KR970012738A - 입출력라인의 전압제어방법 - Google Patents
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Abstract
1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
본 발명은 반도체 메모리장치에 관한 것으로, 특히 고속으로 데이타를 액세스하기 위하여 입출력라인의 출력전압을 피드백하여 부하트랜지스터를 제어하는 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압제어방법에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
종래의 경우 첫번째 컬럼선택라인이 인에이블되어 있는 전체시간동안 부하트랜지스터에서 직류전류를 계속 소모하여 전류소모가 큰 문제점이 있다. 또한 비트라인인 센스앰프가 입출력라인의 전압플립시 부하트랜지스터가 계속 턴온되어 있은 입출력라인이 VCC에서 소정의 전압레벨로 내려가는데 방해역할을 하여 입출력라인의 플립속도가 느린 문제점이 있다.
3. 발명의 해결방법의 요지
상기 입출력라인 센스앰프의 출력이 피드백되어 리드동작시 상시 입출력라인쌍에 로우상태전압을 일정레벨로 클램프시키기 위한 클램프수단을 구비하여 상기 입출력라인쌍을 각각 다르게 제어하여 상기 전류소비를 줄이고 입출력라인의 플립속도를 빠르게 가져갈 수 있었다.
4. 발명의 중요한 용도
고속동작 및 저전력 반도체 메모리장치.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 실시예에 따른 입출력라인의 전압제어방법을 보여주는 도면.
Claims (3)
- 다수의 메모리셀이 접속되는 다수의 비트라인쌍과, 상기 비트라인쌍에 접속되어 액세스동작시 비트라인쌍의 전압차이를 감지증폭하는 비트라인 센스앰프와, 컬럼선택게이트를 통하여 상기 비트라인쌍과 접속되는 입출력 라인쌍과, 상기 입출렬라인쌍과 접속되어 입출력라인쌍의 전압차이를 감지증폭하는 입출력라인 센스앰프와, 상기 입출력라인 센스앰프와 접속된 데이타라인쌍을 구비하는 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압제어방법에 있어서, 상기 입출력라인 센스앰프의 출력이 피드백되어 리드동작시 상기 입출력라인쌍에 로우상태전압을 접지전압과 전원전압 사이의 일정레벨로 클램프시키는 클램프수단을 구비하여 상기 입출력라인쌍을 각각 다르게 제어함을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압제어방법.
- 제1항에 있어서, 상기 입출력라인 센스앰프가 입력전압을 센싱하는 형태이고, 입출력라인 각각에 입출력 라인의 전압을 조절학 위한 부하가 존재하여 상기 입출력라인 센스앰프의 출력이 피드백되어 한쌍의 입출력 라인에 각각 연결된 2개의 부하가 상보적이 상태를 유지함을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압제어방법.
- 제1항에 있어서, 상기 입출력라인은 컬럼선태게이트의 연결수단과 상기 입출력라인 센스앰프 사이에 존재하고 1개 이상의 써모오스형 전송게이트를 통하여 연결된 경우, 상기 클램프수단이 컬럼선택게이트와 상기 입출력라인 센스앰프 사이에 존재함을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압제어방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950026186A KR0182966B1 (ko) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압 제어회로 및 방법 |
US08/702,356 US5751642A (en) | 1995-08-23 | 1996-08-23 | Voltage control circuit for input and output lines of semiconductor memory device |
JP8222623A JPH09139081A (ja) | 1995-08-23 | 1996-08-23 | 半導体メモリ装置の入出力ラインの電圧制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950026186A KR0182966B1 (ko) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압 제어회로 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970012738A true KR970012738A (ko) | 1997-03-29 |
KR0182966B1 KR0182966B1 (ko) | 1999-04-15 |
Family
ID=19424269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950026186A KR0182966B1 (ko) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | 반도체 메모리장치의 입출력라인 전압 제어회로 및 방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5751642A (ko) |
JP (1) | JPH09139081A (ko) |
KR (1) | KR0182966B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100670701B1 (ko) * | 2004-10-30 | 2007-01-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 저 전압용 반도체 메모리 장치 |
US8122302B2 (en) | 2005-11-28 | 2012-02-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device having adaptive power function |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3532153B2 (ja) * | 2000-12-22 | 2004-05-31 | 沖電気工業株式会社 | レベルシフタ制御回路 |
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US7330389B1 (en) * | 2005-02-03 | 2008-02-12 | Cypress Semiconductor Corp. | Address detection system and method that compensates for process, temperature, and/or voltage fluctuations |
US7372746B2 (en) | 2005-08-17 | 2008-05-13 | Micron Technology, Inc. | Low voltage sensing scheme having reduced active power down standby current |
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KR20140028556A (ko) | 2012-08-29 | 2014-03-10 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 차동 신호 전송 구조를 가진 반도체 집적회로 및 그의 구동방법 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2586723B2 (ja) * | 1990-10-12 | 1997-03-05 | 日本電気株式会社 | センスアンプ |
-
1995
- 1995-08-23 KR KR1019950026186A patent/KR0182966B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-08-23 US US08/702,356 patent/US5751642A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-23 JP JP8222623A patent/JPH09139081A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5751642A (en) | 1998-05-12 |
JPH09139081A (ja) | 1997-05-27 |
KR0182966B1 (ko) | 1999-04-15 |
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