RU2001120908A - Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием - Google Patents

Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием

Info

Publication number
RU2001120908A
RU2001120908A RU2001120908/04A RU2001120908A RU2001120908A RU 2001120908 A RU2001120908 A RU 2001120908A RU 2001120908/04 A RU2001120908/04 A RU 2001120908/04A RU 2001120908 A RU2001120908 A RU 2001120908A RU 2001120908 A RU2001120908 A RU 2001120908A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
film
substituted
carried out
stage
heating
Prior art date
Application number
RU2001120908/04A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2218365C2 (ru
Inventor
Игорь Ефимович Кардаш
Андрей Владимирович Пебалк
Карен Андраникович Маилян
Сергей Николаевич Чвалун
Такахаси Акио
Сатсу Юичи
Накай Харуказу
Original Assignee
Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова"
Хитачи, Лтд.
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова", Хитачи, Лтд. filed Critical Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова"
Priority to RU2001120908/04A priority Critical patent/RU2218365C2/ru
Priority claimed from RU2001120908/04A external-priority patent/RU2218365C2/ru
Priority to JP2003517137A priority patent/JPWO2003011952A1/ja
Priority to US10/484,840 priority patent/US6946405B2/en
Priority to PCT/JP2002/007389 priority patent/WO2003011952A1/ja
Publication of RU2001120908A publication Critical patent/RU2001120908A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2218365C2 publication Critical patent/RU2218365C2/ru

Links

Claims (17)

1. Пленка из полипараксилилена или его замещенных, имеющая пористую структуру, полученную в результате осуществления следующих стадий: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С; с) полимеризации продукта пиролиза; и д) последующей термообработки.
2. Пленка из полипараксилилена или его замещенных по п.1, отличающаяся тем, что пленка имеет внутри пористую структуру с содержанием пор в количестве 10 - 50 об.%.
3. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных имеющей пористую структуру, включающий стадии: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных от 30 до 160°С; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С; с) полимеризации полученного продукта пиролиза от -40 до +25°С, и д) термообработки продукта полученного полимеризацией.
4. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных имеющей пористую структуру, включающий стадии: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных от 30 до 160°С; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С при скорости потока циклического димера параксилилена или его замещенных из зоны сублимации в зону пиролиза до 0,009 г/мин; с) полимеризации полученного продукта пиролиза от - 40 до +25°С, и д) термообработки продукта полученного полимеризацией.
5. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.3, отличающийся тем, что каждая из стадий сублимации, пиролиза и полимеризации осуществляется при пониженном давлении 0,001 - 0,1 мм рт.ст.
6. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.3, отличающийся тем, что стадию термической обработки осуществляют ступенчато, чередуя подъем температуры и выдержку нагревания при постоянной температуре, и конечный нагрев осуществляют в интервале от 390 до 410°С.
7. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.3, отличающийся тем, что стадию ступенчатой термической обработки осуществляют при пониженном давлении 0,001 - 0,1 мм рт.ст. или в инертной атмосфере.
8. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по пп.3-7, отличающийся тем, что стадию термической обработки осуществляют при таких условиях, что на первой стадии, нагрев осуществляют со скоростью не более 4°С/мин до 170-220°С, на второй стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 170 - 220°С не менее 35 мин; на третей стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 350-390°С; на четвертой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 350 - 390°С не менее 70 мин; на пятой стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 390-410°С; и на шестой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 390 - 410°С не менее 70 мин.
9. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.8, отличающийся тем, что стадию термической обработки осуществляют при таких условиях, что на первой стадии, нагрев осуществляют со скоростью не более 4°С/мин до 190-210°С; на второй стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 190 - 210°С не менее 35 мин; на третей стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 370-380°С; на четвертой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 370 - 380°С не менее 70 мин; на пятой стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 390-410°С; и на шестой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 390 - 410°С не менее 70 мин.
10. Пленка из полипараксилилена или его замещенных, имеющая пористую структуру, полученная осуществлением следующих стадий: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных от 30 до 160°С; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С при скорости потока циклического димера параксилилена или его замещенных из зоны сублимации в зону пиролиза до 0,009 г/мин; с) конденсации полученного продукта пиролиза на подложку с одновременной полимеризацией в образующемся слое от -40 до +25°С; и д) температурной обработки продукта полученного полимеризацией, причем продукт полимеризации извлекают из камеры полимеризации после завершения стадии полимеризации и затем подвергают термообработке.
11. Полупроводниковый прибор, включающий: изолирующую пленку; тонкую пленку разводки сформированную на изолирующей пленке; и полупроводниковый элемент, причем тонкая пленка разводки электрически связана с полупроводниковым элементом, в котором изолирующая пленка является пленкой из полипараксилилена или его замещенных имеющей пористую структуру образующуюся в результате осуществления стадий: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С; и с) конденсации продукта полученного пиролизом на подложке с его одновременной полимеризацией в образующемся слое, и последующей стадии термообработки.
12. Полупроводниковый прибор по п.11, отличающийся тем, что полипараксилиленовая пленка, представляющая изолирующую пленку, является пленкой из фторированного полипараксилилена полученного сублимацией циклофана содержащего атомы фтора, с последующим пиролизом полученного сублимата от более 800 до 950°С, и конденсацией полученного продукта пиролиза на подложке с одновременной полимеризацией в образующемся слое, и последующей стадии термообработки.
13. Полупроводниковый прибор по пп.11 и 12, отличающийся тем, что стадию термической обработки изолирующей пленки осуществляют ступенчато, с чередованием подъема температуры и выдержкой нагревания при постоянной температуре, и конечный нагрев осуществляют при 390 - 410°С.
14. Полупроводниковый прибор по пп.11-13, отличающийся тем, что изолирующая пленка является пленкой полученной способом по пп.3 и 4.
15. Полупроводниковый прибор, включающий изолирующую пленку, тонкую пленку разводки, сформированную на изолирующей пленке, и полупроводниковый элемент, причем тонкая пленка разводки электрически связана с полупроводниковым элементом, в котором изолирующая пленка является пленкой из полипараксилилена или его замещенных, имеющей пористую структуру полученную способом по п.3.
16. Полупроводниковый прибор по п.15, отличающийся тем, что изолирующая пленка имеет внутри пленки пористую структуру с содержанием пор в количестве 25 - 50 об.%.
17. Полупроводниковый прибор в виде подложки с многослойной разводкой, включающей основной изолирующий материал, подложки разводки, причем каждая включает проводящую цепь сформированную на ней, и изолирующие слои, причем подложки разводки располагаются одна над другой с изолирующими слоями, каждый из которых располагается между ними, и по крайней мере одна подложка разводки располагается на главной поверхности основного изолирующего материала, причем по крайней мере или изолирующий основной материал или изолирующие слои являются пленкой из полипараксилилена или его замещенных имеющие пористую структуру внутри изолирующего слоя, полученной способом по п.3 или 4.
RU2001120908/04A 2001-07-27 2001-07-27 Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием RU2218365C2 (ru)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2001120908/04A RU2218365C2 (ru) 2001-07-27 2001-07-27 Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием
JP2003517137A JPWO2003011952A1 (ja) 2001-07-27 2002-07-22 ポリパラキシリレンフィルム、その製造方法及び半導体装置
US10/484,840 US6946405B2 (en) 2001-07-27 2002-07-22 Polyparaxylylene film, production method therefor and semiconductor device
PCT/JP2002/007389 WO2003011952A1 (fr) 2001-07-27 2002-07-22 Film de polyparaxylene, son procede de production et dispositif semi-conducteur

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2001120908/04A RU2218365C2 (ru) 2001-07-27 2001-07-27 Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2001120908A true RU2001120908A (ru) 2003-08-10
RU2218365C2 RU2218365C2 (ru) 2003-12-10

Family

ID=20252105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2001120908/04A RU2218365C2 (ru) 2001-07-27 2001-07-27 Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6946405B2 (ru)
JP (1) JPWO2003011952A1 (ru)
RU (1) RU2218365C2 (ru)
WO (1) WO2003011952A1 (ru)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2317313C2 (ru) * 2004-10-28 2008-02-20 Самсунг Электроникс Ко., Лтд Способ получения жидкокристаллической полимерной пленки
US7603293B2 (en) * 2005-06-24 2009-10-13 Innova Electronics Corporation Method of providing diagnostic information in connection with the sale of pre-owned vehicles
US20070148390A1 (en) * 2005-12-27 2007-06-28 Specialty Coating Systems, Inc. Fluorinated coatings
US20100255376A1 (en) 2009-03-19 2010-10-07 Carbon Micro Battery Corporation Gas phase deposition of battery separators
KR101125567B1 (ko) * 2009-12-24 2012-03-22 삼성모바일디스플레이주식회사 고분자 기판 및 그 제조 방법과 상기 고분자 기판을 포함하는 표시 장치 및 그 제조 방법
TWI607032B (zh) 2017-01-18 2017-12-01 美樺興業股份有限公司 聚對二甲苯的三維多孔性結構
JP6383036B1 (ja) * 2017-03-16 2018-08-29 株式会社Subaru 車両の制御装置
JP6953999B2 (ja) * 2017-10-26 2021-10-27 東京エレクトロン株式会社 半導体装置の製造方法及び基板処理装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3753773A (en) * 1972-04-26 1973-08-21 North American Rockwell Coating of poly-para-heterocyclic-xylene polymer
US3936531A (en) * 1973-05-01 1976-02-03 Union Carbide Corporation Masking process with thermal destruction of edges of mask
US4321299A (en) * 1977-09-15 1982-03-23 Nasa Strong thin membrane structure for use as solar sail comprising substrate with reflective coating on one surface and an infra red emissivity increasing coating on the other surface
US5268033A (en) * 1991-07-01 1993-12-07 Jeffrey Stewart Table top parylene deposition chamber
JPH08162528A (ja) * 1994-10-03 1996-06-21 Sony Corp 半導体装置の層間絶縁膜構造
US5992228A (en) * 1996-10-23 1999-11-30 Dunham; Lanny L. Method for determining resistivity derived porosity and porosity derived resistivity
US5804259A (en) * 1996-11-07 1998-09-08 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for depositing a multilayered low dielectric constant film
US5858457A (en) * 1997-09-25 1999-01-12 Sandia Corporation Process to form mesostructured films
US5945605A (en) * 1997-11-19 1999-08-31 Sensym, Inc. Sensor assembly with sensor boss mounted on substrate
WO2000006307A1 (fr) * 1998-07-30 2000-02-10 Aktsionernoe Obschestvo Zakritogo Tipa Procede de conservation de materiaux poreux
JP3228251B2 (ja) * 1998-12-16 2001-11-12 日本電気株式会社 Cvd装置及びそれを使用した半導体装置の製造方法
JP3230510B2 (ja) * 1999-01-25 2001-11-19 日本電気株式会社 半導体装置の製造装置および半導体装置の製造方法
US6214650B1 (en) * 2000-02-01 2001-04-10 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for sealing a ball grid array package and circuit card interconnection

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100282685B1 (ko) 산화 실리콘막 형성방법
JP6225125B2 (ja) コーティングされた電気アセンブリ
RU2001120908A (ru) Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием
KR100517008B1 (ko) 파릴렌 중합체 층의 형성 방법 및 파릴렌 중합체 층을 포함하는 다층 구조물
KR20070086070A (ko) 다공성 저 k 유전 필름의 자외선 지원 기공 밀봉
KR880001029A (ko) 집적회로 다층 상호접속장치 및 방법
KR101735864B1 (ko) 방향족 폴리이미드 필름, 적층체 및 태양 전지
JPH0397201A (ja) ダイヤモンドを用いたサーミスタの作製方法
TWI504514B (zh) 層疊結構、其製造方法及發光裝置
RU2218365C2 (ru) Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием
JP3863934B2 (ja) 高分子薄膜の形成方法
US20040161539A1 (en) Method and apparatus for forming porous insulating layer and electronic device manufactured using the method
JPS6178463A (ja) 合成樹脂被膜の形成方法
KR930006823A (ko) 반도체장치의 제조방법
JP3485425B2 (ja) 低誘電率絶縁膜の形成方法及びこの膜を用いた半導体装置
US20030181537A1 (en) Process for producing dielectric layers by using multifunctional carbosilanes
US3374111A (en) Method for depositing thin dielectric polymer films
RU2268900C2 (ru) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОРИСТОЙ ПЛЕНКИ ИЗ ПОЛИ (α, α, α', α'-ТЕТРАФТОРПАРАКСИЛИЛЕНА) И ПОРИСТАЯ ПЛЕНКА
RU2218364C2 (ru) ПЛЕНКА ИЗ ПОЛИ ( α,α,α′,α′- ТЕТРАФТОРПАРАКСИЛИЛЕНА), СПОСОБ ЕЕ ПОЛУЧЕНИЯ И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР С ЕЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ
KR920020681A (ko) 반도체 장치의 다층배선의 형성방법
RU2001120907A (ru) Органическая полимерная пленка, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием
JPH06112336A (ja) 半導体装置の製造方法
FR2576148A1 (fr) Procede de fabrication de puces de circuit integre
JP2002285320A (ja) 有機高分子薄膜の形成方法
EP0125767A2 (en) A coated or encapsulated product