KR930003166A - 메모리 테스트 방법 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

메모리 테스트 방법

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 일반적인 램을 메모리 장치로 사용하는 시스템,

제3도는 본 발명에 따른 흐름도.

Claims (4)

1. 메모리 소자인 램을 사용하는 시스템의 메모리 테스트 방법에 있어서, 메모리의 테스트할 영역을 설정하여 테스트 패턴을 라이트 및 리드하는 제1과정과, 상기 제1과정에서 리드한 테스트 패턴과 라이트한 테스트 패턴을 비교하여 메모리 이상유무를 판단하는 제2과정과, 상기 제2과정에서 메모리 상태가 이상이 없을시 다른 명령어를 사용하지 않고 즉시 테스트 패턴을 클리어 시키는 제3과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 메모리 테스트 방법.
2. 제1항에 있어서, 제2과정이 리드한 테스트 패턴데이타와 라이트한 테스트 패턴 데이타를 비교하는 테이타 비교과정과, 상기 데이타 비교과정에서 비교한 두 데이타가 같을시 한 바이트의 테스트 패턴 데이타를 좌측으로 1비트씩 이동시켜 캐리 발생여부를 검사하는 캐리발생 검사과정과, 상기 캐리 발생검사과정에서 캐리가 발생될시 메모리의 양호상태를 표시하는 정상상태 검출과정과, 상기 데이타 비교과정에서 비교한 두 데이타가 다르고 상기 캐리발생 검사과정에서 캐리가 발생되지 않을시 메모리의 불량샹태를 표시하는 에러 검출과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 메모리 테스트 방법.
3. 제1항에 있어서, 제3과정이 캐리가 발생에 의해 테스트 패턴을 클리어 시킴을 특징으로 하는 메모리 테스트 방법.
4. 메모리 소자인 램을 사용하는 시스템의 메모리 테스트 방법에 있어서, 상기 메모리의 테스트 영역을 설정한 후 테스트 영역 내 1바이트 정보를 다른 영역으로 대피시키는 테스트 영역 설정과정과, 상기 테스트 영역 설정과정에서 테스트 영역을 설정하고 테스트 영역에 테스트 패턴을 라이트한 데이타와 리드한 데이타를 비교하는 테스트 패턴 비교과정과, 상기 테스트 패턴 비교과정에서 리드한 테스트 패턴 데이타와 라이트한 테스트 패턴 데이타를 비교한후 테스트 패턴을 좌측으로 비트단위로 이동시켜 캐리 발생 여부에 따라 메모리의 이상유무를 판별하는 메모리 이상유무 판단과정과, 상기 메모리 이상유무 판단과정에서 메모리 테스트 영역에 캐리가 발생되는 동시에 테스트 패턴을 클리어 시키는 테스트 패턴 클리어 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 메모리 테스트 방법.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.