SU1610422A1 - Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол - Google Patents

Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол Download PDF

Info

Publication number
SU1610422A1
SU1610422A1 SU884475631A SU4475631A SU1610422A1 SU 1610422 A1 SU1610422 A1 SU 1610422A1 SU 884475631 A SU884475631 A SU 884475631A SU 4475631 A SU4475631 A SU 4475631A SU 1610422 A1 SU1610422 A1 SU 1610422A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microprocessor
unit
input
electronic computer
block
Prior art date
Application number
SU884475631A
Other languages
English (en)
Inventor
Шамиль Рефнатович Минзулин
Александр Львович Тетерин
Original Assignee
Московский энергетический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский энергетический институт filed Critical Московский энергетический институт
Priority to SU884475631A priority Critical patent/SU1610422A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1610422A1 publication Critical patent/SU1610422A1/ru

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к неразрушающему контролю и предназначено дл  испытаний микропроцессорных приборов неразрушающего контрол . Целью изобретени   вл етс  повышение достоверности контрол  за счет автоматизации процесса испытани  и улучшени  метрологических характеристик. При включении электронно-вычислительна  машина 2 загружает с накопител  5 на магнитном носителе программное обеспечение, по которому первоначально тестируютс  микропроцессор 15 и блоки 13, 14 перепрограммируемой и оперативной пам ти. Затем с помощью блока 7 специальных сигналов задаютс  сигналы, поступающие на блок 8 генераторов и блок 10 обработки сигнала. По результатам моделировани  с помощью программатора 1 посто нной пам ти записываетс  результирующа  программа, котора  управл ет работой микропроцессора 15 в режиме контрол . 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к .неразрушающему контролю и предназначено .дл  испытаний микропроцессорных приборов неразрушающего контрол .
Целью изобретени   вл етс  повышение достоверности контрол  путем автоматизации процесса испытани  и улучшени  метрологических характеристик .
На чертеже приведена структурна  схема предлагаемого комплекса.
Комплекс содержит последовательно соединенные программатор 1 посто нной пам ти, электронно-вычислительную машину 2, блок 3 сопр жени  и блок 4 арбитража, выход которого сое , дивен с электронно-вБгаислителыюй машиной 2, накопитель 5 на магнитном носителе и блок б ввода и отображе- рш  информации, подключенные к электронно-вычислительной машине 2, последовательно соединенные блок 7 специальных сигна юв, блок 8 генераторов , блок 9 первичных преобразователей и блок 10 обработки сигналов, второй вход которого подключен к выходу блока 7 специальных сигналов, блок 11 индикац ш, блок 12 управлени , блоки 13 и 14 перепрограммируемой и оперативной пам ти, подключенные к блоку 4 арбитража, и микропроцессор 15, подкл оченный управл ющим входом к блоку 4 арбитража и св занный шинами с блоком 3 сопр жени , блоками 13 и 14 перепрограммируемой и оперативной пам ти, электронно-вычислительной машиной 2, блоком 7 специальных сигналов, блоком 8 генераторов , блоком 9 первичных преобразователей , блоком 10 обработки сигналов , блоком 11 индикации и блоком
12управлени .
Коьшлекс работает следуюимм образом .
При включении электронно-вычислительна  машина 2 осуществл ет начальную инициацию всех блоков и загружает с Накопител  5 на магнитном носителе программное обеспечение дл  проверки микропроцессора 15 и блоков
13и 14 перепрограммируемой и оперативной пам ти, дл  чего С помощью блока 4 арбитража устанавливает соответствующие разрешающие сигналы.
Затем включаетс  микропроцессор
15 и осуш,ествл ет работу по програм:ме , записанной в блоке 13 перепрог-
раммируемой пам ти. Результаты рабо
о
ты через блок 3 сопр жени  и под контролем электронно-вычислительной машины 2 отображаютс  в блоке.6 ввода и отображени  информации.
Дл  проведени  испытаний в услови х воздействи  внешних факторов электронно-вычислительна  мшиина 2 записывает в блок 7 специальных сигналов команды, по которым задаютс  параметры сигналов, модулирующее вли ние внешних воздействий, либо на блок 8 генераторов, либо на обработки сигналов.
По результатам испытаний электронно-вычислительна  машина 2 заносит модифицированное программное обеспечение в микросхемы Пам ти (не показаны) с помощью программатора 1 посто нной пам ти, которые затем переставл ютс  в блок 13 перепрограммируемой пам ти.
По записанной таким образом программе микропроцессор 15 управл ет
5 работой в автономном режиме, считыва  команды с блока 12 управлени , по которым осуществл ютс  управление блоком 8 генераторов и обработка информации , поступающей с блока 9
г, первичных преобразователей.

Claims (1)

  1. Результаты работы отображаютс  в блоке 11 индикации. Формула изобретени 
    г Испытательньш комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол , содержащий электронно-вычислительную машину, накопитель на магнитном носителе и блок ввода и отобраQ жени  информации, подключенные к первому входу электронно-вычислительной машины, программатор посто нной пам ти., подключенный к второму входу электронно-вычислительной маши5 ны, последовательно соединенные блок сопр жени ,подключенный к третьему входу электронно-вычислительной ма- шины, микропроцессор и блоки перепрограммируемой и оперативной пам ти , последовательно соединенные бдок генераторов, блок первичных преобразователей и блок обработки сигналов, подключенные информационными входами к микропроцессору, и блоки индикации и управлени , подключенные к микропроцессору, о тличающий- с   тем, что, с целью повьшгени  досН товерности контрол ,- он снабжен блоком арбитража, вход которого подклю0
    5
    516104226
    чен к блоку сопр жени , а выходы сое- специальных сигналов, вход которого динены с управл ющими входами элект- подключен к микропроцессору и электронно-вычислительной машины,микро- ронно-вычислительной машине, а выхог процессора и блоков перепрограммируе- ды роедйнены с -входами блока генера- мой и оперативной пам ти, и блоком .торов и блока обработки сигналов.
SU884475631A 1988-08-22 1988-08-22 Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол SU1610422A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884475631A SU1610422A1 (ru) 1988-08-22 1988-08-22 Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884475631A SU1610422A1 (ru) 1988-08-22 1988-08-22 Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1610422A1 true SU1610422A1 (ru) 1990-11-30

Family

ID=21396227

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884475631A SU1610422A1 (ru) 1988-08-22 1988-08-22 Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1610422A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
) Патент US № 4656632, кл. G 01 N 27/90, 1987. Управл емый ЭВМ измерительный стенд дл локализации неисправности в аналоговых устройствах./ВИНИТИ, . экспресс-информаци . - Контрольно- измерительна техника, 1986, № 42 с. 1-6. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69416471T2 (de) Abtastpfadsystem und Prüf- und Diagnoseverfahren
DE69223461D1 (de) Konfigurable Selbstprüfung für integrierte RAMs
KR970072255A (ko) 간단한 검사용 배선을 갖고 짧은 시간에 검사될 수 있는 반도체 웨이퍼상의 반도체 장치
SU1610422A1 (ru) Испытательный комплекс микропроцессорных приборов неразрушающего контрол
JPS63148498A (ja) 自己診断機能を具備した記憶装置
JPS6167162A (ja) メモリチエツク回路
SU1275549A1 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
KR100188685B1 (ko) 컴팩트 디스크 드라이브의 하드웨어 검사 방법
SU857998A1 (ru) Устройство дл синтеза тестов
JPS62277699A (ja) メモリテスタ
JPH0733985B2 (ja) 自動車の点検整備用診断装置
JPH0238879A (ja) 論理回路
JPH0498698A (ja) 半導体メモリ用オンチップテスト方式
JPH04148431A (ja) パッケージ試験方式
JP2543721Y2 (ja) 波形測定装置
JPH03102435A (ja) プロセッサ搭載装置の試験方法
JPH06222946A (ja) 集積回路およびその試験方法
JPH0712900A (ja) Ic試験装置
JPS62293600A (ja) Prom検査装置
JPS6128143A (ja) 入力処理回路の異常検出方法
JPH03120697A (ja) 集積回路装置
JPS63241371A (ja) 試験パタ−ン生成方式
JPH04120644A (ja) 記憶装置
JPS5673363A (en) Testing device of ic
Coleman et al. Boundary scan speeds static memory tests