TW200829664A - Transparent conductive film, transparent electrode substrate and production method of liquid crystal alignment film using the same, and carbon nanotube and production method therefor - Google Patents

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200829664 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種透明導電膜,更詳言之,有關一種碳 奈米管及其製法及使用碳奈米管之透明電極基板。 【先前技術】 近年來,液晶顯示元件已廣泛使用於個人數位助理 (PDA )、行動電話、視訊攝影機、電腦之顯示器、液晶 電視等。 液晶顯示元件係在透明電極基板上,於形成由聚醯胺酸 或聚醯亞胺所構成的液晶配向膜之二片基板間,夾住具有 正的介電異方向性之向列型液晶層而作成三明治構造之液 晶胞,液晶分子之長軸具有從一側基板向另一側基板扭轉 90°的構造,所謂的TN ( Twisted Nematic ;扭曲向列)型 液晶顯示元件,基於對比、視野角依存性之觀點,已知有 較該TN型更具優越之STN ( Super Twisted Nematic ;超級 扭轉向列)型液晶顯示元件。 < 作爲透明電極基板之電極所使用之材料係以銦錫氧化 物等之金屬氧化物爲主流。於透明電極基板上形成液晶配 向膜之方法係藉由利用凸版印刷法、可撓性印刷法等以@ 行聚醯胺酸或可溶於溶劑之聚醯亞胺等溶液的印刷、_ $ 後,藉由使用耐綸或螺縈等之布(磨刷材),沿著單方向 磨擦所形成之方法爲主流。通常,此配向處理方法被彳爯胃 「磨刷法」,藉由使液晶分子沿著一定方向之微細凹凸$ 以配列來控制液晶之配向。 200829664 使用聚醯胺酸之情形,雖然可以得到良好之印刷性,但 是電特性爲低的。 另一方面,雖然使用聚醯亞胺溶液之情形’可以得到良 好之電特性,但是印刷性爲差的’得到均勻之薄膜爲困難 的。基於聚醯亞胺溶解性之觀點’大多使用醯胺系溶劑’ 一般而言,醯胺系溶劑之表面張力爲高的,此係成爲印刷 性差的原因。 爲了解決此問題,過去已有人提案下列方法:藉由使用 # 具有脂肪族環狀構造之酸酐的寡聚物,與利用醚鍵等鍵結 芳香環之化合物寡聚物的混合物以使溶解性得以改善之方 法(專利文獻1 );將N,N-二甲基乙醯胺作爲溶劑而改善 濕潤性之方法(專利文獻2 );添加低表面張力溶劑之方 法(專利文獻3 )。 雖然任一種方法均係使對於電極基板的濕潤性得以改 善之方法爲優異之方法,但是揭示於專利文獻1與2之方 法係相同於上述聚醯胺酸之情形,由於使用聚醯胺酸,將 i 有電特性降低之可能性,於專利文獻3所揭示之方法,由 於使用鹵素系溶劑,對於環境之負荷爲大的。因此,期望 不降低電特性而能夠得到均勻之配向膜的製作方法。 另一方面,使用單層碳奈米管作爲透明導電膜之透明導 電膜爲習知的。 單層碳奈米管之製法大致上區分爲:化學蒸發法、雷射 蒸發法、電弧放電法。所謂化學氣相沈積法係指於反應爐 內分解成爲碳原料之氣體,製造單層碳奈米管之方法(專 200829664 利文獻4 ),雖然能夠製造純度局的單層碳奈米管,但是 反應溫度爲低的,與其他方法相較之下,將有含有較多缺 陷之可能性。所謂雷射蒸發法係指藉由將雷射束照射於含 有金屬觸媒與碳之靶上而使碳蒸發,於雷射蒸發裝置中進 行製造之方法(專利文獻5 ),雖然能夠製造純度爲高的、 缺陷爲少的單層碳奈米管,但是放大(scale up)爲困難的。 所謂電弧放電法係指藉由將電弧電壓施加於碳質材料,使 電弧放電產生、蒸發碳材料以製造碳奈米管之方法(專利 (h 文獻6 ),雖然缺陷爲少的,可簡易製作,但是副產物爲 多的,觸媒金屬或單層碳奈米管以外之碳質材料將以副產 物形式含有。另外,容易放大爲可能的。因此,爲了作爲 構件利用,精製步驟爲必要的。 因而,關於大量使用缺陷少的單層碳奈米管之用途,期 望採用以電弧放電法所得的單層碳奈米管之製法,其中, 精製步驟爲必要的。 關於單層碳奈米管之精製法,許多的發明已進行,大致 ( 上區分爲根據機械性精製法、電磁性精製法、化學性精製 法。所謂機械性精製方法係指粉碎(專利文獻7 )、超音 波照射(專利文獻8 )、層析(專利文獻8 )、過濾(專利 文獻9 )等所進行的精製方法。所謂電磁性精製法係指電 泳(專利文獻1 0 )、磁場施加(專利文獻1 1 )等所代表之 電磁學性精製迮法。機械性精製方法或電磁性精製方法僅 利用此步驟則純度大多無法提高,一般係與以下所述之化 學性精製方法相組合。所謂化學精製法係指根據乾式氧化 200829664 或濕式氧化所進行的精製法。所謂乾式氧化係指氣層氧 化,於氧、水蒸氣、二氧化碳等氧化性氣體’或是氧化性 氣體與氮、氬等不活性氣體之混合氣體中加熱至600〜1000 。(:之方法(專利文獻1 2 )。所謂濕式氧化係指於硝酸、硫 酸、過錳酸鉀、氯磺酸、此等混合物等之酸性液體中進行 處理之精製法(專利文獻1 3、1 4 )。 乾式氧化必須爲高的反應溫度,由於爲固體與氣體之反 應,因而無均勻性,最適之時間、溫度之控制爲困難的。 解決此等缺點之方式爲濕式氧化,能夠予以均勻反應。 揭示實用性規模之精製方法係濕式氧化與內壓型循環過濾 的組合(專利文獻5、非專利文獻1 )。 然而,其中所揭示之濕式氧化條件係針對利用雷射蒸發 法所製作之單層碳奈米管者,具體而言,利用2〜3 Μ硝酸 水溶液(約20 %硝酸水溶液)予以反應之條件。利用同樣 之條件下,因氧化力過弱而無法進行利用電弧放電法製得 的單層碳奈米管之精製。 已有人揭示,利用電弧放電法製得的單層碳奈米管之濕 式氧化條件係利用硫酸與硝酸之混合溶劑予以反應之方法 (專利文獻1 5 ),但是此條件下,因氧化力過強,幾乎所 有的單層碳奈米管將被分解,而回收率將降低。另外,也 有人提案於濃硝酸(70% )中,於1 10〜17(TC予以20小 時反應的條件(專利文獻1 6 )。爲了進行此條件,加壓容 器爲必要的,放大爲困難的。 也有人考量以專利文獻1 4之濕式氧化條件,且使用專 200829664 利文獻2之精製方法,此情形下,發生直接施行離心分離 濃硝酸溶液之步驟,基於安全面而言,實際上放大爲困難 的,產業上不太可能被利用。即使進一步使用專利文獻5、 專利文獻1 4中任一技術,也必須重複數次進行離心分離與 隨後之傾析步驟,步驟爲複雜的。尤其,因爲必須回收離 心分離後之固體殘渣,作業時間將變長。 [專利文獻 1]日本專利特開2002- 8 8 24 1號公報 [專利文獻 2]日本專利特開2 006- 5 3 3 8 0號公報 [專利文獻 3]日本專利特開2006- 1 54 1 5 8號公報 [專利文獻 4]日本專利特開200 1 -02007 1公報 [專利文獻 5]日本專利特表2002-5 1 5 847公報 [專利文獻 6]日本專利特開2006-03 65 75公報 [專利文獻 7]日本專利特表20 04- 5 0743 6公報 [專利文獻 8]日本專利特開平0 6-22 8 8 24公報 [專利文獻 9]日本專利特開2003 -2 8 60 1 4公報 [專利文獻10]日本專利特開2000-072422公報 [專利文獻11]日本專利特開2006-0698 5 0公報 [專利文獻12]日本專利特開平07-048 1 1 0公報 [專利文獻13]日本專利特開平0 8-0 1 23 1 0公報 [專利文獻14]日本專利特開平0 8 - 1 9 8 6 1 1公報 [專利文獻15]日本專利特開2004- 1 6 8 5 7 0公報 [專利文獻16]日本專利特開2003 -05 492 1公報 [非專利文獻 1] Appl· Phys· A67,29-37(1998) A.G· Rinzler 等 200829664 【發明內容】 [發明所欲解決之課題] 因而,本發明之課題係提供一種配向膜之製法’其並不 會降低電特性,可以得到均勻的配向膜;及提供一種利用 電弧放電法所製作的碳奈米管,尤其是單層碳奈米管之製 法,實用規模上能夠安全進行之製法。 [解決課題之手段] 本發明人等發現:藉由使用濕潤性高的透明電極基板而 能夠解決該課題。進一步發現:得到濕潤性高的透明電極 基板之具體方法,其係藉由使用以碳奈米管爲主要成分之 薄膜層而具有透過性、導電性,並且藉由控制膜狀態之碳 奈米管的形狀而能夠提高濕潤性,進一步重複探討之結 果’使本發明得以完成。 亦即,本發明係一種透明導電膜,其特徵爲:透明導電 膜之主要成分爲單層碳奈米管,該單層碳奈米管係以成束 狀態下存在’利用掃描型電子顯微鏡觀察,可確認成束聚 k 集狀態的繩索形狀。 另外’本發明之該單層碳奈米管係於照射波長5 3 2nm的 雷射所測出之拉曼強度分布特性中,拉曼位移於丨34〇土40 k 婁女(kaySer)之範圍內,拉曼散射光之強度上具有第1吸 收的同時’拉曼位移於〗5 9 〇 ± 2 〇 k數之範圍內,拉曼散射 光之強度上具有第2吸收,將該第丨吸收強度設爲ID、第 2吸收強度設爲IG時,較佳爲符合式(1 ): 〇 < ID/IG ^ 0.03 ( 1 )。 -10- 200829664 對於透明導電膜之N-甲基-2-吡咯烷酮的靜態接觸角較 佳爲0°以上、5。以下者。 另外’本發明之導電膜,該單層碳奈米管係於導電層 中’以成束狀態存在,而且,超過1 . 5 μιη長度的成束數目 較佳爲較1 . 5 μιη以下長度的成束數目爲多。 另外’本發明之導電膜也可以在基材上具有導電層,其 係含有具備C00M (Μ係金屬元素)基之單層碳奈米管的 導電層。另外,可以在基材上具有導電層,其係含有具備 r:' : 磺酸基之高分子與單層碳奈米管的導電層;或是也可以在 基材上具有具備磺酸基之高分子層及含有單層碳奈米管的 導電層。 另外’本發明係一種使用該透明導電膜之透明電極板。 該透明電極板之透明導電膜的膜厚較佳爲1 Onm以上、 5 0 0 n m以下。 再者’本發明係使用該透明電極基板之液晶配向膜的製 法。 ~ 再者’本發明人等鑽硏的結果發現適合於精製利用電弧 放電法所得的粗碳奈米管之最適酸處理條件,再者,不斷 探討之結果,於是完成可解決該課題的碳奈米管之製法。 亦即,本發明係一種碳奈米管之製法,其特徵爲依照所 記載之順序而含有下列步驟1〜4 : 步驟1 :利用電弧放電法以得到粗碳奈米管之步驟; 步驟2 :使用含有水之溶劑以濕潤粗碳奈米管之步驟; 步驟3 :使用含有硝酸之水溶液以酸處理粗碳奈米管之 -11- 200829664 步驟,反應溫度爲60 °C以上、90 °C以下且反應時間爲24 小時以上、72小時以下之步驟;及 步驟4 :藉由將前步驟所得的反應液進行內壓型循環過 濾,以得到精製碳奈米管的分散液之步驟。 於此,相對於全部之碳奈米管,利用該步驟1中之電弧 放電法所得的粗碳奈米管較佳爲含有9 0 %以上之單層碳奈 米管。 於本發明之該步驟3中,含有硝酸之水溶液較佳爲5 0 ' 以上、6 5 %以下之硝酸水溶液,另外,同該步驟3中,含 有硝酸之水溶液係由水、濃硝酸與濃硫酸而成的’相對於 整個含有硝酸之水溶液,將各自之體積比例分別設爲a( vol % ) 、b(vol%) 、c(vol%)時,較佳爲符合式(2)與 式(3 ): 0.20 ^ {a/ ( a+ b + c ) } S 0.40 ( 2 ) 0.20^ {b/(b+c) }^0.30 (3) 於前步驟4中,較佳爲使用孔徑〇 · 1 μηι以上、1 μηι以下 、之中空紗膜。 另外,於本發明之該步驟3與步驟4之間,較佳爲含有 下列之步驟5、步驟6及/或步驟7。 步驟5 :將前步驟所得的反應液進行冷卻、中和之步驟。 步驟6 ··將分散劑添加於前步驟所得的反應液之步驟。 步驟7 :將超音波照射於前步驟所得的反應液之步驟。 再者,本發明係一種藉由上述製法所得之單層碳奈米 管,其特徵爲於照射波長5 3 2nm的雷射所測出之拉曼強度 -12- 200829664 分布特性中,拉曼位移於1 3 40±40 k數之範圍內,拉曼散 射光之強度上具有第1吸收的同時,拉曼位移於1 5 9 0±20 k 數之範圍內,拉曼散射光之強度上具有第2吸收,將該第 1吸收強度設爲ID、第2吸收強度設爲IG時,符合式(1 ): 0 < ID/IG ^ 0.03 ( 1 )。 [發明之效果] 由於根據本發明所得的透明電極基板具有高濕潤性之 透明電極,能夠均勻塗布用以形成液晶配向膜之材料。因 此,於液晶顯示元件之製作時能夠有效利用。另外,本發 明之碳奈米管之製法利用以廉價原料之電弧放電法而得的 粗碳奈米管爲可能的,並且,由於能夠大量得到高純度之 精製品,能夠有效利用適合於製作使用碳奈米管之光學構 件或電子構件。 【實施方式】 [用以實施發明之最佳形態] 本發明係一種透明導電膜,其特徵爲:透明導電膜的主 要成分爲單層碳奈米管,該單層碳奈米管係以成束狀態存 在,利用掃描型電子顯微鏡觀察,可確認成束聚集狀態的 繩索形狀。單層碳奈米管一般係藉由構成側壁之苯環的相 互作用,以數條聚集成束狀之所謂成束狀態存在。而且, 超過1.5 μιη長度的成束數目較佳爲較1·5 μηι以下長度的成 束數目爲多者。更佳爲,長度爲2.5μπι以上之成束數目較 長度爲1·5 μηι以下之成束數目爲多者。 測定束的長度之方法可舉出利用掃描型電子顯微鏡觀 200829664 察單層碳奈米管,測定其長度之方法。然而’並不受此方 法所限定。雖然測定之成束條數並無特別之限制’爲了得 到正確之統計値,較佳爲測定5 0條以上之束。再者,更佳 爲測定1 〇 〇條以上。 過去,針對使用碳奈米管之透明導電膜,已有人報導如 下··例如,於 L· Hu 等之報告(Nano Lett·,ν〇1· 4,No. 12, 2004 2513-2517 )、Zhuangchun Wu 等之幸g 告(Science Vol. 305,2004 1273-1276) 、M. Kaempgen 等之報告(Applied
Surface Science Vol. 252,2005 425 -429 )中,雖然任一種 單層碳奈米管均以成束狀態存在,但是彼此束進一步聚集 之形狀則無法確認。於該報告中,由於束之粗細約爲 1 Onm,即使積層此等之單層碳奈米管而製作透明導電膜, 因爲表面之凹凸爲小的,也無法提高濕潤性。 於本發明中,單層碳奈米管之束進一步聚集數條而構成 繩索形狀爲必要的。藉由構成繩索形狀而將粗細作成2 0〜 1 0 0 nm,表面之凹凸將變大,藉此,能使潤濕性得以改善。 所謂成束狀態與聚集成束之繩索狀態,其係能夠利用掃 描型電子顯微鏡觀察以進行判別。例如,於第7圖中,可看 出束絲成一條纖維狀,也可確認數條成束聚集的繩索狀態。 根據本發明所得的透明導電膜,其係利用掃描型電子顯 微鏡觀察’必須爲可確認成束之集合狀態之繩索形狀,但 是存在的所有束皆成爲繩索狀態並非必要,只要能於5萬 倍之掃描型電子顯微鏡觀察中確認繩索狀態之部分爲1處 以上即可。 -14- 200829664 製作繩索狀態之方法並無特別之限制,較佳爲對於單層 碳奈米管或其束施加機械式剪切力之方法,具體而言,可 舉出:在使單層碳奈米管分散於液體中的狀態下,進行珠 磨處理或內壓型循環過濾處理之方法,尤其進行利用中空 紗膜所造成的錯流(cross flow)過濾處理之方法等。 根據本發明所得的透明導電膜,只要其主要成分爲單層 碳奈米管的話,也可以爲例如界面活性劑等之其他成分。 於本發明中,所謂主要成分爲單層碳奈米管,具體而言, 係指在掃描型電子顯微鏡觀察透明導電膜之情形下,含有 可確認碳奈米管或其束、成束聚集的繩索形狀之存在程度 之單層碳奈米管的狀態。另外,於不損及本發明效果之範 圍內,含有熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂、 分散劑、導電性高分子、顏料等爲可能的。 只要用於根據本發明所得的透明導電膜之基材爲透明 片材或薄膜等的話,便無任何限制,可舉出:丙烯酸、聚 酯、聚碳酸酯、聚苯乙烯、苯乙烯-丙烯酸共聚物、氯乙烯 系樹脂、聚烯烴、ABS (丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物)、 環烯烴系樹脂、纖維素樹脂、玻璃等。另外必要時,在基 材與導電層之間或是在相對於基材而與導電層爲相反面 上,利用已積層硬質塗布層、防污層、防眩層、抗反射層、 黏接層等者也爲可能的。 用於本發明之透明導電膜係根據使用之用途而有所不 同,表面電阻率較佳爲1Ω/□以上、1 0000Ω/□以下,並且 全部光線透過率較佳爲4 0 %以上。 200829664 只要用於本發明之碳奈米管爲單層碳奈米管的話,並無 特別之限制,也可以爲進行化學修飾、物理修飾之物。另 外,針對於單層碳奈米管之製法也無特別之限制,能夠使 用化學蒸發法、雷射蒸發法、電弧放電法等習知之製法。 尤其,基於結晶性與生產性之觀點,較佳爲使用以電弧放 電法所製作的單層碳奈米管。 另外,於一般製造時,雖然單層碳奈米管大多含有作爲 非結晶性碳或觸媒使用之金屬粒子等之不純物,於本發明 f 使用之單層碳奈米管係純度越高越好。 作爲碳奈米管之精製法,可舉出··使用硝酸或硫酸等之 液相酸處理、或是於氧或空氣環境中之氣相氧化處理或此 等之組合等。 單層碳奈米管之純度可以藉由拉曼測定以進行測定,根 據本發明所得的透明導電膜係於單層碳奈米管照射波長 5 3 2nm之雷射而檢測出的拉曼強度分布特性中,拉曼位移 於1340±40 k數之範圍內,拉曼散射光之強度上具有第1 ^ 吸收的同時,拉曼位移於1 5 9 0±20 k數之範圍內,拉曼散 射光之強度上具有第2吸收,將該第1吸收強度設爲id、 第2吸收強度設爲IG時,較佳爲符合式(1 ): 0 < ID/IG^ 0.03 ( 1 )。 於式(1 )中,I D /1 G之値越小’表示單層碳奈米管之純 度越高。於本發明中,ID /1 G之値較佳爲〇 . 〇 3以下,更佳 爲0.02以下。ID/IG之値較0.03爲大之情形,將有純度爲 低的、透明性降低之可能性。用於本發明之透明導電膜係 -16- 200829664 依照使用之用途而有所不同,透明導電膜之膜厚較佳爲 l〇nm以上、5 00nm以下。透明導電膜之膜厚爲l〇nm以下 之情形,導電性會不足;5 0 0 nm以上之情形,透明性會不 足。 在基材上形成導電層之方法較佳爲使碳奈米管分散於 溶劑中之後,塗布在基材上,藉由加熱以去除溶劑之方法。 使碳奈米管分散於溶劑中之方法,只要爲習知之分散法 的話,則無特別之限制,例如,可舉出:將具有羥基、羧 ^ 基、胺基等極性基之化合物作爲分散劑以修飾碳奈米管表 面之方法;及利用輥磨機、珠磨機、球磨機、超音波照射 等機械性剪切力予以分散之方法。 溶劑只要爲一般用於塗料之溶劑的話,則並無特別之限 制,例如,可舉出:丙酮、甲基乙基酮、甲基異丁基酮、 環己酮等之酮系化合物;醋酸甲酯、醋酸乙酯、醋酸丁酯、 乳酸乙酯、醋酸甲氧基乙酯等之酯系化合物;二乙基醚、 乙二醇二甲基醚、乙基纖維素、丁基纖維素、苯基纖維素、 / ; ^ 二噁烷等之醚系化合物;甲苯、二甲苯等之芳香族化合物; 戊烷、己烷等之脂肪族化合物;二氯甲烷、氯苯、氯仿等 之鹵素系烴;甲醇、乙醇、正丙醇、異丙醇等之醇化合物、 水等。 將總重量設爲1 OOwt%時,碳奈米管之相對於溶劑之比 例較佳爲O.Olwt%以上、10wt%以下,更佳爲0.1 wt%以 上、1 wt %以下。另外必要時,於不損及本發明效果之範圍 內,添加丙烯酸、聚酯、聚碳酸酯、聚苯乙烯、苯乙烯-丙 1 200829664 烯酸共聚物、氯乙烯系樹脂、聚烯烴、ABS (丙烯腈-丁二 烯-苯乙烯共聚物)、環烯烴系樹脂、醋酸乙烯酯、丁醛、 環氧物、光硬化性樹脂、熱硬化性樹脂等之樹脂也爲可能 的。 只要塗布在基材上之方法爲習知方法的話,並無特別之 限制,可舉出:浸漬法、使用滾筒之塗布法、模頭塗布、 如噴霧在基材上之噴霧法、淋幕流動塗布等。另外,使用 通常金屬氧化物之導電膜時,必須將導電膜加工成所要求 f 形狀之情形,一旦整面形成透明導電膜之後,去除不要部 分之所謂蝕刻步驟爲必要的,於本發明使用的塗布法之情 形,利用凸版印刷、凹版印刷、照相凹版(gravure)印刷等 之方法,形成以僅印刷成所要求形狀爲目的之圖案爲可能 的。 只要藉由加熱以去除溶劑之步驟爲習知方法的話,並無 特別之限制,可舉出:加熱爐、遠紅外線爐等。 另外,本發明係提供一種透明導電膜,其對於透明導電 ^ 膜之N -甲基-2 -吡略烷酮的靜態接觸角爲〇 °以上、5 °以下。 於將製造配向膜時使用之聚醯亞胺予以溶解時,N-甲基-2-吡咯烷酮係一般所使用之有機溶劑,藉由使用對於N-甲基 -2-吡咯烷酮之濕潤性高的基材,能夠在透明電極層上形成 均勻的聚醯亞胺薄膜。 於本發明中,所謂的靜態接觸角係指將N -甲基-2 -吡咯 烷酮滴在基材上之後,平衡狀態下之基材與液滴接觸點之 連線和基材的角度。表不靜態接觸角越小’潤濕性越局’ -18- 200829664 本發明係一種透明導電膜,其對於透明電極層之N-甲: 吡咯烷酮的靜態接觸角爲0。以上、5。以下。靜態接觸 5 °以上之情形,潤濕性爲低的,將聚醯亞胺溶液塗布 明電極層上之情形,也將發生排斥或針孔而將有無法 均勻薄膜之可能性。 具體而言,只要透明導電膜表面上具有微細凹凸形 話,並無特別之限制,可舉出:透明導電膜之主要成 單層碳奈米管,該單層碳奈米管係以成束狀態存在, ^ 掃描型電子顯微鏡觀察而可確認成束聚集狀態之繩索 的透明導電膜,或是擦傷由金屬氧化物構成的透明導 表面而形成凹凸形狀者等。 於本發明之透明導電膜中,也可以具有導電層,其 有具有羧基的單層碳奈米管。尤其,具有羧基的單層 米管,其單層碳奈米管係利用因硝酸或是硝酸與硫酸 酸所進行之濕式酸化所得者。羧基係以C00M ( M係 Na等之金屬元素)所示之基。 I 單層碳奈米管中是否含有羧基(C Ο Ο Μ基),其可 將能夠與羧基進行離子鍵結的多價金屬離子添加於單 奈米管分散液中時’碳奈米管的凝聚之有無(參照Lani (200 1 ) 1 7、7 172 )。可與羧基進行離子鍵結的多價 離子之具體例,可舉出:氯化鈣、氯化銅等。而且, 與羧基進行離子鍵結的多價金屬離子添加於單層碳奈 分散液中時,在發生碳奈米管的凝聚之情形下’能判 層碳奈米管中具有竣基丨^^00%基)。於此’金屬兀 i -2- 角爲 在透 得到 狀的 分爲 利用 形狀 電層 係含 碳奈 的混 K、 確認 層碳 ;m u i r 金屬 將可 米管 斷單 素Μ 200829664 可舉出:Li、Na、K等之鹼金屬;Be、Mg、Ca等之驗土類 金屬;Al、Sc、Ti、V、Cr、Μη、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、
Pd等之過渡金屬。但是,此等之中,較佳爲1價之金屬元 素,更佳爲Li、Na、K等之鹼金屬。其中,尤以Na、K爲 特佳。例如,特別要求導電性用途的情形下,較佳爲 COONa ;特別要求高溫耐熱性用途的情形下,較佳爲 COOK。 於本發明之透明導電膜中,亦可以在基材上具有導電 /層,其係含有具備磺酸基之高分子與單層碳奈米管,也可 以在基材上具有具備磺酸基之高分子層及含有單層碳奈米 管。 具有本發明所用之磺酸基的高分子,較佳爲具有磺酸基 的氟系樹脂。例如,氟系樹脂可舉出··聚四氟乙烯共聚物、 四氟乙烯-過氟烷基乙烯基醚共聚物、四氟乙烯-六氟丙烯 共聚物、四氟乙烯-乙烯共聚物、聚偏氟乙烯、聚氯三氟乙 烯、氯三氟乙烯-乙烯共聚物等。當然,此等樹脂不過只是 ί 較佳之具體例而已,也可以爲除此以外之樹脂。 另外,聚苯乙烯磺酸共聚物也爲較佳的高分子。 此外,例如也可以使用聚醚酮、聚醚醚酮、聚醚颯、聚 醚醚颯、聚颯、聚硫化物、聚苯、聚苯醚、聚醯亞胺、聚 苯并咪唑、聚醯胺及此等之共聚物等。當然,此等之樹脂 爲具有擴酸基者。 尤其,基於對溶劑溶解性之觀點,更佳爲具有磺酸基之 氟系樹脂或聚苯乙烯磺酸共聚物。 -20- 200829664 例如,導電層係將使碳奈米管及具有磺酸基之高分子分 散於溶劑中之溶液塗布在基材(基板)上,藉由根據乾燥 (加熱)以去除溶劑所構成的。 接著,說明在基材上設置透明導電膜,其係含有單層碳 奈米管之導電層與具有磺酸基之高分子層,尤其,在基材 上設置含有單層碳奈米管之導電層,再於其上設置具有磺 酸基之高分子層的透明導電膜之情形。 本例之透明導電膜之基材、單層碳奈米管、具有磺酸基 的高分子能夠使用各種上述之物。另外,塗布方法也能夠 使用上述之方法。還有,於上述之例子中,設置在基材上 之層,基本上僅爲導電層。然而於本例中,至少設置含有 單層碳奈米管之導電層與具有磺酸基之高分子層等二層。 積層形成如此複數層之方法可以於塗布下層(含有單層碳 奈米管之導電層)之後,塗布上層(含有磺酸基之高分子 層),也可以使用同時形成下層與上層的疊層塗布法。 本發明係提供一種使用該透明導電膜之透明電極基板。 只要根據本發明所得的透明電極基板係使用根據本發 明所得的透明導電膜的話,並無任何限制,可爲利用電極 以覆蓋整個基材表面者,也可爲予以圖案化者。已圖案化 的透明電極之情形,可以爲在整個基材表面上一度配置透 明導電膜後,再將一部分去除之方法,也可以爲藉由圖案 印刷以配置透明電極之方法。另外,也可以於基板與透明 電極之間有彩色濾光片層或介電體層等。可用於透明電極 基板之透明導電膜的膜厚較佳爲10 nm以上、5 0 0 nm以下。 200829664 透明導電膜之膜厚爲1 〇nm以下之情形,導電性會不足; 5 OOnm以上之情形,透明性會不足。 本發明係提供一種使用根據本發明所得的透明電極基 板之液晶配向膜製法。 只要根據本發明所得的配向膜之製法係使用根據本發 明所得的透明電極基板的話,並無特別之限制,較佳爲在 根據本發明所得的透明電極基板上,塗布聚醯亞胺溶液或 聚醯亞胺前驅物溶液之方法。配向膜之膜厚較佳爲至少較 透明導電層之凹凸的高低差爲厚,具體而言,較佳爲1〇〇 nm 以上、1 0 μ m以上。 再者必要時,能夠進行加熱,由聚醯亞胺前驅物製作聚 醯亞胺膜,去除溶劑。進行加熱之溫度較佳爲使用之基材 不變形的範圍。 只要作爲使液晶配向之方法爲習知方法的話,並無特別 之限制,可舉出··物理性磨擦聚醯亞胺膜表面之方法、或 是照射活性能量線之方法等。 本發明係一種碳奈米管之製法,其特徵係含有記載下列 步驟1〜4之順序的碳奈米管之製法: 步驟1 :利用電弧放電法以得到粗碳奈米管之步驟; 步驟2 :使用含有水之溶劑以濕潤粗碳奈米管之步驟; 步驟3 :使用含有硝酸之水溶液以酸處理粗碳奈米管之 步驟,反應溫度爲6 0 °C以上、9 0 °C以下且反應時間爲2 4 小時以上、7 2小時以下之步驟;及 步驟4 :藉由將前步驟所得的反應液進行內壓型循環過 -22 - 200829664 濾’以得到精製碳奈 以下,針對根據本 加以說明。 步驟1係利用電弧 供根據本發明所進行 放電法所得的粗碳奈 碳奈米管,由於不純 法提高、回收率降低 電弧電壓施加於碳質 製造粗碳奈米管之方 之方法。 只要用於本發明之 到的話,並無特別之 奈米管、多層碳奈米 層碳奈米管之精製法 米管之情形,利用電 i > 碳奈米管較佳爲全部 米管)之90%以上, 例能夠利用掃描型電· 步驟2係利用含有 於根據本發明所得 驟。一般而言,一旦 危險性,爲了防範於 管濕潤之步驟爲必要 米管的分散液之步驟。 發明所得的碳奈米管之製法的各步驟 放電法以得到粗碳奈米管之步驟。提 之製法的粗碳奈米管必須爲利用電弧 米管。利用電弧放電法以外所作成的 物之量或缺陷數目不同,將有純度無 的可能性。所謂電弧放電法係藉由將 材料,產生電弧放電以蒸發碳材料而 法,也可以爲含有鎳或鐵等金屬觸媒 L粗碳奈米管爲利用電弧放電法所得 限制,適用於單層碳奈米管、複層碳 管等各種碳奈米管爲可能的,作爲單 特別有用。欲得到所精製的單層碳奈 弧放電法所得的粗碳奈米管中之單層 碳奈米管(單層碳奈米管+複層碳奈 更佳爲95%以上。單層碳奈米管之比 子顯微鏡觀察而求出。 水之溶劑以濕潤粗碳奈米管之步驟。 的製法中,於步驟3包含使用酸之步 使強酸與碳材料接觸時,將有起火之 此,利用含有水之溶劑以使粗碳奈米 的。只要用於步驟2之溶劑爲至少含 -23 - 200829664 有水者的話,並無特別之限制,較佳爲實質上防止 並且與強酸之相溶性爲良好的溶劑。具體而言,可 水、甲醇、乙醇、丙醇、二甲基甲醯胺、二甲基亞 酮、丙烯腈等。 步驟3係使用含有硝酸之水溶液以酸處理粗碳奈 步驟,反應溫度爲6 0 °C以上、9 0 °C以下且反應時澤 小時以上、7 2小時以下之步驟。步驟3係爲了使碳 與不純物之物理性結合得以解離所必要之步驟,也 ^ 種程度分解非結晶性碳之步驟。 於步驟3中,所謂用於酸處理之水溶液係指包含 步驟2使用之水的溶劑,只要爲含有硝酸者的話, 別之限制,具體而言,可舉出:僅有硝酸,硫酸、 氫水、鹽酸等之混合酸。 於本發明中,僅利用硝酸之情形,較佳爲3 0 %以 %以下之硝酸水溶液,更佳爲50%以上、65%以下 水溶液。硝酸水溶液之濃度較3 0 %爲小之情形’反 爲慢,7 0 %以上之情形,操作時之危險性將變高。 另外,硝酸與硫酸之混合酸也能夠適用於本發明 而言,於步驟3,含有硝酸之水溶液係由水、6 9 % 98 %硫酸而成的,相對於整個含有硝酸之水溶液’ 之體積比例分別設爲a(v〇l%) ' b ( v ο 1 % ) 、c( 時,較佳爲滿足式(〇及式(5 ): 0.10^{a/(a+b+c) } ^ 0.50 (4) 〇.20^{b/(b+c) }^0.80 (5) 起火, 舉出: 楓、丙 米管之 1爲24 奈米管 兼具某 含有於 並無特 過氧化 上、70 之硝酸 應速度 。具體 硝酸及 將各自 v ο 1 % ) -24- 200829664 更佳爲滿足式(2 )及式(3 ) ·· 0.20^{a/(a+b+c) } £ 0.40 (2) 0.20 €{b/(b+c)}‘ 0.30 (3) {a/ ( a + b + c ) }之値較〇. 1爲小之情形,將有氧 強而碳奈米管被分解之危險性;較〇. 5爲大之情形 力過弱、反應速度變慢。{b/(b+c) }之値較0.2爲 形,或較0.8爲大之情形,將有氧化力過弱而反應 慢之危險性。 步驟4係藉由過濾於前步驟所得的反應液以得到 奈米管之分散液之步驟。於直徑約20nm之不純物粒 奈米管之束已分離之狀態下,進行酸處理之碳奈米 應液係分散或沈澱於溶液中。因此,藉由使用孔徑 物爲大,且較碳奈米管之束爲小的濾器進行過濾, 除不純物。 只要過濾方法爲習知之內壓型循環過濾方法的話 1¾制,較佳爲使用中空紗膜之錯流過濾。 I 只要根據本發明所得的碳奈米管之製法係含有 驟1〜4者的話,並無特別之限制,更佳爲於步驟3 4之間,更含有以下揭示之步驟5〜7。 步驟5係將前步驟所得的反應液冷卻、中和的步 @增加此步驟,能夠提升於反應液中之碳奈米管或 之分散性、提高過濾效率。也能夠進一步安全地進 之步驟。 只要作爲於步驟5中使用之中和劑爲顯示鹼性之 化力過 ,氧化 小之情 速度變 精製碳 子與碳 管的反 較不純 能夠去 ,並無 上述步 與步驟 驟,藉 不純物 行隨後 化合物 -25 - 200829664 的話,並無特別之限制,較佳爲氫氧化鈉或碳酸鈉、碳酸 氫鈉等,基於抑制中和熱之觀點,更佳爲碳酸鈉或碳酸氫 鈉。 步驟6係將分散劑添加於前步驟所得的反應液中之步 驟,藉由增加此步驟,能夠改善反應液中之碳奈米管或不 純物的分散性、提高過濾效率。 只要分散劑爲習知之化合物的話,並無特別之限制,其 中,基於分散性之觀點,較佳爲由含有烷苄基之化合物而 "" 成。因爲若烷苄基中所含之烷基過小的話,分散能力爲低 的,若過大的話,水溶性將降低,於烷基所含之碳數較佳 爲5個以上、1 5個以下,更佳爲8個以上、1 2個以下。 另外,分散劑較佳爲非離子系或陰離子系分散劑。具體 而言,可舉出:聚乙二醇一辛基苯基醚、聚乙二醇一壬基 苯基醚、聚乙二醇一十二烷基苯基醚、辛基苯磺酸鹽、壬 基苯磺酸鹽、十二烷基苯磺酸鹽、十二烷基二苯基醚二石黃 酸鹽、一異丙基萘磺酸鹽、二異丙基萘磺酸鹽、三異两基 I / 萘磺酸鹽、二丁基萘磺酸鹽、萘磺酸鹽甲醛縮合物鹽等。 其中,較佳爲十二烷基苯磺酸鈉,更佳爲直鏈型十二院基 苯磺酸鈉。 步驟7係將超音波照射於前步驟所得的反應液之步驟, 藉由增加此步驟,能夠提升於反應液中之碳奈米管或不_ 物之分散性、提高過濾效率。作爲照射超音波之方法,H 要爲習知方法的話,並無特別之限制,使用匯流型超音波 照射機或晶片(chip)型超音波照射機爲可能的,基於更短日寺 -26 - 200829664 間進行處理之觀點,更佳使用晶片型超音波照射^ 於本發明中,於步驟3與步驟4之間含有步驟 的至少二個步驟之情形,較佳爲依步驟5、步驟( 之順序含有。 根據本發明所得的碳奈米管之製法含有上述之 4的話’並無任何限制,更佳爲步驟4之後,更含辛 步驟8係藉由將凝聚劑添加於被精製之碳奈米 液中’使碳奈米管凝聚而取出之步驟。
'' 藉由進行此步驟,能夠以固體狀態取出精製I 管。只要凝聚劑係使分散液中之分散安定性降低 的話’並無特別之限制,例如,可舉出:根據溶 使分散安定性降低之方法;或利用在碳奈米管之 生的羧基而形成鹽之方法等。 只要作爲利用溶劑震動之凝聚劑爲水溶性有 話’並無特別之限制,可舉出:甲醇、乙醇、丙 基甲醯胺、二甲基亞颯、丙酮、丙烯腈等。其中 丙醇,最佳爲異丙醇。相對於碳奈米管之分散液 劑之添加量較佳爲50〜200容量%,更佳爲70〜 % 0 只要作爲利用碳奈米管之羧基而形成鹽的凝 有多價陽離子之鹽類的話,並無特別之限制,可驾 鋁、鈣、鐵、鈷、鎳、銅、鋅等之鹵化物、氫氧 酸鹽、錢鹽等。具體而言,可舉出:氯化鎂、氯 化鈣、硫酸鐵、氯化鈷、氯化鎳、硫酸銅、氯化氣 丨5〜7中 - _lk g 取 η 步驟1〜 ί步驟8。 管的分散 的碳奈米 之化合物 劑震動而 酸處理產 機溶劑的 醇、二甲 ,較佳爲 ,有機溶 150容量 聚劑爲含 S出:鎂、 化物、硫 化鋁、氯 ,,其中, -27- 200829664 較佳爲離子化傾向小的銅鹽’更佳爲硫酸銅。 精製的碳奈米管之純度能夠根據拉曼光譜測定加以確 認。具體而言,根據來自構成碳奈米管之主要成分之石墨 薄片的吸收強度,與來自表示除此以外之碳材料成分的吸 收強度比,可確認碳奈米管之純度。 例如,照射波長5 3 2nm之雷射而測出根據電弧放電所製 作的碳奈米管之情形,拉曼位移於1340±40 k數之範圍內, 拉曼散射光之強度上具有第1吸收的同時,拉曼位移於 、 1590±20 k數之範圍內,拉曼散射光之強度上具有第2吸 收。於此,認爲第1吸收係來自石墨薄片的吸收,第2吸 收係來自碳原子之S P 3軌道的吸收。亦即,相對於第1吸 收強度,第2吸收強度越小,碳奈米管之純度變高。 根據本發明之製法所得的單層碳奈米管,其係於照射波 長5 3 2 nm的雷射而測出之拉曼強度分布特性中,拉曼位移 於1340±40 k數之範圍內,拉曼散射光之強度上具有第1 吸收的同時,拉曼位移於1 5 9 0 土 2 0 k數之範圍內,拉曼散 射光之強度上具有第2吸收,將該第1吸收強度設爲ID、 第2吸收強度設爲ig時,較佳爲符合式(1 ): 0 < ID/IG ^ 0.03 ( 1 ) 更佳爲符合式(6 ): 0 < ID/IGS 0.02 ( 6 )。 ID/IG之値較〇·〇3爲大之情形,具有單層碳奈米管之純 度爲低的可能性。 根據本發明之製法所得的碳奈米管,由於缺陷爲少的, -28- 200829664 並且不純物也爲少的,適宜作爲氫吸附材料或透明導電材 料。 [實施例] 以下,根據實施例以具體說明本發明,本發明並不受該 實施例所限定。 <實施例1 > 將利用電弧放電法所得的粗單層碳奈米管(Carbolex公 司製)3 0 g、蒸餾水3 0 0 m 1投入5 L可分離的燒瓶中,利用 Γ 蒸餾水以使粗單層碳奈米管予以完全濕潤。利用透過型電 子顯微鏡觀察此粗碳奈米管後,無法確認複層碳奈米管。 一面利用機械攪拌機攪拌,並一面滴入6 9 %硝酸(和光 純藥工業公司製)2 70 Omi之後,於85 °C進行48小時攪拌。 將反應液冷卻直到室溫後,一面攪拌,並一面以粉體狀 態投入碳酸鈉(和光純藥工業公司製),使反應液之pH 成爲1 〇爲止。對於此時點之粗單層碳奈米管的回收率爲 5 1%。 I 於pH成爲1 0之反應液中,投入經固形成分換算爲6g 之十二烷基苯磺酸鈉(軟型)(東京化成工業股份公司製) 之後,利用圓錐型超音波照射機(裝置名 ULTRASONIC HOMOGENIZER MODEL UH-600SR、SMT 公司製),照射 超音波5分鐘。 以13000rpm,進行反應液1小時之離心分離(產品名 CR26H、日立工機股份公司製)。回收上澄液,作成粗精 製液。相對於未精製之單層碳奈米管,此時點之回收率爲 -29- 200829664 20% 〇 將粗精製液投入2L之聚乙烯製槽中,供作錯流過濾。 使用之中空紗膜模組係孔徑 200nm、膜面積 5 8 0 0cm2 (SPECTRUM公司製),洗淨液係於0.0 0 5 M氫氧化鈉水 溶液中,使十二烷基苯磺酸鈉(軟型)成爲0.2 wt%之方式 來添加的鹼性水溶液。藉由利用20.0L之洗淨液以洗淨粗 精製液,得到精製單層碳奈米管之分散液。 取出300ml之精製單層碳奈米管的分散液,投入300ml { 之異丙醇而使精製單層碳奈米管得以凝聚,以20000rPm, 進行10分鐘之離心分離(產品名CR26H、日立工機股份公 司製)。回收殘渣,進行拉曼測定(波長5 3 2nm、裝置名: HoloLab5000、島津製造所製)。ID/IG爲 0.016。相對於 未精製之單層碳奈米管,此時點之回收率爲8%。 藉由將利用電弧放電法製作的未精製之單層碳奈米管 的拉曼測定結果(圖1、ID/IG= 0.0 5 9 )、掃描型電子顯微 鏡(以下,簡稱爲SEM。)照片(第3圖),與對於精製後 之單層碳奈米管的拉曼測定結果(第2圖)、SEM照片(第 4圖)作一比較,得知可以得到高純度之單層碳奈米管。 <實施例2 > 於實施例1中,除了將滴入69%硝酸(日本和光純藥工 業公司製)2700ml之步驟,變更爲依序滴入水(420ml)、 6 9 %硝酸(和光純藥工業公司製)4 2 0 m 1、9 7 %硫酸(和光 純藥工業公司製)1 260ml之外,進行相同於實施例1之操 作0 -30- 200829664 於此,相對於整個含有硝酸之水溶液,若將水、濃硝酸 及濃硫酸之體積比例分別設爲a ( vol% ) 、b(vol%) 、c (vol% )時, {a/( a+b+c) }=0·30、0.20$ {b/(b+c) } = 0.25。拉曼測定之結果,ID/IG爲0.010 (第5圖)。 將SEM照片記錄於第6圖。 由實施例1及2之結果,得知根據本發明便能夠使用根 據電弧放電法所得的粗單層碳奈米管以製造實用規模且安 全之高純度單層碳奈米管。 <實施例3 > 除了將粗精製液投入 3 00ml之燒瓶中,使用孔徑 200nm、膜面積1 05cm2之中空紗膜模組(產品名MIDIKROS CROSSFLOW MODULE、SPECTRUM 公司製)以進行錯流 過濾之外,進行相同於實施例1之操作而得到精製單層碳 奈米管的分散液。 相對於 3 0 0ml之精製單層碳奈米管的分散液,投入 3 00ml之異丙醇而使精製單層碳奈米管得以凝聚,以 2 00 0 0rpm,進行10分鐘之離心分離(產品名CR26H、日 立工機股份公司製)。回收殘渣,進行拉曼測定(波長 532 nm、裝置名·· HoloLab 5000、島津製造所製)。iD/iG 爲 0 · 0 1 6 ° 回收殘渣、投入3 0 0 m 1之蒸餾水後,利用圓錐形超音波 照射機(裝置名 ULTRASONIC HOMOGENIZER MODEL UH-600SR、SMT公司製),照射5分鐘之超音波,得到精 製碳奈米管之水分散液。 200829664 將所得的精製碳奈米管之水分散液噴塗在厚度1 2 5 μηι 之聚酯薄膜(商品名 COSMOSHINE Α4100、東洋紡公司 製),得到透明電極基板。 相對於所得的透明電極基板之Ν-甲基-2-吡咯烷酮的接 觸角爲〇。(裝置名:ELMER GONIOMETER式接觸角測定 器、ELMER光學股份公司製)。 使用 4端子 2探針法(裝置名 LORESTA-FP、DIA INSTRUMENTS公司製),測出表面電阻率爲1 7 0 Ω / □,測 f 出全部光線透過率(裝置名:直接讀取霧度電腦、Suga試 驗機公司製)爲6 0 · 5 %。 將實施例3所得的透明電極基板表面之掃描型電子顯微 鏡照片記錄於第7圖。 如由第1圖所得知般,可確認碳奈米管係以成束狀態存 在,成束之聚集狀態之繩索形狀爲第7圖中央部分等。 <比較例1 > 相對於將ITO膜積層於聚酯薄膜上之透明電極基板(商 I 品名3 0 0RK ( CL )、東洋紡公司製)之N -甲基-2-吡咯烷 酮的接觸角爲11° (裝置名:ELMER GONIOMETER式接觸 角測定器、ELMER光學股份公司製)。 使用4端子2探針法(裝置名 l〇RESTA-FP、DIA INSTRUMENTS公司製),測出表面電阻率爲2 5 0 Ω / □,測 出全部光線透過率(裝置名:直接讀取霧度電腦、Suga試 驗機公司製)爲8 8 · 5 %。 -32- 200829664 <比較例2 > 將利用化學蒸發法所製作之單層碳奈米管(CNI公司 製)1 0 m g投入0 · 5 %之十二烷基苯磺酸鈉(軟型)水溶液 1 〇 g中之後,利用圓錐型超音波照射機(裝置名 ULTRASONIC HOMOGENIZER MODEL UH-600SR、SMT 公 司製),照射超音波5分鐘,以3000rpm,進行20分鐘之 離心分離(產品名CR26H、日立工機股份公司製)後’回 收上澄液,得到精製碳奈米管之水分散液、 進行相同於實施例3之方式’噴塗所得的分散液而得到 透明電極基板。 相對於所得的透明電極基板之N -甲基-2 -吡咯烷酮的接 觸角爲10° (裝置名:ELMER GONIOMETER式接觸角測定 器、ELMER光學股份公司製)。 使用 4端子 2探針法(裝置名 LORESTA-FP、DIA INSTRUMENTS公司製),測出表面電阻率爲1500Ω/[ϋ, 測出全部光線透過率(裝置名:直接讀取霧度電腦、Sug a 試驗機公司製)爲6 5 · 0 %。 將比較例2所得的透明電極基板表面之掃描型電子顯微 鏡照片記錄於第8圖。 如由第 2圖所得知般,雖然碳奈米管係以成束狀態存 在,但是無法確認成束之聚集狀態之繩索形狀。 由上述之實施例3及比較例1及2之結果得知,使用碳 奈米管且利用SEM觀察可確認成束之聚集狀態的繩索形狀 之透明電極基板係濕潤性爲高的。因而,製作配向膜之際, -33 - 200829664 將實施例3所得的透明電極基板與比較例1及2所得的透 明電極基板作一比較,得知可以得到無排斥或針孔之均勻 膜。 <參考例> 將貫施例1所得的單層碳奈米管之水分散液噴塗在pET 薄膜(商品名COSMOSHINEA4100、東洋紡公司製)上, 形成導電層。 測定所得的透明導電膜之全部光線透過率(以Suga試 ^ 驗機公司製之直接讀取霧度電腦測定)後,全部光線透過 率爲80%,另外,測出表面電阻(利用DIA INSTRUMENTS 公司製之LORESTA-FP測定)後,爲5 6 0 Ω/〇。 <實施例4 > 於參考例所得的透明導電膜之上,使固形成分膜厚成爲 約lOOnm之方式來進行過氟磺酸/PTFE共聚物(磺酸基約 1毫當量/g、DUPONT公司製之NAFION (商品名))之正 丙醇溶液(固形成分濃度約1質量% )的桿式塗布。全部 k 光線透過率及表面電阻並無變化。 然後,於80 °C保存此物3天後,測定表面電阻,進行高 溫耐久性試驗後,高溫試驗後之表面電阻爲604Ω/□,表 面電阻變化率爲1 〇 8 %。 還有,參考例的高溫試驗後之表面電阻爲2 8 0 0 Ω/□’表 面電阻變化率爲483%。 <實施例5 > 於根據實施例1所作成的單層碳奈米管之水分散液中’ -34 - 200829664 使過氟磺酸/PTFE共聚物(磺酸基約1毫當量/g、DUP〇NT 公司製之NAFI ON (商品名))成爲與單層碳奈米管等量之 方式來添加過氟磺酸/PTFE共聚物之正丙醇溶液。 將含有此單層碳奈米管及DUPONT公司製之NAFI ON(商 品名)之溶液噴塗在 pET薄膜(東洋紡公司製之 COSMOSHINEA4100(商品名))上,形成導電層。 測定進行如此方式所得的透明導電膜之表面電阻爲 820Ω/□,另外,測出全部光線透過率爲75%。 f 然後,如上述之方式,進行此物之高溫耐久性試驗後, 高溫試驗後之表面電阻爲902Ω/□,表面電阻變化率爲11 0 %。 <實施例6 > 於8 5 °C,利用6 3 %硝酸以使根據電弧放電法所製作之 單層碳奈米管予以反應2天。之後,藉由過濾以回收含有 羧基之單層碳奈米管。 混合所得的2mg之含有羧基之單層碳奈米管、50mg之 U 辛基酚聚乙二醇醚(東京化成工業公司製)、l〇g之〇.〇5M 氫氧化鈉水溶液。然後,歷經1分鐘照射超苜波(利用S Μ T 公司製之 ULTRASONIC HOMOGENIZER MODEL UH-600 SR,照射超音波),得到含有羧酸鈉基(—COONa ) 之單層碳奈米管分散液。 將所得的分散液噴塗在PET薄膜(東洋紡公司製之 COSMOSHINE A4100(商品名))上。之後,利用甲醇以 去除辛基酚聚乙二醇醚,得到透明導電膜。 -35 - 200829664 測定進行如此方式所得的透明導電膜之表面電阻爲 3 5 0Ω/□,另外,測出全部光線透過率爲81.5%。 然後,如上述之方式,進行此物之高溫耐久性試驗後, 高溫試驗後之表面電阻爲420 Ω/□,表面電阻變化率爲120 %。 【圖式簡單說明】 第1圖係顯示粗單層碳奈米管之拉曼測定結果的圖形。 第2圖係顯示對於精製後之單層碳奈米管進行拉曼測定 (' 後之結果(實施例1 )的圖形。 第3圖係粗單層碳奈米管的SEM照片。 第4圖係精製後之單層碳奈米管的SEM照片(實施例1}。 第5圖係顯示對於精製後之單層碳奈米管進行拉曼測定 後之結果(實施例2 )的圖形。 第6圖係精製後之單層碳奈米管的SEM照片(實施例2)。 第7圖係使用根據實施例3所得的碳奈米管之透明電極 基板的掃描型電子顯微鏡照片。 I · 第8圖係使用根據比較例2所得的碳奈米管之透明電極 基板的掃描型電子顯微鏡照片。 【主要元件符號說明】 te 〇 -36 -

Claims (1)

  1. 200829664 十、申請專利範圍: 1. 一種透明導電膜,其特徵爲: 透明導電膜之主要成分爲單層碳奈米管; 該單層碳奈米管係以成束狀態下存在;且 利用掃描型電子顯微鏡觀察,可確認成束之聚集狀態 的繩索形狀。 2 .如申請專利範圍第1項之透明導電膜,其中該單層碳奈 米管係於照射波長5 3 2nm的雷射所測出之拉曼強度分 ( 布特性中,拉曼位移於1 3 40±40 k數(kayser )之範圍 內,拉曼散射光之強度上具有第1吸收的同時,拉曼位 移於1590±20 k數之範圍內,拉曼散射光之強度上具有 第2吸收,將該第1吸收強度設爲ID、第2吸收強度設 爲IG時,符合式(1 ): 0 < ID/IG ^ 0.03 (1)〇 3 .如申請專利範圍第1項之透明導電膜,其中對於透明導 電膜之N-甲基-2-吡略烷酮的靜態接觸角爲〇°以上、5° t - 以下。 4 .如申請專利範圍第2或3項之透明導電膜,其中該單層 碳奈米管係於導電層中,以成束狀態下存在,而且,超 過1·5μιη長度的成束數目較1.5μΓΠ以下長度的成束數目 爲多。 5 ·如申請專利範圍第2或3項之透明導電膜’其中在基材 上具有導電層,其係含有具備COOM ( Μ係金屬元素) 基之單層碳奈米管的導電層。 -37- 200829664 ♦ 6 .如申請專利範圍第2或3項之透明導電膜,其中在基材 上具有導電層,其係含有具備磺酸基之高分子與單層碳 奈米管的導電層。 7.如申請專利範圍第2或3項之透明導電膜,其中在基材 上具有具備磺酸基之高分子層及含有單層碳奈米管的 導電層。 8 . —種透明電極基板,其係使用如申請專利範圍第2或3 項之透明導電膜。 V 9 . 一種液晶配向膜之製法,其係使用如申請專利範圍第8 項之透明電極基板。 1 0. —種碳奈米管之製法,其特徵爲依照所記載之順序而含 有下列步驟1〜4 : 步驟1 :利用電弧放電法以得到粗碳奈米管之步驟; 步驟2 :使用含有水之溶劑以濕潤粗碳奈米管之步驟; 步驟3 :使用含有硝酸之水溶液以酸處理粗碳奈米管 之步驟,反應溫度爲60 °C以上、90°C以下且反應時間爲 U 24小時以上、72小時以下之步驟;及 步驟4 :藉由將前步驟所得的反應液進行內壓型循環 過濾,以得到精製碳奈米管的分散液之步驟。 1 1 ·如申請專利範圍第1 0項之碳奈米管之製法,其中相對 於全部碳奈米管,利用於步驟1中之電弧放電法所得的 粗碳奈米管含有90%以上之單層碳奈米管。 i 2 .如申請專利範圍第1 〇項之碳奈米管之製法,其中於步 驟3中,含有硝酸之水溶液係由水、濃硝酸與濃硫酸而 -38- 200829664 成的,相對於整個含有硝酸之水溶液,將各自之體積比 例設爲 a(v〇l%) 、b(v〇l%) 、c(vol%)時’符合 式(1 )與式(2 ): 〇.20^{a/(a+b+c) } £ 0.40 (1) 0.20^ {b/ ( b+ c) } ^ 0.30 ( 2)。 1 3 .如申請專利範圍第1 0項之透明導電膜之製法’其中於 步驟4中,使用孔徑0 · 1 μιη以上、1 μηι以下之中空紗膜。 1 4 .如申請專利範圍第1 〇項之碳奈米管之製法,其中於步 f 驟3與步驟4之間含有下列之步驟5 : 步驟5 :將前步驟所得的反應液冷卻、中和之步驟。 1 5 .如申請專利範圍第1 〇項之碳奈米管之製法,其中於步 驟3與步驟4之間,含有下列之步驟6 : 步驟6 :將分散劑添加於前步驟所得的反應液中之步驟。 1 6 .如申請專利範圍第1 0項之碳奈米管之製法,其中於步 驟3與步驟4之間含有下列之步驟7 : 步驟7 :將超音波照射於前步驟所得的反應液之步驟。 C. 1 7 .如申請專利範圍第1 0項之碳奈米管之製法,其中於步 驟4之後含有下列之步驟8 : 步驟8 ··藉由將凝聚劑添加於精製碳奈米管之分散液 中,將碳奈米管凝聚取出之步驟。 1 8 . —種利用如申請專利範圍第1 〇項之製法所得的單層碳 奈米管,其特徵爲於照射波長5 3 2nm的雷射所測出之拉 曼強度分布特性中,拉曼位移於1 3 40=t40 k數之範圍 內’拉曼散射光之強度上具有第1吸收的同時,拉曼位 -39 - 200829664 移於1590d=20k數之範圍內,拉曼散射光之強度上具有 第2吸收,將該第1吸收強度設爲ID、第2吸收強度設 爲IG時,符合式(3 ): 0 < ID/IG^ 0.03 ( 3 )。
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