SE437438B - Forfarande for att driva en laddningskopplad halvledaranordning jemte laddningskopplad anordning for genomforandet av forfarandet - Google Patents
Forfarande for att driva en laddningskopplad halvledaranordning jemte laddningskopplad anordning for genomforandet av forfarandetInfo
- Publication number
- SE437438B SE437438B SE7800104A SE7800104A SE437438B SE 437438 B SE437438 B SE 437438B SE 7800104 A SE7800104 A SE 7800104A SE 7800104 A SE7800104 A SE 7800104A SE 437438 B SE437438 B SE 437438B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- charge
- input
- channel
- potential well
- input signal
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 title 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 title 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 12
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 101000802895 Dendroaspis angusticeps Fasciculin-1 Proteins 0.000 description 1
- 201000004624 Dermatitis Diseases 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 208000010668 atopic eczema Diseases 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 210000004197 pelvis Anatomy 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 230000003334 potential effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
- G11C19/282—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements with charge storage in a depletion layer, i.e. charge coupled devices [CCD]
- G11C19/285—Peripheral circuits, e.g. for writing into the first stage; for reading-out of the last stage
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76808—Input structures
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
10
3st
HO_
7-800104-7 i i á
laddningsbärare i beroende av insignalspänning, vilken är relativt
icke-linjär vid lägre insignalnivåer och relativt linjär vid högre
ínsígnalnivåer. För att undanröja problemet med denna icke-linjära
Hvçrfüríngfirnnktinn är organ anordnade, som är påverkade av'insig-i
nalen och av en uppträdande styrspänning, för att i ingångspoten-
tialbrunnen inmata en laddning, som inbegriper en förladdningskompo-
nent till en nivå som motsvarar det icke-linjära området hos nämnda
överföringsfunktion och dessutom inbegriper en signalkomponent. Vi-
dare är organ anordnade för att från ingångspotentialbrunnen under
lagringselektroden avlägsna signalkomponenten av den däri lagrade
laddningen och för att förskjuta denna signalkomponent till CCD-
-kanalen, medan i ingångspotentialbrunnen under lagringselektroden
förladdningskomponenten kvarlämnas.
Uppfinningen kommer att beskrivas närmare i det följande under
hänvisning till bifogade ritningar, där fig. l visar en kurva över
antal alstrade laddningsbärare i beroende av insignalspänning för ett
konventionellt drivet ingångssteg hos en laddningskopplad anordning
med försänkt kanal (buried channel), fig. 2 visar en planvy-över en
CCD-ingångskrets enligt uppfinningen, fig. 3 visar ett snitt längs
linjen 3-3 i fig. 2, fig. H visar diagram över substratpotentialpro-
filer som belyser verkningssättet för kretsen enligt fig. 2 och 3,
fig. 5 visar diagram över vågformer, som kan utnyttjas för att driva
kretsen enligt fig. 2 och 3,och fig. 6a och 6b visar kurvor som belyser
verkningssättet för kretsen enligt fig. 2 och 3.
iI US-patentskriften 3 986 198 beskrivs jämförelsevis bruaffia
kretsar för inmatning av en laddningssignal i ett CCD-register, Den
använda tekniken har blivit känd såsom "fyll-och-spill"-driftssättet.
Laddningssignalen inmatas från en emitterelektrod till en första po-
tentialbrunn, vilket utgör fylldelen av cykeln.Därefter töms poten-
tialbrunnen delvis, exempelvis genom att emitterelektroden drivs så-
som kollektor. Under tömningsproceduren bibehålls en insignalpotential
mellan den elektrod, under vilken potentialbrunnen är bildad, och en
andra elektrod mellan denna elektrod och emitterelektroden. Den ladd-
ning som förblir kvar i den första potentialbrunnen är en funktion
av amplituden hos denna insignal och är relativt brusfri.
iDet har visat sig att när den laddningskopplade anordningen är
av typen med försänkt kanal resulterar det ovan beskrivna driftsät-
tet,samtidigt som det är relativt brusfritt, i en relativt icke-
_-linjär omvandling av ínsignalen till laddning (jämfört med den sig-
nalomvandling som uppträder í en laddningskopplad anordning av yt-
kanal-typen). överföríngskurvan för antal alstrade laddningsbärare i
beroende av insignalspänning för en typisk laddningskopplad anord-
še-i. ha... ..-
. _
“GSR Qfififwïf
HO Ü
78001044
ning med försänkt N-kanal visas i fig. 1. Det plana området 11 vid
toppen representerar ingångspotentialbrunnens laddningskapacitet,
vilken kan vara något större än kapaciteten hos varje förskjutnings-
potentialbrunn längs huvuddelen av CCD-kanalen. Kapaciteten hos en
dylik förskjutningspotentialbrunn representeras av den streckade
linjen 13. 7
Kurvan innefattar ett jämförelsevis icke-linjärt område vid
relativt låga signalnivåer (mellan Vz och VX volt) och ett jämförel-
sevis linjärt område vid relativt höga signalnivåer (mellan VX och
Vy volt). En ändring i signalnivå AVIN1 vid en relativt låg insignal-
nivå omvandlas icke-linjärt till en laddningssignal i ingångspoten-
tialbrunnen, medan en ändring i insignal AVIN2 vid en relativt hög
insignalnivå omvandlas linjärt till en laddningssignal i ingángspo-
tentialbrunnen. Det icke-linjära området beror exempelvis av den
egenskapen hos en anordning med försänkt kanal att den försänkta
kanalens kapacitans varierar mera såsom en funktion av laddnings-
nivån vid lägre laddningsvärden än vid högre laddningsvärden. Det
finns även mera komplexa effekter som påverkar graden av icke-lineari-
tet.
Vid vissa tillämpningar såsom exempelvis CCD-fördröjningselement,
som utnyttjas för att fördröja analoga signaler, såsom videosignaler
inom televisionstekniken, är det ovan beskrivna verkningssättet natur-
ligtvis i hög grad ofördelaktigt. Det är önskvärt att CCD-fördröj-
ningselementet inför så lite distorsion som möjligt i den analoga
signalen och för att uppnå detta bör ingångskretsen till den ladd-
ningskopplade anordningen arbeta på ett linjärt sätt. I
Det är även viktigt att ett CCD-fördröjningselement, såsom be-
skrivits ovan, icke upptager en alltför stor yta på halvledarsubstratet
Den laddningskopplade anordningen är konstruerad att ha en sådan ka-
nalbredd och sådana elektrodytor att de potentialbrunnar, som bildas
med hjälp av flerfasspänningarna, endast kan lagra så mycket ladd-
ning, som kan alstras av en insignal med den största förväntade ampli-
tuden (antagande något praktiskt värde såsom 10-12 volt eller dylikt
hos flerfasspänningen). Om CCD-elektrodytorna görs större betyder
detta att varje CCD-fördröjningselement blir större och detta betyder
i sin tur att färre dylika CCD-fördröjningselement kan erhållas från
en enda skiva (i praktiken tillverkas många fördröjningselement sam-
tidigt på samma skiva och utskärs sedan eller åtskiljspå något annat
sätt från varandra). Detta är oekonomiskt och ökar kostnaden för var-
je element. Dessutom uppvisar fördröjningselement med större yta
PooR QUALITY
H0
vsoo1o4-7-
H
högre kapacitans, vilket medför att det är svårare att driva dem
vid högre frekvenser (högfrekvens-flerfasspänningar) och leder
till högre effekrförbrukning 1 ccn-arivkrersarna.
Pig. 2 och 3 visar en krets enligt uppfinningen med hjälp
av vilken de ovannämnda problemen löses. Den laddningskopplade an-
ordningen innefattar ett kiselsubstrat 10 av P-typ och en emítter-
elektrod S vid substratytan. Denna emitterelektrod kan bestå av ett
N-diffusionsområde i P-substratet. Ékiktet B består av ett tun$ la-
ger av N-ledande kisel vid substratytan och bildar en PN-övergång
12 med substratet. Skiktet B är på i och för sig känt sätt mindre
starkt_dopat än emitterdiffusionsområdet S. CCD-ingångselektroderna
utgörs av tre styrelektroder Gi, G2 och G3, i denna ordning, följda
-av flerfaselektroder 1%, 16, 18, 20 etc. Dessa elektroder kan alla
exempelvis bestå av polykisel och vara av den överlappande två-
skiktstypen. Andra material och andra utföranden är naturligtvis
K möjliga och ligger inom ramen för föreliggande uppfinning. CCD-
-kanalen, vilken kan vara definierad av kanalstoppdiffusioner (icke
visat) är relativt bred under ingångselektroderna G1, G2 och G3 och
avsmalnar till en mindre bredd för huvuddelen av den laddningskopplade
anordningen, såsom är markerat genom streckade linjer. Denna huvuddel
(icke visad) av den laddningskopplade anordningen kan omfatta flera
hundra CCD-steg-(över 500 i ett praktiskt utförande med fyra elek-
.troder per steg). I det visade utföringsexemplet kan den bredare
delen av CCD-kanalen vara dubbelt så bred som huvuddelen av CCD-kanalen
.såsom indikeras av bredderna 2w respektive wii fig. Z,
Årbetssättet för den laddningskopplade anordningen framgår av
fig. 4 och 5. Det antages för illustreringsändamål att vid tidpunkten
to ingen laddning uppträder i potentialbrunnen 26 under elektroden G2
såsom visas i fig. 4(a). Vid denna tidpunkt är spänningen-o1 låg, så
att en potentialbarriär 20 förefinnes under den första Q1-elektroden
14 och en grund potentialbrunn 22 under elektroden 16. Den grunda
potentialbrunnen erhålles genom att elektroden 16 bibehålles på en
offsetlikspänning, som är positiv i förhållande till spänningen på
elektroden 14. Detta'indikeras schematiskt genom batteriet 15. Spän-
" ningen V3 har en relativt låg nivå vid denna tidpunkt, varigenom en
potentialbarriär 24 förefinnes under elektroden G3. Spänningen V2
hålls kontinuerligt på en relativt hög likspänningsnivå så att en
potentialbrunn 26 uppträder under lagringselektroden G2. Denna poten-
tialbrunn kan betraktas såsom "ingångspotentialbrunnen". Spänningen
V1 representerar även en likspänningsnivå men är mindre positiv än
QS
7800104-7
spänningen V2. Denna spänning V1 och signalspänningen VIN påtrycks på
elektroden G1. Följaktligen uppträder det kontinuerligt under elektroden
G1 en potentialbarriär 28, vars höjd är en funktion av likspänningsnivân
V1 plus signalnivân VIN. Spänningen VS är relativt positiv vid tidpunk-
ten to så att diffusionsområdet S verkar såsom en kollektor för ladd-
ningsbärare.
att diffu-
sionsområdet S verkar såsom en emitter för laddningsbärare. Dessa ladd-
ningsbärare (elektroder) fyller nu potentíalbrunnen 26 till nivån 30;
Vid tidpunkten t1 är spänningen VS relativt negativ så
Vid tidpunkten t2 antager spänningen VS sitt mera positiva värde,
vilket medför att diffusionsområdet S verkar såsom kollektor. Därvid er-
hålles en tillbakaspillning av en del av laddningen i brunnen 26 över
barriären 28 in i området S. Den resterande laddningen i potentialbrunnen
26 innefattar dels en komponent som är proportionell mot signalen och
dels en komponent som är proportionell mot skillnaden i likspänningsnivå~
er mellan spänningarna V1 och V2. I fig. 4 är laddningen.i potentialbrun-
nen 26 skrafferad på tvâ olika sätt. Den ena delen 32 av denna laddning
kommer kontinuerligt att förbli kvar i denna brunn och betecknas "för-
laddning". Återstoden 3U av laddningen, betecknad "signa1", kommer att
"avskummas" från brunnen och förskjutas vidare i CCD-registret, såsom
kortfattat kommer att förklaras i det följande,
Vid tidpunkten ta är spänningen V3 relativt positiv så att bar-
riärens 24 höjd är avsevärt lägre än vid tidpunkten t2. Den på elektroden
G2 påtryckta spänningen V2 förblir lika, såsom redan nämnts. Vid tidpunk°
ten ta är även FAS-1-spänningen +1 hög, varigenom potentialbrunnarna 36
och 38 uppträder under ö1-elektroden 14 respektive 16. Eftersom elektrod-
en 16 är mera positivt förspänd än elektroden 14 är potentialbrunnen 38
under elektroden 16 djupare än brunnen 36 under elektroden 1H. (Fastän
för exemplifieringsändamål ett organ 15 för alstring av en offsetspänning
mellan två elektroder är visat 1 och för bildande av en asymmetrisk po-
tentíalbrunn, är även alternativa utföranden möjliga. En möjlighet är att
utnyttja en enda elektrod i stället för de båda elektroderna 14 och 16
och anordna en avpassad jonimplantering därinunder,) Spänningen ö1 har
avsevärt högre amplitud än spänningen V3 vid tidpunkten t3, varigenom
brunnpotentialen 20 är högre än (uppträder såsom en potentialbrunn i för-
hållande till) brunnpotentialen 2%. På grund av dessa förhållanden
"avskummas" en del av laddningen i potentialbrunnen 25 från denna brunn
och förskjuts till brunnen 38. Återstoden av laddningen, dvs. förlagd-
ningen 32, förblir kvar i potentialbrunnen 26. Den del 3% av
HO
78001 OÅr-'YW
6 .
'laddningen, som förut befann sig i brunnen 26, och nu förefinnes
i brunnen 38 förskjuts successivt vidare i CCD-registret med hjälp
av de båda fasspänningarna Q1 och dz på konventionellt sätt,
Meningen med det beskrivna driftsättet kommer nu att klarläggas
_under hänvisning till fig. 6a. Denna figur är ritad i mindre skala
än fig. 1 (antages att den streckade linjen 13 representerar samma
laddningsnivå i båda figurerna, ligger i fig. 1 denna streckade_linje
(på cirka dubbla avståndet från noll-laddningsnivân jämfört_med samma
linje i fig. 6a), men samma beteckningar används för att ange motsva-
rande delar av kurvan. Potentialbrunnen 26 (fig. H) bibehåller konti-
nuerligt en förladdning (32 i fig. 4), vilken representeras av den
streckade linjen 15 i fig. 6. Denna streckade linje definierar bör-
jan av det relativt linjära området av överföringskurvan. Varje ladd-
ning som adderas till denna potentialbrunn såsom svar på en ingångs-
signal VIN resulterar i en i huvudsak linjär omvandling av denna
insignal till laddning (34 i fig. 4), eftersom operationen sker i
det linjära området av kurvan. Dessutom är konstruktionen sådan att
ett fullständigt dynamikområde erhålles. Med andra ord, eftersom in-
gångspotentialbrunnen (brunnen under elektroden G2) ligger i ett
område där kanalen är bred, är dess kapacitet relativt stor; appro-
ximativt dubbelt så stor som kapaciteten hos CCD-förskjutningsbrun-_
' narna i huvuddelen av den laddningskopplade anordningen (ingångs-
brunnen under elektroden G2 har approximativt dubbla kapaciteten
jämfört med en brunn under en elektrod 42 i fig. 2 och 3). Detta
betyder att fastän potentialbrunnen 26 under lagringselektroden G2
endast är disponibel för mottagning av signalladdning till en del
av dess totala kapacitet (antag att när insignalen har sitt maximala
värde belägger den endast halva brunnen, varvid förladdningen beläg-
ger återstoden av brunnen), kan den laddningssignal som "avskummas"
_frân denna potentialbrunn 26 ändå fylla brunnen under elektroden H2
till i huvudsak dess totala kapacitet vid maximal insignalnivå. Den
beskrivna laddningskopplade anordningen arbetar sålunda linjärt över
i huvudsak hela kapaciteten hos förskjutningspotentialbrunnarna i
CCD-kroppen och har därför ett större användbart dynamikomrâde.
Överföringsfunktionen för en typisk förskjutningspotentialbrunn,
såsom en brunn under elektroden H2 i fig. 2 och 3, relaterad till den
på elektroden G1 påtryokta insignalen VIN, visas i fig. Gb. Förskjut-
ningspotentialbrunnens fulla kapacitet representeras av den streckade
linjen 13. Observera att operationen är helt linjär över nästan hela
kurvan. (Man har i praktiken funnit att vid extremt låga nivåer för
a
få f; -gq/:flgf ef: :Mmmm
n* 3 fb'
ggn-Inna »u w!
lO
'7800104-7
insignalen VIN en viss olinearitet erhålles, såsom visas vid 17,
men orsaken därtill är ännu icke helt klarlagd.)
Den i huvudsak linjära operation, som beskrivits ovan, uppnås
utan krav på extra substratyta. I ett praktiskt utförande omfattar*
huvuddelen av den laddningskopplade anordningen över 500 steg (över
2000 elektroder) och kanalbredden, elektrodytorna och substratytorna
förblir oförändrade för alla förutom det första av dessa steg. Elek-
troderna 14, 16, 18 och 20 i det första steget har utökade ytor, en
extra styrelektrod G3 utnyttjas och emitterelektroden och de första
två styrelektroderna har utökade ytor. Den totala erforderliga stor-
leksökningen för den laddningskopplade anordningen är icke signifikant
och uppgår endast till en bråkdel av en procent.
Det bör observeras att fastän för exemplifieringsändamål två-
fasdrift antagits uppfinningen lika väl är tillämpbar på trefasdrift,
fyrfasdríft. eller drift i högre faser. Man bör även observera att
fastän den visade laddningskopplade anordningen utnyttjar ett substrat
av P-typ är den lika väl tillämpbar på anordningar med N-substrat ut-
nyttjande P-ledande ytskikt och ett P-ledande emitterområde. Avpassade
ändringar av driftspänningarna erfordras naturligtvis därvid. Dessutom
är, fastän typiska vågformer är visade, modifieringar möjliga. Exem-
pelvis är spänningen V3 visad att ha samma form som vågen #1. Korrekt
drift kan emellertid fortfarande uppnås med spänningen V3 uppvisande
en annan form än ö1. Spänningen V3 bör vara låg när VS är låg, men
V3 kan bli hög innan q>1 blir hög.
Claims (5)
1. Förfarande för att driva en laddningskopplad halvledar- anordning av den typ som har en ingångspotentialbrunn-överförings- funktion för antal alstrade laddningsbärare i beroende av insignal- spänning som är relativt icke-linjär i ett första ínsignalområde mellan en första signalnívâ V1 och en andra signalnivâ V2 och som är relativt linjär i ett andra insignalområde mellan nämnda andra nivå V2 och en tredje signalnivâ V3, varvid den första, andra och tredje nivån har successivt högre värden, varjämte ingångspotential- brunnen tillföres ett mot ínsignalen proportionellt antal laddnings-_ bärare, samt en i denna potentialbrunn innesluten laddning extraheras och förflyttas i potentialbrunnarna belägna längs fortsättningen av' halvledaranordningens kanal, k ä n n e t e c k n a t av följande för- faringssteg: I att en förladdning placeras i ingångspotentialbrunnen till en nivå motsvarande det antal laddningsbärare, som skulle alstras såsom svar på en insignal med i huvudsak den andra signalnivån V2; att till nämnda förladdning i ingångspotentialbrunnen ett antal laddningsbärare adderas, som är proportionellt mot en insignal vars amplirud ligger ifcöríbäaet no1ifi1rv3-v2; _ p att från íngångspotentialbrunnen endast den del av laddningen däri som överskrider förladdningen förskjuts därifrån; samt att denna förskjutna laddning överförs längs den laddnings- kopplade anordningen genom att den förflyttas i potentialbrunnar av mindre kapacitet än ingångspotentialbrunnen men ändå av tillräcklig kapacitet för att lagra en laddning.motsvarande den maximala insig- nalnivån V3-V2. 7 _ ' 7 g
2. Förfarande enligt kravet 1, k ä n n e t e c k n a t av att förfaringssteget för att till förladdningen addera ett antal laddningsbärare, som är proportionellt mot insignalen, består i att först addera ett större antal dylika laddningsbärare till ingångspo- tentialbrunnen och därefter, i beroende av insignalen, avlägsna från ingångspotentialbrunnen ett tillräckligt antal laddningsbärare för at. c i nämnda brunn ett antal laddningsbärare skall kvarlämnas som mot- svarar förladdningen plus det antal som är proportionellt mot insig- nalen.
3. Laddníngskopplad anordning för genomförande av förfa- randet enligt kravet 1, i vilken anordning ingår en i ett substrat (10) befintlig kanal, som har en förlängning av given bredd (W), och med från substratet isolerade kanalelektroder (t.ex. #2), på _¿___._ I* 399 raw-see; _ '_ :i ____;*_lf:"_'--_L___'>'~ __ ,_, p w . I. nä 7Éš§¿;så\ 9 '780010lv7 vilka elektroder flerfasspänningar (Q1, dz) är pâtryckbara för bildande i substratet av kanalpotentialbrunnar (t.ex. 38) för lag- ring och förflyttning av laddningssignaler längs nämnda kanal, var- jämte i anordningen även ingår en emitterelektrod (S) i substratet jämte mellan emítterelektroden och kanalelektroderna belägna ingångs- elektroder (G1, G2, G3) pâverkbara av en insignal för att styra in- matningen av laddning från emitterelektroden till kanalen, vilka in- gångselektroder innefattar en lagringselektrod (G2), som är påverk- bar av en pâtryckt spänning i och för bildande av en ingángspotential- brunn (26), k ä n n e t e c k n a d av att bredden av den av ingångs- elektroderna (G1, G2, G3) styrda delen av kanalen är större än kanal- fortsättningens givna bredd (W), varigenom laddningskapaciteten hos ingângspotentialbrunnen (26) är större än laddningskapaciteten hos respektive kanalpotentialbrunn. H.
Laddningskopplad anordning enligt kravet 3, k ä n n e-_ t e c k n a d av att bredden (2W) av den av ingångselektroderna (G1, G2, G3) styrda delen av kanalen är dubbelt så stor som nämnda givna bredd (W).
5. Laddningskopplad anordning enligt kravet 3 eller U, k ä n n e t e c k n a d av att kanalens bredd från den av ingångs- elektroderna (G), G2, G3) styrda delen'gradvis avtar till nämnda givna bredd (W). i POOR QUALITY
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US75818477A | 1977-01-10 | 1977-01-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE7800104L SE7800104L (sv) | 1978-07-11 |
SE437438B true SE437438B (sv) | 1985-02-25 |
Family
ID=25050832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE7800104A SE437438B (sv) | 1977-01-10 | 1978-01-04 | Forfarande for att driva en laddningskopplad halvledaranordning jemte laddningskopplad anordning for genomforandet av forfarandet |
Country Status (16)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JPS5387675A (sv) |
AU (1) | AU511885B2 (sv) |
BE (1) | BE862760A (sv) |
CA (1) | CA1101994A (sv) |
DE (1) | DE2800893C2 (sv) |
DK (1) | DK149674C (sv) |
ES (1) | ES465682A1 (sv) |
FI (1) | FI72410C (sv) |
FR (1) | FR2377127A1 (sv) |
GB (1) | GB1579033A (sv) |
IT (1) | IT1089179B (sv) |
NL (1) | NL7800272A (sv) |
NZ (1) | NZ186177A (sv) |
PL (1) | PL120630B1 (sv) |
SE (1) | SE437438B (sv) |
ZA (1) | ZA7810B (sv) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4158209A (en) * | 1977-08-02 | 1979-06-12 | Rca Corporation | CCD comb filters |
US4139784A (en) * | 1977-08-02 | 1979-02-13 | Rca Corporation | CCD Input circuits |
US4217605A (en) * | 1978-08-02 | 1980-08-12 | Rca Corporation | Comb filter employing a charge transfer device with plural mutually proportioned signal charge inputs |
JPS5528523A (en) * | 1978-08-17 | 1980-02-29 | Toshiba Corp | Signal charge input system for charge transfer element |
DE2836473A1 (de) * | 1978-08-21 | 1980-03-06 | Siemens Ag | Ccd-eingangsschaltung nach dem fill and spill-prinzip |
DE3138946A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum betrieb einer mit einem vorschalt-tiefpass versehenen ladungsverschiebeanordnung |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3986198A (en) * | 1973-06-13 | 1976-10-12 | Rca Corporation | Introducing signal at low noise level to charge-coupled circuit |
JPS5416838B2 (sv) * | 1973-11-29 | 1979-06-25 |
-
1977
- 1977-01-04 AU AU32166/78A patent/AU511885B2/en not_active Expired
- 1977-12-21 IT IT31058/77A patent/IT1089179B/it active
- 1977-12-28 CA CA293,993A patent/CA1101994A/en not_active Expired
-
1978
- 1978-01-03 ES ES465682A patent/ES465682A1/es not_active Expired
- 1978-01-03 ZA ZA00780010A patent/ZA7810B/xx unknown
- 1978-01-03 FI FI780012A patent/FI72410C/sv not_active IP Right Cessation
- 1978-01-04 SE SE7800104A patent/SE437438B/sv not_active IP Right Cessation
- 1978-01-05 GB GB342/78A patent/GB1579033A/en not_active Expired
- 1978-01-09 DK DK8878A patent/DK149674C/da not_active IP Right Cessation
- 1978-01-09 NL NL7800272A patent/NL7800272A/xx not_active Application Discontinuation
- 1978-01-09 JP JP106078A patent/JPS5387675A/ja active Granted
- 1978-01-09 NZ NZ186177A patent/NZ186177A/xx unknown
- 1978-01-09 BE BE184205A patent/BE862760A/xx not_active IP Right Cessation
- 1978-01-10 DE DE2800893A patent/DE2800893C2/de not_active Expired
- 1978-01-10 FR FR7800570A patent/FR2377127A1/fr active Granted
- 1978-01-10 PL PL1978203913A patent/PL120630B1/pl unknown
-
1980
- 1980-10-01 JP JP55138199A patent/JPS5829634B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI780012A (fi) | 1978-07-11 |
ES465682A1 (es) | 1978-10-01 |
CA1101994A (en) | 1981-05-26 |
JPS5387675A (en) | 1978-08-02 |
PL120630B1 (en) | 1982-03-31 |
GB1579033A (en) | 1980-11-12 |
AU511885B2 (en) | 1980-09-11 |
DE2800893A1 (de) | 1978-07-13 |
AU3216678A (en) | 1979-07-12 |
NL7800272A (nl) | 1978-07-12 |
IT1089179B (it) | 1985-06-18 |
DK8878A (da) | 1978-07-11 |
JPS5829634B2 (ja) | 1983-06-23 |
DE2800893C2 (de) | 1982-10-14 |
SE7800104L (sv) | 1978-07-11 |
FI72410B (fi) | 1987-01-30 |
JPS56142670A (en) | 1981-11-07 |
DK149674B (da) | 1986-09-01 |
FR2377127A1 (fr) | 1978-08-04 |
NZ186177A (en) | 1981-03-16 |
JPS5649460B2 (sv) | 1981-11-21 |
FI72410C (sv) | 1987-05-11 |
DK149674C (da) | 1987-04-13 |
FR2377127B1 (sv) | 1982-04-30 |
BE862760A (fr) | 1978-05-02 |
ZA7810B (en) | 1978-10-25 |
PL203913A1 (pl) | 1978-07-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5471245A (en) | Bulk charged modulated device (BCMD) image sensors with increased dynamic range | |
US4136335A (en) | Semiconductor charge coupled device analog to digital converter | |
SE437438B (sv) | Forfarande for att driva en laddningskopplad halvledaranordning jemte laddningskopplad anordning for genomforandet av forfarandet | |
JPH0258340A (ja) | 電荷結合装置のセル | |
US5892251A (en) | Apparatus for transferring electric charges | |
JP2521153B2 (ja) | 電荷結合装置 | |
JPS6249991B2 (sv) | ||
EP0732702A2 (en) | Charge transfer apparatus and driving method thereof | |
US5612554A (en) | Charge detection device and driver thereof | |
JPS6318344B2 (sv) | ||
JP2870046B2 (ja) | 電荷結合素子 | |
JPS60206382A (ja) | アナログ・アキユムレータ | |
EP0112088B1 (en) | Method for using a charge coupled device as a peak detector | |
US5146480A (en) | Sampling an analog signal voltage using fill and spill input in charge transfer device | |
JP2606225B2 (ja) | 電荷結合素子 | |
JP2000261726A (ja) | 電荷転送装置の駆動方法 | |
EP0406890B1 (en) | Charge transfer device and its driving method | |
US4891826A (en) | Method of operating a charge-coupled device to reduce spillback | |
JP2685689B2 (ja) | 電荷結合素子 | |
KR810001711B1 (ko) | 선형 전하 결합소자의 동작방법 | |
JPS6142874B2 (sv) | ||
JP3342976B2 (ja) | 電荷結合素子と固体撮像装置 | |
JP2965568B2 (ja) | 電荷検出装置 | |
JP2723063B2 (ja) | 電荷転送装置 | |
JPS5815271A (ja) | 電荷結合素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NAL | Patent in force |
Ref document number: 7800104-7 Format of ref document f/p: F |
|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 7800104-7 Format of ref document f/p: F |