TWI384235B - 測試裝置 - Google Patents

Description

測試裝置

本發明是有關於一種測試裝置，且特別是有關於一種能測試多種待測板(Unit Under Test,UUT)的測試裝置。

圖1是習知一種測試裝置的方塊圖。請參照圖1，習知測試裝置100包括一主機電腦(Host PC)110、一測試板120以及一現場即時資訊系統(Shop Floor Information System,SFIS)130。主機電腦110是電性連接至測試板120與現場即時資訊系統130，而測試板120用以電性連接至一待測板50。

習知測試裝置100的測試與更新之主控權在於主機電腦110，測試板120無法獨立對待測板50進行測試。所以，習知技術的測試步驟是透過主機電腦110啟動測試流程，並藉由測試板120對待測板50進行測試。測試完成後，主機電腦110會將測試結果傳送至現場即時資訊系統130，而現場即時資訊系統130會儲存測試結果。

習知技術中，每一測試板120是用以測試特定的待測板50，所以在測試不同待測板50時需更換測試板120。此外，由於每一待測板50包括多個待測部分，所以若待測板50有升級時，通常需研發新的延伸卡、在測試板120上新增元件或是重新設計測試板120，以完整測試待測板50的每一待測部分。特別是，若待測板50具有主動元件(如區域網路(Local Area Network,LAN)晶片)時，往往需要更換另一測試板或是新增元件。

由於習知技術需研發許多測試板120，所以較耗費成本。此外，在測試不同待測板50時，需更換測試板120，所以較 為費時。另外，架設主機電腦110時，需要安裝作業系統(Operating System,OS)、驅動程式以及相關軟體，並且還要設定網路，所以會花費許多時間。

基於上述，習知技術具有測試成本高且測試時間長的缺點。

本發明提供一種測試裝置，以降低測試成本及測試時間。

為達上述優點，本發明提出一種測試裝置，其適於測試不同種類的多個待測板。此測試裝置包括一可編程測試平台(Programmable Testing Platform)以及一儲存單元。可編程測試平台包括一可編程系統晶片(System On Programmable Chip,SOPC)、一記憶單元與一輸入/輸出單元，其中記憶單元是電性連接至可編程系統晶片，且記憶單元內存有一作業系統。輸入/輸出單元是電性連接至可編程系統晶片、待測板其中之一以及儲存單元。輸入/輸出單元適於根據一輸入動作產生一啟動訊號，而可編程系統晶片適於根據啟動訊號來選取一預設的測試流程，並依預設的測試流程對電性連接至輸入/輸出單元的待測板進行測試。儲存單元是用以儲存可編程系統晶片所輸出的一測試結果。

在本發明之一實施例中，上述之可編程系統晶片為一現場可程式邏輯閘陣列晶片(Field Programmable Gate Array,FPGA)。

在本發明之一實施例中，上述之可編程測試平台更包括一顯示單元，其電性連接至可編程系統晶片，以顯示一測試資訊。

在本發明之一實施例中，上述之可編程測試平台為一嵌入式系統開發平台(Embedded System Development Platform, ESDP)。

在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更包括一現場即時資訊系統，而儲存單元是位於現場即時資訊系統內。

在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更包括一伺服器(Server)，而儲存單元是位於伺服器內。

在本發明之一實施例中，上述之輸入/輸出單元包括一條碼掃描器(Barcode Scanner)，而每一待測板上設有一條碼，條碼掃描器用以掃描電性連接至輸入/輸出單元的待測板上的條碼，以產生啟動訊號。

在本發明之一實施例中，上述之輸入/輸出單元包括一鍵盤、一條碼掃描器、一按鈕開關或一控制元件。

在本發明之一實施例中，上述之輸入/輸出單元包括多個連接介面，以電性連接可編程系統晶片、待測板與儲存單元。

在本發明之一實施例中，上述之連接介面包括通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)、通用型輸入/輸出(General Purpose I/O)、聯合測試工作組埠(Joint Test Action Group Port,JTAG Port)、乙太網埠(Ethernet Port)、無線網路介面、音效埠、低電壓差動訊號(Low－Voltage Differential Signaling,LVDS)介面、列印終端埠(Line Print Terminal Port,LPTPort)、序列埠(COM Port)、PS/2埠以及視頻圖像陣列埠(Video Graphics Array Port,VGA Port)之至少其中之一。

本發明之測試裝置中，由於可編程系統晶片內建有作業系統，且預設多種測試流程，所以可針對不同種類的待測板進行測試。相較於習知技術，本發明不需主機電腦，且不需製作許多測試板，如此不僅能節省製作測試板的成本，還能節省更換測試板的時間。因此，本發明之測試裝置可以降低測試成本及 測試時間。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

圖2是本發明一實施例之一種測試裝置的方塊圖。請參照圖2，本實施例之測試裝置200適於測試不同種類的多個待測板60。此測試裝置200包括一儲存單元210以及一可編程測試平台300。可編程測試平台300包括一可編程系統晶片310、一記憶單元340與一輸入/輸出單元320，其中記憶單元340是電性連接至可編程系統晶片310，且記憶單元340係可作為延伸記憶體使用。另外，記憶單元340內存有一作業系統370。當可編程測試平台300開啟時，作業系統370會載入至可編程系統晶片310。輸入/輸出單元320是電性連接至可編程系統晶片310、上述多個待測板60其中之一以及儲存單元210。輸入/輸出單元320適於根據一輸入動作產生一啟動訊號，而可編程系統晶片310適於根據啟動訊號來選取一預設的測試流程，並依預設的測試流程對電性連接至輸入/輸出單元320的待測板60進行測試。儲存單元210是用以儲存可編程系統晶片310所輸出的一測試結果。

上述之測試裝置200中，可編程測試平台300例如是一嵌入式系統開發平台，可編程系統晶片310例如是一現場可程式邏輯閘陣列晶片，而作業系統370可為Linux、μC－Linux、Windows CE、μC－OS II、VxWorks、Palm OS、QNX或其他適用的作業系統。可編程系統晶片310內存有多個預設的測試流程，以針對不同種類的待測板60進行測試。

此外，可編程測試平台300可更包括一顯示單元330，其 中顯示單元330是電性連接至可編程系統晶片310以顯示一測試資訊(包含測試結果及測試過程的引導)。顯示單元330可包括螢幕、七段顯示器(Seven Segment Display)或其他燈號。另外，可編程測試平台300可更包括電性連接至可編程系統晶片310的一時脈產生單元(Clock Generator Unit)350及一電源管理單元360，其中時脈產生單元350是用以提供可編程系統晶片310做時脈產生用。

圖3是圖2之測試裝置中輸入/輸出單元的方塊圖。請參照圖2與圖3，輸入/輸出單元320包括多個連接介面322，以電性連接可編程系統晶片310、待測板60與儲存單元210。這些連接介面322可為通用序列匯流排、通用型輸入/輸出、聯合測試工作組埠、乙太網埠、無線網路介面、音效埠、低電壓差動訊號介面、列印終端埠、序列埠、PS/2埠以及視頻圖像陣列埠之至少其中之一，但不以此為限。此外，使用者可透過聯合測試工作組埠對可編程系統晶片310做編程跟寫入的動作。另外，在一實施例中，輸入/輸出單元320可更包括一條碼掃描器324，用以掃描待測板60上的條碼62。輸入/輸出單元320可更包括一鍵盤326。

以下將配合圖式說明本實施例之測試裝置200的測試步驟。請參照圖2、圖3與圖4，其中圖4是圖2之測試裝置200的測試步驟圖。

本實施例之測試裝置200的測試步驟如下：首先，如步驟S110所示，執行一輸入動作，以使輸入/輸出單元320提供一啟動訊號至可編程系統晶片310。具體而言，輸入動作例如是操作輸入/輸出單元320的控制元件或按鈕開關，或用鍵盤326輸入待測板60的種類，或是用條碼掃描器324掃描待測板60 的條碼62，但不以此為限。輸入/輸出單元320則根據此輸入動作提供包含待測板60資訊的啟動訊號輸出至可編程系統晶片310。

接著，如步驟S120所示，藉由可編程系統晶片310根據啟動訊號來選取一預設的測試流程。更詳細地說，因可編程系統晶片310內存有多個預設的測試流程，所以可編程系統晶片310在接收到啟動訊號後，會根據啟動訊號來挑選出適合此種測試板60的測試流程。

之後，如步驟S130所示，藉由可編程系統晶片310根據所選取的測試流程對待測板60進行測試。同時，顯示單元330會顯示出待測板60的測試資訊。此外，在測試的過程中，顯示單元330可能會顯示出需要測試人員選取的選項。此時，測試人員可透過鍵盤326來進行選取的動作，以協助完成整個測試流程。

接著，如步驟S140所示，將測試結果傳送至儲存單元210，以讓儲存單元210儲存測試結果。更詳細地說，若待測板60通過測試，則可編程系統晶片310會直接將測試結果傳送至儲存單元210。若待測板60未通過測試，則顯示單元330會顯示出是否要重新測試的選項，以供測試人員選取。若測試人員選擇不重新測試的選項，則可編程系統晶片310會將測試結果傳送至儲存單元210。

在本實施例之測試裝置200中，由於可編程測試平台300可獨立對待測板60進行測試並將測試結果傳至儲存單元210，所以不需使用習知技術中的主機電腦。如此，能節省測試裝置200的成本以及架設主機電腦110的時間。此外，可編程系統晶片310存有多個預設的測試流程，且輸入/輸出單元 320也包括多種連接介面322，所以能針對不同種類的待測板60進行測試。而且，若待測板60有變更或升級，也只需要修改可編程系統晶片310的程式就可以支援相關的測試。所以，相較於習知技術，本實施例之測試裝置200不需製作多種測試板，如此能節省測試板的成本以及更換測試板的時間。換言之，本實施例之測試裝置200可以降低測試成本及測試時間。

圖5A與圖5B是本發明另二實施例之測試裝置的方塊圖。請先參照圖5A，本實施例之測試裝置200a與圖2之測試裝置200的架構與優點相似，差別處在於測試裝置200a更包括一現場即時資訊系統400，而儲存單元210是位於現場即時資訊系統400內。此外，請參照圖5B，本實施例之測試裝置200b與圖2之測試裝置200的架構與優點相似，差別處在於測試裝置200b更包括一伺服器500，而儲存單元210是位於伺服器500內。

綜上所述，本發明之測試裝置至少具有下列優點：1.本發明之可編程測試平台可以取代習知技術的主機電腦，所以可以節省主機電腦的成本以及架設主機電腦所需花費的時間。

2.由於可編程系統晶片內建有作業系統，且預設多種測試流程，所以可針對不同種類的待測板進行測試。如此，可節省習知技術之測試板的成本以及更換測試板的時間。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

50、60‧‧‧待測板

62‧‧‧條碼

100、200、200a、200b‧‧‧測試裝置

110‧‧‧主機電腦

120‧‧‧測試板

130、400‧‧‧現場即時資訊系統

210‧‧‧儲存單元

300‧‧‧可編程測試平台

310‧‧‧可編程系統晶片

320‧‧‧輸入/輸出單元

322‧‧‧連接介面

324‧‧‧條碼掃描器

326‧‧‧鍵盤

330‧‧‧顯示單元

340‧‧‧記憶單元

350‧‧‧時脈產生單元

360‧‧‧電源管理單元

370‧‧‧作業系統

500‧‧‧伺服器

S110~S140‧‧‧步驟

圖1是習知一種測試裝置的方塊圖。

圖2是本發明一實施例之一種測試裝置的方塊圖。

圖3是圖2之測試裝置中輸入/輸出單元的方塊圖。

圖4是圖2之測試裝置的測試步驟圖。

圖5A與圖5B是本發明另二實施例之測試裝置的方塊圖。

60‧‧‧待測板

62‧‧‧條碼

200‧‧‧測試裝置

210‧‧‧儲存單元

300‧‧‧可編程測試平台

310‧‧‧可編程系統晶片

320‧‧‧輸入/輸出單元

330‧‧‧顯示單元

340‧‧‧記憶單元

350‧‧‧時脈產生單元

360‧‧‧電源管理單元

370‧‧‧作業系統

Claims (10)

1. 一種測試裝置，適於測試不同種類的多個待測板，該測試裝置包括：一可編程測試平台，包括：一可編程系統晶片；一記憶單元，電性連接至該可編程系統晶片，該記憶單元內存有一作業系統；一輸入/輸出單元，電性連接至該可編程系統晶片與該些待測板其中之一，其中該輸入/輸出單元適於根據一輸入動作產生一啟動訊號，而該可編程系統晶片適於根據該啟動訊號來選取一預設的測試流程，並依該預設的測試流程對電性連接至該輸入/輸出單元的該待測板進行測試；以及一儲存單元，電性連接至該輸入/輸出單元，以儲存該可編程系統晶片所輸出的一測試結果。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該可編程系統晶片為一現場可程式邏輯閘陣列晶片。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該可編程測試平台更包括一顯示單元，電性連接至該可編程系統晶片，以顯示一測試資訊。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該可編程測試平台為一嵌入式系統開發平台。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括一現場即時資訊系統，而該儲存單元是位於該現場即時資訊系統內。
6. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括一伺服器，而該儲存單元是位於該伺服器內。
7. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該輸入/輸出單元包括一條碼掃描器，而每一待測板上設有一條碼，該條碼掃描器用以掃描電性連接至該輸入/輸出單元的該待測板上的該條碼，以產生該啟動訊號。
8. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該輸入/輸出單元包括一鍵盤、一條碼掃描器、一按鈕開關或一控制元件。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該輸入/輸出單元包括多個連接介面，以電性連接該可編程系統晶片、該些待測板與該儲存單元。
10. 如申請專利範圍第9項所述之測試裝置，其中該些連接介面包括通用序列匯流排、通用型輸入/輸出、聯合測試工作組埠、乙太網埠、無線網路介面、音效埠、低電壓差動訊號介面、列印終端埠、序列埠、PS/2埠以及視頻圖像陣列埠之至少其中之一。