RU2005133864A - Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования - Google Patents
Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования Download PDFInfo
- Publication number
- RU2005133864A RU2005133864A RU2005133864/28A RU2005133864A RU2005133864A RU 2005133864 A RU2005133864 A RU 2005133864A RU 2005133864/28 A RU2005133864/28 A RU 2005133864/28A RU 2005133864 A RU2005133864 A RU 2005133864A RU 2005133864 A RU2005133864 A RU 2005133864A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- substrate
- nanolens
- specified
- sample
- gap
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract 11
- 125000003636 chemical group Chemical group 0.000 claims abstract 9
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims abstract 3
- 150000007523 nucleic acids Chemical group 0.000 claims 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 4
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 claims 4
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 claims 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims 2
- 238000012882 sequential analysis Methods 0.000 claims 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
- G01N21/658—Raman scattering enhancement Raman, e.g. surface plasmons
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/204—Filters in which spectral selection is performed by means of a conductive grid or array, e.g. frequency selective surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
- G01N2021/653—Coherent methods [CARS]
- G01N2021/656—Raman microprobe
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Apparatus Associated With Microorganisms And Enzymes (AREA)
Claims (18)
1. Аппарат для идентификации химических групп в образце, закрепленном на поверхности, включающий субстрат, имеющий зеркальную поверхность, на которой размещается образец, сформированную из плазмонно-резонансного металла, источник светового луча, линзовый узел, имеющий кончик и нанолинзу, состоящую из одной или нескольких плазмонно-резонансных частиц, размещенных на кончике и расположенных на нем таким образом, чтобы создавать, при направлении светового луча через нанолинзу, моды электромагнитного зазора ближней зоны в пространстве между нанолинзой и прилегающим к ней участком детектирования на поверхности субстрата, в зазоре между нанолинзой и субстратом, равном 40 нм или меньше, фокусирующий механизм для перемещения линзового узла по направлению к поверхности субстрата и от нее, при величине зазора менее 40 нм, для создания мод электромагнитного зазора, усиливающих спектральные сигналы комбинационного рассеяния, генерируемые образцом на участке детектирования; детектор для улавливания света, излучаемого или рассеиваемого образцом на участке детектирования, и для преобразования принятого света в спектр комбинационного рассеяния с усилением в зазоре, позволяющий идентифицировать химическую группу на участке детектирования, и механизм линейного перемещения для линейного перемещения линзового узла по отношению к указанному субстрату, для позиционирования линзового узла над разными участками детектирования субстрата.
2. Аппарат по п.1, в котором нанолинза в указанном узле включает по меньшей мере три указанные плазмонно-резонансные частицы, расположенные симметрично вокруг центральной оси, перпендикулярной к плоскости поверхности субстрата, причем каждая частица имеет размер менее 200 нм по наибольшей оси, и расстояние между любой парой частиц существенно меньше длины волны светового луча.
3. Аппарат по п.2, в котором указанные частицы имеют сферическую форму.
4. Аппарат по п.2, в котором указанные частицы имеют эллипсоидальную форму и ориентированы таким образом, чтобы их большие оси пересекались с указанной центральной осью.
5. Аппарат по п.2, в котором указанный источник света создает луч циркулярно поляризованного света, плоскость поляризации которого перпендикулярна к указанной центральной оси.
6. Аппарат по п.1, в котором указанный линзовый узел включает консоль, имеющую кончик на своем незакрепленном конце.
7. Аппарат по п.6, в котором указанный фокусирующий механизм включает пьезоэлектрический привод, функционально связанный с указанной консолью.
8. Аппарат по п.7, в котором указанный фокусирующий механизм осуществляет перемещение указанной нанолинзы на заданное расстояние в интервале от 0,1 до 5 нм от поверхности субстрата.
9. Аппарат по п.1, в котором указанный механизм линейного перемещения включает пьезоэлектронный привод.
10. Аппарат по п.1, предназначенный для использования при секвенировании линейной цепи нуклеиновой кислоты путем анализа химических групп оснований цепи нуклеиновой кислоты, в котором субстрат включает молекулярные якоря для удерживания цепи нуклеиновой кислоты в линейно вытянутом состоянии, а механизм линейного перемещения осуществляет перемещение линзового узла вдоль цепи для проведения последовательного анализа и идентификации каждого основания цепи.
11. Аппарат по п.10, предназначенный для одновременного проведения анализа множества по сути линейных образцов, который включает множество линейно ориентированных консольно-линзовых агрегатов, положение каждого из которых в направлении к поверхности субстрата и от нее может индивидуально контролироваться с помощью соответствующего фокусирующего механизма, связанного с каждым линзовым узлом, и которые перемещаются как одно целое единым механизмом линейного перемещения.
12. Аппарат по п.11, предназначенный для использования при секвенировании множества линейных цепей нуклеиновой кислоты путем проведения анализа химических групп оснований цепи нуклеиновых кислот, в котором субстрат включает молекулярные якоря для удерживания каждой цепи нуклеиновой кислоты в линейно вытянутом состоянии, и механизм линейного перемещения осуществляет перемещение линзового узла вдоль цепей для проведения последовательного анализа и идентификации каждого основания цепей.
13. Способ идентификации химических групп в образце, включающий крепление образца к субстрату, имеющему зеркальную поверхность, на которой размещается образец, сформированную из плазмонно-резонансного металла, направление светового луча на нанолинзу в линзовом узле, имеющем кончик и нанолинзу, расположенную на кончике и состоящую из одной или нескольких плазмонно-резонансных частиц, размещенных на кончике таким образом, чтобы создавать моды электромагнитного зазора в ближней зоне в пространстве между нанолинзой и прилегающим к ней участком детектирования на поверхности субстрата, при величине зазора между нанолинзой и субстратом 30 нм или меньше, перемещение линзового узла по направлению к поверхности субстрата или от нее, при расстоянии между нанолинзой и поверхностью субстрата менее 30 нм, для создания мод электромагнитного зазора, усиливающих спектральные сигналы комбинационного рассеяния, генерируемые образцом на участке детектирования; улавливание света, излучаемого или рассеиваемого образцом на участке детектирования, и преобразование принятого света в спектр комбинационного рассеяния с усилением в зазоре, позволяющий идентифицировать химическую группу на участке детектирования.
14. Способ по п.13, в котором указанное перемещение осуществляется с целью установки указанной нанолинзы с заданной величиной зазора в интервале от 0,1 до 5 нм от поверхности субстрата.
15. Способ по п.13, в котором указанное направление включает направление светового луча на нанолинзу, состоящую из по меньшей мере трех указанных плазмонно-резонансных частиц, расположенных симметрично вокруг центральной оси, перпендикулярной к плоскости поверхности субстрата, причем каждая частица имеет размер менее 200 нм по своей наибольшей оси, и расстояние между любой парой частиц существенно меньше длины волны светового луча.
16. Способ по п.15, в котором указанное направление включает направление на указанную линзу луча циркулярно поляризованного света, плоскость поляризации которого перпендикулярна к указанной центральной оси.
17. Способ по п.15, придназначенный для использования при секвенировании линейной цепи нуклеиновой кислоты, в котором указанное крепление включает растяжение цепи в линейном направлении и фиксацию противоположных концевых участков цепей на указанном субстрате, и который дополнительно включает линейное перемещение линзового узла относительно образца на субстрате для установки нанолинзы в положение, прилегающее к последовательно расположенным химическим группам оснований в цепи.
18. Способ по п.17, предназначенный для использования при секвенировании множества образцов линейных цепей нуклеиновых кислот, в котором указанное крепление включает фиксацию образцов в виде множества параллельных цепей, и указанное линейное перемещение включает линейное перемещение линзового узла относительно образцов на субстрате, для установки нанолинзы в положение, прилегающее к последовательно расположенным химическим группам оснований в каждой из цепей.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US46070203P | 2003-04-04 | 2003-04-04 | |
US60/460,702 | 2003-04-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2005133864A true RU2005133864A (ru) | 2007-05-20 |
RU2334958C2 RU2334958C2 (ru) | 2008-09-27 |
Family
ID=33159798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2005133864/28A RU2334958C2 (ru) | 2003-04-04 | 2004-04-05 | Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1616157B1 (ru) |
JP (2) | JP4727573B2 (ru) |
KR (1) | KR101108022B1 (ru) |
CN (1) | CN100476379C (ru) |
AT (1) | ATE556986T1 (ru) |
AU (2) | AU2004227413B2 (ru) |
CA (1) | CA2521016C (ru) |
HK (1) | HK1085265A1 (ru) |
RU (1) | RU2334958C2 (ru) |
WO (1) | WO2004090505A2 (ru) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7151598B2 (en) | 2003-04-04 | 2006-12-19 | Vladimir Poponin | Method and apparatus for enhanced nano-spectroscopic scanning |
AU2005246415B8 (en) | 2004-05-19 | 2011-09-01 | Vp Holding, Llc | Optical sensor with layered plasmon structure for enhanced detection of chemical groups by SERS |
WO2006089000A2 (en) | 2005-02-15 | 2006-08-24 | The University Of Akron | High contrast tip-enhanced raman spectroscopy |
GB0510362D0 (en) | 2005-05-20 | 2005-06-29 | Univ Greenwich | Device for detecting mycotoxins |
US7233396B1 (en) | 2006-04-17 | 2007-06-19 | Alphasniffer Llc | Polarization based interferometric detector |
JP2008089321A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujifilm Corp | バイオセンサ検出装置 |
GB2455492B (en) * | 2007-10-08 | 2011-11-23 | Univ Greenwich | Apparatus and method for detection and measurement of target compounds such as food toxins |
JP5270280B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2013-08-21 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム |
RU2528243C2 (ru) * | 2009-06-03 | 2014-09-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Антенна терагерцового частотного диапазона |
WO2011008216A1 (en) | 2009-07-17 | 2011-01-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Non-periodic grating reflectors with focusing power and methods for fabricatting the same |
EP2620249B1 (en) * | 2010-09-21 | 2019-12-11 | Technical Institute of Physics and Chemistry of the Chinese Academy of Sciences | Laser micro/nano processing system and method |
JP5870497B2 (ja) * | 2011-03-18 | 2016-03-01 | セイコーエプソン株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
EP2697625A1 (en) * | 2011-04-14 | 2014-02-19 | Boehringer Ingelheim International GmbH | Method of modifying radiation characteristic of an excited emitter |
JP2014013160A (ja) * | 2012-07-04 | 2014-01-23 | Hitachi Ltd | 走査プローブ顕微鏡 |
JP6622723B2 (ja) | 2015-01-30 | 2019-12-18 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 | 多焦点分光計測装置、及び多焦点分光計測装置用光学系 |
US10175295B2 (en) * | 2015-06-25 | 2019-01-08 | Fei Company | Optical nanoprobing of integrated circuits |
US10520443B2 (en) | 2016-01-29 | 2019-12-31 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Focal adjustment for analyte detection package |
CN109273380B (zh) * | 2017-07-17 | 2022-02-15 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 扫描对准装置及其扫描方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5479024A (en) * | 1994-08-11 | 1995-12-26 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for performing near-field optical microscopy |
US6002471A (en) * | 1996-11-04 | 1999-12-14 | California Institute Of Technology | High resolution scanning raman microscope |
US5749024A (en) * | 1997-04-28 | 1998-05-05 | Xerox Corporation | Printing system for automatically delivering transparencies and regular sheets in proper order with different output modules |
US7267948B2 (en) * | 1997-11-26 | 2007-09-11 | Ut-Battelle, Llc | SERS diagnostic platforms, methods and systems microarrays, biosensors and biochips |
JP3439645B2 (ja) * | 1998-02-20 | 2003-08-25 | シャープ株式会社 | フォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ |
US6441359B1 (en) * | 1998-10-20 | 2002-08-27 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Near field optical scanning system employing microfabricated solid immersion lens |
JP2001165852A (ja) * | 1999-12-10 | 2001-06-22 | Japan Science & Technology Corp | Sprセンサーおよびその製造方法 |
JP4327993B2 (ja) * | 2000-05-29 | 2009-09-09 | 日本分光株式会社 | プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 |
JP3520335B2 (ja) * | 2001-01-10 | 2004-04-19 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 近接場光検出方法およびその装置 |
US6850323B2 (en) * | 2001-02-05 | 2005-02-01 | California Institute Of Technology | Locally enhanced raman spectroscopy with an atomic force microscope |
-
2004
- 2004-04-05 CN CNB2004800089448A patent/CN100476379C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-05 AT AT04749786T patent/ATE556986T1/de active
- 2004-04-05 EP EP04749786A patent/EP1616157B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-04-05 RU RU2005133864/28A patent/RU2334958C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2004-04-05 JP JP2006509733A patent/JP4727573B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-05 AU AU2004227413A patent/AU2004227413B2/en not_active Ceased
- 2004-04-05 CA CA2521016A patent/CA2521016C/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-04-05 WO PCT/US2004/010544 patent/WO2004090505A2/en active Application Filing
- 2004-04-05 KR KR1020057018852A patent/KR101108022B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-07-04 HK HK06107527.1A patent/HK1085265A1/xx not_active IP Right Cessation
-
2010
- 2010-07-05 JP JP2010153441A patent/JP2010230687A/ja not_active Withdrawn
- 2010-08-27 AU AU2010214699A patent/AU2010214699A1/en not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2004227413A1 (en) | 2004-10-21 |
JP4727573B2 (ja) | 2011-07-20 |
AU2004227413B2 (en) | 2010-05-27 |
EP1616157A2 (en) | 2006-01-18 |
CA2521016C (en) | 2012-09-18 |
CN100476379C (zh) | 2009-04-08 |
HK1085265A1 (en) | 2006-08-18 |
EP1616157B1 (en) | 2012-05-09 |
WO2004090505A3 (en) | 2005-02-24 |
AU2010214699A1 (en) | 2010-09-16 |
EP1616157A4 (en) | 2011-04-27 |
CA2521016A1 (en) | 2004-10-21 |
KR101108022B1 (ko) | 2012-01-30 |
ATE556986T1 (de) | 2012-05-15 |
CN1768253A (zh) | 2006-05-03 |
JP2010230687A (ja) | 2010-10-14 |
RU2334958C2 (ru) | 2008-09-27 |
KR20060002931A (ko) | 2006-01-09 |
JP2006526779A (ja) | 2006-11-24 |
WO2004090505A2 (en) | 2004-10-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2005133864A (ru) | Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования | |
RU2007116942A (ru) | Способ и устройство для улучшенного наноспектроскопического сканирования | |
JP5243052B2 (ja) | 粒子の特性評価方法及び装置 | |
US20140004559A1 (en) | Systems and methods for individually trapping particles from air and measuring the optical spectra or other properties of individual trapped particles | |
US20130040862A1 (en) | Multi-pillar structure for molecular analysis | |
US20130271759A1 (en) | Apparatus and method for performing spectroscopy | |
US8319963B2 (en) | Compact sensor system | |
JP2004529334A5 (ru) | ||
EP1784631A2 (en) | Sensor alignment apparatus for an analysis system | |
KR101855616B1 (ko) | 광학드라이브를 이용한 현장진단용 나노 라만스펙트럼 분석장치 | |
CN109211847A (zh) | 一种用于单个悬浮颗粒的化学成分分析的装置及方法 | |
US9664621B2 (en) | Polarization selective surface enhanced Raman spectroscopy | |
WO2014191834A2 (en) | Spectometer | |
CN113820301A (zh) | 一种利用拉曼光镊进行微生物种类识别的方法及装置 | |
US20060243897A1 (en) | Composite material lens for optical trapping | |
US10067060B2 (en) | Polarization selective surface enhanced raman spectroscopy | |
US8434159B2 (en) | AFM measuring method and system thereof | |
CN114813706B (zh) | 一种血细胞高光谱光镊捕获能量共振转移分析仪 | |
Junek et al. | Luminescence Decay Measurement via Temporal Speckles |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20140406 |