KR970707637A - 비휘발성 메모리 집적 회로의 고전압 스위칭용 고전압 레벨 시프터(high voltage level shifter for switching high voltage in non-volatile memory integrated circuits) - Google Patents
비휘발성 메모리 집적 회로의 고전압 스위칭용 고전압 레벨 시프터(high voltage level shifter for switching high voltage in non-volatile memory integrated circuits)Info
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- 230000015654 memory Effects 0.000 title 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 9
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims 8
- 239000007943 implant Substances 0.000 claims 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 3
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
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Abstract
고전압 레벨 시프터는 저전압 PMOS 디바이스와 저전압 NMOS 디바이스만을 이용하고 있다. 상기 고전압 레벨 시프터는 각종 브레이트다운 메카니즘에 대해 저전압 MOS 디바이스의 디바이스 전기적 사양을 충족시키기 위해 PMOS 디바이스(P1-P4)사이에 거의 동일하게 그리고 MNOS 디바이스(N1-N4)사이에 거의 동일하게 상기 고전압을 분산하는데 사용된다. 또한, 레이아우트 기술이 N+ 드레인-P기판의 훨씬 높은 접합과 NMOS 디바이스(N1,N2)의 보다 양호한 게이트부 다이오드 브레이크다운을 달성하는데 사용된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 MOS 기술을 사용하는 일반적인 종래 고전압 레벨 시프터의 회로도, 제2도는 본 발명의 바람직한 실시예의 회로도, 제3a도는 종래 MNOS의 단면도, 제3b도는 새로운 MNOS의 단면도.
Claims (41)
- 저전압 CMOS 디바이스를 사용하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터에 있어서, 제1전압원에의 접속을 위한 제1단자. 제1전압원과 제3전압원의 중간값인 제2전압원에의 접속을 위한 제2단자, 및 제3전압원에의 접속을 위한 제3단자; 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제1전도형의 제1, 제2, 제3 및 제4디바이스로서, 상기 제1 및 제2디바이스의 상기 소오스는 상기 제1단자에 접속되어 있고, 상기 제1 및 제2디바이스의 상기 드레인은 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스에 각각 접속되어 있는 제1전도형의 제1, 제2, 제3 및 제4디바이스; 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제2전도형의 제5, 제6, 제7 및 제8디바이스의 상기 소오스는 상기 제3단자에 접속되어 있으며, 상기 제5 및 제6디바이스의 상기 소오스는 상기 제7 및 제8디바이스의 상기 드레인에 각각 접속되어 있으며, 상기 제6디바이스의 상기 드레인은 상기 제4디바이스의 상기 드레인과 상기 제1디바이스의 상기 게이트에 접속되어 있고, 상기 제5디바이스의 상기 드레인은 상기 제3게이트의 상기 드레인과 상기 제2디바이스의 상기 게이트에 접속되어 있는 제2전도형의 제5, 제6, 제7 및 제8디바이스를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제1항에 있어서, 상기 제7 및 제8디바이스의 게이트에 각각 접속되어 있는 입력 회로를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제2항에 있어서, 상기 입력 회로는 입력 신호를 반전시키고 이 입력신호와 반전된 입력신호를 상기 제7 및 제8디바이스의 상기 게이트에 각각 제공하는ㅌ 인버터로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제3항에 있어서, 상기 제5 및 제6디바이스의 상기 드레인에 각각 접속되어 있는 제1출력단자와 제2출력단자를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제4항에 있어서, 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스에 각각 접속되어 있는 제3출력단자와 제4출력단자를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제4항에 있어서, 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스의 제1전압과 제2전압을 각각 안정화하기 위해, 각각 애노드와 캐소드를 가지고 있는 제1 및 제2다이오드를 더 구비하고 있고, 상기 제1 및 제2다이오드의 상기 애노드는 상기 제2단자에 접속되어 있으며, 상기 제1 및 제2다이오드의 상기 캐소드는 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스에 각각 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제4항에 있어서, 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 상기 제1전도형의 제9 및 제10디바이스를 더 구비하고 있고, 상기 제9 및 제10디바이스는 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스의 제1전압과 제2전압을 각각 안정화하기 위해 상기 제3 및 제4디바이스에 각각 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제1항에 있어서, 제1 및 제2저항기를 더 구비하고 있고, 상기 제 1저항기는 상기 제1디바이스의 상기 드레인과 상기 제3디바이스의 상기 소오스사이에 접속되어 있으며, 상기 제2저항기는 상기 제2디바이스의 상기 드레인과 상기 제4디바이스의 상기 소오스에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제1항에 있어서, 상기 제1전도형의 상기 디바이스는 n우물 영역을 가지고 있는 P채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있고, 상기 제2전도형의 상기 디바이스는 P기판 영역을 가지고 있는 n채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제1항에 있어서, 상기 제1전압원은 대략 21볼트이고, 상기 제3전압원은 대략 0볼트인 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 제1항에 있어서, 상기 제5 및 제6디바이스는 상기 드레인 영역에 못미쳐 종료되는 전계 임플랜트를 가지고 있는 것을 특징으로 하는 고전압 상보형 출력 레벨 시프터.
- 복수의 디바이스를 가지고 있는 회로에서, 전도형의 반대인 직렬 디바이스들 사이에 전압을 분배하는 방법에 있어서, a) 제1전압원에의 접속을 위한 제1단자, 제1전압원과 제3전압원의 중간값인 제2전압원에의 접속을 위한 제2단자, 및 제3전압원에의 접속을 위한 제3단자를 제공하는 단계; b) 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제1전도형의 제1, 제2, 제3 및 제4디바이스를 제공하고, 상기 제1 및 제2디바이스의 상기 소오스를 상기 제1단자에 접속하며, 상기 제1 및 제2디바이스의 상기 드레인을 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스에 각각 접속하는 단계; c) 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제2전도형의 제5, 제6, 제7 및 제8디바이스를 제공하고, 상기 제3, 제4, 제5 및 제6디바이스의 상기 게이트를 상기 제2단자에 접속하며, 상기 제7 및 제8디바이스의 상기 소오스를 상기 제3디바이스에 접속하고, 상기 제5 및 제6디바이스의 상기 소오스를 상기 제7 및 제8디바이스의 상기 드레인에 각각 접속하고, 상기 제6디바이스의 상기 드레인을 상기 제4디바이스의 상기 드레인과 상기 제1디바이스의 상기 게이트에 접속하며, 상기 제5디바이스의 상기 드레인을 상기 제3게이트의 상기 드레인과 상기 제2디바이스의 상기 게이트에 접속하는 단계; 및 d) 입력 회로를 제공하고, 상기 제5 및 제6디바이스의 상기 드레인 전압을 제어하기 위해 상기 입력 회로를 상기 제7 및 제8디바이스의 상기 게이트에 접속하는 단계를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제12항에 있어서, 상기 입력회로는 입력신호를 반전시키고 이 입력신호와 반전된 입력신호를 상기 제7 및 제8디바이스의 상기 게이트에 각각 접속하는 인버터로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제13항에 있어서, 제1출력단자와 제2출력단자를 제공하고 이 제1출력단자와 제2출력단자를 상기 제5 및 제6디바이스의 상기 드레인에 각각 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제14항에 있어서, 제3출력단자와 제4출력단자를 제공하고 이 제3출력단자와 제4출력단자를 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스에 각각 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제14항에 있어서, 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스의 제1전압과 제2전압을 각각 안정화하기 위해, 각각 애노드와 캐소드를 가지고 있는 제1 및 제2다이오드를 제공하고, 상기 제1 및 제2다이오드의 상기 애노드를 상기 제2단자에 접속하며, 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스에 상기 제1 및 제2다이오드의 상기 캐소드를 각각 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제14항에 있어서, 상기 제3 및 제4디바이스의 상기 소오스의 제1전압과 제2전압을 각각 안정화하기 위해, 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 상기 제1전도형의 제9 및 제10디바이스를 제공하고, 상기 제9 및 제10디바이스를 상기 제3 및 제4디바이스에 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제12항에 있어서, 제1 및 제2저항기를 제공하고, 상기 제1디바이스의 상기 드레인과 상기 제3디바이스의 상기 소오스사이에 상기 제1저항기를 접속하며, 상기 제2디바이스의 상기 드레인과 상기 제4디바이스의 상기 소오스사이에 상기 제2저항기를 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제12항에 있어서, 상기 제1전도형의 상기 디바이스는 n우물 영역을 가지고 있는 P채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있고, 상기 제2전도형의 상기 디바이스는 P기판 영역을 가지고 있는 n채널 전계 효과 트랜지스터로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제12항에 있어서, 상기 제1전압원은 대략 21볼트이고, 상기 제3전압원은 대략 0볼트인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제12항에 있어서, 단계 c)에서, 상기 전계 임플랜트는 상기 제5 및 제6디바이스의 상기 드레인 영역에 못미쳐 종료되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 복수의 직렬 디바이스를 가지고 있는 회로에 있어서, 제1전압원에의 접속을 위한 제1단자, 제1전압원과 제3전압원의 중간값인 제2전압원에의 접속을 위한 제2단자, 및 제3전압원에의 접속을 위한 제3단자; 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제1전도형의 제1 및 제2디바이스로서, 상기 제1디바이스의 상기 소오스는 상기 제1단자에 접속되어 있고, 상기 제1디바이스의 상기 드레인은 상기 제2디바이스의 상기 소오스에 접속되어 있는 제1전도형의 제1 및 제2디바이스; 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제2전도형의 제3 및 제4디바이스로서, 상기 제2 및 제3디바이스의 상기 게이트는 상기 제2단자에 접속되어 있고, 상기 제4디바이스의 상기 소오스는 상기 제3디바이스에 접속되어 있으며 상기 제3디바이스의 상기 소소느는 상기 제4디바이스의 상기 드레인에 접속되어 있으며, 상기 제2디바이스의 상기 드레인은 상기 제3디바이스의 상기 드레인에 접속되어 있는 제2도전형의 제3 및 제4디바이스; 및 상기 제1디바이스의 상기 게이트에 접속되어, 상기 제1전압원측으로 상기 제2디바이스의 상기 드레인을 풀업시키는 수단을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제22항에 있어서, 상기 제4디바이스의 상기 게이트에 접속되어 있는 입력수단을 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제23항에 있어서, 상기 제3디바이스의 상기 드레인에 접속되어 있는 제1출력 단자를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제24항에 있어서, 상기 제2디바이스의 상기 소오스에 접속되어 있는 제2출력 단자를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제24항에 있어서, 상기 제2디바이스의 상기 소오스의 제1전압을 안정화하기 위해, 애노드와 캐소드를 가지고 있는 다이오드를 더 포함하고 있고, 이 다이오드의 상기 애노드는 상기 제2단자에 접속되어 있고, 상기 다이오드의 상기 캐소드는 상기 제2디바이스의 상기 소오스에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제24항에 있어서, 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 상기 제1전도형의 제5디바이스를 더 포함하고 있고, 이 제5디바이스는 상기 제2디바이스의 상기 소오스의 제1전압을 안정화하기 위해 상기 제2디바이스에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제22항에 있어서, 저항기를 더 포함하고 있고, 이 저항기는 상기 제1디바이스의 상기 드레인과 상기 제2디바이스의 상기 소오스 사이에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제22항에 있어서, 상기 제1전도형의 상기 디바이스는 n우물 영역을 가지고 있는 p채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있고, 상기 제2디바이스에 상기 디바이스는 p기판 영역을 가지고 있는 n채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 회로.
- 제22항에 있어서, 상기 제1전압원은 대략 21볼트이고 상기 제3전압원은 대략 0볼트인 것을 특징으로 하는 회로.
- 제22항에 있어서, 상기 전계 임플랜트는 상기 제3디바이스의 상기 드레인 영역에 못미쳐 종료되는 것을 특징으로 하는 회로.
- 전도형이 반대인 복수의 직렬 디바이스를 가지고 있는 회로에서, 비전도형 디바이스의 양단 전압을 제한하는 방법에 있어서, a) 제1전압원에의 접속을 위한 제1단자, 제1전압원과 제3전압원의 중간값인 제2전압원에의 접속을 위한 제2단자, 및 제3전압원에의 접속을 위한 제3단자를 제공하는 단계; b) 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제1전도형의 제1 및 제2디바이스를 제공하고, 상기 제1디바이스의 상기 소오스를 상기 제1단자에 접속하며, 상기 제1디바이스의 상기 드레인을 상기 제2디바이스의 상기 소오스에 접속하는 단계; c) 각각 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 제2전도형의 제3 및 제4디바이스를 제공하고, 상기 제2 및 제3디바이스의 상기 게이트를 상기 제2단자에 접속하며, 상기 제4디바이스의 상기 소오스를 상기 제3단자에 접속하고, 상기 제3디바이스의 상기 소오스를 상기 제4디바이스의 상기 드레인에 접속하며, 상기 제2디바이스의 상기 드레인을 상기 제3게이트의 상기 드레인에 접속하는 단계; 및 d) 상기 제1디바이스의 상기 게이트에 접속되어, 상기 제1전압원측으로 상기 제2디바이스의 상기 드레인을 풀업시키는 수단을 제공하는 단계를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제32항에 있어서, 입력 수단을 제공하고, 이 입력 수단을 상기 제4디바이스의 상기 게이트에 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제33항에 있어서, 제1출력단자를 제공하고, 이 제1출력단자를 상기 제3디바이스의 상기 드레인에 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 단계.
- 제34항에 있어서, 제2출력단자를 제공하고, 이 제2출력단자를 상기 제2디바이스의 상기 드레인에 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제34항에 있어서, 상기 제2디바이스의 상기 소오스의 제1전압을 안정화하기 위해, 애노드와 캐소드를 가지고 있는 다이오드를 제공하고, 이 다이오드의 상기 애노드를 상기 제2단자에 접속하며, 상기 다이오드의 상기 캐소드를 상기 제2디바이스의 상기 소오스에 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제34항에 있어서, 소오스, 드레인 및 게이트를 가지고 있는 상기 제1전도형의 제5디바이스를 제공하고, 상기 제2디바이스의 상기 소오스의 제1전압을 안정화하기 위해 상기 제2디바이스를 상기 제5디바이스를 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제32항에 있어서, 저항기를 제공하고, 상기 제1디바이스의 상기 드레인과 상기 제2디바이스의 상기 소오스사이에 상기 저항기를 접속하는 단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제32항에 있어서, 상기 제1전도형의 상기 디바이스는 n우물 영역을 가지고 있는 p채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있고, 상기 제2전도형의 상기 디바이스는 p기판 영역을 가지고 있는 n채널 전계 효과 디바이스로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제32항에 있어서, 상기 제1전압원은 대략 21볼트이고 상기 제3전압원은 대략 0볼트인 것을 특징으로 하는 방법.
- 제32항에 있어서, 단계 c)에서, 상기 전계 임플랜트는 상기 제3디바이스의 상기 드레인 영역에 못미쳐 종료되는 것을 특징으로 하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/519,396 | 1995-08-25 | ||
US08/519,396 US6437627B1 (en) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | High voltage level shifter for switching high voltage in non-volatile memory intergrated circuits |
PCT/US1996/013518 WO1997008833A1 (en) | 1995-08-25 | 1996-08-21 | High voltage level shifter for switching high voltage in non-volatile memory integrated circuits |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970707637A true KR970707637A (ko) | 1997-12-01 |
KR100243850B1 KR100243850B1 (ko) | 2000-02-01 |
Family
ID=24068152
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970702723A KR100243850B1 (ko) | 1995-08-25 | 1996-08-21 | 비휘발성 메모리 집적 회로의 고전압 스위칭용고전압 레벨 시프터 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6437627B1 (ko) |
EP (1) | EP0788684A1 (ko) |
JP (1) | JPH10508175A (ko) |
KR (1) | KR100243850B1 (ko) |
AU (1) | AU6853396A (ko) |
CA (1) | CA2201853A1 (ko) |
WO (1) | WO1997008833A1 (ko) |
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---|---|---|---|---|
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EP0788684A1 (en) | 1997-08-13 |
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