KR970076895A - 소형 메모리 셀 구동 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 - Google Patents
소형 메모리 셀 구동 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970076895A KR970076895A KR1019970018480A KR19970018480A KR970076895A KR 970076895 A KR970076895 A KR 970076895A KR 1019970018480 A KR1019970018480 A KR 1019970018480A KR 19970018480 A KR19970018480 A KR 19970018480A KR 970076895 A KR970076895 A KR 970076895A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- memory cell
- decoder
- selection signal
- driver circuit
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C13/00—Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/08—Word line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, for word lines
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
본 발명은 메모리 셀을 포함하는 반도체 메모리 장치에서, 제1 및 제2디코더가 제1 및 제2선택 신호(A1, A2)를 발생하고, 드라이버 회로(6˝-X, 4′-Y)가 메모리 셀(M11, M12, …,Mmn)를 구동하기 위한 구동 신호(Ex, DY)를 발생한다, 상기 드라이버 회로는 제1선택 신호에 의해 제어되는 전달 게이트(Qp3, Qn3, Qp3′,Qn3′)를 구비함으로써 제2선택 신호를 전달하여 구동 신호를 발생하게 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제8도는 본 발명에 따른 ROM형 반도체 메모리 장치의 실시예를 도시한 블럭 회로도.
Claims (10)
- 메모리 셀을 구비한 반도체 메모리 장치에 있어서, 제1 및 제2선택 신호(A1, A2)를 발생하기 위한 수단; 및 상기 선택 신호 발생 수단에 접속되며, 상기 메모리 셀(M11, M12,…,Mmn)를 구동하는 구동 신호(Ex, DY)를 발생하기 위한 드라이버회로(6˝-X, 4′-Y)를 구비하되, 상기 드라이버 회로는 상기 제1선택 신호에 의해 제어되며, 상기 구동 신호를 발생하기 위해 상기 제2선택 신호를 전달하기 위한 전달 게이트(Qp3, Qn3, Qp3′,Qn3′)를 구비GK는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 드라이버 회로는 상기 전달 게이트와 상기 메모리 셀 간에 접속되며, 상기 구동 신호를 발생하기 위해 상기 전달 게이트를 통과한 상기 제2선택 신호를 반전시키기 위한 인버터(INV); 및 전원 공급 단자(Vcc)와 상기 인버터의 입력 간에 접속되며, 상기 제1선택 신호에 의해 제어되는 스위칭 소자(Qn4)를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 드라이버 회로는 접지 단자 GND와 상기 전달 게이트의 출력 간에 접속된 스위칭 소자(Qn4′)를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 메모리 셀은 판독 전용 메모리 셀인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 메모리 셀을 구비한 반도체 메모리 장치에 있어서, 제1선택 신호(A1) 및 상기 제1선택 신호에 상보적인 제2선택 신호(A1)를 발생하기 위한 제1디코더(2′); 제3선택 신호(A2)를 발생하기 위한 제2디코더(3,5); 및 상기 제1 및 제2디코더에 접속되며, 상기 메모리 셀을 구동하기 위한 구동 신호(Ex,DY)를 발생하기 위한 드라이버 회로(6˝-X,4′-Y)를 구비하며, 상기 드라이버 회로는 상기 제2디코더에 접속된 드레인, 상기 제1선택 신호를 수신하기 위해 상기 제1디코더에 접속된 게이트, 및 상기 구동 신호를 발생하기 위해 소스를 갖는 제1P-채널 트랜지스터(Qp3, Qp3′); 및 상기 제2디코더에 접속된 드레인, 상기 제2선택 신호를 수신하기 위해 상기 제1디코더에 접속된 게이트, 및 상기 제1P-채널 MOS 트랜지스터의 소스에 접속된 소스를 갖는 제1N-채널 MO 트랜지스터(Qp3, Qp3′)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제5항에 있어서, 상기 드라이버 회로는 상기 제1P-채널 MOS 트랜지스터의 소스와 상기 메모리 셀 간에 접속되며, 상기 구동 신호를 반전시키기 위한 인버터(INV); 및 전원 공급 단자(Vcc)와 상기 인버터의 입력간에 접속되며, 상기 제2선택 신호에 의해 제어되는 스위칭 소자(Qn4)를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제5항에 있어서, 상기 드라이버 회로는 접지 단자 GND와 상기 제1P-채널 MOS 트랜지스터의 소스 간에 접속되며, 상기 제1선택 신호에 의해 제어되는 스위칭 소자(Qn4′)를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제5항에 있어서, 상기 메모리 셀은 판독 전용 메모리 셀인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 메모리 셀을 구비한 반도체 메모리 장치에 있어서, 제1선택 신호(A1) 및 상기 제1선택 신호에 상보적인 제2선택 신호(A1)를 발생하기 위한 제1디코더(2′); 제3선택 신호(Bx)를 발생하기 위한 제2디코더(3); 제4선택 신호(Cx)를 발생하기 위한 제3디코더(5); 상기 제1 및 제2디코더에 접속되며, 상기 메모리 셀에 대한 제1구동신호(DY)를 발생하기 위한 제1드라이버 회로(4′-Y); 및 상기 제1 및 제2디코더에 접속되며, 제2구동 신호(Ex)를 발생하기 위한 제2드라이버 회로(6˝-Y)를 구비하며, 상기 제1드라이버 회로는 상기 제3선택 신호를 상기 제1구동 신호로서 전달하기 위해, 상기 제1 및 제2선택 신호에 의해 각각 제어되는제1P-채널 MOS 트랜지스터(Qp3′) 및 제1N-채널 MOS 트랜지스터(Qn3′)에 의해 형성된 제1전달 게이트; 및 상기 제1전달 게이트의 출력과 접지 단자(GND)간에 접속되며, 상기 제1선택 신호에 의해 제어되는 제2N-채널 MOS 트랜지스터(Qn4′)를 구비하며, 상기 제2드라이버 회로는 상기 제4선택 신호를 상기 제2구동 신호로서 전달하기 위해, 상기 제1 및 제2선택 신호에 의해 각각 제어되는 제2P-채널 MOS 트랜지스터(Qp3) 및 제3N-채널 MOS 트랜지스터(Qn3)에 의해 형성된 제2전달 게이트; 상기 제2전달 게이트에 접속되며, 상기 제2구동 신호를 반전시키기 위한 인버터(INV); 및 상기 제2전달 게이트의 출력과 전원 공급 단자(Vcc)간에 접속되며, 상기 제2선택 신호에 의해 제어되는 제4N-채널 MOS 트랜지스터(Qn4)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 메모리 셀을 구비한 반도체 메로리 장치에 있어서, 각각의 메모리 셀 열이 열 스위칭 트랜지스터(QY1, QY2, …) 및 메모리 셀의 열(M11,M21, …)을 갖는 다수의 메모리 셀 열을 각각 구비하는 다수의 메모리 셀 블럭(1-1,1-2…, 1-8); 상기 메모리 셀 블럭중 한블럭을 선택하는 다수 쌍의 상보성 블럭 선택 신호(A1, A1, A2, A2, …,A6, A6)를 발생하기 위한 블럭 디코더(2′); 상기 메모리 셀 블럭이 각각으로부터 하나의 메모리 셀 열을 선택하는 열 선택 신호(B1, B2, …,Bn)을 발생하기 위한 열 디코더(3); 상기 블럭 디코더 및 상기 열 디코더에 접속되며, 상기 메모리 셀 열중 한열의 상기 열 스위칭 트랜지스터에 대한 열 구동 신호(DY)를 발생하기 위해, 한쌍의 상보성 블럭 선택 신호와 상기 열 선택 신호중의 한 신호를 수신하기 위한 다수의 열 드라이버(4′-Y); 상기 메모리 셀 열의 각각으로부터 하나의 메모리 셀을 선택하는 워드 선택신호(C1, C2, …, Cm)를 발생하기 위한 워드 디코더(5); 및 상기 블럭 디코더 및 상기 워드 디코더에 접속되며, 상기 메모리 셀 열 각각의 한 메모리 셀에 대한 워드 구동 신호(Ex)를 발생하기 위해, 한쌍의 상보성 블럭 선택 신호와 상기 워드 선택 신호중의 한 신호를 수신하기 위한 다수의 워드 드라이버(6˝-X)를 구비하며, 상기 열 드라이버의 각각은 상기 블럭디코더와 상기 열 디코더에 접속되며, 상기 상보성 블럭 신호 쌍중 상기 한쌍에 따라 상기 열 선택 신호중의 한 신호를 상기 열 구동 신호중의 한 신호로서 수신하고 전달하기 위한 제1전달 게이트(Qp3′,Qn3′); 상기 제1전달 게이트의 출력과 접지 단자(GND) 간에 접속되고, 상기 상보성 블럭 신호 쌍중의 상기 한쌍, 상기 제2전달 게이트의 출력 및 전원 공급 단자(Vcc)에 의해 제어되며, 상기 상보성 블럭 신호 쌍중의 상기 한쌍에 의해 제어되는 제1스위칭 트랜지스터(Qn4′); 및 상기 제2전달 게이트의 출력에 접속되며, 상기 구동 신호중의 한 신호를 발생하기 위해 상기 워드 선택 신호중의 상기 신호를 반전시키기 위한 인버터(INV)를 구비하며, 상기 워드 드라이버의 각각은 상기 블럭 디코더와 상기 워드 디코더에 접속되며, 상기 상보성 블럭 신호 쌍중의 한쌍에 따라 상기 워드 선택 신호중의 한 신호를 수신하고 전달하기 위한 제2전달 게이트(Qp3, Qn3); 상기 제2전달 게이트의 출력과 전원 공급 단자(Vcc)간에 접속되고, 상기 상보성 블럭 신호 쌍중의 상기 한쌍의 다른 것에 의해 제어되는 제2스위칭 트랜지스터(Qn4) 및 상기 제2 전달 게이트의 출력에 접속되며, 상기 제2전달 게이트를 통과한 상기 워드 선택 신호중의 상기 신호를 반전시키기 위한 인버터(INV)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP96-142240 | 1996-05-13 | ||
JP14224096A JP2888194B2 (ja) | 1996-05-13 | 1996-05-13 | Xメインデコーダ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970076895A true KR970076895A (ko) | 1997-12-12 |
KR100267199B1 KR100267199B1 (ko) | 2000-10-16 |
Family
ID=15310701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970018480A KR100267199B1 (ko) | 1996-05-13 | 1997-05-13 | 소형 메모리 셀 구동 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6125074A (ko) |
JP (1) | JP2888194B2 (ko) |
KR (1) | KR100267199B1 (ko) |
TW (1) | TW322577B (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001127602A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-05-11 | Oki Electric Ind Co Ltd | 信号伝達回路 |
WO2015071965A1 (ja) * | 2013-11-12 | 2015-05-21 | ユニサンティス エレクトロニクス シンガポール プライベート リミテッド | 半導体装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5099297A (en) * | 1988-02-05 | 1992-03-24 | Emanuel Hazani | EEPROM cell structure and architecture with programming and erase terminals shared between several cells |
JP2835215B2 (ja) * | 1991-07-25 | 1998-12-14 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5311467A (en) * | 1992-04-07 | 1994-05-10 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Selective bulk write operation |
JP3764184B2 (ja) * | 1995-03-15 | 2006-04-05 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5699315A (en) * | 1995-03-24 | 1997-12-16 | Texas Instruments Incorporated | Data processing with energy-efficient, multi-divided module memory architectures |
US5808500A (en) * | 1996-06-28 | 1998-09-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Block architecture semiconductor memory array utilizing non-inverting pass gate local wordline driver |
KR100228424B1 (ko) * | 1996-06-29 | 1999-11-01 | 김영환 | 반도체 메모리 장치의 엑스 디코더 회로 |
US5896340A (en) * | 1997-07-07 | 1999-04-20 | Invox Technology | Multiple array architecture for analog or multi-bit-cell memory |
-
1996
- 1996-05-13 JP JP14224096A patent/JP2888194B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-12 US US08/855,889 patent/US6125074A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-13 KR KR1019970018480A patent/KR100267199B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-05-13 TW TW086106350A patent/TW322577B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW322577B (ko) | 1997-12-11 |
JPH09306176A (ja) | 1997-11-28 |
US6125074A (en) | 2000-09-26 |
KR100267199B1 (ko) | 2000-10-16 |
JP2888194B2 (ja) | 1999-05-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR930017305A (ko) | 프로그램 가능한 구동력 특성을 갖춘 씨모스 게이트 | |
KR850006234A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR960009412A (ko) | 레벨 변환 회로 | |
KR940008091A (ko) | 개량된 소프트 에러 저항을 갖는 모스 에스램(mos sram), 고전위 전원 전압강하 검출회로, 상보 신호 천이 검출회로 및 개량된 내부신호 시간마진을 갖는 반도체 장치 | |
KR920001542A (ko) | 감지 증폭기를 갖는 반도체 메모리 | |
KR950012729A (ko) | 반도체 집적회로 장치 | |
KR19980021468A (ko) | 반도체 메모리소자 | |
KR860006876A (ko) | 반도체 장치 | |
JPS63201989A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR890008837A (ko) | 바이폴라 콤프리멘타리 금속산화막 반도체를 사용하는 논리회로와 그 논리회로를 갖는 반도체 메모리장치 | |
KR960015581A (ko) | 반도체 메모리장치의 구동회로 | |
KR910002127A (ko) | 전원절환회로 | |
US6456118B2 (en) | Decoder circuit | |
KR100567497B1 (ko) | 버스 인터페이스 회로 및 리시버 회로 | |
KR920017123A (ko) | Eeprom | |
KR930010997A (ko) | 디코더 회로 | |
KR970051355A (ko) | 동기형 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 회로 | |
KR970016535A (ko) | 어드레스 디코더 | |
KR960012017A (ko) | 반도체 메모리장치의 워드라인드라이버 | |
KR970076895A (ko) | 소형 메모리 셀 구동 회로를 갖는 반도체 메모리 장치 | |
KR930022370A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR940004833A (ko) | 씨엠오에스(cmos)회로의 래치업 저감출력 드라이버 및 래치업 저감방법 | |
JPH0766669B2 (ja) | デコーダバッファ回路 | |
KR960035646A (ko) | 반도체 메모리 디바이스용 논리 회로 | |
KR850004690A (ko) | 펄스 발신 회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120621 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130621 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |