TWI595466B

TWI595466B - 具有測試功能之顯示裝置及其中之驅動電路及其驅動方法

Info

Publication number: TWI595466B
Application number: TW105119497A
Authority: TW
Inventors: 陳健忠; 黃心聖
Original assignee: 立錡科技股份有限公司
Priority date: 2016-01-29
Filing date: 2016-06-22
Publication date: 2017-08-11
Also published as: KR20170090978A; US10170070B2; CN107025887A; KR101930593B1; US9947283B2; CN107025887B; US20180197498A1; US20170221440A1; TW201727607A

Description

具有測試功能之顯示裝置及其中之驅動電路及其驅動方法

本發明係有關一種顯示裝置，特別是指一種具有測試功能的顯示裝置。本發明也有關於用於顯示裝置中之驅動電路以及驅動方法。

第1圖中，美國專利 US20130328854 揭示一種先前技術之顯示裝置（顯示裝置300），其中處理器370監測輸入電壓與輸出電壓，並據以判斷其顯示電壓VOD是否短路，且在短路的狀況下，使電源開關元件不導通以切斷顯示電壓VOD。

第1圖中所示之先前技術，其缺點在於，僅藉由監測顯示裝置之電源供應端之輸入與輸出電壓，用以判斷顯示面板是否發生短路，需有較大的短路電流才能發生保護，無法有效偵測例如漏電等故障項目，且無法主動決定偵測的時間，亦無法提供各種不同的測試模式 (test pattern)。

第2圖顯示美國專利US8643993中，一種應用於顯示裝置之短路偵測電路之先前技術（短路偵測電路10），短路偵測電路10在顯像驅動控制訊號的前緣偵測驅動開關P1是否有過高的電流，並採取必要的處置。

第2圖中所示之先前技術，其缺點在於，短路偵測電路10僅於顯像驅動控制訊號之一小段期間，被動偵測短路是否發生，無法主動決定偵測的時間，亦無法提供各種不同的測試模式 (test pattern)。

第3圖顯示美國專利US20150194800中，一種具有過電流保護之顯示裝置之先前技術，過電流保護電路700在用以驅動顯示面板之時脈訊號的前緣，偵測時脈訊號是否有過高的電流，並採取必要的處置。

第3圖中所示之先前技術，其缺點在於，僅於顯像驅動時脈訊號之一小段期間，被動偵測過電流是否發生，無法主動決定偵測的時間，亦無法提供各種不同的測試模式 (test pattern)。

本發明相較於第1, 2 與3圖之先前技術，可在非顯像驅動之期間，主動提供並驅動具高度彈性與變化性之測試模式 (test pattern)，因此，本發明可偵測出較前述所有先前技術更為廣泛之故障種類，且較前述所有之先前技術而言，對於故障偵測具有較高之敏感度。

就其中一個觀點言，本發明提供了一種顯示裝置，包含：一顯示面板電路，其包含一面板負載線，該顯示面板電路具有一掃描顯像操作；以及一面板驅動電路，其根據一時間控制電路所產生之一顯示控制訊號以及一驅動電源電路所產生之驅動電壓及／或驅動電流，產生一面板負載驅動訊號，該面板負載驅動訊號耦接於該面板負載線，以驅動該顯示面板電路；其中該面板負載驅動訊號包括一測試驅動訊號以及一顯示驅動訊號；該面板驅動電路包括：一階段決定電路，其根據該顯示控制訊號，確定至少一測試階段，或確定至少一測試階段以及一掃描顯像階段，該階段決定電路並產生一階段決定訊號，其具有至少第一狀態與第二狀態，該第一狀態代表上述之測試階段、該第二狀態代表非該測試階段或代表該掃描顯像階段；其中該測試階段係為該顯示面板電路停止掃描顯像操作之部分時間；一驅動級電路，其具有一驅動開關組；以及一驅動邏輯電路，根據該顯示控制訊號及該階段決定訊號，進行以下之驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號，產生一開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之該驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號，用以驅動該面板負載線，使該顯示面板電路進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段之部分時間，根據一測試指令，產生該開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之一故障項目；其中之測試指令，係為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令。

在一較佳實施例中，該面板驅動電路更包括：一偵測判斷電路，其於該測試階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，藉以判斷該顯示面板電路之該故障項目，並產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)；該偵測判斷電路包含：一偵測比較電路，偵測該電氣特性而產生一偵測比較結果；以及一偵測邏輯電路，根據該偵測比較結果而判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標；其中該驅動級電路，根據該閂鎖故障狀態旗標，而停止產生該顯示驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止掃描顯像操作。

在一較佳實施例中，該電氣特性包含該面板負載線之一負載線電壓，及／或一負載線電壓變化率，及／或一負載線電流，及／或一負載線電流變化率；該故障項目包含該顯示面板電路之一短路，及／或一漏電流，及／或一過電流。

在一較佳實施例中，該偵測判斷電路更於該掃描顯像階段之部分時間，偵測該面板負載線之該電氣特性，藉以判斷該顯示面板電路之該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。

在一較佳實施例中，該驅動電壓包含一驅動高電壓與一驅動低電壓；該驅動開關組包含一正驅動開關以及一負驅動開關，該正驅動開關與該負驅動開關根據該開關控制訊號而分別切換該驅動高電壓與該驅動低電壓，而產生該面板負載驅動訊號；該偵測比較電路包含一正偵測電路以及一負偵測電路，該正偵測電路根據該面板負載線之該電氣特性以及該驅動高電壓而產生該偵測比較結果，該負偵測電路根據該面板負載線之該電氣特性以及該驅動低電壓而產生該偵測比較結果。

在一較佳實施例中，該顯示裝置，更包含一需保護之驅動級電路，且該顯示面板電路更包含一需保護之面板負載線，該需保護之驅動級電路和需保護之面板負載線需避免接受該測試驅動訊號；該需保護之驅動級電路根據該顯示控制訊號，而產生一需保護之面板負載驅動訊號，其耦接於該需保護之面板負載線，以驅動該顯示面板電路，使其進行該掃描顯像操作；其中該驅動邏輯電路更根據該階段決定訊號產生一測試階段遮罩訊號，該需保護之驅動級電路更根據由驅動邏輯電路所產生之該測試階段遮罩訊號，於該測試階段，將該顯示控制訊號遮罩而使該需保護之驅動級電路停止產生該需保護之面板負載驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止該掃描顯像操作。

在一較佳實施例中，該驅動邏輯電路於該測試階段期間之至少一第一部份時間，產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之該故障項目；該偵測判斷電路於該測試階段期間之至少一第二部份時間，偵測該電氣特性，藉以判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。

在一較佳實施例中，該第一部份時間與第二部份時間之關係至少包括以下之一：(A) 該第一部份時間與第二部份時間之起始時間與結束時間分別皆為相同；(B) 該第二部份時間包含該第一部份時間，且該第二部份時間之結束時間較之該第一部份時間為晚。

在一較佳實施例中，該測試階段包含至少以下之一：(1) 一初始化階段之部分時間，其中該初始化階段係指該顯示裝置於其一電源上升至一預設之工作電壓閾值以上開始，到第一次掃描顯像階段之前之一段時間； (2) 一顯示畫面間隔之部分時間，其中該顯示畫面間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各顯示畫面之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間；以及 (3) 一掃描線間隔之部分時間，其中該掃描線間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各掃描線之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間。

在一較佳實施例中，該顯示控制訊號包含一顯示畫面同步訊號及／或一掃描線同步訊號；該階段決定電路根據該顯示畫面同步訊號及／或該掃描線同步訊號而確定該測試階段，並產生該階段決定訊號。

在一較佳實施例中，該階段決定電路根據一測試模式訊號而確定該測試階段及／或產生該測試指令

就另一個觀點言，本發明也提供了一種面板驅動電路，用以驅動一顯示裝置，其中該顯示裝置包含：一顯示面板電路，其包含一面板負載線，該顯示面板電路具有一掃描顯像操作；該面板驅動電路，其根據一時間控制電路所產生之一顯示控制訊號以及一驅動電源電路所產生之驅動電壓及／或驅動電流，產生一面板負載驅動訊號，該面板負載驅動訊號耦接於該面板負載線，以驅動該顯示面板電路；其中該面板負載驅動訊號包括一測試驅動訊號以及一顯示驅動訊號；該面板驅動電路包括：一階段決定電路，其根據該顯示控制訊號，確定至少一測試階段，或確定至少一測試階段以及一掃描顯像階段，該階段決定電路並產生一階段決定訊號，其具有至少第一狀態與第二狀態，該第一狀態代表上述之測試階段、該第二狀態代表非該測試階段或代表該掃描顯像階段；其中該測試階段係為該顯示面板電路停止掃描顯像操作之部分時間；一驅動級電路，其具有一驅動開關組；以及一驅動邏輯電路，根據該顯示控制訊號及該階段決定訊號，進行以下之驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號，產生一開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之該驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號，用以驅動該面板負載線，使該顯示面板電路進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段之部分時間，根據一測試指令，產生該開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之一故障項目；其中該測試指令，係為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令。

就另一個觀點言，本發明也提供了一種用以驅動一顯示裝置之驅動方法，其中該顯示裝置包含：一顯示面板電路，其包含一面板負載線，該顯示面板電路具有一掃描顯像操作；該驅動方法包含：根據一時間控制電路所產生之一顯示控制訊號以及一驅動電源電路所產生之驅動電壓及／或驅動電流，產生一面板負載驅動訊號；以該面板負載驅動訊號驅動該面板負載線，以驅動該顯示面板電路；其中該面板負載驅動訊號包括一測試驅動訊號以及一顯示驅動訊號；其中，產生該面板負載驅動訊號之步驟包括：根據該顯示控制訊號，確定至少一測試階段，或確定至少一測試階段以及一掃描顯像階段；以及根據該顯示控制訊號，進行以下之驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號，切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號，用以驅動該面板負載線，使該顯示面板電路進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段之部分時間，根據一測試指令，切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之一故障項目；其中該測試指令，係為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令。

在一較佳實施例中，該驅動方法，更包括：於該測試階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，而產生一偵測比較結果；根據該偵測比較結果而判斷該故障項目；產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)；其中產生該顯示驅動訊號之步驟更包括：根據該閂鎖故障狀態旗標而控制停止產生該顯示驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止掃描顯像操作。

在一較佳實施例中，該驅動方法更包括：於該掃描顯像階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，而產生一偵測比較結果；根據該偵測比較結果而判斷該故障項目；產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)。

在一較佳實施例中，該顯示面板電路更包含一需保護之面板負載線，該需保護之面板負載線需避免接受該測試驅動訊號；該驅動方法更包含：根據該顯示控制訊號，而產生一需保護之面板負載驅動訊號；以及以該需保護之面板負載驅動訊號驅動該需保護之面板負載線，以驅動該顯示面板電路，使其進行該掃描顯像操作；其中產生該需保護之面板負載驅動訊號之步驟包含：於該測試階段，將該顯示控制訊號遮罩而停止產生該需保護之面板負載驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止該掃描顯像操作。

底下藉由具體實施例詳加說明，當更容易瞭解本發明之目的、技術內容、特點及其所達成之功效。

請參閱第4A圖，圖中所示為本發明之顯示裝置的一種實施例（顯示裝置1），顯示裝置1包含一顯示面板電路30（例如但不限於薄膜電晶體液晶顯示面板TFT LCD display panel）以及一面板驅動電路20；其中面板驅動電路20包括一驅動級電路21，顯示面板電路30包括一面板負載線MPNL；面板驅動電路20根據時間控制電路50所產生的顯示控制訊號DCTRL，用以控制驅動級電路21，使其切換一驅動電源電路40所產生之一驅動電壓VDRV及／或驅動電流IDRV，而於面板負載線MPNL上產生一面板負載驅動訊號MPLDS，用以驅動顯示面板電路30；顯示面板電路30具有一掃描顯像操作，在掃描顯像操作下，顯示面板電路30可例如但不限於以掃描線或掃描顯像顯示畫面之方式，呈現影像畫面。

在一實施例中，面板負載線MPNL可為例如但不限於液晶顯示面板之閘極線GL或源極線SL。而在顯示面板包含一陣列上閘極驅動電路(gate-driver on array, GOA)之一實施例中（顯示面板電路30’），請參閱第4B圖，所述之面板負載線MPNL亦可為陣列上閘極驅動電路31之閘極驅動輸入訊號，例如但不限於陣列上閘極驅動電路 31之位移暫存器之輸入訊號（未示出）。

由於例如但不限於顯示面板電路製程之不理想性或製程缺陷(defect)，可能會造成顯示面板電路之例如但不限於面板負載線MPNL或其他元件之短路或漏電，這些電路故障(failure)在生產過程中可藉由測試機台將部分具有缺陷的顯示面板檢測出來，然而仍有一定比例的顯示面板缺陷，在製程檢測步驟中，由於例如前述先前技術之限制，而無法被檢測出來，然而這些缺陷卻可能會在使用者使用顯示面板一段時間之後，由於例如但不限於施加於面板負載線MPNL或其他元件之高電壓，而使其劣化，並導致例如但不限於短路等故障，嚴重時可能造成冒煙或火焰，而危及使用者的安全，因此，本發明之顯示裝置提供了一種可在使用期間持續檢測故障的方法，且較佳地具有更多的故障檢測範圍與檢測敏感度，將詳述於後。

請繼續參閱第4A圖，本發明之顯示裝置1中，面板負載驅動訊號MPLDS包含一測試驅動訊號TDS以及一顯示驅動訊號DDS，其中，測試驅動訊號TDS和顯示驅動訊號DDS例如但不限於可以分時(序列)方式存在於面板負載驅動訊號MPLDS中、亦可以同時(並列)存在於面板負載驅動訊號MPLDS中。面板驅動電路20更包含一階段決定電路22(phase determining circuit)，一驅動邏輯電路23，以及一偵測判斷電路24；其中該階段決定電路22，根據該顯示控制訊號DCTRL，確定至少一測試階段(test phase)，並可確定一掃描顯像階段(scanning display phase)。亦即，顯示面板電路30既可在非使用中進行測試、亦可在使用中進行測試，在非使用中進行測試時，階段決定電路22只需要確定是否進入測試階段，而在使用中進行測試時，階段決定電路22可確定是否進入測試階段及是否進入掃描顯像階段，當在非使用中進行測試時，則前述顯示驅動訊號DDS可為空白或不存在。階段決定電路22可產生一階段決定訊號PS，其具有至少第一狀態與第二狀態，第一狀態代表上述之測試階段、第二狀態代表非該測試階段或代表該掃描顯像階段；在一實施例中，階段決定訊號PS可為例如但不限於一數位訊號，在此情況下，可由階段決定訊號PS之高位準與低位準代表上述之二種階段；該驅動邏輯電路23，根據該顯示控制訊號DCTRL及階段決定訊號PS，進行下列驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號DCTRL，產生一開關控制訊號VSW，用以控制該驅動級電路21之驅動開關組（未示出），以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號DDS，用以驅動該面板負載線MPNL，使該顯示面板電路30進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段，根據一測試指令，產生該開關控制訊號VSW，用以控制該驅動級電路21之驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流，而產生該測試驅動訊號TDS，用以驅動該一或以上之面板負載線MPNL，以測試該顯示面板電路30之一故障項目(failure item)。其中該測試階段係為該顯示面板電路30停止掃描顯像操作之部分時間，測試階段包含多種實施方式，將詳述於後；該偵測判斷電路24，於該測試階段，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，藉以判斷該顯示面板電路30之該故障項目，並產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標FSF (latched failure state flag)。

前述之測試指令可為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令，在一實施例中，該測試指令可為內建於本發明之顯示裝置中（例如但不限於階段決定電路22及或驅動邏輯電路23）之測試指令，而在一實施例中，如第4A圖所示，該測試指令可根據一測試模式訊號TMS(test mode signal)而產生。此外，測試指令可包含例如但不限於以下內容：對應不同測試階段之測試指令組，測試驅動訊號起始時間／期間，偵測起始時間／期間，測試驅動與偵測之測試模式與其組合，故障偵測之種類，故障判斷之計算與標準，各種故障項目相應之處置操作等。

前述該電氣特性包含：該一或以上之面板負載線之一負載線電壓，及／或一負載線電壓變化率，及／或一負載線電流，及／或一負載線電流變化率。

前述偵測判斷電路藉由所取得之電氣特性而判斷顯示面板電路30之故障項目，其中故障項目可例如但不限於為與該面板負載線MPNL有關之短路、漏電、過高電壓、過高電流，阻抗有不正常的改變等故障。

在一實施例中，本發明之顯示裝置根據該閂鎖故障狀態旗標FSF，可進行對應之保護操作，例如但不限於控制使顯示面板電路停止掃描顯像操作，或藉由驅動邏輯電路23控制驅動級電路21使其停止於面板負載線上MPNL產生面板負載驅動訊號MPLDS，或是控制驅動電源電路40使其停止產生驅動電壓VDRV及／或驅動電流IDRV，或是回報給前級電路，例如但不限於時間控制電路50，進而對該故障項目採取適當之回應等保護操作，或是冗餘修復 (redundancy repair)。

請參閱第4A圖，在一更具體的實施例中，偵測判斷電路24包含一偵測比較電路241以及一偵測邏輯電路242，其中，於測試階段之一或以上之部分時間，偵測比較電路241偵測該電氣特性而產生一偵測比較結果DCTO。在一實施例中，偵測比較電路241更於測試階段，根據上述之電氣特性而確定該負載線之一電氣特性組合，並將其與一故障電氣特性組合閾值相比較，產生該偵測比較結果DCTO，其中該電氣特性組合包含例如但不限於前述之負載線電壓／電流及其變化率之運算組合，舉例而言，該電氣特性組合可為負載線電壓與負載線電流運算而得之負載線阻抗。此外，在一實施例中，該偵測比較結果DCTO不僅根據上述電氣特性與對應之閾值比較，更可根據該偵測比較結果DCTO其超過閾值的期間而產生。

偵測邏輯電路242根據上述之偵測比較結果DCTO，判斷面板負載線MPNL之故障項目，且根據該故障項目而產生所述之閂鎖故障狀態旗標FSF。

前述閂鎖故障狀態旗標FSF之判斷，可為集合所有偵測比較結果，並做例如但不限於邏輯運算而得；在一實施例中，更可對偵測比較結果DCTO進行次數累積，當超過一次數累積閾值時，產生該閂鎖故障狀態旗標FSF。

需說明的是，本發明之顯示裝置，在一實施例中，偵測判斷電路24可以省略，在此情況下，前述故障項目之判斷，可藉由面板驅動電路20於測試階段所產生之測試驅動訊號TDS，驅動顯示面板電路30而顯示之圖形模式(pattern)所產生。

此外亦需說明的是，本發明之顯示裝置，不僅可於測試階段，在測試驅動訊號TDS於面板負載線MPNL進行測試驅動的同時或之後，進行故障項目的偵測判斷，在一實施例中，偵測判斷電路24亦可於掃描顯像階段，對面板負載線MPNL進行電氣特性之偵測以及故障項目判斷。

第5圖所示為本發明之顯示裝置之一更具體的實施例（顯示裝置2）；本實施例中，前述之面板負載線MPNL包含MPNL_1 ~MPNL_x，（其中x為一自然數，下同），前述之驅動電壓VDRV包含TDHV_1/TDLV_1 ~TDHV_x/TDLV_x，前述之面板負載驅動訊號MPLDS包含MPLDS_1~MPLDS_x，前述之開關控制訊號VSW包含SP1g/SN1g ~ SPxg/SNxg；其中驅動級電路21之驅動開關組包含正驅動開關SP1~SPx，以及負驅動開關SN1~SNx，正驅動開關SPx與負驅動開關SNx分別成對地耦接，用以於測試階段之一或以上之部分時間，切換驅動電壓TDHV_1~ TDHV_x與TDLV_1~ TDLV_x，而分別於面板負載線MPNL_1 ~MPNL_x上產生面板負載驅動訊號MPLDS_1~MPLDS_x；在一實施例中，TDHV_1~ TDHV_x耦接至同一電壓源而皆具有一相同之較高電壓，TDLV_1~ TDLV_x耦接至另一電壓源而皆具有一相同之較低電壓。在一實施例中，TDHV_1~ TDHV_x與TDLV_1~ TDLV_x可分別為相同或互不相同之驅動電壓。

請繼續參閱第5圖，驅動級電路21，進行下列驅動操作：(A)於掃描顯像階段之一或以上之部分時間，根據開關控制訊號VSW（本實施例中，VSW包含第5圖中之開關控制訊號SP1g~SPxg，SN1g~SNxg，分別用以控制對應之正驅動開關SP1~SPx，以及負驅動開關SN1~SNx，下同），用以控制該驅動級電路21之正驅動開關SP1~SPx，以及負驅動開關SN1~SNx，以切換驅動電壓組TDHV_1~ TDHV_x與TDLV_1~ TDLV_x，而產生顯示驅動訊號DDS_1~DDS_x（未示出，對應於前述之DDS），用以驅動面板負載線MPNL_1 ~MPNL_x，使該顯示面板電路30進行掃描顯像操作；(B) 於測試階段之一部分時間，根據測試指令所產生之開關控制訊號開關控制訊號SP1g~SPxg，SN1g~SNxg，用以控制該驅動級電路21之正驅動開關SP1~SPx，以及負驅動開關SN1~SNx，以切換驅動電壓組TDHV_1~ TDHV_x與TDLV_1~ TDLV_x，而產生測試驅動訊號TDS_1~TDS_x（未示出，對應於前述之TDS），用以驅動面板負載線MPNL_1 ~MPNL_x，以測試該顯示面板電路30之電氣特性。

請繼續參閱第5圖，偵測比較電路241更具體地包含了正偵測電路DCKTP_1~DCKTP_x，其分別對應於正驅動開關SP1~SPx，以及負偵測電路DCKTN_1~DCKTN_x，其分別對應於負驅動開關SN1~SNx，該正偵測電路DCKTP_1~DCKTP_x與負偵測電路DCKTN_1~DCKTN_x，根據該測試指令，於測試階段期間之另一部份時間，偵測對應之面板負載線之電氣特性，並用以產生偵測比較結果DCTO；在一實施例中，正偵測電路DCKTP_1~DCKTP_x與負偵測電路DCKTN_1~DCKTN_x更分別根據驅動電壓組TDHV_1~ TDHV_x與TDLV_1~ TDLV_x而產生偵測比較結果DCTO。

在一實施例中，測試階段可為顯示裝置（例如但不限於第4A, 5圖之顯示裝置1, 2）之初始化階段之部分或全部期間，如第6A圖所示，初始化階段係指，顯示裝置於其一電源（例如但不限於VIN）上升至一預設之工作電壓閾值UVLO以上開始，到第一次掃描顯像階段之前之一段時間，一般而言，顯示裝置之驅動電路及其前後級電路在初始化階段會進行各級電路的初始化過程。

第6B圖係對應於本發明之顯示裝置之一實施例之波形示意圖，如第6B圖所示，本實施例之測試階段係為顯示裝置（例如但不限於第4A, 5圖之顯示裝置1, 2）之初始化階段之一部分時間，且如圖所示，本發明之顯示裝置於初始化階段中之測試階段期間，分別於面板負載線MPNL_1 ~MPNL_x 產生對應之測試驅動訊號TDS_1~TDS_x，並偵測判斷電氣特性以及故障項目。

在一實施例中，本發明之顯示裝置，其測試階段可為介於掃描顯像操作之間的間隔時間(blanking time)之部分或全部時間，間隔可為例如但不限於顯示畫面間隔(display frame blanking)及／或掃描線間隔(scanning line blanking)，以第7A圖為例，顯示畫面間隔 n-1係指，顯示裝置於掃描顯像第n-1個顯示畫面結束之後，到開始掃描顯像第n個顯示畫面之前之一段時間，其中n為一自然數，其餘類推；類似地，掃描線間隔 m-1（未示出）係指，顯示裝置於掃描顯像第m-1條掃描線結束之後，到開始掃描顯像第m條掃描線之前之一段時間，其中m為一自然數，其餘類推；一般而言，顯示裝置及／或其前後級電路在間隔時間內不進行掃描顯像操作。

第7B圖係對應於本發明之顯示裝置（例如但不限於第4A, 5圖之顯示裝置1, 2）之一實施例之波形示意圖，如第7B圖所示，本實施例中，顯示畫面間隔 n-1中包含一測試階段，且於該測試階段期間，分別於面板負載線MPNL_1 ~MPNL_x 產生對應之測試驅動訊號TDS_1~TDS_x，並偵測判斷電氣特性以及故障項目。在一實施例中，本發明之顯示裝置可於複數個間隔時間中包含測試階段。

在一實施例中，顯示控制訊號DCTRL可包含顯示畫面同步訊號或掃描線同步訊號，其中顯示畫面間隔之開始與結束可藉由例如但不限於所述之顯示畫面同步訊號而得，而掃描線間隔之開始與結束可藉由例如但不限於所述之掃描線同步訊號而得。

在一實施例中，本發明之顯示裝置之測試階段，可包含「驅動且偵測模式」，請參閱第8圖，本發明之顯示裝置在「驅動且偵測模式」時，驅動級電路（例如但不限於第4A, 5圖之驅動級電路21）於測試階段中之一部分時間（如第8圖之TDRV），產生測試驅動訊號TDS以驅動面板負載線MPNL，而偵測判斷電路（例如但不限於第4A, 5圖之偵測判斷電路24）亦在TDRV期間，對面板負載線MPNL進行如前述之電氣特性偵測與故障項目判斷；其中偵測判斷電路所偵測之面板負載線，與測試驅動訊號所驅動之面板負載線，可為對應或非對應之負載線，舉例而言，如第5圖之顯示裝置，在一實施例中，面板負載線MPNL_1 於TDRV期間受到測試訊號TDS_1所驅動，而在TDRV期間，偵測判斷電路同時偵測面板負載線MPNL_1之電氣特性與故障項目；而在一實施例中，面板負載線MPNL_1於TDRV期間受到測試驅動訊號TDS_1所驅動，而在TDRV期間，偵測判斷電路偵測另一面板負載線（例如但不限於面板負載線MPNL_2）之電氣特性與故障項目；此外，如第8圖中之橫向虛線所示，在一實施例中，測試驅動訊號TDS之位準，可不同於顯示驅動訊號DDS 之位準。

在一實施例中，本發明之顯示裝置之測試階段，可包含「驅動與延長偵測模式」，請參閱第9圖，本發明之顯示裝置在「驅動與延長偵測模式」時，驅動級電路（例如但不限於第4A, 5圖之驅動級電路21）於測試階段中之一部分時間（如第9圖之TDRV），產生測試驅動訊號TDS以驅動面板負載線MPNL，並於TDRV期間結束後停止測試驅動訊號TDS，而偵測判斷電路（例如但不限於第4A, 5圖之偵測判斷電路24）則於測試階段中之另一部分時間（如第9圖之TED）期間進行如前述之電氣特性偵測與故障項目判斷，其中TED 較佳可為包含TDRV 並較其為延長之一段期間；其中所述之偵測判斷電路所偵測之面板負載線，與所述之驅動訊號所驅動之面板負載線，可為對應或非對應之負載線，舉例而言，如第5圖之顯示裝置，在一實施例中，面板負載線MPNL_1 於TDRV期間受到測試訊號TDS_1所驅動，而在TED期間，偵測判斷電路同時偵測面板負載線MPNL_1之電氣特性與故障項目；而在一實施例中，面板負載線MPNL_1於TDRV期間受到測試訊號TDS_1所驅動，而在TED期間，偵測判斷電路偵測另一面板負載線（例如但不限於面板負載線MPNL_2）之電氣特性與故障項目。

本發明之顯示裝置於測試階段，其可於單一或複數的面板負載線上，以測試驅動訊號TDS進行測試驅動，同時亦對相同的面板負載線進行偵測判斷，舉例而言，請參閱第10 圖，本發明之顯示裝置之測試階段，可包含「單線測試」模式，驅動級電路對面板負載線MPNL_x於測試階段以測試驅動訊號TDS_x進行測試驅動，且偵測電路DCKTP_x/DCKTN_x亦對MPNL_x 進行偵測；其中驅動與偵測之期間可配合上述之「驅動且偵測模式」或「驅動與延長偵測模式」。

在一實施例中，本發明之顯示裝置之測試階段，可包含「混和測試」模式，其中驅動級電路對複數面板負載線MPNL 中之一或複數之面板負載線，於測試階段，分別以TDS中對應之一或複數之測試驅動訊號同時進行測試驅動，且偵測判斷電路中之一或以上之偵測電路（例如但不限於第5圖中之成對的正偵測電路／負偵測電路）亦對複數面板負載線MPNL中之一或以上之面板負載線進行偵測；其中受測試驅動之一或以上之面板負載線，與受偵測之一或以上之面板負載線，可分別為相同及／或相異之面板負載線；其中驅動與偵測之期間可配合上述之「驅動且偵測模式」或「驅動與延長偵測模式」；舉例而言，請參閱第11 圖，在測試階段期間，MPNL_1，MPNL_2，MPNL_3與MPNL_x分別受面板負載驅動訊號MPLDS_1，MPLDS_2，MPLDS_3與MPLDS_x 驅動而進行「驅動且偵測模式」或「驅動與延長偵測模式」，其中於TT1期間，MPLDS_1，MPLDS_2，MPLDS_3與MPLDS_x之驅動位準分別為TDHV_1, TDLV_2, TDHV_3, TDLV_x，且偵測判斷電路同時進行偵測與判斷；而於TT2期間，MPLDS_1，MPLDS_2之驅動位準分別為TDLV_1, TDHV_2，MPNL_3與MPNL_x於TT2未受測試驅動訊號所驅動，但其對應之偵測電路DCKTP_3/DCKTN_3與DCKTP_x/DCKTN_x於TT2期間進行偵測，其餘類推，在此不予贅述。

本實施例有效地闡明了本發明的優點，由於本發明之顯示裝置之面板負載線之測試驅動與偵測皆於測試階段進行，而本發明之測試階段較佳為顯示裝置之初始化階段或掃描間隔，由於在這些測試階段期間，顯示裝置不進行掃描顯像操作，因此，驅動測試與偵測判斷的測試模式(test pattern)可具有多樣性的種類與組合變化，而可偵測判斷的電氣特性或故障項目，亦因此較佳地可包含非常廣泛之種類；舉例而言，本實施例之不同面板負載線之間，其驅動訊號可具相關性而對於偵測某特定故障項目具有更高的敏感度，例如，TT1期間，MPNL_1 與MPNL_2之測試驅動訊號位準分別為TDHV_1, TDLV_2 （例如但不限於TDHV_1 係為一較高之電壓，而TDLV_2係為一相對而言較低之電壓，或可為一負電壓），其較佳地可提高對例如但不限於存在於兩面板負載線之間的缺陷(defect)的偵測敏感度，例如但不限於在MPNL_1 與MPNL_2之間存在一製程缺陷而具有一漏電阻抗的情況下，由於TDHV_1與TDLV_2之間較大的電壓差，而可在面板負載線MPNL_1 與MPNL_2上獲得較大因而較容易偵測的電流，或是由於可獲得面板負載線MPNL_1 與MPNL_2之間的差動電流差，而使得本發明之顯示裝置具有較高的故障偵測敏感度；此外，又如於TT2期間，MPNL_3僅進行偵測，其可作為偵測判斷其他面板負載線（例如但不限於MPNL_1 與MPNL_2）之依據，或可做為延遲偵測判斷同一面板負載線MPNL_3 之依據，例如於TT1在面板負載線MPNL_3上施加位準為TDHV_3之測試驅動訊號，而延遲於TT2進行偵測判斷；本實施例或前述之「驅動與延長偵測模式」之實施例中之延遲偵測，使得本發明得以進行如前述之負載線電壓變化率及／或負載線電流變化率等電氣特性之時間變化率的偵測，因而較佳地具有更廣泛的故障項目偵測功能。

請參閱第12圖，在一實施例中，本發明之顯示裝置（顯示裝置3）之顯示面板電路30”更包含傳統面板負載線CPNL，而顯示裝置3更包含一傳統驅動級電路60。所謂「傳統」面板負載線CPNL，以及「傳統」驅動級電路，其中之「傳統」係指其具有顯像驅動之功能，但未包含如前述之本發明之測試驅動及偵測判斷之功能，因此若接受本發明的各種測試，可能會發生誤動作。此傳統驅動級電路和傳統面板負載線因不宜接受本發明的各種測試，因此可稱為「需保護之驅動級電路和面板負載線」。其中該傳統驅動級電路60根據顯示控制訊號DCTRL，而於傳統面板負載線CPNL上產生一傳統面板負載驅動訊號CPLDS，用以驅動顯示面板電路30”，使其進行顯像驅動操作，其中該傳統面板負載驅動訊號CPLDS需受保護而不宜包含本發明之各種測試訊號；其中該傳統驅動級電路60更根據由驅動邏輯電路23所產生之測試階段遮罩訊號TPMSK，於測試階段期間，將顯示控制訊號DCTRL之部分遮罩而使傳統驅動級電路60停止對顯示面板電路30”進行顯像驅動操作，以避免發生誤動作，例如但不限於在測試階段顯示出錯誤或混亂的影像，或與控制訊號DCTRL發生衝突。

以上已針對較佳實施例來說明本發明，唯以上所述者，僅係為使熟悉本技術者易於了解本發明的內容而已，並非用來限定本發明之權利範圍。所說明之各個實施例，並不限於單獨應用，亦可以組合應用；舉其中一例，「初始化階段之測試階段」和「顯示畫面間隔之測試階段」可以並用，使顯示裝置同時具有此二種測試階段，並可於不同階段進行不同之測試操作；又如，「驅動且偵測模式」和「驅動與延長偵測模式」可以並用；在上述並用之情況下，面板驅動電路可包含前述實施例之具體電路，以實現上述模式之組合。此外，在本發明之相同精神下，熟悉本技術者可以思及各種等效變化以及各種組合，舉例而言，前述之實施例中，係以初始化階段或顯示畫面間隔中之一段時間做為測試階段，但如其它形式的顯示間隔，例如使用者設定顯示面板顯示為黑畫面之時，亦可作為測試階段。又例如，本發明所稱「根據某訊號進行處理或運算或產生某輸出結果」，不限於根據該訊號的本身，亦包含於必要時，將該訊號進行電壓電流轉換、電流電壓轉換、及／或比例轉換等，之後根據轉換後的訊號進行處理或運算產生某輸出結果。由此可知，在本發明之相同精神下，熟悉本技術者可以思及各種等效變化以及各種組合，其組合方式甚多，在此不一一列舉說明。因此，本發明的範圍應涵蓋上述及其他所有等效變化。

1, 2, 3 顯示裝置 20 面板驅動電路 21 驅動級電路 22 階段決定電路 23 驅動邏輯電路 24 偵測判斷電路 241 偵測比較電路 242 偵測邏輯電路 30, 30’, 30” 顯示面板電路 31 陣列上閘極驅動電路 32 像素電路 40 驅動電源電路 50 時間控制電路 60 傳統驅動級電路 CPLDS 傳統面板負載驅動訊號 CPNL 傳統面板負載線 DCKTP_1~DCKTP_x 正偵測電路 DCKTN_1~DCKTN_x 負偵測電路 DCTO 偵測比較結果 DCTRL 顯示控制訊號 DDS 顯示驅動訊號 DDS_1~ DDS_x 顯示驅動訊號 FSF 閂鎖故障狀態旗標 GL 閘極線 IDRV 驅動電流 MPLDS 面板負載驅動訊號 MPNL 面板負載線 MPNL_1~ MPNL_x 面板負載線 PS 階段決定訊號 SL 源極線 SN1g~SNxg 開關控制訊號 SN1~SNx 負驅動開關 SP1g~SPxg 開關控制訊號 SP1~SPx 正驅動開關 TDHV_1~ TDHV_x 驅動電壓 TDLV_1~ TDLV_x 驅動電壓 TDRV, TED 時間期間 TDS 測試驅動訊號 TDS_1~ TDS_x 測試驅動訊號 TMS 測試模式訊號 TPMSK 測試階段遮罩訊號 TT1, TT2, TT3 時間期間 UVLO 預設之工作電壓閾值 VDRV 驅動電壓 VIN 電源 VSW 開關控制訊號

第1圖顯示一種具有短路保護之先前技術顯示裝置之方塊圖。第2圖顯示一種用於顯示裝置之先前技術短路偵測電路的示意圖。第3圖顯示一種具有過電流保護之先前技術之顯示裝置的示意圖。第4A圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置之一實施例方塊圖。第4B圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置，其中顯示面板電路之實施例。第5圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置之一具體實施例示意圖。第6A圖顯示先前技術顯示裝置之波形示意圖。第6B圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置之波形示意圖。第7A圖顯示先前技術顯示裝置之波形示意圖。第7B圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置之波形示意圖。第8-11圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置之波形示意圖。第12圖顯示本發明之具有測試功能之顯示裝置之一實施例方塊圖。

無

1 顯示裝置 20 面板驅動電路 21 驅動級電路 22 階段決定電路 23 驅動邏輯電路 24 偵測判斷電路 241 偵測比較電路 242 偵測邏輯電路 30 顯示面板電路 40 驅動電源電路 50 時間控制電路 DCTO 偵測比較結果 DCTRL 顯示控制訊號 DDS 顯示驅動訊號 FSF 閂鎖故障狀態旗標 IDRV 驅動電流 MPLDS 面板負載驅動訊號 MPNL 面板負載線 PS 階段決定訊號 TDS 測試驅動訊號 TMS 測試模式訊號 VDRV 驅動電壓 VIN 電源 VSW 開關控制訊號

Claims

一種顯示裝置，包含：一顯示面板電路，其包含一面板負載線，該顯示面板電路具有一掃描顯像操作；以及一面板驅動電路，其根據一時間控制電路所產生之一顯示控制訊號以及一驅動電源電路所產生之驅動電壓及／或驅動電流，產生一面板負載驅動訊號，該面板負載驅動訊號耦接於該面板負載線，以驅動該顯示面板電路；其中該面板負載驅動訊號包括一測試驅動訊號以及一顯示驅動訊號；該面板驅動電路包括：一階段決定電路，其根據該顯示控制訊號，確定至少一測試階段，或確定至少一測試階段以及一掃描顯像階段，該階段決定電路並產生一階段決定訊號，其具有至少第一狀態與第二狀態，該第一狀態代表上述之測試階段、該第二狀態代表非該測試階段或代表該掃描顯像階段；其中該測試階段係為該顯示面板電路停止掃描顯像操作之部分時間；一驅動級電路，其具有一驅動開關組；以及一驅動邏輯電路，根據該顯示控制訊號及該階段決定訊號，進行以下之驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號，產生一開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之該驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號，用以驅動該面板負載線，使該顯示面板電路進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段之部分時間，根據一測試指令，產生該開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之一故障項目；其中該測試指令，係為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令。
如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中該面板驅動電路更包括：一偵測判斷電路，其於該測試階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，藉以判斷該顯示面板電路之該故障項目，並產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)；該偵測判斷電路包含：一偵測比較電路，偵測該電氣特性而產生一偵測比較結果；以及一偵測邏輯電路，根據該偵測比較結果而判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標；其中該驅動級電路，根據該閂鎖故障狀態旗標，而停止產生該顯示驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止掃描顯像操作。
如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，其中該電氣特性包含該面板負載線之一負載線電壓，及／或一負載線電壓變化率，及／或一負載線電流，及／或一負載線電流變化率；該故障項目包含該顯示面板電路之一短路，及／或一漏電流，及／或一過電流。
如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，其中該偵測判斷電路更於該掃描顯像階段之部分時間，偵測該面板負載線之該電氣特性，藉以判斷該顯示面板電路之該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。
如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，其中該驅動電壓包含一驅動高電壓與一驅動低電壓；該驅動開關組包含一正驅動開關以及一負驅動開關，該正驅動開關與該負驅動開關根據該開關控制訊號而分別切換該驅動高電壓與該驅動低電壓，而產生該面板負載驅動訊號；該偵測比較電路包含一正偵測電路以及一負偵測電路，該正偵測電路根據該面板負載線之該電氣特性以及該驅動高電壓而產生該偵測比較結果，該負偵測電路根據該面板負載線之該電氣特性以及該驅動低電壓而產生該偵測比較結果。
如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，更包含一需保護之驅動級電路，且其中該顯示面板電路更包含一需保護之面板負載線，該需保護之驅動級電路和需保護之面板負載線需避免接受該測試驅動訊號；該需保護之驅動級電路根據該顯示控制訊號，而產生一需保護之面板負載驅動訊號，其耦接於該需保護之面板負載線，以驅動該顯示面板電路，使其進行該掃描顯像操作；其中該驅動邏輯電路更根據該階段決定訊號產生一測試階段遮罩訊號，該需保護之驅動級電路更根據由驅動邏輯電路所產生之該測試階段遮罩訊號，於該測試階段，將該顯示控制訊號遮罩而使該需保護之驅動級電路停止產生該需保護之面板負載驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止該掃描顯像操作。
如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，其中該驅動邏輯電路於該測試階段期間之至少一第一部份時間，產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之該故障項目；該偵測判斷電路於該測試階段期間之至少一第二部份時間，偵測該電氣特性，藉以判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。
如申請專利範圍第7項所述之顯示裝置，其中該第一部份時間與第二部份時間之關係至少包括以下之一：(A) 該第一部份時間與第二部份時間之起始時間與結束時間分別皆為相同；(B) 該第二部份時間包含該第一部份時間，且該第二部份時間之結束時間較之該第一部份時間為晚。
如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中該測試階段包含至少以下之一：(1) 一初始化階段之部分時間，其中該初始化階段係指該顯示裝置於其一電源上升至一預設之工作電壓閾值以上開始，到第一次掃描顯像階段之前之一段時間； (2) 一顯示畫面間隔之部分時間，其中該顯示畫面間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各顯示畫面之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間；以及 (3) 一掃描線間隔之部分時間，其中該掃描線間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各掃描線之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間。
如申請專利範圍第9項所述之顯示裝置，其中該顯示控制訊號包含一顯示畫面同步訊號及／或一掃描線同步訊號；該階段決定電路根據該顯示畫面同步訊號及／或該掃描線同步訊號而確定該測試階段，並產生該階段決定訊號。
如申請專利範圍第2項所述之顯示裝置，其中該階段決定電路根據一測試模式訊號而確定該測試階段及／或產生該測試指令。
一種面板驅動電路，用以驅動一顯示裝置，其中該顯示裝置包含：一顯示面板電路，其包含一面板負載線，該顯示面板電路具有一掃描顯像操作；該面板驅動電路，其根據一時間控制電路所產生之一顯示控制訊號以及一驅動電源電路所產生之驅動電壓及／或驅動電流，產生一面板負載驅動訊號，該面板負載驅動訊號耦接於該面板負載線，以驅動該顯示面板電路；其中該面板負載驅動訊號包括一測試驅動訊號以及一顯示驅動訊號；該面板驅動電路包括：一階段決定電路，其根據該顯示控制訊號，確定至少一測試階段，或確定至少一測試階段以及一掃描顯像階段，該階段決定電路並產生一階段決定訊號，其具有至少第一狀態與第二狀態，該第一狀態代表上述之測試階段、該第二狀態代表非該測試階段或代表該掃描顯像階段；其中該測試階段係為該顯示面板電路停止掃描顯像操作之部分時間；一驅動級電路，其具有一驅動開關組；以及一驅動邏輯電路，根據該顯示控制訊號及該階段決定訊號，進行以下之驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號，產生一開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之該驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號，用以驅動該面板負載線，使該顯示面板電路進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段之部分時間，根據一測試指令，產生該開關控制訊號，用以控制該驅動級電路之驅動開關組，以切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之一故障項目；其中該測試指令，係為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令。
如申請專利範圍第12項所述之面板驅動電路，更包括：一偵測判斷電路，其於該測試階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，藉以判斷該顯示面板電路之該故障項目，並產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)；該偵測判斷電路包含：一偵測比較電路，偵測該電氣特性而產生一偵測比較結果；以及一偵測邏輯電路，根據該偵測比較結果而判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標；其中該驅動級電路，根據該閂鎖故障狀態旗標，而停止產生該顯示驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止掃描顯像操作。
如申請專利範圍第13項所述之面板驅動電路，其中該電氣特性包含該面板負載線之一負載線電壓，及／或一負載線電壓變化率，及／或一負載線電流，及／或一負載線電流變化率；該故障項目包含該顯示面板電路之一短路，及／或一漏電流，及／或一過電流。
如申請專利範圍第13項所述之面板驅動電路，其中該偵測判斷電路更於該掃描顯像階段之部分時間，偵測該面板負載線之該電氣特性，藉以判斷該顯示面板電路之該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。
如申請專利範圍第13項所述之面板驅動電路，其中該驅動電壓包含一驅動高電壓與一驅動低電壓；該驅動開關組包含一正驅動開關以及一負驅動開關，該正驅動開關與該負驅動開關根據該開關控制訊號而分別切換該驅動高電壓與該驅動低電壓，而產生該面板負載驅動訊號；該偵測比較電路包含一正偵測電路以及一負偵測電路，該正偵測電路根據該面板負載線之該電氣特性以及該驅動高電壓而產生該偵測比較結果，該負偵測電路根據該面板負載線之該電氣特性以及該驅動低電壓而產生該偵測比較結果。
如申請專利範圍第13項所述之面板驅動電路，其中該顯示裝置，更包含一需保護之驅動級電路，且該顯示面板電路更包含一需保護之面板負載線，該需保護之驅動級電路和需保護之面板負載線需避免接受該測試驅動訊號；該需保護之驅動級電路根據該顯示控制訊號，而產生一需保護之面板負載驅動訊號，其耦接於該需保護之面板負載線，以驅動該顯示面板電路，使其進行該掃描顯像操作；其中該驅動邏輯電路更根據該階段決定訊號產生一測試階段遮罩訊號，該需保護之驅動級電路更根據由驅動邏輯電路所產生之該測試階段遮罩訊號，於該測試階段，將該顯示控制訊號遮罩而使該需保護之驅動級電路停止產生該需保護之面板負載驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止該掃描顯像操作。
如申請專利範圍第13項所述之面板驅動電路，其中該驅動邏輯電路於該測試階段期間之至少一第一部份時間，產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之該故障項目；該偵測判斷電路於該測試階段期間之至少一第二部份時間，偵測該電氣特性，藉以判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。
如申請專利範圍第18項所述之面板驅動電路，其中該第一部份時間與第二部份時間之關係至少包括以下之一：(A) 該第一部份時間與第二部份時間之起始時間與結束時間分別皆為相同；(B) 該第二部份時間包含該第一部份時間，且該第二部份時間之結束時間較之該第一部份時間為晚。
如申請專利範圍第12項所述之面板驅動電路，其中該測試階段包含至少以下之一：(1) 一初始化階段之部分時間，其中該初始化階段係指該顯示裝置於其一電源上升至一預設之工作電壓閾值以上開始，到第一次掃描顯像階段之前之一段時間； (2) 一顯示畫面間隔之部分時間，其中該顯示畫面間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各顯示畫面之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間；以及 (3) 一掃描線間隔之部分時間，其中該掃描線間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各掃描線之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間。
如申請專利範圍第20項所述之面板驅動電路，其中該顯示控制訊號包含一顯示畫面同步訊號及／或一掃描線同步訊號；該階段決定電路根據該顯示畫面同步訊號及／或該掃描線同步訊號而確定該測試階段，並產生該階段決定訊號。
如申請專利範圍第13項所述之面板驅動電路，其中該階段決定電路根據一測試模式訊號而確定該測試階段及／或產生該測試指令。
一種用以驅動一顯示裝置之驅動方法，其中該顯示裝置包含：一顯示面板電路，其包含一面板負載線，該顯示面板電路具有一掃描顯像操作；該驅動方法包含：根據一時間控制電路所產生之一顯示控制訊號以及一驅動電源電路所產生之驅動電壓及／或驅動電流，產生一面板負載驅動訊號；以該面板負載驅動訊號驅動該面板負載線，以驅動該顯示面板電路；其中該面板負載驅動訊號包括一測試驅動訊號以及一顯示驅動訊號；其中，產生該面板負載驅動訊號之步驟包括：根據該顯示控制訊號，確定至少一測試階段，或確定至少一測試階段以及一掃描顯像階段；以及根據該顯示控制訊號，進行以下之驅動操作：(A) 在具有掃描顯像階段的情況下，於該掃描顯像階段，根據該顯示控制訊號，切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該顯示驅動訊號，用以驅動該面板負載線，使該顯示面板電路進行掃描顯像操作；(B) 於該測試階段之部分時間，根據一測試指令，切換該驅動電壓及／或該驅動電流而產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線，以測試該顯示面板電路之一故障項目；其中該測試指令，係為一預設測試指令、或可調整之可程式化測試指令。
如申請專利範圍第23項所述之驅動方法，更包括：於該測試階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，而產生一偵測比較結果；根據該偵測比較結果而判斷該故障項目；產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)；其中產生該顯示驅動訊號之步驟更包括：根據該閂鎖故障狀態旗標而控制停止產生該顯示驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止掃描顯像操作。
如申請專利範圍第24項所述之驅動方法，其中該電氣特性包含該面板負載線之一負載線電壓，及／或一負載線電壓變化率，及／或一負載線電流，及／或一負載線電流變化率；該故障項目包含該顯示面板電路之一短路，及／或一漏電流，及／或一過電流。
如申請專利範圍第23項所述之驅動方法，更包括：於該掃描顯像階段之部分時間，根據該測試指令，偵測該面板負載線之一電氣特性(electrical characteristic)，而產生一偵測比較結果；根據該偵測比較結果而判斷該故障項目；產生一對應於該故障項目之一閂鎖故障狀態旗標(latched failure state flag)。
如申請專利範圍第24項所述之驅動方法，其中該顯示面板電路更包含一需保護之面板負載線，該需保護之面板負載線需避免接受該測試驅動訊號；該驅動方法更包含：根據該顯示控制訊號，而產生一需保護之面板負載驅動訊號；以及以該需保護之面板負載驅動訊號驅動該需保護之面板負載線，以驅動該顯示面板電路，使其進行該掃描顯像操作；其中產生該需保護之面板負載驅動訊號之步驟包含：於該測試階段，將該顯示控制訊號遮罩而停止產生該需保護之面板負載驅動訊號，進而使該顯示面板電路停止該掃描顯像操作。
如申請專利範圍第24項所述之驅動方法，其中測試該顯示面板電路之步驟更包含：於該測試階段期間之至少一第一部份時間，產生該測試驅動訊號，用以驅動該面板負載線；以及於該測試階段期間之至少一第二部份時間，偵測該電氣特性，藉以判斷該故障項目，並產生該閂鎖故障狀態旗標。
如申請專利範圍第28項所述之驅動方法，其中該第一部份時間與第二部份時間之關係至少包括以下之一：(A) 該第一部份時間與第二部份時間之起始時間與結束時間分別皆為相同；(B) 該第二部份時間包含該第一部份時間，且該第二部份時間之結束時間較之該第一部份時間為晚。
如申請專利範圍第23項所述之驅動方法，其中該測試階段包含至少以下之一：(1) 一初始化階段之部分時間，其中該初始化階段係指該顯示裝置於其一電源上升至一預設之工作電壓閾值以上開始，到第一次掃描顯像階段之前之一段時間； (2) 一顯示畫面間隔之部分時間，其中該顯示畫面間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各顯示畫面之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間；以及 (3) 一掃描線間隔之部分時間，其中該掃描線間隔係指，該顯示裝置以該掃描顯像操作進行掃描顯像各掃描線之間，停止該掃描顯像操作之間隔時間。
如申請專利範圍第30項所述之驅動方法，其中該顯示控制訊號包含一顯示畫面同步訊號及／或一掃描線同步訊號；其中確定該測試階段之步驟更包含：根據該顯示畫面同步訊號及／或該掃描線同步訊號而確定該測試階段。
如申請專利範圍第24項所述之驅動方法，更包含根據一測試模式訊號而確定該測試階段及／或產生該測試指令。