KR970049553A - 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 버스기반의 다중프로세서 컴퓨터시스템에서 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드를 개시한다. 본 발명의 장치는 소정의 제어에 따라서 시험패턴 데이타를 저장하는 패턴레지스터; 소정의 제어에 따라서 어드레스를 발생하는 어드레스 발생기; 시험패턴 데이타를 저장하는 메모리모듈; 메모리모듈로부터 출력되는 데이타를 입력받아, 에러를 검출한 후 정정하는 에러검출 및 정정기; 패턴레지스터로부터 출력되는 시험패턴 데이타와 에러검출 및 정정기로부터 출력되는 데이타를 입력받아, 두 데이타를 비교하는 비교기; 비교기로부터 출력되는 결과에 따라서 에러가 발생한 위치에 에러 플래그를 세팅하는 에러레지스터; 및 시험패턴 데이타를 생성하고, 어드레스 발생기를 제어하며, 에러레지스터로부터 출력되는 에러 플래그를 입력받아 메모리모듈이 정상인지 여부를 판단하는 진단프로세서를 포함한다.
따라서, 본 발명은 별도의 외부신호의 입력없이 메모리모듈 자체적으로 시험할 수 있는 테스트로직을 구비함으로써, 메모리모듈에 대한 단락, 플로팅, 오동작 등의 이상유무를 쉽게 확인할 수 있는 잇점이 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 의한 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드의 구성을 보인 블럭도,
제2도는 제1도에 도시한 진단프로세서의 제어흐름도.
Claims (4)
- 소정의 제어에 따라서 시험패턴 데이타를 저장하는 패턴래지스터; 소정의 제어에 따라서 어드레스를 발생하는 어드레스 발생기; 상기 시험패턴 데이타를 저장하는 메모리모듈; 상기 메모리모듈로부터 출력되는 데이타를 입력받아, 에러를 검출한 후 정정하는 에러검출 및 정정기; 상기 패턴레지스터로부터 출력되는 시험패턴 데이타와 에러검출 및 정정기로부터 출력되는 데이타를 입력받아, 상기 데이타를 비교하는 비교기; 상기 비교기로부터 출력되는 결과에 따라서 에러가 발생한 위치에 에러 플래그를 세팅하는 에러레지스터; 및 상기 시험 패턴 데이타를 생성하며, 상기 어드레스 발생기를 제어하며, 상기 에러레지스터로부터 출력되는 에러 플래그를입력받아 메모리모듈이 정상인지 여부를 판단하는 진단프로세서를 포함하는 셀프테스트 기능을 갖는 메모리보드.
- 제1항에 있어서, 상기 진단프로세서는 상기 패턴레지스터에 저장되는 패턴 데이타를 반전하여 토글함을 특징으로 하는 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드.
- 제1항에 있어서, 상기 패턴레지스터와 비교기와 에러레지스터는 원칩(EPLD)으로 구성함을 특징으로 하는 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드.
- 제1항에 있어서, 상기 진단프로세서는 시험패턴 데이타를 상기 패턴래지스터에 저장하는 제1단계; 시험패턴 데이타를 상기 메모리모듈에 저장한 후 에러를 검출하여 정정하는 제2단계; 상기 패턴레지스터로부터 출력되는 시험패턴 데이타와 상기 에러검출 및 정정기로부터 출력되는 데이타를 비교하는 제3단계; 상기 제3단계에서 비교한 데이타가 동일하지 않으면 에러가 발생한 위치에 에러 플래그를 세팅한 후 상기 제3단계를 수행하는 제4단계; 및 상기 제3단계에서 비교한 데이타가 동일한 경우 마지막 데이타가 입력되면 종료하고, 그렇지 않으면 상기 제3단계를 반복하는 제5단계를 수행함을 특징으로 하는 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950066822A KR970049553A (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950066822A KR970049553A (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970049553A true KR970049553A (ko) | 1997-07-29 |
Family
ID=66637167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950066822A KR970049553A (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 셀프 테스트 기능을 갖는 메모리보드 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970049553A (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100459867B1 (ko) * | 2002-05-30 | 2004-12-03 | 주식회사 유니테스트 | 패턴 발생 기판 장치 |
| KR100491462B1 (ko) * | 1999-09-03 | 2005-05-25 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 시스템 온 칩 내에 내장된 아날로그/합성 신호 코어를테스트하는 방법 및 구조 |
-
1995
- 1995-12-29 KR KR1019950066822A patent/KR970049553A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100491462B1 (ko) * | 1999-09-03 | 2005-05-25 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 시스템 온 칩 내에 내장된 아날로그/합성 신호 코어를테스트하는 방법 및 구조 |
| KR100459867B1 (ko) * | 2002-05-30 | 2004-12-03 | 주식회사 유니테스트 | 패턴 발생 기판 장치 |
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