KR970051898A - 반도체 장치의 패턴 형성 방법 - Google Patents

반도체 장치의 패턴 형성 방법 Download PDF

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KR970051898A
KR970051898A KR1019950059343A KR19950059343A KR970051898A KR 970051898 A KR970051898 A KR 970051898A KR 1019950059343 A KR1019950059343 A KR 1019950059343A KR 19950059343 A KR19950059343 A KR 19950059343A KR 970051898 A KR970051898 A KR 970051898A
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photoresist
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light
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KR1019950059343A
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Inventor
유지용
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

본 발명은 수용성폴리머를 이용하여 포토레지스트의 단차를 갖는 두영역간의 패턴의 선폭 변화를 최소화할 수 있는 반도체 장치의 패턴 형성 방법에 관한 것으로, 반도체기판상에 형성되어 있는 포토레지스트를 전면적으로 1차 노광하는 공정과; 상기 1차 노광된 포토레지스트상에 상기 1차 노광시의 빛의 위상과 180°의 위상차를 갖도록 2차 노광시의 빛의 위상을 제어하는 수용성폴리머를 형성하는 공정과; 상기 포토레지스트의 패턴 영역을 정의하여 부분적으로 2차 노광하는 공정을 포함하고 있다. 이와 같은 방법에 의해서, 높은 단차를 갖는 반도체 기판상에 형성된 포토레지스트의 단차를 갖는 두영역간의 패턴의 선폭을 균일하게 형성할 수 있다.

Description

반도체 장치의 패턴 형성 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 제2C도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 장치의 패턴 형성 방법을 보여주고 있는 순차 공정도.

Claims (4)

  1. 반도체 장치의 패턴 형성 방법에 있어서, 반도체기판(10)상에 형성되어 있는 포토레지스트(12)를 전면적으로 1차 노광하는 공정과; 상기 1차 노광된 포토레지스트(12)상에 상기 1차 노광시의 빛(15)의 위상과 180°의 위상차를 갖도록 후속 2차 노광시의 빛의 위상을 제어할 수 있는 수용성폴리머(14)를 형성하는 공정과; 상기 포토레지스트(12)의 패턴 영역을 정의하여 부분적으로 2차 노광하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 패턴 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 1차 노광공정에서의 노광량은 상기 포토레지스트(12)를 패터닝할 수 있는 적정노광량의 약50% 정도의 범위내에서 수행되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 패턴 형성 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 2차 노광시의 빛(15a)의 위상은 상기 수용성폴리머(14)의 두께에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 패턴 형성 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 1차 노광시의 빛(15)과 상기 2차 노광시의 빛(15a)은 180°의 위상차를 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 패턴 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950059343A 1995-12-27 1995-12-27 반도체 장치의 패턴 형성 방법 KR970051898A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100602129B1 (ko) * 2004-12-30 2006-07-19 동부일렉트로닉스 주식회사 다단계 노광공정을 이용한 패턴 형성 방법

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KR100602129B1 (ko) * 2004-12-30 2006-07-19 동부일렉트로닉스 주식회사 다단계 노광공정을 이용한 패턴 형성 방법

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