RU2005133864A - Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования - Google Patents

Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования Download PDF

Info

Publication number
RU2005133864A
RU2005133864A RU2005133864/28A RU2005133864A RU2005133864A RU 2005133864 A RU2005133864 A RU 2005133864A RU 2005133864/28 A RU2005133864/28 A RU 2005133864/28A RU 2005133864 A RU2005133864 A RU 2005133864A RU 2005133864 A RU2005133864 A RU 2005133864A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
substrate
nanolens
specified
sample
gap
Prior art date
Application number
RU2005133864/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2334958C2 (ru
Inventor
Владимир ПОПОНИН (US)
Владимир ПОПОНИН
Original Assignee
Интернэшнл Фронтьер Сайенс Организейшн (Us)
Интернэшнл Фронтьер Сайенс Организейшн
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Интернэшнл Фронтьер Сайенс Организейшн (Us), Интернэшнл Фронтьер Сайенс Организейшн filed Critical Интернэшнл Фронтьер Сайенс Организейшн (Us)
Publication of RU2005133864A publication Critical patent/RU2005133864A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2334958C2 publication Critical patent/RU2334958C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/44Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering
    • G01N21/658Raman scattering enhancement Raman, e.g. surface plasmons
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/204Filters in which spectral selection is performed by means of a conductive grid or array, e.g. frequency selective surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y15/00Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering
    • G01N2021/653Coherent methods [CARS]
    • G01N2021/656Raman microprobe

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Apparatus Associated With Microorganisms And Enzymes (AREA)

Claims (18)

1. Аппарат для идентификации химических групп в образце, закрепленном на поверхности, включающий субстрат, имеющий зеркальную поверхность, на которой размещается образец, сформированную из плазмонно-резонансного металла, источник светового луча, линзовый узел, имеющий кончик и нанолинзу, состоящую из одной или нескольких плазмонно-резонансных частиц, размещенных на кончике и расположенных на нем таким образом, чтобы создавать, при направлении светового луча через нанолинзу, моды электромагнитного зазора ближней зоны в пространстве между нанолинзой и прилегающим к ней участком детектирования на поверхности субстрата, в зазоре между нанолинзой и субстратом, равном 40 нм или меньше, фокусирующий механизм для перемещения линзового узла по направлению к поверхности субстрата и от нее, при величине зазора менее 40 нм, для создания мод электромагнитного зазора, усиливающих спектральные сигналы комбинационного рассеяния, генерируемые образцом на участке детектирования; детектор для улавливания света, излучаемого или рассеиваемого образцом на участке детектирования, и для преобразования принятого света в спектр комбинационного рассеяния с усилением в зазоре, позволяющий идентифицировать химическую группу на участке детектирования, и механизм линейного перемещения для линейного перемещения линзового узла по отношению к указанному субстрату, для позиционирования линзового узла над разными участками детектирования субстрата.
2. Аппарат по п.1, в котором нанолинза в указанном узле включает по меньшей мере три указанные плазмонно-резонансные частицы, расположенные симметрично вокруг центральной оси, перпендикулярной к плоскости поверхности субстрата, причем каждая частица имеет размер менее 200 нм по наибольшей оси, и расстояние между любой парой частиц существенно меньше длины волны светового луча.
3. Аппарат по п.2, в котором указанные частицы имеют сферическую форму.
4. Аппарат по п.2, в котором указанные частицы имеют эллипсоидальную форму и ориентированы таким образом, чтобы их большие оси пересекались с указанной центральной осью.
5. Аппарат по п.2, в котором указанный источник света создает луч циркулярно поляризованного света, плоскость поляризации которого перпендикулярна к указанной центральной оси.
6. Аппарат по п.1, в котором указанный линзовый узел включает консоль, имеющую кончик на своем незакрепленном конце.
7. Аппарат по п.6, в котором указанный фокусирующий механизм включает пьезоэлектрический привод, функционально связанный с указанной консолью.
8. Аппарат по п.7, в котором указанный фокусирующий механизм осуществляет перемещение указанной нанолинзы на заданное расстояние в интервале от 0,1 до 5 нм от поверхности субстрата.
9. Аппарат по п.1, в котором указанный механизм линейного перемещения включает пьезоэлектронный привод.
10. Аппарат по п.1, предназначенный для использования при секвенировании линейной цепи нуклеиновой кислоты путем анализа химических групп оснований цепи нуклеиновой кислоты, в котором субстрат включает молекулярные якоря для удерживания цепи нуклеиновой кислоты в линейно вытянутом состоянии, а механизм линейного перемещения осуществляет перемещение линзового узла вдоль цепи для проведения последовательного анализа и идентификации каждого основания цепи.
11. Аппарат по п.10, предназначенный для одновременного проведения анализа множества по сути линейных образцов, который включает множество линейно ориентированных консольно-линзовых агрегатов, положение каждого из которых в направлении к поверхности субстрата и от нее может индивидуально контролироваться с помощью соответствующего фокусирующего механизма, связанного с каждым линзовым узлом, и которые перемещаются как одно целое единым механизмом линейного перемещения.
12. Аппарат по п.11, предназначенный для использования при секвенировании множества линейных цепей нуклеиновой кислоты путем проведения анализа химических групп оснований цепи нуклеиновых кислот, в котором субстрат включает молекулярные якоря для удерживания каждой цепи нуклеиновой кислоты в линейно вытянутом состоянии, и механизм линейного перемещения осуществляет перемещение линзового узла вдоль цепей для проведения последовательного анализа и идентификации каждого основания цепей.
13. Способ идентификации химических групп в образце, включающий крепление образца к субстрату, имеющему зеркальную поверхность, на которой размещается образец, сформированную из плазмонно-резонансного металла, направление светового луча на нанолинзу в линзовом узле, имеющем кончик и нанолинзу, расположенную на кончике и состоящую из одной или нескольких плазмонно-резонансных частиц, размещенных на кончике таким образом, чтобы создавать моды электромагнитного зазора в ближней зоне в пространстве между нанолинзой и прилегающим к ней участком детектирования на поверхности субстрата, при величине зазора между нанолинзой и субстратом 30 нм или меньше, перемещение линзового узла по направлению к поверхности субстрата или от нее, при расстоянии между нанолинзой и поверхностью субстрата менее 30 нм, для создания мод электромагнитного зазора, усиливающих спектральные сигналы комбинационного рассеяния, генерируемые образцом на участке детектирования; улавливание света, излучаемого или рассеиваемого образцом на участке детектирования, и преобразование принятого света в спектр комбинационного рассеяния с усилением в зазоре, позволяющий идентифицировать химическую группу на участке детектирования.
14. Способ по п.13, в котором указанное перемещение осуществляется с целью установки указанной нанолинзы с заданной величиной зазора в интервале от 0,1 до 5 нм от поверхности субстрата.
15. Способ по п.13, в котором указанное направление включает направление светового луча на нанолинзу, состоящую из по меньшей мере трех указанных плазмонно-резонансных частиц, расположенных симметрично вокруг центральной оси, перпендикулярной к плоскости поверхности субстрата, причем каждая частица имеет размер менее 200 нм по своей наибольшей оси, и расстояние между любой парой частиц существенно меньше длины волны светового луча.
16. Способ по п.15, в котором указанное направление включает направление на указанную линзу луча циркулярно поляризованного света, плоскость поляризации которого перпендикулярна к указанной центральной оси.
17. Способ по п.15, придназначенный для использования при секвенировании линейной цепи нуклеиновой кислоты, в котором указанное крепление включает растяжение цепи в линейном направлении и фиксацию противоположных концевых участков цепей на указанном субстрате, и который дополнительно включает линейное перемещение линзового узла относительно образца на субстрате для установки нанолинзы в положение, прилегающее к последовательно расположенным химическим группам оснований в цепи.
18. Способ по п.17, предназначенный для использования при секвенировании множества образцов линейных цепей нуклеиновых кислот, в котором указанное крепление включает фиксацию образцов в виде множества параллельных цепей, и указанное линейное перемещение включает линейное перемещение линзового узла относительно образцов на субстрате, для установки нанолинзы в положение, прилегающее к последовательно расположенным химическим группам оснований в каждой из цепей.
RU2005133864/28A 2003-04-04 2004-04-05 Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования RU2334958C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US46070203P 2003-04-04 2003-04-04
US60/460,702 2003-04-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2005133864A true RU2005133864A (ru) 2007-05-20
RU2334958C2 RU2334958C2 (ru) 2008-09-27

Family

ID=33159798

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005133864/28A RU2334958C2 (ru) 2003-04-04 2004-04-05 Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования

Country Status (10)

Country Link
EP (1) EP1616157B1 (ru)
JP (2) JP4727573B2 (ru)
KR (1) KR101108022B1 (ru)
CN (1) CN100476379C (ru)
AT (1) ATE556986T1 (ru)
AU (2) AU2004227413B2 (ru)
CA (1) CA2521016C (ru)
HK (1) HK1085265A1 (ru)
RU (1) RU2334958C2 (ru)
WO (1) WO2004090505A2 (ru)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7151598B2 (en) 2003-04-04 2006-12-19 Vladimir Poponin Method and apparatus for enhanced nano-spectroscopic scanning
AU2005246415B8 (en) 2004-05-19 2011-09-01 Vp Holding, Llc Optical sensor with layered plasmon structure for enhanced detection of chemical groups by SERS
WO2006089000A2 (en) 2005-02-15 2006-08-24 The University Of Akron High contrast tip-enhanced raman spectroscopy
GB0510362D0 (en) 2005-05-20 2005-06-29 Univ Greenwich Device for detecting mycotoxins
US7233396B1 (en) 2006-04-17 2007-06-19 Alphasniffer Llc Polarization based interferometric detector
JP2008089321A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Fujifilm Corp バイオセンサ検出装置
GB2455492B (en) * 2007-10-08 2011-11-23 Univ Greenwich Apparatus and method for detection and measurement of target compounds such as food toxins
JP5270280B2 (ja) * 2008-09-19 2013-08-21 独立行政法人科学技術振興機構 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム
RU2528243C2 (ru) * 2009-06-03 2014-09-10 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Антенна терагерцового частотного диапазона
WO2011008216A1 (en) 2009-07-17 2011-01-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Non-periodic grating reflectors with focusing power and methods for fabricatting the same
EP2620249B1 (en) * 2010-09-21 2019-12-11 Technical Institute of Physics and Chemistry of the Chinese Academy of Sciences Laser micro/nano processing system and method
JP5870497B2 (ja) * 2011-03-18 2016-03-01 セイコーエプソン株式会社 測定装置及び測定方法
EP2697625A1 (en) * 2011-04-14 2014-02-19 Boehringer Ingelheim International GmbH Method of modifying radiation characteristic of an excited emitter
JP2014013160A (ja) * 2012-07-04 2014-01-23 Hitachi Ltd 走査プローブ顕微鏡
JP6622723B2 (ja) 2015-01-30 2019-12-18 国立研究開発法人科学技術振興機構 多焦点分光計測装置、及び多焦点分光計測装置用光学系
US10175295B2 (en) * 2015-06-25 2019-01-08 Fei Company Optical nanoprobing of integrated circuits
US10520443B2 (en) 2016-01-29 2019-12-31 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Focal adjustment for analyte detection package
CN109273380B (zh) * 2017-07-17 2022-02-15 上海微电子装备(集团)股份有限公司 扫描对准装置及其扫描方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5479024A (en) * 1994-08-11 1995-12-26 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for performing near-field optical microscopy
US6002471A (en) * 1996-11-04 1999-12-14 California Institute Of Technology High resolution scanning raman microscope
US5749024A (en) * 1997-04-28 1998-05-05 Xerox Corporation Printing system for automatically delivering transparencies and regular sheets in proper order with different output modules
US7267948B2 (en) * 1997-11-26 2007-09-11 Ut-Battelle, Llc SERS diagnostic platforms, methods and systems microarrays, biosensors and biochips
JP3439645B2 (ja) * 1998-02-20 2003-08-25 シャープ株式会社 フォトン走査トンネル顕微鏡用ピックアップ
US6441359B1 (en) * 1998-10-20 2002-08-27 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Near field optical scanning system employing microfabricated solid immersion lens
JP2001165852A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Japan Science & Technology Corp Sprセンサーおよびその製造方法
JP4327993B2 (ja) * 2000-05-29 2009-09-09 日本分光株式会社 プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡
JP3520335B2 (ja) * 2001-01-10 2004-04-19 独立行政法人産業技術総合研究所 近接場光検出方法およびその装置
US6850323B2 (en) * 2001-02-05 2005-02-01 California Institute Of Technology Locally enhanced raman spectroscopy with an atomic force microscope

Also Published As

Publication number Publication date
AU2004227413A1 (en) 2004-10-21
JP4727573B2 (ja) 2011-07-20
AU2004227413B2 (en) 2010-05-27
EP1616157A2 (en) 2006-01-18
CA2521016C (en) 2012-09-18
CN100476379C (zh) 2009-04-08
HK1085265A1 (en) 2006-08-18
EP1616157B1 (en) 2012-05-09
WO2004090505A3 (en) 2005-02-24
AU2010214699A1 (en) 2010-09-16
EP1616157A4 (en) 2011-04-27
CA2521016A1 (en) 2004-10-21
KR101108022B1 (ko) 2012-01-30
ATE556986T1 (de) 2012-05-15
CN1768253A (zh) 2006-05-03
JP2010230687A (ja) 2010-10-14
RU2334958C2 (ru) 2008-09-27
KR20060002931A (ko) 2006-01-09
JP2006526779A (ja) 2006-11-24
WO2004090505A2 (en) 2004-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2005133864A (ru) Устройство и способ для улучшенного наноспектроскопического сканирования
RU2007116942A (ru) Способ и устройство для улучшенного наноспектроскопического сканирования
JP5243052B2 (ja) 粒子の特性評価方法及び装置
US20140004559A1 (en) Systems and methods for individually trapping particles from air and measuring the optical spectra or other properties of individual trapped particles
US20130040862A1 (en) Multi-pillar structure for molecular analysis
US20130271759A1 (en) Apparatus and method for performing spectroscopy
US8319963B2 (en) Compact sensor system
JP2004529334A5 (ru)
EP1784631A2 (en) Sensor alignment apparatus for an analysis system
KR101855616B1 (ko) 광학드라이브를 이용한 현장진단용 나노 라만스펙트럼 분석장치
CN109211847A (zh) 一种用于单个悬浮颗粒的化学成分分析的装置及方法
US9664621B2 (en) Polarization selective surface enhanced Raman spectroscopy
WO2014191834A2 (en) Spectometer
CN113820301A (zh) 一种利用拉曼光镊进行微生物种类识别的方法及装置
US20060243897A1 (en) Composite material lens for optical trapping
US10067060B2 (en) Polarization selective surface enhanced raman spectroscopy
US8434159B2 (en) AFM measuring method and system thereof
CN114813706B (zh) 一种血细胞高光谱光镊捕获能量共振转移分析仪
Junek et al. Luminescence Decay Measurement via Temporal Speckles

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20140406