RU2001120908A - Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием - Google Patents
Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованиемInfo
- Publication number
- RU2001120908A RU2001120908A RU2001120908/04A RU2001120908A RU2001120908A RU 2001120908 A RU2001120908 A RU 2001120908A RU 2001120908/04 A RU2001120908/04 A RU 2001120908/04A RU 2001120908 A RU2001120908 A RU 2001120908A RU 2001120908 A RU2001120908 A RU 2001120908A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- film
- substituted
- carried out
- stage
- heating
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 12
- -1 POLYPARAXYLylene Polymers 0.000 title claims 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 25
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 claims 15
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims 10
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims 7
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 claims 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 7
- URLKBWYHVLBVBO-UHFFFAOYSA-N p-xylene Chemical group CC1=CC=C(C)C=C1 URLKBWYHVLBVBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 5
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims 3
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims 3
- 230000000379 polymerizing Effects 0.000 claims 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
Claims (17)
1. Пленка из полипараксилилена или его замещенных, имеющая пористую структуру, полученную в результате осуществления следующих стадий: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С; с) полимеризации продукта пиролиза; и д) последующей термообработки.
2. Пленка из полипараксилилена или его замещенных по п.1, отличающаяся тем, что пленка имеет внутри пористую структуру с содержанием пор в количестве 10 - 50 об.%.
3. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных имеющей пористую структуру, включающий стадии: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных от 30 до 160°С; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С; с) полимеризации полученного продукта пиролиза от -40 до +25°С, и д) термообработки продукта полученного полимеризацией.
4. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных имеющей пористую структуру, включающий стадии: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных от 30 до 160°С; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С при скорости потока циклического димера параксилилена или его замещенных из зоны сублимации в зону пиролиза до 0,009 г/мин; с) полимеризации полученного продукта пиролиза от - 40 до +25°С, и д) термообработки продукта полученного полимеризацией.
5. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.3, отличающийся тем, что каждая из стадий сублимации, пиролиза и полимеризации осуществляется при пониженном давлении 0,001 - 0,1 мм рт.ст.
6. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.3, отличающийся тем, что стадию термической обработки осуществляют ступенчато, чередуя подъем температуры и выдержку нагревания при постоянной температуре, и конечный нагрев осуществляют в интервале от 390 до 410°С.
7. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.3, отличающийся тем, что стадию ступенчатой термической обработки осуществляют при пониженном давлении 0,001 - 0,1 мм рт.ст. или в инертной атмосфере.
8. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по пп.3-7, отличающийся тем, что стадию термической обработки осуществляют при таких условиях, что на первой стадии, нагрев осуществляют со скоростью не более 4°С/мин до 170-220°С, на второй стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 170 - 220°С не менее 35 мин; на третей стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 350-390°С; на четвертой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 350 - 390°С не менее 70 мин; на пятой стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 390-410°С; и на шестой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 390 - 410°С не менее 70 мин.
9. Способ получения пленки из полипараксилилена или его замещенных по п.8, отличающийся тем, что стадию термической обработки осуществляют при таких условиях, что на первой стадии, нагрев осуществляют со скоростью не более 4°С/мин до 190-210°С; на второй стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 190 - 210°С не менее 35 мин; на третей стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 370-380°С; на четвертой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 370 - 380°С не менее 70 мин; на пятой стадии нагрев осуществляют со скоростью не более 0,5°С/мин до 390-410°С; и на шестой стадии нагрев осуществляют при постоянной температуре 390 - 410°С не менее 70 мин.
10. Пленка из полипараксилилена или его замещенных, имеющая пористую структуру, полученная осуществлением следующих стадий: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных от 30 до 160°С; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С при скорости потока циклического димера параксилилена или его замещенных из зоны сублимации в зону пиролиза до 0,009 г/мин; с) конденсации полученного продукта пиролиза на подложку с одновременной полимеризацией в образующемся слое от -40 до +25°С; и д) температурной обработки продукта полученного полимеризацией, причем продукт полимеризации извлекают из камеры полимеризации после завершения стадии полимеризации и затем подвергают термообработке.
11. Полупроводниковый прибор, включающий: изолирующую пленку; тонкую пленку разводки сформированную на изолирующей пленке; и полупроводниковый элемент, причем тонкая пленка разводки электрически связана с полупроводниковым элементом, в котором изолирующая пленка является пленкой из полипараксилилена или его замещенных имеющей пористую структуру образующуюся в результате осуществления стадий: а) сублимации циклического димера параксилилена или его замещенных; б) пиролиза полученного сублимата от более 800 до 950°С; и с) конденсации продукта полученного пиролизом на подложке с его одновременной полимеризацией в образующемся слое, и последующей стадии термообработки.
12. Полупроводниковый прибор по п.11, отличающийся тем, что полипараксилиленовая пленка, представляющая изолирующую пленку, является пленкой из фторированного полипараксилилена полученного сублимацией циклофана содержащего атомы фтора, с последующим пиролизом полученного сублимата от более 800 до 950°С, и конденсацией полученного продукта пиролиза на подложке с одновременной полимеризацией в образующемся слое, и последующей стадии термообработки.
13. Полупроводниковый прибор по пп.11 и 12, отличающийся тем, что стадию термической обработки изолирующей пленки осуществляют ступенчато, с чередованием подъема температуры и выдержкой нагревания при постоянной температуре, и конечный нагрев осуществляют при 390 - 410°С.
14. Полупроводниковый прибор по пп.11-13, отличающийся тем, что изолирующая пленка является пленкой полученной способом по пп.3 и 4.
15. Полупроводниковый прибор, включающий изолирующую пленку, тонкую пленку разводки, сформированную на изолирующей пленке, и полупроводниковый элемент, причем тонкая пленка разводки электрически связана с полупроводниковым элементом, в котором изолирующая пленка является пленкой из полипараксилилена или его замещенных, имеющей пористую структуру полученную способом по п.3.
16. Полупроводниковый прибор по п.15, отличающийся тем, что изолирующая пленка имеет внутри пленки пористую структуру с содержанием пор в количестве 25 - 50 об.%.
17. Полупроводниковый прибор в виде подложки с многослойной разводкой, включающей основной изолирующий материал, подложки разводки, причем каждая включает проводящую цепь сформированную на ней, и изолирующие слои, причем подложки разводки располагаются одна над другой с изолирующими слоями, каждый из которых располагается между ними, и по крайней мере одна подложка разводки располагается на главной поверхности основного изолирующего материала, причем по крайней мере или изолирующий основной материал или изолирующие слои являются пленкой из полипараксилилена или его замещенных имеющие пористую структуру внутри изолирующего слоя, полученной способом по п.3 или 4.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2001120908/04A RU2218365C2 (ru) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием |
JP2003517137A JPWO2003011952A1 (ja) | 2001-07-27 | 2002-07-22 | ポリパラキシリレンフィルム、その製造方法及び半導体装置 |
US10/484,840 US6946405B2 (en) | 2001-07-27 | 2002-07-22 | Polyparaxylylene film, production method therefor and semiconductor device |
PCT/JP2002/007389 WO2003011952A1 (fr) | 2001-07-27 | 2002-07-22 | Film de polyparaxylene, son procede de production et dispositif semi-conducteur |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2001120908/04A RU2218365C2 (ru) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2001120908A true RU2001120908A (ru) | 2003-08-10 |
RU2218365C2 RU2218365C2 (ru) | 2003-12-10 |
Family
ID=20252105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2001120908/04A RU2218365C2 (ru) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6946405B2 (ru) |
JP (1) | JPWO2003011952A1 (ru) |
RU (1) | RU2218365C2 (ru) |
WO (1) | WO2003011952A1 (ru) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2317313C2 (ru) * | 2004-10-28 | 2008-02-20 | Самсунг Электроникс Ко., Лтд | Способ получения жидкокристаллической полимерной пленки |
US7603293B2 (en) * | 2005-06-24 | 2009-10-13 | Innova Electronics Corporation | Method of providing diagnostic information in connection with the sale of pre-owned vehicles |
US20070148390A1 (en) * | 2005-12-27 | 2007-06-28 | Specialty Coating Systems, Inc. | Fluorinated coatings |
US20100255376A1 (en) | 2009-03-19 | 2010-10-07 | Carbon Micro Battery Corporation | Gas phase deposition of battery separators |
KR101125567B1 (ko) * | 2009-12-24 | 2012-03-22 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 고분자 기판 및 그 제조 방법과 상기 고분자 기판을 포함하는 표시 장치 및 그 제조 방법 |
TWI607032B (zh) | 2017-01-18 | 2017-12-01 | 美樺興業股份有限公司 | 聚對二甲苯的三維多孔性結構 |
JP6383036B1 (ja) * | 2017-03-16 | 2018-08-29 | 株式会社Subaru | 車両の制御装置 |
JP6953999B2 (ja) * | 2017-10-26 | 2021-10-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体装置の製造方法及び基板処理装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3753773A (en) * | 1972-04-26 | 1973-08-21 | North American Rockwell | Coating of poly-para-heterocyclic-xylene polymer |
US3936531A (en) * | 1973-05-01 | 1976-02-03 | Union Carbide Corporation | Masking process with thermal destruction of edges of mask |
US4321299A (en) * | 1977-09-15 | 1982-03-23 | Nasa | Strong thin membrane structure for use as solar sail comprising substrate with reflective coating on one surface and an infra red emissivity increasing coating on the other surface |
US5268033A (en) * | 1991-07-01 | 1993-12-07 | Jeffrey Stewart | Table top parylene deposition chamber |
JPH08162528A (ja) * | 1994-10-03 | 1996-06-21 | Sony Corp | 半導体装置の層間絶縁膜構造 |
US5992228A (en) * | 1996-10-23 | 1999-11-30 | Dunham; Lanny L. | Method for determining resistivity derived porosity and porosity derived resistivity |
US5804259A (en) * | 1996-11-07 | 1998-09-08 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for depositing a multilayered low dielectric constant film |
US5858457A (en) * | 1997-09-25 | 1999-01-12 | Sandia Corporation | Process to form mesostructured films |
US5945605A (en) * | 1997-11-19 | 1999-08-31 | Sensym, Inc. | Sensor assembly with sensor boss mounted on substrate |
WO2000006307A1 (fr) * | 1998-07-30 | 2000-02-10 | Aktsionernoe Obschestvo Zakritogo Tipa | Procede de conservation de materiaux poreux |
JP3228251B2 (ja) * | 1998-12-16 | 2001-11-12 | 日本電気株式会社 | Cvd装置及びそれを使用した半導体装置の製造方法 |
JP3230510B2 (ja) * | 1999-01-25 | 2001-11-19 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造装置および半導体装置の製造方法 |
US6214650B1 (en) * | 2000-02-01 | 2001-04-10 | Lockheed Martin Corporation | Method and apparatus for sealing a ball grid array package and circuit card interconnection |
-
2001
- 2001-07-27 RU RU2001120908/04A patent/RU2218365C2/ru not_active IP Right Cessation
-
2002
- 2002-07-22 JP JP2003517137A patent/JPWO2003011952A1/ja not_active Withdrawn
- 2002-07-22 US US10/484,840 patent/US6946405B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-22 WO PCT/JP2002/007389 patent/WO2003011952A1/ja active Application Filing
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100282685B1 (ko) | 산화 실리콘막 형성방법 | |
JP6225125B2 (ja) | コーティングされた電気アセンブリ | |
RU2001120908A (ru) | Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием | |
KR100517008B1 (ko) | 파릴렌 중합체 층의 형성 방법 및 파릴렌 중합체 층을 포함하는 다층 구조물 | |
KR20070086070A (ko) | 다공성 저 k 유전 필름의 자외선 지원 기공 밀봉 | |
KR880001029A (ko) | 집적회로 다층 상호접속장치 및 방법 | |
KR101735864B1 (ko) | 방향족 폴리이미드 필름, 적층체 및 태양 전지 | |
JPH0397201A (ja) | ダイヤモンドを用いたサーミスタの作製方法 | |
TWI504514B (zh) | 層疊結構、其製造方法及發光裝置 | |
RU2218365C2 (ru) | Пористая пленка из полипараксилилена и его замещенных, способ ее получения и полупроводниковый прибор с её использованием | |
JP3863934B2 (ja) | 高分子薄膜の形成方法 | |
US20040161539A1 (en) | Method and apparatus for forming porous insulating layer and electronic device manufactured using the method | |
JPS6178463A (ja) | 合成樹脂被膜の形成方法 | |
KR930006823A (ko) | 반도체장치의 제조방법 | |
JP3485425B2 (ja) | 低誘電率絶縁膜の形成方法及びこの膜を用いた半導体装置 | |
US20030181537A1 (en) | Process for producing dielectric layers by using multifunctional carbosilanes | |
US3374111A (en) | Method for depositing thin dielectric polymer films | |
RU2268900C2 (ru) | СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОРИСТОЙ ПЛЕНКИ ИЗ ПОЛИ (α, α, α', α'-ТЕТРАФТОРПАРАКСИЛИЛЕНА) И ПОРИСТАЯ ПЛЕНКА | |
RU2218364C2 (ru) | ПЛЕНКА ИЗ ПОЛИ ( α,α,α′,α′- ТЕТРАФТОРПАРАКСИЛИЛЕНА), СПОСОБ ЕЕ ПОЛУЧЕНИЯ И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР С ЕЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ | |
KR920020681A (ko) | 반도체 장치의 다층배선의 형성방법 | |
RU2001120907A (ru) | Органическая полимерная пленка, способ ее получения и полупроводниковый прибор с ее использованием | |
JPH06112336A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
FR2576148A1 (fr) | Procede de fabrication de puces de circuit integre | |
JP2002285320A (ja) | 有機高分子薄膜の形成方法 | |
EP0125767A2 (en) | A coated or encapsulated product |