 15:光學薄膜層疊體 1 6 :切割線 1〇〇 :供應裝置 1 10 :支架裝置 120、160 :薄膜供應裝置 1 3 0 :切割線位置確認裝置 1 3 5 :標記讀取裝置 140 :速度調整裝置 • 150:不良薄片排除裝置 170 =直線前進位置偵測裝置 180 :載體薄膜捲繞驅動裝置 190 :邊緣偵測裝置 200 :貼合裝置 300 :液晶面板搬運裝置 400 :控制裝置 4 1 〇 :資訊處理裝置 42 0 :記憶裝置 -63 201113136 500 :第1實施樣態所涉及連續帶狀形態的附帶切割線光 學薄膜層疊體的製造裝置 5 00’ ：第2實施樣態所涉及連續帶狀形態的附帶切割線光 學薄膜層疊體的製造裝置 510:偏光片的製造線 510’：擬光學薄膜層疊體的連續捲體 520 :保護膜的製造線 530:偏光薄膜11°的製造線 530’：包含黏著層的偏光薄膜的製造線 5 40:連續帶狀形態的光學薄膜層疊體的製造線 5 45 :標記賦予裝置 550 :連續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層疊體的製造 線 560 :貼合驅動裝置 560’ ：薄膜供應驅動裝置 570、570’ ：測長裝置 580 :檢查裝置 590 :載體薄膜貼合裝置 600 :切斷裝置 6 1 0 :切斷位置確認裝置 620 :所製造連續帶狀形態的附帶切割線光學薄膜層豐體 的連續捲體 63 0 :捲繞驅動裝置 640 :貼合裝置 201113136
650:擬載體薄膜捲繞驅動裝置 700 :控制裝置 7 1 0 :資訊處理裝置 720 :記憶裝置 -65-