KR970012771A - 플래쉬 메모리 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 플래쉬 메모리 장치에 관한 것으로, 멀티섹터의 소거 동작시 장상(Pass)으로 확인된 섹터의 어드레스를 기억시켜, 불량(Fail) 섹터의 발생으로 인한 재소거 동작시 정상(Pass)으로 확인된 섹터가 재소거되는 것을 방지하므로써, 셀의 과잉소거 및 스트레스가 방지되어 제품의 신뢰성 및 셀의 수명을 향상시킬 수 있도록 한 플래쉬 메모리 장치에 관한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 플래쉬 메모리 장치의 블록도.
Claims (6)
- 플래쉬 메모리 장치에 있어서, 섹터의 소거확인시 정상 및 불량임을 확인 하기 위한 검출회로와, 섹터를 선택하기 위한 섹터 어드레스 카운터회로와, 상기 검출회로 및 상기 섹터 어드레스 카운터회로의 출력신호를 각각 입력으로 하는 섹터 어드레스 발생회로와, 상기 섹터 어드레스 발생회로의 출력신호를 입력으로 하는 섹터 어드레스 디코더회로와, 상기 패스된 섹터의 어드레스 디코더회로의 출력 신호를 입력으로 하는 먹스회로로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 검출회로는 2입력을 갖는 낸드게이트와, 상기 낸드게이트의 출력을 입력으로 하는 반전게이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 섹터 어드레스 카운터는 클럭신호를 입력으로 하는 다수의 플립-플롭과, 상기 플립-플롭의 출력신호를 각각 입력으로 하는 다수의 3입력 낸드게이트와, 상기 3입력 낸드게이트의 출력신호를 각각 입력으로 하는 다수의 반전게이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 섹터 어드레스 발생회로는 2입력을 갖는 다수의 낸드게이트와, 다수의 반전게이트를 통해 상기 다수의 낸드게이트의 출력을 각각 입력으로 하는 다수의 플립-플롭과, 섹터를 소거하기 위한 인에이블신호를 입력으로 하며, 상기 다수의 플립-플롭을 구동하기 위한 펄스발생기로 구성된 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 섹터 어드레스 디코더는 다수의 반전게이트를 통해 다수의 섹터 어드레스를 각각 어느한 입력으로 하며, 다수의 프로텍션된 섹터 어드레스를 각각 다른한 입력으로 하는 다수의 2입력 낸드게이트와, 상기 2입력 낸드게이트의 출력신호를 각각 입력으로 하는 다수의 반전게이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.
- 상기 제1항에 있어서, 상기 먹스회로는 다수의 어드레스를 입력으로 하는 다수의 3입력 낸드게이트와, 다수의 반전게이트를 통해 상기 다수의 3입력 낸드게이트를 각각 어느 한 입력으로 하며, 다수의 프로텍션된 섹터 어드레스를 각각 다른한 입력으로 하는 다수의 2입력 낸드게이트와, 상기 2입력 낸드게이트의 출력신호를 각각 입력으로 하는 다수의 반전게이트로 구성되는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.※참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950024666A KR0172282B1 (ko) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 플래쉬 메모리 장치 |
GB9616709A GB2304216B (en) | 1995-08-10 | 1996-08-09 | Flash memory device |
US08/695,402 US5734611A (en) | 1995-08-10 | 1996-08-12 | Flash memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950024666A KR0172282B1 (ko) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 플래쉬 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970012771A true KR970012771A (ko) | 1997-03-29 |
KR0172282B1 KR0172282B1 (ko) | 1999-03-30 |
Family
ID=19423239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950024666A KR0172282B1 (ko) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 플래쉬 메모리 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5734611A (ko) |
KR (1) | KR0172282B1 (ko) |
GB (1) | GB2304216B (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5963479A (en) * | 1996-12-28 | 1999-10-05 | Hyundai Electronics Industries, Co., Ltd. | Method of erasing a flash memory cell and device for erasing the same |
US6449625B1 (en) * | 1999-04-20 | 2002-09-10 | Lucent Technologies Inc. | Use of a two-way stack approach to optimize flash memory management for embedded database systems |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5172338B1 (en) * | 1989-04-13 | 1997-07-08 | Sandisk Corp | Multi-state eeprom read and write circuits and techniques |
US5270979A (en) * | 1991-03-15 | 1993-12-14 | Sundisk Corporation | Method for optimum erasing of EEPROM |
JPH0778484A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-03-20 | Nkk Corp | 記憶素子、不揮発性メモリ、不揮発性記憶装置及びそれを用いた情報記憶方法 |
FR2718867B1 (fr) * | 1994-04-13 | 1996-05-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Procédé d'effacement d'une mémoire et circuits de mise en Óoeuvre. |
-
1995
- 1995-08-10 KR KR1019950024666A patent/KR0172282B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-08-09 GB GB9616709A patent/GB2304216B/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-12 US US08/695,402 patent/US5734611A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0172282B1 (ko) | 1999-03-30 |
GB2304216B (en) | 1999-09-29 |
GB9616709D0 (en) | 1996-09-25 |
US5734611A (en) | 1998-03-31 |
GB2304216A (en) | 1997-03-12 |
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