CN107025887B

CN107025887B - 具有测试功能的显示设备及其中的驱动电路及其驱动方法

Info

Publication number: CN107025887B
Application number: CN201610494497.6A
Authority: CN
Inventors: 陈健忠; 黄心圣
Original assignee: Richtek Technology Corp
Current assignee: Richtek Technology Corp
Priority date: 2016-01-29
Filing date: 2016-06-29
Publication date: 2019-07-26
Anticipated expiration: 2036-06-29
Also published as: KR101930593B1; US9947283B2; TWI595466B; CN107025887A; US20170221440A1; US10170070B2; TW201727607A; KR20170090978A; US20180197498A1

Abstract

本发明提出一种显示设备，包含：一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；以及一面板驱动电路，其根据该显示控制讯号，确定至少一测试阶段以及一扫描显像阶段，其中该测试阶段为该显示面板电路停止扫描显像操作的部分时间，该面板驱动电路于该测试阶段，根据一测试指令于该面板负载线产生一测试驱动讯号，且侦测一电气特性而用以判断该显示面板电路的一故障项目；该面板驱动电路于该扫描显像阶段，根据显示控制讯号于该面板负载线产生一显示驱动讯号，使该显示面板电路进行扫描显像操作。此外，本发明还提出一种用于显示设备中的驱动电路以及驱动方法。

Description

具有测试功能的显示设备及其中的驱动电路及其驱动方法

技术领域

本发明涉及一种显示设备，特别是指一种具有测试功能的显示设备。本发明也涉及用于显示设备中的驱动电路以及驱动方法。

背景技术

图1中，美国专利US20130328854揭示一种现有技术的显示设备(显示设备300)，其中处理器370监测输入电压与输出电压，并据以判断其显示电压VOD是否短路，且在短路的状况下，使电源开关元件不导通以切断显示电压VOD。

图1中所示的现有技术，其缺点在于，仅通过监测显示设备的电源供应端的输入与输出电压，用以判断显示面板是否发生短路，需有较大的短路电流才能发生保护，无法有效侦测例如漏电等故障项目，且无法主动决定侦测的时间，亦无法提供各种不同的测试模式(test pattern)。

图2显示美国专利US8643993中，一种应用于显示设备的短路侦测电路的现有技术(短路侦测电路10)，短路侦测电路10在显像驱动控制讯号的前缘侦测驱动开关P1是否有过高的电流，并采取必要的处置。

图2中所示的现有技术，其缺点在于，短路侦测电路10仅于显像驱动控制讯号的一小段期间，被动侦测短路是否发生，无法主动决定侦测的时间，亦无法提供各种不同的测试模式(test pattern)。

图3显示美国专利US20150194800中，一种具有过电流保护的显示设备的现有技术，过电流保护电路700在用以驱动显示面板的频率讯号的前缘，侦测频率讯号是否有过高的电流，并采取必要的处置。

图3中所示的现有技术，其缺点在于，仅于显像驱动频率讯号的一小段期间，被动侦测过电流是否发生，无法主动决定侦测的时间，亦无法提供各种不同的测试模式(testpattern)。

本发明相较于图1、2与3的现有技术，可在非显像驱动的期间，主动提供并驱动具高度弹性与变化性的测试模式(test pattern)，因此，本发明可侦测出较前述所有现有技术更为广泛的故障种类，且较前述所有的现有技术而言，对于故障侦测具有较高的敏感度。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足与缺陷，提出一种具有测试功能的显示设备及其中的驱动电路及其驱动方法，可在非显像驱动的期间，主动提供并驱动具高度弹性与变化性的测试模式(test pattern)，因此，本发明可侦测出较前述所有现有技术更为广泛的故障种类，且较前述所有的现有技术而言，对于故障侦测具有较高的敏感度。

为达上述目的，就其中一个观点言，本发明提供了一种显示设备，包含：一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；以及一面板驱动电路，其根据一时间控制电路所产生的一显示控制讯号以及一驱动电源电路所产生的驱动电压及/或驱动电流，产生一面板负载驱动讯号，该面板负载驱动讯号耦接于该面板负载线，以驱动该显示面板电路；其中该面板负载驱动讯号包括一测试驱动讯号以及一显示驱动讯号；该面板驱动电路包括：一阶段决定电路，其根据该显示控制讯号，确定至少一测试阶段，或确定至少一测试阶段以及一扫描显像阶段，该阶段决定电路并产生一阶段决定讯号，其具有至少第一状态与第二状态，该第一状态代表上述的测试阶段、该第二状态代表非该测试阶段或代表该扫描显像阶段；其中该测试阶段为该显示面板电路停止扫描显像操作的部分时间；一驱动级电路，其具有一驱动开关组；以及一驱动逻辑电路，根据该显示控制讯号及该阶段决定讯号，进行以下的驱动操作：(A)在具有扫描显像阶段的情况下，于该扫描显像阶段，根据该显示控制讯号，产生一开关控制讯号，用以控制该驱动级电路的该驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该显示驱动讯号，用以驱动该面板负载线，使该显示面板电路进行扫描显像操作；(B)于该测试阶段的部分时间，根据一测试指令，产生该开关控制讯号，用以控制该驱动级电路的驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的一故障项目；其中的测试指令，为一默认测试指令、或可调整的可程序化测试指令。

在一较佳实施例中，该面板驱动电路还包括：一侦测判断电路，其于该测试阶段的部分时间，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性(electricalcharacteristic)，藉以判断该显示面板电路的该故障项目，并产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标(latched failure state flag)；该侦测判断电路包含：一侦测比较电路，侦测该电气特性而产生一侦测比较结果；以及一侦测逻辑电路，根据该侦测比较结果而判断该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标；其中该驱动级电路，根据该闩锁故障状态旗标，而停止产生该显示驱动讯号，进而使该显示面板电路停止扫描显像操作。

在一较佳实施例中，该电气特性包含该面板负载线的一负载线电压，及/或一负载线电压变化率，及/或一负载线电流，及/或一负载线电流变化率；该故障项目包含该显示面板电路的一短路，及/或一漏电流，及/或一过电流。

在一较佳实施例中，该侦测判断电路还于该扫描显像阶段的部分时间，侦测该面板负载线的该电气特性，藉以判断该显示面板电路的该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标。

在一较佳实施例中，该驱动电压包含一驱动高电压与一驱动低电压；该驱动开关组包含一正驱动开关以及一负驱动开关，该正驱动开关与该负驱动开关根据该开关控制讯号而分别切换该驱动高电压与该驱动低电压，而产生该面板负载驱动讯号；该侦测比较电路包含一正侦测电路以及一负侦测电路，该正侦测电路根据该面板负载线的该电气特性以及该驱动高电压而产生该侦测比较结果，该负侦测电路根据该面板负载线的该电气特性以及该驱动低电压而产生该侦测比较结果。

在一较佳实施例中，该显示设备，还包含一需保护的驱动级电路，且该显示面板电路还包含一需保护的面板负载线，该需保护的驱动级电路和需保护的面板负载线需避免接受该测试驱动讯号；该需保护的驱动级电路根据该显示控制讯号，而产生一需保护的面板负载驱动讯号，其耦接于该需保护的面板负载线，以驱动该显示面板电路，使其进行该扫描显像操作；其中该驱动逻辑电路还根据该阶段决定讯号产生一测试阶段屏蔽讯号，该需保护的驱动级电路还根据由驱动逻辑电路所产生的该测试阶段屏蔽讯号，于该测试阶段，将该显示控制讯号屏蔽而使该需保护的驱动级电路停止产生该需保护的面板负载驱动讯号，进而使该显示面板电路停止该扫描显像操作。

在一较佳实施例中，该驱动逻辑电路于该测试阶段期间的至少一第一部分时间，产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的该故障项目；该侦测判断电路于该测试阶段期间的至少一第二部分时间，侦测该电气特性，藉以判断该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标。

在一较佳实施例中，该第一部分时间与第二部分时间的关系至少包括以下之一：(A)该第一部分时间与第二部分时间的起始时间与结束时间分别皆为相同；(B)该第二部分时间包含该第一部分时间，且该第二部分时间的结束时间较之该第一部分时间为晚。

在一较佳实施例中，该测试阶段包含至少以下之一：(1)一初始化阶段的部分时间，其中该初始化阶段指该显示设备于其一电源上升至一默认的工作电压阈值以上开始，到第一次扫描显像阶段之前的一段时间；(2)一显示画面间隔的部分时间，其中该显示画面间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各显示画面之间，停止该扫描显像操作的间隔时间；以及(3)一扫描线间隔的部分时间，其中该扫描线间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各扫描线之间，停止该扫描显像操作的间隔时间。

在一较佳实施例中，该显示控制讯号包含一显示画面同步讯号及/或一扫描线同步讯号；该阶段决定电路根据该显示画面同步讯号及/或该扫描线同步讯号而确定该测试阶段，并产生该阶段决定讯号。

在一较佳实施例中，该阶段决定电路根据一测试模式讯号而确定该测试阶段及/或产生该测试指令。

为达上述目的，就另一个观点言，本发明也提供了一种面板驱动电路，用以驱动一显示设备，其中该显示设备包含：一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；该面板驱动电路，其根据一时间控制电路所产生的一显示控制讯号以及一驱动电源电路所产生的驱动电压及/或驱动电流，产生一面板负载驱动讯号，该面板负载驱动讯号耦接于该面板负载线，以驱动该显示面板电路；其中该面板负载驱动讯号包括一测试驱动讯号以及一显示驱动讯号；该面板驱动电路包括：一阶段决定电路，其根据该显示控制讯号，确定至少一测试阶段，或确定至少一测试阶段以及一扫描显像阶段，该阶段决定电路并产生一阶段决定讯号，其具有至少第一状态与第二状态，该第一状态代表上述的测试阶段、该第二状态代表非该测试阶段或代表该扫描显像阶段；其中该测试阶段为该显示面板电路停止扫描显像操作的部分时间；一驱动级电路，其具有一驱动开关组；以及一驱动逻辑电路，根据该显示控制讯号及该阶段决定讯号，进行以下的驱动操作：(A)在具有扫描显像阶段的情况下，于该扫描显像阶段，根据该显示控制讯号，产生一开关控制讯号，用以控制该驱动级电路的该驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该显示驱动讯号，用以驱动该面板负载线，使该显示面板电路进行扫描显像操作；(B)于该测试阶段的部分时间，根据一测试指令，产生该开关控制讯号，用以控制该驱动级电路的驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的一故障项目；其中该测试指令，为一默认测试指令、或可调整的可程序化测试指令。

为达上述目的，就另一个观点言，本发明也提供了一种用以驱动一显示设备的驱动方法，其中该显示设备包含：一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；该驱动方法包含：根据一时间控制电路所产生的一显示控制讯号以及一驱动电源电路所产生的驱动电压及/或驱动电流，产生一面板负载驱动讯号；以该面板负载驱动讯号驱动该面板负载线，以驱动该显示面板电路；其中该面板负载驱动讯号包括一测试驱动讯号以及一显示驱动讯号；其中，产生该面板负载驱动讯号的步骤包括：根据该显示控制讯号，确定至少一测试阶段，或确定至少一测试阶段以及一扫描显像阶段；以及根据该显示控制讯号，进行以下的驱动操作：(A)在具有扫描显像阶段的情况下，于该扫描显像阶段，根据该显示控制讯号，切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该显示驱动讯号，用以驱动该面板负载线，使该显示面板电路进行扫描显像操作；(B)于该测试阶段的部分时间，根据一测试指令，切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的一故障项目；其中该测试指令，为一默认测试指令、或可调整的可程序化测试指令。

在一较佳实施例中，该驱动方法，还包括：于该测试阶段的部分时间，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性(electrical characteristic)，而产生一侦测比较结果；根据该侦测比较结果而判断该故障项目；产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标(latched failure state flag)；其中产生该显示驱动讯号的步骤还包括：根据该闩锁故障状态旗标而控制停止产生该显示驱动讯号，进而使该显示面板电路停止扫描显像操作。

在一较佳实施例中，该驱动方法还包括：于该扫描显像阶段的部分时间，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性(electrical characteristic)，而产生一侦测比较结果；根据该侦测比较结果而判断该故障项目；产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标(latched failure state flag)。

在一较佳实施例中，该显示面板电路还包含一需保护的面板负载线，该需保护的面板负载线需避免接受该测试驱动讯号；该驱动方法还包含：根据该显示控制讯号，而产生一需保护的面板负载驱动讯号；以及以该需保护的面板负载驱动讯号驱动该需保护的面板负载线，以驱动该显示面板电路，使其进行该扫描显像操作；其中产生该需保护的面板负载驱动讯号的步骤包含：于该测试阶段，将该显示控制讯号屏蔽而停止产生该需保护的面板负载驱动讯号，进而使该显示面板电路停止该扫描显像操作。

底下通过具体实施例详加说明，当更容易了解本发明的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。

附图说明

图1显示一种具有短路保护的现有技术显示设备的方块图；

图2显示一种用于显示设备的现有技术短路侦测电路的示意图；

图3显示一种具有过电流保护的现有技术的显示设备的示意图；

图4A显示本发明的具有测试功能的显示设备的一实施例方块图；

图4B显示本发明的具有测试功能的显示设备，其中显示面板电路的实施例；

图5显示本发明的具有测试功能的显示设备的一具体实施例示意图；

图6A显示现有技术显示设备的波形示意图；

图6B显示本发明的具有测试功能的显示设备的波形示意图；

图7A显示现有技术显示设备的波形示意图；

图7B显示本发明的具有测试功能的显示设备的波形示意图；

图8-11显示本发明的具有测试功能的显示设备的波形示意图；

图12显示本发明的具有测试功能的显示设备的一实施例方块图。

图中符号说明

1,2,3 显示设备

20 面板驱动电路

21 驱动级电路

22 阶段决定电路

23 驱动逻辑电路

24 侦测判断电路

241 侦测比较电路

242 侦测逻辑电路

30,30’,30” 显示面板电路

31 数组上栅极驱动电路

32 像素电路

40 驱动电源电路

50 时间控制电路

60 传统驱动级电路

CPLDS 传统面板负载驱动讯号

CPNL 传统面板负载线

DCKTP_1～DCKTP_x 正侦测电路

DCKTN_1～DCKTN_x 负侦测电路

DCTO 侦测比较结果

DCTRL 显示控制讯号

DDS 显示驱动讯号

DDS_1～DDS_x 显示驱动讯号

FSF 闩锁故障状态旗标

GL 栅极线

IDRV 驱动电流

MPLDS 面板负载驱动讯号

MPNL 面板负载线

MPNL_1～MPNL_x 面板负载线

PS 阶段决定讯号

SL 源极线

SN1g～SNxg 开关控制讯号

SN1～SNx 负驱动开关

SP1g～SPxg 开关控制讯号

SP1～SPx 正驱动开关

TDHV_1～TDHV_x 驱动电压

TDLV_1～TDLV_x 驱动电压

TDRV,TED 时间期间

TDS 测试驱动讯号

TDS_1～TDS_x 测试驱动讯号

TMS 测试模式讯号

TPMSK 测试阶段屏蔽讯号

TT1,TT2,TT3 时间期间

UVLO 默认的工作电压阈值

VDRV 驱动电压

VIN 电源

VSW 开关控制讯号

具体实施方式

请参阅图4A，图中所示为本发明的显示设备的一种实施例(显示设备1)，显示设备1包含一显示面板电路30(例如但不限于薄膜晶体管液晶显示面板TFT LCD displaypanel)以及一面板驱动电路20；其中面板驱动电路20包括一驱动级电路21，显示面板电路30包括一面板负载线MPNL；面板驱动电路20根据时间控制电路50所产生的显示控制讯号DCTRL，用以控制驱动级电路21，使其切换一驱动电源电路40所产生的一驱动电压VDRV及/或驱动电流IDRV，而于面板负载线MPNL上产生一面板负载驱动讯号MPLDS，用以驱动显示面板电路30；显示面板电路30具有一扫描显像操作，在扫描显像操作下，显示面板电路30可例如但不限于以扫描线或扫描显像显示画面的方式，呈现影像画面。

在一实施例中，面板负载线MPNL可为例如但不限于液晶显示面板的栅极线GL或源极线SL。而在显示面板包含一数组上栅极驱动电路(gate-driver on array,GOA)的一实施例中(显示面板电路30’)，请参阅图4B，所述的面板负载线MPNL亦可为数组上栅极驱动电路31的栅极驱动输入讯号，例如但不限于数组上栅极驱动电路31的位移缓存器的输入讯号(未示出)。

由于例如但不限于显示面板电路工艺的不理想性或工艺缺陷(defect)，可能会造成显示面板电路的例如但不限于面板负载线MPNL或其他元件的短路或漏电，这些电路故障(failure)在生产过程中可通过测试机台将部分具有缺陷的显示面板检测出来，然而仍有一定比例的显示面板缺陷，在工艺检测步骤中，由于例如前述现有技术的限制，而无法被检测出来，然而这些缺陷却可能会在用户使用显示面板一段时间之后，由于例如但不限于施加于面板负载线MPNL或其他元件的高电压，而使其劣化，并导致例如但不限于短路等故障，严重时可能造成冒烟或火焰，而危及使用者的安全，因此，本发明的显示设备提供了一种可在使用期间持续检测故障的方法，且较佳地具有更多的故障检测范围与检测敏感度，将详述于后。

请继续参阅图4A，本发明的显示设备1中，面板负载驱动讯号MPLDS包含一测试驱动讯号TDS以及一显示驱动讯号DDS，其中，测试驱动讯号TDS和显示驱动讯号DDS例如但不限于可以分时(序列)方式存在于面板负载驱动讯号MPLDS中、亦可以同时(并列)存在于面板负载驱动讯号MPLDS中。面板驱动电路20还包含一阶段决定电路22(phase determiningcircuit)，一驱动逻辑电路23，以及一侦测判断电路24；其中该阶段决定电路22，根据该显示控制讯号DCTRL，确定至少一测试阶段(test phase)，并可确定一扫描显像阶段(scanning display phase)。亦即，显示面板电路30既可在非使用中进行测试、亦可在使用中进行测试，在非使用中进行测试时，阶段决定电路22只需要确定是否进入测试阶段，而在使用中进行测试时，阶段决定电路22可确定是否进入测试阶段及是否进入扫描显像阶段，当在非使用中进行测试时，则前述显示驱动讯号DDS可为空白或不存在。阶段决定电路22可产生一阶段决定讯号PS，其具有至少第一状态与第二状态，第一状态代表上述的测试阶段、第二状态代表非该测试阶段或代表该扫描显像阶段；在一实施例中，阶段决定讯号PS可为例如但不限于一数字讯号，在此情况下，可由阶段决定讯号PS的高位准与低位准代表上述的二种阶段；该驱动逻辑电路23，根据该显示控制讯号DCTRL及阶段决定讯号PS，进行下列驱动操作：(A)在具有扫描显像阶段的情况下，于该扫描显像阶段，根据该显示控制讯号DCTRL，产生一开关控制讯号VSW，用以控制该驱动级电路21的驱动开关组(未示出)，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该显示驱动讯号DDS，用以驱动该面板负载线MPNL，使该显示面板电路30进行扫描显像操作；(B)于该测试阶段，根据一测试指令，产生该开关控制讯号VSW，用以控制该驱动级电路21的驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流，而产生该测试驱动讯号TDS，用以驱动该一或以上的面板负载线MPNL，以测试该显示面板电路30的一故障项目(failure item)。其中该测试阶段为该显示面板电路30停止扫描显像操作的部分时间，测试阶段包含多种实施方式，将详述于后；该侦测判断电路24，于该测试阶段，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性(electrical characteristic)，藉以判断该显示面板电路30的该故障项目，并产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标FSF(latched failure state flag)。

前述的测试指令可为一默认测试指令、或可调整的可程序化测试指令，在一实施例中，该测试指令可为内置于本发明的显示设备中(例如但不限于阶段决定电路22及或驱动逻辑电路23)的测试指令，而在一实施例中，如图4A所示，该测试指令可根据一测试模式讯号TMS(test mode signal)而产生。此外，测试指令可包含例如但不限于以下内容：对应不同测试阶段的测试指令组，测试驱动讯号起始时间/期间，侦测起始时间/期间，测试驱动与侦测的测试模式与其组合，故障侦测的种类，故障判断的计算与标准，各种故障项目相应的处置操作等。

前述该电气特性包含：该一或以上的面板负载线的一负载线电压，及/或一负载线电压变化率，及/或一负载线电流，及/或一负载线电流变化率。

前述侦测判断电路通过所取得的电气特性而判断显示面板电路30的故障项目，其中故障项目可例如但不限于为与该面板负载线MPNL有关的短路、漏电、过高电压、过高电流，阻抗有不正常的改变等故障。

在一实施例中，本发明的显示设备根据该闩锁故障状态旗标FSF，可进行对应的保护操作，例如但不限于控制使显示面板电路停止扫描显像操作，或通过驱动逻辑电路23控制驱动级电路21使其停止于面板负载线MPNL产生面板负载驱动讯号MPLDS，或是控制驱动电源电路40使其停止产生驱动电压VDRV及/或驱动电流IDRV，或是回报给前级电路，例如但不限于时间控制电路50，进而对该故障项目采取适当的响应等保护操作，或是冗余修复(redundancy repair)。

请参阅图4A，在一更具体的实施例中，侦测判断电路24包含一侦测比较电路241以及一侦测逻辑电路242，其中，于测试阶段之一或以上的部分时间，侦测比较电路241侦测该电气特性而产生一侦测比较结果DCTO。在一实施例中，侦测比较电路241更于测试阶段，根据上述的电气特性而确定该负载线的一电气特性组合，并将其与一故障电气特性组合阈值相比较，产生该侦测比较结果DCTO，其中该电气特性组合包含例如但不限于前述的负载线电压/电流及其变化率的运算组合，举例而言，该电气特性组合可为负载线电压与负载线电流运算而得的负载线阻抗。此外，在一实施例中，该侦测比较结果DCTO不仅根据上述电气特性与对应的阈值比较，更可根据该侦测比较结果DCTO其超过阈值的期间而产生。

侦测逻辑电路242根据上述的侦测比较结果DCTO，判断面板负载线MPNL的故障项目，且根据该故障项目而产生所述的闩锁故障状态旗标FSF。

前述闩锁故障状态旗标FSF的判断，可为集合所有侦测比较结果，并做例如但不限于逻辑运算而得；在一实施例中，更可对侦测比较结果DCTO进行次数累积，当超过一次数累积阈值时，产生该闩锁故障状态旗标FSF。

需说明的是，本发明的显示设备，在一实施例中，侦测判断电路24可以省略，在此情况下，前述故障项目的判断，可通过面板驱动电路20于测试阶段所产生的测试驱动讯号TDS，驱动显示面板电路30而显示的图形模式(pattern)所产生。

此外亦需说明的是，本发明的显示设备，不仅可于测试阶段，在测试驱动讯号TDS于面板负载线MPNL进行测试驱动的同时或之后，进行故障项目的侦测判断，在一实施例中，侦测判断电路24亦可于扫描显像阶段，对面板负载线MPNL进行电气特性的侦测以及故障项目判断。

图5所示为本发明的显示设备的一更具体的实施例(显示设备2)；本实施例中，前述的面板负载线MPNL包含MPNL_1～MPNL_x，(其中x为一自然数，下同)，前述的驱动电压VDRV包含TDHV_1/TDLV_1～TDHV_x/TDLV_x，前述的面板负载驱动讯号MPLDS包含MPLDS_1～MPLDS_x，前述的开关控制讯号VSW包含SP1g/SN1g～SPxg/SNxg；其中驱动级电路21的驱动开关组包含正驱动开关SP1～SPx，以及负驱动开关SN1～SNx，正驱动开关SPx与负驱动开关SNx分别成对地耦接，用以于测试阶段之一或以上的部分时间，切换驱动电压TDHV_1～TDHV_x与TDLV_1～TDLV_x，而分别于面板负载线MPNL_1～MPNL_x上产生面板负载驱动讯号MPLDS_1～MPLDS_x；在一实施例中，TDHV_1～TDHV_x耦接至同一电压源而皆具有一相同的较高电压，TDLV_1～TDLV_x耦接至另一电压源而皆具有一相同的较低电压。在一实施例中，TDHV_1～TDHV_x与TDLV_1～TDLV_x可分别为相同或互不相同的驱动电压。

请继续参阅图5，驱动级电路21，进行下列驱动操作：(A)于扫描显像阶段的一或以上的部分时间，根据开关控制讯号VSW(本实施例中，VSW包含图5中的开关控制讯号SP1g～SPxg，SN1g～SNxg，分别用以控制对应的正驱动开关SP1～SPx，以及负驱动开关SN1～SNx，下同)，用以控制该驱动级电路21的正驱动开关SP1～SPx，以及负驱动开关SN1～SNx，以切换驱动电压组TDHV_1～TDHV_x与TDLV_1～TDLV_x，而产生显示驱动讯号DDS_1～DDS_x(未示出，对应于前述的DDS)，用以驱动面板负载线MPNL_1～MPNL_x，使该显示面板电路30进行扫描显像操作；(B)于测试阶段之一部分时间，根据测试指令所产生的开关控制讯号开关控制讯号SP1g～SPxg，SN1g～SNxg，用以控制该驱动级电路21的正驱动开关SP1～SPx，以及负驱动开关SN1～SNx，以切换驱动电压组TDHV_1～TDHV_x与TDLV_1～TDLV_x，而产生测试驱动讯号TDS_1～TDS_x(未示出，对应于前述的TDS)，用以驱动面板负载线MPNL_1～MPNL_x，以测试该显示面板电路30的电气特性。

请继续参阅图5，侦测比较电路241更具体地包含了正侦测电路DCKTP_1～DCKTP_x，其分别对应于正驱动开关SP1～SPx，以及负侦测电路DCKTN_1～DCKTN_x，其分别对应于负驱动开关SN1～SNx，该正侦测电路DCKTP_1～DCKTP_x与负侦测电路DCKTN_1～DCKTN_x，根据该测试指令，于测试阶段期间的另一部分时间，侦测对应的面板负载线的电气特性，并用以产生侦测比较结果DCTO；在一实施例中，正侦测电路DCKTP_1～DCKTP_x与负侦测电路DCKTN_1～DCKTN_x还分别根据驱动电压组TDHV_1～TDHV_x与TDLV_1～TDLV_x而产生侦测比较结果DCTO。

在一实施例中，测试阶段可为显示设备(例如但不限于图4A,5的显示设备1,2)的初始化阶段的部分或全部期间，如图6A所示，初始化阶段指，显示设备于其一电源(例如但不限于VIN)上升至一默认的工作电压阈值UVLO以上开始，到第一次扫描显像阶段之前的一段时间，一般而言，显示设备的驱动电路及其前后级电路在初始化阶段会进行各级电路的初始化过程。

图6B对应于本发明的显示设备的一实施例的波形示意图，如图6B所示，本实施例的测试阶段为显示设备(例如但不限于图4A,5的显示设备1,2)的初始化阶段的一部分时间，且如图所示，本发明的显示设备于初始化阶段中的测试阶段期间，分别于面板负载线MPNL_1～MPNL_x产生对应的测试驱动讯号TDS_1～TDS_x，并侦测判断电气特性以及故障项目。

在一实施例中，本发明的显示设备，其测试阶段可为介于扫描显像操作之间的间隔时间(blankingtime)的部分或全部时间，间隔可为例如但不限于显示画面间隔(displayframe blanking)及/或扫描线间隔(scanning line blanking)，以图7A为例，显示画面间隔n-1指，显示设备于扫描显像第n-1个显示画面结束之后，到开始扫描显像第n个显示画面之前的一段时间，其中n为一自然数，其余类推；类似地，扫描线间隔m-1(未示出)指，显示设备于扫描显像第m-1条扫描线结束之后，到开始扫描显像第m条扫描线之前的一段时间，其中m为一自然数，其余类推；一般而言，显示设备及/或其前后级电路在间隔时间内不进行扫描显像操作。

图7B对应于本发明的显示设备(例如但不限于图4A,5的显示设备1,2)的一实施例的波形示意图，如图7B所示，本实施例中，显示画面间隔n-1中包含一测试阶段，且于该测试阶段期间，分别于面板负载线MPNL_1～MPNL_x产生对应的测试驱动讯号TDS_1～TDS_x，并侦测判断电气特性以及故障项目。在一实施例中，本发明的显示设备可于多个间隔时间中包含测试阶段。

在一实施例中，显示控制讯号DCTRL可包含显示画面同步讯号或扫描线同步讯号，其中显示画面间隔的开始与结束可通过例如但不限于所述的显示画面同步讯号而得，而扫描线间隔的开始与结束可通过例如但不限于所述的扫描线同步讯号而得。

在一实施例中，本发明的显示设备的测试阶段，可包含“驱动且侦测模式”，请参阅图8，本发明的显示设备在“驱动且侦测模式”时，驱动级电路(例如但不限于图4A,5的驱动级电路21)于测试阶段中的一部分时间(如图8的TDRV)，产生测试驱动讯号TDS以驱动面板负载线MPNL，而侦测判断电路(例如但不限于图4A,5的侦测判断电路24)亦在TDRV期间，对面板负载线MPNL进行如前述的电气特性侦测与故障项目判断；其中侦测判断电路所侦测的面板负载线，与测试驱动讯号所驱动的面板负载线，可为对应或非对应的负载线，举例而言，如图5的显示设备，在一实施例中，面板负载线MPNL_1于TDRV期间受到测试讯号TDS_1所驱动，而在TDRV期间，侦测判断电路同时侦测面板负载线MPNL_1的电气特性与故障项目；而在一实施例中，面板负载线MPNL_1于TDRV期间受到测试驱动讯号TDS_1所驱动，而在TDRV期间，侦测判断电路侦测另一面板负载线(例如但不限于面板负载线MPNL_2)的电气特性与故障项目；此外，如图8中的横向虚线所示，在一实施例中，测试驱动讯号TDS的位准，可不同于显示驱动讯号DDS的位准。

在一实施例中，本发明的显示设备的测试阶段，可包含“驱动与延长侦测模式”，请参阅图9，本发明的显示设备在“驱动与延长侦测模式”时，驱动级电路(例如但不限于图4A,5的驱动级电路21)于测试阶段中的一部分时间(如图9的TDRV)，产生测试驱动讯号TDS以驱动面板负载线MPNL，并于TDRV期间结束后停止测试驱动讯号TDS，而侦测判断电路(例如但不限于图4A,5的侦测判断电路24)则于测试阶段中的另一部分时间(如图9的TED)期间进行如前述的电气特性侦测与故障项目判断，其中TED较佳可为包含TDRV并较其为延长的一段期间；其中所述的侦测判断电路所侦测的面板负载线，与所述的驱动讯号所驱动的面板负载线，可为对应或非对应的负载线，举例而言，如图5的显示设备，在一实施例中，面板负载线MPNL_1于TDRV期间受到测试讯号TDS_1所驱动，而在TED期间，侦测判断电路同时侦测面板负载线MPNL_1的电气特性与故障项目；而在一实施例中，面板负载线MPNL_1于TDRV期间受到测试讯号TDS_1所驱动，而在TED期间，侦测判断电路侦测另一面板负载线(例如但不限于面板负载线MPNL_2)的电气特性与故障项目。

本发明的显示设备于测试阶段，其可于单一或多个的面板负载线，以测试驱动讯号TDS进行测试驱动，同时亦对相同的面板负载线进行侦测判断，举例而言，请参阅图10，本发明的显示设备的测试阶段，可包含「单线测试」模式，驱动级电路对面板负载线MPNL_x于测试阶段以测试驱动讯号TDS_x进行测试驱动，且侦测电路DCKTP_x/DCKTN_x亦对MPNL_x进行侦测；其中驱动与侦测的期间可配合上述的“驱动且侦测模式”或“驱动与延长侦测模式”。

在一实施例中，本发明的显示设备的测试阶段，可包含“混和测试”模式，其中驱动级电路对多个面板负载线MPNL中之一或多个的面板负载线，于测试阶段，分别以TDS中对应的一或多个的测试驱动讯号同时进行测试驱动，且侦测判断电路中之一或以上的侦测电路(例如但不限于图5中的成对的正侦测电路/负侦测电路)亦对多个面板负载线MPNL中的一或以上的面板负载线进行侦测；其中受测试驱动的一或以上的面板负载线，与受侦测的一或以上的面板负载线，可分别为相同及/或相异的面板负载线；其中驱动与侦测的期间可配合上述的“驱动且侦测模式”或“驱动与延长侦测模式”；举例而言，请参阅图11，在测试阶段期间，MPNL_1，MPNL_2，MPNL_3与MPNL_x分别受面板负载驱动讯号MPLDS_1，MPLDS_2，MPLDS_3与MPLDS_x驱动而进行“驱动且侦测模式”或“驱动与延长侦测模式”，其中于TT1期间，MPLDS_1，MPLDS_2，MPLDS_3与MPLDS_x的驱动位准分别为TDHV_1,TDLV_2,TDHV_3,TDLV_x，且侦测判断电路同时进行侦测与判断；而于TT2期间，MPLDS_1，MPLDS_2的驱动位准分别为TDLV_1,TDHV_2，MPNL_3与MPNL_x于TT2未受测试驱动讯号所驱动，但其对应的侦测电路DCKTP_3/DCKTN_3与DCKTP_x/DCKTN_x于TT2期间进行侦测，其余类推，在此不予赘述。

本实施例有效地阐明了本发明的优点，由于本发明的显示设备的面板负载线的测试驱动与侦测皆于测试阶段进行，而本发明的测试阶段较佳为显示设备的初始化阶段或扫描间隔，由于在这些测试阶段期间，显示设备不进行扫描显像操作，因此，驱动测试与侦测判断的测试模式(test pattern)可具有多样性的种类与组合变化，而可侦测判断的电气特性或故障项目，亦因此较佳地可包含非常广泛的种类；举例而言，本实施例的不同面板负载线之间，其驱动讯号可具相关性而对于侦测某特定故障项目具有更高的敏感度，例如，TT1期间，MPNL_1与MPNL_2的测试驱动讯号位准分别为TDHV_1,TDLV_2(例如但不限于TDHV_1为一较高的电压，而TDLV_2为一相对而言较低的电压，或可为一负电压)，其较佳地可提高对例如但不限于存在于两面板负载线之间的缺陷(defect)的侦测敏感度，例如但不限于在MPNL_1与MPNL_2之间存在一工艺缺陷而具有一漏电阻抗的情况下，由于TDHV_1与TDLV_2之间较大的电压差，而可在面板负载线MPNL_1与MPNL_2上获得较大因而较容易侦测的电流，或是由于可获得面板负载线MPNL_1与MPNL_2之间的差动电流差，而使得本发明的显示设备具有较高的故障侦测敏感度；此外，又如于TT2期间，MPNL_3仅进行侦测，其可作为侦测判断其他面板负载线(例如但不限于MPNL_1与MPNL_2)的依据，或可做为延迟侦测判断同一面板负载线MPNL_3的依据，例如于TT1在面板负载线MPNL_3上施加位准为TDHV_3的测试驱动讯号，而延迟于TT2进行侦测判断；本实施例或前述的“驱动与延长侦测模式”的实施例中的延迟侦测，使得本发明得以进行如前述的负载线电压变化率及/或负载线电流变化率等电气特性的时间变化率的侦测，因而较佳地具有更广泛的故障项目侦测功能。

请参阅图12，在一实施例中，本发明的显示设备(显示设备3)的显示面板电路30”还包含传统面板负载线CPNL，而显示设备3还包含一传统驱动级电路60。所谓“传统”面板负载线CPNL，以及“传统”驱动级电路，其中的“传统”指其具有显像驱动的功能，但未包含如前述的本发明的测试驱动及侦测判断的功能，因此若接受本发明的各种测试，可能会发生误动作。此传统驱动级电路和传统面板负载线因不宜接受本发明的各种测试，因此可称为“需保护的驱动级电路和面板负载线”。其中该传统驱动级电路60根据显示控制讯号DCTRL，而于传统面板负载线CPNL上产生一传统面板负载驱动讯号CPLDS，用以驱动显示面板电路30”，使其进行显像驱动操作，其中该传统面板负载驱动讯号CPLDS需受保护而不宜包含本发明的各种测试讯号；其中该传统驱动级电路60还根据由驱动逻辑电路23所产生的测试阶段屏蔽讯号TPMSK，于测试阶段期间，将显示控制讯号DCTRL的部分屏蔽而使传统驱动级电路60停止对显示面板电路30”进行显像驱动操作，以避免发生误动作，例如但不限于在测试阶段显示出错误或混乱的影像，或与控制讯号DCTRL发生冲突。

以上已针对较佳实施例来说明本发明，以上所述，仅为使本领域技术人员易于了解本发明的内容，并非用来限定本发明的权利范围。所说明的各个实施例，并不限于单独应用，亦可以组合应用；举其中一例，“初始化阶段的测试阶段”和“显示画面间隔的测试阶段”可以并用，使显示设备同时具有此二种测试阶段，并可于不同阶段进行不同的测试操作；又如，“驱动且侦测模式”和“驱动与延长侦测模式”可以并用；在上述并用的情况下，面板驱动电路可包含前述实施例的具体电路，以实现上述模式的组合。此外，在本发明的相同精神下，本领域技术人员可以思及各种等效变化以及各种组合，举例而言，前述的实施例中，以初始化阶段或显示画面间隔中的一段时间做为测试阶段，但如其它形式的显示间隔，例如用户设定显示面板显示为黑画面之时，亦可作为测试阶段。又例如，本发明所称“根据某讯号进行处理或运算或产生某输出结果”，不限于根据该讯号的本身，亦包含于必要时，将该讯号进行电压电流转换、电流电压转换、及/或比例转换等，之后根据转换后的讯号进行处理或运算产生某输出结果。由此可知，在本发明的相同精神下，本领域技术人员可以思及各种等效变化以及各种组合，其组合方式甚多，在此不一一列举说明。因此，本发明的范围应涵盖上述及其他所有等效变化。

Claims

1.一种显示设备，其特征在于，包含：

一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；以及

一面板驱动电路，其根据一时间控制电路所产生的一显示控制讯号以及一驱动电源电路所产生的驱动电压及/或驱动电流，产生一面板负载驱动讯号，该面板负载驱动讯号耦接于该面板负载线，以驱动该显示面板电路；其中该面板负载驱动讯号包括一测试驱动讯号以及一显示驱动讯号；该面板驱动电路包括：

一阶段决定电路，其根据该显示控制讯号，确定至少一测试阶段，或确定至少一测试阶段以及一扫描显像阶段，该阶段决定电路并产生一阶段决定讯号，其具有至少第一状态与第二状态，该第一状态代表上述的测试阶段、该第二状态代表非该测试阶段或代表该扫描显像阶段；其中该测试阶段为该显示面板电路停止扫描显像操作的部分时间；

一驱动级电路，其具有一驱动开关组；

一驱动逻辑电路，根据该显示控制讯号及该阶段决定讯号，进行以下的驱动操作：(A)在具有扫描显像阶段的情况下，于该扫描显像阶段，根据该显示控制讯号，产生一开关控制讯号，用以控制该驱动级电路的该驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该显示驱动讯号，用以驱动该面板负载线，使该显示面板电路进行扫描显像操作；(B)于该测试阶段的部分时间，根据一测试指令，产生该开关控制讯号，用以控制该驱动级电路的驱动开关组，以切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的一故障项目；其中该测试指令，为一默认测试指令、或可调整的可程序化测试指令；

一侦测判断电路，其于该测试阶段的部分时间，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性，藉以判断该显示面板电路的该故障项目，并产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标；该侦测判断电路包含：

一侦测比较电路，侦测该电气特性而产生一侦测比较结果；以及

一侦测逻辑电路，根据该侦测比较结果而判断该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标；

其中该驱动级电路，根据该闩锁故障状态旗标，而停止产生该显示驱动讯号，进而使该显示面板电路停止扫描显像操作。

2.如权利要求1所述的显示设备，其中，

该电气特性包含该面板负载线的一负载线电压，及/或一负载线电压变化率，及/或一负载线电流，及/或一负载线电流变化率；

该故障项目包含该显示面板电路的一短路，及/或一漏电流，及/或一过电流。

3.如权利要求1所述的显示设备，其中，该侦测判断电路还于该扫描显像阶段的部分时间，侦测该面板负载线的该电气特性，藉以判断该显示面板电路的该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标。

4.如权利要求1所述的显示设备，其中，

该驱动电压包含一驱动高电压与一驱动低电压；该驱动开关组包含一正驱动开关以及一负驱动开关，该正驱动开关与该负驱动开关根据该开关控制讯号而分别切换该驱动高电压与该驱动低电压，而产生该面板负载驱动讯号；

该侦测比较电路包含一正侦测电路以及一负侦测电路，该正侦测电路根据该面板负载线的该电气特性以及该驱动高电压而产生该侦测比较结果，该负侦测电路根据该面板负载线的该电气特性以及该驱动低电压而产生该侦测比较结果。

5.如权利要求1所述的显示设备，还包含一需保护的驱动级电路，且其中该显示面板电路还包含一需保护的面板负载线，该需保护的驱动级电路和需保护的面板负载线需避免接受该测试驱动讯号；

该需保护的驱动级电路根据该显示控制讯号，而产生一需保护的面板负载驱动讯号，其耦接于该需保护的面板负载线，以驱动该显示面板电路，使其进行该扫描显像操作；

其中，该驱动逻辑电路还根据该阶段决定讯号产生一测试阶段屏蔽讯号，该需保护的驱动级电路还根据由驱动逻辑电路所产生的该测试阶段屏蔽讯号，于该测试阶段，将该显示控制讯号屏蔽而使该需保护的驱动级电路停止产生该需保护的面板负载驱动讯号，进而使该显示面板电路停止该扫描显像操作。

6.如权利要求1所述的显示设备，其中，

该驱动逻辑电路于该测试阶段期间的至少一第一部分时间，产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的该故障项目；

该侦测判断电路于该测试阶段期间的至少一第二部分时间，侦测该电气特性，藉以判断该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标。

7.如权利要求6所述的显示设备，其中，该第一部分时间与第二部分时间的关系至少包括以下之一：(A)该第一部分时间与第二部分时间的起始时间与结束时间分别皆为相同；(B)该第二部分时间包含该第一部分时间，且该第二部分时间的结束时间较之该第一部分时间为晚。

8.如权利要求1所述的显示设备，其中，该测试阶段包含至少以下之一：(1)一初始化阶段的部分时间，其中该初始化阶段指该显示设备于其一电源上升至一默认的工作电压阈值以上开始，到第一次扫描显像阶段之前的一段时间；(2)一显示画面间隔的部分时间，其中该显示画面间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各显示画面之间，停止该扫描显像操作的间隔时间；以及(3)一扫描线间隔的部分时间，其中该扫描线间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各扫描线之间，停止该扫描显像操作的间隔时间。

9.如权利要求8所述的显示设备，其中，

该显示控制讯号包含一显示画面同步讯号及/或一扫描线同步讯号；

该阶段决定电路根据该显示画面同步讯号及/或该扫描线同步讯号而确定该测试阶段，并产生该阶段决定讯号。

10.如权利要求1所述的显示设备，其中，该阶段决定电路根据一测试模式讯号而确定该测试阶段及/或产生该测试指令。

11.一种面板驱动电路，用以驱动一显示设备，其中该显示设备包含：一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；该面板驱动电路，其根据一时间控制电路所产生的一显示控制讯号以及一驱动电源电路所产生的驱动电压及/或驱动电流，产生一面板负载驱动讯号，该面板负载驱动讯号耦接于该面板负载线，以驱动该显示面板电路；其中该面板负载驱动讯号包括一测试驱动讯号以及一显示驱动讯号；其特征在于，该面板驱动电路包括：

一驱动级电路，其具有一驱动开关组；

12.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，

13.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，该侦测判断电路还于该扫描显像阶段的部分时间，侦测该面板负载线的该电气特性，藉以判断该显示面板电路的该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标。

14.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，

15.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，该显示设备，还包含一需保护的驱动级电路，且该显示面板电路还包含一需保护的面板负载线，该需保护的驱动级电路和需保护的面板负载线需避免接受该测试驱动讯号；

其中该驱动逻辑电路还根据该阶段决定讯号产生一测试阶段屏蔽讯号，该需保护的驱动级电路还根据由驱动逻辑电路所产生的该测试阶段屏蔽讯号，于该测试阶段，将该显示控制讯号屏蔽而使该需保护的驱动级电路停止产生该需保护的面板负载驱动讯号，进而使该显示面板电路停止该扫描显像操作。

16.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，

17.如权利要求16所述的面板驱动电路，其中，该第一部分时间与第二部分时间的关系至少包括以下之一：(A)该第一部分时间与第二部分时间的起始时间与结束时间分别皆为相同；(B)该第二部分时间包含该第一部分时间，且该第二部分时间的结束时间较之该第一部分时间为晚。

18.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，该测试阶段包含至少以下之一：(1)一初始化阶段的部分时间，其中该初始化阶段指该显示设备于其一电源上升至一默认的工作电压阈值以上开始，到第一次扫描显像阶段之前的一段时间；(2)一显示画面间隔的部分时间，其中该显示画面间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各显示画面之间，停止该扫描显像操作的间隔时间；以及(3)一扫描线间隔的部分时间，其中该扫描线间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各扫描线之间，停止该扫描显像操作的间隔时间。

19.如权利要求18所述的面板驱动电路，其中，

20.如权利要求11所述的面板驱动电路，其中，该阶段决定电路根据一测试模式讯号而确定该测试阶段及/或产生该测试指令。

21.一种用以驱动一显示设备的驱动方法，其中该显示设备包含：一显示面板电路，其包含一面板负载线，该显示面板电路具有一扫描显像操作；其特征在于，该驱动方法包含：

根据一时间控制电路所产生的一显示控制讯号以及一驱动电源电路所产生的驱动电压及/或驱动电流，产生一面板负载驱动讯号；

以该面板负载驱动讯号驱动该面板负载线，以驱动该显示面板电路；其中该面板负载驱动讯号包括一测试驱动讯号以及一显示驱动讯号；

其中，产生该面板负载驱动讯号的步骤包括：

根据该显示控制讯号，确定至少一测试阶段，或确定至少一测试阶段以及一扫描显像阶段；

根据该显示控制讯号，进行以下的驱动操作：(A)在具有扫描显像阶段的情况下，于该扫描显像阶段，根据该显示控制讯号，切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该显示驱动讯号，用以驱动该面板负载线，使该显示面板电路进行扫描显像操作；(B)于该测试阶段的部分时间，根据一测试指令，切换该驱动电压及/或该驱动电流而产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线，以测试该显示面板电路的一故障项目；其中该测试指令，为一默认测试指令、或可调整的可程序化测试指令；

于该测试阶段的部分时间，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性，而产生一侦测比较结果；

根据该侦测比较结果而判断该故障项目；以及

产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标；

其中产生该显示驱动讯号的步骤还包括：根据该闩锁故障状态旗标而控制停止产生该显示驱动讯号，进而使该显示面板电路停止扫描显像操作。

22.如权利要求21所述的驱动方法，其中，

23.如权利要求21所述的驱动方法，还包括：

于该扫描显像阶段的部分时间，根据该测试指令，侦测该面板负载线的一电气特性，而产生一侦测比较结果；

根据该侦测比较结果而判断该故障项目；

产生一对应于该故障项目的一闩锁故障状态旗标。

24.如权利要求21所述的驱动方法，其中，该显示面板电路还包含一需保护的面板负载线，该需保护的面板负载线需避免接受该测试驱动讯号；该驱动方法还包含：

根据该显示控制讯号，而产生一需保护的面板负载驱动讯号；以及

以该需保护的面板负载驱动讯号驱动该需保护的面板负载线，以驱动该显示面板电路，使其进行该扫描显像操作；

其中产生该需保护的面板负载驱动讯号的步骤包含：于该测试阶段，将该显示控制讯号屏蔽而停止产生该需保护的面板负载驱动讯号，进而使该显示面板电路停止该扫描显像操作。

25.如权利要求21所述的驱动方法，其中，测试该显示面板电路的步骤还包含：

于该测试阶段期间的至少一第一部分时间，产生该测试驱动讯号，用以驱动该面板负载线；以及

于该测试阶段期间的至少一第二部分时间，侦测该电气特性，藉以判断该故障项目，并产生该闩锁故障状态旗标。

26.如权利要求25所述的驱动方法，其中，该第一部分时间与第二部分时间的关系至少包括以下之一：(A)该第一部分时间与第二部分时间的起始时间与结束时间分别皆为相同；(B)该第二部分时间包含该第一部分时间，且该第二部分时间的结束时间较之该第一部分时间为晚。

27.如权利要求21所述的驱动方法，其中，该测试阶段包含至少以下之一：(1)一初始化阶段的部分时间，其中该初始化阶段指该显示设备于其一电源上升至一默认的工作电压阈值以上开始，到第一次扫描显像阶段之前的一段时间；(2)一显示画面间隔的部分时间，其中该显示画面间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各显示画面之间，停止该扫描显像操作的间隔时间；以及(3)一扫描线间隔的部分时间，其中该扫描线间隔指，该显示设备以该扫描显像操作进行扫描显像各扫描线之间，停止该扫描显像操作的间隔时间。

28.如权利要求27所述的驱动方法，其中，该显示控制讯号包含一显示画面同步讯号及/或一扫描线同步讯号；

其中确定该测试阶段的步骤还包含：根据该显示画面同步讯号及/或该扫描线同步讯号而确定该测试阶段。

29.如权利要求21所述的驱动方法，还包含根据一测试模式讯号而确定该测试阶段及/或产生该测试指令。