CN102043182A - 具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒及制造方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒及其制造方法和制造装置。该光学膜层积体的连续卷筒，用于提高液晶显示元件制造过程中的精度和速度，根本性解决提高成品率的问题。本发明是贴合光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件的装置所使用的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒。具有切割线的光学膜层积体包括进行了进行了事前的缺陷检查的包含粘接层的光学功能膜和向该粘接层可自由剥离地层积的载体膜。具有切割线的光学膜层积体中，相对其长度方向而在直角方向进行切割来依次形成切割线，由此，在载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片。

Description

具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒及制造方法和装置

技术领域

本发明涉及一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒及其制造方法和制造装置，该光学膜层积体的连续卷筒用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件。

背景技术

液晶面板W，如果以画面尺寸为对角42英寸的大型电视机用的液晶面板为例，则如图1所示，是由配置有透明电极或彩色滤光片等的5μm左右的液晶层构成的层状的面板，该液晶层被长(540～560)mm×宽(950～970)mm×厚0.7mm(700μm)左右的矩形玻璃基板夹持。因此，液晶面板W本身的厚度为1.4mm(1400μm)左右。液晶显示元件是通过分别在该液晶面板W的表面侧(目视确认侧)与背面侧(背光侧)贴合通常通称为「偏光板」的光学功能膜11的膜片所生成。

关于液晶显示元件的功能，是与液晶分子的配向方向与偏光片的偏光方向紧密地相关。关于液晶显示元件技术，首先是使用TN(Twisted Nematic)型液晶的LCD(液晶表示装置)达到了实用化，然后是使用VA(VerticalAlignment)型液晶、IPS(Inplane Switching)型液晶等的LCD达到了实用化。虽然省略技术说明，但在使用了TN型液晶面板的LCD中，是由上下两片配向膜以在光轴方向扭转90度的状态将液晶分子配向、夹持，该配向膜在液晶面板的玻璃基板的内侧面配置且具有各自的摩擦方向，当施加电压时，则液晶分子会垂直配向膜而配向。如果要将表示画面左右的图像表示为相同的话，则必须使目视确认侧的配向膜的摩擦方向成为45度(使另一方的配向膜的摩擦方向成为135度)。于是，与之对应，必须使分别贴在液晶面板的表面侧与背面侧的、由偏光膜所形成的膜片中所含有的偏光片的偏光方向也配置成相对于表示画面的纵向或横向倾斜45度方向。

因此，将制造TN型液晶面板的液晶显示元件时所使用的偏光膜的膜片，配合TN型液晶面板的大小，以偏光片的由于在纵向或横向延伸而导致长边或短边相对于配向方向成为45度方向的方式，在利用在纵向或横向的延伸而进行配向处理的偏光片上层积保护膜，从包含有在与液晶面板贴合的面上形成粘接层的偏光膜的光学膜，需要将其作为膜片(シ一ト片)而冲裁或切割加工成矩形。该技术例如公开于专利文献1专利文献2。加工成矩形的光学膜的膜片的宽度，也就是膜片的短边，当然小于光学膜的宽度。这样从光学膜冲裁或切割加工成矩形的膜片被称为“单片型膜片”。

在使用单片型膜片的液晶显示元件的制造过程中，单片型膜片被预先从光学膜冲裁或切割，以粘接层上粘贴有分离片的状态被成形为矩形。成形后的单片型膜片在液晶显示元件的制造工序中被收容在料盘中。被收容在料盘的单片型膜片在向液晶面板W贴合时，例如通过吸附输送装置而一片一片地向与液晶面板的贴合位置输送。在向液晶面板W贴合前，可自由剥离地层积在所形成的粘接层上的分离片被剥离，单片型膜片经由由此被露出的粘接层而与液晶面板W贴合。由于单片型膜片具有挠性，所以贴合时在周边产生的挠曲和翘曲会成为问题。因此，在使用单片型膜片的液晶显示元件的制造工序中，为了使每一片的分离片容易进行剥离动作，能够高精度且迅速地进行与液晶面板的对准位置和贴合，就不得不采用挠曲和翘曲少，容易输送和贴合，且具有一定程度的刚性，四边被整形的单片型膜片。例如单片型膜片不是向偏光片的单面而是向双面层积40～80μm厚度左右的保护膜而利用厚度来获得刚性就是这个缘故。在液晶显示元件制造技术的初期阶段，该光学膜的膜片或该膜片所包含的偏光膜的膜片一般被称为“偏光板”，这在现在也是通称名。

在该TN型液晶显示元件的制造技术中，冲裁或切割加工工序后，不能将成形的膜片原封不动地向液晶面板连续地贴合而作为一连串的工序来制造液晶显示元件。其原因是这时所使用光学膜膜片必须成形为使长边或短边的方向相对于由于偏光片朝纵向或横向的延伸而实现的配向方向(也就是成形前的光学膜的进给方向或与其相交的方向)成为45°，不能将这样成形的膜片以原封不动的相同姿态向液晶面板连续地贴合。如在专利文献1或2中所看到的那样，为了将膜片向液晶面板贴合，就必须利用模具从宽度比液晶面板的长边更长的连续状光学膜、在相对光学膜的长度方向成45°的方向来冲裁成一片一片的膜片，来向膜片与液晶面板的贴合工序供给。或者所使用的连续状光学膜必须是从宽度相当宽的连续状光学膜在相对其长度方向成45°的方向上预先冲裁或切割的长光学膜，或者必须是有成形的一片一片的光学膜膜片相互连接成膜状的长光学膜。这些方法都没有超出单片型膜片制造技术的领域。

专利文献3公开了在VA型液晶、IPS型液晶等实现实用化以前，连续供给含有偏光膜的光学膜，且将形成为需要长度的膜片依次贴合于液晶面板来制造液晶面板的装置。其所公开的技术是，将含有偏光膜(该文献中称为「长形偏光板」)和用来保护偏光膜的粘接层的剥离片的光学膜(该文献中称为「偏光板带体」)，利用剥离片的载体功能来连续地送出，实施「保留剥离片6，而仅将偏光板4和粘接剂层5切割(以下称半切割)的作业」，将中途被切割的偏光膜片的缺陷部分除去，最后将残留在剥离片上的偏光膜片从剥离片予以剥离，并将剥离的膜片连续地贴合于用来构成计算器等小型的表示画面的液晶面板(该文献中称为「液晶单元」)而加工成「偏光膜片和液晶单元的层积产品」。该装置是用来制造使用TN型液晶的LCD的贴标签装置(labeler)，所使用的光学膜，必须是配合液晶面板的宽度将相当宽的光学膜朝45°方向进行切割加工而形成的一片长形光学膜的膜片，或是将一片一片的光学膜的膜片接合成膜状而成的长形光学膜的膜片。因此，该装置的前提是使用配合液晶面板宽度而相对于偏光膜的延伸方向以45°方向进行切割加工而形成的一片长形膜片，所以并无法直接适用于由光学膜来将偏光膜的膜片连续成形，直接贴合于使用VA型液晶或IPS型液晶的液晶面板而制造液晶显示元件的制造装置。

专利文献4与专利文献3同样地，公开了在VA型液晶、IPS型液晶等实现实用化以前，连续供应含有偏光膜的光学膜，且将成形为需要长度的膜片依次贴合在液晶面板来制造液晶显示元件的装置。在此所使用的光学膜的制作顺序为，首先，在宽幅的偏光膜上形成粘接层。从该宽幅的含有粘接层的偏光膜切出规定宽度的长形偏光膜的膜片。将该膜片贴在另外准备的完成了脱模处理的输送介质(也就是载体膜)，而生成光学膜。接着，以相对于长度方向设置在规定间隔的两片刀刃，将该光学膜以残留输送介质的方式在垂直方向半切割，将在输送介质上被切割的光学膜的膜片连续形成，最后，将所形成的膜片依次贴合在输送过来的液晶面板上而制造出液晶显示元件。该装置的前提也是使用配合液晶面板宽度而朝相对于偏光膜的延伸方向成45度的方向切割加工的一片偏光膜的长形膜片，所以并不能直接适用在将偏光膜的膜片从光学膜连续成形，直接贴合在使用VA型液晶或IPS型液晶的液晶面板来制造液晶显示元件的制造装置。

关于使用单片型膜片制造液晶显示元件的自动化技术例如被专利文献5所公开。挠性的单片型膜片由于端部弯曲或下垂等而容易产生挠曲和翘曲，在与液晶面板位置对准和贴合过程中对于精度和速度来说成为大的技术障碍。因此，为了容易进行吸附输送和向液晶面板的位置对准和贴合，就要求单片型膜片有一定程度的厚度和刚性。例如专利文献6、专利文献7或专利文献8所公开的就能够认为是着眼于该技术课题而开发的技术。

相对于TN型液晶面板，VA型液晶面板或IPS型液晶面板中，液晶分子并不是以扭转状态来配向。因此，使用这些液晶面板来制造液晶显示元件时，不须像使用TN型液晶面板那样，基于根据液晶配向状态的视角特性，相对于液晶显示元件的长边或短边方向使偏光膜的膜片的偏光方向成为45°方向。使用这些液晶面板的液晶显示元件，只要分别贴合于液晶面板的表面和背面侧的偏光膜片的偏光轴的方向与液晶面板的长边或短边平行且彼此相差90°的方向即可。在VA型液晶面板和IPS型液晶面板中，在考虑到视角特性的对称性和辨认性的情况下，由于光学膜膜片的偏光轴方向表示对比度最大的方向，所以优选光学膜膜片的光学轴相对液晶面板的长边或短边方向是平行的。因此，这些向液晶面板贴合的光学膜膜片通过将包含向纵向或横向延伸处理过的偏光膜的连续状光学膜连续放出，并相对该连续状光学膜的输送方向在横向上切割，作为具有与光学膜的宽度相同宽度的矩形光学膜膜片而能够连续成形，这是其优点。

基于提升视角特性的观点，大型电视用的显示元件所使用的液晶从TN型液晶转变成VA型液晶或IPS型液晶。伴随这种技术开发环境的变化，如专利文献9所示那样，以这些液晶面板为前提而用于提高生产效率的方案也在开发。专利文献9公开的技术是将连续状光学膜连续放出并配合液晶面板大小来切割光学膜，将切割出的光学膜膜片连续向液晶面板贴合的技术。

然而，由于存在着以下所示的技术课题，液晶显示元件的制造仍然是以单片型膜片的制造为主流。液晶显示元件的制造过程中的重要技术课题，是事前确认出所制造的显示元件的缺陷，而避免发生不良品。大多数的缺陷，主要是起因于连续状光学膜所含的偏光膜内部存在的缺陷。然而，目前要制造出零缺陷的连续状光学膜是非常困难的，因此，要以在层积的各个膜所含的缺陷完全除去的状态来提供连续状光学膜，完全不切合实际。另一方面，即使可目视的伤痕或缺陷只有微量，将包含该伤痕和缺陷的光学膜的膜片当作电视用显示元件的膜片来使用时，基于维持液晶显示元件本身品质的观点而言，是不允许的。若从光学膜成形的膜片的长边约1m左右，在事前无法除去缺陷部位的情况下，依单纯的计算，每1000个所制造的液晶显示元件，会发生多达20-200个有缺陷的不良品。

因此，在目前的状况下，是以让划分为矩形的光学膜的不含缺陷的正常区域适当避开同样划分为矩形的光学膜的含有缺陷的不良区域的方式，而作为正常品的膜片(以下称为“正常膜片”)被从连续状光学膜冲裁或切割。或者是不区别正常区域和不良区域地将光学膜膜片冲裁或切割成矩形，仅在以后的工序中分选出其中的不良品膜片(以下称为“不良膜片”)，而进行排除的处置。因此，由于制品精度和制造速度这两方面的限制，目前处于难以将单片型膜片制造方法的生产效率有效地提高的状况。

本申请人出于即使是少量但也提高单片型膜片的制造生产效率为目的，例如如专利文献10、专利文献11或专利文献12所示那样，提出了偏光膜的事前的缺陷检查装置。这些提案主要包含以下两个工序。第一工序中，首先检查被连续供给的连续状光学膜的偏光膜内部存在的缺陷，将检测出的缺陷位置进行图像处理并将图像处理过的信息代码化(コ一ドイヒ)。然后，从连续状光学膜冲裁单片型膜片时，在作为切割头而残留的端部利用记录装置直接将代码化的信息进行印字，之后卷绕连续状光学膜而生成卷筒体。第二工序中，对从生成的卷筒体放出的连续状光学膜由读取装置来读取被印字的代码化信息，根据判断是否合格的结果来向缺陷部位施加标记。然后，从连续状光学膜冲裁单片型膜片，根据预先施加的标记来将光学膜的单片型膜片分选成正常膜片和不良膜片。这些工序对于单片型膜片制造过程中的成品率的提高是不可缺少的技术手段。

并且，本申请人在专利文献13中有如下制造方法的提案：将从连续状光学膜的层积体卷筒连续放出的连续状光学膜(该文献中称为“偏光板原料卷筒”)所包含的载体膜(该文献中称为“脱模膜”)剥离而使包含粘接层的偏光膜(该文献中称为“偏光板”)露出，在对偏光膜检查内部存在的缺陷后，避开偏光膜的缺陷部位而仅将正常区域冲裁成矩形，使用其他的输送媒体将冲裁的正常膜片(该文献中称为“片状制品”)向其与液晶面板的贴合位置移送。但这并没有实现将从连续状光学膜成形的光学膜的正常膜片通过载体膜送到其与液晶面板的贴合位置。该技术是将暂时切割的单片型膜片向其他输送媒体贴合而向其与液晶面板的贴合位置移送，不得不说这还是没有超出单片型膜片制造领域的液晶显示元件的制造方法。

如专利文献14所示，本申请人提出有关于将光学膜的膜片向液晶面板贴合的方法和装置的发明。该发明是一个划时代的方案，能够从将事前成形的单片型膜片导入液晶显示元件的制造工序而向液晶面板贴合的液晶显示元件制造技术、切换到在液晶显示元件的制造工序中将偏光膜的膜片连续成形而直接向液晶面板贴合的液晶显示元件连续制造技术。

如图2所示，该发明的特点是在液晶显示元件的一连串制造工序中，为了决定偏光膜的不良区域和正常区域的检查而包括：从连续状光学膜将载体膜和表面保护膜暂时剥离的工序、在检查后将代替载体膜、代替表面保护膜再次向连续状光学膜层积的工序。这些工序在液晶显示元件的连续制造过程中是为了一边保护由于载体膜和表面保护膜的剥离而露出的偏光膜的粘接层露出面和没有粘接层的面，一边进行缺陷检查的必须工序。但这些工序不仅使将成形的光学膜的正常膜片向液晶面板贴合的方法和装置整体变相当复杂，而且使工序数增加，使对每个工序的控制变困难。因此，专利文献13记载的发明存在不得不牺牲制造速度的缺点。

本发明以这些相关发明为基础，能够连续制造液晶显示元件。经过伸入探讨并构想在液晶显示元件的制造过程中使制品精度和制造速度飞跃提高，根本性改善制品成品率。

专利文献

专利文献1：日本特开2003-161935号公报

专利文献2：日本特许第3616866号公报

专利文献3：日本特公昭62-14810号公报

专利文献4：日本特开昭55-120005号公报

专利文献5：日本特开2002-23151号公报

专利文献6：日本特开2004-144913号公报

专利文献7：日本特开2005-298208号公报

专利文献8：日本特开2006-58411号公报

专利文献9：日本特开2004-361741号公报

专利文献10：日本特许第3974400号公报

专利文献11：日本特开2005-62165号公报

专利文献12：日本特开2007-64989号公报

专利文献13：日本特开2007-140046号公报

专利文献14：日本特开2009-061498号公报

VA型液晶面板和IPS型液晶面板按照从液晶定向状态得到的视场角特性而没有TN型液晶面板特有的技术制约，即必须将偏光膜的偏光方向相对液晶面板的长边或短边方向设定成45°方向地将偏光膜膜片向液晶面板表侧和反侧的面贴合的技术制约。因此，使用VA型液晶面板和IPS型液晶面板的液晶显示元件在连续状光学膜的供给中，相对送进方向而直角方向地将该光学膜进行切割，通过将切出的偏光膜膜片连续地向液晶面板贴合而能够连续地进行制造。且在连续状光学膜的供给中，使该供给不间断，所包含的由连续状偏光膜的事前的缺陷检查而检测出的包含缺陷的不良膜片和不包含缺陷的正常膜片被各个切出，仅将其中的正常膜片向与液晶面板的贴合位置供给，由此，能够在液晶显示元件的连续制造过程中使制品精度和制造速度飞跃提高，大幅度改善制品成品率。

发明内容

从液晶配向状态所得到的视角特性的角度出发，在VA型液晶面板或IPS型液晶面板中，没有TN型液晶面板特有的技术限制。在TN型液晶面板中，必须以相对于液晶面板的长边或短边的方向让偏光膜的偏光方向成为45度方向的方式，将偏光膜的膜片贴合于液晶面板的表面侧与背面侧。因此，使用VA型液晶面板或IPS型液晶面板的液晶显示元件，在连续状光学膜的供给过程中，通过将光学膜在相对长度方向的直角方向上切割，而使被切割的偏光膜的膜片连续贴合于液晶面板，由此可连续进行制造。在连续状光学膜的供给过程中，不会间断该光学膜的供给，通过事前检查所包含的连续状偏光膜而将包含检出的缺陷的不良膜片和不含缺陷的正常膜片分别切割，仅将其中的正常膜片供给到与液晶面板的贴合位置，由此，能够大幅提高液晶显示元件制造的产品精度及制造速度，且能大幅改善产品的成品率。

本发明的目的在于：将由包含粘接层的连续状偏光膜和可自由剥离地层积在粘接层上的连续状载体膜构成的完成检查的连续状光学膜(下面称为完成检查的连续状光学膜)向贴合位置供给，同时，能够将包含由事前检查检测出的缺陷的不良膜片和不含缺陷的正常膜片分别连续地切割，由此，不会中断完成检查的连续状光学膜的供给，而仅将切割出的正常膜片连续贴合在液晶面板上，由此，大幅提高液晶显示元件制造的产品精度及制造速度，且能大幅改善产品的成品率。

本发明的第一形态提供一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件，该光学膜层积体的连续卷筒的特征在于，在由进行了事前的缺陷检查的包括粘接层的光学功能膜和可自由剥离地层积在该粘接层上的载体膜构成的连续带状形态的光学膜层积体中，相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧达到所述载体膜粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成有切割线，由此，在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片，利用根据所述事前的缺陷检查而检测出的缺陷位置而生成的识别机构，能够在连续制造液晶显示元件的所述装置中识别所述正常膜片和所述不良膜片。

本发明的一实施例中，所述识别机构是在由所述事前的缺陷检查检测出的所述光学膜层积体的缺陷位置施加的标记。在本发明的其他实施例中，所述识别机构是根据所述事前的缺陷检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息。

本发明的第二形态提供一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件。本方法中，最初，在连续带状形态的偏光片的至少一面层积连续带状形态的保护膜来生成光学功能膜。本方法还包含：检查所述光学功能膜的表面和内部来检测所述光学功能膜内部存在的缺陷，经由粘接层向进行过所述检查的所述光学功能膜可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体的步骤。本方法还包括：通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片的步骤。所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成。本方法还包括：在连续制造液晶显示元件的所述装置中根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构的步骤。最后，将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒。

本发明的第三形态提供一种用于在液晶显示元件的连续制造装置使用的制造连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的其他方法。本方法中，最初，准备连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒，该临时光学膜层积体至少包括光学功能膜和可自由剥离地层积在该粘接层上的临时载体膜，所述光学功能膜由连续带状形态的偏光片、在该偏光片的至少一面层积的保护膜以及在一个面上形成的粘接层构成。本方法包含：从准备的连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒一边放出临时光学膜层积体一边将临时载体膜剥离而使包含粘接层的光学功能膜露出；检查露出的包含粘接层的光学功能膜的表面和内部来检测包含粘接层的光学功能膜内部存在的缺陷；向进行过缺陷检查的包含粘接层的光学功能膜的该粘接层可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体的步骤。本方法还包括：通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片的步骤。所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成。本方法还包括：在连续制造液晶显示元件的所述装置中，根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构的步骤。最后，将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状。

本发明第二和第三形态的一实施例中，生成识别机构的所述步骤包括：将表示由所述检查检测出的缺陷位置的标记施加在所述光学膜层积体中的步骤。在本发明第二和第三形态的其他实施例中，生成识别机构的所述步骤包括：根据所述检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，生成为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息的步骤。

本发明的一实施例中，检测光学功能膜内部存在的缺陷通过下面的任一方法或它们的组合来完成：利用反射光主要检查光学功能膜表面的方法，通过透射从光源照射的光而将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影检查的方法，将光学功能膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，并向它们照射来自光源的光并观察透射的光，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的方法。

本发明的第四形态提供一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件。本装置包括：在连续带状形态的偏光片的至少一面层积连续带状形态的保护膜来生成光学功能膜的光学功能膜生成装置；检查光学功能膜的表面和内部来检测光学功能膜内部存在的缺陷的检查装置；经由粘接层向进行过缺陷检查的所述光学功能膜可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体的光学膜层积体生成装置。本装置还包括：通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片的切割线形成装置，所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成。本装置还包括：在连续制造液晶显示元件的所述装置中，根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构的识别机构生成装置。本装置还包括：将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒的卷绕装置。

本发明的第五形态提供一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的其他制造装置。本装置包括装备着临时光学膜层积体的连续卷筒并从该连续卷筒放出连续带状形态的临时光学膜层积体的临时光学膜层积体供给装置，该临时光学膜层积体至少包括光学功能膜和可自由剥离地层积在该粘接层上的临时载体膜，所述光学功能膜由连续带状形态的偏光片、在该偏光片的至少一面层积的保护膜以及在一个面上形成的粘接层构成。本装置包括：从放出的连续带状形态的临时光学膜层积体将临时载体膜剥离而使包含粘接层的光学功能膜露出的临时载体膜剥离装置；检查露出的包含粘接层的光学功能膜的表面和内部而来检测包含粘接层的光学功能膜内部存在的缺陷的检查装置；向进行过缺陷检查的包含粘接层的光学功能膜的该粘接层可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体的载体膜层积装置。本装置还包括：通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片的切割线形成装置，所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成。本装置还包括：在连续制造液晶显示元件的所述装置中根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构的识别机构生成装置。本装置还包括：将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒的卷绕装置。

本发明第四和第五形态的一实施例中，所述识别机构生成装置包括：将表示由所述检查检测出的缺陷位置的标记施加在所述光学膜层积体中的标记施加装置。在本发明第四和第五形态的其他实施例中，所述识别机构生成装置包括：根据所述检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，生成为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息的识别信息生成机构。

本发明的一实施例中，检查装置包括下面的任一装置或它们的组合：利用反射光主要检查光学功能膜表面的第一检查装置，通过透射从光源照射的光而将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影检查的第二检查装置，将光学功能膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，并向它们照射来自光源的光并观察透射的光，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的第三检查装置。

附图说明

图1是画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶显示元件的例；

图2是表示不间断连续带状形态的光学功能膜的供给，经过光学功能膜的缺陷检查而形成不包含缺陷的膜片并将该膜片向液晶面板贴合的液晶显示元件连续制造装置的图；

图3是表示本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体结构的图；

图4是表示使用本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体来连续制造液晶显示元件的装置的图；

图5是图4所示的装置中制造步骤的流程图；

图6是表示在使用本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体来连续制造液晶显示元件的装置中，切割线位置确认装置所读取的图像化信息与具有切割线的光学膜层积体的供给装置、液晶面板供给装置以及控制装置之间的关系的示意图；

图7是表示在使用本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体来连续制造液晶显示元件的装置中，识别或分选不良膜片而进行动作的不良膜片排除装置的图；

图8是表示在使用本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体来连续制造液晶显示元件的装置中，将被控制了姿态的液晶面板向贴合位置输送的动作的图；

图9是表示在使用本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体来连续制造液晶显示元件的装置中，正常膜片与液晶面板的贴合装置的图；

图10是概略表示本发明第一实施例的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置的图；

图11是概略表示本发明第二实施例的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置和方法的图；

图12是图10所示的制造装置中制造步骤的流程图；

图13是图11所示的制造装置中制造步骤的流程图；

图14是表示本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体制造装置中切割位置确认装置的动作的图；

图15是表示向连续带状形态的光学膜层积体形成切割线和生成不良膜片识别机构的图；

图16是表示本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置中包含有生成不良膜片识别信息步骤的实施例的图；

图17是表示不良膜片识别信息的例的图；

图18是表示本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置中用于检测内部存在的缺陷的一优选实施例的图；

图19是表示缺陷检查装置、缺陷种类和缺陷检测方法的表。

附图标记说明

1连续制造液晶显示元件的装置

10具有切割线的光学膜层积体    11包含粘接层的偏光膜

11°未形成粘接层的偏光膜    12粘接层    13载体膜

13′临时载体膜    14表面保护膜    15光学膜层积体

16切割线    100供给装置    110支架装置

120、160膜供给装置    130切割线位置确认装置

135标记读取装置

140速度调整装置    150不良膜片排除装置

170直线前进位置检测装置

180载体膜卷绕驱动装置    190边缘检测装置

200贴合装置    300液晶面板输送装置    400控制装置

410信息处理装置    420存储装置

500第一实施例的、连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置

500′第二实施例的、连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置

510偏光片的生产线    510′临时光学膜层积体的连续卷筒

520保护膜的生产线    530偏光膜11°的生产线

530′包含粘接层的偏光膜的生产线

540连续带状形态的光学膜层积体的生产线

545标记施加装置

550连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的生产线

560贴合驱动装置

560′膜供给驱动装置    570、570′测长装置    580检查装置

590载体膜贴合装置    600切割装置    610切割位置确认装置

620制造的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒

630卷绕驱动装置    640贴合装置    650临时载体膜卷绕驱动装置

700控制装置    710信息处理装置    720存储装置

具体实施方式

本说明书中，将在单面或双面层积有保护膜的偏光片(polarizer)的、向液晶面板W贴合的一面形成有粘接层的膜称为偏光膜，将从该偏光膜成形为矩形的被通称为“偏光板”的膜片称为“偏光膜膜片”或单称为“膜片”。在从包含与表面保护膜和载体膜成一体的偏光膜的光学膜切出膜片时，需要将膜片与“偏光膜膜片”区别的情况下则将其称为“光学膜膜片”，将从其所包含的表面保护膜或载体膜切出的膜片称为“表面保护膜膜片”或“载体膜膜片”。

以下，一边参照附图一边详细说明本发明的实施例。

1、连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的结构

图3(1)表示连续带状形态的光学膜层积体15，图3(2)是表示本发明一实施例的层积体卷筒所包含的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10的图。具有切割线的光学膜层积体10是通过对连续带状形态的光学膜层积体15相对长度方向而在直角方向依次形成切割线16而生成。光学功能膜11(在图3中与偏光膜11相当。以下，除了需要与其他结构区别时之外，则将光学功能膜称为“偏光膜”)的膜片以由所形成的切割线16划分的状态形成在载体膜13上。向液晶面板W贴合的偏光膜11膜片是，以由连续的两条切割线16划分的状态依次形成在载体膜13上的多个膜片中不包含偏光膜缺陷的膜片。连续的两条切割线16的间隔与和液晶面板W的尺寸对应的规定长度相等。图3(3)是将该膜片向液晶面板W贴合而制造的液晶显示元件的图。

具有切割线的光学膜层积体10是对连续带状形态的光学膜层积体15依次形成切割线16而生成的层积体，而连续带状形态的光学膜层积体15包括：包含粘接层12的偏光膜11、向粘接层12可自由剥离地层积的载体膜13、向载体膜13相反侧的偏光膜的面可自由剥离地层积的表面保护膜14。偏光膜11的膜片和表面保护膜14的膜片以被切割线成一体切割的状态形成在具有切割线的光学膜层积体10的载体膜13上。

偏光膜11通常是在两面层积有透明保护膜的连续带状形态的偏光片的其中一面，形成有与液晶面板W贴合的丙烯酸类的粘接层12的膜。载体膜13是具有保护偏光膜11的粘接层12的功能的膜，可自由剥离地层积于粘接层12。偏光膜11例如经过以下的步骤制造。首先是将厚度为50～80μm左右的PVA(聚乙烯醇类)膜使用碘染色并实施交联处理，对该PVA膜施以朝纵向或横向延伸的配向处理。结果是在与该PVA膜的延伸方向平行的方向配向碘配位基，由此吸收具有此方向振动的偏光，形成具有与延伸方向平行的方向的吸收轴的连续带状形态的偏光片。为了制作除具有优异的均一性及精度外，还具有优异光学特性的偏光片，优选该PVA膜的延伸方向和膜的纵向或横向一致。一般，偏光片或包含偏光片的偏光膜的吸收轴和偏光膜的长度方向平行，偏光轴是形成为与其垂直的横向。偏光片的厚度是20～30μm。然后，经由粘接剂向偏光片的双面层积保护偏光片的保护膜。保护膜多使用40～80μm厚度左右的透明TAC(三醋酸纤维素类)膜。从液晶显示元件薄型化的观点出发，也有仅向偏光片的一面贴合保护膜的情况。最后，在层积有保护膜的偏光片的一面形成向液晶面板贴合的丙烯酸类粘接层，制造包含粘接层的偏光膜11。

偏光膜11的厚度通常为110～220μm左右。偏光膜11通常是由厚度为20～30μm左右的偏光片、层积在该偏光片两面的情况下厚度形成为80～160μm左右的保护膜、形成在偏光片的贴合于液晶面板W的一面的厚度为10～30μm左右的粘接层12构成。偏光膜11在液晶面板W的表面侧与背面侧隔着粘接层12贴合，并使各偏光轴的交叉角形成为90°。因此，例如在制造画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶显示元件的场合，液晶面板W的厚度为1400μm左右，偏光膜11的厚度为110～220μm，因此液晶显示元件整体的厚度是形成为1720～1840μm左右。即便如此，液晶显示元件的厚度也在2.0mm以下。此时，液晶面板W和偏光膜11的厚度占液晶显示元件厚度的比例为10比1.5～3左右。从液晶显示元件薄型化的观点来看，使用仅偏光片的一面贴合有保护膜、另一面形成有粘接层12的偏光膜11的场合，偏光膜11本身的厚度可形成为薄至70～140μm的厚度，因此所制造的液晶显示元件整体的厚度形成为1540～1680μm左右，液晶面板W和偏光膜11的膜片的厚度比例也是10比1～2左右。

本发明的、用于连续制造液晶显示元件的连续带状形态且具有切割线的光学膜10如图3(2)所示。包含制造步骤在内概略说明具有切割线的光学膜10的构造时，则为在偏光膜11的没有粘接层12的面上，层积有可自由剥离的具有粘接面14的60～70μm厚度左右的表面保护膜14，在形成于与液晶面板W贴合的面上的偏光膜11的粘接层12上，层积有可自由剥离的具有保护该粘接层12的功能的载体膜13。载体膜13及表面保护膜14通常是使用PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯类)膜。载体膜13通常在液晶显示元件的制造步骤中除了保护粘接层12之外，并可作为偏光膜11的输送介质。以下，称此为「载体膜」。载体膜13及表面保护膜14至液晶显示元件的制造最终步骤为止皆是被剥离除去的所谓制造步骤材料。分别是用于在液晶显示元件的制造过程中，保护偏光膜11的没有粘接层的面不致污染或受损，或者保护粘接层露出的面的膜。

对于偏光膜11，可以将其两个保护膜中的一个保护膜替换成使用环烯烃类聚合物(シクロオレフイン系ポリマ一)或TAC类聚合物等的具有光学补偿功能的相位差膜。并且，也可以在TAC类等透明基材上施加涂覆、配向聚酯类或聚酰亚胺类等聚合物材料而固定化后形成的层。贴合在液晶显示元件的背光侧的偏光膜中，也可以在偏光片的背光侧的保护膜上贴合提升亮度膜来附加功能。除此之外，在偏光片的一面贴合TAC膜，在另一面贴合PET膜等，针对偏光膜11的构造提出有各种的变更方案。

在偏光片的单面或双面层积有保护膜且未形成用于贴合于液晶面板W的粘接层的偏光膜11°上，形成该粘接层的方法之一，是在偏光膜11°的贴合于液晶面板W的面上层积可转印形成粘接层的载体膜13。另外，为了将未形成粘接层12的偏光膜与包含粘接层12的偏光膜11相区别，将其称为偏光膜11°。具体的转印方法如以下说明。首先，在载体膜13的制造步骤中，对层积在偏光膜11°的与液晶面板贴合的面上的载体膜13的一面施以脱模处理，在该面上涂覆含粘接剂的溶剂，通过该溶剂的干燥在载体膜13上生成粘接层。接着，例如将包含生成后的粘接层的载体膜13连续放出，层积在与之同样连续放出的偏光膜11°上，由此将载体膜13的粘接层转印至偏光膜11°上形成粘接层12。代替上述形成的粘接层，当然也可以在偏光膜11°的与液晶面板贴合的面上直接涂覆含粘接剂的溶剂使其干燥形成粘接层12。

表面保护膜14通常具有粘接面。该粘接面与偏光膜11的粘接层12不同，在液晶显示元件的制造过程中，从偏光膜11的膜片剥离除去表面保护膜14的膜片时，必须将该粘接面与表面保护膜14的膜片一体地剥离。这是由于和偏光膜11的膜片一体成形的表面保护膜14的膜片是保护偏光膜11的膜片的没有粘接层12的面不致被污染或损伤等的膜片，而不是转印在其面上的粘接面。并且，图3(3)是表示剥离除去表面保护膜14的膜片后的状态。另外追加说明，不论是否在偏光膜11上层积表面保护膜14，也可以在偏光膜11表侧的保护膜表面上，施以保护液晶显示元件最外面的硬涂层处理或可获得含抗眩处理的防眩等效果的表面处理。

2、使用连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体来连续制造液晶显示元件的装置和方法

(连续制造液晶显示元件的装置的概要)

图4是表示连续制造液晶显示元件的装置1的图。装置1包括用于供给本发明的层积体卷筒所包含的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10的供给装置100。装置1还包括有将从供给的具有切割线的光学膜层积体10切出的偏光膜的正常膜片进行贴合的液晶面板输送装置300、控制光学膜供给装置100和液晶面板输送装置300的整体动作的控制装置400。包含有被依次形成的切割线16划分的偏光膜11的正常膜片Xα和不良膜片Xβ以及向偏光膜11的粘接层12可自由剥离地层积的载体膜13的具有切割线的光学膜层积体10被送到排除工位C，在此将不良膜片Xβ从载体膜13剥离、除去。接着，具有切割线的光学膜层积体10被送到贴合工位B，在此仅将从载体膜13剥离的正常膜片Xα连续地向液晶面板W贴合。与正常膜片Xα的输送同步地向贴合工位B供给液晶面板W。

图5是表示连续制造图4所示的液晶显示元件的工序即制造步骤的流程图。图6是表示在连续制造液晶显示元件的装置1中，在连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10中依次形成的切割线16被切割线位置确认装置130读取并被图像化的信息、被根据需要设置的标记读取装置125读取的标记或存储在存储装置420的识别信息Xγ、与用于仅将正常膜片Xα向液晶面板W贴合的贴合装置200、不良膜片排除装置150、液晶面板输送装置300和控制装置400之间关系的图。

如图4所示，用来供给连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10的供给装置100具有：可自由旋转地安装着具有切割线的光学膜层积体10的连续卷筒的支架装置110；包含进给辊的膜供给装置120；用于确认切割线16位置的切割线位置确认装置130、根据需要设置的标记读取装置135、将膜的供给调整成一定速度的包含有张紧辊的速度调整装置140、用于将在载体膜13上形成的不良膜片Xβ从载体膜13剥离并排除的不良膜片排除装置150、包含进给辊的膜供给装置160、将在载体膜13上形成的正常膜片Xα从载体膜13剥离并向液晶面板W贴合的贴合装置200、用于卷绕载体膜13的载体膜卷绕驱动装置180、用于确认正常膜片Xα前端的边缘检测装置190、用于计算正常膜片Xα的偏差量的直线前进位置检测装置170。在使用将识别信息Xγ作为识别机构的层积体卷筒的实施例的情况下则不需要标记读取装置135，请注意图4中以虚线表示的情况。同样地，在使用将标记作为识别机构的层积体卷筒的实施例的情况下则不需要识别信息Xγ，因此在图4中以虚线表示。以下的附图也同样。

(连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的结构)

被装备在供给装置100的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10优选具有与要贴合的液晶面板W的长边或短边尺寸对应的宽度。如图3(2)所示，具有切割线的光学膜层积体10是对连续带状形态的光学膜层积体15依次形成切割线而得到的光学膜，而光学膜层积体15包括：向层积有透明保护膜的偏光片的与液晶面板W贴合的面形成粘接层12的偏光膜11、向粘接层12可自由剥离地层积的载体膜13。偏光膜11的膜片以被切割线划分的状态形成在具有切割线的光学膜层积体10的载体膜13上。如图3(1)和图3(2)所示，具有切割线的光学膜层积体10也可以是如下的光学膜，即，根据需要在与载体膜13相反一侧的偏光膜面上可自由剥离地层积具有粘接面的表面保护膜14而形成光学膜层积体15，在其中依次形成切割线，以在载体膜13上将偏光膜11的膜片和表面保护膜14的膜片一体切割的状态形成。

载体膜13本来在具有切割线的光学膜层积体制造工序和液晶显示元件的制造工序中是用于保护偏光膜11的膜片的粘接层12的脱模膜。因此，在与液晶面板W贴合前或贴合时，载体膜13被从粘接层12剥离、卷绕并除去。

具有切割线的光学膜层积体10例如能够由以下两种制造方法制造。以下概述各自的制造方法。它们的制造工序的详细情况后述，第一制造方法中，最初一边在偏光片的至少一个面层积保护膜一边将生成的连续带状形态的偏光膜11°送到检查工位M，在检查工位M通过检查被供给的连续带状形态的偏光膜11°的表面和内部来检测偏光膜11°的内部存在缺陷。

在检查工位M进行缺陷检测后，经由粘接层12向偏光膜11°可自由剥离地层积载体膜13，制造光学膜层积体15。根据需要也可以制造在载体膜13相反侧的偏光膜面可自由剥离地层积有具有粘接面的表面保护膜14的光学膜层积体15。

接着将光学膜层积体15送进切口形成工位N。在切口形成工位N中，切割装置对供给的光学膜层积体15而从载体膜13的相反侧施加宽度方向的切口，直到载体膜13的粘接层侧的面的深度，以依次形成切割线16。切割线16的间隔和与液晶面板W的尺寸对应的规定长度相等。在形成的连续的两条切割线16之间在载体膜13上以被划分的状态形成有：根据需要而包含表面保护膜14膜片的偏光膜11°的不包含缺陷的膜片即正常膜片Xα和包含缺陷的膜片即不良膜片Xβ。

根据在检查工位M检测出的缺陷位置，在液晶显示元件的连续制造装置1中生成用于识别不良膜片Xβ和正常膜片Xα的识别机构。本发明的一个实施例中，识别机构是向光学膜层积体15施加的表示缺陷位置的标记。标记是在向光学膜层积体15形成切割线16前或形成后由标记施加装置施加在光学膜层积体15的任一位置。在本发明的其他实施例中，识别机构是表示膜片是不良膜片Xβ还是正常膜片Xα的识别信息Xγ。该识别信息Xγ例如与由检查而检测出的缺陷位置和形成的切割线位置相关联，作为表示任意两条切割线之间存在的膜片是包含缺陷的不良膜片Xβ、任意两条切割线之间存在的其他膜片是不包含缺陷的正常膜片Xα的标志而生成。在其他实施例中，识别信息Xγ也可以与由检查而检测出的缺陷位置和切割线所形成的膜片的从具有切割线的光学膜层积体10前端开始的片数相关联，作为表示第几片膜片是不良膜片的标志而生成。通过生成识别机构而最终完成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10。即本发明的具有切割线的光学膜层积体10是，在液晶显示元件的连续制造装置1中在使用前进行缺陷检查，生成有用于识别包含缺陷的不良膜片Xβ的机构的膜。

第二制造方法是使用事前准备的连续带状形态的临时光学膜层积体15′来制造具有切割线的光学膜层积体10的方法，光学膜层积体15′包括：至少包含粘接层12的偏光膜11和向粘接层12可自由剥离地层积的临时载体膜13′。最初例如将连续带状形态的临时光学膜层积体15′以连续卷筒的形态配备在制造工序。然后从连续卷筒来放出临时光学膜层积体15′并向剥离工位L供给。在剥离工位L中将构成被供给的连续带状形态的临时光学膜层积体15′的临时载体膜13′从偏光膜11的粘接层12剥离。由此，使包含粘接层12的偏光膜11露出。

被露出的包含粘接层12的偏光膜11被送到检查工位M。在检查工位M通过检查被供给的包含粘接层12的偏光膜11的表面和内部来检测包含粘接层12的偏光膜11的内部存在的缺陷。在第一制造方法中，检查缺陷的对象是形成粘接层12之前的偏光膜11°，相对地在第二制造方法中，其对象是包含粘接层12的偏光膜11。根据在检查工位M的检查而检测出的缺陷位置，与第一制造方法同样地在连续制造液晶显示元件的装置1中，生成用于识别不良膜片Xβ和正常膜片Xα的识别机构。

在检查工位M进行缺陷检测后，对于包含粘接层12的偏光膜11，代替被剥离的临时载体膜13′而向粘接层12可自由剥离地层积载体膜13，制造光学膜层积体15。根据需要也可以制造在载体膜13相反侧的偏光膜的面上可自由剥离地层积有表面保护膜14的光学膜层积体15。

这以后，第一和第二制造方法都经过同样的制造工序来完成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10。哪种方法都能够包括根据需要而将连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10加工成连续卷筒的工序。

(液晶显示元件制造的概要)

利用连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10制造液晶显示元件的过程大体如下，一边参照图4和图5一边概述。如图4所示，具有切割线的光学膜层积体10例如以连续卷筒的形态自由旋转地被装配在支架装置110上。将从连续卷筒放出的具有切割线的光学膜层积体10通过包含进给辊的膜供给装置120向判断工位A供给(图5的步骤1)。在判断工位A设置有与控制装置400相关联且具有CCD照相机等读取装置的切割线位置确认装置130。在作为识别不良膜片Xβ的识别机构而使用施加标记的具有切割线的光学膜层积体10时，在判断工位A还要设置用于读取施加的标记的标记读取装置135。

在判断工位A，首先优选切割线位置确认装置130例如利用包含CCD照相机的光学传感器来对具有切割线的光学膜层积体10中依次形成的切割线进行摄影，并图像化，从该图像来计算切割线16的位置(步骤2a)。接着判断具有切割线的光学膜层积体10中，由相对长度方向而在横向形成的切割线16在载体膜13上划分的偏光膜11膜片是正常膜片Xα还是不良膜片Xβ(步骤2b)。在一个实施例中，首先由判断工位A的标记读取装置135来读取预先向具有切割线的光学膜层积体10施加的标记。读取标记的顺序和确认切割位置的顺序可以前后相互掉换。根据计算的切割线16的位置和向具有切割线的光学膜层积体10施加的标记的位置来判断施加了标记的膜片是否为不良膜片Xβ。将被判断为不良膜片Xβ的膜片位置存储在存储装置420，在以后的工序使用。通过这样由切割线位置确认装置130来确认切割线16的位置，能够在随后的工序更高精度地将不良膜片Xβ排出。若不设置切割线位置确认装置130，则尽管某种程度牺牲了不良膜片Xβ的排出精度，但通过省略确认切割线16位置的工序而能够更高速地进行不良膜片Xβ的排除。这时，从光学膜10的放出量来计算从具有切割线的光学膜层积体10的前端或合适的基准位置到标记或切割线位置的距离，根据这些位置来判断不良膜片Xβ的位置。

在其他实施例中，利用表示位于任意两条切割线16之间的膜片是不良膜片Xβ还是正常膜片Xα的识别信息Xγ来判断不良膜片Xβ的位置。首先，切割线位置确认装置130例如利用包含CCD照相机的光学传感器来对具有切割线的光学膜层积体10中依次形成的切割线进行摄影，并图像化，从该图像来计算切割线16的位置。接着，从存储装置420读出与切割线16的位置相关联的识别信息Xγ，根据读出的识别信息Xγ和切割线16的位置来判断位于两条切割线16之间的膜片是不良膜片Xβ还是正常膜片Xα。将被判断为不良膜片Xβ的膜片位置存储在存储装置420，在随后的工序使用。在另一其他实施例中，将与切割线16的位置相关联的识别信息Xγ从存储装置420读出，根据读出的识别信息Xγ和切割线16的位置来判断在具有切割线的光学膜层积体10中形成的膜片中从前端开始第几片膜片是不良膜片Xβ。使用识别信息Xγ的任一实施例也与使用标记的实施例的情况同样，也能够省略由切割线位置确认装置130来确认切割线16位置的工序。这时，根据从具有切割线的光学膜层积体10的前端或合适的基准位置的放出量来计算各切割线16的位置，根据计算的切割线16的位置和识别信息Xγ来判断不良膜片Xβ的位置。

在如上那样判断了正常膜片Xα和不良膜片Xβ后，当将载体膜13上的不良膜片Xβ送到排除工位C时，控制装置400按照不良膜片Xβ的判断信息而发出排除不良膜片Xβ的指示，使将膜供给调整到一定速度的速度调整装置140与包含进给辊的其他膜供给装置160连动，使包含移动辊152的不良膜片排除装置150动作。由此，如图5的步骤7所示那样，不良膜片排除装置150仅将载体膜13上被切割线16划分的偏光膜11膜片中被判断为不良膜片Xβ的膜片从载体膜13剥离并排除(步骤6)。排除不良膜片Xβ的详细情况后述。

在排除工位C将不良膜片Xβ排除了的具有切割线的光学膜层积体10在载体膜13上仅包含留在连续的两条切割线16之间的正常膜片Xα。仅包含正常膜片Xα的具有切割线的光学膜层积体10利用包含进给辊的膜供给装置160和用于卷绕载体膜的载体膜卷绕驱动装置180的动作而被送到贴合工位B。这时，由直线前进位置检测装置170来确认在载体膜13上形成的正常膜片Xα的长度方向和横向是否与基准线一致。

如图9所示，仅载体膜13通过剥离板201而被成锐角地剥离。通过将载体膜13剥离成锐角而能够使正常膜片Xα的粘接层面逐渐露出。从载体膜13逐渐被剥离的正常膜片Xα的前端边缘被边缘检测装置190检测(步骤9)。优选一边逐渐剥离正常膜片Xα一边调整成与液晶面板W的贴合速度来向贴合工位B的贴合装置200供给。由此，使正常膜片Xα的前端边缘部分稍微露出，使依次输送来的液晶面板W的前端边缘部分与该边缘部分对准位置。如从图5的步骤11到步骤16所示的液晶面板的输送和正常膜片Xα与液晶面板W的贴合的详细情况则后述。

(不良膜片Xβ的排除)

详述在液晶显示元件的制造工序中不良膜片排除装置150的具体动作。不良膜片排除装置150被控制装置400控制。图7(1)和图7(2)表示在具有切割线的光学膜层积体10包含的载体膜13上由切割线16划分的正常膜片Xα和不良膜片Xβ中，将判断为不良膜片Xβ的膜片从载体膜13剥离并排除的不良膜片排除装置150。不良膜片排除装置150都包含有虚设膜(ダミ一フイルム)驱动装置151和移动辊152。

图7(1)的不良膜片排除装置150包括有：虚设膜驱动装置151，其具有将可自由剥离地层积在载体膜13上的不良膜片Xβ粘贴剥离的功能；移动辊152，其使具有切割线的光学膜层积体10的输送路径移动。在不良膜片Xβ到达具有切割线的光学膜层积体10的输送路径的排除始点时，移动辊152按照控制装置400的排除指令进行动作，由此，具有切割线的光学膜层积体10的输送路径移动并与虚设膜驱动装置151的虚设膜输送路径接触。载体膜13上的不良膜片Xβ被从载体膜13剥离，并向虚设膜输送路径粘贴，被从具有切割线的光学膜层积体10的输送路径排除。当不良膜片Xβ被排除，则移动辊152恢复到原来的状态，具有切割线的光学膜层积体10的输送路径与虚设膜驱动装置151的虚设膜输送路径的接触状态被解除。

图7(2)的不良膜片排除装置150是通过控制装置400发出的不良膜片Xβ的排除指令而与在贴合工位B配置的包含一对贴合辊的贴合装置200连动动作的装置。不良膜片排除装置150包括具有粘贴和剥离不良膜片Xβ功能的虚设膜驱动装置151和构成虚设膜驱动装置151的虚设膜输送路径的移动辊152。图7(2)的装置与图7(1)的装置的不同点在于，在贴合工位B中，能够将与贴合装置200所包含的一对贴合辊接近配置的移动辊152与贴合装置200的一对贴合辊中的一个贴合辊进行置换。

具体来说，在贴合工位B，在不良膜片Xβ到达具有切割线的光学膜的输送路径终点(即排除开始点)时，控制装置400使一对贴合辊分离，使移动辊152移动到分离的贴合辊之间的间隙，与贴合辊中的一个辊置换。由此，移动辊152与贴合辊中的另一个辊连动。这时，由于利用载体膜卷绕驱动装置180卷绕载体膜13，所以不良膜片Xβ被从载体膜13上剥离，被剥离的不良膜片Xβ通过与贴合辊中的另一个辊连动的移动辊152而贴附在虚设膜输送路径，不与液晶面板W贴合而被排除。当不良膜片Xβ被排除，则移动辊152恢复到原来的状态，被置换的贴合辊中的一个辊返回到与贴合辊中的另一个辊连动的位置。即、不良膜片排除装置150与贴合装置200的连动被解除。然后，在载体膜13上的正常膜片Xα被送来时，贴合装置200使被置换的贴合辊中的一个辊与贴合辊中的另一个辊连动动作而将正常膜片Xα向液晶面板贴合。

(液晶面板W的输送)

大致说明用来将液晶面板W供给到贴合装置200的液晶面板输送装置300。该贴合装置200将在连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10的载体膜13上由切割线16划分的正常膜片Xα与液晶面板W贴合。

以对角42英寸的大型电视用液晶显示元件为例，如图1所示，矩形的液晶面板W的大小为长(540～560)mm×宽(950～970)mm。液晶显示元件的制造过程中的液晶面板W，在包含电子零件的组装的配线组装阶段，其周缘被施以些许的切削加工。或是，液晶面板W是以周缘已实施切削加工后的状态被输送来。液晶面板W是利用供给装置而从收容多个液晶面板的面板零件库逐片取出，例如经由洗净/研磨处理后，如图5的步骤11～步骤16所示，通过输送装置300调整成一定间隔和一定速度，而被输送到与正常膜片Xα的贴合工位B的贴合装置200。

图8是表示在液晶显示元件的制造工序中，根据关于被判断为正常膜片Xα的膜片的信息，控制装置400控制液晶面板W的姿态并进行输送的图。输送装置300包含液晶面板姿态控制装置，该液晶面板姿态控制装置是在将正常膜片Xα送到贴合工位B时，在与正常膜片Xα的送入同步地向贴合工位B依次供给液晶面板W的最终阶段，用于控制液晶面板W的姿态的装置，由预对准装置310、对准装置320、向贴合位置的输送装置330、检测液晶面板W前端边缘部分的边缘检测装置340构成。

(正常膜片Xα与液晶面板W的贴合)

如图9所示，正常膜片xα前端的边缘部分出现在贴合装置200的一对贴合辊在上下方向处于分离状态下的间隙中，通过边缘检查装置190来进行确认。正常膜片Xα是以层积在载体膜13上的状态送来，但相对于载体膜14长度方向，进给方向的角度θ＝0这样的正确输送的情况很少。于是，关于正常膜片xα的进给方向及横向的偏移量，例如是用直线前进位置检测装置170的CCD照相机拍摄并予以图像化，使用X、y、θ来算出所测定的偏差量，并通过控制装置400将算出的信息存储于存储装置420。

液晶面板W通过预校准装置310依次进行定位，使其长及宽分别对准液晶面板W输送路径的进给方向及与其正交的方向。搭载着定位后运送来的液晶面板W的校准装置320包含通过控制装置400所控制的驱动装置而进行转动的校准台320。校准台上所搭载的液晶面板W的前端边缘部分通过边缘检测装置340进行检测。前端边缘部分的位置与存储于存储装置420的基准贴合位置进行对照，具体而言，是和使用代表供应的正常膜片xα的姿态的x、y、θ算出的算出数据进行对照。例如，使用图1所示的液晶面板W的校准标记，测定前端边缘部分的位置和基准贴合位置之间的位置偏移量，计算偏移θ角，而使搭载着液晶面板W的校准台仅转动θ。接着，使校准台连接于朝向贴合工位B的贴合装置200的输送装置330。液晶面板W通过输送装置330朝向贴台工位B的贴合装置200以同样的姿态运送。如图8所示，在贴合装置200中，液晶面板W的前端边缘部分，对准正常膜片Xα的前端边缘部分且重叠在一起。在最终阶段，对准后的正常膜片Xα和液晶面板W通过一对贴合辊进行压接输送，而完成液晶显示元件。

正常膜片Xα通过在张紧状态下供应的具有切割线的光学膜层积体10，以和载体膜13形成为一体的方式供应至其与液晶面板W的贴合位置。如图9所示，由于其能够在此从载体膜13渐渐剥离，因此正常膜片xα的周缘不容易出现弯曲或下垂的现象。因此，液晶面板W的姿态容易与正常膜片xα相匹配。这种方法及装置能够实现在单片型膜片的制造过程中根本无法实现的液晶显示元件制造的高速化及液晶显示元件的高精度化。在采用制造单片型膜片时，必须将每个单片型膜片的剥离片剥离后使粘接层露出，吸附输送至其与液晶面板w的贴合位置，和液晶面板W对准位置并贴合而完成液晶显示元件。

进而附加说明的是，用于连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10的、构成光学膜层积体15的偏光膜11，在以PVA为基材的偏光片的至少一面，层积优选为透明的保护膜，在另一面形成粘接层12即可。在粘接层12上，可剥离自如地层积着连续带状形态的载体膜13。如上所述，在使用单片型膜片的现有的液晶显示元件制造过程中，作为膜片，为了使其具备刚性而通常使用在偏光片的两面层积着保护膜的偏光膜11。然而，在使用具有切割线的光学膜层积体10的连续制造液晶显示元件的过程中，偏光膜11的正常膜片xα，是在载体膜13上以被切割线16划分的状态连续形成，所以在贴合工位B的贴合装置200中，正常膜片xα从载体膜13连续剥离，依次贴合于液晶面板W。此时正常膜片xα能够逐渐露出其形态。当然，像使用单片型膜片的情况那样逐片将剥离片剥离的步骤是不需要的。正常膜片Xα的前端边缘部分，在正常膜片Xα从载体膜13剥离的期间，是和每一片送入的液晶面板W的前端边缘部分连续进行对准，通过贴合装置200的一对贴合辊在被紧压的状态下进行贴合。于是，逐渐露出的正常膜片Xα的周缘发生挠曲或翘曲的可能性降低。因此，不同于单片型膜片，用于具有切割线的光学膜层积体10的构成光学膜层积体15的偏光膜11中，层积在偏光片上的保护膜只要设在偏光片的单面即可。

3、连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造方法和制造装置

以下，一边参照附图一边说明与本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒及其制造方法和装置相关的实施例。图10和图11是分别表示关于本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10的层积体卷筒的制造方法和装置的第一和第二实施例的图。图12和图13是表示图10和图11所示的制造方法和装置中的制造工序即制造步骤的流程图。

(第一实施例的层积体卷筒的制造方法和装置)

图10是第一实施例的制造装置500的示意图。制造装置500包含：用来制造连续带状形态的偏光片(以下仍如前述简称为「偏光片」)的偏光片生产线510、层积于偏光片的保护膜的生产线520、在偏光片的单面层积保护膜而形成的层积有保护膜的偏光片构成的连续带状形态的偏光膜11°的生产线530。生产线530还包括有：通过检查偏光膜11°的表面及内部，来检查出内部存在的缺陷的偏光膜11°的检查工位M。

制造装置500还包括在检查完成的偏光膜11°上可自由剥离地层积载体膜13与表面保护膜14，来制造连续带状形态的光学膜层积体15的生产线540。制造装置500进而包括：切口形成工位N，其向光学膜层积体15加上宽度方向的切口以依次形成切割线16；切割线确认工位P，其确认向光学膜层积体15形成的切割线16的位置。通过在切口形成工位N形成切割线16而得到连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10。在作为识别不良膜片Xβ的识别机构而使用标记的实施例的情况下，制造装置500还包括有用于向检测出的缺陷位置施加标记的标记施加装置545。制造装置500最后可以包含有将所制造的连续带状形态的具有切割线的光学膜10卷绕而加工成连续卷筒的生产线550。图12是表示图10所示制造装置500的各工序即制造步骤的流程图。

在偏光片的生产线510中，例如进行如下步骤：将通过贴合驱动装置560或未图示的其他驱动装置而从作为偏光片的基材的PVA膜的连续卷筒送出的PVA膜实施染色、交联、延伸处理后施以干燥。在保护膜的生产线520中，进行如下步骤：将通过贴合驱动装置540或未图示的其他驱动装置而从作为保护膜的基材的通常为透明的TAC膜的连续卷筒送出的透明TAC膜实施皂化处理后施以干燥。当在偏光片的两面层积保护膜时，制造装置500包含有保护膜的两条生产线520、520’(这里将生产线520’省略)。在生产线520中也可进行在将保护膜层积于偏光片之前，在保护膜表面(非层积面)实施硬涂层处理、防眩处理的加工处理步骤。

偏光膜11°的生产线530中包含：在偏光片和保护膜的界面涂覆以聚乙烯醇类树脂为主剂的粘接剂，将两膜利用仅数μm的粘接层予以干燥粘接的步骤(图12的步骤1)。生产线530的贴合驱动装置560包含一对贴合辊561，在每个贴合辊561上装备有例如组装有编码器的测长装置570，由此测量从贴合驱动装置560放出的偏光膜11°的放出量。

在检查工位M，进行检查被供给的偏光膜11°的表面和内部以检测内部存在的缺陷的检查工序。在检查工序中，使用图像读取装置581的图像数据和测长装置570根据来自偏光膜11°前端放出量的测长数据而生成关于偏光膜11°内部存在的缺陷的位置的信息，并存储在存储装置720中(图12的步骤2)。根据在检查工序检测出的关于缺陷位置的信息而在液晶显示元件的连续制造装置1中生成用于识别正常膜片Xα和不良膜片Xβ的识别机构(图12的步骤11)。用于根据有关缺陷位置的信息而生成识别机构的处理在第一和第二实施例是共通的技术事项，所以根据图15后述。利用生产线530能够得到检查完的偏光膜11°。

生产线540包括：向生产线530制造的检查完的偏光膜11°可自由剥离地层积载体膜13的载体膜贴合装置590、根据需要而在载体膜13相反侧的偏光膜面可自由剥离地层积表面保护膜14的贴合装置640。利用脱模膜卷绕驱动装置592和卷绕驱动装置630，载体膜13被从支架装置591上安装的载体膜13的连续卷筒以使能够转印地形成的粘接层12露出的状态放出(图12的步骤3和步骤4)。接着，利用载体膜贴合装置590而将载体膜13可自由剥离地向偏光膜11°层积(图12的步骤5)，制造包含粘接层12的光学膜层积体15。

在此，表示了同时向偏光膜11°形成粘接层12和向粘接层12层积载体膜13的结构，但当然也可以事前在偏光膜11°上形成粘接层12。特别是在将保护膜向偏光片层积前，与保护膜的表面是否实施过硬涂层处理或防眩光处理无关，也可以通过贴合装置640将具有粘接面的表面保护膜14向偏光膜11的与载体膜13相反侧的面层积(图12的步骤8)。利用脱模膜卷绕驱动装置和卷绕驱动装置630，表面保护膜14被从支架装置安装的连续卷筒放出(图12的步骤6和步骤7)。这样制造的光学膜层积体15成为在偏光膜11的两面可自由剥离地层积有载体膜13和表面保护膜14。

在切口形成工位N，使用切割装置600向光学膜层积体15进行切割，将切口从载体膜13的相反侧一直形成到载体膜13的粘接层侧的面的深度，以按规定的间隔形成切割线(图12的步骤9)。其结果是在光学膜层积体15的载体膜13上以被切割线16划分的状态依次形成具有与液晶面板W的尺寸对应的规定长度的多个膜片。预先由系统管理者输入形成膜片的切割线16的间隔即与液晶面板W的尺寸对应的规定长度，存储在存储装置720。

切割线确认工位P包括切割位置确认装置610，来确认应该向光学膜层积体15加入切割线16的位置(基准位置)与实际加入的位置之间是否出现偏差(图12的步骤10)。切割位置确认装置610夹住切割装置600而在前后包含图像读取装置611。在出现偏差的情况下校正切割装置600的切割位置或角度。

图14是表示包括检查机构的切割位置确认装置610动作的图，该检查机构确认对光学膜层积体15相对其长度方向而在横向实际形成切割线16的位置与根据光学膜15的测长数据由测长装置570计算的应该加入切割线的位置(基准线的位置)之间的偏差。

从光学膜的长度方向看，切割位置确认装置610的图像读取装置611前后隔着切割装置600而设置在上游侧和下游侧。在下游侧图像读取装置611的下游侧设置有卷绕驱动装置630包含的一对进给辊631，在上游侧图像读取装置611的上游侧设置有包含张紧辊的速度调整装置660。利用这些装置的连动，即使光学膜层积体15在切割位置被暂时停止，也能够一直以张紧状态被供给。

实际形成切割线16的位置与应该加入切割线16的位置(基准线的位置)是否一致的确认，能够通过求出光学膜层积体15的长度方向(X方向)和横向(Y方向)的正确位置来进行。优选如下进行确认：即、在隔着光学膜层积体15中形成切割线16的切割位置(切割装置600的位置)的前后两个部位，测量实际切割线16的形成位置和光学膜层积体15的边缘(侧端部)的位置与包含应该加入切割线的位置的各个基准线在X方向和Y方向上的偏差。例如利用包含CCD照相机的图像读取装置611来对光学膜层积体15中实际加入切割线的位置和光学膜层积体15的边缘位置进行摄影，并图像化。在摄影范围内预先设置有与它们对应的基准线。由摄影图像内的对比度差来判断它们的位置。然后计算预先设定的基准线与它们位置的距离(偏差)，根据计算的距离(偏差)在光学膜层积体15的长度方向的前后校正切割装置600的位置和角度。

用来修正在光学膜层积体15中、实际的切割线16的形成位置和应形成切割线16的位置之间的偏差的处理，其中一例是依以下表示的顺序进行。

(1)通过图像读取装置611，来拍摄在连续带状形态的光学膜层积体15中实际切割线16的形成位置(X)和两处边缘位置(Y1、Y2)并予以图像化，根据图像内的对比度差来测定连续带状形态的光学膜层积体15的实际切割线16的形成位置(X)及边缘位置(Y1、Y2)。

(2)从X方向观察在上游侧且在切割位置确认装置160的拍摄范围内事先设定的沿Y方向延伸的基准线、与从X方向观察在下游侧且在图像读取装置611的拍摄范围内事先设定的沿Y方向延伸的基准线之间的中间位置，事先设定沿Y方向延伸的切割线的基准位置，将代表上游侧的基准线和下游侧的基准线之间的距离数据的γ事先存储于存储装置720。另外，从X方向观察在上游侧及下游侧且在图像读取装置611的拍摄范围内事先设定沿X方向延伸的基准线。

(3)根据光学膜层积体15中的实际切割线16的形成位置(X)及边缘位置(Y1、Y2)和上述基准线，通过切割位置信息，算出将应形成切割线16的位置朝X方向修正的修正量α、和朝切割线16的Y方向作角度修正的修正量δ。修正量α是所测定的偏差量α，也就是实际切割线16的形成位置(X)和下游侧的沿Y方向延伸的基准线之间的偏差量α。修正量δ是根据与光学膜层积体15的边缘位置的距离而测定的Y方向的两处偏差量，根据与沿X方向延伸的下游侧的基准线及从上游侧的基准线起算的偏差量(β1及β2)和两基准线间的距离数据γ，可由以下的式子算出。

[公式1]

$\mathrm{\δ}={\cos }^{-1}\left\{\frac{\mathrm{\γ}}{\sqrt{{\mathrm{\γ}}^2+{({\mathrm{\β}}_1-{\mathrm{\β}}_2)}^2}}\right\}$

(4)为了和应形成沿Y方向延伸的切割线19的基准位置一致，根据所测定、算出的数据，将用来指示给切割装置600的修正量(α及δ)即角度修正量δ和X方向的位置修正量α存储于存储装置720。

(5)切割装置600通过控制装置700，根据所存储的修正量(α及δ)，指示长度方向的修正及相对于长度方向的横向的角度修正，以能对准连续带状形态的光学膜层积体15的应形成切割线16的位置的基准线。

(6)然后，使切割装置600动作，以在连续带状形态的光学膜层积体15上形成下一条切割线16。

在施加表示缺陷位置的标记的实施例的情况下，形成切割线16，在切割线16的位置被确认后的具有切割线的光学膜层积体10的缺陷位置，由标记施加装置545来施加标记(图12的步骤11)。标记的施加也可以在切割线16形成前的光学膜层积体15中进行。施加标记的位置能够设定成是光学膜10的长度方向和横向的坐标与缺陷是同一位置或大致同一位置，或者光学膜的长度方向坐标与缺陷是同一位置或大致同一位置(即从光学膜的横向看，缺陷位置与光学膜端部之间的某一位置)。只要在连续制造液晶显示元件的装置1能够可靠地进行被施加的标记的检测，标记的形状就没有特别的限定。

形成切割线16并确认切割线位置的结果是能够得到连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体10。制造装置500包括有卷绕驱动装置630，其包含有一对进给辊631，并且卷绕具有切割线的光学膜层积体10而加工成连续卷筒620(图12的步骤12)。

在第一实施方式中，包含粘接层12的偏光膜11的制造，也可在检查完成的偏光膜11°的向液晶面板W贴合的面上，直接涂布包含粘接剂的溶剂而使其干燥。可是，包含粘接剂12的偏光膜11，通常是由以下方式所制造。首先，在载体膜13的制造过程中，在与向液晶面板W贴合的偏光膜11°的面上层积的载体膜面上实施脱模处理，将包含粘接剂的溶剂涂布然后干燥，而制造出包含粘接层12的载体膜13。在生产线540的载体膜层积步骤中，使用贴合装置590，通过将预先制造的包含粘接层12的载体膜13层积于检查完成的偏光膜11°，将粘接层12转印到检查完成的偏光膜11°，制造出包含粘接层12的偏光膜11。在生产线540中，也可包含：在检查完成的偏光膜11°的与载体膜13相反侧的面上，通过贴合装置640，来层积表面保护膜14的表面保护膜的层积步骤。

(第二实施例的层积体卷筒的制造方法和装置)

图11是表示第二实施例的制造装置500′的图。在此，图11的生产线或装置在与图10的制造装置500所包含的生产线或装置分别对应的情况下则使用同一附图标记。图13是表示图11所示装置500的各制造工序即制造步骤的流程图。第二实施例的制造装置500′的特点是准备事前制造的连续带状形态的临时光学膜15′。因此，与制造装置500不同，制造装置500′当然不具有偏光片的生产线和保护膜的生产线。且也不需要第一实施例的生产线530那样的利用贴合驱动装置560的一对贴合辊561来向界面涂布粘接剂而将偏光片和保护膜干燥粘接的工序。如图11所示，与之对应的路径是临时光学膜层积体15′的供给线530′。供给线530′包括有膜供给驱动装置560′，其包含一对进给辊561′，将安装在支架装置520′的临时光学膜层积体15′的连续卷筒510′放出。

如图11所示，制造装置500′包括供给包含粘接层12的偏光膜11的供给线530′。由于供给线530′也相当于是制造包含粘接层12的偏光膜11的生产线，所以以下将该线称为生产线530′。生产线530′包括与第一实施例的装置500所包括的检查工位M同样的检查工位M，但与第一实施例的生产线530不同之点在于检查的对象是包含粘接层12的偏光膜11。制造装置500′与第一实施例的制造装置500同样地还包括生产线540和生产线550。因此，制造装置500′包括与第一实施例的制造装置500共通的以下各装置，即：包含图像读取装置581的检查装置580、包含安装有载体膜13的连续卷筒的支架装置591的载体膜贴合装置590、切口形成工位N的切割装置600、包含切割线确认工位P的图像读取装置611的切割线确认装置610、卷绕制造的具有切割线的光学膜层积体10且包含一对进给辊631的卷绕驱动装置630、包含连续信息处理装置710和存储装置720的控制装置700。制造装置500′根据需要能够包括表面保护膜14的贴合装置640。在作为识别不良膜片Xβ的识别机构而使用标记的实施例的情况下，制造装置500′还包括有用于向检测出的缺陷位置施加标记的标记施加装置545。包含在制造装置500′中而不包含在第一实施例的制造装置500中的装置是：配置在剥离工位L的包含临时载体膜剥离装置651的临时载体膜卷绕驱动装置650。

制造装置500′中，将事前准备的临时光学膜层积体15′的连续卷筒510′安装在支架装置520′。临时光学膜层积体15′例如是在偏光片的单面或双面层积了保护膜的偏光膜11上层积形成有能够转印的粘接层12的临时载体膜13′而形成的结构。在该制造工序中，临时光学膜层积体15′优选使用包含能够转印的粘接层的临时载体膜13′。这是由于在制造装置500′中当将临时载体膜13′从临时光学膜层积体15′剥离时，临时载体膜13′的粘接层向偏光膜11转印而制造包含粘接层12的偏光膜11。利用包含一对进给辊561′的膜供给驱动装置560′，将临时光学膜层积体15′向制造包含粘接层12的偏光膜11的生产线530′的剥离工位L供给(图13的步骤1和步骤2)。膜供给驱动装置560′包含一对进给辊561′，在一对进给辊561′的某处例如装备有组装着编码器的测长装置570′，由此，测量从膜供给驱动装置560′供给的临时光学膜层积体15′的放出量(图13的步骤2)。在剥离工位L利用临时载体膜卷绕驱动装置650的临时载体膜剥离装置651将临时载体膜13′从临时光学膜层积体15′剥离除去(图13的步骤4)，制造包含被复制的粘接层12的偏光膜11。

在检查工位M与第一实施例的情况同样地，利用检查装置580检查被露出的包含粘接层12的偏光膜11的表面和内部，以检测内部存在的缺陷。

在检查工序中，控制装置700使用图像读取装置581的图像数据和测长装置570，根据来自包含粘接层12的偏光膜11前端放出量的测长数据，生成关于包含粘接层的偏光膜11内部存在缺陷位置的信息，并存储在存储装置720(图13的步骤5)。根据在检查工序检测出的关于缺陷位置的信息而在液晶显示元件的连续制造装置1中生成用于识别正常膜片Xα和不良膜片Xβ的识别机构(图13的步骤14)。

生产线540包括：在由生产线530′制造的检查完的偏光膜11上可自由剥离地层积载体膜13的载体膜贴合装置590、根据需要而在载体膜13相反侧的偏光膜面可自由剥离地层积表面保护膜14的贴合装置640。在载体膜13的层积的面上实施脱模处理，并利用载体膜贴合装置590可自由剥离地向包含粘接层12的偏光膜11层积，制造光学膜层积体15。

特别是在将保护膜向偏光片层积前，与保护膜的表面是否实施过硬涂层处理或防眩光处理无关，也可以通过贴合装置640将具有粘接面的表面保护膜14向偏光膜11的载体膜13相反侧的面可自由剥离地层积。这样制造的光学膜层积体15成为在包含粘接层12的偏光膜11的两面可自由剥离地层积有载体膜13和表面保护膜14。这样制造的光学膜层积体15与在第一实施例的制造装置500中制造的光学膜层积体15具有同样的结构。

与第一实施例的制造装置500同样地，对所制造的光学膜层积体15进行切割线的形成、切割线位置的确认和校正、根据需要施加表示缺陷位置的标记，最终制造具有切割线的光学膜层积体10的层积体卷筒。

(不良膜片识别机构的生成)

在第一和第二实施例的任一个中，都是与检查工位M的检查装置580相关联的控制装置700根据通过检查工位M的检查而检测出的缺陷位置而在液晶显示元件的连续制造装置1中生成用于识别正常膜片Xα和不良膜片Xβ的识别机构。图15是表示向连续带状形态的光学膜层积体形成切割线和生成不良膜片Xβ的识别机构的图。

本发明的一实施例中，如图15所示，识别机构是表示具有切割线的光学膜层积体10中存在的缺陷位置的标记，在液晶显示元件的连续制造装置1中，判断被施加了标记的膜片是不良膜片Xβ。如下进行标记的施加。首先检查装置580对被供给的偏光膜11进行缺陷检查。按照图像读取装置581的缺陷图像信息和测长装置570根据来自偏光膜11前端的放出量的测长数据来计算偏光膜11内部存在缺陷的位置，存储在控制装置700中。然后，对层积有载体膜13和根据需要层积有表面保护膜14的光学膜层积体15，由切割装置600形成切割线16，在确认切割线16的形成位置后，根据存储装置720存储的缺陷位置，由标记施加装置545向光学膜层积体15施加标记。标记的施加也可以在形成切割线16之前进行。在本发明中，由于与缺陷的位置无关地按与液晶面板W的尺寸对应的规定长度相等的间隔来形成切割线16，所以也考虑到在形成有切割线16的位置存在有缺陷的情况。在这种情况下，就成为跨越两个膜片施加标记，判断哪个膜片都是不良膜片Xβ。

在本发明的其他实施例中，识别机构是用于表示具有切割线的光学膜层积体10中所形成的膜片中哪个是正常膜片Xα哪个是不良膜片Xβ的识别信息Xγ。以下，使用图15～图17来说明生成识别信息Xγ的方法。图16是表示包含生成识别信息Xγ处理的、从偏光膜的供给到切割线形成位置确认的步骤的流程图，图17是根据缺陷位置生成的识别信息Xγ的具体例。请注意该例不过是生成识别信息Xγ方法中的一例。

首先，供给偏光膜11(步骤1)，在检查工位M进行缺陷检查。根据图像读取装置581的缺陷图像信息和测长装置570的自偏光膜11前端起算的放出量的测长数据，来计算偏光膜11内部存在缺陷的位置(步骤2)。然后，演算被供给的偏光膜11的缺陷位置与基准位置之间的距离x(步骤3)。如图15所示，距离x例如是检查装置580的位置(缺陷位置)与载体膜贴合装置590的位置(偏光膜11的基准位置(图15中的位置A))之间的距离。

接着，演算从距离x减去与正常膜片相当的长度xα的距离(x-xα)＝x’，比较x’和xα(步骤4)。偏光膜11的与正常膜片相当的长度xα根据液晶面板W的大小而由系统管理者设定并预先存储在存储装置720。在x’＞xα时，则表示在偏光膜11上能够确保正常膜片Xα。这时的位置B就是下一个切割位置。将该位置B存储在存储装置720(步骤6)，以张紧的状态将偏光膜11供给与正常膜片长度xα相当的部分(步骤7)。以下同样地反复步骤1～7，将位置C和位置D存储在存储装置720。

另一方面，在x’≤xα时，即图15所示的x”’≤xα时，则表示不能确保偏光膜11的正常膜片Xα。这时，在液晶显示元件的连续制造装置1中生成用于识别正常膜片Xα和不良膜片Xβ的信息Xγ(步骤5)。例如如图17所示，识别信息Xγ能够设定成值“0”和值“1”，值“0”与相当于正常膜片Xα的、应该形成切割线16的位置信息相关联，值“1”与相当于不良膜片Xβ的、应该形成切割线16的位置信息相关联。将这些识别信息Xγ存储在存储装置720，以后根据需要由装置1所使用的某机构向装置1的存储装置420发送。识别信息Xγ还能够经由软盘、CD-ROM、DVD、闪存器等信息容留介质存储在存储装置420，也可以经由网络或专用线路等直接向存储装置420传送。生成识别信息Xγ后，将下一个切割位置E存储在存储装置720。被存储在存储装置720的切割位置信息用于由切割装置600对层积有载体膜13和根据需要层积有表面保护膜14的光学膜层积体15形成切割线16(步骤8)，确认切割线16的形成位置(步骤9)。这样，按与液晶面板W的尺寸对应的规定长度相等的间隔来将多条切割线16依次形成在光学膜层积体10中，在被该多条切割线16中任两条切割线16之间划分的膜片存在缺陷的情况下，则能够将该膜片作为不良膜片Xβ识别。与施加标记的实施例同样地，在生成识别信息Xγ的实施例的情况中，由于与缺陷的位置无关地按与液晶面板W的尺寸对应的规定长度相等的间隔来形成切割线16，所以也考虑到在形成有切割线16的位置存在有缺陷的情况。在这种情况下，该切割线16的前后两个膜片通过进行与图15所示的处理同样的处理，与表示不良膜片Xβ的识别信息Xγ相关联而将两个膜片都判断为不良膜片Xβ。

(缺陷检查装置的详细情况)

图18表示的是本发明第二实施例的优选实施例之一，将连续带状形态的临时光学膜层积体15′送进剥离工位L，通过剥离构成连续带状形态的临时光学膜层积体15′的临时载体膜13′来制造包含粘接层12的偏光膜11，将制造的包含粘接层12的偏光膜11在包含三种检查装置的检查工位M进行检查，来检测内部存在的缺陷，检查装置并不限于此，当然在本发明第一实施例的检查工位M也能够适用。图18还表示了向检查完的包含粘接层12的偏光膜11可自由剥离地层积载体膜13和根据需要向载体膜13相反侧的面可自由剥离地层积表面保护膜来制造连续带状形态的光学膜层积体层积体15连续卷筒的装置800。制造连续带状形态的光学膜层积体15的生产线在第一和第二实施例的制造装置500和500′中已经详述，在此，将说明省略。

装置800包括：供给临时光学膜层积体15′包含进给辊811的膜供给装置810、卷绕并驱动临时载体膜13′的卷绕驱动装置820。装置800中，作为检查装置，包括第一检查装置830、第二检查装置840、第三检查装置850，它们被包含信息处理装置910和存储装置920的控制装置900所控制。包含贴合装置861的载体膜供给装置860和根据需要设置的包含贴合装置871的表面保护膜供给装置870，向检查完的包含粘接层12的偏光膜11露出状态的粘接层12的面可自由剥离地层积载体膜13和根据需要向载体膜13相反侧的偏光膜面可自由剥离地层积表面保护膜，由此来制造连续带状形态的光学膜层积体15

如图18所示，配置在装置800的检查装置是三个部位。第一检查装置840位于在膜供给装置810的进给辊811与卷绕驱动临时载体膜的卷绕装置820之间，检查层积有临时载体膜13′状态的连续带状形态的临时光学膜层积体。它是利用光反射来检测偏光膜11表面的装置。能够检测的缺陷如图19所示那样仅限于CCD照相机能够检测的表面凹凸和伤痕和斑痕。

第二检查装置840将光源照射的光向包含粘接层12的偏光膜11垂直射入且使光学式检查单元受光，将包含粘接层12的偏光膜11内部存在的缺陷作为阴影来检测。能够检测的缺陷如图20所示那样是内部异物和在内部形成的气泡等。

第三检查装置850是利用正交偏光条件的缺陷检测装置。伴随着该缺陷检查装置的实用化，偏光膜的缺陷检查的精确度大幅提升。作为大型液晶显示元件用的偏光膜，通常倾向只利用通过了基于正交偏光条件所进行的缺陷检查的膜。检查方法如下。首先，将检查对象也就是包含粘接层12的偏光膜11及与其对应的偏光滤光片配置成让其吸收轴成为正交偏光。将来自光源的光照射于该处，观察透射的光。由此，让包含粘接层12的偏光膜11内部存在的缺陷作为亮点检测出。第三检查装置850中，使通过光源发出的光相对于包含粘接层12的偏光膜11垂直或倾斜地入射，在光学式检测单元的正前方将偏光滤光片设置成相对于包含粘接层12的偏光膜11的吸收轴让偏光滤光片的吸收轴成为90度的状态，将包含粘接层12的偏光膜11透射的光由光学式检测单元受光，由此让包含粘接层12的偏光膜11内部存在的缺陷作为亮点检测出的检查方法。能检测出的缺陷，如图19所示，除了表面的凹凸的外，大致包含全部的缺陷。

第一～第三检查装置虽然都是以包含粘接层12的偏光膜11作为检查对象，而当然也可以用没有形成粘接层的偏光膜11°，也可以用其他的光学功能膜。

关于本发明虽是记载了优选的实施方式，但可理解的是只要本领域技术人员即可在不脱离本发明的范围内进行各种改变，而用等同的技术特征来代替相关要素。因此，本发明并不限定于所公开的特定实施方式即为了实施本发明所考虑到的最佳实施方式，而是包含属于权利要求的所有的实施方式。

Claims (19)

1.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件，

该光学膜层积体的连续卷筒的特征在于，

在由进行了事前的缺陷检查的包括粘接层的光学功能膜和可自由剥离地层积在该粘接层上的载体膜构成的连续带状形态的光学膜层积体中，相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧达到所述载体膜粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成有切割线，由此，在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片，利用根据所述事前的缺陷检查而检测出的缺陷位置而生成的识别机构，能够在连续制造液晶显示元件的所述装置中识别所述正常膜片和所述不良膜片。

2.如权利要求1所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其特征在于，所述识别机构是在由所述事前的缺陷检查检测出的所述光学膜层积体的缺陷位置施加的标记。

3.如权利要求1所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其特征在于，所述识别机构是根据所述事前的缺陷检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息。

4.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件，

该光学膜层积体的连续卷筒的制造方法的特征在于，包含如下各步骤：

(a)在连续带状形态的偏光片的至少一面层积连续带状形态的保护膜来生成光学功能膜；

(b)检查所述光学功能膜的表面和内部来检测所述光学功能膜内部存在的缺陷；

(c)经由粘接层向进行过所述检查的所述光学功能膜可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体；

(d)通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片，所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成；

(e)在连续制造液晶显示元件的所述装置中根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构；

(f)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，生成识别机构的所述步骤包括：将表示由所述检查检测出的缺陷位置的标记施加在所述光学膜层积体中的步骤。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，生成识别机构的所述步骤包括：根据所述检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，生成为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息的步骤。

7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，检测光学功能膜内部存在的缺陷的步骤包括下面的任一步骤或它们的组合：

利用反射光主要检查光学功能膜表面的步骤；

通过透射从光源照射的光而将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影来检测的步骤；

将光学功能膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，并向它们照射来自光源的光并观察透射的光，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的步骤。

8.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件，

该光学膜层积体的连续卷筒的制造方法的特征在于，包含如下各步骤：

(a)准备连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒，该临时光学膜层积体至少包括光学功能膜和可自由剥离地层积在该粘接层上的临时载体膜，所述光学功能膜由连续带状形态的偏光片、在该偏光片的至少一面层积的保护膜以及在一个面上形成的粘接层构成；

(b)从准备的连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒一边放出临时光学膜层积体一边将临时载体膜剥离而使包含粘接层的光学功能膜露出；

(c)检查露出的包含粘接层的光学功能膜的表面和内部来检测包含粘接层的光学功能膜内部存在的缺陷；

(d)向进行过缺陷检查的包含粘接层的光学功能膜的该粘接层可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体；

(e)通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片，所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成；

(f)在连续制造液晶显示元件的所述装置中，根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构；

(g)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，生成识别机构的所述步骤包括：将表示由所述检查检测出的缺陷位置的标记施加在所述光学膜层积体中的步骤。

10.如权利要求8所述的方法，其特征在于，生成识别机构的所述步骤包括：根据所述检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，生成为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息的步骤。

11.如权利要求8所述的方法，其特征在于，检测光学功能膜内部存在的缺陷的步骤包括下面的任一步骤或它们的组合：

利用反射光主要检查光学功能膜表面的步骤；

通过透射从光源照射的光而将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影来检测的步骤；

将光学功能膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，并向它们照射来自光源的光并观察透射的光，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的步骤。

12.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造液晶显示元件的装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件，

该光学膜层积体的连续卷筒的制造装置的特征在于，包含如下装置：

(a)在连续带状形态的偏光片的至少一面层积连续带状形态的保护膜来生成光学功能膜的光学功能膜生成装置；

(b)检查光学功能膜的表面和内部来检测光学功能膜内部存在的缺陷的检查装置；

(c)经由粘接层向进行过缺陷检查的所述光学功能膜可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体的光学膜层积体生成装置；

(d)通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片的切割线形成装置，所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成；

(e)在连续制造液晶显示元件的所述装置中，根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构的识别机构生成装置；

(f)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒的卷绕装置。

13.如权利要求12所述的装置，其特征在于，所述识别机构生成装置包括：将表示由所述检查检测出的缺陷位置的标记施加在所述光学膜层积体中的标记施加装置。

14.如权利要求12所述的装置，其特征在于，所述识别机构生成装置包括：根据所述检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，生成为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息的识别信息生成机构。

15.如权利要求12所述的装置，其特征在于，检查装置包括下面的任一装置或它们的组合：

利用反射光主要检查光学功能膜表面的第一检查装置，

通过透射从光源照射的光而将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影来检测的第二检查装置，

使用偏光滤光片而使从光源照射的光正交偏光透射，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的第三检查装置。

16.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造液晶显示元件的装置相对形成为规定尺寸的液晶面板而贴合形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的膜片来连续制造液晶显示元件，

该光学膜层积体的连续卷筒的制造装置的特征在于，包含如下装置：

(a)装备着临时光学膜层积体的连续卷筒并从该连续卷筒放出连续带状形态的临时光学膜层积体的临时光学膜层积体供给装置，该临时光学膜层积体至少包括光学功能膜和可自由剥离地层积在该粘接层上的临时载体膜，所述光学功能膜由连续带状形态的偏光片、在该偏光片的至少一面层积的保护膜以及在一个面上形成的粘接层构成；

(b)从放出的连续带状形态的临时光学膜层积体将临时载体膜剥离而使包含粘接层的光学功能膜露出的临时载体膜剥离装置；

(c)检查露出的包含粘接层的光学功能膜的表面和内部而来检测包含粘接层的光学功能膜内部存在的缺陷的检查装置；

(d)向进行过缺陷检查的包含粘接层的光学功能膜的该粘接层可自由剥离地层积载体膜来生成连续带状形态的光学膜层积体的载体膜层积装置；

(e)通过在所述光学膜层积体中依次形成切割线而在所述载体膜上划分出具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度的不包含缺陷的正常膜片和包含缺陷的不良膜片的切割线形成装置，所述切割线是通过相对该光学膜层积体的长度方向而在直角方向从所述载体膜的相反侧直到所述载体膜的所述粘接层侧的面的深度进行切割而依次形成；

(f)在连续制造液晶显示元件的所述装置中根据由所述检查检测出的缺陷位置而生成用于能够识别所述正常膜片和所述不良膜片的识别机构的识别机构生成装置；

(g)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状而加工成连续卷筒的卷绕装置。

17.如权利要求16所述的装置，其特征在于，所述识别机构生成装置包括：将表示由所述检查检测出的缺陷位置的标记施加在所述光学膜层积体中的标记施加装置。

18.如权利要求16所述的装置，其特征在于，所述识别机构生成装置包括：根据所述检查检测出的缺陷位置和所述切割线的位置而在连续的两条切割线之间的膜片存在有缺陷的情况下，生成为了表示该膜片是不良膜片而构成的识别信息的识别信息生成机构。

19.如权利要求16所述的装置，其特征在于，检查装置包括下面的任一装置或它们的组合：

利用反射光主要检查光学功能膜表面的第一检查装置；

通过透射从光源照射的光而将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影来检测的第二检查装置；

将光学功能膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，并向它们照射来自光源的光并观察透射的光，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的第三检查装置。

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