TW200415127A - Apparatus and method for measuring ground amounts of liquid crystal display panel - Google Patents

Apparatus and method for measuring ground amounts of liquid crystal display panel Download PDF

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Description

200415127
【發明所屬之技術領域】 本發明是關於一種測量顯示面板研磨量之裝置，特別 疋關於一種測量液晶顯示面板研磨量之裝置。 【先前技術】 一般說來，為了增加液晶顯示裝置之生產量，會將數 個薄膜電晶體陣列基板（thin film transist〇r array substrate)形成於大尺寸的第一玻璃基板上，並將數個 彩色；慮光片基板（color filter substrate)形成於大尺 寸的第二玻璃基板上。然後，把第一玻璃基板與第二玻璃 基板同時結合，即形成了數個單元液晶顯示面板。因此， 將液晶顯不面板切割成數個單元液晶顯示面板的製程是必 要的。 單元液晶顯示面板之切割通常使用砂輪（whee；[)以 形成刻劃線（scribing line)於第一玻璃基板或第二玻 璃基板之表面上，為使裂縫沿著刻劃線傳播，砂輪之硬度 比第一玻璃基板與第二玻璃基板之硬度為高。
第1圖為先前技術之數個單元液晶顯示面板之剖面 圖。於第1圖中，數個薄膜電晶體陣列基板丨沿著數個彩色 濾光片基板2之邊緣突出。另外，閘極墊單元（圖中未 不）與 '料墊單兀（圖中未示）沿著薄膜電晶體陣列基板 1中未與彩色濾光片基板2重疊之邊緣部位來形成。而數個 彩色濾光片基板2係形成於第二基板3 〇，並由數個空置區 域（dummy region) 31來隔離，空置區域31係對應於形成 於.第一基板20之薄膜電晶體陣列基板1的突出部位。
第7頁 200415127 五、發明說明（2) 適田地配置數個單元液晶顯示面板，可使第—美 與第二基，3_0有效地被利用。另夕卜，通常由數個區二來 隔離數個單元液晶顯示面板。 — 於包含數個薄膜電晶體陣列基板i的第一基板2〇與 含數個彩色濾光片基板2的第二基板3 〇互相結合後，將 晶顯示面板切割成數個個別的單元液晶顯示面板。並於 割時移除空置區域3 1與區域3 2。 、 第2圖為先前技術之單元液晶顯示面板之平面圖。於 弟2圖中，單元液晶顯示面板1〇包含影像顯示單元13、鬧 極墊部分14、與資料墊部分15 ’其中液晶晶格（Uquid crystal cells)係以矩陣的形式排列於影像顯示單元 :3，f;’極塾部分14係連接影像顯示單元13之多條閘極導線 GL1〜GLm至提供訊號之閘驅動器1(：( —㈣e “ lrcuit)(圖中未示，，而資=部分 連接影像顯示單元丨3之多條資料導線DU〜DLn至 像 資料之資料驅動器IC (data driver integrated〜像 (圖中未示）。閘極墊部分14與資料墊部分15 係沿著薄膜電晶體陣列基板1之邊緣部位形成，且對應於 ^ =濾光片基板2，從薄膜電晶體陣列基板丨之短邊與長邊 天出。 雖=圖中未顯*，可轉換液晶晶格之薄膜電晶體 =於溥膜電晶體陣列基板丨上之多條資料〜 極導線GL卜GLm之每一個交叉部位。此外，晝素電極夕 係與溥膜電晶體連接以提供電場給液晶晶格，鈍化膜係用 200415127 五、發明說明（3) 來保護多條資料導線DU〜DLn與多條間極導線GL1〜GLm，其 中，薄膜電晶體與畫素電極係形成於薄膜電晶體陣列基板 1。此外，將數個彩色濾光片被覆於液晶晶格區域，並由 設置於彩色濾光片基板2上之黑色矩陣與共同透明電極來 分隔，而共同透明電極為形成於薄膜電晶體陣列基板1之 晝素電極的相對電極（c〇unter electrode)。 晶格間隙（ce 1 1 gap )係形成於薄膜電晶體陣列基板 1與彩色濾光片基板2之間，使薄膜電晶體陣列基板丨與彩 色濾光片基板2被形成於其間的晶格間隙隔開。沿著影像 顯示單元13之外圍，以密封劑（圖中未示）將薄膜電晶體 ，列基板1 +與彩色濾光片基板2結合，並形成液晶層（圖中 :)於薄膜電晶體陣列基板丨與彩色濾光片基板2 晶格間隙内。 u〜 雖然圖中未顯示，短路 薄膜電晶體陣列基板1之邊為 陣列基板上將導電層圖案化 晶顯示面板切割成個別的單 被移除。因此，研磨單元液 短路棒。此外，單元液晶顯 致不利的現象，會由於外部 產生碎片。因此，操作人員 部位的尖銳的碎片所傷害。、 第3圖為先前技術之液』 圖。於第3圖中，研磨裝置^ 棒（shorting bar)係形成於 t部位，以避免於薄膜電晶體 時可能引發的電荷累積。將液 元液晶顯示面板後，短路棒會 晶顯示面板之邊緣部位以去除 示面板之邊緣部位之研磨會導 的*ί里擊而使早元液晶顯示面板 了月b會被液晶顯不面板之邊緣 ^顯示面板研磨裝置之示意 L含承载單元50、研磨單元53
200415127 五、發明說明（4) 與一卸载單元5 4。其中，承載單元5 0係用以承載一份單元 液晶顯示面板1 〇 ;研磨單元5 3係用以接受承載單元5 〇所承 載之單元液晶顯示面板1 〇，將單元液晶顯示面板1 〇排列於 研磨台51上，然後利用研磨砂輪5 2，以高速旋轉，研磨單 元液晶顯示面板1 〇之邊緣部位；卸載單元54係用來將已研 磨的單元液晶顯示面板10從研磨單元53接收並卸下。 第4圖為先前技術之測量液晶顯示面板研磨量之裝置 的透視圖。於第4圖中，研磨單元液晶顯示面板1〇之邊緣 部位’而使其沿著上表面與下表面具有斜邊部位。一般而 言’單元液晶顯示面板1 〇之上邊緣部位，即短路棒可形成 之處，其研磨量高於單元液晶顯示面板10之下邊緣部位之 液晶顯示面板10之研磨*，將攝影_ 安裝於爭兀液晶顯示面板1 〇之邊緣部位之上，以 示單元液晶顯示面板10之上邊緣部位之影像。當操作=^ 檢視單元液晶顯示面板1 〇之上邊緣部位之影二y 、 員可以判別研磨量是否足夠。 T ’條fF人 第5圖為先前技術之以攝影機產生的攝影影像之 圖。於第5圖中，以攝影機60 (第4圖中）攝影之旦 示出研磨寬度W1，研磨寬㈣為單元液晶顯示面：： 邊緣寬度 '然而’此測量單元液晶顯示面板10 之研磨f的衣置具有以下問題。首先，由於攝影 4圖中）被安裝於單元液晶顯示面板丨〇之邊緣部位之上， 所以只能獲得.單元液晶顯示面板丨0之上邊緣部位之攝影影
第10頁 200415127 五、發明說明（5) 像。因此，無 攝影影像，而 之研磨是否已 緣部位可能產 低良率。 【發明内容】 因此，本 與方法，欲排 本發明之 緣部位與下邊 本發明之 之上邊緣部位 本發明之 及。本發明之 附圖來了解與 為了達到 明提供一種測 單元，用以研 部位；第一成 邊緣部位之研 或早元液晶顯 法獲得早元液晶顯 無從判別單元液晶 經足夠。結果’早 生瑕疵，而導致有 示面板1 0之下邊緣部位之 顯示面板1 0之下邊緣部位 元液晶顯示面板1 0之下邊 瑕藏的液晶顯示面板及降 發明係 除先前 目的， 緣部位 另一個 與下邊 其他特 目的與 獲得。 本發明 1C液晶 磨單元 像系統 磨表面 不面板 針對測量液 技術所呈現 為提供測量 之研磨量的 目的，為提 緣部位之研 性與優點將 優點將可透 的目的與優 顯不面板研 液晶顯示面 ，用以產生 的影像；及 之下邊緣部 晶顯示面板研磨量之裝置 之眾多限制與缺點。 單元液晶顯示面板之上邊 裝置。 供測量單元液晶顯示面板 磨量的方法。 於以下内容和實施例中提 過專利内容、專利範圍與 另一方面，本發明也提供 量之系統，包含：一 板之上邊緣部位與下 成像系統， 邊緣部位來 點，簡 磨量之 板之上 該單元 第二成 位之研 種測量 用以沿 產生單 單描述於 裝置，包 邊緣部位 液晶顯示 像系統， 磨表面的 液晶顯不 著單元液 元液晶顯 下，本發 含：研磨 與下邊緣 面板之上 用以產生 影像。 面板研磨 晶顯示面 示面板之
第11頁 200415127 五、發明說明（6) 上邊緣部位與下邊緣部位之研磨表面的影像。 另一方面，本發明更提供一種测 量之方法，包含：以研磨單元研磨單元液曰:：不面板研磨 邊緣部位與下邊緣部位；及以成像系统產:：，不面板之上 面板之上邊緣部位與下邊緣部位之研磨表面 在具體實施例中將詳盡的描述， 心像。 利範圍内容之更進一步的說明。 ，、如本發明中專 【實施方式】 現在舉出具體實施例來對本發明 示作為輔助。 呪明，亚以圖 第6圖為本發明之測量液晶顯 置之透視圖。於第6圖t，測量液量之示範裝 置可包含研磨單元11〇，用以研；m反研磨量之裝 上邊緣部位與下邊緣部位；第一凡液曰曰顯示面板100之 罝斤y* a % - 弟成像糸統1 2 0，用以產生 早=液日日顯^面板100之上邊緣部位之研磨 及第二成像系統13 〇，用以產生單 ' ， 邊緣部位之研磨表面的影像。研磨ϋ = 〇之下 台111，用以承載單元液晶領示^ 10可包含··研磨 (如nding wheels)(圖中：Ή°〇 ’及數個研磨砂輪 顯示面板100之上邊緣部位與下邊緣部位。研爲早-液日日 =㈣中未顯示，#由薄膜電晶體陣列基板與彩色滤 =片基板互相結合可形成單元液晶顯示面板100，並使薄 、# f ^體陣列基板之短邊與長邊對應於彩色濾光片基板之 ' .、、、彖大出。另外’影像顯示部分係設置於薄膜電晶體陣列
第12頁 200415127 五、發明說明（7) 基板與彩色濾光片基板互相結合之區域，並可形成數 素於其矩陣結構中。 1 —夕條閘極導線沿著水平方向排列，且多條資料導線沿 =垂直方向排列，多條閘極導線與多條資料導線係形二 薄膜電晶體陣列基板的影像顯示部分並彼此交叉。此外，、 一矩形區域定義為閘極導線與資料導線交叉之區域，數個 晝素則排列於此矩形區域之矩陣結構中。數個晝素可個 包含一薄膜電晶體與一晝素電極，而薄膜電晶體可作為 關元件。 …、幵
彩色濾光片基板之影像顯示部分可包含紅、綠、藍之 彩色濾光片，因此形成這些彩色濾光片並以黑色矩陣2共 同電極來分隔，而晝素電極之相對電極可形成於薄膜電^ 體陣列基板。然後可沿著影像顯示部分，利用密封劑將薄 膜電晶體陣列基板與彩色濾光片基板結合。利用微影製程 (Photolithographic processes)可形成隨機散佈的球 體間隔粒子（ball spacers)或模型間隔粒子 (patterned spacers )(即圓柱間隔粒子（c〇lumn spacers ))於薄膜電晶體陣列基板或彩色渡片基板上。 因此，已結合的薄膜電晶體陣列基板與彩色濾光片基板之 間’會具有某種程度的空隙。然後在結合薄膜電晶體陣列 基板與彩色濾光片基板之後，利用真空注射法（vacuum injection method)形成液晶層（liquid crystal layer)，或者疋滴注（dropping)液晶材料於薄膜電晶 體陣列基板與彩色濾光片基板中至少其一，i二J曰
第13頁 200415127
五、發明說明（8) 體陣列基板與彩色濾光片基板互相結合。 沿著薄膜電晶體陣列基板突出的短邊，可形成閘極墊 部分，以電性連接閘極導線並提供驅動訊號予閘極導線。 另外，沿著薄膜電晶體陣列基板突出的長邊，可形成資料 墊部分，以電性連接資料導線並提供影像資料予資料導 線。 於第6圖中，單元液晶顯示面板1〇〇之上邊緣部位與下 邊緣部位可被研磨成具有斜邊部位。單元液晶顯示面板 10之上邊緣部位，即短路棒可形成之處，其研磨量會比 單元液晶顯示面板1 〇 〇之下邊緣部位的研磨量高。 第一成像系統1 2 0與第二成像系統1 3 〇可分別沿著單元 液晶顯示面板1 〇 〇之上邊緣部位與下邊緣部位放置。第一 成像系統1 2 0與第二成像系統1 3 〇之—或兩者皆可包含一電 荷偶合裝置（charge coupied device，CCD)，以產生單 几液晶顯不面板1 〇 〇之上邊緣部位與下邊緣部位之影像。 利用設置於單元液晶顯示面板丨〇〇之上邊緣部位與下邊緣 部位之校準記號（圖中未示），將第一成像系統12〇盥第 二成像系統130分別設置於單元液晶顯示面板1〇〇之上邊緣 部位與下邊緣部位。然後，利用單元液晶顯示面板1〇〇之 上邊緣部位與下邊緣部位之研磨表面之影像，去測量單元 液晶顯示面板1 〇0之上邊緣部位與下邊緣部位之研磨量。 一使用第一成像系統120與第二成像系統13〇，可產生沿 =早兀液晶顯示面板100之上邊緣部位與下邊緣部位之影 像’以測量研磨量。因此可選擇第—成像系統12〇或第二
第14頁 200415127 五、發明說明（9) 成像系統1 3 0，於單元液晶顯示面板1 〇 〇之上邊緣部位與下 邊緣部位之一個或數個部位，產生單元液晶顯示面板丨〇 〇 之上邊緣部位與下邊緣部位之研磨表面的影像，而測得研 磨量。此時，第一成像系統12〇與第二成像系統丨3〇可產生 该單元液晶顯示面板1 〇 〇之上邊緣部位與下邊緣部位之相 對位置之影像。 當研磨單元11 0之研磨台111旋轉及移動時，可利用第 成像系統1 2 0產生於單元液晶顯示面板1 〇 〇之上邊緣部位 中一個或數個預先決定的位置之影像，並測量單元液晶顯 不面板1 0 0之上邊緣部位的研磨量。另外，可利用第二成 像系統130產生於單元液晶顯示面板1〇〇之下邊緣部位中一 個或數個預先決定的位置之影像，並測量單元液晶顯示面 板100之下邊緣部位的研磨量。因此，可以不需要額外牛 驟去修正單元液晶顯示面板丨〇 〇之下表面的研磨量。 #第7A圖與第7B圖為本發明之以第6圖之第一成像系統 =第二成像土統產生之攝影影像之平面圖。於第Μ圖與第 圖中，以第一成像系統12〇產生的影像cu顯示元 晶顯示面板1〇〇之上邊緣部位之研磨寬㈣ ；2 二成像系統130產生的影#Γ1 9链+山留一、六曰 J Μ弟 1ηη >十皇& ★ J〜像012顯不出早兀液晶顯示面板 100之下邊緣部位之研磨官 留-、六曰g 之上邊緣部位，即:路扶見_^12 ° ^液晶顯示面板1〇〇 Ρ丑路棒可形成之處，其 合 液晶顯示面板1 00之下邊缝都从aa m Α曰> 3里g比早兀 液晶顯示面板1〇。之：位的研磨。因此’單元 邊、、彖部位的研磨寬度W1 1比單元读曰 顯示面板100之下邊緣部位的研磨寬細為寬。…晶 200415127
像系：二操/人員可以利用第一成像系統12。與第二成 糸、、先130所產生的影像C11輿影像π 置弟f ;、不面板100之上邊緣部位與裰—早兀液日日 :的研磨砂輪（圖中未示），來校正液曰：磨早几11。 上邊緣部位輿下邊緣部位之研磨量。日日頌不面板100
LV K雖4本發明之較佳實施例揭露如上所汁 巧定本發明，任何熟習相關技藝者，在;脫：其並非用 Ϊ;:範圍内，當可做些許之更動與潤：：離本她 ’、4乾圍需視本說明書之申請專利範圍所：m:
200415127 圖式簡單說明 第1圖為先前技術之數個單元液晶顯示面板之剖面圖； 第2圖為先前技術之單元液晶顯示面板之平面圖； 第3圖為先前技術之液晶顯示面板之研磨裝置之示意圖； 第4圖為先前技術之測量液晶顯示面板研磨量之裝置之透 視圖， 第5圖為先前技術之以攝影機產生攝影影像之平面圖； 第6圖為本發明之測量液晶顯示面板研磨量之示範裝置之 透視圖；及 第7A圖與第7B圖為本發明之以第6圖之第一成像系統與第 二成像系統產生之攝影影像之平面圖。 【圖式符號說明】 1 2 薄膜電晶體陣 彩色遽光片基 10 早元液晶顯不 13 影像顯示單元 14 閘極墊部分 15 資料墊部分 20 第一基板 30 第二基板 31 空置區域 32 區域 50 承載單元 51 研磨台 52 研磨砂輪 11 圓_1 第17頁 200415127
第18頁

Claims (1)

  1. 200415127 六、申請專利範圍 1. 一種測量 —研 緣部位與下 一第 上邊緣部位 一第 下邊緣部位 2. 如申請專 之裝置，其 一研 複數 該早元液晶 3. 如申請專 之裝置，其 體陣列基板 4. 如申請專 之裝置，其 該研磨單元 5. 如申請專 之裝置，其 何耗合元件 6. 如申請專 之裝置，其 校準記號以
    液晶顯示面板研磨量之裝置，包含： 磨單元，用以研磨一單元液晶顯示面板之上邊 邊緣部位； ' 成像糸統，用以產生該早元液晶顯不面板之 之研磨表面之影像；及 二成像系統，用以產生該單元液晶顯示面板之 之研磨表面之影像。 利範圍第1項所述之測量液晶顯示面板研磨量 中該研磨單元包含： 磨台，其上承載該單元液晶顯示面板；及 個研磨砂輪（grinding wheels)，用以研磨 顯示面板之上邊緣部位與下邊緣部位。 利範圍第1項所述之測量液晶顯示面板研磨量 中該單元液晶顯示面板係藉由結合一薄膜電晶 與一彩色濾光片基板來形成。 利範圍第1項所述之測量液晶顯示面板研磨量 中該第一成像系統與該第二成像系統係設置於 之内。 利範圍第1項所述之測量液晶顯示面板研磨量 中該第一成像系統與該第二成像系統包含一電 (charge coupled device, CCD ) 〇 利範圍第1項所述之測量液晶顯示面板研磨量 中該第一成像系統與該第二成像系統係使用一 對齊於該液晶顯示面板之邊緣部位，該校準記
    第19頁 200415127 六、申請專利範圍 ---- - 號係言f置於該液晶顯示面板之邊緣部位。 7 ·如明專利範圍第1項所述之測量液晶— ί ΐ - ： 弟—成像系統與該第二成像h m- 不面板之上邊緣部位與下邊緣部位之研磨 8之ΪΓ2以第丨項二之/則量液晶顯一 之衣1 ，、肀邊弟一成像系統與該第二成億 簟元液晶顯干而4c . . Α Μ 1彖糸統係產生吞亥 早兀狀ag ,、、、貞不面板之上邊緣部位與下邊緣 個以上部位之影像。 Μ立之一個或一 9 · 一種測量液晶顯示面板研磨量之系統，包含· ㈣付：ΐ ΐ系統，用以沿著一單元液晶顯：面板之上邊 H故緣部位來產生該單元液晶顯示面板之上邊緣 部位與下邊緣部位之研磨表面之影像。 1 0·如申請專利範圍第9項所述之測量液晶顯示面板研磨量 之系統’其中該單元液晶顯示面板係包含—薄膜電晶體陣 列基板與一彩色濾光片基板。 、 1 1 ·如申請專利範圍第9項所述之測量液晶顯示面板研磨量 之系統，其中該成像系統係設置於一研磨單元之内。 1 2 ·如申請專利範圍第9項所述之測量液晶顯示面板研磨量 之系統，其中該成像系統包含至少一電荷耦合元件 (c h a r g e c 〇 u ρ 1 e d d e ν i c e，C C D )。 1 3 ·如申請專利範圍第9項所述之測量液晶顯示面板研磨量 之系統，其中該成像系統孫使用一校準記號以對齊於該單 元液晶顯示面板之邊緣部位，該校準記號係設置於該單元
    第20頁 200415127 六、申請專利範圍 液晶顯示面板之邊緣部位。 1 4.如申請專利範圍第9項所述之測量液晶顯示面板研磨量 之糸統’其中該成像糸統係產生該早元液晶顯不面板之上 邊緣部位與下邊緣部位之相對位置之影像。 1 5. —種測量液晶顯示面板研磨量之方法，包含： 以一研磨單元，研磨一單元液晶顯示面板之上邊 緣部位與下邊緣部位；及 以一成像系統，產生該單元液晶顯示面板之上邊 緣部位與下邊緣部位之研磨表面之影像。 1 6.如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨 量之方法，更包含： 承載一單元液晶顯示面板於一研磨單元之一研磨 台之上；及 以複數個研磨砂輪研磨該單元液晶顯示面板之上 邊緣部位與下邊緣部位。 1 7.如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨 量之方法，其中該單元液晶顯示面板係包含一薄膜電晶體 陣列基板與一彩色濾光片基板。 1 8.如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨 量之方法，其中該成像系統係設置於該研磨單元之内。 1 9.如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨 量之方法，其中該成像系統包含至少一電荷耦合元件 (charge coupled device, CCD ) 〇 2 0 .如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨
    第21頁 200415127 六、申請專利範圍 量之方法，更包含一使用一校準記號使該成像系統對齊於 該單元液晶顯示面板之上邊緣部位與下邊緣部位之步驟， 該校準記號係設置於該單元液晶顯示面板之上邊緣部位與 下邊緣部位。 - 2 1.如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨 。 量之方法，其中產生影像的步驟包含產生該單元液晶顯示 面板之上邊緣部位與下邊緣部位之一個或一個以上的部位 之研磨表面之影像。 2 2.如申請專利範圍第1 5項所述之測量液晶顯示面板研磨 量之方法，一液晶顯示面板可使用該方法來測量其上邊緣 | 部位與下邊緣部位之研磨表面。 2 3.如申請專利範圍第1項所述之測量液晶顯示面板研磨量 之裝置，一液晶顯示面板可使用該裝置來測量其上邊緣部 位與下邊緣部位之研磨表面。
    第22頁
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