KR0163988B1 - 불량 아이씨 체크 방법 - Google Patents

불량 아이씨 체크 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR0163988B1
KR0163988B1 KR1019950015409A KR19950015409A KR0163988B1 KR 0163988 B1 KR0163988 B1 KR 0163988B1 KR 1019950015409 A KR1019950015409 A KR 1019950015409A KR 19950015409 A KR19950015409 A KR 19950015409A KR 0163988 B1 KR0163988 B1 KR 0163988B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
peripheral
check
address
defective
microcomputer
Prior art date
Application number
KR1019950015409A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970004917A (ko
Inventor
김상윤
Original Assignee
구자홍
엘지전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 구자홍, 엘지전자주식회사 filed Critical 구자홍
Priority to KR1019950015409A priority Critical patent/KR0163988B1/ko
Publication of KR970004917A publication Critical patent/KR970004917A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0163988B1 publication Critical patent/KR0163988B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2213/00Indexing scheme relating to interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F2213/0016Inter-integrated circuit (I2C)

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 I²C 버스 콘트롤을 사용하는 티브이에서 특정 IC의 불량발생시에 불량 IC를 바로 체크하여 수리할 수 있도록 하므로서, 티브이 셋트의 손상을 미연에 방지하고자 하는 I²C 버스 콘트롤 회로의 불량 아이씨 체크방법에 관한 것이다.
종래 I²C 버스 콘트롤 회로의 불량 IC체크회로는 마이컴을 제외한 주변 IC(13A,13B,13C,....)들이 IC B+전압이상, X-TAL의 불량, 전기적 충격등에 의한 불량이 발생하게 되면, 마이컴이 크로텍트에 걸려 티브이 셋트가 온 되지 않고 스탠바이 상태로 되게 되는데, 이러한 티브이 셋트의 수리시 어떤 주변IC가 불량이 발생하였는지를 판단할 수 없기 때문에 주변IC부의 각 데이타 라인을 하나씩 체크하여야 하므로 수리의 어려움과 시간이 걸리게 되는 문제점이 있었다.
본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 마이컴에서 각 주변IC들로 체크신호를 송신하여 각 주변IC들로 부터 응답신호를 받아서 각 주변IC들의 불량상태를 파악할 수 있도록 함과 동시에 불량IC로 가는 데이타를 차단시켜 주므로서, 티브이 셋트의 더이상의 손상을 방지하고, 티브이를 수리함에 있어서도 용이해지도록 한 것이다.

Description

불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법
제1도는 종래 불량 아이씨(IC) 체크(Check)회로의 블럭구성도.
제2도의 (a)(b)는 종래 불량 아이씨(IC) 체크(Check)회로에 있어서, 마이컴에서 출력되는 SCL, SDA의 데이타의 파형도.
제3도는 본 발명 불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법을 구현하기 위한 회로의 블럭구성도.
제4도는 본 발명 불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법의 과정을 보인 플로우챠트.
제5도는 본 발명 불량 아이씨(IC) 체크(Check)방법에 있어서, CPT에 표시되는 불량IC내역을 보인 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 마이컴 2 : SCL, SDA 라인
3 : 주변IC부 4 : 영상처리 IC
5 : CPT 6 : 체크라인
7 : 메모리부
본 발명은 아이 스퀘어 씨 버스 콘트롤(I²C Bus Control)을 사용하는 티브이에서 특정 IC의 불량발생시에 불량 IC를 바로 체크(Check)하여 수리할 수 있도록 하므로서, 티브이 셋트의 손상을 미연에 방지하고자 하는 불량 아이씨(IC) 체크(Check) 방법에 관한 것이다.
종래 불량 IC체크회로는 제1도에 도시된 바와같이, 마이컴(11)과 0∼N번지로 이루어진 다수개의 주변IC(13A,13B,13C...)로 구성되어 SCL, SDA데이타를 전송하도록 하는 데이타라인 SCL, SDA라인(12)을 통해 마이컴(11)으로 부터 제어를 받게 되는 주변IC부(13)와, R,G,B신호를 만들어 내는 영상처리 IC(14)와, 영상처리 IC(14)에서 만들어진 R,G,B 신호를 표시하게 되는 CPT(15)로 구성된다.
이와 같이 구성되는 종래 불량 IC체크회로는 마이컴(11)에서 주면 IC부(12)의 주변IC들을 제어하기 위하여 SDA, SCL라인(12)을 통해 0∼N번지로 지정되어 있는 각 주변IC(13A,13B,13C...)들에게 제2도의 (a)(b)와같은 데이타를 전송하게 된다.
상기와 같은 제2도의 (a)(b)와 같은 데이타를 전송하므로서, 각 주변 IC(13A,13B,13C...)들을 제어하게 되는바,
각 주변IC(13A,13B,13C..)에서는 마이컴(11)에서 각 주변IC(13A,13B,13C...) 들을 제어하기 위하여 SDA, SCL라인(12)을 통해 출력하는 제2도의 (a)에 도시된 체크신호(C1)와 (b)의 데이타 기간동안의 신호를 서로 비교하고, 비교된 신호를 자체 크리스탈(X-TAL) 발진 분주하여 내부에 비교된 데이타를 가지고 있게 된다.
이후, 상기의 각 주변 IC(13A,13B,13C...)의 내부에 저장된 데이타와, 마이컴(11)에서 출력되는 데이타를 비교하여 각 주변IC(13A,13B,13C...) 들이 구동되어지게된다.
그러나 이와같은 종래 불량 IC체크회로는 마이컴(11)을 제외한 주변IC (13A,13B,13C...)들이 IC B+전압이상, X-TAL의 불량, 전기적 충격 등에 의한 불량이 발생하게 되면, 마이컴(11)이 프로텍트(Protect)에 걸려 티브이 셋트가 온(On)이 되지 않고 스탠바이 상태로 되게되는데, 이러한 티브이 셋트의 수리시 어떤 주변IC가 불량이 발생하였는지를 판단할 수 없기 때문에 주변IC부(13)의 각 데이타라인을 하나씩 체크하여야 하므로 수리의 어려움과 시간이 걸리게 되는 문제점이 있었다.
본 발명은 이와같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 마이컴에서 각 주변IC들로 체크신호를 송신하여 각 주변IC들로 부터 응답신호를 받아서 각 주변IC들의 불량상태를 파악할 수 있도록 함과 동시에 불량IC로 가는 데이타를 차단시켜 주므로서, 티브이 셋트의 더이상의 손상을 방지하고, 티브이를 수리함에 있어서 용이하도록 하고자한 것이다.
본 발명 불량 아이씨(IC) 체크(Check) 방법은 제3도에 도시된 바와 같은 장치에 의하여 구현되어지게 되는 바, 제3도를 참조하여 그 구성부터 설명하면 다음과 같다.
마이컴(1)과 0∼N 번지로 이루어진 다수개의 주변IC(13A,13B,13C...)로 구성되어 SCL, SDA 데이타를 전송하도록 하는 데이타라인 SCL, SDA라인(2)을 통해 마이컴(1)으로 부터 제어를 받게되는 주변IC부(3)와, R,G,B신로를 만들어내는 영상처리 IC(4)와, 영상처리 IC(4)에서 만들어진 R,G,B신호를 표시하게 되는 CPT(5)로 구성된 I2C 버스 콘트롤회로에 있어서, 상기 마이컴(11)으로부터 주변IC부(13)으로 체크신호를 출력하여 각 주변IC(3A,3B,3C...)로 부터 응답신호를 받을 수 있도록 체크라인(6)을 형성시키고, 마이컴(1)에서 인식한 불량IC의 내역을 메모리하게 되는 메모리부(7)를 형성시키고, 메모리부(7)에 메모리된 불량IC 내역을 영상처리 IC(4)와, CPT(5)를 통하여 표시할 수 있도록 구성된다.
상기와 같이 구성되는 제3도의 장치와 제4도의 플로우챠트를 참조하여 마이컴에서 수행되는 본 발명 불량IC 체크방법의 과정 및 작용효과를 설명하면 다음과 같다.
메인 루틴(Main Routine) 실행중에 프로텍트가 걸려있는가를 판단하여 프로텍트가 걸려 있으면 프로텍트를 해제하게 되는 제1과정과, 제1과정이후 첫 상위 번지의 주변IC에 체크신호를 출력하여 첫 상위 번지의 주변IC로 출력한 체크신호에 의한 첫 상위 번지의 주변IC에서 출력된 응답신호를 비교하게 되는 제3과정과, 제3과정 비교결과 체크신호와 응답신호가 다르면 첫 상위번지의 주변IC를 불량IC로 판단하여 첫 상위 번지로 출력되는 데이타를 락(Lock)하여 데이타가 해당되는 번지에 데이타가 출력되어지지 않도록 하고, 첫 상위 번지에 해당하는 주변IC를 메모리부(7)에 메모리한 후, 다음 번지의 주변IC를 체크하기 위하여 상기의 제 2과정을 반복수행하게 되는 제4과정과, 상기 제 3과정 비교결과 체크신호와 응답신호가 같으면 다음 번지의 주변IC를 체크하기 위하여 상기의 제2과정을 반복 수행하게 되는 제5과정과, 마지막 N번지까지 체크가 완료되어지게되면 첫 상위 부터 마지막 N번지까지 락이 걸려있는 번지의 데이타는 전송하지 않고, 메인 루틴을 실행하게 되는 제6과정과, 메인 루틴이 완료되어지면 메모리부(7)에 메모리되어 있는 불량IC의 내역을 영상처리 IC(4)를 통해 CPT(5)에 표시하게 되는 제7과정으로 이루어 진다.
이와같은 과정으로 이루어지게 되는 본 발명은 티브이를 동작시키게되면, 마이컴(1)에서는 각 번지 락을 해제하도록 리셋(Reset)을 실행시키고, 주변IC부(3)의 각 주변IC(3A,3B,3C....)에 종래의 기술에서 설명한 바와 같이 제2도의 (a)(b)와 같은 SCL 및 SDA데이타를 전송하게 된다.
이때, 주변IC부(3)의 주변IC들중에 어떤 IC가 불량이 발생하게 되면 전송된 데이타가 접지(GND)되어버리기 때문에 응답되는 SDA신호가 없기 때문에 마이컴(1)은 프로텍트가 걸리게 되는 것이다.
상기와 같이 마이컴(1)이 프로텍트가 걸리게 되면 리셋으로 프로텍트를 해제하고, 각 주변IC(3A,3B,3C....)에 대한 체크동작을 수행하게 된다.
마이컴(1)에서 체크라인(6)을 통하여 체크신호를 첫 상위 번지인 0번지의 주변IC에 출력하게 되면, 0번지의 주변IC에서는 마이컴(1)으로부터 인가된 체크신호(6)를 자체 X-TAL을 분주해 만든 체크신호와 같은 응답신호를 마이컴(1)으로 출력하게 된다.
이후, 마이컴(1)에서는 0번지의 주변IC에서 출력된 응답신호와 체크신호를 비교하여 0번지에 해당하는 주변IC의 불량여부를 판단하게 되는 바, 체크신호와 응답신호가 다르게 되면 0번지의 주변IC는 불량으로 판단하여 0번지로 출력되는 데이타에 락을 걸고, 0번지에 해당하는 주변IC의 이름을 메모리부(7)에 기록하여 두고, 다음 번지의 주변IC에 대한 체크를 수행하게 된다.
이때 상기에서 체크신호와 응답신호가 같으면, 다음 번지의 주변IC에 대한 체크과정으로 이어지게 된다.
상기의 체크과정이 마지막 N번지까지 끝나게 되면 0∼N번지 까지의 메인 루틴을 수행하게 되는데, 각번지의 락의 유무를 판단하여 락이 걸려있는 번지의 데이타는 전송하지 않고, 락이 걸려있지 않은 번지만 데이타를 전송하게 된다.
메인 루틴이 N번지까지 실행이 완료되어지면 마이컴(1)에서는 메모리부(7)에 기록된 불량IC의 내역을 영상처리 IC(4)를 통하여 CPT(5)에 제5도와 같이 표시하여 시청자에게 알리게 된다.
이상에서 설명한 바와 같이 티브이를 동작시킬경우 주변IC의 불량으로 인하여 티브이에 이상이 발생하게 될 경우에 불량IC를 쉽게 찾아낼 수 있으므로 간단히 불량IC를 쉽게 교환하여 수리할 수 있게 되며, 또한 불량IC로 전송되는 데이타를 차단하여 주므로서, 티브이 셋트에 불량IC로 인한 더이상의 손상을 방지하게 되는 효과가 있는 것이다.

Claims (1)

  1. 메인 루틴 실행중에 프로텍트가 걸려있는가를 판단하여 프로텍트가 걸려 있으면 프로텍트를 해제하게 되는 제1과정과 제1과정 이후 첫 상위번지의 주변IC에 체크신호를 출력하여 첫 상위 번지의 주변IC로 출력한 체크신호에 의한 첫 상위 번지의 주변IC에서 출력된 응답신호를 비교하게 되는 제3과정과, 제3과정 비교결과 체크신호와 응답신호가 다르면 첫 상위 번지로 출력되는 데이타를 락을 걸어주고, 첫 상위 2번지에 해당하는 주변IC를 메모리부(7)에 메모리한후, 다음 번지의 주변IC를 체크하기 위하여 상기의 제2과정을 반복수행하게 되는 제4과정과, 상기 제3과정 비교결과 체크신호와 응답신호가 같으면 다음 번지의 주변IC를 체크하기 위하여 상기의 제2과정을 반복수행하게 되는 제5과정과, 마지막 N번지까지 체크가 완료되어지게 되면 첫 상위부터 마지막 N번지까지 락이 걸려있는 번지의 데이타는 전송하지 않고, 메인 루틴을 실행하게 되는 제6과정과, 메인 루틴이 완료되어지면 메모리부(7)에 있는 불량IC의 내역을 영상처리IC(4)를 통해 CPT(5)에 표시하게 되는 제7과정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 불량 아이씨(IC) 체크(Check) 방법.
KR1019950015409A 1995-06-12 1995-06-12 불량 아이씨 체크 방법 KR0163988B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950015409A KR0163988B1 (ko) 1995-06-12 1995-06-12 불량 아이씨 체크 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950015409A KR0163988B1 (ko) 1995-06-12 1995-06-12 불량 아이씨 체크 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970004917A KR970004917A (ko) 1997-01-29
KR0163988B1 true KR0163988B1 (ko) 1999-01-15

Family

ID=19416889

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950015409A KR0163988B1 (ko) 1995-06-12 1995-06-12 불량 아이씨 체크 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0163988B1 (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030005140A (ko) * 2001-07-05 2003-01-17 삼성전자 주식회사 아이스퀘어씨 통신을 이용한 자기진단 기능을 갖는전자기기 및 그 자기진단방법
KR101106169B1 (ko) * 2009-12-30 2012-01-20 삼신이노텍 주식회사 친환경 이어폰 코드
CA3044126C (en) * 2016-11-22 2021-06-29 Polymateria Limited Degradable polymer and method of production

Also Published As

Publication number Publication date
KR970004917A (ko) 1997-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI595466B (zh) 具有測試功能之顯示裝置及其中之驅動電路及其驅動方法
KR100296984B1 (ko) 전자제어장치용감시시스템
KR0163988B1 (ko) 불량 아이씨 체크 방법
EP0649027A2 (en) Resistance-measurement based arrangement for monitoring integrity of travel path ground link in electronic component handling apparatus
JP2019219221A (ja) 半導体集積回路、ブリッジチップ、ディスプレイシステム、自動車
CN115662360A (zh) 显示组件及其静电防护电路、显示屏、电子设备
US11508273B2 (en) Built-in test of a display driver
CN112995656B (zh) 用于图像处理电路的异常检测方法及系统
JP2006285913A (ja) メモリチェック装置及び画像形成装置
JP2842840B2 (ja) 半導体装置のバーンイン試験装置
JP2872113B2 (ja) 情報処理装置のマイクロ診断方式
JPH04339399A (ja) メモリテスタの救済アドレス解析回路
JP2005196515A (ja) 不揮発性メモリのデータ復旧方式
JP2000147058A (ja) 自己診断機能部を有するデバイス
JP2842839B2 (ja) 半導体装置のバーンイン試験装置
TWI622054B (zh) 記憶體自動修復電路
US7483326B2 (en) Apparatus and method for monitoring a state, in particular of a fuse
JPH11262037A (ja) パッケージ・グループのobp障害表示方式
JP3065001B2 (ja) バーンイン装置
JPH0782096B2 (ja) 使用時間記録装置
JPH0660885U (ja) 情報表示装置
JPS6138363Y2 (ko)
JPH01262486A (ja) 信号処理装置
JPS58153186A (ja) 自己診断装置
JP2004334707A (ja) メモリ検査装置およびメモリ検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080826

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee