RU2792924C2 - Способ защиты кристаллов на основе стекла - Google Patents

Способ защиты кристаллов на основе стекла Download PDF

Info

Publication number
RU2792924C2
RU2792924C2 RU2021116180A RU2021116180A RU2792924C2 RU 2792924 C2 RU2792924 C2 RU 2792924C2 RU 2021116180 A RU2021116180 A RU 2021116180A RU 2021116180 A RU2021116180 A RU 2021116180A RU 2792924 C2 RU2792924 C2 RU 2792924C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
glass
temperature
oxide
layer
crystals
Prior art date
Application number
RU2021116180A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2021116180A (ru
Inventor
Тагир Абдурашидович Исмаилов
Таджидин Экберович Саркаров
Бийке Алиевна Шангереева
Айшат Расуловна Шахмаева
Original Assignee
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Дагестанский государственный технический университет"
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Дагестанский государственный технический университет" filed Critical федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Дагестанский государственный технический университет"
Publication of RU2021116180A publication Critical patent/RU2021116180A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2792924C2 publication Critical patent/RU2792924C2/ru

Links

Abstract

Изобретение относится к технологии изготовления силовых кремниевых транзисторов и интегральных схем, в частности к способам защиты слоем стекла, с целью защиты поверхности кристаллов р-n-переходов от различных внешних воздействий. Сущность способа заключается в том, что на чистую полупроводниковую поверхность кристалла с р-n-переходом наносят слой защитного стекла, состоящий из смеси микропорошков со спиртом, в состав которого входят 55% окиси кремния SiO2; 13% окиси бора В2О3; 5,0 окиси лития Li2O3 и 3% окиси алюминия Al2O3. После термообработки в вакууме при температуре 230±10°С в течение 12±3 минут образуется стеклообразная пленка толщиной 0,9±1 мкм. После чего на поверхности кристаллов наращивается пленка SiO2 разложением этилокремниевой кислоты. Далее производится ее сплавление с нижним слоем стекла при температуре 700°С. Технический результат заключается в достижении стабильности и уменьшении температуры и длительности процесса.

Description

Изобретение относится к технологии изготовления силовых кремниевых транзисторов и интегральных схем (ИС), в частности к способам защиты слоем стекла, с целью защиты поверхности кристаллов р-n- переходов от различных внешних воздействий.
Известны способы защиты, сущность которых состоит в том, что поверхность полупроводниковых приборов р-n- переходов защищают различными способами: окисления (термическое, пиролитическое, химическое и анодное), защиты пленками окислов металлов и др. [1].
Основными недостатками этих способов является нестабильность, высокая температура и длительность процесса.
Целью изобретения является достижение стабильности и уменьшение температуры и длительности процесса.
Поставленная цель достигается использованием пленки стекла, состоящего из смеси микропорошков со спиртом в состав, которого входят 55% окиси кремния -SiO2; 15% окиси бора -B2O3; 5,0 окиси лития -Li2O3 и 3% окиси алюминия -Al2O3.
Сущность способа заключается в том, что на чистую полупроводниковую поверхность кристалла с р-n- переходом наносят слой защитного стекла состоящий из смеси микропорошков со спиртом, в состав которого входят 55% окиси кремния -SiO2; 13% окиси бора -B2O3; 5,0 окиси лития -Li2O3 и 3% окиси алюминия -Al2O3. После термообработки в вакууме при температуре 230±10°С в течение 12±3 минут образуется стеклообразная пленка толщиной 0,9±1 мкм. После чего на поверхности кристаллов наращивается пленка SiO2 разложением этилокремниевой кислоты. Далее производится ее сплавление с нижним слоем стекла при температуре 700°С.
Предлагаемый способ отличается от прототипа тем, что слой стекла, нанесенный на поверхность кристалла, связывает мигрирующие ионы, которое способствует улучшению стабильности приборов и его надежности. Далее этот слой стекла герметизирует активный элемент (р-n- переходов) от внешних воздействий.
Сущность изобретения подтверждается следующими примерами:
ПРИМЕР 1. Процесс проводят с предварительной очисткой поверхности кристаллов. На чистую полупроводниковую поверхность кристалла с р-n- переходом наносят слой защитного стекла, состоящий из смеси микропорошков со спиртом в состав, которого входят 55% окиси кремния -SiO2; 13% окиси бора -B2O3; 5,0 окиси лития -Li2O3 и 3% окиси алюминия -Al2O3. Процесс термообработки в вакууме ведут при температуре 250±10°С, а длительность процесса равно 10±5 минут. Температура сплавления стекла -850°С.
Толщина стеклообразной пленки -1,8±0,2 мкм.
ПРИМЕР 2. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при следующих режимах:
Температура термообработки в вакууме -240±10°С в течение 10±5 минут.
Температура сплавления стекла -750°С.
Толщина слоя стекла -1,3±0,2 мкм.
ПРИМЕР 3. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при следующих режимах:
Температура термообработки в вакууме -230±10°С в течение 12±3 минут.
Температура сплавления стекла -700°С. Толщина слоя стекла -1,0±0,2 мкм.
Таким образом, предлагаемый способ отличается от прототипа тем, что слой стекла, нанесенный на поверхность кристалла, связывает мигрирующие ионы, которое способствует улучшению стабильности приборов и его надежности, а также герметизирует активный элемент (р-n- переходов) от внешних воздействий.
1 п. ф.
ЛИТЕРАТУРА
1. А.И. Курносов. Материалы для полупроводниковых приборов и интегральных схем. - М.: «Высшая школа». 1980. 327 с

Claims (1)

  1. Способ защиты кристаллов на основе стекла, включающий защиту поверхности кристаллов р-n-переходов, отличающийся тем, что на поверхность кристалла наносят слой защитного стекла, состоящий из смеси микропорошков со спиртом, в состав которого входят 55% окиси кремния SiO2; 13% окиси бора B2O3; 5,0 окиси лития Li2O3 и 3% окиси алюминия Al2O3, после термообработки в вакууме при температуре 230±10°С в течение 12±3 минут образуется стеклообразная пленка толщиной 1,0±0,2 мкм, далее производится ее сплавление с нижним слоем стекла при температуре 700°С.
RU2021116180A 2021-06-02 Способ защиты кристаллов на основе стекла RU2792924C2 (ru)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2021116180A RU2021116180A (ru) 2022-12-02
RU2792924C2 true RU2792924C2 (ru) 2023-03-28

Family

ID=

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB994814A (en) * 1961-09-29 1965-06-10 Ibm Protective cover for electrical conductor bodies
RU2036538C1 (ru) * 1990-07-02 1995-05-27 Царева Людмила Георгиевна Способ защиты полупроводниковых приборов перед герметизацией
RU2625248C1 (ru) * 2016-09-28 2017-07-12 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений" Способ изготовления кристаллов микроэлектромеханических систем
CN107393821A (zh) * 2017-07-17 2017-11-24 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种高可靠玻璃钝化微型表贴二极管的制造方法
RU2688863C1 (ru) * 2018-07-11 2019-05-22 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) Способ изготовления полупроводникового прибора

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB994814A (en) * 1961-09-29 1965-06-10 Ibm Protective cover for electrical conductor bodies
RU2036538C1 (ru) * 1990-07-02 1995-05-27 Царева Людмила Георгиевна Способ защиты полупроводниковых приборов перед герметизацией
RU2625248C1 (ru) * 2016-09-28 2017-07-12 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт физических измерений" Способ изготовления кристаллов микроэлектромеханических систем
CN107393821A (zh) * 2017-07-17 2017-11-24 中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂) 一种高可靠玻璃钝化微型表贴二极管的制造方法
RU2688863C1 (ru) * 2018-07-11 2019-05-22 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) Способ изготовления полупроводникового прибора

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101509267B1 (ko) 유리계 기판을 제조하는 방법 및 이를 채용한 장치
ES2210922T3 (es) Composicion y metodo para grabar al acido selectivamente una pelicula de nitruro de silicio.
KR101320416B1 (ko) 식각액 조성물 및 이를 이용한 습식 식각방법
RU95113458A (ru) Монокристаллический кремний на кварце
JPS59119733A (ja) 半導体装置
Doo Silicon nitride, a new diffusion mask
Revesz The defect structure of grown silicon dioxide films
KR20190060668A (ko) 절연막 식각액 조성물 및 이를 이용한 패턴 형성 방법
US20050205126A1 (en) Photovoltaic conversion device, its manufacturing method and solar energy system
RU2792924C2 (ru) Способ защиты кристаллов на основе стекла
JP3170445B2 (ja) 太陽電池素子の形成方法
JPS61285714A (ja) 半導体構造の製造方法
JPS63175431A (ja) ホウケイ酸ガラスを有する半導体装置の製造方法
GB925085A (en) Packaging technique for fabrication of very small semiconductor devices
EP0044048A1 (en) Glass passivated high power semiconductor devices
JPS60170972A (ja) 薄膜半導体装置
GB1237662A (en) Method for manufacturing semiconductor device with passivation film
JPS5831519A (ja) 半導体装置の製造方法
RU2524147C1 (ru) СПОСОБ ЗАЩИТЫ ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛОВ p-n ПЕРЕХОДОВ
RU2011134068A (ru) Способ увеличения поверхностного сопротивления пластины и/или уровня плотности мощности фотоэлектрического элемента
JPH0389519A (ja) 半導体基板の製法
RU2702412C2 (ru) Способ защиты структур на основе алюмосиликатного стекла
RU2021116180A (ru) Способ защиты кристаллов на основе стекла
Kamilov et al. Role of the silicon dioxide in formation of higher manganese silicide films
RU2534563C2 (ru) Способ нанесения стекла