CN106782255A - 一种检测电路、检测方法及检测装置 - Google Patents
一种检测电路、检测方法及检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106782255A CN106782255A CN201710179625.2A CN201710179625A CN106782255A CN 106782255 A CN106782255 A CN 106782255A CN 201710179625 A CN201710179625 A CN 201710179625A CN 106782255 A CN106782255 A CN 106782255A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- electrode
- control
- viewing area
- voltage
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Abstract
本发明提供一种检测电路、检测方法及检测装置,涉及显示技术领域,可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。该检测电路包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极。第一控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;第二控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。本发明的实施例用于显示装置的检测。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种检测电路、检测方法及检测装置。
背景技术
目前,在显示面板的制造过程中,在工程调试(英文全称:engineering trial,英文缩写:ET)阶段(即显示面板中的电极与集成电路(英文全称:intergrated ircuit,英文缩写:IC)和柔性电路板(英文全称:flexible printed circuit,英文缩写:FPC)未焊接之前的阶段)可以根据图1所示的检测电路检测显示面板中的电极。如图1所示,该检测电路中包括多个晶体管,其中,每个晶体管的漏极连接一个电极,每个晶体管的栅极连接控制信号端CTSW,每个晶体管的源极连接输入信号端CTVCOM,在检测过程中,控制信号端CTSW输入高电平信号,输入信号端CTVCOM输入参考电压,如此可以通过观察每个电极对应的显示区域所显示的灰阶是否相同,来检测显示面板中的电极是否存在故障,在每个电极对应的显示区域所显示的灰阶均相同的情况下,确定显示面板中的电极不存在故障,在某个电极对应的显示区域所显示的灰阶与其他电极对应的显示区域所显示的灰阶不同的情况下,确定显示面板中的电极存在故障。
但是根据图1所示的检测电路检测显示面板中的电极时,在显示面板中的两个电极短路的情况下,由于短路的两个电极所对应的显示区域与其他电极对应的显示区域所显示的灰阶仍然相同,因此,显示面板中的两个电极短路的情况下,仍然会确定显示面板中的电极不存在故障,从而无法准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。
发明内容
本发明的实施例提供一种检测电路、检测方法及检测装置,可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
第一方面,提供一种检测电路,所述电路包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极;位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极;
所述第一控制单元的输入端连接所述第一信号线;所述第一控制单元的控制端连接所述控制信号线,多个所述第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接;所述第一控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;
所述第二控制单元的输入端连接所述第二信号线;所述第二控制单元的控制端均连接所述控制信号线,多个所述第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接;所述第二控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。
可选的,所述第一控制模块包括:第一晶体管;
所述第一晶体管的源极为所述第一控制模块的输入端,所述第一晶体管的漏极为所述第一控制模块的输出端,所述第一晶体管的栅极为所述第一控制模块的控制端。
可选的,所述第二控制模块包括:第二晶体管;
所述第二晶体管的源极为所述第二控制模块的输入端,所述第二晶体管的漏极为所述第二控制模块的输出端,所述第二晶体管的栅极为所述第二控制模块的控制端。
可选的,所述晶体管均为N型开关晶体管,或者所述晶体管均为P型开关晶体管。
可选的,所述电极为显示面板中的公共电极。
第二方面,提供一种检测方法,所述方法用于根据第一方面任一项所述的检测电路检测显示面板中的电极是否存在故障;所述方法包括:
所述第一信号线输入第一电压,所述第二信号线输入第二电压,所述第一电压与所述第二电压不同且均不为零;
确定多个所述第一电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,以及确定多个所述第二电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,其中,所述第一电极、所述第二电极均与显示面板中的显示区域一一对应;
若多个所述第一电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同,且多个所述第二电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同的情况;则确定所述显示面板中的电极无故障。
可选的,所述方法还包括:
确定显示面板中是否有显示区域的灰阶值为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值;
若至少一个显示区域的灰阶为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶;则确定该至少一个显示区域对应的第一电极和/或第二电极存在开路故障。
可选的,所述方法还包括:
确定是否有相邻的显示区域的灰阶值相同且不为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值;
若相邻显示区域的灰阶值相同且不为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值,则确定该相邻的显示区域对应的第一电极和第二电极存在短路故障。
第三方面,提供一种检测装置,所述装置包括第一方面任一项所述的检测电路。
本发明实施例提供的检测电路,包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极,位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极。其中,第一控制单元的输入端连接第一信号线;第一控制单元的控制端连接控制信号线,多个第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接,第一控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;第二控制单元的输入端连接第二信号线;第二控制单元的控制端连接控制信号线,多个第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接,第二控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。如此本发明实施例提供的检测电路在输入第一信号线的电压与输入第二信号线的电压不同且均不为零时,可以通过显示面板中的显示区域所显示的灰阶值来确定显示面板中的电极是否存在故障,从而可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中的检测电路的电路图;
图2为本发明实施例提供的检测电路的示意性结构图;
图3为本发明实施例提供的检测电路的电路图一;
图4为本发明实施例提供的检测方法的步骤流程图;
图5为本发明实施例提供的显示面板的各个显示区域的示意图一;
图6为本发明实施例提供的显示面板的各个显示区域的示意图二;
图7为本发明实施例提供的检测电路的电路图二;
图8为本发明实施例提供的显示面板的各个显示区域的示意图三;
图9为本发明实施例提供的检测电路的电路图三。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明所有实施例中采用的晶体管均可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件,根据在电路中的作用本发明的实施例所采用的晶体管主要为开关晶体管。由于这里采用的开关晶体管的源极、漏极是对称的,所以其源极、漏极是可以互换的。在本发明实施例中,为区分晶体管除栅极之外的两极,将源极称为第一极,漏极称为第二极。按附图中的形态规定晶体管的中间端为栅极、信号输入端为源极、信号输出端为漏极。此外本发明实施例所采用的开关晶体管包括P型开关晶体管和N型开关晶体管两种,其中,P型开关晶体管在栅极为低电平时导通,在栅极为高电平时截止,N型开关晶体管为在栅极为高电平时导通,在栅极为低电平时截止。
需要说明的是,本申请中的“第一”、“第二”等字样仅仅是为了区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。例如,第一晶体管和第二晶体管等是用于区别不同晶体管,而不是用于描述晶体管的特定顺序。
在本发明实施例中,“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例
子、例证或说明。本发明实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言,使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
本发明实施例提供一种检测电路,参照图2所示,该电路包括:第一信号线CTVCOM1,第二信号线CTVCOM2,多个第一控制单元11,多个第二控制单元12,陈列排布且间隔设置的第一电极和第二电极;位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极。
其中,第一控制单元11的输入端111连接第一信号线CTVCOM1;第一控制单元11的控制端112连接控制信号线CTSW,多个第一控制单元11的输出端113分别与一个第一电极连接;第一控制单元11用于在控制信号线CTSW的电压的控制下将第一信号线CTVCOM1的电压传输至与其输出端113连接的第一电极。
第二控制单元12的输入端121连接第二信号线;第二控制单元12的控制端122均连接控制信号线CTSW,多个第二控制单元12的输出端123分别与一个第二电极连接;第二控制单元12用于在控制信号线CTSW的电压的控制下将第二信号线CTVCOM1的电压传输至与其输出端123连接的第二电极。
可以理解的是,上述的第一电极和上述的第二电极在实际应用中均可以为显示面板中的电极(例如公共电极),本发明实施例中为了区分不同控制单元连接的电极,将与第一控制单元的输出端连接的电极均称为第一电极,将与第二电极连接的电极均称为第二电极。
示例性的,参照图2所示,图2所示的检测电路是以该检测电路中包含9个电极(分别表示为电极1、电极2、电极3、电极4、电极5、电极6、电极7、电极8和电极9)、5个第一控制单元和4个第二控制单元为例进行说明的,其中,5个第一控制单元分别连接电极1、电极3、电极5、电极7和电极9,电极1、电极3、电极5、电极7和电极9均为第一电极;4个第二控制单元分别连接电极2、电极4、电极6和电极8,电极2、电极4、电极6和电极8均为第二电极。
本发明实施例提供的检测电路中,位于阵列的奇数行的第一个电极可以为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极可以为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极可以为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极可以为第一电极。上述图2所示的检测电路是以位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极为例说明的。
可选的,结合图2如图3所示,上述第一控制模块包括第一晶体管T1。
其中,第一晶体管T1的源极为第一控制模块11的输入端111,第一晶体管T1的漏极为第一控制模块11的输出端113,第一晶体管T1的栅极为第一控制模块11的控制端112。
可选的,如图3所示,上述第二控制模块包括第二晶体管T2。
其中第二晶体管T2的源极为第二控制模块12的输入端121,第二晶体管T2的漏极为第二控制模块12的输出端123,第二晶体管T2的栅极为第二控制模块12的控制端122。
可选的,上述图3所示的第一晶体管和第二晶体管可以均为N型开关晶体管,或者上述图3所示的第一晶体管和第二晶体管可以均为P型开关晶体管。
进一步的,上述检测电路中也可以同时采用N型晶体管和P型晶体管,此时需保证检测电路中通过同一个时序信号或电压控制的晶体管需要采用相同的类型,当然这都是本领域的技术人员依据本发明的实施例可以做出的合理变通方案,因此均应为本发明的保护范围,然而考虑到晶体管的制程工艺,由于不同类型的晶体管的有源层掺杂材料不相同,因此反相器中采用统一类型的晶体管更有利于检测电路的制程工艺。
可选的,上述图2或图3中的电极(包括第一电极和第二电极)均可以为显示面板中的公共电极。
本发明实施例提供的检测电路,包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极,位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极。其中,第一控制单元的输入端连接第一信号线;第一控制单元的控制端连接控制信号线,多个第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接,第一控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;第二控制单元的输入端连接第二信号线;第二控制单元的控制端连接控制信号线,多个第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接,第二控制单元用于在控制信号线的电压的控制下将第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。如此本发明实施例提供的检测电路在输入第一信号线的电压与输入第二信号线的电压不同且均不为零时,可以通过显示面板中的显示区域所显示的灰阶值来确定显示面板中的电极是否存在故障,从而可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。
可选的,本发明实施例提供一种检测方法,该用于根据上述实施例所述的检测电路(例如图2或图3所述的检测电路)检测显示面板中的电极是否存在故障;该方法包括下述步骤S101-S103。
S101、第一信号线输入第一电压,第二信号线输入第二电压。
其中,第一电压与第二电压不同且均不为零。
S102、确定多个第一电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,以及确定多个第二电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同。
其中,第一电极、第二电极与显示面板中的显示区域一一对应。也就是说本发明实施例中显示面板中的每个电极均一一对应一个显示区域。
S103、若多个第一电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同,且多个第二电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同;则确定显示面板中的电极无故障。
示例性的,如图5所示的各个显示区域可以为显示面板中的各个显示区域,图5中的各个显示区域与图3所示的检测电路中的各个电极一一对应,其中图5中的显示区域1、显示区域2、显示区域3、显示区域4、显示区域5显示区域6、显示区域7、显示区域8和显示区域9分别一一对应图3中的电极1、电极2、电极3、电极4、电极5、电极6、电极7、电极8和电极9。下面将结合图3和图5对上述S101-S103所示的检测方法进行说明。
其中,以图3所示的检测电路中的所有晶体管(即5个第一晶体管T1和4个第二晶体管T2)均为高电平导通N型晶体管,控制信号线输入高电平为例进行说明。
示例性的,在为图3所示的检测电路中第一信号线CTVCOM1输入第一电压,第二信号线CTVCOM2输入第二电压,且第一电压与第二电压不同且均不为零时,如图5所示,显示面板中与第一电极(电极1、电极3、电极5、电极7和电极9)对应的显示区域1、显示区域3、显示区域5、显示区域7和显示区域9的灰阶值相同;与第二电极(电极2、电极4、电极6和电极8)对应的显示区域2、显示区域4、显示区域6和显示区域8的灰阶值相同,此时确定显示面板中的电极无故障。
本发明实施例中,具体可以通过确定多个第一电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,以及确定多个第二电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,来确定显示面板中的电极是否有故障。具体的,若多个第一电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同,且多个第二电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同;则确定显示面板中的电极无故障否则确定显示面板中的电极有故障。
包括以下两种情况:第一种为确定显示面板中的电极有开路故障;第二种为确定显示面板中的电极有短路故障。下面将分别上述两种情况进行说明。
本发明实施例中,确定显示面板中的电极有开路故障可以通过下述步骤S104和S105实现。
S104、确定显示面板中是否有显示区域的灰阶值为显示面板不工作时显示区域的灰阶值;
S105、若至少一个显示区域的灰阶为显示面板不工作时显示区域的灰阶;则确定该至少一个显示区域对应的第一电极和/或第二电极存在开路故障。
示例性的,在为图3所示的检测电路中的第一信号线CTVCOM1输入第一电压,第二信号线CTVCOM2输入第二电压,且第一电压与第二电压不同且均不为零时,如图6所示显示面板中至少一个显示区域(例如图6所示的显示区域7)的灰阶为显示面板不工作时显示区域的灰阶,则确定显示区域7对应的第一电极(即电极7)存在开路故障。即图3所示的检测电路实际中如图7所示,即检测电路中的电极7如图4虚线圈所示出的存在开路故障。
本发明实施例中,确定显示面板中的电极有短路故障可以通过下述步骤S106和S107实现。
S106、确定是否有相邻的显示区域的灰阶值相同且不为显示面板不工作时该相邻的显示区域的灰阶值;
S107、若相邻的显示区域的灰阶值相同且不为显示面板不工作时显示区域的灰阶值,则确定该相邻的显示区域对应的第一电极和第二电极存在短路故障。
示例性的,在为图3所示的检测电路中的第一信号线CTVCOM1输入第一电压,第二信号线CTVCOM2输入第二电压,且第一电压与第二电压不同且均不为零时,如图8所示的显示面板中相邻的显示区域(例如图8所示的显示区域2和显示区域5)的灰阶值相同且不为显示面板不工作时该两个显示区域的灰阶值,则确定显示区域2对应的第二电极(即电极2)和显示区域5对应的第一电极(即电极5)存在开路故障。即图3所示的检测电路实际中如图9所示,即检测电路中的电极2和电极5如图9虚线圈所示出的,存在短路故障。
进一步的,上述实施例中的检测电路中,所有晶体管还可以为P形晶体管,若所有晶体管均为低电平导通的P型晶体管,本发明实施例中检测显示面板中的电极是否存在故障时,控制信号线输入低电平。
本发明实施例提供的检测方法,当在本发明实施例提供的检测电路中第一信号线输入第一电压,第二信号线输入第二电压时,可以通过显示面板中的显示区域所显示的灰阶值来确定显示面板中的电极是否存在故障,从而可以准确检测出显示面板中的电极是否存在故障。
可选的,本发明实施例提供一种检测装置,该装置包括本发明实施例提供的检测电路(例如可以包括如图2或图3所示的检测电路)。
以上,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (9)
1.一种检测电路,其特征在于,包括:第一信号线、第二信号线、控制信号线、多个第一控制单元、多个第二控制单元、阵列排布且间隔设置的第一电极和第二电极;位于阵列的奇数行的第一个电极为第一电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第二电极;或者,位于阵列的奇数行的第一个电极为第二电极,位于阵列的偶数行的第一个电极为第一电极;
所述第一控制单元的输入端连接所述第一信号线;所述第一控制单元的控制端连接所述控制信号线,多个所述第一控制单元的输出端分别与一个第一电极连接;所述第一控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第一信号线的电压传输至与其输出端连接的第一电极;
所述第二控制单元的输入端连接所述第二信号线;所述第二控制单元的控制端均连接所述控制信号线,多个所述第二控制单元的输出端分别与一个第二电极连接;所述第二控制单元用于在所述控制信号线的电压的控制下将所述第二信号线的电压传输至与其输出端连接的第二电极。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一控制模块包括:第一晶体管;
所述第一晶体管的源极为所述第一控制模块的输入端,所述第一晶体管的漏极为所述第一控制模块的输出端,所述第一晶体管的栅极为所述第一控制模块的控制端。
3.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第二控制模块包括:第二晶体管;
所述第二晶体管的源极为所述第二控制模块的输入端,所述第二晶体管的漏极为所述第二控制模块的输出端,所述第二晶体管的栅极为所述第二控制模块的控制端。
4.根据权利要求2或3所述的电路,其特征在于,所述晶体管均为N型开关晶体管,或者所述晶体管均为P型开关晶体管。
5.根据权利要求1-3任一项所述的电路,其特征在于,所述电极为显示面板中的公共电极。
6.一种检测方法,其特征在于,用于根据权利要求1-5任一项所述的检测电路检测显示面板中的电极是否存在故障;所述方法包括:
所述第一信号线输入第一电压,所述第二信号线输入第二电压,所述第一电压与所述第二电压不同且均不为零;
确定多个所述第一电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同,以及确定多个所述第二电极对应的所有显示区域的灰阶值是否均相同;其中,所述第一电极、所述第二电极与显示面板中的显示区域一一对应;
若多个所述第一电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同,且多个所述第二电极对应的所有显示区域的灰阶值均相同;则确定所述显示面板中的电极无故障。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定显示面板中是否有显示区域的灰阶值为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值;
若至少一个显示区域的灰阶为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶;则确定该至少一个显示区域对应的第一电极和/或第二电极存在开路故障。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定是否有相邻的显示区域的灰阶值相同且不为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值;
若相邻的显示区域的灰阶值相同且不为所述显示面板不工作时所述显示区域的灰阶值,则确定该相邻的显示区域对应的第一电极和第二电极存在短路故障。
9.一种检测装置,其特征在于,包括权利要求1-5任一项所述的检测电路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710179625.2A CN106782255A (zh) | 2017-03-23 | 2017-03-23 | 一种检测电路、检测方法及检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710179625.2A CN106782255A (zh) | 2017-03-23 | 2017-03-23 | 一种检测电路、检测方法及检测装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106782255A true CN106782255A (zh) | 2017-05-31 |
Family
ID=58966232
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201710179625.2A Pending CN106782255A (zh) | 2017-03-23 | 2017-03-23 | 一种检测电路、检测方法及检测装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106782255A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109493770A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-03-19 | 昆山龙腾光电有限公司 | 显示面板及其检测方法 |
WO2021179365A1 (zh) * | 2020-03-12 | 2021-09-16 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 有机发光二极管显示面板、其制造方法以及显示设备 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060033156A (ko) * | 2004-10-14 | 2006-04-19 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 |
CN102110400A (zh) * | 2009-12-29 | 2011-06-29 | 上海天马微电子有限公司 | 双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法 |
WO2013127234A1 (zh) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测液晶显示面板交叉串扰的方法 |
CN104536609A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-04-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 具有触控功能的显示面板以及故障检测方法 |
CN105975129A (zh) * | 2016-05-04 | 2016-09-28 | 厦门天马微电子有限公司 | 显示面板及其测试方法、使用方法 |
CN106293186A (zh) * | 2015-06-08 | 2017-01-04 | 群创光电股份有限公司 | 触控显示面板及其测试方法 |
CN106940975A (zh) * | 2016-01-04 | 2017-07-11 | 中华映管股份有限公司 | 检测装置及检测方法 |
-
2017
- 2017-03-23 CN CN201710179625.2A patent/CN106782255A/zh active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060033156A (ko) * | 2004-10-14 | 2006-04-19 | 삼성전자주식회사 | 표시 장치 |
CN102110400A (zh) * | 2009-12-29 | 2011-06-29 | 上海天马微电子有限公司 | 双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法 |
WO2013127234A1 (zh) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测液晶显示面板交叉串扰的方法 |
CN104536609A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-04-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 具有触控功能的显示面板以及故障检测方法 |
CN106293186A (zh) * | 2015-06-08 | 2017-01-04 | 群创光电股份有限公司 | 触控显示面板及其测试方法 |
CN106940975A (zh) * | 2016-01-04 | 2017-07-11 | 中华映管股份有限公司 | 检测装置及检测方法 |
CN105975129A (zh) * | 2016-05-04 | 2016-09-28 | 厦门天马微电子有限公司 | 显示面板及其测试方法、使用方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109493770A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-03-19 | 昆山龙腾光电有限公司 | 显示面板及其检测方法 |
WO2021179365A1 (zh) * | 2020-03-12 | 2021-09-16 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 有机发光二极管显示面板、其制造方法以及显示设备 |
US11374085B2 (en) | 2020-03-12 | 2022-06-28 | Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | Organic light-emitting diode display panel, method of manufacturing same, and display device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105070239A (zh) | 一种液晶显示面板 | |
CN206039486U (zh) | 触控显示面板及显示装置 | |
KR100353955B1 (ko) | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 | |
CN107329298A (zh) | 点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置 | |
US10102783B2 (en) | Array substrate and detecting method for an array substrate | |
CN109345988B (zh) | 测试电路、显示面板测试装置和显示装置 | |
KR20150047966A (ko) | 정전기 방전 회로를 포함하는 표시 장치 | |
CN104732947B (zh) | 一种驱动芯片、驱动板及其测试方法、显示装置 | |
CN107065353A (zh) | 显示面板以及显示面板的测试方法 | |
CN105575305A (zh) | 一种信号线断线修复电路、方法和显示面板 | |
CN106057106B (zh) | 一种检测结构、检测方法及显示装置 | |
CN103926717A (zh) | 显示面板的检测电路、显示面板及其检测方法 | |
CN105739768A (zh) | 一种触控显示面板和一种触控显示设备 | |
CN106128342A (zh) | 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法 | |
CN110221491A (zh) | 阵列基板及其制作方法、液晶显示面板 | |
CN106291216A (zh) | 内嵌式触摸屏、测试电路及测试方法 | |
CN104460161A (zh) | 一种边缘电路、阵列基板和显示面板 | |
CN105426015B (zh) | 阵列基板、显示面板以及用于显示面板的检测修复方法 | |
CN106782255A (zh) | 一种检测电路、检测方法及检测装置 | |
CN101527305A (zh) | 有源元件阵列基板 | |
CN107068696A (zh) | 一种阵列基板和阵列基板的制作方法 | |
CN106935222A (zh) | 保护电路、阵列基板以及显示装置 | |
CN205487263U (zh) | 一种阵列基板、显示装置及用于检测阵列基板的电路 | |
CN110390900A (zh) | 显示器装置以及拼接式电子装置 | |
CN112331116A (zh) | 液晶面板和液晶面板阵列基板行驱动电路检测方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20170531 |