KR970004917A - 불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법 - Google Patents

불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 I2C 버스 콘트롤을 사용하는 티브이에서 특정 IC의 불량발생시에 불량 IC를 바로 체크하여 수리할 수 있도록하므로서, 티브이 셋트의 손상을 미연에 방지하고자 하는 I2C 버스 콘트롤 회로의 불량 아이씨 체크방법에 관한 것이다.
종래 I2C 버스 콘트롤 회로의 불량 IC체크회로는 마이컴을 제외한 주변 IC(13A,13B,13C,....)들이 IC B+전압이상, X-TAL의 불량, 전기적 충격등에 의한 불량이 발생하게 되면, 마이컴이 크로텍트에 걸려 티브이 셋트가 온 되지 않고 스탠바이 상태로 되게 되는데, 이러한 티브이 셋트의 수리시 어떤 주변IC가 불량이 발생하였는지를 판단할 수 없기 때문에 주변IC부의 각 데이타 라인을 하나씩 체크하여야 하므로 수리의 어려움과 시간이 걸리게 되는 문제점이 있었다.
본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 마이컴에서 각 주변IC들로 체크신호를 송신하여 각 주변IC들로 부터 응답신호를 받아서 각 주변IC들의 불량상태를 파악할 수 있도록 함과 동시에 불량IC로 가는 데이타를 차단시켜 주므로서, 티브이 셋트의 더이상의 손상을 방지하고, 티브이를 수리함에 있어서도 용이해지도록 한 것이다.

Description

불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명 불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법을 구현하기 위한 회로의 블럭구성도.

Claims (1)

  1. 메인 루틴 실행중에 프로텍트가 걸려있는가를 판단하여 프로텍트가 걸려 있으면 프로텍트를 해제하게 되는제1과정과 제1과정 이후 첫 상위번지의 주변IC에 체크신호를 출력하여 첫 상위 번지의 주변IC로 출력한 체크신호에 의한첫 상위 번지의 주변IC에서 출력된 응답신호를 비교하게 되는 제3과정과, 제3과정 비교결과 체크신호와 응답신호가 다르면 첫 상위 번지로 출력되는 데이타를 락을 걸어주고, 첫 상위 2번지에 해당하는 주변IC를 메모리부(7)에 메모리한후, 다음 번지의 주변IC를 체크하기 위하여 상기의 제2과정을 반복수행하게 되는 제4과정과, 상기 제3과정 비교결과 체크신호와응답신호가 같으면 다음 번지의 주변IC를 체크하기 위하여 상기의 제2과정을 반복수행하게 되는 제5과정과, 마지막 N번지까지 체크가 완료되어지게 되면 첫 상위부터 마지막 N번지까지 락이 걸려있는 번지의 데이타는 전송하지 않고, 메인 루틴을 실행하게 되는 제6과정과, 메인 루틴이 완료되어지면 메모리부(7)에 있는 불량IC의 내역을 영상처리IC(4)를 통해CPT(5)에 표시하게 되는 제7과정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030005140A (ko) * 2001-07-05 2003-01-17 삼성전자 주식회사 아이스퀘어씨 통신을 이용한 자기진단 기능을 갖는전자기기 및 그 자기진단방법
KR101106169B1 (ko) * 2009-12-30 2012-01-20 삼신이노텍 주식회사 친환경 이어폰 코드
KR20190079664A (ko) * 2016-11-22 2019-07-05 폴리마테리아 리미티드 분해성 중합체 및 제조 방법

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