SU1251189A2 - Устройство дл контрол полупроводниковой пам ти - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к области вычислительной техники, в частности к устройствам дл  контрол  полупровод- никовой пам ти, и  вл етс  усовершенствованием изобретени  по авт.св. № 1051585. Целью изобретени   вл етс  повьшение достоверности контрол . Устройство содержит синхронизатор, блок управлени , блок задани  тестов , счетчики адресов, коммутаторы, формирователь тестовых сигналов, блок сопр жени  уровней напр жени , регистр адреса ошибки блок сравнени ,регистр сдвига, блок элементов И-НЕ, блок элементов И. С помощью введенных в устрой- ство элементов создаютс  услови , при которых тестова  последовательность может проходить только через определенную группу информационных разр - g дов 2 ил., 2 табл. ISO

Description

I

Изобретение относитс  к вычислительной технике, в частности к запоминающим устройствам, и  вл етс  усовершенствованием изобретени  по авт. св. № 1051585.

Цель изобретени  - повышение достоверности контрол .

На фиг.1 представлена структурна  схема устройства; на фиг.2 - пример выбора группы информационных разр - дов.

Устройство содержит синхронизатор I, блок 2 управлени , блок 3 задани  тестов, первичный счетчик 4 адреса, первый коммутатор 5, второй счетчик 6 адреса, формирователь 7 тестовых сигналов, блк 8 сопр жени  уровней напр жени , регистр 9 адреса ошибки, второй 10 и третий 11 коммутаторы, блок 12 сравнени , четвертый коммута тор 13, контролируемый блок 14 полупроводниковой пам ти, регистр 15 сдвга , блок 16 элементов И-НЕ и блок 17 элементов И.

С помощью введенных в устройство элементов создаютс  услови , при которых тестова  последовательность может проходить только через определенную группу информационных разр дов (ИР). Дл  построени  регистра сдвига можно использовать микросхему 53ШР1 Число выходов регистра сдвига равно числу провер емых контрольных разр дов ( КР ). Каждый выход регистра подключен к входам трех определенных элементов И-НЕ, число элементов И-НЕ а также элементов И равно числу провер емых ИР. При нулевом уровне сигнала , поступающего из блока 2 управлени  на вход R, регистр устанавли- ваетс  в нулевое состо ние, с вьтхо- дов всех элементов И-НЕ поступает единичный уровень сигнала, разреша- н ций прохождение тестовой последовательности через все ИР. Работа пред- лагаемого устройства при этом не отличаетс  от работы известного.

+ ++ + + , + + ч- +

++ + + + +

+ ++ + +

f ч- + + +

+ +

9I

Провер етс  работоспособность во- ИР контролируемого ЗУ.

При единичном уровне сигнала, поступающего из блока 2 на вход R, регистр переводитс  в режим значени  и сдвига, нулевой уровень по вл етс  только на одном из выходов регистра и тестова  последовательность проходит только через три определенных ИР, остальные ИР заблокированы. Группа из трех ИР выбираетс  таким образом , чтобы в группе ОТ, формирующих данные КР согласно табл. 1, измен л свое состо ние только один ИР, слеовательно , через данный КР проходит а же тестова  последовательность.

Состо ние оста.пьных КР не мен ет- с , так как в группах формирующих их ИР состо ние ИР либо не мен етс , либо мен ет состо ние четного числа ИР. Б конце тестовой последовательности в устройстве с выхода второго счетчика 6 вырабатываетс  сигнал Конец проверки, который поступает на тактовый вход регистра и по которому нулевой уровень сигнала передвигаетс  на следующий выход регистра.

Каждый выход регистра соответствует проверке одного КР. В табл.2 приведен пример выбора группы из трех ИР, соответствующих проверке одного КР.

Так, если нулевой уровень сигнала на выходе, регистра разрешает прохождение тестовой последовательности через ИР7, ИР 10, ИР 13,, согласно табл. 1 в группе ИР, формирующих КР2, измен ет свое состо ние только ИР7, в группах формирующих остальные КР, измен ют свое состо ние два ИР. При неисправности в КР ЗУ вырабатывает сигнал ошибки, по которому происходит останов пульта. Выходы элементов И-НЕ подключаютс  к устройству сигнализации (не показано). По состо нию индикации определ ютс  работающие ИР и согласно табл.2 определ етс  провер емый КР.

Таблица 1

+

4-f +

+ +

+ +

ИР

Claims (1)

1. Формула изобретени  20

   Устройство дл  контрол  полупроводниковой пам ти по авт. св. № , отличающеес  тем, что, с целью повышени  достоверности контро-25 ;л , в него введены регистр сдвига, блок элементов И-НЕ, блок элементов И, причем первый вход регистра сдвига подключен к одному из выходов блоTftl

   с.

   Таблица 2

   КР

   ка управлени , второй вход соединен с другим выходом второго счетчика адреса , выход регистра сдвига подключен к входу блока элементов И-НЕ, выход которого соединен с первым входом блока элементов И, второй вход которого подключен к выходу третьего коммутатора , выход блока элементов И соединен с третьим входом блока сопр жени  уровней напр жени .

   кбЛикубЩ

   f ()

   KSAOKU

   г l -

   0-J

   16

   И-Hf

   И-ffE

   и HE

   кб окди

   Редактор А. Огар

   Составитель О. Кулаков

   Техред И.Гайдош Корректор М. Максимишинец

   44)9/51

   Тираж 543Подписное

   ВНИИШ Государственного комитета СССР

   по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5

   Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4

   КРО

   KP1

   KP2

   TfAT

   1

   ИР7

   и

   и

   tfpf3

   и

   /cS/iOKi/3

   Фиг. 2