KR970016754A - 반도체 장치용 마스크 제조방법 - Google Patents

반도체 장치용 마스크 제조방법 Download PDF

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KR970016754A
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박주한
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

마스크 패턴의 균일도가 향상된 마스크의 제조 방법에 관하여 개시한다. 본 발명의 마스크 제조 방법은 마스크 기판 상에 차광층을 형성하는 단계와, 상기 차광층 상에 포토레지스트막을 형성하는 단계와, 상기 포토레지스트막을 노광, 현상하여 후 공정에서 요구되는 폭(CD)보다 작게 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 상기 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로 상기 차광층을 습식 식각하여 차광층 패턴을 형성하는 단계를 포함한다.
본 발명에 의하면, 후에 원하는 차광층 패턴의 CD보다 작게 포토레지스트 패턴을 형성한 후 식각하여 차광층 패턴의 균일도 및 수직 프로파일 특성을 얻을 수 있다.

Description

반도체 장치용 마스크 제조 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 3도 및 제 4도는 본 발명에 의한 마스크 제조 방법을 설명하기 위하여 도시한 도면이다.

Claims (2)

  1. 마스크 기판 상에 차광층을 형성하는 단계 ; 상기 차광층 상에 포토레지스트막을 형성하는 단계 ; 상기 포토레지스트막을 노광, 현상하여 후 공정에서 요구되는 폭(CD)보다 작게 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계 ; 및 상기 포토레지스트 패턴을 식각 마스크로 상기 차광층을 습식 식각하여 차광층 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마스크의 제조 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 차광층은 크롬막을 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 마스크의 제조 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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