JP2010230687A - 増強ナノ分光学的走査のための方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】この装置(35)は、サンプル(82)が支持されているプラズモン共鳴表面を有する基板(80)、光ビーム源、ならびにチップ領域およびナノレンズ(62)を有するレンズアセンブリを有し、このナノレンズ(62)は、そのチップ領域上の1つ以上のプラズモン共鳴粒子(PRP)からなる。このPRPは、ナノレンズ(62)と基板(80)との間のギャップが30nm以下の場合に、ナノレンズ(62)と基板表面(80)上の直面する検出領域との間の空間に近距離場電磁ギャップモードを生ずるように配置される。この装置における焦点合わせ機構が作動し、30nm未満のギャップで基板表面(80)に向けておよび離してレンズアセンブリを動かし、検出領域におけるサンプル(82)により生じたラマン分光学シグナルを高める電磁ギャップモードを生じる。
【選択図】図1
Description
本発明は、ナノ分光学的走査の分野に関し、特に、基板上に担持された単一分子構造または単一化学基構造の分光学的同定が可能な方法および装置に関する。
以下の参考文献は、本発明の背景の一部として、および/または本発明の特定の局面に適用され得る方法論を提供するものとして記載される。これらの参考文献は、本明細書中で参考として援用される。
種々の手段および方法が、表面特徴および表面構造をマイクロスケールレベルおよびさらにナノスケールレベルで調べるために存在する。走査原子分子間力顕微鏡(AFM)は、片持ち梁の自由端に保有された検出器チップを、マッピングされている材料の表面上またはその表面にわたって動かすことにより、表面トポグラフィーをマイクロスケールレベルでマッピングすることが可能である。この型の顕微鏡は、上記表面との直接的な物理的接触により作動し得るか、またはチップが上記表面から選択距離である場合、トンネルモードで、トンネル電流の検出により作動し得る。この型のデバイスは、表面位相をマッピングすることについて(例えば、集積回路チップの不完全性を検出することについて)非常に有用であると証明されたが、特定の化学化合物または化学基を検出するようには設計されていないか、または作動され得ない。この概念は、平行高速AFM(例えば、Minne,1998;1999)へと広がっている。
本発明は、例えば、以下を提供する。
(項目1)
表面に付着されたサンプル中の化学基の同一性を調べるための装置であって、該装置は、以下:
該サンプルが支持されている鏡表面を有する基板であって、そして該鏡表面は、プラズモン共鳴金属から形成されている、基板、
光ビーム源、
チップ領域およびナノレンズを有するレンズアセンブリであって、該ナノレンズは、該チップ領域上に配置された1つ以上のプラズモン共鳴粒子から構成され、そして該プラズモン共鳴粒子は、光ビームがナノレンズを通って方向付けられる場合、該ナノレンズと該基板表面上の直面する検出領域との間の空間中の、40nm以下である、該ナノレンズと基板との間のギャップに近距離場電磁ギャップモードを生じるように該チップ領域上に配置される、レンズアセンブリ、
40nm未満のギャップで、該基板表面に向けてかつ該基板表面から離して該レンズアセンブリを動かすための焦点合わせ機構であって、該検出領域における該サンプルにより生じたラマン分光シグナルを増強する電磁ギャップモードを生じる、焦点合わせ機構;
該検出領域における該サンプルから放出または散乱された光を受け取るための、かつ受け取った光をギャップモード増強ラマンスペクトルに変換するための検出器であって、これによって、該検出領域における該サンプルの化学基が同定され得る、検出器、ならびに
該基板に対してレンズアセンブリを移動させるための移動機構であって、該レンズアセンブリを該基板の異なる検出領域上に位置させる、移動機構、
を備える、装置。
(項目2)
項目1に記載の装置であって、ここで前記アセンブリ中の前記ナノレンズは、前記基板表面の平面に対して垂直である中心軸について対称に配置された少なくとも前記3つのプラズモン共鳴粒子を備え、各粒子は、その最も大きい寸法が200nm未満であり、そして任意の対の粒子間の距離は、実質的に光ビームの波長未満である、装置。
(項目3)
前記粒子が、球状である、項目2に記載の装置。
(項目4)
前記粒子が、楕円体であり、そしてこれらの主軸が前記中心軸を交差する方向に置かれるように配置されている、項目2に記載の装置。
(項目5)
前記光源が、偏光面が前記中心軸に対して垂直である円偏光のビームを生じる、項目2に記載の装置。
(項目6)
前記レンズアセンブリが、その自由端にチップ領域を有する片持ち梁を備える、項目1に記載の装置。
(項目7)
前記焦点合わせ機構が、前記ビームに作動的に結合された圧電ドライバーを備える、項目6に記載の装置。
(項目8)
前記焦点合わせ機構が、前記ナノレンズを前記基板表面より0.1nmと5nmとの間の選択された距離に持っていくように作動的である、項目7に記載の装置。
(項目9)
前記移動機構が、圧電ドライブを備える、項目1に記載の装置。
(項目10)
核酸鎖の化学基塩基を調べることにより、該核酸の線状鎖を配列決定することに使用するための、項目1に記載の装置であって、該鎖の各塩基を連続して調査および同定するために、前記基板が、該核酸鎖を伸長した線状状態に保持するための分子アンカーを備え、そして前記移動機構が、前記レンズアセンブリを該鎖の長さに沿って動かすように作動可能である、装置。
(項目11)
複数の実質的に線状のサンプルを同時に調べるための項目10に記載の装置であって、該装置は、複数の線状に整列されたカンチレバーレンズアセンブリを備え、前記基板表面に向かいかつ前記基板表面から離れる該カンチレバーレンズアセンブリの位置の各々は、各レンズアセンブリに関連する対応する焦点合わせ機構により個々に制御され得、そして各カンチレバーレンズアセンブリは、単一の移動機構により一体として移動される、装置。
(項目12)
核酸鎖の化学基の塩基を調べることにより、該核酸の複数の線状鎖の配列決定することに使用するための、項目11に記載の装置であって、該鎖の各塩基を連続して調査および同定するために、前記基板は、該核酸鎖の各々を伸長した線状状態に保持するための分子アンカーを備え、そして前記移動機構が、該鎖の長さに沿ってレンズアセンブリを動かすように作動可能である、装置。
(項目13)
サンプル中の化学基の同一性を調べるための方法であって、該方法は、以下:
該サンプルを、該サンプルが支持される鏡表面を有する基板に付着させる工程であって、該基板が、プラズモン共鳴金属から形成されている、工程、
光ビームを、チップ領域およびナノレンズを有するレンズアセンブリ中の該ナノレンズに方向付ける工程であって、該ナノレンズは、該チップ領域上に配置され、そして該チップ領域上に配置された1つ以上のプラズモン共鳴粒子から構成され、該ナノレンズと基板との間のギャップが30nm以下である場合、近距離場電磁ギャップモードを該ナノレンズと該基板表面上の直面する検出領域との間の空間に生じる、工程、
該ナノレンズと基板表面との間の30nm未満の開きで、該レンズアセンブリを該基板表面に向けるかまたは該基板表面から離して動かす工程であって、該検出領域における該サンプルにより生じたラマン分光シグナルを増強する電磁ギャップモードを生じる、工程;
該検出領域の該サンプルから放出または散乱される光を受け取る工程、ならびに
該受け取った光をギャップモード増強ラマンスペクトルに変換する工程であって、これにより、該検出領域における該サンプルの化学基が同定され得る、工程、
を包含する、方法。
(項目14)
項目13に記載の方法であって、前記動かす工程が、前記ナノレンズを前記基板表面より0.1nmと5nmとの間の選択されたギャップ距離に持っていくように実施される、方法。
(項目15)
項目13に記載の方法であって、前記方向付ける工程が、前記光ビームを、前記基板表面の平面に対して垂直である中心軸について対称に配置された少なくとも前記3つのプラズモン共鳴粒子から構成されるナノレンズに方向付ける工程を包含し、各粒子は、その最も大きな寸法が200nm未満であり、そして任意の対の粒子間の距離が、実質的に光ビームの波長より短い、方法。
(項目16)
項目15に記載の方法であって、前記方向付ける工程が、前記レンズに、その偏光面が前記中心軸に対して垂直である円偏光のビームを方向付ける工程を包含する、方法。
(項目17)
核酸の線状鎖を配列決定することに使用するための項目15に記載の方法であって、前記付着させる工程が、該鎖を線状に伸長させる工程、および該鎖の反対の端部を前記基板に固定する工程を包含し、そして該方法がさらに、前記基板上の前記サンプルに対して前記レンズアセンブリを移動し、該ナノレンズを該鎖中の連続的な化学基の塩基に隣接して位置させる工程を包含する、方法。
(項目18)
核酸サンプルの複数の線状鎖を配列決定することに使用するための項目17に記載の方法であって、前記付着させる工程が、該サンプルを複数の平行鎖で固定する工程を包含し、そして前記移動させる工程が、前記基板上の前記サンプルに対して前記レンズアセンブリを移動し、該ナノレンズを該鎖の各々中の連続的な化学基の塩基に隣接して位置させる工程を包含する、方法。
(I.定義)
他で特に示されない限り、以下の用語は、以下の意味を有する。
図1は、表面に付着されたサンプル中の化学基の同一性を調べるための装置(一般的に35で示される)を示す。走査台90、およびこの台上に保有された複数の伸長したDNA鎖(例えば、チップ表面に固定され、かつ互いに平行に配置された鎖82)を有するDNAチップ80が、この図に示される。伸長ポリマー鎖(例えばDNA鎖)をチップ表面上に固定するための方法は、以下に記載される。この実施形態における重要な特徴に従って、上記チップの表面(この上にサンプルが支持される)は、プラズモン共鳴金属(例えば、銀、金、またはアルミニウム)の鏡コーティングを有する。
この節には、サンプル基板の滑らかな金属表面の近くに位置され、レンズが光ビーム(例えば、コヒーレント光ビームおよび/または円偏光ビーム)で照射される場合に局在化ギャップモードを生じるように設計された特定のナノレンズ構造を記載する。これらのモードは、鏡基板表面のナノレンズの間の空間に位置されする分子の、ナノメートル未満の分解を達成するための高空間分解で、そして単一の低分子(例えば、DNA鎖の個々の塩基)のスペクトル特性の検出を可能にするシグナル増幅での、直接的な光学読み取りのために使用され得る。
装置中の基板または支持体は、表面の近くで電磁場を増強するように設計され、そしてプラズモン共鳴材料(例えば、銀、金、またはアルミニウム)の薄膜でコーティングされる。膜の厚さは、好ましくは、25〜200nmの間(例えば、50nm)である。適切な基板(例えば、ガラス基板)は、公知の方法(例えば、真空蒸着またはrfスパッタリング技術)により金属膜でコーティングされ得る。例示的な基板コーティングおよびこの基板コーティングの製造方法は、「光化学センサーおよび製造方法」についての米国特許第5,611,988号に開示される。この特許は、本明細書中で参考として援用され、この中のV.Matyushinの参考文献もまた、本明細書中で参考として援用される。
上で示されたように、本発明の装置および方法の重要な用途は、核酸サンプル(例えば、染色体または全ゲノムDNA)の配列決定においてである。この節には、この特定の用途を参照して上記装置の操作および本発明の方法を記載し、これと同じ操作および方法は、任意のサンプル中の化学基の試験に適用されることが理解される。
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