KR970052994A - Npn 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 NPN 바이폴라 트랜지스터를 백엔드 공정에서 형성하여 종래와 같은 매몰층, 싱크영역 및 에피택셜층을 위한 별도의 공정이 완전히 배재함으로써, 이를 바이-씨모스 트랜지스터에 적용시 모스 트랜지스터의 특성을 최적화할 수 있으며, 생산성을 향상시킬 수 있는 바이폴라 트랜지스터의 제조방법에 관한 것이다.
본 발명의 NPN 트랜지스터의 제조방법은 P형 실리콘 기판상에 형성된 제1절연막과, 상기 절연막에 형성된N+폴리실리콘막과, 상기 N+폴리실리콘막상에 형성된 N-폴리실리콘막과, N-폴리실리콘막에 형성된 P-형 진성 베이스 영역과 P-형 진성 베이스 영역양측에 인접하여 형성된 P+형 외인성 베이스 영역으로 된 베이스 영역과, 상기 진성 베이스 영역내에 형성된 P+형 에미터 영역과, 베이스 영역 및 콜렉터 콘택을 제외한 N+폴리실리콘막상에 형성된 제2절연막과, 상기 절연막상에 형성된 P+폴리실리콘막과, P+폴리실리콘막을 포함한 제2절연막상에 형성된 에미터 식각창 및 콜렉터 콘택을 갖는 제3절연막과, 에미터 식각창의 측벽에 형성된 스페이서와, 에미터 식각창에서 에미터 영역과 콘택되는 N+폴리실리콘막과 콜렉터 콘택에서 N-폴리실리콘막과 콘택되는 N+폴리실리콘막을 포함한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 실시예에 따른 NPN 트랜지스터의 단면 구조도.
Claims (8)
- P형 실리콘 기판(30)상에 형성된 제1절연막(31)과, 상기 절연막(31)상에 형성된 N+폴리실리콘막(32)과, 상기 N+폴리실리콘막(32)상에 형성된 N-폴리실리콘막(33)과, N-폴리실리콘막(33)에 형성된 P-형 진성 베이스 영역(37-2)과 P-형 진성 베이스 영역(37-2)양측에 인접하여 형성된 P+형 외인성 베이스 영역(37-1)으로 된 베이스 영역(37)과, 상기 진성 베이스 영역(37-2)내에 형성된 P+형 에미터 영역(44)과, 베이스 영역(37) 및 콜렉터 콘택(41)을 제외한 N+폴리실리콘막(33)상에 형성된 제2절연막(34)과, 상기 절연막(34)상에 형성된 P+폴리실리콘막(35)과, P+폴리실리콘막(35)을 포함한 제2절연막(34)상에 형성된 에미터 식각창(38) 및 콜렉터 콘택(41)을 갖는 제3절연막(36)과, 에미터 식각창(38)의 측벽에 형성된 스페이서(40)와, 에미터 식각창(38)에서 에미터 영역(44)과 콘택되는 N+폴리실리콘막(42-1)과 콜렉터 콘택(41)에서 N-폴리실리콘막(33)과 콘택되는 N+폴리실리콘막(42-2)을 포함하는 것을 특징으로하는 NPN 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, N+형 폴리실리콘막(32)은 매몰층으로서의 역할을 하는 것을 특징으로하는 NPN 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, N-형 폴리실리콘막(33)은 에피택셜층으로서의 역할을 하는 것을 특징으로 하는 NPN 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, 제1절연막(31)이 필드 산화막인 것을 특징으로 하는 NPN 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, 제2절연막(34)은 소자분리영역의 역할을 하는 것을 특징으로 하는 NPN 트랜지스터.
- 제1항에 있어서, N+폴리실리콘막(32)과 N-폴리실리콘막(33)은 콜렉터 영역으로 작용하는 것을 특징으로 하는 NPN 트랜지스터.
- P형 기판(30)상에 제1절연막(31)을 형성하는 공정과, 제1절연막(31)상에 N+폴리실리콘막(32)과 N-폴리실리콘막(33)를 순차적으로 형성하는 공정과, 액티브 베이스 영역이 될 부분을 제외한 N-폴리실리콘막(33)상에 제2절연막(34)을 형성하는 공정과, 제2절연막(34)상에 P+폴리실리콘막(35)을 형성하는 공정과, P+폴리실리콘막(35)을 포함한 제2절연막(34)상에 제3절연막(36)을 형성하는공정과, 확산공정을 수행하여 N-형 폴리실리콘막(33)내에 P+형 외인성 베이스 영역(37-1)을 형성하는 공정과, 제3절연막(36)을 식각하여 에미터 영역이 형성될 부분에 에미터용 식각창(38)을 형성하는 공정과, 상기 식각창(38)을 통해 P 형 불순물(39)을 이온주입하여 P+형 외인성 베이스 영역(37-1)사이에 P-형 진성 베이스 영역(37-2)을 형성하는 공정과, 식각창(38)내의 측벽에 스페이서(40)를 형성하는 공정과, 제3산화막(36)을 식각하여 콜렉터용 콘택(41)을 형성하는 공정과, 상기 식각창(38)과 콜렉터 콘택(41)에만 N+폴리실리콘막(42-1), (42-2)을 형성하는 공정과, 기판 전면에 걸쳐 제4절연막(43)을 형성하는 공정과, 확산 공정을 수행하여 진성 베이스 영역(37-2)내에 N+형 에미터 영역(44)을 형성하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 NPN 트랜지스터의 제조방법.
- 제7항에 있어서, 제2절연막(31)을 산화막을 증착시켜 형성하거나 또는 로코스 공정을 수행하여 형성하는 것을 특징으로 하는 NPN 트랜지스터의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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- 1995-12-29 KR KR1019950067573A patent/KR0163088B1/ko not_active IP Right Cessation
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