KR970018118A - 감광막 현상방법 및 장치 - Google Patents

감광막 현상방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970018118A
KR970018118A KR1019950031817A KR19950031817A KR970018118A KR 970018118 A KR970018118 A KR 970018118A KR 1019950031817 A KR1019950031817 A KR 1019950031817A KR 19950031817 A KR19950031817 A KR 19950031817A KR 970018118 A KR970018118 A KR 970018118A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
developer
photosensitive film
developing method
film developing
concentration
Prior art date
Application number
KR1019950031817A
Other languages
English (en)
Inventor
이진섭
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950031817A priority Critical patent/KR970018118A/ko
Publication of KR970018118A publication Critical patent/KR970018118A/ko

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

본 발명은 노광후 한 배치내에서 서로 다른 농도를 갖는 현상액을 사용함으로써 고해상도 및 임계 면적(critical dimension)이 균일한 미세패턴을 형성하며, 생산성을 향상시킬 수 있는 감광막 현상방법에 관한 것으로서 초기에는 고농도의 현상액을 사용한 후 저농도의 현상액을 사용하는 방법과 초기에는 저농도의 현상액을 사용하고, 고농도의 현상액을 사용하는 방법을 사용함으로써 종래의 동일 농도로만 현상함으로 인한 문제점을 방지할 수 있다.

Description

감광막 현상방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 실시예에 따른 감광막 현상 공정도이다.

Claims (2)

  1. 노광이 완료된 웨이퍼를 서로 다른 농도를 갖는 현상액을 이용하여 현상하는 것을 특징으로 하는 감광막 현상방법.
  2. 웨이퍼가 장착되는 용기와 용기내에 장착된 웨이퍼를 고농도 현상액을 주입하기 위한 제1노즐과 용기내에 장착된 웨이퍼로 저농도 현상액을 주입하기 위한 제2노즐을 구비하는 것을 특징으로 하는 감광막 현상 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950031817A 1995-09-26 1995-09-26 감광막 현상방법 및 장치 KR970018118A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950031817A KR970018118A (ko) 1995-09-26 1995-09-26 감광막 현상방법 및 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950031817A KR970018118A (ko) 1995-09-26 1995-09-26 감광막 현상방법 및 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970018118A true KR970018118A (ko) 1997-04-30

Family

ID=66615922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950031817A KR970018118A (ko) 1995-09-26 1995-09-26 감광막 현상방법 및 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970018118A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100465868B1 (ko) * 2002-05-17 2005-01-13 주식회사 하이닉스반도체 웨이퍼의 패턴 형성 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100465868B1 (ko) * 2002-05-17 2005-01-13 주식회사 하이닉스반도체 웨이퍼의 패턴 형성 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6433543A (en) Pattern forming method
KR970018118A (ko) 감광막 현상방법 및 장치
KR970003412A (ko) 반도체 소자의 미세패턴 형성방법
KR970018110A (ko) 반도체장치의 패턴 형성방법
KR0160921B1 (ko) 레지스트 패턴의 형성방법
Long et al. Image reversal techniques with standard positive photoresist
KR950024260A (ko) 위상반전마스크 형성방법
KR910006782A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR970052747A (ko) 반도체 소자 제조용 감광막 현상 방법
KR970072014A (ko) 반도체 장치의 얼라인 키 패턴 형성방법
KR960002592A (ko) 반도체 소자의 제조방법
JPS58111318A (ja) 現像方法
KR960019546A (ko) 반도체 소자의 미세패턴 형성방법
KR950021040A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR950014983A (ko) 사진식각방법
KR970053218A (ko) 감광막 현상율 측정방법
KR930024116A (ko) 포토레지스터 현상방법
KR910001460A (ko) 포토레지스트의 측벽 프로파일 개선 방법
KR960002637A (ko) 감광막 제거방법
JPS57132008A (en) Measuring method for pattern size
KR920015445A (ko) 듀얼톤 감광막을 이용한 반도체 장치의 식각방법
KR960002656A (ko) 감광막 현상 방법
KR950015577A (ko) 반도체소자의 제조방법
KR950024261A (ko) 림(Rim)형 위상반전마시크 및 그 제조방법
JPH02269350A (ja) ポジ型レジスト及びレジストパターン形成方法

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination