KR970076078A - 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법 - Google Patents

고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970076078A
KR970076078A KR1019960018220A KR19960018220A KR970076078A KR 970076078 A KR970076078 A KR 970076078A KR 1019960018220 A KR1019960018220 A KR 1019960018220A KR 19960018220 A KR19960018220 A KR 19960018220A KR 970076078 A KR970076078 A KR 970076078A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
photoresist
film
material film
forming
photoresist pattern
Prior art date
Application number
KR1019960018220A
Other languages
English (en)
Inventor
신종찬
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960018220A priority Critical patent/KR970076078A/ko
Publication of KR970076078A publication Critical patent/KR970076078A/ko

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법이 개시되어 있다. 본 발명은 반도체기판 상에 패터닝하고자 하는 물질막을 형성하는 단계와, 상기 물질막 상에 상기 물질막의 소정영역을 노출시키는 제1포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 상기 제1포토레지스트 패턴을 경화시키는 단계와, 상기 결과물 전면에 제2포토레지스트막을 도포하는 단계와, 상기 제2포토레지스트막을 프리 베이크하는 단계와, 상기 프라베이크된 제2포토레지스트막을 전면노광시키는 단계와, 상기 전면노광된 제2포토레지스트막을 후노광 베이크하여 상기 경화된 제1포토레지스트 패턴 측벽에 상기 경화된 제1포토레지스트 패턴과 상기 전면노광된 제2포토레지스트막이 서로 반응되어 상기 물질막에 대한 식각 선택비가 우수한 혼합 물질막을 형성하는 단계와, 상기 후노광 베이크된 제2포토레지스트막을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법을 제공한다.
본 발명에 의하면, 제1포토레지스트 패턴 측벽에 혼합 물질막을 형성함으로써, 혼합물질막 및 제1포토레지스트 패턴을 식각 마스크로하여 물질막을 시작할 경우 물질막 패턴 사이의 간격을 노광장비의 한계 해상도 보다 작게 형성할 수 있다.

Description

고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 내지 제3도는 본 발명에 의한 미세패턴 형성방법을 설명하기 위한 단면도들이다.

Claims (3)

  1. 반도체기판 상에 패터닝하고자 하는 물질막을 형성하는 단계; 상기 물질막 상에 상기 물질막의 소정영역을 노출시키는 제1포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 상기 제1포토레지스트 패턴을 경화시키는 단계; 상기 결과물 전면에 제2포토레지스트막을 도포하는 단계; 상기 제2포토레지스트막을 프리 베이크하는 단계; 상기 프리베이크된 제2포토레지스트막을 전면노광시키는 단계; 상기 전면노광된 제2포토레지스트막을 후노광 베이크하여 상기 경화된 제1포토레지스트 패턴 측벽에 상기 경화된 제1포토레지스트 패턴과 상기 전면노광된 제2포토레지스트가 서로 반응된 혼합 물질을 형성하는 단계; 및 상기 후노광 베이크된 제2포토레지스트막을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 후노광 베이크된 제2포토레지스트막을 제거하는 현상액을 사용하여 실시하는 것을 특징으로 하는 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1포토레지스트 패턴을 경화시키는 단계는 자외선을 이용하는 것을 특징으로 하는 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하 것임.
KR1019960018220A 1996-05-28 1996-05-28 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법 KR970076078A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960018220A KR970076078A (ko) 1996-05-28 1996-05-28 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960018220A KR970076078A (ko) 1996-05-28 1996-05-28 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970076078A true KR970076078A (ko) 1997-12-10

Family

ID=66283992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960018220A KR970076078A (ko) 1996-05-28 1996-05-28 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970076078A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100333035B1 (ko) * 1998-08-06 2002-04-24 다니구찌 이찌로오, 기타오카 다카시 반도체 장치의 제조방법 및 반도체 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100333035B1 (ko) * 1998-08-06 2002-04-24 다니구찌 이찌로오, 기타오카 다카시 반도체 장치의 제조방법 및 반도체 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970007173B1 (ko) 미세패턴 형성방법
EP0160248A2 (en) Method of forming narrow photoresist lines on the surface of a substrate
KR950024275A (ko) 미세 레지스트 패턴형성방법
KR970076078A (ko) 고집적 반도체장치의 미세패턴 형성방법
KR930006850A (ko) 미세패턴 형성방법
KR920003811B1 (ko) 레지스트의 이중 도포에 의한 이중 노광방법
KR970005055B1 (ko) 반도체 제조용 위상반전 마스크 제조방법
KR910001460A (ko) 포토레지스트의 측벽 프로파일 개선 방법
KR960002592A (ko) 반도체 소자의 제조방법
KR950015617A (ko) 반도체소자의 미세패턴 제조방법
KR970071126A (ko) 이중 포토레지스트를 이용한 패턴 형성방법
KR19990054909A (ko) 이중 감광막을 이용한 미세 감광막패턴 형성방법
KR940015704A (ko) 실리레이션용 감광막 패턴 형성방법
KR970076079A (ko) 미세패턴 형성방법
JPS6224941B2 (ko)
KR970003523A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR960042916A (ko) 반도체 장치의 미세패턴 형성 방법
KR950021045A (ko) 반도체 소자의 미세 패턴 형성방법
KR970016754A (ko) 반도체 장치용 마스크 제조방법
KR950014983A (ko) 사진식각방법
KR900017174A (ko) 반도체의 미세패턴 형성방법
KR950004394A (ko) 감광막패턴 형성방법
KR950027929A (ko) 반도체 소자의 위상반전 마스크 제조방법
KR950024261A (ko) 림(Rim)형 위상반전마시크 및 그 제조방법
KR950021040A (ko) 반도체 장치의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination