SU875468A1 - Устройство дл контрол запоминающих матриц - Google Patents

Устройство дл контрол запоминающих матриц Download PDF

Info

Publication number
SU875468A1
SU875468A1 SU792837825A SU2837825A SU875468A1 SU 875468 A1 SU875468 A1 SU 875468A1 SU 792837825 A SU792837825 A SU 792837825A SU 2837825 A SU2837825 A SU 2837825A SU 875468 A1 SU875468 A1 SU 875468A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
outputs
inputs
signal
output
test
Prior art date
Application number
SU792837825A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Константинович Синельник
Анатолий Иванович Волох
Михаил Николаевич Лашев
Юрий Иванович Статылко
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт Управляющих Вычислительных Машин
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт Управляющих Вычислительных Машин filed Critical Научно-Исследовательский Институт Управляющих Вычислительных Машин
Priority to SU792837825A priority Critical patent/SU875468A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU875468A1 publication Critical patent/SU875468A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЗАПОМИНАЮЩИХ 1 Изобретение относитс  к запоминаю щим устройствам. Известно устройство дл  контрол  ферритовых запоминсш цих матриц, содержащее блок управлени , регистр адреса, дешифратор адреса, блок генераторов импульсов тока, блок контрол , блок считывани , блоки коммута торов, схему блокировки, счетчиК|Дешифрйторн tl . Недостаток зтого устройства состо ит в том, что в нем невозможно опера тивнЬ осуществл ть проверку амплитуды импульсов генераторов импульсов тока и настройку порогов дискриминации блока считывани , что снижает точность и достоверность контрол  запоминакщих матриц. Наиболее близким техническим реше нием к изобретению  вл етс  устройст во дл ,контрол  запоминающих матриц, которое содержит блок управлени , ре гистры адреса, дешифраторы, усилители считывани , блок;сравнени , многокаскадные генераторы токов, коммутаторы , блок выполнени  диагностических тестов, шаблон дл  контролируемой ферритовой матрицы, блок задани  и анализа режимов, блок регист рации результатов к.онтрол , регистри МАТРИЦ рунвдий прибор. Это устройство позвол ет контролировать ферритовые запоминающие матрицы с определением полной или частичной области хранени  информации ОХИ) с ручной или автоматической регистрацией результатов контрол . Предельные значени  амплитуд импульсов токов при определении ОХИ устанавливаютс  оператором вручную с панели управлени . ОХИ определ етс  путем перебора комбинаций адресного и разр дного токов, значени  которых скачкообразно автоматически измен ютс  в диапазоне предельных значений 2. Однако в этом устройстве невозможно проверить взаимное расположение координатных обмоток и обмотки записи-считывани , нарушение во взаимном расположении которых ведет к ложной работе контролируемой матрицы . Кроме того, в данном устройстве невозможно проверить нарушение в подключении соседних координатных обмоток , что также ведет к ложной работе контролируемой матрицы. Устройство не обеспечивает при ручном контроле достаточную точность установки амплитуды импульсов токов
и точность установки напр жени  порога дискриминации, а также оперативный контроль амплитуды импульсов токов в выходных цеп х устройства и напр жени  порогов дискриминации блока усилител  считывани , что снижает достоверность проверки контролируемой матрицы и не обеспечивает высокую производительность устройства.
Цель изобретени  - повышение быстродействи  устройства, точности и достоверности .контрол .
Поставленна  цель достигаетс  тем что в устройство дл  контрол  запоминающих матриц, содержащее регистры адреса, дешифраторы адреса, коммутаторы , усилитель считывани , схему сравнени  , генераторы тока и блок управлени , причем одни из выходов регистров адреса подключены ко входам дешифраторов адреса, одни из входов коммутаторов подключены к выходам дешифраторов адреса и одним из выходов генераторов тока, выходы коммутаторов подключены к первому входу усилител  считывани , первый выход которого соединен с первым входом схемы сравнени , управл ющие входы регистров адреса, дешифраторов адреса, схемы сравнени , усилител  считывани , коммутаторов, генераторов тока подключены к выходам блока управлени , первый выход схемы сравнени  и другие выходы регистров адреса соединены с одним из входов блока управлени , введен блок логического анализа и блок обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы , входы которого подключены соответственно к первому выходу усилител  считывани  и второму выходу схемы сравнени , выходы - роответственно к второму входу схемы сравнени  и одному из входов блока логического анализа, другие входы которого соединены со вторым выходом усилител  считывани  и другими выходами генераторов тока, а выходы - со вторым входом усилител  считывани , входами генераторов тока и другим входом блока управлени , одни из выходов которого соединены с управл ющими входами блока обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы и блока логического анализа.
При этом блок обнаружени  ошибок в проиивке запоминающей матрицы целесообразно выполнить в виде блока, содержсцдего амплитудно-временные селекторы, формирователи сигналов ошибок и элемент ИЛИ, входы которого подключены к выходам формирователей сигналов ошибок, одни из входов которых подключены к одним из выходов амплитудно-временных селекторов, другие входы которых и выход элемента ИЛИ  вл ютс  выходами блока обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы, входами которого  вл ютс  входы амплитудно-временных селекторов и другие входы фор миров ате лей сигналов ошибок.
Кроме того, блок логического анализа выполнен в виде блока, содержащего формирователи эталонных сигналов , схелы сравнени , формирователь калиброванных сигналов, измерительный узел, узел индикации и блок местного управлени , одни из выходов и входов которого подключены соответственно к управл ющим входам схем сравнени , измерительного узла и формировател  калиброванных сигналов и к одним из выходов схем сравнени , другие выходы которых и выход измерительного узла соединены со входами узла индикации, выходы формирователей эталонных сигналов подключены к одним из входов схем сравнени  другие входы которых соединены соответственно с выходом измерительног узла и первым выходом формировател  калиброванных сигналов, первый вход которого соединен с выходом одного из формирователей эталонных сигналов , второй выход формировател  калиброванмых сигнсшов и другие выходы блока местного управлени   вл ютс  выходами блока логического анализа , входами которого  вл ютс  вход измерительного узла второй и третий входы формировател  калиброванных сигналов и другой вход блока местного управлени .
На фиг.1 изображена структурна  схема устройства дл  контрол  запоМингиощих матриц; на фиг. 2 - структурна  схема блока управлени ; на фиг.З - то же, блок; обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы; на фиг.4 - то же, блок /югического анализа.
Устройство содержит (фиг.1) блок 1 управлени , регистры 2 адреса, дешифраторы 3 адреса, коммутаторы 4, приспособление 5 дл  подключени  провер емой матрицы, усилитель 6 считывани  , схему 7 сравнени , генераторы 8 тока, блок 9 обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы и блок 10 логического анализа.
Первый выход схемы 7 сравнени  подключен к одному из входов блока 1, а первый вход - к первому выходу усилител  6. Одни из выходов генераторов 8 соединены со входами коммутаторов 4. Входы блока 9 подключены соответственно к первому выходу усилител  б и второму выходу схемы 7 сравнени , а выходы соответственно ко второму входу схемы 7 сравнени  и одному из входов блока 10, другие входы которого соединены со вторым выходом усилител  б и другими выходами генераторов 8. Первый вход усилител  6 подключен к выходам коммутуторов 4. Выходы блока 10 соединены со вторым входом усилител  6, входамй генераторов 8 и другим входом блока 1, одни из выходов которого соединены с управл ницими входами блока 10.
Блок управлени  1 (фтлг.2) содержит формирователь 11 синхросигналов коммутатор 12, схему 13 выбора теста , формирователь 14 сигналов записи , формирователь 15 тактов обращени , формирователь 16 счетных импульсов , панель 17 оператора, формирователь 18 временной диаграммы.
Формирователь 11 синхросигналов предназначен дл  выработки серий импульсов с частотой 26,6 МГц и 100кГц он разрешает работу и останов устройства по сигналу Ошибка.
Коммутатор 12 распредел ет импульсы с частотой 100 кГц на запуск либо формировател  18 временной диаграк1мы либо на блок 10, либо на схему 13 выбора теста в зависимости от состо ний регистров 2 адреса, схемы 7 сравнени  и формировател  11 синхроимпульсов .
Схема 13 выбора теста обеспечивает выбор необходимого теста вручную или автоматическое последовательное включение очередного теста после окончани  предыдущего и выдает сигнал на схему провер емой запоминающей матрицы после окончани  выполнени  всех тестов по данному разр ду.
Формирователь 14 сигналов записи обеспечивает автоматическое формирование кода числа (1 tvivi О) в соответствии с включенным тестом проверки и кодом евдреса  чейки пам ти .
Формирователь 15 тактов обращени  обеспечивает восьмикратное обращение ко всем  чейкам пам ти, выдает сигнал разрешени  контрол  считанной информации на схему 7 сравнени , а также сигналы, разрешающие смену теста или точки проверки.
Формирователь 16 счетных импульсов предназначен дл  выработки счетных импульсов на регистры 2 адреса, а также формировани  программа прохождени  теста (100-кратна  запись по Ксисдому адресу с 90-кратным контролем считанной информации). Панель 17 оператора служит дл  оперативного управлени  работой устройства и контрол  состо ний основных узлов и схем устройства по индикации,: формирователь 18 временной диаграммы обеспечивает формирование временного соотношени  между сигналами запуска генераторов 8 тока и другими сигнсшами, определ ющими такты чтени  и записи.
Блок 9 (фиг.З) предназначен дл  автоматического определени  нарушений взаимного расположени  координатных обмоток и обмотки записисчитывани , проход щие через ферритовые сердечники запоминающей матрИ цы, а также проверки нарушений подключени  соседних координатных обмоток на ее входных контактах. Елок 9 содержит амплитудно-временные селекторы 19 и 20J формирователи, 21 и 22 сигналов ошибок и элемент ИЛИ 23, входы которого подключены к выходам формирователей 21 и 22, одни из входов которых подключены к одним из выходов селекторов 19 и 20, дру0 гие входы которых и выход элемента ИЛИ 23  вл ютс  выходами блока 9, входами которого  вл ютс  входы селекторов 19 и 20 и другие входы формирователей 21 и 22,
5 Формирователи 21 и 22 формируют соответственно сигналы о нарушении взаимного расположени  координатных обмоток и нарушении подключени  соселщих координатных обмоток контролируемой запоминающей матрицы.
Элемент ИЛИ 23 передает сигналы Ошибка прошивки с формирователей 21 или 22 на схему 7 сравнени  (дл  формировани  сигнала остановка устройства и на индикацию характера ошибки ) . Блок 10 (фиг.4) предназначен дл  установки необходимых значений амплитуд импульсов токов генераторов 8 и .J порогов срабатывгши  селекторов 19 и 20 в ручном режиме работы устройства и дл  автоматического контрол  этих же параметров при автоматическом режиме работы устройства с вьща чей сигнала разрешени  проверки матрицы .
: Блок 10 содержит блок 24 местного ;управлени , измерительный узел 25, первую схему 26 сравнени , формирователь 27 эталонных сигналов, формирователь 28 калиброванных сигналов, вторую схему 29 сравнени , формирователь 30 эталонных сигналов, узел 31 индикации.
Одни из выходов и входов блока 24 5 подключены соответственно к управл ющим входам схем 26 и 29 сравнени , узла 25 и формировател  28 и к одним из выходов схем 26 и 29 сравнени , другие выходы которых и выход Q узла 25 соединены со входами узла 31. Выходы формирователей 27 и 30 подключены к одним из входов схем 26 и 29 сравнени , другие входы кото|РЫХ соединены соответственно с выходс 4 узла 25 и первым выходом формировател  28, первый вход которого соединен с выходом формировател  30. Второй выход формировател  28 и другие выхода блока 24  вл ютс  выходами блока 10, выходами которого 0  вл ютс  вход узла 25, второй и третий входы формировател  28 и другой вход блока 24.
Блок 24 предназначен дл  формировани  сигналов, управл ющих подклю5 .чением генераторов 8 тока с узла
25, формировател  28 к усилителю считывани  б при ручном или автоматическом режиме работы устройства, и управлени  работой блока 10,
Узел 25 осуществл ет измерение амплитуды импульсов токов о геиераторов 8 тока и вьщачу результатов измерени  на дес тичную индикацию и на сравнение.
, Фоомиоователь 28 формирует импуль ы калибрационного напр жени ,амплитуда которых пропорционгшьна коду, поступающему с формировател  30, задающего код порога при ручном режи;ме работы, и монотонно увеличивающиес  импульсы калибрационного напр жени  с дискретностью 0,1 мВ от О до 19,9 MB в автоматическом режиме работы устройства.
Схемы 26 и 29 сравнени  выполн ют сравнение ходов эталонного значени , поступающих с формировател  27 (кодов токов) и с формировател  30 кодов порогов) с измеренными кодами токов, поступающими с узла 25 и с измеренными кодами порога дискриминации , поступающими с формировател  28, анализируют результаты сравнени  и в автоматическом режиме работы устройства вьадают сигнал о несоответствии провер емого параметра заданному и характер несоответстви  (больше или меньше эталонного). При величине отклон.ени  больше 2-х единиц младшего разр да выдают также сигнал на останов устройства.
Узел индикации 31 осуществл ет дес тичную индикацию амплитуды импульсов токов, индицирует результаты выполнени  сравнени  и провер емой параметр.
Устройство работает следующим образом.
Перед проверкой запоминак цей матрицы ее необходимо подключить к разъeMciM устройства посредством приспособлени  5, затем вручную в блоке 10 в формировател х 27 и 30 устанавливаютс  значени  кодов токов и кодов порогов дискриминации согласно соответствукадему документу на,провер емую матрицу, на панели оператора 17 блока 1 управлени  устанавливаютс  соответствующий режим .работы устройства, программа контрол  и производитс  пуск устройства. ПО сигналу пуска устройства формирователь 11 синхросигналов разрешают подачу на один из входов коммутатора 12 импульсов частотой 100 кГц. На другой вход коммутатора поступает сигнал с регистров 2 адреса,который опредл ет направление передачи импульсов 100 кГц. По первому пуску эти импульсы поступают на блок 10, который формирует сигналы на поочередное подключение генераторов 8 к узлу 25 и разрешает работу схемы 26 сравнени . С формировател  18 на генераторы 8 поступают сигналы на включение определенного генератора тока. В узле 25 происходит измерение амплитуды импульсов соответствующего генератора тока. Результат измерени  в двоично-дес тичном коде поступает на узел 31 индикации, где преобразуетс  в дес тичный код и индицируетс  дес тичное значение амплитуды импульсов тока провер емого генератора , и на схему сравнени  26, где сравниваетс  с двоично-дес тичным кодом, поступающим с формировател  27. Результаты сравнени  анализируютс  и/ в случае несоответстви  амплитуды импульсов тока провер емого генератора тока, он вьвдает сигнал блоку 1 управлени  на останов устройства.
В узле 31 индикации индицируетс  значение амплитуды импульсов тока и номер генератора тока, наличие ошибки и указание в большую или меньшую сторону необходимо изменить амплитуду импульсов тока провер емого генератора тока.
В случае соответстви  измеренной амплитуды импульсов тока заданному сз4ема 26 сравнени  выдает сигнал блоку 24 на переход к проверке амплитуды импульсов тока следуквдего генератора тока, контролирует его, эьщает сигнал на переход к следующему и т.д.
После выполнени  проверки амплитуды импульсов тока последнего генератора тока схема 26 сравнени  выдает блоку 24 сигнал на переход к проверке порогов дискриминации селекторов 19 и 20. Елок 24 выдает сигналы формирователю 28, схеме сравнени  29, разрешает работу этих узлов, после чего начинаетс  поочередна  проверка настройки порога дискриминации всех селекторов. Формирователь 28 выдает на усилитель 6 считывани  монотонно увеличивающеес  импульсное калибрационное напр жение с дискретностью 0,1 мВ, где оно усиливаетс  и поступает на выбранный селектор 19 и 20, вызыва  его срабатывание при определенной амплитуде калибрационных импульсов напр жени . Сигнал срабатывани  поступает в формирователь 28 и запрещает изменение амплитуды импульсов калибрационного напр жени , при этом двоично-дес тичный код, соответствующий калибрационному напр жению в момент срабатывани  выбранного селектора из формировател  28, поступает в схему 29 сравнени  и сравниваетс  с двоично-дес тичным кодом, поступившим из формировател  30.

Claims (3)

  1. Результат сравнени  анализируетс  в схеме 29 сравнени  и, в случае несоответстви  настройки уровн  порога дискриминации провер емого селектора, выдает сигнал на останов устройства. При этом в узел 31 индикации индицируетс  наличие ошибки номер селектора и указание в большую или меньшую сторону необходимо изменить настройку порога дискрими нации селектора, в случае соответстви  настройки схема 29 сравнени  выдает сигнал блоку 24 на переход к проверке .следующего селектора и т.д После выполнени  проверки настрой ки порога дискриминации последнего селектора из блока 24 выдаетс  на блок 1 управлени  (на коммутатор 12) сигнал об окончании выполнени  теста проверки, что свидетельствует о точной настройке генераторов тока и селекторов. Коммутатор 12 по этому сигналу разрешает подачу импульсов 100 кГц на схему 13 выбора теста и через нее на формирователь 16 счетных импульсов . В схеме 13 выбора теста происхо дит включение первого выбранного тес та согласно установленной программы проверки и подаетс  разрешающий сигнал на формирование информации на запись в форьшрователе 14 информации на запись, т.е. вырабатываютс  сигнсшы запуска регистров 2 адреса,дешифраторов 3 адреса, коммутаторов 4, схемы 7 сравнени , генераторов 8 тока , после чего производитс  восьмикратна  запись информации в провер е мую матрицу. При восьмом обращении.к провер емой матрице формирователь 15 тактов обращени  ввдхает сигнал, разрешающий контроль считанной информации в схеме 7 сравнени , который сравнивает информацию, записывае мую в каждую  чейку пам ти запоминги щей матрицы со считанной из этих же  чеек пам ти и усиленной в усилителе б считывани  и, в случае несоотв.етст ВИЯ, выдает сигнал в блок 1 управле ни  на останов устройства. На узле 31 индикации фиксируетс  адрес дефектной  чейки пам ти и характер де фекта. Дл  продолжени  процесса про верки необходимо произвести снова пуск устройства. По окончании Л-го такта обргццени с регистров 2 адреса поступает сигнал , разрешающий смену теста (на ком мутатор 12) . Происходит включение следующего теста и матрица провер етс  по следующему тесту. По окончании проверки матрицы по всем тестам происходит смена провер емого разр да , после чего производитс  провер ка следующего разр да согласно щ ограмме 51роверки и т.д. После окончани  проверки последне го разр да матрицы по всей программе проверки производитс  останов устройства и индицируетс  сигнал i окончани  проверки. Дл  вьтолнени  тестов обнаружени  дефектов прошивки считанна  из  чеек пам ти информации усиливаетс  усилителем 6 считывани  и поступает в блок 9 на селекторы 19 и 20, где стробируетс  сигналами, поступающими со схемы 7 сравнени . Селекторы 19 и 20 осуществл ют амплитудно-временную селекцию поступивших с усилител  6 считывани  сигналов и выдают информацию, на формирователи 21 и 22. В случае обнаружени  с злемента ИЛИ 23 сигнал ошибки поступает на останов устройства и на индикацию характера нарушени  (нарушение взаимнога расположени  координатных обмоток и обмотки записи-считывани  или нарушени  в подключении соседних координатных обмоток . Тенденци  увеличени  быстродействи  в выполнении операций ЭВМ неукоснительно требует уменьшени  габаритов запоминающих матриц, увеличени  плотности их монтажа, в св зи с этим при изготовлении запоминающих матриц по вились новые виды ошибок прошивки, так как нарушение взаимного расположени  координатных обмоток и обмотки записи-считывани  и нарушение в подключении соседних координатных обмоток. Описанное устройство позвол ет обнаруживать эти ошибки. В Процессе проверки запоминающих матриц наблкщаетс  также дрейф генераторов тока и порога срабатывани  селекторов, что снижает точность и достоверность контрол . Введение оперативного контрол  амплитуды им-ч пульсов токов и порога срабатывани  селекторов перед каждой проверкой матриц позвол ет повысить точность и достоверность контрол . Формула изобретени  1. Устройство дл  контрол  запоминающих матриц, содержащее регистры адреса, далифраторы адреса, коммутаторы , усилитель считывани , схему : сравнени , генераторы тока и блок управлени , причем одни из выходов регистров гщреса подключены ко входам деши а1оров адреса, одни из входов коммутаторов подключены к выходам дешифраторов адреса и одним из выходов генераторов тока, выходы коммутаторов подключены к первому входу усилител  считывани , первый выход которого соединен с первым входом cxetta сравнени , управл кхцие входы регистров гщреса, дешифраторов адреса, схемл сравнени , усилител  считывани , коммутаторов , генераторов тока подключены к выходам блока управлени , первый выход схемы сравнени  и другие выходы регистров адреса соединены с одними из входов блока управлени , отличающее с  тем, что, с целью повышени  быстродействи 
    устройства и точности и достоверности контрол  оно содержит блок логического анализа и блок обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы, входы которого подключены соответственно к первому выходу усилител  считывани  и второму выходу схема сравнени , а выходы - соответственно ко второму входу схемы сравнени  и одному из входов блока логического анализа, другие входы которого соединены, со вторым выходом усилител  считывани  и другими выходами генераторов тока, а выходы со вторым входом усилител  считы- . вани , входами генераторов тока и другим входом блока управлени , одни из выходов которого соединены с управл ницими входа1 м блока обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы и блока логического анализа
  2. 2.Устройство по П.1, отличающеес  тем, что, блок обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы содержит амплитудновременные селекторы, формирователи сигналов ошибок и элемент ИЛИ, входы которого подключены к выходам формирователей сигналов ошибок, одни из входов которых подключены-к одним из выходов амплитудно-временных селекторов , другие входы которых и выход элемента ИЛИ  вл ютс  выходами блока обнаружени  ошибок в прошивке запоминающей матрицы, входами которого  вл ютс  входы амплитудно-временных селекторов и другие входы формирователей сигналов ошибок.
  3. 3.Устройство по П.1, о т л и чающеес  тем, что блок ло .гического анализа содержит формирователи эталонных сигналов, cxeNbi сравнени , формирователь калиброванных сигналов , измерительный узел, уз.ел индикации и блок местного управле-. ни , одни из выходов и входов которого подключены соответственно к управл ющим входам схем сравнени  измерительного узла и формировател  Ксшиброванных сигналов и к одним из выходов схем сравнени , другие выходы которых и выход измерительного узла соединены со входами узла индикации, выходы формирователей эталонных сигналов подключены к одним из входов схем сравнени , другие входы которых соединены соответственно с выходом измерительного узла и первым выходом формировател  калиброванных сигналов, первый вход которого соединен с выходом одного из формирователей эталонных сигналов, второй выход формировател  калиброванных сигналов и другие выходы блока местного управлени   вл ютс  выходами блока логического анализа, входами которого  вл ютс  вход измерительного узла, второй и третий входы формировател  калиброванных сигналов и другой вход блока местного управлени .
    0 Источники информации,
    прин тые во внимание при экспертизе
    1. Авторское свидетельство СССР 435566, кл. G 11 С 29/00, 1973. , 2.. Авторское свидетельство СССР по за вке 104710/18-24, кл. G 11 С 29/00, 1975 (прототип).
    Фие.Ь
    Отв
    2.5
    K€
    18 Отб
    К8
    Omf
    I
    26
    i
    27
    /С/
    f(6
    i
    w
    Фие.
SU792837825A 1979-08-30 1979-08-30 Устройство дл контрол запоминающих матриц SU875468A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792837825A SU875468A1 (ru) 1979-08-30 1979-08-30 Устройство дл контрол запоминающих матриц

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792837825A SU875468A1 (ru) 1979-08-30 1979-08-30 Устройство дл контрол запоминающих матриц

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU875468A1 true SU875468A1 (ru) 1981-10-23

Family

ID=20858459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792837825A SU875468A1 (ru) 1979-08-30 1979-08-30 Устройство дл контрол запоминающих матриц

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU875468A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4414665A (en) Semiconductor memory device test apparatus
US6789224B2 (en) Method and apparatus for testing semiconductor devices
US4332028A (en) Method of measuring the memory address access time (AAT) utilizing a data recirculation technique, and a tester for accomplishing same
KR100278827B1 (ko) 메모리 시험장치
JPH08203298A (ja) 集積回路装置及びその試験方法
US3962687A (en) Method of inspection of semiconductor memory device
US5271015A (en) Self-diagnostic system for semiconductor memory
SU875468A1 (ru) Устройство дл контрол запоминающих матриц
US4897794A (en) Impulse coil tester
JP2002074986A (ja) Dc試験装置及び半導体試験装置
KR100253707B1 (ko) 반도체 메모리소자의 테스트장치 및 방법
SU1718190A1 (ru) Способ диагностики отказов динамических объектов и устройство дл его осуществлени
SU888211A1 (ru) Устройство дл контрол блоков оперативной пам ти
KR100198945B1 (ko) 스위치에 있어서의 스위칭 경로 자기진단장치
JP2003007090A (ja) メモリの不良救済解析方法・メモリ試験装置
SU1013956A2 (ru) Устройство дл контрол логических схем
KR100282776B1 (ko) 메모리에서 에러발생 주소검출방법
KR20000011796A (ko) 메모리시험장치
JPS61201173A (ja) 磁気デイスク特性測定装置
JPH03259758A (ja) データ収集装置
KR19980033154A (ko) 카운터 검사 방법 및 장치와 시리얼 억세스 메모리
SU1401520A2 (ru) Устройство дл контрол оперативной пам ти
JPS5816559B2 (ja) 半導体記憶装置の検査装置および検査方法
SU1161991A1 (ru) Устройство дл диагностического контрол пам ти
SU1520517A1 (ru) Устройство дл диагностировани цифровых узлов