TW200832604A - Electrostatic chuck device - Google Patents

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TW200832604A
TW200832604A TW96140927A TW96140927A TW200832604A TW 200832604 A TW200832604 A TW 200832604A TW 96140927 A TW96140927 A TW 96140927A TW 96140927 A TW96140927 A TW 96140927A TW 200832604 A TW200832604 A TW 200832604A
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Yukio Toyoda
Hiroshi Yagi
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Tomoegawa Co Ltd
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Description

200832604 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種能吸附保持半導體裝置用晶圓等導 電體或半導體,並能吸附保持液晶面板用玻璃板等絕緣體 之靜電夾盤裝置。 本案係依據於2006年1〇月31日在曰本申請之特願 2006-295035號申請案以及2007年1〇月22日在日本申請 之特願2007-273691號申請案而主張優先權,並在此引用 優先權基礎案的内容。 【先前技術】 於使用半導體晶圓來製造半導體積體電路時,或製造 使用了玻璃基板、薄膜等絕緣性基板之液晶面板時,為了 將該等被吸附體吸附保持於預定部位,係使用機械性^法 來運作之機械夾盤或真空夾盤等。然而,這些夾盤存在有 難以將被吸附體均勻地保持、無法在真空中使用、試料♦ 籲面的溫度會上升過高等問題。因此,近年來係使用能解決 這些問題的靜電夾盤裝置。 、 靜電夾盤裝置的主要部分為成為内部電極之導電性 撐構件以及覆盍導電性支撐構件之電介質材料,而能吸 被吸附體。對靜電夾盤裝置内的内部電極施加電壓,藉 於被吸附體與支撐構件之間產生電位差,而於電=質層9 間產生靜電性的吸附力。如此,被吸附體會被導電二^ 構件大致平坦地支撐。 作為習知的靜電夾盤裝置 已揭不有一種於内部電極 319704 5 200832604 上具有絕緣性有機薄膜之靜電夾盤裝置(專利文獻1)。 此外,已知有一種於内部電極上熱噴塗(thermal .spraying)有陶瓷之靜電夾盤裝置(專利文獻2)。 再者已4有種具有一對電極以及設置於該電極上 '的絕緣層,且對一方的電極施加正電壓,對另二方的電極 施加負電壓之靜電失盤裝置(專利文獻3)。 專利文獻1 :日本特開2004-235563號公報 專利文獻2 ··日本實公平6-36583號公報 專利文獻3:日本特開平]11_186371號公報 【發明内容】 (發明所欲解決之課題) 近年來,#電夾盤裝置不僅使用於製造半導體晶圓 ¥ ’亦使用於製造使用有玻璃基板、薄膜等之絕緣性基板 的液晶面板時。例如,於製造液晶面板時使用靜電夾盤裝 置,藉此能在真空下進行各種基板的保持,並於基板的貼 ⑩。妆忐同時進行液晶滴下與基板的貼合,與習知利用毛細 吕現象的注入方式相比,可大幅縮短製作時間。然而,關 於液晶面板所使用的玻璃基板,2mx2m以上的玻璃基板亦 逐漸貝用化,故能穩定地保持大型玻璃基板之吸附力大的 靜電夾盤裝置之開發正受到期待。 靜電夾盤裝置的吸附力與吸附面所使用的物質有很大 的關連。該部位除了使用前述之聚醯亞胺(p〇lyimide)等之 系巴緣性有機薄膜之外,亦可使用氧化鋁等之陶瓷。絕緣性 有機薄膜雖然吸附力佳,♦由於薄膜的厚度為10 # m至 6 319704 200832604 150 的薄度,故對於磨耗將 當因機械性強度不足而於薄之::力弱。此外, 電吸附時產生損傷薄膜之問題/在=異物…會有於靜 受力低之問題。另一太而專’且有對物理性外力的承 承受力,但由於在陶對於物理性外力具有 定的絕緣性,而且有構1:存在有空隙,故難以獲得穩 作為靜電夾盤,會產生:二壓特性低之問題。因此, 附力之問題。 生難叫面施加電壓、難以獲得高吸 用專利文獻3所揭示的靜電失盤裝置中,當使 有機薄膜來作為位於電極部分的絕緣層時,雖然 ί ’但有在製造時會導通而降低吸附性之問題。 發明乃有聽上述問題而研創者,其目的為提供一 夾盤裝置,係於絕緣性有機薄膜上層疊陶%,藉此 、、於物理性外力的承受力,且具有良好的耐 電壓特性 以及吸附性佳。 再者本發明的目的為提供一種導通的疑慮少且吸附 性佳的靜電夾盤裝置。 (解決課題的手段) +本發明的第—靜電夹盤裝4係將用以吸附被吸附體之 陶瓷層予以層疊於絕緣性有機薄膜的靜電夾盤裝置,其特 徵為前述陶瓷層的吸附面的表面粗糙度Ra為7〇#m以 下。 本發明的第二靜電夾盤裝置係依序層疊有:基板;第 接著劑層,係設置於基板上;絕緣層,係隔著第一接著 319704 7 200832604 制層而層疊;内部電極,係形狀該絕緣層上;第二接著 一係叹置成接觸内部電極’·絕緣性有機薄膜,係隔著 該第二接著劑層而設置;以及陶瓷層,係用以吸附設置於 該絕緣性有機薄膜上的被吸附體;其_,前述㈣層的吸 附面的表面粗糙度Ra為7.0以下。 ”此外,在本發明的第一及第二靜電央盤裝置中,前 ^性f機薄膜較佳為由聚醯亞胺所構成。此外,陶究層
較佳為藉由熱喷塗所形成。 ^ 本明的弟三靜電央般梦署孫卜 1 係至少具有··複數個内部 :置於:Γ正電遷或負電屋;以及絕緣性有機薄膜,係 内4電極的單面;且該靜電夹盤裝置係於最表声 表面吸附被謂體’其中,前述絕緣性有機薄膜係分開: P構件而形成··對應純加前述正電 二 緣性有機薄膜、以及對應於施加前述負電 絕緣性有機薄膜。 〕円邛电極之 本發明的第四靜電夾盤裝置係至少具有: 電極,係施加正電壓戋負 : 古内部 設置於該内部電極有機薄Η 表面吸附被吸裝置係於最表層 y ^述絕緣性有機_中,至少 2層側的絕緣性有機薄膜係分開為τ述構件而形成 應於施加前述正電壓的内部電極之絕緣性有機 對應=加前述負電壓的内部電極之絕緣性有機薄膜二及 絕緣性有機薄膜較佳输亞胺薄膜。此:::為:: 319704 8 200832604 1究層來作為前述最表層 ,(發明的效果) 在用以吸附 糙度Ra作 種大型的被 、依據本發明的第一及第二靜電夾盤裝置, 被吸附版的陶瓷的吸附面中,由於將該表面粗 成〇 // m以下藉此提升吸附力,故能提供一 吸附體亦可使㈣靜f夾盤裝置。
…此外,依據本發明的第一及第二靜電夾盤裳置,由於 乂’巴緣|±接著劑以及料性有機薄膜來覆蓋施加電壓的内 部電極藉此獲得絕緣性,故具有良好料電壓特性,且由 於用以吸附被吸附體的吸附面為陶瓷,故具有耐電漿性及 耐f耗性,即使m層上存在有異物亦不會如絕緣性有 薄膜產生損傷’故能提供—種對於物理性外力的承受 力佳之靜電夹盤裝置。 再者,本發明的第三及第四靜電夾盤裝置產生導通的 疑慮少,且吸附性佳。 馨【實施方式】 弟一實施形態 首先’麥照圖式說明本發明的第一及第二靜電夾盤裝 置。第1圖係相對於電極的延伸存在方向而將本實施形態 的靜電夾盤裝置朝垂直方向切斷時的剖面圖。 如第1圖所示’第一實施形態的靜電夾盤裝置係具有 以下列順序依序層疊的構造:位於基板10表面的第一接著 劑層20、絕緣層30、具有内部電極50、5i的第二接著劑 層21、絕緣性有機薄膜、以及陶兗層⑼。 9 319704 200832604 面Γϋ6”上面係成為用以吸附被吸附體之吸附 ,面。於本發明的第一及筮-兹兩 m ,* 弟—靜笔夾盤裝置中,該陶瓷層60 .的及附面的表面粗韃度以為7.0^以下。 内部電極5〇、51係可备牮,门 .亦可如笛9@ 係了如弟1圖所示接觸絕緣層30, 拼弟2圖所示接觸絕緣性有機薄膜40。且可如第3 0 所示,形成於第二接著判展,】aa ^ 3 ® 5 J s 21的内部。關於内部電極50、 51的形成位置,係能適當地設計。 由於内部電極5〇、51係 極性的恭茂.Λ ,、各自獨立,故不僅能施加相同 50、51只二沪吸^、=不同極性的電壓。由於内部電極 體即叮’、H導電體、半導體以及絕緣體等之被吸附 Π二故其電極圖案及形狀並未特別限定。此外: 圖所不’僅存在内部電極50而成為單極。 40 ^ m P了,關於其他層的構成並未限定。 可不I右’於第1圖中亦可不具有基板.於第2圖中亦 不,、有絕緣層30。並且,如笫5 R 有機薄膣4Λ & 弟5圖所不,亦可於絕緣性 著層2!予ί層3〇之間將具有内部電極5〇以的接 ^ 予以層豐兩層以上。 等予1圖所示的靜電夹盤的製造方法係例如將鋼 内部電:;二純Γ 3〇的表面後,再進行钱刻而形成 劑〜上 亚在内部電極5〇、51上隔著第二接著 後,使陶二广相反面^者弟一接著劑層20貼附好基板 允層60形成於絕緣性有機薄膜4〇上。藉由這此 319704 10 200832604 '步驟,能製作出本發明的靜電夹盤裝置。 ,,本發明的第一及第二靜電夾盤裝置中的陶究層 ,形成於經過凹凸加工處理的絕緣性有機薄膜4〇上㈢一凡’、 -言’係藉由喷擊(blast)加工處理將絕緣性有機薄膜。4^ ^ •面進行凹凸加工處理。所謂喷擊加工係射子^ 將被處理面予以粗糙化之方法。進行嘴 I射粒子來 射的粒子係能使用各種物質 、 处理時所贺 岭沙、鐵石等。 n例如可列舉細珠 • r,作為對絕緣性有機薄膜4。的表面進行凹凸加工 理被處理面予以粗糖化且不會對成為被處 法皆可則絕緣性造成問題,不論何種方 用。)4亚、、!過凹凸處理後者作為絕緣性有機薄膜來使 # 作為使陶竟層60形成於絕緣性有機薄膜4〇上 ’能使用燒結或熱嘴塗。在本發明中藉由 形成陶瓷層者為佳。…贺塗來 熔融Ϊ此蚀所謂熱喷塗’係意指將欲成膜的材料予以加熱 方法彳 用壓縮氣體噴射至被處理體,藉此進行成膜之 去本毛月的第—及第二靜電夾盤裝置中的陶竟層60並 化:別:定’例如亦可使用氮化硼、氧化鋁、氮化鋁、氧 0 Α化矽、氧化錫、氧化銦、石荚玻璃、鈉玻璃、鉛 319704 11 200832604 -玻璃、硼石夕酸玻璃(borosilicate glass)、氮化錘、氧化鈦、 , 氧化釔(yttria)等。可單獨使用這些材料,亦可混合兩種以 , 上的材料來使用。 • 陶瓷層60的厚度較佳為設定在25 # m至250// m的範 ,圍内’更佳為設定在50 // m至200 // m的範圍内。若未達 25 // m時’會有局部性陶瓷層較薄而產生裂缝(crack)之 虞,若超過2 5 0 // m時,會有吸附力降低之虞。 藉由研磨陶瓷層60的吸附面,能提升陶瓷層60的吸 ⑩附力,並能將陶瓷層60表面的凹凸作為表面粗糙度Ra來 調整。 在此,所謂表面粗糙度Ra,係意指根據JIS BO601-1994(算數平均粗糙度值)所測量出的值。 於本發明的第一及第二靜電夾盤裝置中,當將陶瓷層 60的表面粗糙度Ra作成7.0 // m以下時,能良奸地吸附被 吸附體。當表面粗糙度R a超過7 // m時,由於與被吸附物 ⑩的接觸面積變小,故吸附力變小,而變得難以吸附大型絕 緣物的玻璃板。 本發明中的絕緣性有機薄膜40並未特別限定,例如能 使用聚對苯二曱酸乙二酯(polyethylene terephthalate ; PET)等之聚酯(polyester)類、聚乙稀(polyethylene)等之聚 烯烴(polyolefin)類、聚醯亞胺、聚酿胺(Polyamide)、聚醯 胺·醯:亞胺(polyamide-imide)、聚醚颯(Poly Ether Sulfone)、聚苯硫醚(polyphenylene sulfide ; PPS)、聚醚酮 (polyetherketone)、聚醚醯亞胺(polyetherimide ; PEI)、三 12 319704 200832604 ’醋酸纖維素(triacetyl cellulose)、石夕酮橡膠(silicone ,rubber)、聚四氟乙烯&〇1}^61^1111〇1'€^1;117161^)等。這些材 , 料中,從絕緣性佳的觀點來看,較佳為使用聚酯類、聚烯 • 烴類、聚醯亞胺梦酮橡膠、聚醚醯亞胺、聚醚颯、聚四 , 氟乙烯等,更佳為聚醯亞胺。聚醯亞胺薄膜為市售品,例 如能使用DuPont-Toray(TDC)公司製,商品名稱:Kapton ; 宇部興產公司(Ube Industries,Ltd)製,商品名稱: UPILEX;或 KANEKA CORPORATION 公司製,商品名稱: 籲 Apical 等。 此外,絕緣性有機薄膜40的厚度雖無特別限定,但較 佳為10 // m至150 // m,更佳為25 // m至75 /z m。若絕緣 性有機薄膜40的厚度未達10//m時,有因為表面損傷而 降低絕緣性之虞,若超過150/zm時,有無法獲得充分的 靜電吸附力之虞。 作為第一接著劑層20及第二接著劑層21,可使用從 鲁下列樹脂中選出一種或兩種以上的樹脂作為主成分之接著 劑:環氧樹脂(epoxide resin)、紛(phenol)樹脂、苯乙稀系 嵌段共聚物(Styrene block copolymer)、聚醯胺樹脂、丙婦 腈-丁二浠(Acrylonitrile-Butadiene)共聚物、聚醋樹脂、聚 醯亞胺樹脂、矽酮樹脂(silicone resin)、胺化合物(amine compound)、雙馬來醯亞胺(bismaleimide)化合物等。 作為環氧樹脂,可列舉雙酚(bisphenol)型、驗酸清漆 樹脂(phenol novolac)型、甲酚醛清漆(cresol nov〇iac)型、 縮水甘油醚(glycidyl .ether)型、縮水甘油酯(glycidyl ester) 319704 13 200832604 、型、縮水甘油胺(glycidyl amine)型、三經苯基甲烧 * (trihydroxy phenylmethane)型、四環氧丙基酚烷(Tetra ,glycidyl phenol alkane)型、萘(naphthalene)型、二環氧丙基 •二苯基曱烧(diglycidyl diphenylinetliane)型、二環氧丙基聯 ,苯(diglycidyl biphenyl)型等之二官能基或多官能基環氧樹 脂等。其中,較佳為雙酚型環氧樹脂,更佳為雙酚A型環 氧樹脂。此外,當將環氧樹脂作為主成份時,可根據需要 來調配味嗤(imidazole)類、第三胺類、酴類、二氰二胺 馨(dicyandiamide)類、芳香族二 胺類、有機過氧化物等之環 氧樹脂用之硬化劑或硬化促進劑。 作為酚樹脂,具體而言可列舉烷基紛(alkylphenol)樹 脂、p_苯基紛(p-phenylphenol)樹脂、雙盼A型紛樹脂等之 紛經清漆紛(no volac phenol)樹脂、甲偕酴酸紛(resol phenol) 樹脂、聚苯對紛(polyphenyl para phenol)樹脂等。 作為苯乙烯嵌段共聚物,具體而言可列舉苯乙烯-丁二 書烯·苯乙烯嵌段共聚物(SBS; styrene-butadiene-styrene block copolymer)、苯乙烯-異戊二烯-苯乙烯喪段共聚物 (SIS ; styrene麵isoprene-styrene block copolymer)、苯乙稀一 乙烯丙浠苯乙稀共聚物(SEPS ; styrene-ethylene-propylene-styrene copolymer)等。 作為内部電極5〇、51,只要為由在施加電壓時能呈現 靜電吸附力之導電性物質所構成者即可,並未特別限定, 例如較佳為銅、銘、金、銀、白金、絡、錄、鎮等’或從 這些金屬中選擇兩種以上的金屬所、構成之薄膜。-這種金屬 14 319704 200832604 •薄膜係藉由蒸鍍、魏、雜#所朗之祕,或塗佈導 .電性糊劑(Paste)並進行乾燥後所成膜之薄膜,具體而言可 '例舉銅箔等之金屬箔。 - 於本發明中,只要第二接著劑層21形成比内部電極 • 50、51還厚即可,㈣電極5()、51的厚度並未特別限定, 具體而言較佳為2(^m以下。當内部電極5〇、51的厚产 超過20…夺,有容易於吸附面上形成凹凸之虞。此夕二 内部電極50、51的厚度較佳為_以上。當内部電極♦ 51的厚度未達冑,有電極接合時接合強度不足之 虞:再者,在對内部電極50、51施加不同電塵之情形時, 相鄰接的内部電極50、51的間隔較佳為2_以下。“ 極間隔超過2 m m時’有電極間不會產 :: 附力變得不足夠之虞。 ㈣静電,使吸 ^發明中的絕緣層3G只要為具有絕緣性之 :料二:能使用作為前述絕緣性有機薄膜4〇 枓,或作為陶瓷層60所列舉的材料。 柯 基板10的材料並未特別限定,能使用陶瓷、 或不鏽鋼等之金屬基板等。 i骖、鋁 ,著’針對本發㈣第三及細靜電夾盤裝置 一及弟二實施形態為例來詳細說明。 罘 第二實施形態 =6圖及第7圖所示,於本實施形 置1中,於基板上形成兩個接著劑層20、2文盤裝 潯膜40、及内部電-極5 、、、巴緣性有機 t層宜體,於内部電極5〇、 319704 15 200832604 5!的單面具有爾財機相4()。藉此,分_ .有内部電極5G及51之兩個絕緣性有機薄膜40。此外^ 、靜電夾盤裝置1形成陶瓷層6〇以作為最表層。 、 -基板H)並未特別限定,例如能使用陶^基板 ’ 仙等之金屬基㈣。基板1Q的㈣較佳為平 的接Ϊ = 以提高基板1G與絕緣財機薄膜4〇 的,者性之層。作為接著劑層2G,能使用與上述第一 形態所使用的接著劑層相同的揍著劑。 貝 絕緣性有機_4G係絕純佳之有機薄膜,且亦且有 射生。作為絕緣性有機薄膜4〇的材質,能使 /、上处弟一貫施形態所使用的材料相同的材料。 ,外’絕緣性有機薄膜4〇亦可摻入無機填料等並進行 薄膜H此,於形成陶£層6G時,能提升絕緣性有機 /專膜40與陶瓷層6〇之間的接著性。 絕緣性有機薄膜4G的厚度並未特別限定,較佳為10 薄膜,更佳為25#m至75/zm。當絕緣性有機 易防^厚度為10/rm以上時,當表面產生損傷時,容 絶緣性大幅降低。此外,當絕緣性有機薄膜40的厚 Λ二:50从m以下時’内部電極50、51所產生的靜電吸附 各易充分地傳達至吸附面。 内卩包極50、51只要為在施加電壓時能呈現靜電吸 ^導電性物質即可,能使用上述第一實施形態所例示的 円邻電極50、51。… 319704 16 200832604 内部電極5〇、η 在絕緣性有機薄膜 形狀範圍内儘可能地提高能獲得的靜電吸附力之形狀 可’在本實施形態中為矩形。 本實施形態的靜電夾盤裝£1係具有内部電極5〇盘 部:油這兩個内部電極,且對這兩個内部電極分別施加 正电[與負包壓’藉此產生靜電吸附力。電壓的施加係可 對内部電極50施加正電屢’對内部電極51施加負電壓, 亦可相反。 此外,只要於本實施形態中的内部電極50與内部電極 51之間產生電麼差即可,任一方亦可為0V(接地)。例如, 亦可為施加正電I的内部電極5G為+ 6kv,施加負電 内部電極51為0V(接地)。 、 内部電極50、51的厚度並未特別限定,較佳為 至20/zm。#内部電極5〇、51的厚度為以上時,於 内部電極5G、51接合至基板1G時,容易獲得充分地接合 =度。此外’當内部電極5〇、51的厚度為2〇㈣以下時, 谷易防止於靜電夹盤裝置1的吸附面產生凹凸。此外,各 自知加有不同电壓之鄰接的内部電極5〇、彼此間的間隔 ㈣為5mm以下,更佳為2mm以下。當間隔為5麵以下 容產生充分的靜電力,而能容易獲得充分的吸附力。 陶瓷層60係形成於靜電夾盤裝置丨的最上層且具有絕 緣性之層’能提升料物雜外力的^力。此外,陶莞 層60的表面成為吸附面,會吸附被吸附體並予以保持。 -陶兗層· 60的材料並未特別限定,_例如能使用上述第— 319704 17 200832604 •實施形態中所使用的材料來形成。 ^ 陶瓷層6〇的厚度較佳兔" 丁 又孕乂佺為25#m至250//m,更佳為5〇 .P至綱㈣。當陶究層6〇的厚度為25_以上時,容 •易防止陶究層6G局部性變薄而產生裂缝。 .6〇的厚度為250…下時,内部電極5。、51所產生^ 電吸附力容易充分地傳達至吸附面。 的靜 此外’研磨陶瓷層6〇的表面^ 度 藉此能提升靜電吸附力。 表面_ 定 本實施形態的靜電夾盤裝置i的製作方法 例如能列舉以下所示的方法。 J限 六破2 ’在準備好的兩片絕緣性有機薄膜4 0各個的表 二=部電極5〇'5i。接著 的相反側之面,透過 4〇表面進行處理,脖由及絕緣性有機薄膜 所謂喷擊二結或熱喷塗來形成陶究層仰。 7月賀#加工係指猎由喷射粒子來 糙化之方法。只要在不會大幅影響内 ^ Φ予以粗 :或絕緣性有機薄膜4。的絕緣性之範圍内 二作為進行喷擊加工處理時㈣射_子^=何方 、、、田珠、沙、鑽石等。 例如成列舉 此外,陶宪層60較佳為藉由熱嘴 主,係指將欲成膜的材料予以 "成。所謂熱噴 射出至被處理體藉此成黎。……田< ,使用壓縮氣體 319704 18 200832604 .士通常’當藉由熱噴塗於絕緣性有機薄膜上形成陶究芦 ,%,於絕緣性有機薄膜會產生導通而降低吸附性。: :本實施形態的靜電夾盤裝置」即使藉由熱噴塗來形:陶竟 亦具有良好的吸附性。此係由於分別形成有兩個 接者劑層20及絕緣性有機薄膜4〇之故。亦即, =成絕緣性有機_4G,故形成有内部電極%的絕= 有機薄膜40盥形忐古由细杂斤r, J、巴緣 不合接㈣B成有 的絕緣性有機薄膜40 不ΰ接觸。因此,即使進行埶喷塗,由;^β 5〇的絕緣性有機薄膜4〇鱼;J二/於形成有内部電極 機薄錢不會產生導通,故可認為具有吸附性勺。巴緣[生有 承a 一般而言’絕緣性有機薄膜對於物理性外力的 ^狀要 尤層對於耐電壓性差’但由於本例的靜電 夾盤裝置1具有絕緣祕亡 電 1有wt 缚膜40與陶究層60,故同時 良好料%壓特性與對於物雌外力的承受力。 及第^2本實施形態的靜電夾盤裝置並未㈣於第6圖 t及弟7圖所不之例。於上 带 性有機薄膜40只要各自有内电極5〇、51的絕緣 σ 對應内部電極5 0、51來分開并:士、 性有機薄膜4。與㈣… 亦可於接著黯2G上形成㈣層μ, 部電極5。、51,並以絕緣性有機薄 ^ 〇 文層60與内部電極50、51。 以卜卜内巧電極50、51並未限定於兩個,亦可為:個 以上。例如j為—個 部電極5。與—個施二置:可具::個施加正電壓的内 刀貝迅壓的,部電極51,且内部電極 319704 19 200832604 51位於兩個内部電極5〇之間。 -薄膜40的數量亦可配合内部電 ^ 、巴緣f生有機 ^ ^ ^ ^ )1的數量而增加, :f可將細加正電屢的複數個内部電極50或施加負電屢的 稷數個内部電極51形成在同_個絕緣性有機薄膜上。、 ' 此外’亦可不形成陶瓷層60。 苐三實施形態 接f ’根據第8圖及第9圖來說明第三實施形態的靜 盤裝置。如第8圖及第9圖所示,靜電夾盤裝置1係 m體係於基板^依序層 且弟接著劑層2 〇、箆一绍έ矣UL丄1 50Λ 51 . 而構成者。藉此,位於内部電極5〇及:的 緣性有機薄膜40盥第-絕绦阽士 , 、又面之弟、、、巴 電極5。及51而分開形—成為::機薄膜41皆對應於内部 1形成陶客爲^ 成為兩個。此外,於靜電夾盤裝置 形成陶兗層60以作為最表層。 者相1施形態的基板㈣列舉 的接著劑層20的材質係可列舉與在第一實施形態 的接考劑層20所列舉去 κ 第'絕緣性有機薄膜4二,較佳態樣亦㈣^ 的絕緣性有機薄膜40 =可列舉與在第一實施形癌 内部電極5〇及51的二相同者’較佳態樣亦相同。 形態的内部電極列舉與第一及第二實施 同4 : 歹】舉者相同者,較佳態樣亦相 319704 20 200832604 外,本實施形態的内部電極%與内部電極5“ :的形狀’且配置成彼此相互交錯。由於内;
-·:Γ 具有上述形狀,於編有限的面積内I 合易以少數的内部電極5〇及51獲得大的靜電力。、月匕 對於本實施形態的内部電 係可對内部電……’極5〇及51之電壓的施加, 單,亦:: 電堡,對内部電極51施加負電 此外,只要内部電極50與内部電極5!產 力:3即可,任一方亦可為0V(接地)。例如,亦可乌施 加正電壓的内部電極 j』马知 51為〇顺地) V,施加1㈣的内部電極 内部電極5〇及51的厚度並未特別限定,較 ㈣ ,心當内部電極50及51的厚度為! 於將内部電極50及51接人 接人強_ “L °至基板10知,容易獲得充分地 下;強=此外’當内部電極5〇及51的厚度為2〇_以 谷易防止於靜電夾盤裝置i的吸附面產生凹凸。此 外’各自施加有不同電麼妹 間的間隔較佳為5酿 钟更户f a50及51彼此 5mm ^ . 更么為2mm以下。當間隔為 吸附力。日’’谷產生充分的靜電力’而能容易獲得充分的 的接C劑層21的材質係可列舉與在第-實施形態 著¥ 21所列舉者相同者,較佳態樣亦相同。第二接 度只要形成為比内部電極50及51還厚即 二,士第/接著㈣21的厚度作成比内部電極5。及51 :子I’形成容易以充分的強度接著第_絕緣性有機薄膜 319704 21 200832604 40、内部電極5〇及5ι、以 - 第mm# 絕緣时機薄膜41。 '陶編係可:二=—=:相同。 -60為相同者,較佳態樣亦相同。弟1 一的陶究廣 於本實施形態的靜電夹盤· 部電極5〇及51上形 如置1中,如上述由於在内 性 定 的’故耐電慶特性佳,且性有機薄膜41舆陶莞層 對於物理性外力的承受力良好的耐電漿性、耐磨耗 本實施形態的靜電夹盤芽 例如亦可列舉以下所示时法。方法並未特別限 首先,在準備好的兩片一 + 表面蒸鍍銅等之金屬後 ^ '有機薄膜40各者的 51。接著,於_^==成4峨極5〇及 電極50及5 ;!之而沾+ 成潯胰41之形成有内部 卜貼附基板10。接著,於m之面’隔著第一接著劑層20 緣性有物=,===^及51之第二絕 性有機薄膜41。之後,附第二絕緣 薄膜41表面進行處理,並藉由燒^將弟二絕緣性有機 6 0。噴擊加工只要在不會使第二絕緣性有:塗來膜形成陶究層 性變得過低的範圍内,係可使用任何方有棧缚膜广的,緣 60較佳為以熱喷塗來形成。 4夕,陶瓷層 以上所說明之本實施形的带 熱喷塗形成嶋6。的跡 J具有良好的吸附性。此 319704 22 200832604 係由於第一接著劑層 曰ϋ第一絕緣性有機薄 極50及51、第-拯荽訇a 戍,寻腰40、内部電 乐一接者劑層21、以及第二 41分別形成兩個,且第_ 緣丨生有機薄膜 ,, 弟—1巴緣性有機薄膜41係分η取上 故可認為能防止因埶嘖泠 係刀開形成, $主荨使弟二絕緣性有 電阻降低而產生導通。 百属厚膜41的 此外’由於靜電央般駐 心衣置1具有第一絕緣性有機壤Μ 40、弟一絕緣性有機壤4 是/專膜 ^ 钺専臊41、以及陶瓷層60,故且右自& 的耐電壓特性與對於物理性外力的承受力。…、有良好 亚且’本貫施形態的靜電夾盤裝置係未 二"圖所例示者,例如如第〗。圖所 般7圖 亦可構成為第—絕緣性有機薄膜4〇係形成為-片:第 絕緣性有機薄膜41分開形成。 弟一 此外,亦可不形成陶瓷層6〇。 (實施例) 實施例一 # 作為絕緣層30’首先係於膜厚5〇㈣的聚酸亞胺薄膜 (DUP〇nt-T〇ray(TDC)公司製,商品名稱:Kapt0_單面鏟 覆厚度5#m的銅,於該銅箱表面塗佈光阻後,於曝光圖 案後進行顯影處理,再藉由_絲不必要的銅_。之後, 洗淨聚醢亞胺薄膜上的銅箱,藉此去除光阻而形成内部電 極50及51。於該内部電極5〇及51上層疊經由乾燥及加 熱而呈半硬化之絕緣性接著劑薄片(〇_甲驗駿清漆型環氧 樹脂:日本化藥公司製,商品名稱E〇CN_1〇2〇,%重量份; 酴醛'清漆酚樹脂:丸善石油化學公司製,商品名稱 319704 23 200832604 -MARUKA LYNCUR Μ,15重量份;丙烯腈-丁二烯共聚物: - 日本ΖΕΟΝ CORPORATION製,商品名稱1〇〇1,50重量 ^ 份;將二氰二胺0.2重量份混合溶解於適量的四氫吱喃 '(tetrahydrofuran)中而得者)以作為第二接‘著劑層21後,接 ^ 著貼附膜厚50// m的聚醯亞胺薄膜(DuPont-Toray(TDC)公 司製,商品名稱:Kapton)作為絕緣性有機薄膜40,並藉 由熱處理來進行接著。乾燥後的第二絕緣性接著劑薄片的 厚度為20 μ m。 • 接著,於作為絕緣層30之聚醯亞胺薄膜上層疊經由乾 燥及加熱而呈半硬化之絕緣性接著劑薄片(〇-曱酚醛清漆 型環氧樹脂:日本化藥公司製,商品名稱EOCN-1020,35 重量份;酚醛清漆酚樹脂:丸善石油化學公司製、,商品名 稱MARUKA LYNCURM,15重量份;丙烯腈-丁二烯共聚 物:日本ΖΕΟΝ CORPORATION製,商品名稱1001,50 重量份;將二氰二胺0.2重量份混合溶解於適量的四氫呋 ⑩喃中而得者)以作為第一接著劑層20,並貼附鋁製基板 10,且藉由熱處理進行接著。乾燥後的第一接著劑層20 的絕緣性接著劑薄片的厚度為20/zm。 於上述構成的層疊體中,對絕緣性有機薄膜40所使用 的聚醢亞胺薄膜的表面進行喷沙(sandblast)處理,藉此將 表面予以粗糙化後,將氧化鋁予以電漿熱喷塗,藉此於絕 緣性有機薄膜40上形成陶瓷層60。接著,以鑽石磨石將 用以吸附被吸附體之陶瓷層60的吸附面進行平面研磨,而 獲得本發明的靜電央盤裝置。以JIS BO601_.1994測量該珥 24 319704 200832604 ”磨後的表面,測量处 •實施例二 、、、°果表面粗韃度Ra為6.2私m。
• 除了將陶究層的表I -以與實施例—相同方 度^作成以外,係 •實施例三 式衣作出本發明的靜電夾盤裝置, 除了將陶究層的表面粗糙度Ra作成〇2 从 以與實施例一相同方i制从 ·2/ζιη以外,係 比較例一 > 衣作出本發明的靜電夾盤裝置。 除了將陶£層的表面粗缝度如作成 以與實施例一相同方今制从山 ·从 外,係 比較例二;衣作出比較用的靜電夾盤裝置。 :鋁基板的單面進行噴沙處理後,藉由電漿熱噴塗法 打銘土板的處理面熱喷塗氧化銘,以形成厚度綱 ,。以成為與實施例-相同的内部電極的形狀J 二藉由電水熱喷塗法於該氧化㈣m上熱噴塗鶴而 >成、100/^的厚度後,再藉由電漿熱喷塗法於鶴的表面 熱噴塗氧化銘以形成m的厚度以作為陶究層。之後, 將用以吸附被吸附體的該陶变層的吸附面予以研磨而製作 出具有表面粗糙度Ra》6.2_之比㈣的靜電夹盤裝 置。 比較例三 除了將陶瓷層的表面粗糙度Ra作成5 4#m以外,係 以與比較例二相同方式製作出比較用的靜電夾盤裝置。 比較例四、 一 一 319704 25 200832604 除了將陶瓷層的表面粗糙 以與比較例二_ a作成(^㈣以外,係 比較例五 式衣作出比較用的靜電夾盤裝置。 M 11 ^ ^ # ,, 式製作出比較用的靜電;盤裝置。,係以與實施例一相同方 使用在貫施例—至二 電夾般F一以及比較例一至五中所獲得的靜 平價財電屢特性、吸附力、耐電裝性、以及 耐磨耗性,並將結果彙整於表 耐電壓特性 伙同[宅源裝置對内部電極50與51施加土5kv的電壓 亚保持兩分鐘,藉此進行評價。在兩分鐘内進行目視觀察, 將未產生《化者標記為Q,將電極彼此因浅漏 破壞者標記為X。 I吸附力 關於吸附力,係使用無鹼玻璃(縱100〇111)<横 度0.7mm)作為被吸附體,並在真空下(1〇pa以下)予以吸附 於靜電夹盤裝置表面,對内部電極5〇與51施加±3kv的電 壓後,保持30秒鐘。在施加電壓的狀態下將玻璃朝垂直方 向吸起,測量此時的剝離力作為吸附力。將吸附力未達 500Pa者標記為X,將吸附力為5〇〇Pa以上未達l〇〇〇pa者 標s己為△’將吸附力為1 〇〇〇Pa以上者標記為〇。 -耐電漿性 、 319704 26 200832604 關於耐電漿性,係將靜電夾盤裝置以螺栓螺緊而設置 於电漿產生裝置的下部電極側後,施加高頻電壓及氧氣, 目視觀察施加氧電漿24小時後靜電夹盤裝置表面狀的 麦化將無變化者標記為◦,將表面變色者標記為X。、 耐磨耗性 關於耐磨耗性,係將靜電夾盤裝置設置於台上,並在 靜電夾盤裝置上載置無鹼玻璃^⑹瓜以…瓜幼了瓜叫’目視 觀察施加500g重量往返移動1〇〇次(往返距離5〇mm、往 返速度5〇cpm)後的靜電夾盤裝置表面的損傷及變色的狀 態。將表面狀態無變化者標記為〇,將有變化者標記為X。 表一 一
從上述表一可得知,具有在聚醯亞胺薄膜上層疊陶瓷 層的構造’且表面粗綠度Ra為7.0 # m以下的實施例一至 三係確認到耐電壓特性、耐電漿性、耐磨耗性不會產生問 題,且吸附力佳。 另一方面,雖然具有與實施例一至三相同構造,但其 表面粗糙度Ra為7:5 // m的比較例一,在吸附力上比實♦施 27 319704 200832604 •例差。 卜於纟巴緣層未使用聚醯亞胺薄膜而僅層疊陶兗 層且將其表面粗糙度Ra作成7.0 // m以下的比較例二至 四在耐電壓特性實驗中,當施加電壓時會產生火花,而 ^有實用上的問題。 — 此外’比較例二至四中的吸附力係比使用有聚醯亞胺 薄膜與陶瓷層兩者的靜電夾盤裝置差。 未使用陶瓷層而僅使用聚酸亞胺薄膜的比較例五,雖 =有^好的耐電壓特性及吸附力,但確認到存在有在耐電 裝性實驗中表面會產生白化,在耐磨耗性實驗中聚醒亞胺 薄膜表面會產生損傷之問題。 仗以上結果確認到,本發明的靜電夾盤裝置具有良好 的耐毛壓4寸性、吸附力、耐電漿性、以及耐磨耗性。 實施例四 弟6圖及第7圖的靜電夾盤裝置1係以下述的方式f Φ作出。 、 使甩兩片膜厚50/ΖΠ1的聚醯亞胺薄膜(Dup〇nt_T〇ray (TDC)公司製’商品名稱:κ_〇η)作為絕緣性有機薄膜 4〇。接著’在各者的聚酸亞胺薄膜的單面鍍覆5心厚度 的銅’在該銅箱表面塗佈光阻後,於曝光圖案後進行顯影 處理,並藉由姓刻去除不需要的銅箱。之後,洗淨聚酿亞 胺薄膜上的㈣,藉此去除光阻而在各者的絕緣性有機薄 膜40上形成内部電極5〇及51。 接著’為了形成接著割層20,.將經由乾燥及加熱而半 319704 28 200832604 ’硬化的絕緣性接著劑薄片(Q_甲祕清漆型 化藥公司製’商品名稱咖㈣2G,35f量份=路= 酚树月曰·丸善石油化學公司製,商品名稱MARUKA LY腳RM,15質量份;丙稀腈丁二稀共聚物:日本现⑽ ’ CORPORATION製,商品名稱1〇〇1,5〇質量份;將二氮二 狀2質量份混合溶解於適量的四夫喃而得者)分別^ 於前述兩片絕緣性有機薄膜40之形成有内部電極5〇』 的面之相反側的面’且貼附於铭製的基板1G,並藉由熱處 理予以接著。乾燥後的接著劑層2〇的厚度為2〇#m。 接著,對韵述層$體的内部電極5〇、5〗侧的表面進行 嘴沙處=後’將氧化銘予以電漿熱喷塗,藉此形成陶究層 6〇接著,以鑽石磨石將用以吸附被吸附體的陶瓷層6〇 的吸附面進行平面研磨,製作出靜電夾盤裝置A。根據打$ BO601-1994來測量該研磨後的表面,測量結果表面粗链度 Ra 為 5·9 " m 〇 實施例五 第8圖及第9圖的靜電夾盤裝置j係以下述的方式制 作出。 衣 使用兩片膜厚50/zm的聚醯亞胺薄膜(DuP〇m_T〇ray (TDC)公司製,商品名稱:Kapt〇n)作為第一絕緣性有機薄 膜40。接著,在各者的聚醯亞胺薄膜的單面鍍覆瓜厚 j的銅,在該銅箔表面塗佈光阻後,於曝光圖案後進行顯 影處理,並藉由蝕刻去除不需要的銅箔。之後,洗淨聚醯 亞胺薄膜上的銅箔,藉此去徐光阻而、在各者的絕緣性有機 319704 29 200832604 ’薄膜40上形成内部電極50及51。接著,為了形成第二接 . 著劑層21,將經由乾燥及加熱而半硬化的絕緣性接著劑薄 ,片(〇-甲酚醛清漆型環氧樹脂:日本化藥公司製,商品名稱 • EOCN-1020,35質量份;酚醛清漆酚樹脂:丸善石油化學 • 公司製,商品名稱MARUKA LYNCUR Μ,15質量份;丙 烯腈-丁二烯共聚物:日本ΖΕΟΝ CORPORATION製,商品 名稱1001,50質量份;將二氰二胺0.2質量份混合溶解於 適量的四氫咬喃而得者)分別層疊於前述兩片絕緣性有機 ⑩薄膜41之内部電極50及51上,且貼附作為第二絕緣性有 機薄膜41之聚醯亞胺薄膜(膜厚50/zm,DuPont-Toray (TDC)公司製,商品名稱:Kapton),並藉由熱處理予以接 著。乾燥後的第二接著劑層21的厚度為20//m。 接著,為了形成第一接著劑層20,將經由乾燥及加熱 而半硬化的絕緣性接著劑薄片(〇-甲酚醛清漆型環氧樹 脂:日本化藥公司製,商品名稱EOCN-1020,35質量份; $酚醛清漆酚樹脂:丸善石油化學公司製,商品名稱 MARUKA LYNCUR Μ,15質量份;丙烯腈-丁二烯共聚物: 曰本ΖΕΟΝ CORPORATION製,商品名稱1001,50質量 份;將二氰二胺0.2質量份混合溶解於適量的四氫呋喃而 得者)分別層疊於前述兩片絕緣性有機薄膜4 0形成有内部 電極50及51的面之相反側的面,且貼附於鋁製的基板 10,並藉由熱處理予以接著。乾燥後的接著劑層20的厚度 為 20 μ m 〇 … 接著,對前述層疊體的第二絕緣性奋機薄膜41的表面 30 319704 200832604 •進行喷沙處理後,將氧化鋁予以電漿熱喷塗,藉此形成陶 • 曼層60。 , 接著,以鑽石磨石將用以吸附被吸附體的陶瓷層60 •的吸附面進行平面研磨,製作出靜電夾盤裝置B。根據JIS -BO601-1994來測量該研磨後的表面,測量結果表面粗糙度 Ra 為 8.3 /z m 〇 比較例六 針對第11圖所例示的習知靜電夾盤裝置102的製作加 •以說明。 使用一片膜厚50 // m的聚醯亞胺薄膜(DuPont-Toray (TDC)公司製,商品名稱:Kapton)作為第一絕緣性有機薄 膜123。接著,在該聚醯亞胺薄膜的單面鍍覆5/zm厚度的 銅,在該銅箔表面塗佈光阻後,於曝光圖案後進行顯影處 理,並藉由蝕刻去除不需要的銅箔。之後,洗淨聚醯亞胺 薄膜上的銅箔,藉此去除光阻而形成内部電極124a及 0 124b。接著,為了形成第二接著劑層125,將經由乾燥及 加熱而半硬化的絕緣性接著劑薄片(〇-曱酚醛清漆型環氧 樹脂:日本化藥公司製,商品名稱EOCN-1020,35質量份; 酚醛清漆酚樹脂:丸善石油化學公司製,商品名稱 MARUKALYNCUR M,15質量份;丙烯腈-丁二烯共聚物: 日本ΖΕΟΝ CORPORATION製,商品名稱1001,50質量 份;將二氰二胺0.2質量份混合溶解於適量的四氫呋喃而 得者)層疊於前述絕緣性有機薄膜123的内部電極124a、 124b上,且貼附作為第二絕緣性有機薄膜126之聚醯亞-胺 31 319704 200832604 .薄膜(膜厚50 // m,DuPont-Toray(TDC)公司製,商品名稱: • Kapton),並藉由熱處理予以接著。乾燥後的第二接著劑層 -125的厚度為20 // m。 • 接著,為了形成第一接著劑層122,將經由乾燥及加 - 熱而半硬化的絕緣性接著劑薄片(〇-甲酚醛清漆型環氧樹 脂:曰本化藥公司製,商品名稱EOCN-1020,35質量份; 酚醛清漆酚樹脂:丸善石油化學公司製,商品名稱 MARUKALYNCURM,15質量份;丙烯腈-丁二烯共聚物: •日本ΖΕΟΝ CORPORATION製,商品名稱1001,50質量 份;將二氰二胺0.2質量份混合溶解於適量的四氫呋喃而 得者〇分別層疊於前述絕緣性有機薄膜123之形成有内部 電極124a及124b的面之相反側的面,且貼附於鋁製的基 板121,並藉由熱處理予以接著。乾燥後的接著劑層122 的厚度為2 Ό // m。 接著,對前述層疊體的第二絕緣性有機薄膜126的表 赢面進行喷沙處理後,將氧化鋁予以電漿熱喷塗,藉此形成 陶瓷層127。接著,以鑽石磨石將用以吸附被吸附體的陶 瓷層127的吸附面進行平面研磨,製作出靜電夾盤裝置 C。根據JIS BO601-1994來測量該研磨後的表面,測量結 果表面粗糙度Ra為6.2//m。 比較例七 使用鋁製的基板,對該基板的單面進行喷沙處理後, 藉由電漿熱喷塗法於基板的處理面形成厚度200/rm的氧 '化銘的陶免層。以形成具有與貫施例四相同的内部電極之 32 319704 200832604 •形狀的方式,於該氧化鋁的陶究層 」瓦尽上形成鎢的内部電極Γ戶 度l〇〇//m)後,接著藉由電漿埶嘖涂 立 私K…贾坌忐於鎢的内部電極 面形成厚度200/zm的氧化鋁的陶瓷層。之、 '附被吸附體之最上層的陶瓷声的、〖吸 』网究層的吸附面予以研磨,製作出 表面粗糙度以為的靜電夾盤裝置D。 評價出所獲得的靜電夾盤梦w Δ 』肛电犬疏衣置Α至D的吸附性。評僧 方法及評價基準與上述相同。 、 表二
靜電吸附力 實施例四 〇 實施例五 〇 比較例六 Δ _比較例七 X
—分_成兩片絕緣性有機_、且於各個絕緣性有機 =膜40中形成有内部電極5〇i以實施例四的靜電夹盤 衣置A係具有良好的吸附性。 /刀,形成兩片第二絕緣性有機薄膜41、且於各個絕緣 性有機薄膜41中形成有内部電極5G及51之實施例五的靜 %夹盤裝置B亦具有良好的吸附性。 +、、另—方面,形成一片第二絕緣性有機薄膜,且藉由熱 贺塗於第二絕緣性有機薄膜上形成有陶竟層之比較例六的 靜電夾盤m ’與實施例相比吸附性較差。 ^此外,未使用絕緣性有機薄膜而僅使用有陶瓷層之比 lx例七的靜電夾盤(置D ’由於產生絕緣破壞故無法產生 319704 33 200832604 ’吸附力。 • 由於本發明的靜電夹盤裝置產生導通的疑慮少且吸附 '性佳’故適用於用以吸附保持半導體晶圓或液晶面板用玻 •璃板等之靜電夾盤裝置。 、 •(產業上的可利用性) 依據本發明’由於將用以吸附被吸附體的陶瓷層的吸 附面的表面粗糙度Ra作成7〇//m以下,藉此提升吸附 力,故能提供亦可使用於大型被吸附體的靜電夾盤裝置。 ⑩—此外’依據本發明的靜電夾盤裝置,由於以絕緣性接 著劑及絕緣性有機薄膜來覆蓋施加電壓的内冑電極,藉此獲 侍絕緣性,故具有良好的耐電壓特性,且由於用以吸附被吸 付體的及P付面為陶变’故具有耐電漿性及耐磨耗性,由於即 使在陶£層上存在有異物亦不會損傷絕緣性有機薄膜,故能 提供對於物理性外力的承受力量好的靜電夾盤裝置。 再者,本發明的靜電夾盤裝置產生導通的疑慮少,且 •吸附性佳。 【圖式簡單說明】 乐1圖係顯示本發明的靜電爽盤裝置的實施形態例之 第2圖係顯示本發明的靜電夹盤裝置的另一實施形態 例之剖面圖。 、 之第3圖係顯示本發明的靜電夾盤裝置的另一實施形態 疋剖面圖。 置的另一實施.形態 第4圖係顯示本發明的靜電夾盤裝 319704 34 200832604 例之剖面圖。 • 第5圖係顯示本發明的靜電夹盤裝置的另一實施形態 • 例之剖面圖。 第6圖係顯不本發明的靜電夾盤裝置的另一實施形態 •例,係從吸附面侧觀看之正視圖。 第7圖係顯不本發明的靜電夾盤裝置的另一實施形態 例’為弟6圖的線A-A’之剖面圖。 第8圖係顯示本發明的靜電夾盤裝置的另一實施形態 •例,係從吸附面側觀看之正視圖。 第9圖係顯示本發明的靜電夾盤裝置的另一實施形態 例’為弟8圖的線’之剖面圖。 第10圖係顯不本發明的靜電夾盤裝置的另一實施形 態例之剖面圖。 、 第11圖係顯示習知的靜電夾盤裝置的一例之剖面圖。 【主要元件符號說明】 φ 1、1〇2 靜電夾盤裝置 10、121 基板 20'122接著劑層、第一接著劑層 21、125 第二接著劑層 30 絕緣層 40 、 123 41、126 50、51、 60 、 127 絕緣性有機薄膜、第一絕緣性有機薄膜 第二絕緣性有機薄膜 124a、124b 内部電極 陶瓷層 … 319704 35

Claims (1)

  1. 200832604 十、申請專利範園: - 種靜電央盤裝置,係將用以吸附被吸附體之陶瓷層予 .以層疊於絕緣性有機薄膜者,其t,前述陶£層的^附 • 面的表面粗糙度Ra為7.0/zm以下。 .2· 一種靜電夹盤裝置,係依序層疊有·· 基板; 第一接著劑層,係設置於基板上; 絕緣層,係隔著第一接著劑層而層疊; I 内部電極,係形成於該絕緣層上; 第二接著劑層,係設置成接觸内部電極; 、纟巴緣性有機薄膜,传隱莫兮 —# 、 你丨田者該弟一接者劑層而設置; 附設置於該絕緣性 被吸附體;其中, 寸 J 月’J述陶文層的吸附面的表面粗才造度為7以 下。 3. —種靜電夹盤裝置,係 方⑼m “ 宁主少具有.稷數個内部電極,係 細加正电塵或負電摩;以及絕緣 該内部電極的單面.B兮致承丄 你汉置於 吸附被吸附體,其中, 取衣層衣面 前述絕緣性有機薄㈣分開為下述構件而 應於施加前述正電屨的由 ’ 寸 及對應於施加前述貞恭# 溥、人 膜。 U的内部電極之絕緣性有機薄 319704 36 200832604 1 -種靜電央盤裝置,係至少具有:複數細部電極,係 施加正電践負㈣;以及I緣性有機薄臈,係設置於 該内部電極的雙面;且該靜電央盤裝置係於最表層表面 吸附被吸附體,其令, 2騎性麵薄财,至少最表層側的絕緣性有 二、:為τ述構件而形成:對應於施加前述正電 t ^^ ^ .、、有機溥腠、以及對應於施加前述 負電㈣内部電極之絕緣性有機薄膜。 5.如申請專利範圍第 Α φ , ^ 員中任一項之靜電夾盤裝置, ,、中m緣性有機薄膜 薄 中,、次乐2項之靜電夾盤裝置,其 r刖迹陶竞層係藉由埶 7·如申嘖專剎 r Fi - #、、土(thermal spraying)而形成。 T明辱利乾圍第3至5 其中,係形成陶曼声作為:項之靜電夹盤裝置, 充9作為則述最表層。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI709189B (zh) * 2016-01-29 2020-11-01 日商住友大阪水泥股份有限公司 靜電卡盤裝置
TWI718133B (zh) * 2015-03-31 2021-02-11 日商住友大阪水泥股份有限公司 靜電夾盤裝置
CN113228495A (zh) * 2018-12-27 2021-08-06 株式会社巴川制纸所 静电卡盘装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5193886B2 (ja) * 2009-01-14 2013-05-08 株式会社巴川製紙所 静電チャック装置の補修方法および補修装置、ならびに静電チャック装置
KR101981766B1 (ko) * 2011-06-02 2019-05-23 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 정전기 척 aln 유전체 수리
US9589826B2 (en) * 2013-02-25 2017-03-07 Kyocera Corporation Sample holder
US9740111B2 (en) * 2014-05-16 2017-08-22 Applied Materials, Inc. Electrostatic carrier for handling substrates for processing
JP7038497B2 (ja) * 2017-07-07 2022-03-18 東京エレクトロン株式会社 静電チャックの製造方法
KR102097501B1 (ko) * 2018-05-04 2020-04-09 (주)아폴로테크 보호 코팅층을 가지는 정전척
JP7401266B2 (ja) * 2018-12-27 2023-12-19 東京エレクトロン株式会社 基板載置台、及び、基板処理装置
JP7355512B2 (ja) * 2019-03-28 2023-10-03 株式会社巴川製紙所 溶射用マスキング材、静電チャック装置の製造方法
JPWO2023153118A1 (zh) 2022-02-08 2023-08-17

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5729423A (en) * 1994-01-31 1998-03-17 Applied Materials, Inc. Puncture resistant electrostatic chuck
JPH07335732A (ja) * 1994-06-14 1995-12-22 Tokyo Electron Ltd 静電チャック、これを用いたプラズマ処理装置及びこの製造方法
JP3457477B2 (ja) * 1995-09-06 2003-10-20 日本碍子株式会社 静電チャック

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI718133B (zh) * 2015-03-31 2021-02-11 日商住友大阪水泥股份有限公司 靜電夾盤裝置
TWI709189B (zh) * 2016-01-29 2020-11-01 日商住友大阪水泥股份有限公司 靜電卡盤裝置
CN113228495A (zh) * 2018-12-27 2021-08-06 株式会社巴川制纸所 静电卡盘装置
TWI813840B (zh) * 2018-12-27 2023-09-01 日商巴川製紙所股份有限公司 靜電夾頭裝置

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