SU875468A1 - Устройство дл контрол запоминающих матриц - Google Patents
Устройство дл контрол запоминающих матриц Download PDFInfo
- Publication number
- SU875468A1 SU875468A1 SU792837825A SU2837825A SU875468A1 SU 875468 A1 SU875468 A1 SU 875468A1 SU 792837825 A SU792837825 A SU 792837825A SU 2837825 A SU2837825 A SU 2837825A SU 875468 A1 SU875468 A1 SU 875468A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- outputs
- inputs
- signal
- output
- test
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЗАПОМИНАЮЩИХ 1 Изобретение относитс к запоминаю щим устройствам. Известно устройство дл контрол ферритовых запоминсш цих матриц, содержащее блок управлени , регистр адреса, дешифратор адреса, блок генераторов импульсов тока, блок контрол , блок считывани , блоки коммута торов, схему блокировки, счетчиК|Дешифрйторн tl . Недостаток зтого устройства состо ит в том, что в нем невозможно опера тивнЬ осуществл ть проверку амплитуды импульсов генераторов импульсов тока и настройку порогов дискриминации блока считывани , что снижает точность и достоверность контрол запоминакщих матриц. Наиболее близким техническим реше нием к изобретению вл етс устройст во дл ,контрол запоминающих матриц, которое содержит блок управлени , ре гистры адреса, дешифраторы, усилители считывани , блок;сравнени , многокаскадные генераторы токов, коммутаторы , блок выполнени диагностических тестов, шаблон дл контролируемой ферритовой матрицы, блок задани и анализа режимов, блок регист рации результатов к.онтрол , регистри МАТРИЦ рунвдий прибор. Это устройство позвол ет контролировать ферритовые запоминающие матрицы с определением полной или частичной области хранени информации ОХИ) с ручной или автоматической регистрацией результатов контрол . Предельные значени амплитуд импульсов токов при определении ОХИ устанавливаютс оператором вручную с панели управлени . ОХИ определ етс путем перебора комбинаций адресного и разр дного токов, значени которых скачкообразно автоматически измен ютс в диапазоне предельных значений 2. Однако в этом устройстве невозможно проверить взаимное расположение координатных обмоток и обмотки записи-считывани , нарушение во взаимном расположении которых ведет к ложной работе контролируемой матрицы . Кроме того, в данном устройстве невозможно проверить нарушение в подключении соседних координатных обмоток , что также ведет к ложной работе контролируемой матрицы. Устройство не обеспечивает при ручном контроле достаточную точность установки амплитуды импульсов токов
и точность установки напр жени порога дискриминации, а также оперативный контроль амплитуды импульсов токов в выходных цеп х устройства и напр жени порогов дискриминации блока усилител считывани , что снижает достоверность проверки контролируемой матрицы и не обеспечивает высокую производительность устройства.
Цель изобретени - повышение быстродействи устройства, точности и достоверности .контрол .
Поставленна цель достигаетс тем что в устройство дл контрол запоминающих матриц, содержащее регистры адреса, дешифраторы адреса, коммутаторы , усилитель считывани , схему сравнени , генераторы тока и блок управлени , причем одни из выходов регистров адреса подключены ко входам дешифраторов адреса, одни из входов коммутаторов подключены к выходам дешифраторов адреса и одним из выходов генераторов тока, выходы коммутаторов подключены к первому входу усилител считывани , первый выход которого соединен с первым входом схемы сравнени , управл ющие входы регистров адреса, дешифраторов адреса, схемы сравнени , усилител считывани , коммутаторов, генераторов тока подключены к выходам блока управлени , первый выход схемы сравнени и другие выходы регистров адреса соединены с одним из входов блока управлени , введен блок логического анализа и блок обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы , входы которого подключены соответственно к первому выходу усилител считывани и второму выходу схемы сравнени , выходы - роответственно к второму входу схемы сравнени и одному из входов блока логического анализа, другие входы которого соединены со вторым выходом усилител считывани и другими выходами генераторов тока, а выходы - со вторым входом усилител считывани , входами генераторов тока и другим входом блока управлени , одни из выходов которого соединены с управл ющими входами блока обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы и блока логического анализа.
При этом блок обнаружени ошибок в проиивке запоминающей матрицы целесообразно выполнить в виде блока, содержсцдего амплитудно-временные селекторы, формирователи сигналов ошибок и элемент ИЛИ, входы которого подключены к выходам формирователей сигналов ошибок, одни из входов которых подключены к одним из выходов амплитудно-временных селекторов, другие входы которых и выход элемента ИЛИ вл ютс выходами блока обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы, входами которого вл ютс входы амплитудно-временных селекторов и другие входы фор миров ате лей сигналов ошибок.
Кроме того, блок логического анализа выполнен в виде блока, содержащего формирователи эталонных сигналов , схелы сравнени , формирователь калиброванных сигналов, измерительный узел, узел индикации и блок местного управлени , одни из выходов и входов которого подключены соответственно к управл ющим входам схем сравнени , измерительного узла и формировател калиброванных сигналов и к одним из выходов схем сравнени , другие выходы которых и выход измерительного узла соединены со входами узла индикации, выходы формирователей эталонных сигналов подключены к одним из входов схем сравнени другие входы которых соединены соответственно с выходом измерительног узла и первым выходом формировател калиброванных сигналов, первый вход которого соединен с выходом одного из формирователей эталонных сигналов , второй выход формировател калиброванмых сигнсшов и другие выходы блока местного управлени вл ютс выходами блока логического анализа , входами которого вл ютс вход измерительного узла второй и третий входы формировател калиброванных сигналов и другой вход блока местного управлени .
На фиг.1 изображена структурна схема устройства дл контрол запоМингиощих матриц; на фиг. 2 - структурна схема блока управлени ; на фиг.З - то же, блок; обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы; на фиг.4 - то же, блок /югического анализа.
Устройство содержит (фиг.1) блок 1 управлени , регистры 2 адреса, дешифраторы 3 адреса, коммутаторы 4, приспособление 5 дл подключени провер емой матрицы, усилитель 6 считывани , схему 7 сравнени , генераторы 8 тока, блок 9 обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы и блок 10 логического анализа.
Первый выход схемы 7 сравнени подключен к одному из входов блока 1, а первый вход - к первому выходу усилител 6. Одни из выходов генераторов 8 соединены со входами коммутаторов 4. Входы блока 9 подключены соответственно к первому выходу усилител б и второму выходу схемы 7 сравнени , а выходы соответственно ко второму входу схемы 7 сравнени и одному из входов блока 10, другие входы которого соединены со вторым выходом усилител б и другими выходами генераторов 8. Первый вход усилител 6 подключен к выходам коммутуторов 4. Выходы блока 10 соединены со вторым входом усилител 6, входамй генераторов 8 и другим входом блока 1, одни из выходов которого соединены с управл ницими входами блока 10.
Блок управлени 1 (фтлг.2) содержит формирователь 11 синхросигналов коммутатор 12, схему 13 выбора теста , формирователь 14 сигналов записи , формирователь 15 тактов обращени , формирователь 16 счетных импульсов , панель 17 оператора, формирователь 18 временной диаграммы.
Формирователь 11 синхросигналов предназначен дл выработки серий импульсов с частотой 26,6 МГц и 100кГц он разрешает работу и останов устройства по сигналу Ошибка.
Коммутатор 12 распредел ет импульсы с частотой 100 кГц на запуск либо формировател 18 временной диаграк1мы либо на блок 10, либо на схему 13 выбора теста в зависимости от состо ний регистров 2 адреса, схемы 7 сравнени и формировател 11 синхроимпульсов .
Схема 13 выбора теста обеспечивает выбор необходимого теста вручную или автоматическое последовательное включение очередного теста после окончани предыдущего и выдает сигнал на схему провер емой запоминающей матрицы после окончани выполнени всех тестов по данному разр ду.
Формирователь 14 сигналов записи обеспечивает автоматическое формирование кода числа (1 tvivi О) в соответствии с включенным тестом проверки и кодом евдреса чейки пам ти .
Формирователь 15 тактов обращени обеспечивает восьмикратное обращение ко всем чейкам пам ти, выдает сигнал разрешени контрол считанной информации на схему 7 сравнени , а также сигналы, разрешающие смену теста или точки проверки.
Формирователь 16 счетных импульсов предназначен дл выработки счетных импульсов на регистры 2 адреса, а также формировани программа прохождени теста (100-кратна запись по Ксисдому адресу с 90-кратным контролем считанной информации). Панель 17 оператора служит дл оперативного управлени работой устройства и контрол состо ний основных узлов и схем устройства по индикации,: формирователь 18 временной диаграммы обеспечивает формирование временного соотношени между сигналами запуска генераторов 8 тока и другими сигнсшами, определ ющими такты чтени и записи.
Блок 9 (фиг.З) предназначен дл автоматического определени нарушений взаимного расположени координатных обмоток и обмотки записисчитывани , проход щие через ферритовые сердечники запоминающей матрИ цы, а также проверки нарушений подключени соседних координатных обмоток на ее входных контактах. Елок 9 содержит амплитудно-временные селекторы 19 и 20J формирователи, 21 и 22 сигналов ошибок и элемент ИЛИ 23, входы которого подключены к выходам формирователей 21 и 22, одни из входов которых подключены к одним из выходов селекторов 19 и 20, дру0 гие входы которых и выход элемента ИЛИ 23 вл ютс выходами блока 9, входами которого вл ютс входы селекторов 19 и 20 и другие входы формирователей 21 и 22,
5 Формирователи 21 и 22 формируют соответственно сигналы о нарушении взаимного расположени координатных обмоток и нарушении подключени соселщих координатных обмоток контролируемой запоминающей матрицы.
Элемент ИЛИ 23 передает сигналы Ошибка прошивки с формирователей 21 или 22 на схему 7 сравнени (дл формировани сигнала остановка устройства и на индикацию характера ошибки ) . Блок 10 (фиг.4) предназначен дл установки необходимых значений амплитуд импульсов токов генераторов 8 и .J порогов срабатывгши селекторов 19 и 20 в ручном режиме работы устройства и дл автоматического контрол этих же параметров при автоматическом режиме работы устройства с вьща чей сигнала разрешени проверки матрицы .
: Блок 10 содержит блок 24 местного ;управлени , измерительный узел 25, первую схему 26 сравнени , формирователь 27 эталонных сигналов, формирователь 28 калиброванных сигналов, вторую схему 29 сравнени , формирователь 30 эталонных сигналов, узел 31 индикации.
Одни из выходов и входов блока 24 5 подключены соответственно к управл ющим входам схем 26 и 29 сравнени , узла 25 и формировател 28 и к одним из выходов схем 26 и 29 сравнени , другие выходы которых и выход Q узла 25 соединены со входами узла 31. Выходы формирователей 27 и 30 подключены к одним из входов схем 26 и 29 сравнени , другие входы кото|РЫХ соединены соответственно с выходс 4 узла 25 и первым выходом формировател 28, первый вход которого соединен с выходом формировател 30. Второй выход формировател 28 и другие выхода блока 24 вл ютс выходами блока 10, выходами которого 0 вл ютс вход узла 25, второй и третий входы формировател 28 и другой вход блока 24.
Блок 24 предназначен дл формировани сигналов, управл ющих подклю5 .чением генераторов 8 тока с узла
25, формировател 28 к усилителю считывани б при ручном или автоматическом режиме работы устройства, и управлени работой блока 10,
Узел 25 осуществл ет измерение амплитуды импульсов токов о геиераторов 8 тока и вьщачу результатов измерени на дес тичную индикацию и на сравнение.
, Фоомиоователь 28 формирует импуль ы калибрационного напр жени ,амплитуда которых пропорционгшьна коду, поступающему с формировател 30, задающего код порога при ручном режи;ме работы, и монотонно увеличивающиес импульсы калибрационного напр жени с дискретностью 0,1 мВ от О до 19,9 MB в автоматическом режиме работы устройства.
Схемы 26 и 29 сравнени выполн ют сравнение ходов эталонного значени , поступающих с формировател 27 (кодов токов) и с формировател 30 кодов порогов) с измеренными кодами токов, поступающими с узла 25 и с измеренными кодами порога дискриминации , поступающими с формировател 28, анализируют результаты сравнени и в автоматическом режиме работы устройства вьадают сигнал о несоответствии провер емого параметра заданному и характер несоответстви (больше или меньше эталонного). При величине отклон.ени больше 2-х единиц младшего разр да выдают также сигнал на останов устройства.
Узел индикации 31 осуществл ет дес тичную индикацию амплитуды импульсов токов, индицирует результаты выполнени сравнени и провер емой параметр.
Устройство работает следующим образом.
Перед проверкой запоминак цей матрицы ее необходимо подключить к разъeMciM устройства посредством приспособлени 5, затем вручную в блоке 10 в формировател х 27 и 30 устанавливаютс значени кодов токов и кодов порогов дискриминации согласно соответствукадему документу на,провер емую матрицу, на панели оператора 17 блока 1 управлени устанавливаютс соответствующий режим .работы устройства, программа контрол и производитс пуск устройства. ПО сигналу пуска устройства формирователь 11 синхросигналов разрешают подачу на один из входов коммутатора 12 импульсов частотой 100 кГц. На другой вход коммутатора поступает сигнал с регистров 2 адреса,который опредл ет направление передачи импульсов 100 кГц. По первому пуску эти импульсы поступают на блок 10, который формирует сигналы на поочередное подключение генераторов 8 к узлу 25 и разрешает работу схемы 26 сравнени . С формировател 18 на генераторы 8 поступают сигналы на включение определенного генератора тока. В узле 25 происходит измерение амплитуды импульсов соответствующего генератора тока. Результат измерени в двоично-дес тичном коде поступает на узел 31 индикации, где преобразуетс в дес тичный код и индицируетс дес тичное значение амплитуды импульсов тока провер емого генератора , и на схему сравнени 26, где сравниваетс с двоично-дес тичным кодом, поступающим с формировател 27. Результаты сравнени анализируютс и/ в случае несоответстви амплитуды импульсов тока провер емого генератора тока, он вьвдает сигнал блоку 1 управлени на останов устройства.
В узле 31 индикации индицируетс значение амплитуды импульсов тока и номер генератора тока, наличие ошибки и указание в большую или меньшую сторону необходимо изменить амплитуду импульсов тока провер емого генератора тока.
В случае соответстви измеренной амплитуды импульсов тока заданному сз4ема 26 сравнени выдает сигнал блоку 24 на переход к проверке амплитуды импульсов тока следуквдего генератора тока, контролирует его, эьщает сигнал на переход к следующему и т.д.
После выполнени проверки амплитуды импульсов тока последнего генератора тока схема 26 сравнени выдает блоку 24 сигнал на переход к проверке порогов дискриминации селекторов 19 и 20. Елок 24 выдает сигналы формирователю 28, схеме сравнени 29, разрешает работу этих узлов, после чего начинаетс поочередна проверка настройки порога дискриминации всех селекторов. Формирователь 28 выдает на усилитель 6 считывани монотонно увеличивающеес импульсное калибрационное напр жение с дискретностью 0,1 мВ, где оно усиливаетс и поступает на выбранный селектор 19 и 20, вызыва его срабатывание при определенной амплитуде калибрационных импульсов напр жени . Сигнал срабатывани поступает в формирователь 28 и запрещает изменение амплитуды импульсов калибрационного напр жени , при этом двоично-дес тичный код, соответствующий калибрационному напр жению в момент срабатывани выбранного селектора из формировател 28, поступает в схему 29 сравнени и сравниваетс с двоично-дес тичным кодом, поступившим из формировател 30.
Claims (3)
- Результат сравнени анализируетс в схеме 29 сравнени и, в случае несоответстви настройки уровн порога дискриминации провер емого селектора, выдает сигнал на останов устройства. При этом в узел 31 индикации индицируетс наличие ошибки номер селектора и указание в большую или меньшую сторону необходимо изменить настройку порога дискрими нации селектора, в случае соответстви настройки схема 29 сравнени выдает сигнал блоку 24 на переход к проверке .следующего селектора и т.д После выполнени проверки настрой ки порога дискриминации последнего селектора из блока 24 выдаетс на блок 1 управлени (на коммутатор 12) сигнал об окончании выполнени теста проверки, что свидетельствует о точной настройке генераторов тока и селекторов. Коммутатор 12 по этому сигналу разрешает подачу импульсов 100 кГц на схему 13 выбора теста и через нее на формирователь 16 счетных импульсов . В схеме 13 выбора теста происхо дит включение первого выбранного тес та согласно установленной программы проверки и подаетс разрешающий сигнал на формирование информации на запись в форьшрователе 14 информации на запись, т.е. вырабатываютс сигнсшы запуска регистров 2 адреса,дешифраторов 3 адреса, коммутаторов 4, схемы 7 сравнени , генераторов 8 тока , после чего производитс восьмикратна запись информации в провер е мую матрицу. При восьмом обращении.к провер емой матрице формирователь 15 тактов обращени ввдхает сигнал, разрешающий контроль считанной информации в схеме 7 сравнени , который сравнивает информацию, записывае мую в каждую чейку пам ти запоминги щей матрицы со считанной из этих же чеек пам ти и усиленной в усилителе б считывани и, в случае несоотв.етст ВИЯ, выдает сигнал в блок 1 управле ни на останов устройства. На узле 31 индикации фиксируетс адрес дефектной чейки пам ти и характер де фекта. Дл продолжени процесса про верки необходимо произвести снова пуск устройства. По окончании Л-го такта обргццени с регистров 2 адреса поступает сигнал , разрешающий смену теста (на ком мутатор 12) . Происходит включение следующего теста и матрица провер етс по следующему тесту. По окончании проверки матрицы по всем тестам происходит смена провер емого разр да , после чего производитс провер ка следующего разр да согласно щ ограмме 51роверки и т.д. После окончани проверки последне го разр да матрицы по всей программе проверки производитс останов устройства и индицируетс сигнал i окончани проверки. Дл вьтолнени тестов обнаружени дефектов прошивки считанна из чеек пам ти информации усиливаетс усилителем 6 считывани и поступает в блок 9 на селекторы 19 и 20, где стробируетс сигналами, поступающими со схемы 7 сравнени . Селекторы 19 и 20 осуществл ют амплитудно-временную селекцию поступивших с усилител 6 считывани сигналов и выдают информацию, на формирователи 21 и 22. В случае обнаружени с злемента ИЛИ 23 сигнал ошибки поступает на останов устройства и на индикацию характера нарушени (нарушение взаимнога расположени координатных обмоток и обмотки записи-считывани или нарушени в подключении соседних координатных обмоток . Тенденци увеличени быстродействи в выполнении операций ЭВМ неукоснительно требует уменьшени габаритов запоминающих матриц, увеличени плотности их монтажа, в св зи с этим при изготовлении запоминающих матриц по вились новые виды ошибок прошивки, так как нарушение взаимного расположени координатных обмоток и обмотки записи-считывани и нарушение в подключении соседних координатных обмоток. Описанное устройство позвол ет обнаруживать эти ошибки. В Процессе проверки запоминающих матриц наблкщаетс также дрейф генераторов тока и порога срабатывани селекторов, что снижает точность и достоверность контрол . Введение оперативного контрол амплитуды им-ч пульсов токов и порога срабатывани селекторов перед каждой проверкой матриц позвол ет повысить точность и достоверность контрол . Формула изобретени 1. Устройство дл контрол запоминающих матриц, содержащее регистры адреса, далифраторы адреса, коммутаторы , усилитель считывани , схему : сравнени , генераторы тока и блок управлени , причем одни из выходов регистров гщреса подключены ко входам деши а1оров адреса, одни из входов коммутаторов подключены к выходам дешифраторов адреса и одним из выходов генераторов тока, выходы коммутаторов подключены к первому входу усилител считывани , первый выход которого соединен с первым входом cxetta сравнени , управл кхцие входы регистров гщреса, дешифраторов адреса, схемл сравнени , усилител считывани , коммутаторов , генераторов тока подключены к выходам блока управлени , первый выход схемы сравнени и другие выходы регистров адреса соединены с одними из входов блока управлени , отличающее с тем, что, с целью повышени быстродействиустройства и точности и достоверности контрол оно содержит блок логического анализа и блок обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы, входы которого подключены соответственно к первому выходу усилител считывани и второму выходу схема сравнени , а выходы - соответственно ко второму входу схемы сравнени и одному из входов блока логического анализа, другие входы которого соединены, со вторым выходом усилител считывани и другими выходами генераторов тока, а выходы со вторым входом усилител считы- . вани , входами генераторов тока и другим входом блока управлени , одни из выходов которого соединены с управл ницими входа1 м блока обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы и блока логического анализа
- 2.Устройство по П.1, отличающеес тем, что, блок обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы содержит амплитудновременные селекторы, формирователи сигналов ошибок и элемент ИЛИ, входы которого подключены к выходам формирователей сигналов ошибок, одни из входов которых подключены-к одним из выходов амплитудно-временных селекторов , другие входы которых и выход элемента ИЛИ вл ютс выходами блока обнаружени ошибок в прошивке запоминающей матрицы, входами которого вл ютс входы амплитудно-временных селекторов и другие входы формирователей сигналов ошибок.
- 3.Устройство по П.1, о т л и чающеес тем, что блок ло .гического анализа содержит формирователи эталонных сигналов, cxeNbi сравнени , формирователь калиброванных сигналов , измерительный узел, уз.ел индикации и блок местного управле-. ни , одни из выходов и входов которого подключены соответственно к управл ющим входам схем сравнени измерительного узла и формировател Ксшиброванных сигналов и к одним из выходов схем сравнени , другие выходы которых и выход измерительного узла соединены со входами узла индикации, выходы формирователей эталонных сигналов подключены к одним из входов схем сравнени , другие входы которых соединены соответственно с выходом измерительного узла и первым выходом формировател калиброванных сигналов, первый вход которого соединен с выходом одного из формирователей эталонных сигналов, второй выход формировател калиброванных сигналов и другие выходы блока местного управлени вл ютс выходами блока логического анализа, входами которого вл ютс вход измерительного узла, второй и третий входы формировател калиброванных сигналов и другой вход блока местного управлени .0 Источники информации,прин тые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР 435566, кл. G 11 С 29/00, 1973. , 2.. Авторское свидетельство СССР по за вке 104710/18-24, кл. G 11 С 29/00, 1975 (прототип).Фие.ЬОтв2.5K€18 ОтбК8OmfI26i27/С/f(6iwФие.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792837825A SU875468A1 (ru) | 1979-08-30 | 1979-08-30 | Устройство дл контрол запоминающих матриц |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792837825A SU875468A1 (ru) | 1979-08-30 | 1979-08-30 | Устройство дл контрол запоминающих матриц |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU875468A1 true SU875468A1 (ru) | 1981-10-23 |
Family
ID=20858459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792837825A SU875468A1 (ru) | 1979-08-30 | 1979-08-30 | Устройство дл контрол запоминающих матриц |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU875468A1 (ru) |
-
1979
- 1979-08-30 SU SU792837825A patent/SU875468A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4414665A (en) | Semiconductor memory device test apparatus | |
US6789224B2 (en) | Method and apparatus for testing semiconductor devices | |
US4332028A (en) | Method of measuring the memory address access time (AAT) utilizing a data recirculation technique, and a tester for accomplishing same | |
KR100278827B1 (ko) | 메모리 시험장치 | |
JPH08203298A (ja) | 集積回路装置及びその試験方法 | |
US3962687A (en) | Method of inspection of semiconductor memory device | |
US5271015A (en) | Self-diagnostic system for semiconductor memory | |
SU875468A1 (ru) | Устройство дл контрол запоминающих матриц | |
US4897794A (en) | Impulse coil tester | |
JP2002074986A (ja) | Dc試験装置及び半導体試験装置 | |
KR100253707B1 (ko) | 반도체 메모리소자의 테스트장치 및 방법 | |
SU1718190A1 (ru) | Способ диагностики отказов динамических объектов и устройство дл его осуществлени | |
SU888211A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков оперативной пам ти | |
KR100198945B1 (ko) | 스위치에 있어서의 스위칭 경로 자기진단장치 | |
JP2003007090A (ja) | メモリの不良救済解析方法・メモリ試験装置 | |
SU1013956A2 (ru) | Устройство дл контрол логических схем | |
KR100282776B1 (ko) | 메모리에서 에러발생 주소검출방법 | |
KR20000011796A (ko) | 메모리시험장치 | |
JPS61201173A (ja) | 磁気デイスク特性測定装置 | |
JPH03259758A (ja) | データ収集装置 | |
KR19980033154A (ko) | 카운터 검사 방법 및 장치와 시리얼 억세스 메모리 | |
SU1401520A2 (ru) | Устройство дл контрол оперативной пам ти | |
JPS5816559B2 (ja) | 半導体記憶装置の検査装置および検査方法 | |
SU1161991A1 (ru) | Устройство дл диагностического контрол пам ти | |
SU1520517A1 (ru) | Устройство дл диагностировани цифровых узлов |